JP4828970B2 - X線ct装置及びx線ct装置の制御方法 - Google Patents

X線ct装置及びx線ct装置の制御方法 Download PDF

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Description

この発明は、複数のX線管球とそれら複数のX線管球に対応するX線検出器を備えた多管球型のX線CT装置に関する。
X線CT装置は、被検体を間にして対向配置されたX線管球とX線検出器とを被検体の周囲に回転させて、X線管球から照射したX線の被検体を透過した量(透過X線量)をX線検出器で検出し、その検出されたデータをデータ収集装置にて投影データとして収集し、この収集した投影データを、コンピュータを用いて画像再構成することによって、被検体の断層像を得るものである。例えば、X線管球とX線検出器とを360°、又は(180°+ファン角)回転させて投影データを収集し、360°分、又は(180°+ファン角)分の投影データに基づいて断層像を得る。
第3世代と称されるX線CT装置は、被検体を間にして、X線管球とX線検出器とを対向配置し、これらを、被検体の周りに360°、又は(180°+ファン角)に亘って回転させながら、X線管球からコリメートされた扇形のX線ビームを被検体へ照射し、複数の検出素子が円弧状に配列されたX線検出器で、被検体を透過したX線を検出している。
被検体に対するある角度において、多チャンネルのX線検出器で検出された検出データの集合をビュー(view)と称し、X線管球とX線検出器とを被検体の周りに1回転させて、画像を再構成するために必要な複数ビューの投影データを収集することをスキャン(scan)と称し、さらに、スキャン中に繰り返されるビューデータの収集を測定サイクルと称している。そして、1スキャンによって得られた複数ビューの投影データを、高速演算装置などを用いて再構成処理をすることにより、被検体の断層画像が得られる。
例えば1°ごとに1ビューの投影データを収集する場合には、1スキャンに360ビューの投影データ(すなわち、360の測定サイクルとなる)を得、この360ビューの投影データを用いて画像を再構成することになる。この再構成によって得られる画像の解像度は、X線管球とX線検出部とを被検体の周りに1回転させて得るビュー数が多いほど高くすることができる。
例えば、1スキャン(1回転)につき900ビューの投影データを収集する場合は、0.4°ごとに1ビューの投影データを収集し、これを360°にわたって順次収集する。また、さらに画質を改善するために、1スキャンにつき1200ビュー又は1800ビューの投影データを収集するものも提案されている。1スキャンにつき1200ビューの投影データを収集する場合は、0.3°ごとに1ビューの投影データを収集し、1800ビューの投影データを収集する場合は、0.2°ごとに1ビューの投影データを収集することになる。
ところで、心臓などの循環器を詳細に診断するために、1スキャンに要する時間(スキャン時間)を短縮したいとの要望がある。しかし、回転周期を速めることは、X線管球やX線検出器などの回転部分に過度の遠心力が加わることになるので、要望に応えることは技術的に問題があり容易ではない。
そこで、回転周期を速めることなく短時間に所望ビュー数の投影データを収集するために、複数のX線管球とX線検出器とを用いた多管球型のX線CT装置が提案されている。
ここで、多管球型のX線CT装置の構成について図7を参照して説明する。図7は、X線管球とX線検出器の配置を説明するための回転架台の正面図である。ここでは、多管球型のX線CT装置の1例として、3個のX線管球2A、2B、2Cを備えている多管球型のX線CT装置について説明する。
X線管球2A、2B、2Cは、回転中心Oを共有とする同心円上に等間隔に配置されている。従って、各X線管球2A、2B、2Cを通る中心線Co相互のなす角度βは、この場合120°である。すなわち、X線管球2Aが0°の位置にあるものとすれば、X線管球2Bは120°の位置にあり、X線管球2Cは240°の位置にあることになる。X線管球2A、2B、2CのX線照射口側にはそれぞれスリット3A、3B、3Cが設けられ、所定の厚みでかつ扇状にコリメートされたX線パス6を形成するようにされている。従って、中心線CoはX線パス6の中心線でもある。そして、回転中心Oを被検体7が通るように、被検体7を支持する天板が配置される。
