JP4795805B2 - 差動信号制御回路 - Google Patents

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本発明は、USB(Universal Serial Bus)やIEEE1394(Institute of Electrical and Electronic Engineers 1394)、Rambus(登録商標)、DDR−DRAM(Double Data Rate Dynamic Random Access Memory)等で用いられる差動信号の転送制御を行う回路に係り、特に、差動入力信号間の位相ズレを改善すると共に、出力回路の貫通電流を完全に無くすのに好適な回路に関するものである。
USBやIEEE1394、Rambus(登録商標)、DDR−DRAM等においては、信号転送の高速化、低電圧化、ノイズ耐性等に優れた差動方式による信号の転送が行われており、そのインタフェース部分においては、差動信号制御回路が用いられている。
図4は、従来の差動信号制御回路の構成例を示す回路図である。この制御回路は、差動入力信号Ai、Biを差動出力信号Ao、Boとして出力する差動信号ドライブ回路である。
差動入力信号Aiは、インバータ13とバッファ回路16の入力に接続されている。また、差動入力信号Biは、インバータ15とバッファ回路14の入力に接続されている。
インバータ13の出力はPMOSトランジスタP1のゲートに、バッファ回路14の出力はNMOSトランジスタN1のゲートに、インバータ15の出力はPMOSトランジスタP2のゲートに、バッファ回路16の出力はNMOSトランジスタN2のゲートに接続されている。
PMOSトランジスタP1のソースは電源Vddに、ドレインはNMOSトランジスタN1のドレインに接続され、NMOSトランジスタN1のソースは接地Vssされて、プッシュプル回路を構成している。差動出力信号Aoは両トランジスタの共通ドレインから出力されている。差動出力信号Boを出力するプッシュプル回路も全く同じ構成である。
図5は、図4における差動信号ドライブ回路の動作例を示す説明図であり、差動入力信号Ai、Biのタイミングチャートと、各タイミングにおけるプッシュプル回路の各トランジスタ(P1、N1、P2、N2)のオン/オフ状態を記入したものである。
図5(a)は、差動入力信号Ai、Biの位相が揃っている場合である。この場合は、差動出力信号のレベルが反転する際に、極短時間ではあるが出力回路のインピーダンスが低下し貫通電流が発生する。
図5(b)は、差動入力信号Ai、Biの位相がずれている場合である。この場合は、区間D1において、プッシュプル回路を構成している全てのトランジスタがオンしており、大きな貫通電流が発生する。
このような差動信号ドライブ回路に発生する貫通電流問題に対処するための従来技術として、例えば、特許文献1に記載のものがある。この技術は、次の図6で説明するようにして、大きな貫通電流を改善したものである。
図6は、従来の差動信号制御回路の他の構成例を示す回路図である。この差動信号制御回路(「相補型バッファ回路」)は、インバータ61,63、遅延回路(図中「Delay」と記載)62,64、NMOSトランジスタQ1〜Q8,Q11,Q12、PMOSトランジスタQ9,Q10で構成されている。
差動入力信号Biは、インバータ61の入力とNMOSトランジスタQ4およびQ5のゲートに接続されている。インバータ61の出力は、遅延回路62の入力とNMOSトランジスタQ12のゲートに接続されている。また、遅延回路62の出力はNMOSトランジスタQ3とQ6のゲートに接続されている。
差動入力信号Aiは、インバータ63の入力とNMOSトランジスタQ1およびQ8のゲートに接続されている。インバータ63の出力は、遅延回路64の入力とNMOSトランジスタQ11のゲートに接続されている。また、遅延回路64の出力はNMOSトランジスタQ2とQ7のゲートに接続されている。
NMOSトランジスタQ1〜Q4は、電源VddとVss間に順に直列接続されている。同様に、NMOSトランジスタQ5〜Q8も電源VddとVss間に順に直列接続されている。
NMOSトランジスタQ1とQ8は、差動入力信号Aiによりオン/オフ制御され、NMOSトランジスタQ2とQ7は、遅延回路64の出力信号によりオン/オフ制御され、NMOSトランジスタQ4とQ5は、差動入力信号Biによりオン/オフ制御され、NMOSトランジスタQ3とQ6は、遅延回路62の出力信号によりオン/オフ制御される。
さらに、NMOSトランジスタQ2とQ3の接続点は差動出力信号Boの出力端子に接続されており、NMOSトランジスタQ6とQ7の接続点は差動出力信号Aoの出力端子に接続されている。
PMOSトランジスタQ9のソースは電源Vddに接続され、ドレインはNMOSトランジスタQ11のドレインに接続されると共に、差動出力信号Boの出力端子に接続されている。またゲートはPMOSトランジスタQ10のドレインに接続されている。
PMOSトランジスタQ10のソースは電源Vddに接続され、ドレインはNMOSトランジスタQ12のドレインに接続されると共に、差動出力信号Aoの出力端子に接続されている。またゲートはPMOSトランジスタQ9のドレインに接続されている。
この回路の動作は、差動入力信号(Ai,Bi)の一方の立ち上りエッジタイミングが他方の立下りエッジタイミングより早い場合に、一方の信号が立ち上がった時点で、他の差動出力信号を反転させるようにしている。
その結果、図4の制御回路のように、出力トランジスタが全てオンして、大きな貫通電流が流れるのを防止できる。
しかしながら、この回路においても、差動出力信号(Ao,Bo)が反転する際に発生する短時間の貫通電流までは改善されていない。
