JP4755886B2 - 位置検出システムおよび位置検出方法 - Google Patents

位置検出システムおよび位置検出方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4755886B2
JP4755886B2 JP2005327679A JP2005327679A JP4755886B2 JP 4755886 B2 JP4755886 B2 JP 4755886B2 JP 2005327679 A JP2005327679 A JP 2005327679A JP 2005327679 A JP2005327679 A JP 2005327679A JP 4755886 B2 JP4755886 B2 JP 4755886B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
measurement
coordinate
angles
calculated
moving body
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005327679A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007132853A (ja
Inventor
亜紀子 沼田
雅仁 佐野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba TEC Corp
Original Assignee
Toshiba TEC Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba TEC Corp filed Critical Toshiba TEC Corp
Priority to JP2005327679A priority Critical patent/JP4755886B2/ja
Publication of JP2007132853A publication Critical patent/JP2007132853A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4755886B2 publication Critical patent/JP4755886B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Position Fixing By Use Of Radio Waves (AREA)

Description

この発明は、移動体の位置を検出する位置検出システムおよび位置検出方法に関する。
従来、移動体の位置を検出する方法として、三角測量が知られている。
三角測量により移動体の位置を検出するシステムの例として、少なくとも3つの指標を設け、これら指標と移動体とを結ぶ各方向線の相互間の角度(指標が3つであれば3つの角度)を測定し、測定した各角度のうち2つを選択し、選択した2つの角度および各指標の位置を用いた演算により、移動体の位置を検出するものがある(例えば、特許文献1)。
特開2001−33244号公報
上記システムでは、各指標と移動体とを結ぶ各方向線の相互間の角度が測定されるが、この測定角度に誤差が含まれていれば、その誤差が位置の検出に悪影響を及ぼしてしまう。
この発明は、上記事情を考慮したもので、たとえ測定角度に誤差が含まれていても、その誤差の影響を最小限に抑えて、移動体の位置を的確に検出することが可能な信頼性にすぐれた位置検出システムおよび位置検出方法を提供することを目的とする。
請求項1に係る発明の位置検出システムは、移動体の位置検出用として3つ以上の指標を備えたものであって、各指標のうち3つの指標と移動体とを結ぶ各方向線の相互間の角度を測定する測定手段と、各指標位置と上記測定手段測定される角度から、移動体の位置のX座標PxおよびY座標Pyを演算する演算手段と、上記測定手段測定角度のうち、それぞれ2つの測定角度α,βからなる複数の組合せを選定する選定手段と、この選定手段で選定される組合せごとに、それぞれの測定角度α,βの変化に対する、上記演算手段で演算されるX座標PxおよびY座標Pyの変化率Δx,Δyを、推定する推定手段と、この推定手段で推定される変化率Δx,Δyに対し、上記測定角度αの実際値がΘ、上記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差kを含む場合の実際の変化率Δx ,Δy を算出する第1算出手段と、上記推定手段で推定される変化率Δx,Δyに対し、上記測定角度αの実際値がΘ、上記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差を含まない場合の実際の変化率Δx ,Δy を算出する第2算出手段と、を備えている。そして、上記演算手段は、上記選定手段で選定される各組合せの測定角度α,βのうち、上記第1算出手段で算出される実際の変化率Δx と上記第2算出手段で算出される実際の変化率Δx との差(=|Δx |−|Δx |)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、移動体の位置のX座標Pxを演算するとともに、上記第1算出手段で算出される実際の変化率Δy と上記第2算出手段で算出される実際の変化率Δy との差(=|Δy |−|Δy |)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、移動体の位置のY座標Pyを算出する