3個のX線管球2A、2B、2Cにそれぞれ対応するように、3個のX線検出器4A、4B、4Cが設けられ、各X線検出器4A、4B、4Cにはそれぞれデータ収集部5A、5B、5Cが設けられている。よって、X線管球2Aから照射され被検体7を透過したX線はX線検出器4Aで検出され、その検出信号はデータ収集部5Aで増幅されデジタル信号に変換されて投影データとして収集される。他のX線管球2B、2Cから照射されたX線についても同様に、それぞれデータ収集部5B、5Cで投影データとして収集される。これらX線管球2A、2B、2C、スリット3A、3B、3C、X線検出器4A、4B、4C、及びデータ収集部5A、5B、5Cは、回転架台8に一体に固定されており、回転架台8は回転中心Oを中心に回転するように固定架台9に支持されていて、図示しない回転機能によって回転させられる(例えば特許文献1及び特許文献2)。
このように構成されたX線CT装置では、図示しない制御装置の制御の下、回転架台8を回転させながら例えば0.4°ごとに投影データを収集する。すなわち、X線管球2Aを0°の位置から120°の位置まで回転させて投影データを収集すると、X線管球2Bは120°の位置から240°の位置まで回転することになり、この間で投影データの収集が行われ、同じくX線管球2Cは240°の位置から360°の位置まで回転することになり、この間で投影データの収集が行われる。よって、回転架台8を120°回転させれば360°分の投影データが収集でき、回転架台8の回転周期を変えることなく、スキャン時間を3分の1に短縮することができる。
特開2002−172112号公報 特開2004−121446号公報
ところで、従来技術に係る多管球型のX線CT装置では、各データ収集部5A、5B、5Cは同じタイミングで投影データの収集を行っていた。しかしながら、X線検出器4A、4B、4Cが設計通りの位置に設置されておらず、設計された位置からずれた位置に設置されている場合に、各データ収集部5A、5B、5Cが同じタイミングで投影データを収集すると、各データ収集部5A、5B、5Cで収集された投影データのつなぎ目の間隔が粗くなったり密になったりするため、再構成された断層像データにアーチファクトが発生する問題がある。
例えば、X線管球2AとX線検出器4AのペアAに対して、X線管球2BとX線検出部4BのペアBが120.05°の位置に設置されている場合は、設計通りの角度は120°であるため、設計通りの角度よりも0.05°分、角度が大きいことになる。また、ペアAに対して、X線管球2CとX線検出器4CのペアCが−119.95°の位置に設置されている場合は、設計通りの角度よりも0.05°分、角度が小さいことになる。このような角度のずれは、再構成された断層像上ではストリークアーチファクトなどの発生の原因となる。
なお、ここでは、3個のX線管球2A、2B、2Cを120°ずらした位置に設置する例について説明したが、X線管球の数や設置角度の例は1例であり、2個のX線管球を90°ずらした位置に設置したX線CT装置であっても上記の問題が発生し得る。
この発明は上記の問題を解決するものであり、アーチファクトの影響を抑えた画像が得られるX線CT装置を提供することを目的とする。
請求項1に記載の発明は、X線管球とX線検出器との対が同心円上に複数異なる角度で配置され、各対が回転可能に構成されるX線CT装置であって、前記X線検出器によるX線検出のタイミングを制御する制御部と、前記X線検出器の出力に対して再構成処理を施すことにより画像データを生成する再構成処理部と、を有し、前記制御部の制御により予め全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出したときに個々のX線検出器で検出された投影データのビュー数と、予め設定されたビュー数との差を求め、そのビュー数の差から、基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングと、他の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングとの時間差を算出するタイミング算出部を更に有し、前記制御部は、前記基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングよりも前記時間差だけずらしたタイミングで前記他の対を構成するX線検出器にX線を検出させることを特徴とするX線CT装置である。
