JP4850409B2 - Parts distribution device - Google Patents
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Description
本発明は、検査済みの部品を検査結果に応じて各収納部に振り分けるための部品振分装置に関するものである。 The present invention relates to a component distribution device for distributing inspected components to respective storage units according to inspection results.
最近の携帯電話やデジタルカメラなどの電子機器は小型化及び高機能化が益々進む傾向にある。そのために、多数の電子部品が高密度で実装されており、特に抵抗器、コンデンサ、発光ダイオードなどのチップ部品については極小化が進んでいる。これらのチップ部品は、その電気的特性や外観が自動検査装置によって高速で検査され、その検査結果に応じて部品が振り分けられ各収容部に収容される。 Recently, electronic devices such as mobile phones and digital cameras have been increasingly reduced in size and functionality. For this reason, a large number of electronic components are mounted at high density, and miniaturization is progressing particularly for chip components such as resistors, capacitors, and light emitting diodes. These chip components are inspected at high speed for their electrical characteristics and appearance by an automatic inspection device, and the components are sorted according to the inspection result and accommodated in each accommodating portion.
従来、自動検査装置によって高速で検査した後のチップ部品を各収容部に振り分けるための装置としては、例えば特許文献1に記載のものが知られている。このチップ部品振分装置は、多数の収容孔が円形に配列されている円盤状の回転体を備えるもので、この回転体を断続的に回転させながら検査済みのチップ部品を、その検査結果に応じた所定の収容孔内に順次吸引して貯留するものである。 2. Description of the Related Art Conventionally, as an apparatus for distributing chip parts after being inspected at high speed by an automatic inspection apparatus to each housing portion, for example, the apparatus described in Patent Document 1 is known. This chip component sorting apparatus is provided with a disk-shaped rotating body in which a large number of receiving holes are arranged in a circle, and the chip component that has been inspected while intermittently rotating the rotating body is used as the inspection result. In this manner, the suction holes are sequentially sucked and stored in the corresponding predetermined accommodation holes.
しかしながら、上記従来のチップ部品振分装置にあっては、各チップ部品の検査結果に応じて円盤状の回転体を回転させながら位置合わせする必要があるため、振り分けるのに時間が掛かり自動検査装置での高速処理に追い付けないおそれがあった。
そこで、本発明が解決しようとする課題は、チップ部品の検査結果に応じた振り分けを迅速に処理出来るようにして、自動検査装置での高速処理に追従できるようにすることにある。 Therefore, the problem to be solved by the present invention is to enable the processing according to the inspection result of the chip parts to be quickly processed and to follow the high-speed processing in the automatic inspection apparatus.
かかる目的を達成するために、本発明に係る部品振分装置は、検査済みの部品が通過する開口部を備える部品通過部と、前記開口部を通過した部品を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔が上面に多数開設された振分ブロックとを備え、前記部品通過部の開口部を前記振分ブロックの上面に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果の応じた収容孔の上方に位置させることを特徴とする。 In order to achieve such an object, a component sorting apparatus according to the present invention includes a component passing portion including an opening through which an inspected component passes, and each accommodating portion of the component that has passed through the opening according to the inspection result. And a sorting block in which a large number of receiving holes are provided on the upper surface, and the opening of the component passage portion is moved relatively back and forth and left and right in a state of being close to the upper surface of the sorting block. It is characterized by being positioned above the accommodation hole according to the result.
ここで、前記部品通過部は、一例では前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構と、前記揺動方向と直交する他方向に開口部をスライドさせるスライド機構とを備えることを特徴とし、他の例では前記開口部を一方向に揺動させる揺動機構を備える一方、前記振分ブロックが前記開口部の揺動方向と直交する他方向に上面をスライドさせるスライド機構を備えることを特徴とする。また、前記振分ブロックの上面は、前記部品通過部の開口部が揺動する一方向に沿って湾曲状に形成されている。
Here, the component passage portion includes, for example, a swing mechanism that swings the opening portion in one direction, and a slide mechanism that slides the opening portion in another direction orthogonal to the swing direction. In another example, a swing mechanism for swinging the opening in one direction is provided, and a slide mechanism for sliding the upper surface in another direction perpendicular to the swing direction of the opening is provided for the sorting block. Features. Further, the upper surface of the sorting block is formed in a curved shape along one direction in which the opening of the component passage portion swings.