この発明の位置検出システムおよび位置検出方法によれば、測定角度に誤差が含まれていても、その誤差の影響を最小限に抑えて、移動体の位置を的確に検出することができる。これにより、位置検出の信頼性が大幅に向上する。
以下、この発明の一実施形態について図面を参照して説明する。
図1に示すように、1は大型商店などの建物で、床、壁、天井で覆われている。この建物1の床面に移動体2が移動自在に載置されている。そして、建物1の内壁上部あるいは天井に、少なくとも3つ以上の指標として6個の光学ビーコン♯0〜♯6が分散して取付けられている。これら光学ビーコン♯0〜♯6は、発光素子として赤外線光を発する発光ダイオードを用いており、取付け位置(平面上のX,Y座標)については施設時に既知となっている。
光学ビーコン♯0〜♯6から発せられる赤外線光は、壁面に取付けられている場合に平面図上で水平方向が最大180度(角部に取付けのものは90度または270度)の範囲で上下左右方向に拡がり、天井に取付けられている場合に平面図上で最大360度の範囲で下方向に拡がる。
とくに、光学ビーコン♯0〜♯6は、自己以外の少なくとも1つの光学ビーコンから発せられる光の到達領域に存している。
これら光学ビーコン♯0〜♯6には、符号順にそのまま対応する発光順序が予め定められている。発光順序が1番目の光学ビーコン♯0は、基準光学ビーコンとして、定期的に発光動作する。この光学ビーコン♯0の制御回路は、図2に示すように、発光パターン生成部10、タイマ11、ID設定部12、および発光素子(発光ダイオード)13により構成されている。このうち、発光パターン生成部10およびタイマ11により、発光制御部が構成されている。
タイマ11は、光学ビーコン♯0の周期的な発光動作を設定するための一定時間t1をカウントする。ID設定部12は、光学ビーコン♯0に固有の識別情報いわゆるIDを人為的な操作により可変設定するためのものである。
発光パターン生成部10は、図3のタイムチャートに示すように、タイマ11が一定時間t1をカウントするごとに、所定周波数のキャリア信号を変調し、その変調信号(パルス信号)により、特定の発光パターンを有する開始コードを生成し、続いてID設定部12の設定に応じたIDコードを生成し、生成した開始信号およびIDコードに応じて発光素子13を発光させする。開始信号の立上がりからIDコードの終了までに一定時間taが確保される。IDコードは、一定時間tbに収まる3ビットの2進数値であり、光学ビーコン♯0用として2進数値“0”が設定されている。一定時間ta,tbについては、発光パターン生成部10内のクロック信号のカウントにより設定される。
残りの光学ビーコン♯1〜♯6は、従動光学ビーコンとして、自己以外の光学ビーコンから発せられる光のうち、予め定められている発光順序が1つ前の光学ビーコンから発せられる光をその光に含まれているIDコードから判別し、その判別した光を受けることにより順次に動作して発光する。
光学ビーコン♯1〜♯6の制御回路は互いに同一のもので、そのうちの光学ビーコン♯1の制御回路を代表して図4に示している。すなわち、自己以外の光学ビーコンから発せられる光を受ける受光素子(フォトダイオード)20、この受光素子20の受光信号に含まれている開始信号およびIDコードを判別する信号判別部21、この信号判別部21で開始信号およびIDコードが判別された場合に同判別されたIDコードとIDメモリ23内の特定IDコード(発光順序が1つ前の光学ビーコンのIDコード)とを比較する比較部22が設けられている。この比較部22の比較結果が、発光パターン生成部24に供給される。そして、発光パターン生成部24に、タイマ25、ID設定部26、発光素子(発光ダイオード)27が接続されている。
タイマ25は、比較部22の比較結果が一致の場合に、発光動作開始までの一定時間t2をカウントするために用意されている。ID設定部26は、光学ビーコン♯1に固有の識別情報であるIDを人為的な操作により可変設定するためのものである。
発光パターン生成部24は、図2に示しているように、比較部22の比較結果が一致となった場合にタイマ25を動作させ、そのタイマ25による一定時間t2のカウントが終了した後、所定周波数のキャリア信号を変調し、その変調信号(パルス信号)により、特定の発光パターンを有する開始信号を生成し、続いてID設定部26の設定に応じたIDコードを生成し、生成した開始信号およびIDコードに応じて発光素子27を発光させる。開始信号の立上がりからIDコードの終了までに一定時間taが確保される。IDコードは、一定時間tbに収まる3ビットの2進数値であり、光学ビーコン♯1用として2進数値“1”が設定されている。一定時間ta,tbについては、発光パターン生成部24内のクロック信号のカウントにより設定される。
上記信号判別部21、比較部22、IDメモリ23、発光パターン生成部24、およびタイマ25により、発光制御部が構成されている。