請求項に記載の発明は、X線管球とX線検出器との対が同心円上に複数異なる角度で配置され、各対が回転可能に構成されるX線CT装置の制御方法であって、前記X線管球がX線を曝射し、全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出する第1のステップと、予め全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出したときに個々のX線検出器で検出された投影データのビュー数と、予め設定されたビュー数との差を求め、そのビュー数の差から、基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングと、他の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングとの時間差を求めるステップと、前記基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングよりも前記時間差だけずらしたタイミングで前記他の対を構成するX線検出器にX線を検出させるステップと、を含むことを特徴とするX線CT装置の制御方法である。
この発明によると、X線管球とX線検出器との対同士の相対的な位置関係に基づいて、個々のX線検出器ごとに異なるタイミングでX線を検出することにより、アーチファクトの影響を抑えた画像を得ることができる。
また、この発明によると、X線管球とX線検出器との対同士の相対的な位置関係を求めることが可能となる。
この発明の実施形態に係るX線CT装置について図1から図7を参照して説明する。図1は、この発明の実施形態に係るX線CT装置の概略構成を示すブロック図である。図2は、ファントムの配置を説明するための図である。図3は、X線検出器によって検出される投影データのビュー数を説明するための図である。
この発明の実施形態に係るX線CT装置は、従来技術に係るX線CT装置と同様に、被検体の周りを回転する複数のX線管球と、この複数のX線管球から曝射され、被検体を透過したX線を各別に検出するX線検出部とを備え、そのX線検出器からの検出信号を基にしてコンピュータによって被検体の断層像を再構成する。例えば図7に示すように、3個のX線管球2A、2B、2Cと、対になる3個のX線検出器4A、4B、4Cが同一円軌道上に120°の間隔で備えられている。ここでは、X線管球2Aとそれに対応するX線検出器4Aとの対をペアA、X線管球2Bとそれに対応するX線検出器4Bとの対をペアB、X線管球2CとX線検出器4Cとの対をペアCと称することにする。これらX線管球とX線検出器との対同士の位置関係は、X線CT装置を組み立てる際の設計条件によって決定されている。例えば、図7に示すX線CT装置の場合、各ペア同士の間隔の設計値は120°となっている。これにより、各X線管球2A、2B、2Cを通る中心線Co相互のなす角度βは120°(設計値)になる。
図1に示す高電圧発生部1A、1B、1Cは、それぞれX線管球2A、2B、2Cと対になり、スキャン制御部10からのX線発生制御信号に従って、X線を照射させるための高電圧をX線管球2A、2B、2Cに供給する。
X線検出器4A、4B、4Cは、例えば1000チャンネルの検出素子を1列に並べて構成しても良く、検出素子が体軸方向に複数配列したX線検出器(2次元のX線検出器)であっても良い。データ収集部5A、5B、5Cは、X線検出器4A、4B、4Cの各検出素子と同様に配列されたデータ収集素子を有し、X線検出器4A、4B、4Cにより検出されたX線(検出信号)を、スキャン制御部10から出力されたデータ収集制御信号に対応させて収集する。この収集されたデータが投影データとなる。そして、データ収集部5A、5B、5Cは、それぞれ対応するX線検出器4A、4B、4Cの各チャンネルの電流信号を電圧に変換し、増幅し、デジタル信号に変換する。そして、X線管球2Aから曝射されて被検体を透過したX線はX線検出器4Aで検出され、その検出信号はデータ収集部5Aで増幅され、デジタル信号に変換されて投影データとして収集される。他のX線管球2B、2Cから曝射されたX線についても同様に、データ収集部5B、5Cで投影データとして収集される。
スキャン制御部10は、スキャンに際して、回転架台8を一定の速度で安定的に回転させるために、回転架台8を駆動する架台駆動部(図示しない)に回転制御信号を供給する。また、スキャン制御部10は、X線発生を制御するX線発生制御信号を高電圧発生部1A、1B、1Cに出力し、X線の検出のタイミングを示す検出制御信号をデータ収集部5A、5B、5Cに出力する。
この発明の実施形態を実施するためには、事前にペア間の相対位置を測定することが必要である。例えば、図2に示すように、専用ファントムYを撮影することで行う。この専用ファントムYは回転中心以外の場所に設置されるピン、又はプレート状の被写体で構成される。この専用ファントムYがX線検出器の特定チャンネル、例えば中心チャンネル上Zを通過したときのビュー数の差によって、各ペアの相対位置関係を測定することができる。
相対位置算出部11は、データ収集部5A、5B、5Cから出力された投影データを受けて、ペアA、B、C間のずれ角度を求める。ずれ角度は、設計値からのずれ量である。
