JP4794162B2 - 焦点検出装置および焦点検出方法 - Google Patents
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上記再測距判定手段は、被写体環境の光量を測定する測光機能をもち、上記エリア選択手段により選択されたエリアが他のエリアより近側か否かを判定し、上記選択されたエリアが近側である場合は、再測距が不要と判定し、上記選択されたエリアが近側でない場合は、再測距が必要と判定し、
上記補助光照射手段は、上記測光機能において被写体環境が逆光環境もしくは低輝度であるかどうかを判断し、逆光環境もしくは低輝度である場合、再測距を行う際の上記電荷蓄積手段における電荷蓄積中に、上記補助光照射手段により補助光を発光することを特徴とする。
上記本発明に係る焦点検出装置において、再測距判定手段によって再測距と判定された場合でありかつ被写体環境が所定の状態ではない場合、再測距の際の前記電荷蓄積型受光素子列に対する電荷蓄積時間を設定する電荷蓄積時間設定手段を持っているとよい。
上記本発明に係る焦点検出装置において、再測距判定手段により再測距と判定されて再測距を行った場合、1回目と2回目の測距結果を比較し、より有効である方を測距結果として出力するようにするとよい。
上記本発明に係る焦点検出装置において、補助光照射手段がストロボの場合、ストロボの充電レベルが所定のレベルに満たない場合は、発光することなく再測距を行うようにするとよい。
また、補助光照射手段がストロボの場合、ストロボの充電レベルが所定のレベルに満たない場合は、充電した後に再測距するようにするとよい。
上記再測距判定工程は、被写体環境の光量を測定する測光機能をもち、上記エリア選択工程により選択されたエリアが他のエリアより近側か否かを判定し、上記選択されたエリアが近側である場合は、再測距が不要と判定し、上記選択されたエリアが近側でない場合は、再測距が必要と判定し、
上記補助光照射工程は、上記測光機能によって被写体環境が逆光環境もしくは低輝度であるかどうかを判断し、逆光環境もしくは低輝度である場合、再測距を行う際の上記電荷蓄積工程における電荷蓄積中に、上記補助光照射工程により補助光を発光することを特徴とする。
上記本発明に係る焦点検出方法において、再測距判定工程による判定の結果、再測距と判定された場合でありかつ被写体環境が所定の状態ではない場合、再測距の際の前記電荷蓄積型受光素子列に対する電荷蓄積時間を設定する電荷蓄積時間設定工程を持つとよい。
上記本発明に係る焦点検出方法において、再測距判定工程により再測距と判定され再測距を行った場合、1回目と2回目の測距結果を比較し、より有効である方を測距結果として出力するようにするとよい。
上記本発明に係る焦点検出方法において、補助光照射工程はLED、あるいはランプによる光照射であってもよい。
上記本発明に係る焦点検出方法において、補助光照射工程は、ストロボによる光照射の場合、ストロボのメインコンデンサの充電レベルが所定のレベルに満たない場合、ストロボのメインコンデンサを充電した後に再測距を行うようにするとよい。
(1)撮影前に被写体の状態を監視する、
(2)撮影した画像を確認する、
(3)メモリカード40や上記内蔵メモリ120に記録した画像データを表示する、
という各種目的で使用するためのモニタである。
L=B・f/(X1+X2)・・・(1)
受光センサの間隔B、レンズと受光センサとの距離fは、測距素子により予め定められた値であるので、CPUが、測距素子の受光センサの受光量を読出し、読み出した受光量から(X1+X2)を算出し、算出した(X1+X2)を上記式(1)に代入することで、被写体までの距離Lを算出することができる。
5 測距ユニット
7 鏡胴ユニット
71 レンズ
72 レンズ
75 左受光センサ
76 右受光センサ
101 電荷蓄積型受光素子
104 ディジタルスチルカメラプロセッサ
104−3 CPUブロック
Claims (18)
- 少なくとも1対でかつ複数エリアを設定可能な電荷蓄積型受光素子列上に被写体からの光束を結像させる電荷蓄積手段と、上記電荷蓄積型受光素子列の各エリアの出力データに基づいて上記各エリアごとに測距演算を行う測距演算手段と、この測距演算手段により演算された上記被写体までの測距値に基づき上記各エリアのうちから、他のエリアより近側にある1のエリアを選択するエリア選択手段と、このエリア選択手段によって選択されたエリアの測距値を他のエリアの測距値と比較し再測距をするか否かを判定する再測距判定手段と、上記被写体に光を照射するための補助光照射手段とを有する焦点検出装置であって、
上記再測距判定手段は、被写体環境の光量を測定する測光機能をもち、上記エリア選択手段により選択されたエリアが他のエリアより近側か否かを判定し、上記選択されたエリアが近側である場合は、再測距が不要と判定し、上記選択されたエリアが近側でない場合は、再測距が必要と判定し、