例えば、差動出力信号Boがハイレベルからローレベルに変化する場合を考察する。差動出力信号Boがハイレベルの状態では、PMOSトランジスタQ9がオン、NMOSトランジスタQ11がオフである。
差動入力信号Aiがハイレベルからローレベルになると、インバータ3を介してNMOSトランジスタQ11がオンになるが、PMOSトランジスタQ9がオフになるのは、差動出力信号Boが低下して、PMOSトランジスタQ10がオンとなり、その結果PMOSトランジスタQ9のゲート電圧を引き上げてからである。
そのため、短時間ではあるが、NMOSトランジスタQ11とPMOSトランジスタQ9が同時にオンの期間が発生する。同様の動作は、PMOSトランジスタQ10とNMOSトランジスタQ12の間でも発生する。
特開2001−274669号公報
解決しようとする問題点は、従来の技術では、差動信号制御回路において、差動出力信号が反転する際に発生する極短時間の貫通電流を無くすことができない点である。
本発明の目的は、これら従来技術の課題を解決し、差動信号制御回路における貫通電流を完全に排除し、しかも、位相の揃った差動出力信号を出力することを可能とすることである。
上記目的を達成するため、本発明では、差動入力信号(Ai,Bi)を入力して差動出力信号(Ao,Bo)の各々を出力するための2つのプッシュプル回路(P1,N1,P2,N2)を備えた差動信号制御回路において、差動出力信号の出力レベルが反転する際に、各プッシュプル回路が必ずハイインピーダンス状態を経由するようにした。具体的には、一方の差動入力信号を遅延する第1の遅延回路(11)と、他方の差動入力信号を遅延する第2の遅延回路(12)と、これらの第1,第2の遅延回路(11,12)の出力と差動入力信号とを入力して各プッシュプル回路を制御するための制御信号を出力する条件判定回路(10)を備えた。さらに、この第1,第2の遅延回路の遅延時間は、差動入力信号の最大位相ズレ時間より長くした。また、条件判定回路(10)は、差動入力信号が同時に変化した場合と、差動入力信号の一方の信号がローレベルからハイレベルに変化したときに他方の信号がハイレベルの場合、および、差動入力信号の一方の信号がハイレベルからローレベルに変化したときに他方の信号がローレベルの場合に、一方の信号のレベルが変化した時点から、第1,第2の遅延回路(11,12)の遅延時間の間、各プッシュプル回路をハイインピーダンスにするための制御信号を出力するようにした。
本発明によれば、差動出力信号(Ao、Bo)が反転する際に、出力のプッシュプル回路を構成している全てのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)を、遅延回路(11,12)で設定された所定の時間オフするようにしたので、極短時間の貫通電流も完全に排除でき、しかも差動入力信号(Ai,Bi)に位相ズレが有っても、位相の揃った差動出力信号(Ao,Bo)を出力することができる。
以下、図を用いて本発明を実施するための最良の形態例を説明する。図1は、本発明に係る差動信号制御回路の構成例を示すブロック図であり、図2は、図1における差動信号制御回路の動作例を示す説明図、図3は、図1における差動信号制御回路の動作例を説明するタイミングチャートである。
図1に示す差動信号制御回路は、本発明に係る保持手段を構成する遅延回路11,12と条件判定回路10を具備し、さらに、インバータ13,15とバッファ回路14,16、それぞれプッシュプル回路を構成するPMOSトランジスタP1,P2およびNMOSトランジスタN1,N2を具備した差動信号ドライブ回路である。
遅延回路11,12は、差動入力信号Ai,Biの条件判定回路10への入力を所定の時間だけ遅延させる。尚、この遅延時間は、差動入力信号Aiと差動入力信号Biの最大位相ズレ時間より長く設定されている。
条件判定回路10は、差動入力信号Ai,Bi、および、これらの信号を所定の時間遅延した遅延信号Ad,Bdを入力して、入力した4つの信号をデコードして、プッシュプル回路を構成している各トランジスタP1,N1,P2,N2を制御するための制御信号を出力する。
デコードの基本動作では、差動入力信号Aiがハイレベルの場合は、PMOSトランジスタP1をオン、NMOSトランジスタN1をオフにし、差動入力信号Aiがローレベルの場合は、PMOSトランジスタP1をオフ、NMOSトランジスタN1をオンにする。
同様に、差動入力信号Biがハイレベルの場合は、PMOSトランジスタP2をオン、NMOSトランジスタN2をオフにし、差動入力信号Biがローレベルの場合は、PMOSトランジスタP2をオフ、NMOSトランジスタN2をオンにする。
ただし、差動入力信号Aiと差動入力信号Biが同時に変化した場合と、差動入力信号Aiと差動入力信号Biの一方の信号がローレベルからハイレベルに変化したときに、他方の信号がハイレベルの場合、および、差動入力信号Aiと差動入力信号Biの一方の信号がハイレベルからローレベルに変化したときに、他方の信号がローレベルの場合は、一方の信号のレベルが変化した時点から、遅延時間経過する間、各プッシュプル回路を構成している全てのトランジスタP1,N1,P2,N2をハイインピーダンスにするための、制御信号を出力する。これにより、差動信号ドライブ回路における極短時間の貫通電流も完全に排除でき、しかも差動入力信号(Ai,Bi)に位相ズレが有っても、位相の揃った差動出力信号(Ao,Bo)を出力することができる。
図2は、図1に示す差動信号ドライブ回路における条件判定回路10での真理値表である。条件判定回路10は、各入力信号(差動入力信号Ai,遅延信号Ad,差動入力信号Bi,遅延信号Bd)の入力に対して真理値表に示される対応付けに応じた各出力信号(Do1,Do2,Do3,Do4)を出力する論理回路からなる。尚、この真理値表は、差動信号ドライブ回路の回路構成で変化する。さらに、この真理値表中の網掛けしてある条件(No.0,5,10,15)は、通常の動作では発生しない条件の組合せである。