ここで、設計通りの角度の間隔でペアA、B、Cが設置されている際に収集される投影データのビュー数を「設計値のビュー数」と称し、1スキャンを実行することで実際に収集される投影データのビュー数を「実測のビュー数」と称することにする。
相対位置算出部11は、データ収集部5A、5B、5Cから出力された投影データを受け、その投影データのビュー数(実測のビュー数)から設計値のビュー数を減算する。さらに相対位置算出部11は、そのビュー数の差と、1ビューの投影データを収集するための回転角度とに基づいて、ペア間のずれ角度を求める。設計値のビュー数は、図示しない記憶部に予め記憶させておき、相対位置算出部11は、記憶部に記憶されている設計値のビュー数を読みこんでペア同士のずれ角度を求める。
例えば、1スキャン(1回転)で12000ビューの投影データを収集する場合であって、各ペアA、B、Cが設計通りに120°の間隔で設置されている場合、1スキャン実行すると、図3(a)に示すように、各X線検出器4A、4B、4Cは、4000ビューずつの投影データを検出することになる。一方、各X線検出器4A、4B、4Cの相対的な角度の間隔が設計値の120°からずれている場合は、そのずれた角度の分だけ各X線検出器4A、4B、4Cで検出される投影データのビュー数が異なってくる。
例えばペアAとペアBとの間が広い場合、つまり、ペアAとペアBとの間隔が設計値の120°より大きい場合、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間で検出される投影データは4000ビューよりも多くなる。例えば図3(b)に示すように、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間で、4002ビューの投影データが検出された場合、本来、4000ビューの投影データを検出されるはずであるため、2ビューの投影データ分だけ、ペアAとペアBとの間が広くなっていることになる。この場合、2ビューのずれは、角度に換算すると0.06°(=360/12000×2)に相当し、0.06°だけ、設計値の120°からペアAとペアBとの間が広くなっていることになる。つまり、0.06°分だけ、設計値より遠い位置にペアAとペアBとが設置されていることになる。
相対位置算出部11は、実測のビュー数(例えば4002ビュー)から設計値のビュー数(例えば4000ビュー)を減算してビュー数の差(+2ビュー)を算出し、さらに、そのビュー数の差(+2ビュー)に、1ビューを収集するための回転角度(360/12000)を乗算することで、設計値からのずれ角度を求める。この場合、ペアAとペアBとの間のずれ角度は+0.06°になる。つまり、ペアAとペアBとは、設計値である120°から相対的に0.06°遠い位置に設置されていることになる。ずれ角度に付されている符号「+」は、ペア間がそのずれ角度だけ離れていることを意味する。
一方、ペアAとペアBとの間が近い場合、つまり、ペアAとペアBとの間隔が設計値の120°よりも狭い場合、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間で検出される投影データは4000ビューよりも少なくなる。例えば、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間で、3998ビューの投影データが検出された場合、本来、4000ビューの投影データが検出されるはずであるため、2ビューの投影データ分だけ、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間が狭くなっていることになる。この場合、2ビューに相当する0.06°だけ、設計値の120°からペアAとペアBとの間が狭くなっていることになる。つまり、0.06°分だけ、設計値よりも近い位置にペアAとペアBとが設置されていることになる。
相対位置算出部11は、実測のビュー数(例えば3998ビュー)から設計値のビュー数(例えば4000ビュー)を減算してビュー数の差(−2ビュー)を算出し、さらに、そのビュー数の差(−2ビュー)に、1ビューを収集するための回転角度(360/12000)を乗算することで、設計値からのずれ角度を求める。この場合、ペアAとペアBとの間のずれ角度は−0.06°になる。つまり、ペアAとペアBとは、設計値である120°から相対的に0.06°近い位置に設置されていることになる。ずれ角度に付されている符号「−」は、ペア間がそのずれ角度だけ近くなっていることを意味する。