上記補助光照射手段は、上記測光機能において被写体環境が逆光環境もしくは低輝度であるかどうかを判断し、逆光環境もしくは低輝度である場合、再測距を行う際の上記電荷蓄積手段における電荷蓄積中に、上記補助光照射手段により補助光を発光することを特徴とする焦点検出装置。 - 請求項1に記載の焦点検出装置において、再測距判定手段は、上記測距演算手段による演算の結果全てのエリアが有効ではない場合、再測距と判定することを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項1に記載の焦点検出装置において、再測距判定手段によって再測距と判定された場合でありかつ被写体環境が所定の状態ではない場合、再測距の際の前記電荷蓄積型受光素子列に対する電荷蓄積時間を設定する電荷蓄積時間設定手段を持つことを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項1に記載の焦点検出装置において、再測距判定手段により再測距と判定されて再測距を行った場合、1回目と2回目の測距結果を比較し、より有効である方を測距結果として出力することを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項1に記載の焦点検出装置において、補助光照射手段はストロボであることを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項1に記載の焦点検出装置において、補助光照射手段はLEDであることを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項1に記載の焦点検出装置において、補助光照射手段はランプであることを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項5に記載の焦点検出装置において、補助光照射手段であるストロボの充電レベルが所定のレベルに満たない場合は、発光することなく再測距を行うことを特徴とする焦点検出装置。
- 請求項5に記載の焦点検出装置において、補助光照射手段であるストロボの充電レベルが所定のレベルに満たない場合は、充電した後に再測距をすることを特徴とする焦点検出装置。
- 少なくとも1対でかつ複数エリアを設定可能な電荷蓄積型受光素子列上に被写体からの光束を結像させる電荷蓄積工程と、上記電荷蓄積型受光素子列の各エリアの出力データに基づいて上記各エリアごとに測距演算を行う測距演算工程と、この測距演算工程により演算された上記被写体までの測距値に基づき上記各エリアのうちから、他のエリアより近側にある1のエリアを選択するエリア選択工程と、このエリア選択工程に基づいて選択されたエリアの測距値を他のエリアの測距値と比較し再測距をするか否かを判定する再測距判定工程と、上記被写体に光を照射するための補助光照射工程とを有する焦点検出方法において、
上記再測距判定工程は、被写体環境の光量を測定する測光機能をもち、上記エリア選択工程により選択されたエリアが他のエリアより近側か否かを判定し、上記選択されたエリアが近側である場合は、再測距が不要と判定し、上記選択されたエリアが近側でない場合は、再測距が必要と判定し、
上記補助光照射工程は、上記測光機能によって被写体環境が逆光環境もしくは低輝度であるかどうかを判断し、逆光環境もしくは低輝度である場合、再測距を行う際の上記電荷蓄積工程における電荷蓄積中に、上記補助光照射工程により補助光を発光することを特徴とする焦点検出方法。 - 請求項10に記載の焦点検出方法において、再測距判定工程は、測距演算工程における演算結果、全てのエリアが有効ではない場合、再測距と判定することを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項10に記載の焦点検出方法において、再測距判定工程による判定の結果、再測距と判定された場合でありかつ被写体環境が所定の状態ではない場合、再測距の際の前記電荷蓄積型受光素子列に対する電荷蓄積時間を設定する電荷蓄積時間設定工程を持つことを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項10に記載の焦点検出方法において、再測距判定工程により再測距と判定され再測距を行った場合、1回目と2回目の測距結果を比較し、より有効である方を測距結果として出力することを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項10に記載の焦点検出方法において、補助光照射工程はストロボによる光照射であることを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項10に記載の焦点検出方法において、補助光照射工程はLEDによる光照射であることを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項10に記載の焦点検出方法において、補助光照射工程はランプによる光照射であることを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項14に記載の焦点検出方法において、補助光照射工程は、ストロボのメインコンデンサの充電レベルが所定のレベルに満たない場合、ストロボを発光させることなく再測距を行うことを特徴とする焦点検出方法。
- 請求項14に記載の焦点検出方法において、補助光照射工程は、ストロボのメインコンデンサの充電レベルが所定のレベルに満たない場合、ストロボのメインコンデンサを充電した後に再測距を行うことを特徴とする焦点検出方法。
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