JP4842614B2 - 電流検出回路 - Google Patents
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Description
図1は、本発明による電流検出回路の第1実施形態を示す回路図である。この電流検出回路は、電力用MOSFET1(第1の半導体スイッチング素子)、センスMOSFET2(第2の半導体スイッチング素子)、差動増幅器3、ツェナーダイオード33(第1の電圧クランプ素子)、ツェナーダイオード34(第2の電圧クランプ素子)、MOSFET6(可変抵抗素子)、ディプリーション型MOSFET31(第1のMOSFET)、およびディプリーション型MOSFET32(第2のMOSFET)を備えている。
図2は、本発明による電流検出回路の第2実施形態を示す回路図である。この電流検出回路は、電力用MOSFET1、センスMOSFET2、差動増幅器3、ツェナーダイオード33、ツェナーダイオード34、MOSFET6、エンハンスメント型MOSFET37(第1のMOSFET)、およびエンハンスメント型MOSFET38(第2のMOSFET)を備えている。すなわち、この電流検出回路においては、図1中のディプリーション型MOSFET31,32の代わりに、それぞれエンハンスメント型MOSFET37,38が用いられている。また、エンハンスメント型MOSFET37,38のゲート端子は、電圧源35を介して端子11に接続されている。
2 センスMOSFET
3 差動増幅器
4 負荷
5 測定抵抗
6 MOSFET
31,32 ディプリーション型MOSFET
33,34 ツェナーダイオード
35 電圧源
37,38 エンハンスメント型MOSFET
Claims (7)
- 第1の固定電位が与えられる第1の端子と、一端に第2の固定電位が与えられる負荷の他端に接続される第2の端子と、第1の電流制御端子とを有する第1の半導体スイッチング素子と、
前記第1の端子に接続された第3の端子と、第4の端子と、前記第1の電流制御端子に接続された第2の電流制御端子とを有する第2の半導体スイッチング素子と、
正の入力端子と、負の入力端子とを有する差動増幅器と、
前記第1の端子と前記正の入力端子との間の経路中に設けられた第1の電圧クランプ素子と、
前記第1の端子と前記負の入力端子との間の経路中に設けられた第2の電圧クランプ素子と、
前記第4の端子に接続された第5の端子と、一端に前記第2の固定電位が与えられた検出抵抗の他端に接続される第6の端子とを有し、前記差動増幅器の出力値によって抵抗値が制御される可変抵抗素子と、
前記第2の端子と前記正の入力端子との間の経路中に設けられた第1のMOSFETと、
前記第4の端子と前記負の入力端子との間の経路中に設けられた第2のMOSFETと、
を備えることを特徴とする電流検出回路。 - 請求項1に記載の電流検出回路において、
前記第1および第2の電圧クランプ素子は、ツェナーダイオードである電流検出回路。 - 請求項1または2に記載の電流検出回路において、
前記第1および第2のMOSFETは、ディプリーション型MOSFETである電流検出回路。 - 請求項1または2に記載の電流検出回路において、
前記第1および第2のMOSFETは、エンハンスメント型MOSFETであり、
当該第1および第2のMOSFETのゲート端子には、電圧源が接続されている電流検出回路。 - 請求項1乃至4いずれかに記載の電流検出回路において、
前記可変抵抗素子は、ゲート端子が前記差動増幅器の出力端子に接続された第3のMOSFETである電流検出回路。 - 請求項1乃至5いずれかに記載の電流検出回路において、
前記第1および第2の固定電位は、それぞれ電源電位および接地電位であり、
前記第1の電圧クランプ素子のカソード端子およびアノード端子は、それぞれ前記第1の端子および前記正の入力端子に接続され、
前記第2の電圧クランプ素子のカソード端子およびアノード端子は、それぞれ前記第1の端子および前記負の入力端子に接続されている電流検出回路。 - 請求項1乃至5いずれかに記載の電流検出回路において、
前記第1および第2の固定電位は、それぞれ接地電位および電源電位であり、
前記第1の電圧クランプ素子のカソード端子およびアノード端子は、それぞれ前記正の入力端子および前記第1の端子に接続され、
前記第2の電圧クランプ素子のカソード端子およびアノード端子は、それぞれ前記負の入力端子および前記第1の端子に接続されている電流検出回路。
Priority Applications (4)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005312194A JP4842614B2 (ja) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | 電流検出回路 |
EP06822111.8A EP1953557B1 (en) | 2005-10-27 | 2006-10-24 | Current detection circuit |
PCT/JP2006/321131 WO2007049597A1 (ja) | 2005-10-27 | 2006-10-24 | 電流検出回路 |
US12/084,117 US7759982B2 (en) | 2005-10-27 | 2006-10-24 | Current detection circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005312194A JP4842614B2 (ja) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | 電流検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2007121052A JP2007121052A (ja) | 2007-05-17 |
JP4842614B2 true JP4842614B2 (ja) | 2011-12-21 |
Family
ID=37967709
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005312194A Expired - Fee Related JP4842614B2 (ja) | 2005-10-27 | 2005-10-27 | 電流検出回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7759982B2 (ja) |
EP (1) | EP1953557B1 (ja) |
JP (1) | JP4842614B2 (ja) |