以上のように、投影データのビュー数に基づいてペアA、B、C間のずれ角度を求めることができる。相対位置算出部11は、ずれ角度(例えば、+0.06°や−0.06°)を示す情報をタイミング算出部12に出力する。
以上のように、専用ファントムを用いて事前に測定された相対位置算出部11によってペアA、B、C間のずれ角度が求められると、タイミング算出部12は、そのずれ角度に基づいて、データ収集部5A、5B、5Cによるデータ収集のタイミングを求める。
例えば、ペアAを基準のペアとした場合、ペアAに対してペアBが設計値(120°)よりもα°ずれた位置に設置されている場合は、そのずれ角度α°に相当する時間だけ、データ収集部5Bによるデータ収集のタイミングをずらす。タイミング算出部12は、以下の式(1)に基づいてデータ収集のタイミングをずらす時間Tを求める。
式(1)
T=(α/360)×R
なお、Rは断層像を得るために行う1スキャンに要する時間である。
タイミング算出部12は、時間Tを示す情報をスキャン制御部10に出力する。この例では、ペアAを基準としているため、スキャン制御部10は、ペアAを構成するデータ収集部5Aによるデータ収集のタイミングよりも、時間Tだけタイミングをずらしてデータ収集部5Bにデータを収集させる。なお、タイミング算出部12によって求められた時間Tを図示しない記憶部に記憶させておいても良い。その場合、断層像を得るためのスキャンを行なうときに、スキャン制御部10はその記憶部から時間Tを示す情報を読み込んで、その時間Tに従ってデータ収集のタイミングを制御する。
スキャン制御部10は、時間Tの符号に従って、データ収集のタイミングを遅らせるか早めるかの判断を行い、データ収集部5A、5B、5Cによるデータ収集を制御する。例えば、ペアAとペアBとが近い位置に設置されている場合は、ずれ角度αの符号は「−」になるため、時間Tの符合は「−」になる。この場合、スキャン制御部10は、その符号「−」に従って、ペアAを構成するデータ収集部5Aによるデータ収集のタイミングよりも、時間Tだけ遅らせてデータ収集部5Bにデータを収集させる。一方、ペアAとペアBとが遠い位置に設置されている場合は、ずれ角度αの符号は「+」になるため、時間Tの符合は「+」になる。この場合、スキャン制御部10は、その符号「+」に従って、データ収集部5Aによるデータ収集のタイミングよりも、時間Tだけ早めてデータ収集部5Bにデータを収集させる。
例えば、ペアAとペアBとが相対的に0.06°近い位置に設置されている場合は、相体位置算出部11からずれ角度(α=−0.06°)を示す情報が出力されるため、タイミング算出部12は、そのずれ角度(−0.06°)と式(1)に基づいて時間Tを求める。この場合、α=−0.06°であるため、T=−(0.06/360)×Rとなる。スキャン制御部10は、タイミング算出部12から時間Tを示す情報を受けると、その時間Tの符合が「−」であるため、基準のデータ収集部5Aによるデータ収集のタイミングよりも、その時間Tだけ遅らせてデータ収集部5Bにデータを収集させる。この時間Tは、ペアAとペアBとの間のずれ角度に対応しているため、その時間Tだけ遅らせてデータ収集部5Bにデータを収集させることで、ペアAとペアBとの相対的な角度ずれを補正することが可能となる。
一方、ペアAとペアBとが相対的に0.06°遠い位置に設置されている場合は、相対位置算出部11からずれ角度(α=+0.06°)を示す情報が出力されるため、タイミング算出部12は、そのずれ角度(+0.06°)と式(1)とに基づいて時間Tを求める。この場合、α=+0.06°であるため、T=+(0.06/360)×Rとなる。スキャン制御部10は、タイミング算出部12から時間Tを示す情報を受けると、時間Tの符号が「+」であるため、基準のデータ収集部5Aによるデータ収集のタイミングよりも、その時間Tだけ早めてデータ収集部5Bにデータを収集させる。この時間Tは、ペアAとペアBとの間のずれ角度に対応しているため、その時間Tだけ早めてデータ収集部5Bにデータを収集させることで、ペアAとペアBとの相対的な角度ずれを補正することが可能となる。
スキャン制御部10による制御について図4を参照してまとめる。図4は、投影データの収集のタイミングを説明するための図である。ここでは、ペアAを基準のペアとし、データ収集部5Aがデータの収集を行うタイミングを時間T0とする。例えばペアAを基準として、ペアBが設計値(120°)よりも近い位置に設置されている場合は、時間T0よりも、近くなった分の角度に相当する時間T1(上記式(1)によって求められる時間)だけ、データ収集部5Bによるデータ収集のタイミングを遅らせる。