本発明の部品振分装置は、部品通過部と振分ブロックとを前後左右に相対的に移動させているので、従来の方法に比べて振り分け時間が短縮され、自動検査装置での高速処理に部品の振分が追従できるようになった。 In the component sorting apparatus of the present invention, the component passing portion and the sorting block are relatively moved back and forth and left and right, so the sorting time is shortened compared to the conventional method, and high-speed processing in the automatic inspection device is achieved. The distribution of parts can be followed.
以下、添付図面に基づいて、本発明に係る部品振分装置の実施形態を詳細に説明する。図1は、本発明に係る部品振分装置1をチップ部品の自動検査装置2に付設した状態を示したものである。この自動検査装置2は、微小形状の電子部品、例えば抵抗器、コンデンサ、発光ダイオードなどのチップ部品3の電気的特性を検査するための検査装置であり、前記チップ部品3を搬送するための円板状の回転台4と、この回転台4の上面に配列された複数の部品搬送台5とを備える。また、自動検査装置2には回転台4に向かって真っ直ぐに延びるフィーダ6と、このフィーダ6の先端からチップ部品3を部品搬送台5に一つずつ移し替えるための供給装置7とが配設されている。
Hereinafter, an embodiment of a component sorting apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. FIG. 1 shows a state in which a component sorting apparatus 1 according to the present invention is attached to a chip component automatic inspection apparatus 2. This automatic inspection device 2 is an inspection device for inspecting the electrical characteristics of micro-shaped electronic components, for example,
前記チップ部品3は部品搬送台5に載置されたのち、回転台4が間欠的に回転移動することによって漸次搬送され、部品検査ユニット8の位置でその電気的特性が検査される。ここでの検査では、例えばチップ部品3が発光ダイオードである場合を例にとると、発光させた時の明るさや発光色などが電気的特性として検査される。チップ部品3は検査が終了したのち再び部品搬送台5に載置され、部品振分装置1が付設されている位置まで搬送された後、チップ吹出装置9から吹き出される高圧エアーによって部品振分装置1内に送り出される。
After the
前記部品振分装置1は、検査済みのチップ部品3の通過を検出するためのセンサ部14備えた検査部品通過部10と、センサ部14で検出されたチップ部品3を前記自動検査装置2での検査結果に応じて振り分けるための振分ブロック12とを備えており、この振分ブロック12の上面20には縦横方向に配列された多数の収容孔11が開設されている。なお、これら検査部品通過部10及び振分ブロック12はフレーム13によって支持されている。
The component sorting apparatus 1 uses the automatic inspection apparatus 2 to pass the inspection
前記検査部品通過部10のセンサ部14は、図3及び図4に示したように、上下からなるブロック状の本体部15と、この本体部15の外周面に沿って配設される4本の光ファイバ16a〜16dと、これら光ファイバ16a〜16dを本体部15に固定するためのファイバ固定具17とを備える。そして、前記本体部15の中心部には上下に貫通する円形状の貫通孔18が形成されており、この貫通孔18の上端に前記自動検査装置2から延びるチューブ19の先端部が連結されている。なお、前記貫通孔18の形状は本体部15の下面側では角形状に形成されている。
As shown in FIGS. 3 and 4, the
前記ファイバ固定具17は、本体部15の下面形状に対応した正方形状の押え板21と、この押え板21の各辺の中央部から本体部15の外周面に沿って立ち上がる4つのガイド板22とで構成される。押え板21の中央部には本体部15に開設された貫通孔18の下面側形状とほぼ同じ大きさの角孔が開設され、本体部15の貫通孔18と共にチップ部品3が通過する開口部23を形成する。また、本体部15と各ガイド板22との間には光りファイバ16a〜16dが配設される空隙部25が設けられる他、この空隙部25に光ファイバ16a〜16dの先端部分が配設される。なお、ファイバ固定具17は、図3に示したように、押え板21の4隅がネジ26によって固定されるが、その際、押え板21と本体部15の下面との間に各光ファイバ16a〜16dの先端部分の素線27を挟み込んで固定する。