なお、他の光学ビーコン♯2〜♯6のIDコードとして、2進数値“2”“3”“4”“5”“6”がそれぞれ設定されている。光学ビーコン♯0〜♯6のIDコード、および光学ビーコン♯0〜♯6のIDメモリ23に記憶される特定IDコード(発光順序が1つ前の光学ビーコンのIDコード)の関係を、図5に示している。
こうして、光学ビーコン♯0が一定時間t1ごとに発光動作して開始信号およびIDコードを発する。光学ビーコン♯1は、他の光学ビーコンから受ける光のIDコードを監視し、発光順序が1つ前の光学ビーコン♯0の特定IDコードである場合に、それから一定時間t2後に発光動作して開始信号およびIDコードを発する。光学ビーコン♯2は、他の光学ビーコンから受ける光のIDコードを監視し、発光順序が1つ前の光学ビーコン♯1の特定IDコードである場合に、それから一定時間t2後に発光動作して開始信号およびIDコードを発する。以後、同様に、光学ビーコン♯3〜♯6が発光動作する。全ての光学ビーコン♯0〜♯6の発光動作が終了するタイミングは、上記一定時間t1のカウントが終了するタイミングの前である。これにより、一定時間t1ごとに、光学ビーコン♯0〜♯6の順繰りの発光動作が繰返される。
一方、移動体2は、光学ビーコン♯0〜♯6から入射する光の入射角度を算出するとともに、その各入射光に含まれているIDコードに対応する光学ビーコン♯0〜♯6の位置を判別し、これら算出結果および判別結果に応じて自己の位置を検出する機能を有するもので、図6の制御回路に示すように、検出手段として、受光部30、光点位置計測部33、入射角度計算部34、自己位置演算部35、コード検知部36、位置データメモリ37を有している。
受光部30は、光学ビーコン♯0〜♯6から到達して入射部31に入射する光を、二次元光学センサ32に集光する。入射部31は、図7に示すように、絞り板31aを有し、その絞り板31aの開口(絞り)に入射する光をレンズ31bにより二次元光学センサ32に集光して、二次元光学センサ32の上面に集光点を形成する。光点位置計測部33は、二次元光学センサ32における各集光点を計測する。入射角度計算部34は、光点位置計測部33で計測される各集光点と二次元光学センサ32の上面の中心位置に立つ中心軸との間の距離に基づいて、上記入射部31への各入射光の入射角度(各入射光の光源方向)を計算する。
二次元光学センサ32としては、例えばPSD(Position Sensitive Detector)と称される位置センサが採用される。この位置センサは、フォトダイオードの表面抵抗を利用して集光点の受光強度の重心位置を検知するもので、その重心位置に応じた電圧レベルの信号を出力する。すなわち、集光点の受光強度の重心位置のX,Y座標がXc,Ycであれば、電圧レベルVXc,VYcの信号が位置センサから出力される。そして、この重心位置Xc,Ycを用いた下式で得られる角度の方向に、発光元の光学ビーコンが存在することが分かる。
tan−1(Yc/Xc)±π
コード検知部36は、上記入射部31への各入射光に含まれている開始コードおよびIDコードを上記二次元光学センサ32の出力により検知する。位置データメモリ37は、光学ビーコン♯0〜♯6の位置データをその光学ビーコン♯0〜♯6のIDコードに対応付けて記憶している。
自己位置演算部35は、主要な機能として次の(1)〜(4)を有している。
(1)入射角度計算部34の計算結果である各入射光の入射角度のうち3つを適宜に選択し、選択した3つの入射角度に基づき、図8のように3つの光学ビーコンA,B,C(光学ビーコン♯0〜♯6のいずれか3つ)と移動体2とを結ぶ3本の方向線La,Lb,Lcを認識し、認識した方向線La,Lb,Lcの相互間の角度(=θ,θ,θ)を測定する測定手段。
(2)上記光学ビーコンA,B,Cの位置と上記測定手段で測定される角度(=θ,θ,θ)から、移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyを演算する演算手段。
(3)上記測定手段で測定される測定角度のうち、それぞれ2つの測定角度α,β(=[θ,θ][θ,θ][θ,θ])からなる複数の組合せを選定する選定手段。
(3)コード検知部36で検知される各IDコードに基づいて位置データメモリ37を参照することにより、上記入射部31への各入射光の発光元である各光学ビーコンの位置(XY座標)を判別する判別手段。
(4)上記選定手段で選定される組合せごとに、その測定角度α,βの変化に対する、上記演算手段で演算されるX座標PxおよびY座標Pyの変化率Δx,Δyを、推定する推定手段。
なお、(2)の演算手段は、上記選定手段で選定される各組合せの測定角度α,βのうち、上記推定手段で推定される変化率Δxが最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、移動体2の位置のX座標Pxを演算するとともに、上記推定手段で推定される変化率Δyが最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、移動体2の位置のY座標Pyを演算する。
また、移動体2は、自己位置演算部35で検出される位置を蓄積して記憶するための蓄積メモリ38を有している。この蓄積メモリ38の記憶内容に基づき、移動体2の移動経路を解析することが可能である。