一方、ペアAを基準として、ペアCが設計値(120°)よりも遠い位置に設置されている場合は、時間T0よりも、遠くなった分の角度に相当する時間T2(上記式(1)によって求められる時間)だけ、データ収集部5Cによるデータ収集のタイミングを早める。
そして、スキャン制御部10の制御の下、X線管球2A、2B、2CからX線が曝射され、X線検出器4A、4B、4Cは被検体を透過したX線を検出する。データ収集部5A、5B、5Cは、上記タイミングに従ってデータを収集する。
以上のようにして収集された投影データはデータ収集部5A、5B、5Cから図示しない前処理部及び再構成処理部に出力される。前処理部及び再構成処理部はデータ収集部5A、5B、5Cから出力された投影データに対して、従来技術と同じ処理を施すことにより断層像データを生成する。つまり、前処理部は、データ収集部5A、5B、5Cから出力された投影データに対して、感度補正やX線強度補正などを施す。再構成処理部は、前処理部にて補正処理が施された投影データを逆投影処理することにより断層像データを生成する。このようにして生成された断層像は図示しない表示部に表示される。
以上のように、X線検出器2A、2B、2Cの角度ずれに応じて、データ収集部5A、5B、5Cごとに異なるタイミングでデータを収集することで、その角度ずれが補正されることになり、アーチファクトがない断層像データを生成することが可能となる。
なお、この実施形態では、3個のX線管球2A、2B、2Cが設計値として120°ずれた位置に設置されたX線CT装置について説明したが、X線管球の数や設置角度の例は1例であり、例えば2個のX線管球を90°ずらした位置に設置したX線CT装置であっても、この実施形態によると、ペアの角度ずれを補正してアーチファクトがない断層像データを生成することが可能となる。
なお、相対位置算出部11及びタイミング算出部12をCPUで構成し、図示しない記憶部に記憶されているプログラムを読み込むことにより、相対位置算出部11及びタイミング算出部12の機能を実行するようにしても良い。
(動作)
次に、この発明の実施形態に係るX線CT装置による一連の動作(X線CT装置の制御方法)について図5及び図6を参照して説明する。図5及び図6は、この発明の実施形態に係るX線CT装置による一連の動作を示すフローチャートである。図5は、各ペアの相対位置を求めるための動作を示すフローチャートであり、図6は、実際の撮影の動作を示すフローチャートである。まず、図5を参照して各ペアの相対位置を求めるための動作を説明し、次に、図6を参照して実際の撮影の動作を説明する。
(ステップS01)
まず、ペアA、B、Cの相対的な位置関係を求めるために、スキャンを実行する。例えば、1スキャンで12000ビューの投影データを収集する。ステップS01では、スキャン制御部10は、全てのデータ収集部5A、5B、5Cに同じタイミングでデータを収集させる。
(ステップS02)
ステップS02では、X線検出器4A、4B、4Cにて検出され、データ収集部5A、5B、5Cにて収集された投影データのビュー数に基づいて、相対位置算出部11が、ペアA、B、Cの相対的な位置ずれを求める。例えば図3(b)に示すように、X線検出器4AとX線検出器4Bとの間で4002ビューの投影データが検出された場合、相対位置算出部11は、実測のビュー数(4002ビュー)から設計値のビュー数(4000ビュー)を減算してビュー数の差(+2ビュー)を算出する。さらに、そのビュー数の差(+2ビュー)に、1ビューを収集するための回転角度(360/12000)を乗算することで、設定値(120°)からのずれ角度αを算出する。この場合、ペアAとペアBとのずれ角度は+0.06°になる。ペアAとペアCとのずれ角度についても同様に算出する。このように、投影データのビュー数に基づいてペアA、B、C間のずれ角度を求めることができる。このようにして算出されたずれ角度αを示す情報は、相対位置算出部11からタイミング算出部12に出力される。
(ステップS03)
次に、ステップS03では、タイミング算出部12が、相対位置算出部11によって求められたずれ角度αを受けると、式(1)に従ってデータ収集のタイミングを求める。例えば、ペアAとペアBとのずれ角度αが+0.06°である場合、時間T=+(0.06/360)×Rとなる。ペアAとペアCについても、時間Tが求められる。タイミング算出部12で求められた時間Tは、スキャン制御部10に出力される。また、時間Tを示す情報を図示しない記憶部に記憶させておいても良い。
以上のように、実際の撮影を行う前に、専用ファントムを用いて各ペアの相対的な位置関係を求めておく。
次に、実際の撮影の動作について図6を参照して説明する。
(ステップS10)