WO (1) | WO2007049597A1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7911260B2 (en) | 2009-02-02 | 2011-03-22 | Infineon Technologies Ag | Current control circuits |
DE102009001899B4 (de) | 2009-03-26 | 2024-01-18 | Robert Bosch Gmbh | Messen eines Laststroms eines Unterbrechers |
JP5477159B2 (ja) * | 2010-05-07 | 2014-04-23 | パナソニック株式会社 | モータ電流検出用ic、およびこれを用いた電流検出器またはモータ制御装置 |
JP5556353B2 (ja) * | 2010-05-07 | 2014-07-23 | パナソニック株式会社 | モータ電流検出器及びモータ制御装置 |
JP5517777B2 (ja) * | 2010-06-25 | 2014-06-11 | 日立オートモティブシステムズ株式会社 | ブリッジ回路の断線検出回路および断線検出手段を有するシステム |
US8887119B2 (en) * | 2013-03-12 | 2014-11-11 | Analog Devices Technology | Method and apparatus for current limit test for high power switching regulator |
JP2017069412A (ja) * | 2015-09-30 | 2017-04-06 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
JP7155534B2 (ja) | 2018-02-16 | 2022-10-19 | 富士電機株式会社 | 半導体装置 |
JP7520668B2 (ja) * | 2020-09-30 | 2024-07-23 | ローム株式会社 | 電流検出回路 |
CN114167252A (zh) * | 2021-12-01 | 2022-03-11 | 中南大学 | 半导体器件的导通压降测量电路 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB2206010A (en) | 1987-06-08 | 1988-12-21 | Philips Electronic Associated | Differential amplifier and current sensing circuit including such an amplifier |
JP3175493B2 (ja) | 1994-09-14 | 2001-06-11 | 日産自動車株式会社 | 電流検出回路 |
DE19520735C2 (de) | 1995-06-07 | 1999-07-01 | Siemens Ag | Schaltungsanordnung zum Erfassen des Laststroms eines Leistungs-Halbleiterbauelementes mit sourceseitiger Last |
JP3680513B2 (ja) | 1997-08-20 | 2005-08-10 | 株式会社デンソー | 電流検出回路 |
DE10258766B4 (de) * | 2002-12-16 | 2005-08-25 | Infineon Technologies Ag | Schaltungsanordnung zur Steuerung und Erfassung des Laststroms durch eine Last |
US7372685B2 (en) * | 2003-05-20 | 2008-05-13 | On Semiconductor | Multi-fault protected high side switch with current sense |
JP4097635B2 (ja) * | 2004-08-02 | 2008-06-11 | 松下電器産業株式会社 | 電流検出回路及びそれを用いたスイッチング電源 |
-
2005
- 2005-10-27 JP JP2005312194A patent/JP4842614B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2006
- 2006-10-24 WO PCT/JP2006/321131 patent/WO2007049597A1/ja active Application Filing
- 2006-10-24 EP EP06822111.8A patent/EP1953557B1/en not_active Ceased
- 2006-10-24 US US12/084,117 patent/US7759982B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1953557A4 (en) | 2012-06-20 |
WO2007049597A1 (ja) | 2007-05-03 |
JP2007121052A (ja) | 2007-05-17 |
US7759982B2 (en) | 2010-07-20 |
US20090261861A1 (en) | 2009-10-22 |
EP1953557A1 (en) | 2008-08-06 |
EP1953557B1 (en) | 2013-07-17 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080917 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20111004 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20111006 |
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R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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S531 | Written request for registration of change of domicile |
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R350 | Written notification of registration of transfer |
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