JP4855193B2 - 薄板検査装置 - Google Patents
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(A)被検査物である薄板を載置する検査台と、
(B)検査台の上方に配設され、薄板に照明光線を照射する照明系と、
(C)検査台の上方に配設され、薄板を撮影するデジタルカメラと
を備え、
上記検査台は、
(a)法線が斜め上方を向くよう傾斜した鏡面を有する基台部と、
(b)その鏡面の前方に薄板を略水平に配置する架台部と
を有する薄板検査装置である。
2 照明系
3 デジタルカメラ
4 基台部
5 架台部
6 斜面
7 側面
8 側面
9 斜面
10 側面
11 側面
X 薄板
Y 表面部分
Z 端面部分
α 傾斜角
m 表面の反射光
n 端面の反射光
A 薄板の長手方向
Claims (5)
- 被検査物である薄板を載置する検査台と、
検査台の上方に配設され、薄板に照明光線を照射する照明系と、
検査台の上方に配設され、薄板を撮影するデジタルカメラと
を備え、
上記検査台は、
法線が斜め上方を向くよう傾斜した鏡面を有する基台部と、
その鏡面の前方に薄板を略水平に配置する架台部と
を有し、
上記基台部の鏡面は、その上下辺が略水平に配設される方形に形成され、
上記架台部は、基台部の鏡面に貼設されるプリズムとされ、
このプリズムは、鏡面の上辺より下方に位置しかつ薄板を載置可能な略水平面を有する薄板検査装置。 - 上記基台部は、断面が直角三角形の三角柱状に形成され、その斜面が上記鏡面とされ、
上記プリズムは、断面が基台部の断面と相似形の三角柱状に形成され、
基台部及びプリズムの互いの対偶する側面が平行になる位置関係で、基台部の斜面の少なくとも上側縁部を除く部分にプリズムの斜面が貼設されている請求項1に記載の薄板検査装置。 - 上記基台部の鏡面の傾斜角が45°である請求項1又は請求項2に記載の薄板検査装置。
- 上記デジタルカメラのレンズが、テレセントリック光学系を有している請求項1、請求項2又は請求項3に記載の薄板検査装置。
- 上記照明系として、同軸落射照明系が用いられている請求項1から請求項4のいずれか1項に記載の薄板検査装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2006250098A JP4855193B2 (ja) | 2006-09-14 | 2006-09-14 | 薄板検査装置 |
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Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4665014B2 (ja) * | 2008-07-04 | 2011-04-06 | 三菱電機エンジニアリング株式会社 | 多面外観検査装置 |
JP5358368B2 (ja) * | 2009-09-18 | 2013-12-04 | 富士フイルム株式会社 | 内視鏡システム |
JP5730616B2 (ja) * | 2011-02-28 | 2015-06-10 | 東レエンジニアリング株式会社 | 端面検査方法および端面検査装置 |
KR102427422B1 (ko) * | 2022-01-10 | 2022-07-29 | 정효숙 | Led를 구비한 현미경용 프리즘 구조체 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4592070B2 (ja) * | 2004-10-14 | 2010-12-01 | 株式会社日本マイクロニクス | 液晶パネルの外観検査装置及び外観検査方法 |
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JP2008070272A (ja) | 2008-03-27 |
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