また、移動体2は、自律走行可能な例えば移動ロボットとしての使用を可能にするため、コントローラ40、走行ユニット41、マップデータメモリ42、移動ルートプログラムメモリ43を有している。マップデータメモリ42は、建物1内の移動空間のマップデータを記憶している。移動ルートプログラムメモリ43は、当該移動体2の移動ルートを指定するための移動ルートプログラムを記憶している。コントローラ40は、移動ルートプログラムメモリ43内の移動ルートプログラムに従い、かつ自己位置演算部35で特定される移動体位置とマップデータメモリ42内のマップデータとの照合により、自律走行ユニット41を駆動制御する。
ここで、自己位置演算部35の機能について、詳細に説明する。
3つの光学ビーコンA,B,Cの位置のXY座標が、A(x,y)、B(x,y)、C(x,y)であるとする。
移動体2の位置Pを求めるためには、方向線La,Lb,Lcの相互間の角度θ,θ,θのうちいずれか2つが分かればよく、それぞれ2つの測定角度α,β(=[θ,θ][θ,θ][θ,θ])からなる複数の組合せが選定される。
これら組合せのうち[θ,θ]の組合せを用いて、移動体2のX方向位置であるX座標PxおよびY方向位置であるY座標Pyを求める方法について説明する。
光学ビーコンA,Bを通り、θを円周角とする円の中心のXY座標をO(x,y)とする。
光学ビーコンA,Cを通り、θを円周角とする円の中心のXY座標をO(x,y)とする。
光学ビーコンA,Bと中心のXY座標O(x,y)とがなす角度を、∠BAO=φとする。
光学ビーコンA,Cと中心のXY座標O(x,y)とがなす角度を、∠CAO=ηとする。
移動体2の位置は、光学ビーコンA,Bを通りθを円周角とする円と、光学ビーコンA,Cを通りθを円周角とする円との交点として、求められる。通常、これらの円は2点で交わるが、一方の交点は光学ビーコンAの位置と一致するので、残りの交点Pが移動体2の位置として決定される。
光学ビーコンAの位置が基点となるため、便宜上、光学ビーコンBの位置のXY座標(xB,yB)および光学ビーコンCの位置のXY座標(xC,yC)を、
(xB,yB)=(xb−xa,yb−ya)
(xC,yC)=(xc−xa,yc−ya)
とすると、円の中心のXY座標O,Oはそれぞれ下式(1)(2)のように求めることができる。この結果を用いると、移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyは第1の演算式である下式(4)により求めることができる。
Figure 0004755886
移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyを決定するパラメータは、測定角度θ,θである。この測定角度θ,θに変化があれば、移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyも変化する。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(6)により推定することができる。
Figure 0004755886
測定角度θ,θの変化に対するY座標Pyの変化率Δyは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(7)により推定することができる。
Figure 0004755886
一方、測定角度θ,θの組合せを用いて移動体2の位置を検出する場合も、その測定角度θ,θに変化があれば、移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyに変化が生じる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(8)により推定することができる。
Figure 0004755886
測定角度θ,θの変化に対するY座標Pyの変化率Δyは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(9)により推定することができる。
Figure 0004755886
また、測定角度θ,θの組合せを用いて移動体2の位置を検出する場合も、その測定角度θ,θに変化があれば、移動体2の位置のX座標PxおよびY座標Pyに変化が生じる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(10)により推定することができる。
Figure 0004755886
測定角度θ,θの変化に対するY座標Pyの変化率Δyは、式(4)の偏微分により、第2の演算式である下式(11)により推定することができる。
Figure 0004755886
測定角度θ,θ,θに同一の測定誤差が含まれているとすれば、それぞれ2つの測定角度の組合せを用いて演算されるX座標Pxのうち、上記推定される変化率Δxが最小となる測定角度の組合せを用いて演算されるX座標Pxを、測定誤差の影響が最も小さいX座標Pxとして特定することができる。