スキャン制御部10は、ステップS03で求められたタイミングに従ってデータ収集部5A、5B、5Cのデータ収集を制御する。上記記憶部に時間Tを示す情報を記憶させている場合は、スキャン制御部10はその記憶部から時間Tを示す情報を読み込んでデータ収集のタイミングを制御する。
スキャン制御部10は、タイミング算出部12によって算出された時間Tの符号に従って、データ収集のタイミングを遅らせるか早めるかの判断を行う。符号が「−」であれば、データ収集を遅らせ、「+」であればデータ収集を早める。
例えば図4に示すように、ペアAを基準のペアとし、データ収集部5Aがデータ収集を行うタイミングを時間T0とした場合、データ収集部5Bによるデータ収集のタイミングを時間T0よりも時間T1だけ遅らせ、データ収集部5Cによるデータ収集のタイミングを時間T0よりも時間T2だけ早める。そして、スキャン制御部10の制御の下、データ収集部5A、5B、5Cは上記のタイミングに従ってデータを収集する。
(ステップS11)
データ収集部5A、5B、5Cによって収集された投影データは、図示しない前処理部を介して再構成処理部に出力される。再構成処理部はその投影データを逆投影処理することにより断層像データを生成する。
以上のように、ペアA、B、Cの相対的な位置関係に応じてデータ収集部5A、5B、5Cによるデータ収集のタイミングをずらすことで、設計値からの角度ずれを補正することができ、アーチファクトの影響を抑えた断層像を得ることが可能となる。
この発明の実施形態に係るX線CT装置の概略構成を示すブロック図である。 ファントムの配置を説明するための図である。 X線検出器によって検出される投影データのビュー数を説明するための図である。 投影データの収集のタイミングを説明するための図である。 この発明の実施形態に係るX線CT装置による一連の動作を説明するためのフローチャートである。 この発明の実施形態に係るX線CT装置による一連の動作を説明するためのフローチャートである。 X線管球とX線検出器の配置を説明するための回転架台の正面図である。
符号の説明
2A、2B、2C X線管球
4A、4B、4C X線検出器
5A、5B、5C データ収集部
10 スキャン制御部
11 相対位置算出部
12 タイミング算出部

Claims (2)

  1. X線管球とX線検出器との対が同心円上に複数異なる角度で配置され、各対が回転可能に構成されるX線CT装置であって、
    前記X線検出器によるX線検出のタイミングを制御する制御部と、
    前記X線検出器の出力に対して再構成処理を施すことにより画像データを生成する再構成処理部と、
    を有し、
    前記制御部の制御により予め全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出したときに個々のX線検出器で検出された投影データのビュー数と、予め設定されたビュー数との差を求め、そのビュー数の差から、基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングと、他の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングとの時間差を算出するタイミング算出部を更に有し、
    前記制御部は、前記基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングよりも前記時間差だけずらしたタイミングで前記他の対を構成するX線検出器にX線を検出させることを特徴とするX線CT装置。
  2. X線管球とX線検出器との対が同心円上に複数異なる角度で配置され、各対が回転可能に構成されるX線CT装置の制御方法であって、
    前記X線管球がX線を曝射し、全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出する第1のステップと、
    予め全てのX線検出器が同じタイミングでX線を検出したときに個々のX線検出器で検出された投影データのビュー数と、予め設定されたビュー数との差を求め、そのビュー数の差から、基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングと、他の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングとの時間差を求めるステップと、
    前記基準の対を構成するX線検出器によるX線検出のタイミングよりも前記時間差だけずらしたタイミングで前記他の対を構成するX線検出器にX線を検出させるステップと、
    を含むことを特徴とするX線CT装置の制御方法。
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