The
前記光ファイバ16a〜16dは、この実施形態では透過型の光ファイバセンサとして利用される。4本の光ファイバ16a〜16dは、ガラス又はプラスチックの細い素線27を束にしたもので、ファイバ基端に設置した光電スイッチ28から延びて本体部15の各外周面に沿って配設される。また、光ファイバ16a〜16dの各先端部は、4本のうち対向する2本ずつが一組となってセンサ検出部を構成している。このセンサ検出部は、チューブ19内を通過してきたチップ部品3が開口部23を通過するときの透過光量の変化を捕らえることで、チップ部品3の通過を検出することができる。
The
前記検査部品通過部10は、図1及び図2に示されるように、フレーム13の中央部において前後方向に張り渡された横シャフト31と、この横シャフト31に上端部が連結された縦シャフト34とを備え、前記縦シャフト34の下端部に前記センサ部14が固定され、また前記横シャフト31に沿って前記チューブ19が配設されている。このとき、センサ部14に設けられたファイバ固定具17の下面は、図5に示されるように振分ブロック12の上面20に接近した位置で対向している。前記横シャフト31は、その両端部が前記フレーム13に対して回転可能に支持されると共に、一端部が軸受32を介して反転モータ33に連結されているので、図5に示したように、反転モータ33の駆動によって横シャフト31が正逆方向に回転し、それに伴って縦シャフト34が揺動することでセンサ部14が振分ブロック12の上面20に沿って振り子運動をする。
As shown in FIGS. 1 and 2, the inspection
一方、振分ブロック12は、図1、図2及び図5に示したように、湾曲状の上面20を有する平面形状が四角形の部材であり、上面20には縦,横方向に配列された多数の収容孔11が設けられている。各収容孔11は振分ブロック12の下面側まで貫通し、さらにパイプ40を通じて部品収容部(図示せず)と連通している。前記収容孔11の開口数は、前記チップ部品3を振り分ける電気的特性の分類数に対応している。また、振分ブロック12の両端は、フレーム13に掛け渡されたガイドレール41に支持されており、このガイドレール41に沿って前後方向にスライド移動が可能である。このスライド移動は、振分ブロック12とモータ42とを連結するリンク部材43によって行なわれる。なお、振分ブロック12の上面20の湾曲面は前記検査部品通過部10の縦シャフト34を揺動させたとき、その下端に取付けられた本体部15の回動軌跡に対応している。
On the other hand, as shown in FIGS. 1, 2, and 5, the
前記横シャフト31の基端部分にはチップ吹出装置9が配設されている。このチップ吹出装置9は、自動検査装置2での検査が終了した後のチップ部品3を部品振分装置1に送り込むためのものであり、横向きの先端ノズル46と、この先端ノズル46に通じるエアー通路47と、先端ノズル46と対向するラッパ状の受入口48とを備えている。図示外のエアー源からエアー通路47に供給された高圧エアーを先端ノズル46から勢いよく吹き出すことで、部品搬送台5の上に載置されたチップ部品3を受入口48に向けて吹き飛ばす。受入口48と検査部品通過部10のセンサ部14との間は横シャフト31に沿って配管されたチューブ19で連通しており、受入口48内に吹き飛ばされたチップ部品3は、チューブ19内を勢いよく通過したのち、センサ部14の開口部23から所定の収容孔11内に吹き出され、その際にチップ部品3の通過が検出される。前記チップ部品3が振分ブロック12のどの位置の収容孔11内に分類されるかは、該チップ部品3の電気的特性に基づく。コンピュータによる演算処理を受けて振分ブロック12が前後方向にスライドして前後位置が決定されると同時に、縦シャフト34の揺動によってセンサ部14が振分ブロック12の上面20に沿って左右方向に移動することで左右位置が決定する。このようにして、前記チップ部品3の吹き出し位置が決定され、開口部23から所定の収容孔11内に吹き出されたチップ部品3はパイプ40を通じて所定の部品収容部に貯留される。
A
図6乃至図8は、本発明に係る部品振分装置の第2の実施形態を示したものである。この実施形態に係る部品振分装置50は、検査済みのチップ部品を検査部品通過部10から振分ブロック12に振り分ける際に、振分ブロック12は固定したままで、検査部品通過部10に前後方向のスライド運動と左右方向の回転運動を与えて、所定の収容孔11にセンサ部14を位置合わせするものである。
6 to 8 show a second embodiment of the component sorting apparatus according to the present invention. In the
具体的には、検査部品通過部10のセンサ部14とチップ吹出装置9との間に配管されるチューブ19を二重構造とし、さらにこのチューブ19を伸縮可能に取り付けたものである。即ち、チューブ19をチップ吹出装置9側でフレーム13のガイドブロック58に固定される内側チューブ19aと、スライドブロック51及び横シャフト31に取り付けられる外側チューブ19bとで構成し、スライドブロック51及び横シャフト31の軸受部61をフレーム13に固定されたガイドレール52にスライド可能に支持させる構造である。スライドブロック51内では内側チューブ19aと外側チューブ19bとが二重構造をなし、スライドブロック51がスライドすることで、外側チューブ19bが内側チューブ19aの外周面に沿ってスライドして伸縮する構造となっている。