同様に、測定角度θ,θ,θに同一の測定誤差が含まれているとすれば、それぞれ2つの測定角度の組合せを用いて演算されるY座標Pyのうち、上記推定される変化率Δyが最小となる測定角度の組合せを用いて演算されるY座標Pyを、測定誤差の影響が最も小さいY座標Pyとして特定することができる。
具体的な条件として、図9に示すように、3つの光学ビーコンA,B,CのX,Y座標(Ax,Ay)、(Bx,By)、(Cx,Cy)がそれぞれ(0,0)、(0,100)、(86.6,50)で、移動体2の位置であるP点のX,Y座標(Px,Py)が(49.43,120.71)で、測定角度θ,θ,θがθ=90°、θ=125°、θ=145°である場合、上記各変化率は次のような値となる。
まず、測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(6)から、Δx=0.81となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(8)から、Δx=1.76となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(10)から、Δx=0.95となる。
このうち、変化率Δxが最小となる測定角度の組合せは、測定角度θ,θの組合せである。
続いて、測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(7)から、Δy=0.64となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(9)から、Δy=0.16となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(11)から、Δy=0.80となる。
このうち、変化率Δyが最小となる測定角度の組合せは、測定角度θ,θの組合せである。
したがって、移動体2のP点のX座標Pxを検出するには測定角度θ,θの組合せを選択し、P点のY座標Pyを検出するには測定角度θ,θの組合せを選択することにより、たとえ測定角度に誤差が含まれていても、その誤差の影響を最小限に抑えて、移動体2の位置を的確に検出することができる。これにより、位置検出の信頼性が大幅に向上する。
なお、測定角度に誤差+1°が含まれている場合を想定すると、移動体2の位置PのX座標PxおよびY座標Pyとして、次の検出結果が得られる。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=48.97(−0.81)、Py=54.07(−0.64)となる。括弧内の数値は、誤差である。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=51.57(1.79)、Py=54.55(−0.16)となる。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=48.83(−0.95)、Py=55.53(0.82)となる。
X座標Pxに関しては測定角度θ,θの組合せを選択したとき、Y座標Pyに関しては測定角度θ,θの組合せを選択したときに、検出位置の誤差が最小になっている。
また、図10に示すように、3つの光学ビーコンA,B,CのX,Y座標(Ax,Ay)、(Bx,By)、(Cx,Cy)がそれぞれ(0,0)、(0,100)、(86.6,50)で、移動体2の位置であるP点のX,Y座標(Px,Py)が(49.43,120.71)で、測定角度θ,θ,θがθ=45°、θ=50°、θ=95°である場合、上記各変化率は次のような値となる。
まず、測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(6)から、Δx=1.67となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(8)から、Δx=4.30となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pxの変化率Δxは、上式(10)から、Δx=2.63となる。
このうち、変化率Δxが最小となる測定角度の組合せは、測定角度θ,θの組合せである。
続いて、測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(7)から、Δy=1.23となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(9)から、Δy=0.04となる。
測定角度θ,θの変化に対するX座標Pyの変化率Δyは、上式(11)から、Δy=1.19となる。
このうち、変化率Δyが最小となる測定角度の組合せは、測定角度θ,θの組合せである。
したがって、移動体2のP点のX座標Pxを検出するには測定角度θ,θの組合せを選択し、P点のY座標Pyを検出するには測定角度θ,θの組合せを選択することにより、たとえ測定角度に誤差が含まれていても、その誤差の影響を最小限に抑えて、移動体2の位置を的確に検出することができる。これにより、位置検出の信頼性が大幅に向上する。