図3は、図1における差動信号ドライブ回路の動作タイミングチャートである。図中の網掛け部分は、条件判定回路10により、プッシュプル回路の全てのトランジスタがオフしている期間である。
図3(a)は、差動入力信号Aiと差動入力信号Biの位相が揃っている場合の例を示している。区間A1では、差動入力信号Aiと遅延信号Adがローレベル(「0」)で、差動入力信号Biと遅延信号Bdがハイレベル(「1」)なので、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.12」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力する。その結果、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフになっている。
区間A2になると、差動入力信号Aiがハイレベルに、差動入力信号Biがローレベルに変化するが、遅延信号Ad,Bdはまだ変化していない(遅延信号Adがローレベル、遅延信号Bdがハイレベル)ので、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.9」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
遅延時間が経過して区間A3に入ると、差動入力信号Aiと遅延信号Adがハイレベルで、差動入力信号Biと遅延信号Bdがローレベルとなるので、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.3」の条件に基づき、出力「Do1=1」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=1」を出力する。その結果、PMOSトランジスタP1はオン、NMOSトランジスタN1はオフ、PMOSトランジスタP2はオフ、NMOSトランジスタN2はオンになる。
さらに、区間A4になると、差動入力信号Aiがローレベルに、差動入力信号Biがハイレベルに変化するが、遅延信号Ad,Bdはまだ変化していない(遅延信号Adがハイレベル、遅延信号Bdがローレベル)ので、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.6」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、区間A2と同様、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
そして、区間A5は区間A1と同じであり、以下同様の動作を繰り返す。
図3(b)は、差動入力信号Aiの位相が差動入力信号Biより進んでいる場合の例を示している。区間B1では、差動入力信号Aiと遅延信号Adがローレベル(「0」)で、差動入力信号Biと遅延信号Bdがハイレベル(「1」)なので、図3(a)における区間A1と同様、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.12」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフになっている。
区間B2になると、差動入力信号Aiのみがローレベルからハイレベルになるが、遅延信号Adおよび差動入力信号Biと遅延信号Bdは区間B1と同じであり(遅延信号Adがローレベル、差動入力信号Biと遅延信号Bdがハイレベル)、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.13」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
区間B3では、差動入力信号Biがローレベルになるが、まだ、遅延回路11,12の遅延時間が経過していないので、差動入力信号Aiがハイレベル、遅延信号Adがローレベル、遅延信号Bdがハイレベルのままであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.9」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力する。その結果、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)は全てオフのままであり、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路はハイインピーダンスのままである。
区間B4では、遅延回路11の遅延時間が経過し、遅延信号Adがローレベルからハイレベルになり、差動入力信号Aiがハイレベル、差動入力信号Biがローレベル、遅延信号Bdがハイレベルとなり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.11」の条件に基づき、出力「Do1=1」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=1」を出力する。その結果、PMOSトランジスタP1はオン、NMOSトランジスタN1はオフ、PMOSトランジスタP2はオフ、NMOSトランジスタN2はオンとなる。
区間B5では、遅延回路12の遅延時間が経過し、遅延信号Bdがハイレベルからローレベルになり、差動入力信号Aiと遅延信号Adがハイレベル、差動入力信号Biがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.3」の条件に基づき、区間B4と同様、出力「Do1=1」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=1」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオン、NMOSトランジスタN1はオフ、PMOSトランジスタP2はオフ、NMOSトランジスタN2はオンのままとなる。