Specifically, the
前記横シャフト31の中間部には縦シャフト34の上端部が連結されている。そして、この縦シャフト34の下端部には前記外側チューブ19bの先端に設けられたセンサ部14が取り付けられるが、このセンサ部14は前記第1の実施形態と同様の構成からなるので詳細な説明は省略する。また、スライドブロック51は、アクチュエータ53によって駆動されるカム機構54にも連結されており、このカム機構54の働きによってフレーム13に対して前後方向にスライドする。なお、カム機構54にはスライドブロック51の前後方向の移動をガイドするため、長孔55が設けられたブロック体56と、この長孔55内を移動するガイドピン57が設けられている。
An upper end portion of the
したがって、カム機構54が働くことによってスライドブロック51及び横シャフト31がガイドレール52上を前後方向に移動し、この移動に伴ってスライドブロック51に取り付けられている外側チューブ19bが内側チューブ19aの外周面に沿って伸びることになる。図8に示されるように、スライドブロック51が距離x1の間を前後方向にスライドするのに連動してセンサ部14が距離x2の間を移動する。スライドブロック51及びセンサ部14が横シャフト31及び縦シャフト34を介して連結されていることから、前記距離x1とx2とは同じ距離である。また、距離x2は、振分ブロック12の前後両端の収容孔11a,11b間を移動する距離に対応して設定されている。
Therefore, the
一方、検査部品通過部10の左右方向の回転は、前記実施形態1の図5で説明したように、縦シャフト34が揺動することで、センサ部14が振分ブロック12の上面20に沿って振り子運動をするものであるが、この実施形態ではフレーム13の脇に配置された反転モータ33によって駆動されるために部品振分装置50がコンパクトになる。前記反転モータ33の駆動力は、前記横シャフト31の一端に取付けられたプーリ62及び駆動ベルト63を介してセンサ部14に伝達される。なお、振分ブロック12は、前記実施形態1と同様、湾曲状の上面20を有する平面形状が四角形の部材であり、上面20には縦,横方向に配列された多数の収容孔11が設けられている。
On the other hand, as described in FIG. 5 of the first embodiment, the rotation of the inspection
さらに、この実施形態では、前記二重構造の内側チューブ19aと外側チューブ19b、それに振分ブロック12の各収容孔11と部品収容部(図示せず)とを連通するパイプ40aは、内周面がコーティングされた金属材料で作られていることが望ましい。これは、例えばボディから金属の足が出ているようなチップ部品をチューブやパイプの中を通過させる際に、チューブやパイプが軟質材料で形成されていると金属の足で内周面を削ってしまい、その削り滓がチップ部品に付着して品質を落とすおそれがあるからである。内周面がコーティングされた金属材料であれば、そのような問題は生じない。したがって、検査するチップ部品の外形形状や表面の材質によっては、この実施形態に係る部品振分装置50が有効となることがある。本実施形態では、チューブ19a,19bを二重構造にして伸縮自在とすることで、検査部品通過部10を前後方向にスライドさせたり左右方向に回転させても振分動作に支障を来たすことなく、一方、振分ブロック12は固定させたままなので、振分ブロック12の下面から多数配管されるパイプ40aが金属材料から出来ていても問題は生じない。
Furthermore, in this embodiment, the
前記いずれも実施形態もチップ部品がセンサ部14の開口部23を通過する際、その通過を検出する場合について説明したが、場合によって検出を行なうことなく開口部23を通過させることもあり得る。また、上記の実施形態ではチップ部品の振分について説明したが、チップ状以外の部品の振分にも適用できるものである。
In any of the above-described embodiments, the case where the chip component passes through the
1 部品振分装置
2 自動検査装置
3 チップ部品
10 検査部品通過部
11 収容孔
12 振分ブロック
14 センサ部
19 チューブ
19a 内側チューブ
19b 外側チューブ
20 上面
23 開口部
31 横シャフト
33 反転モータ
34 縦シャフト
42 モータ
43 リンク部材
50 部品振分装置
53 アクチュエータ
54 カム機構
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Component distribution apparatus 2
Claims (4)
前記開口部を通過した部品を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔が上面に多数開設された振分ブロックとを備え、