なお、測定角度に誤差+1°が含まれている場合を想定すると、移動体2の位置PのX座標PxおよびY座標Pyとして、次の検出結果が得られる。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=47.67(−1.76)、Py=119.51(−1.20)となる。括弧内の数値は、誤差である。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=45.02(−4.41)、Py=120.54(−0.17)となる。
測定角度θ,θの組合せを演算に使用した場合、Px=52.12(2.69)、Py=119.4(−1.31)となる。
X座標Pxに関しては測定角度θ,θの組合せを選択したとき、Y座標Pyに関しては測定角度θ,θの組合せを選択したときに、検出位置の誤差が最小になっている。
以下、変形例について説明する。
上記(6)式〜(11)式のいわゆる偏微分式を用いて選択される測定角度の組合せと、位置座標から誤差を求めて選択される測定角度の組合せとの間には、多少のずれが生じる。たとえば、P点のY座標Ypに関して測定誤差の影響が2番目に小さい組合せは、微分式から選択される場合に測定角度θ,θの組合せとなるのに対し、位置座標から誤差を求めて選択される場合に測定角度θ,θの組合せとなり、異なる。
そこで、より正確な位置検出を行うために、次の方法がある。
測定角度θ,θ,θのうち、各組合せをなす2つの測定角度をα,βと見なし、その測定角度αの実際値がΘ(deg)、測定角度βの実際値がΨ(deg)で、測定角度α,βが測定誤差k(deg;任意の定数)を含む場合に、上記推定される変化率Δx,Δyの実際値として、変化率Δx,Δyを算出する(第1算出手段)。
さらに、測定角度αの実際値がΘ(deg)、測定角度βの実際値がΨ(deg)で、測定角度α,βが測定誤差k(deg;任意の定数)を含まない場合に、上記推定される変化率Δx,Δyの実際値として、変化率Δx,Δyを算出する(第2算出手段)。
そして、上記演算手段で演算される各座標Pxのうち、上記算出される変化率Δxと、上記算出される変化率Δxとの差(=|Δx|−|Δx|)を求める。この差が最小となる組合せに対応するX座標Pxを、移動体2の位置のX座標Pxとして特定する。
さらに、上記演算手段で演算される各Y座標Pyのうち、上記算出される変化率Δyと、上記算出される変化率Δyとの差(=|Δy|−|Δy|)を求める。この差が最小となる組合せに対応するY座標Pyを、移動体2の位置のY座標Pyとして特定する。
具体的には、例えばk=1(deg)の場合、測定角度θ,θ,θの組合せごとに、次の算出結果が得られる。
Figure 0004755886
すなわち、測定角度α=Θ(deg),β=Ψ(deg)で、それぞれの測定角度に計測誤差k(deg)が含まれたとき、P点の座標Px,Pyの実際値と検出値との誤差は、kが微小であるほど、下式に近づくという性質がある。
Figure 0004755886
したがって、図10の例で考えた場合、移動体2の点Pの座標Pxの変化率および座標Pyの変化率は、次のように計算できる。
測定角度θ,θの組合せを使用したとき、座標Pxの変化率=−1.76、座標Pyの変化率=−1.20となる。
測定角度θ,θの組合せを選択したとき、座標Pxの変化率=−4.41、座標Pyの変化率=−0.18となる。
測定角度θ,θの組合せを選択したとき、座標Pxの変化率=−2.70、座標Pyの変化率=−1.31となる。
この場合、すなわち偏微分式を用いて選択される測定角度の組合せは、位置座標から誤差を求めて選択される測定角度の組合せと、ほぼ一致する。
なお、上記実施形態では、複数の光学ビーコン♯0〜♯6から発せられる光を移動体2側で捕らえながら移動体2の位置を検出する場合について説明したが、それに限らず、移動体2から周囲にレーザ光を発し、周囲の複数の反射部材で反射されるレーザ光を移動体2で捕らえながら移動体2の位置を検出する場合についても、同様に実施できる。
その他、この発明は、上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。更に、異なる実施形態に亘る構成要素を適宜組み合わせてもよい。
一実施形態の全体的な構成を示す図。 一実施形態の発光順序が第1位の光学ビーコンの制御回路のブロック図。 一実施形態における各光学ビーコンの発光動作を示すタイムチャート。 一実施形態の残りの各光学ビーコンの制御回路のブロック図。 一実施形態における各光学ビーコンのIDコードおよび各光学ビーコンに記憶される特定IDコードの関係を示す図。 一実施形態における移動体の制御回路のブロック図。 一実施形態における受光部の構成を示す図。 一実施形態における3つの光学ビーコンと移動体の位置との関係を示す図。 一実施形態における3つの光学ビーコンのXY座標と移動体の位置のXY座標との関係を示す図。 一実施形態における3つの光学ビーコンのXY座標と移動体の位置のXY座標との関係の別の例を示す図。
符号の説明
1…建物、2…移動体、♯0〜♯6…光学ビーコン、10…発光パターン生成部、11…タイマ、12…ID設定部、13…発光素子、20…受光素子、21…信号判定部、22…比較部、23…IDメモリ、24…発光パターン生成部、25…タイマ、26…ID設定部、27…発光素子、30…受光部、32…二次元光学センサ、33…光点位置計測部、34…入射角度計算部、35…自己位置演算部、36…コード検知部、