区間B6では、差動入力信号Aiがハイレベルからローレベルに変化し、遅延信号Adがハイレベル、差動入力信号Biと遅延信号Bdがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.2」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
区間B7では、差動入力信号Biがローレベルからハイレベルになるが、まだ遅延回路11,12の遅延時間が経過していないので、差動入力信号Aiがローレベル、遅延信号Adがハイレベル、遅延信号Bdがローレベルのままであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.6」の条件に基づき、区間B6と同様、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフのままであり、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路はハイインピーダンスのままである。
そして、区間B8では、遅延回路11の遅延時間が経過し、遅延信号Adがハイレベルからローレベルになり、差動入力信号Aiがローレベル、差動入力信号Biがハイレベル、遅延信号Bdがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.4」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフとなる。
区間B9では、遅延回路12の遅延時間が経過し、遅延信号Bdがローレベルからハイレベルになり、差動入力信号Aiがローレベル、遅延信号Adがローレベル、差動入力信号Biがハイレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.12」の条件に基づき、区間8と同様、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフとなる。この区間B9の動作は区間B1と同じであり、以下同様の動作を繰り返す。
図3(c)は、差動入力信号Aiの位相が差動入力信号Biより遅れている場合の例を示している。区間C1では、差動入力信号Aiと遅延信号Adがローレベルで、差動入力信号Biと遅延信号Bdがハイレベルであり、図3(a),(b)における区間A1、B1と同様、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.12」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフとなる。
区間C2になると、差動入力信号Biがハイレベルからローレベルになるが、差動入力信号Aiはまだローレベルで、遅延信号Adがローレベル、遅延信号Bdがハイレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.8」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
区間C3では、差動入力信号Aiがローレベルからハイレベルになるが、まだ遅延回路11,12の遅延時間が経過していないので、遅延信号Adがローレベル、差動入力信号Biがローレベル、遅延信号Bdがハイレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.9」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、各トランジスタ(P1,N1,P2,N2)は全てオフのままであり、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路はハイインピーダンスのままである。
区間C4では、遅延回路12の遅延時間が経過し、遅延信号Bdがハイレベルからローレベルになり、差動入力信号Aiがハイレベル、遅延信号Adがローレベル、差動入力信号Biがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.1」の条件に基づき、出力「Do1=1」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=1」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオン、NMOSトランジスタN1はオフ、PMOSトランジスタP2はオフ、NMOSトランジスタN2はオンとなる。この状態は、区間C5まで続く。
すなわち、区間C5では、遅延時間11の遅延時間が経過し、遅延信号Adがローレベルからハイレベルになり、差動入力信号Aiがハイレベル、差動入力信号Biと遅延信号Bdがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.3」の条件に基づき、出力「Do1=1」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=1」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオン、NMOSトランジスタN1はオフ、PMOSトランジスタP2はオフ、NMOSトランジスタN2はオンとなる。
区間C6では、差動入力信号Biがハイレベルに変化するが、差動入力信号Aiはまだハイレベルであり、かつ、遅延信号Adがハイレベル、遅延信号Bdがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.7」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフにして、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路をハイインピーダンスにする。
区間C7では、差動入力信号Aiがローレベルになるが、まだ遅延回路11,12の遅延時間が経過していないので、遅延信号Adがハイレベル、差動入力信号Biがハイレベル、遅延信号Bdがローレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.6」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=0」、出力「Do3=0」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、トランジスタ(P1,N1,P2,N2)を全てオフのままであり、これらのトランジスタ(P1,N1,P2,N2)からなるプッシュプル回路はハイインピーダンスのままである。
そして、区間C8では、遅延回路12の遅延時間が経過し、遅延信号Bdがローレベルからハイレベルになると、差動入力信号Aiがローレベル、遅延信号Adがハイレベル、差動入力信号Biがハイレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.14」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフとなる。この状態は、区間C9まで続く。
すなわち、区間C9では、遅延時間12の遅延時間が経過し、遅延信号Adがハイレベルからローレベルになり、差動入力信号Aiがローレベル、差動入力信号Biと遅延信号Bdがハイレベルであり、条件判定回路10は、図2に示す真理値表の「No.12」の条件に基づき、出力「Do1=0」、出力「Do2=1」、出力「Do3=1」、出力「Do4=0」を出力し、その結果、PMOSトランジスタP1はオフ、NMOSトランジスタN1はオン、PMOSトランジスタP2はオン、NMOSトランジスタN2はオフとなる。尚、この区間C9の動作は区間C1と同じなので、以下同様の動作を繰り返す。
以上、図1〜図3を用いて説明したように、本例では、差動出力信号Ao,Boが反転する際に、出力のプッシュプル回路を構成している全てのトランジスタP1,N1,P2,N2を、遅延回路11,12で設定された所定の時間だけオフするようにした。これにより、極短時間の貫通電流も完全に排除でき、しかも差動入力信号Aiと差動入力信号Biに位相ズレがあっても、位相の揃った差動出力信号Aoと差動出力信号Boを出力することができる。
尚、本発明は、図1〜図3を用いて説明した例に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能である。
本発明に係る差動信号制御回路(差動信号ドライブ回路)の構成例を示すブロック図である。 図1における差動信号制御回路(差動信号ドライブ回路)の動作例を示す説明図である。 図1における差動信号制御回路(差動信号ドライブ回路)の動作例を説明するタイミングチャートである。 従来の差動信号制御回路(差動信号ドライブ回路)の構成例を示す回路図である。 図4における差動信号制御回路の動作例を示す説明図である。 従来の差動信号制御回路(相補型バッファ回路)の他の構成例を示す回路図である。
符号の説明
10:条件判定回路、11,12:遅延回路(「Delay」)、13,15:インバータ、14,16:バッファ回路、P1,P2:PMOSトランジスタ、N1,N2:NMOSトランジスタ、Ai,Bi:差動入力信号、Ao,Bo:差動出力信号、Ad,Bd:遅延信号、Do1〜Do4:制御信号、N1G,N2G,P1G,P2G:ゲート信号、Vdd:電源、Vss:接地、61,63:インバータ、62,64:遅延回路(「Delay」)、Q1〜Q8,Q11,Q12:NMOSトランジスタ、Q9,Q10:PMOSトランジスタ。

Claims (2)

  1. 各々差動入力信号を入力して差動出力信号を出力する2つのプッシュプル回路を具備した差動信号制御回路であって、
    前記差動出力信号の出力レベルが反転する際に、前記プッシュプル回路のそれぞれをハイインピーダンス状態に一時保持する保持手段を有し、
    前記保持手段は、
    一方の差動入力信号を遅延する第1の遅延回路と、
    他方の差動入力信号を遅延する第2の遅延回路と、
    前記差動入力信号と前記第1,第2の遅延回路の出力を入力して前記プッシュプル回路のそれぞれを制御するための制御信号を生成する条件判定回路とを備えており、
    前記条件判定回路は、
    前記差動入力信号が同時に変化した場合と、
    前記差動入力信号の一方の信号がローレベルからハイレベルに変化したときに他方の信号がハイレベルの場合、および、
    前記差動入力信号の一方の信号がハイレベルからローレベルに変化したときに他方の信号がローレベルの場合に、
    前記一方の信号のレベルが変化した時点から前記遅延時間の間だけ前記プッシュプル回路のそれぞれをハイインピーダンスにするための前記制御信号を生成して、該制御信号を前記プッシュプル回路へ出力することを特徴とする差動信号制御回路。
  2. 請求項に記載の差動信号制御回路であって、
    前記第1,第2の遅延回路の遅延時間は、前記差動入力信号の最大位相ズレ時間より長くしたことを特徴とする差動信号制御回路。
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