前記部品通過部が開口部を前記振分ブロックの湾曲状に形成された上面に沿って一方向に揺動させる揺動機構と、前記揺動方向と直交する他方向に部品通過部の開口部をスライドさせるスライド機構とを備え、
前記部品通過部の開口部を前記振分ブロックの上面に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果に応じた収容孔の上方に位置させることを特徴とする部品振分装置。 A component passage portion having an opening through which the inspected component passes;
A sorting block having a plurality of accommodation holes opened on the upper surface for distributing the parts that have passed through the opening to each accommodation unit according to the inspection result;
A swing mechanism in which the component passage portion swings the opening portion in one direction along the curved upper surface of the distribution block, and the opening portion of the component passage portion in the other direction orthogonal to the swing direction And a slide mechanism for sliding
Component sorting device, characterized in that to position above the component passage portion receiving hole corresponding to relatively moved test results back and forth and left and right openings in the state of being close to the upper surface of the sorting block .
前記開口部を通過した部品を検査結果に応じて各収容部に振り分けるための収容孔が上面に多数開設された振分ブロックとを備え、
前記部品通過部が開口部を前記振分ブロックの湾曲状に形成された上面に沿って一方向に揺動させる揺動機構を備える一方、前記振分ブロックが前記開口部の揺動方向と直交する他方向に振分ブロックの上面をスライドさせるスライド機構を備え、
前記部品通過部の開口部を前記振分ブロックの上面に接近させた状態で前後左右に相対的に移動させて検査結果に応じた収容孔の上方に位置させることを特徴とする部品振分装置。 A component passage portion having an opening through which the inspected component passes;
A sorting block having a plurality of accommodation holes opened on the upper surface for distributing the parts that have passed through the opening to each accommodation unit according to the inspection result;
The component passing portion includes a swing mechanism that swings the opening in one direction along the curved upper surface of the distribution block, while the distribution block is orthogonal to the swing direction of the opening. Equipped with a slide mechanism that slides the top surface of the sorting block in the other direction
A component sorting apparatus, wherein the opening portion of the component passage portion is moved relative to the front, back, left and right in a state of being close to the upper surface of the sorting block and is positioned above the accommodation hole according to the inspection result. .
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