Claims (2)

  1. 移動体の位置検出用として3つ以上の指標を備えた位置検出システムにおいて、
    前記各指標のうち3つの指標と前記移動体とを結ぶ各方向線の相互間の角度を測定する測定手段と、
    前記各指標の位置と前記測定手段で測定される角度から、前記移動体の位置のX座標PxおよびY座標Pyを演算する演算手段と、
    前記測定手段の測定角度のうち、それぞれ2つの測定角度α,βからなる複数の組合せを選定する選定手段と、
    前記選定手段で選定される組合せごとに、それぞれの測定角度α,βの変化に対する、前記演算手段で演算されるX座標PxおよびY座標Pyの変化率Δx,Δyを、推定する推定手段と、
    前記推定手段で推定される変化率Δx,Δyに対し、前記測定角度αの実際値がΘ、前記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差kを含む場合の実際の変化率Δx,Δyを算出する第1算出手段と、
    前記推定手段で推定される前記変化率Δx,Δyに対し、前記測定角度αの実際値がΘ、前記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差を含まない場合の実際の変化率Δx,Δyを算出する第2算出手段と、
    を備え、
    前記演算手段は、前記選定手段で選定される各組合せの測定角度α,βのうち、前記第1算出手段で算出される実際の変化率Δxと前記第2算出手段で算出される実際の変化率Δxとの差(=|Δx|−|Δx|)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、前記移動体の位置のX座標Pxを演算するとともに、前記第1算出手段で算出される実際の変化率Δyと前記第2算出手段で算出される実際の変化率Δyとの差(=|Δy|−|Δy|)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、前記移動体の位置のY座標Pyを算出する
    ことを特徴とする位置検出システム。
  2. 移動体の位置検出用として3つ以上の指標を備えた位置検出システムの位置検出方法であって
    前記各指標のうち3つの指標と前記移動体とを結ぶ各方向線の相互間の角度を測定するステップと、
    前記各指標の位置と前記測定される角度から、前記移動体の位置のX座標PxおよびY座標Pyを演算するステップと、
    前記測定される角度のうち、それぞれ2つの測定角度α,βからなる複数の組合せを選定するステップと、
    前記選定される組合せごとに、それぞれの測定角度α,βの変化に対する、前記演算されるX座標PxおよびY座標Pyの変化率Δx,Δyを、推定するステップと、
    前記推定される変化率Δx,Δyに対し、前記測定角度αの実際値がΘ、前記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差kを含む場合の実際の変化率Δx ,Δy を算出するステップと、
    前記推定される変化率Δx,Δyに対し、前記測定角度αの実際値がΘ、前記測定角度βの実際値がΨで、測定角度α,βが測定誤差を含まない場合の実際の変化率Δx ,Δy を算出するステップと、
    を備え、
    前記演算するステップは、前記選定される各組合せの測定角度α,βのうち、前記算出される実際の変化率Δx と前記算出される実際の変化率Δx との差(=|Δx |−|Δx |)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、前記移動体の位置のX座標Pxを演算するとともに、前記算出される実際の変化率Δy と前記算出される実際の変化率Δy との差(=|Δy |−|Δy |)が最小となる組合せの測定角度α,βを用いて、前記移動体の位置のY座標Pyを算出する、
    ことを特徴とする位置検出方法。
JP2005327679A 2005-11-11 2005-11-11 位置検出システムおよび位置検出方法 Expired - Fee Related JP4755886B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005327679A JP4755886B2 (ja) 2005-11-11 2005-11-11 位置検出システムおよび位置検出方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005327679A JP4755886B2 (ja) 2005-11-11 2005-11-11 位置検出システムおよび位置検出方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007132853A JP2007132853A (ja) 2007-05-31
JP4755886B2 true JP4755886B2 (ja) 2011-08-24

Family

ID=38154634

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005327679A Expired - Fee Related JP4755886B2 (ja) 2005-11-11 2005-11-11 位置検出システムおよび位置検出方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4755886B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5374032B2 (ja) * 2007-07-30 2013-12-25 株式会社中川研究所 位置検出装置及び撮影装置
US10378897B2 (en) * 2013-06-21 2019-08-13 Qualcomm Incorporated Determination of positioning information of a mobile device using modulated light signals
CN113203986B (zh) * 2021-03-30 2022-05-20 南京信息工程大学 机器人集群编队定位方法
JP7433560B1 (ja) 2023-06-30 2024-02-19 三菱電機株式会社 目標軌跡推定装置及び目標軌跡推定方法

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5124879B1 (ja) * 1970-07-06 1976-07-27
JPS56137171A (en) * 1980-03-31 1981-10-26 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency Processing system of position range
JP2001033244A (ja) * 1999-07-16 2001-02-09 Tsubakimoto Chain Co 移動体の位置特定方法及び装置
JP2001091622A (ja) * 1999-09-24 2001-04-06 Mitsubishi Electric Corp 目標位置観測装置
JP3524889B2 (ja) * 2001-05-31 2004-05-10 独立行政法人土木研究所 野生生物の位置・行動把握システム
JP4093792B2 (ja) * 2002-04-18 2008-06-04 富士通株式会社 移動無線局の位置を決定する測位システム、プログラムおよび位置決定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007132853A (ja) 2007-05-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20200249017A1 (en) Surveying apparatus comprising event-based camera
RU2304423C2 (ru) Устройство и способ для определения положения объекта для мобильного робота
US9182763B2 (en) Apparatus and method for generating three-dimensional map using structured light
JP5702524B2 (ja) 追尾式レーザ干渉計
US10495456B2 (en) Method for calibrating a detection device, and detection device
CN103119469A (zh) 用于车辆的外部环境监测系统
US20120119091A1 (en) Infrared sensor module
JP2009109210A (ja) レーザ測量システム
JP2007101492A (ja) 移動ロボットの距離および位置検出装置
JP2014215296A (ja) 移動体ナビゲーション用レーザスキャナ
JP4755886B2 (ja) 位置検出システムおよび位置検出方法
CN113406655B (zh) 测距装置的测量值修正方法和测距装置
JP2010190633A (ja) 測定システムおよび干渉計
JP7489014B2 (ja) 位置推定システム
CN111051919A (zh) 用于运行激光测距仪的方法
JP3265449B2 (ja) 測距センサ
CN109753057A (zh) 移动体系统
JP3914906B2 (ja) 自走式移動装置及び位置補正方法
JP2008014776A (ja) 位置検出システムおよび位置検出装置
JP2007170848A (ja) 位置検出システム
JP2007333644A (ja) 位置検出システム
US10990104B2 (en) Systems and methods including motorized apparatus for calibrating sensors
US20230074716A1 (en) Laser tracker-based surveying system with inertial measurement unit
KR100448389B1 (ko) 맵 상의 차량위치 검출 방법 및 장치
JP2007139461A (ja) 位置検出システム

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080922

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20110207

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110215

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110418

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20110524

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20110530

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140603

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees