JP4723711B2 - 半導体メモリ - Google Patents
半導体メモリ Download PDFInfo
- Publication number
- JP4723711B2 JP4723711B2 JP2000267085A JP2000267085A JP4723711B2 JP 4723711 B2 JP4723711 B2 JP 4723711B2 JP 2000267085 A JP2000267085 A JP 2000267085A JP 2000267085 A JP2000267085 A JP 2000267085A JP 4723711 B2 JP4723711 B2 JP 4723711B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- read
- words
- word
- semiconductor memory
- memory
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Landscapes
- Dram (AREA)
- Static Random-Access Memory (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、LCD(液晶表示装置)等のドライバで必要とされる超多ビット並列読み出しが可能な半導体メモリに関するものである。
【0002】
【従来の技術】
例えば、LCDのドライバで用いられる表示用メモリでは、行(コモン)に対応する列(セグメント)のデータを同時にドライブする必要があるため、超多ビット並列読み出し動作が要求される。しかし、超多ビット並列読み出し動作が要求される半導体メモリは1ワード当りのビット数が多くなるため、1ワードのビット数分のメモリセルを一方向に配列すると、メモリアレイが非常に細長くなり、製造するのが物理的に困難である。
【0003】
上述する物理的なメモリサイズの制約から、LCDのドライバでは、表示用メモリからデータを時分割で読み出し、先に読み出したデータを一旦レジスタに蓄えることによって超多ビット並列読み出し動作を実現している。
従って、LCDのドライバで用いられる表示用メモリ等のように、超多ビット並列読み出し動作が要求される用途では、別途膨大なレジスタ等の回路が必要となり、チップ面積が大きくなるという問題があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、前記従来技術に基づく問題点を解消し、チップサイズを増大させることなく、超多ビット読み出し動作を実現した半導体メモリを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するために、本発明は、複数のワードを有するメモリアレイと、
第1のアドレス信号をデコードし、前記メモリアレイの複数のワードの2つもしくはそれ以上を同時に選択するリードワード信号を出力する第1のアドレスデコーダと、
前記リードワード信号により同時に選択される2つもしくはそれ以上のワードに格納されているデータを同時に読み出す第1のデータポートと、
第2のアドレス信号をデコードし、前記メモリアレイの1ワードを選択するワード信号を出力する第2のアドレスデコーダとを備えることを特徴とする半導体メモリを提供するものである。
ここで、前記第1のデータポートが、前記リードワード信号により同時に選択される2つもしくはそれ以上のワードのそれぞれに対応して設けられたリードビット線を備えることが好ましい。
また、前記メモリアレイの複数のワードに共通に設けられたビット線を備える第2のデータポートをさらに備えることが好ましい。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下に、添付の図面に示す好適実施例に基づいて、本発明の半導体メモリを詳細に説明する。
【0007】
図1は、本発明の半導体メモリの一実施例の構成概略図である。
同図に示す半導体メモリ10は、一例として2ワード分のデータを同時に出力するもので、メモリアレイ12と、読み書き両用のアドレスデコーダ14と、読み出し専用のアドレスデコーダ16とを備えている。また、半導体メモリ10は、データポートとして、読み書き両用ポートおよび読み出し専用ポートの2つのデータポートを備えている。
【0008】
図示例の半導体メモリ10において、読み書き両用ポートは、MPU(中央演算装置)からメモリアレイ12に対してデータの読み出し/書き込みを行うために用いられるデータポートである。図示例の場合、読み書き両用ポートは、メモリアレイ12の各々のビット列i(0≦i≦n)に対応して設けられたビット線BL(i)およびビットバー線/BL(i)からなる(n+1)ビット分のビット線対を備えている。
【0009】
一方、読み出し専用ポートは、メモリアレイ12からデータの超多ビット並列読み出しを行うために用いられるデータポートである。図示例の場合、2ワード分のデータを同時に読み出すために、メモリアレイ12の偶数ワード0,2,…の各々のビット列iに対応して設けられたリードビット線RBL0(i)、および、メモリアレイ12の奇数ワード1,3,…の各々のビット列iに対応して設けられたリードビット線RBL1(i)を備えている。
【0010】
半導体メモリ10において、まず、メモリアレイ12は、(m+1)ワード×(n+1)ビットのメモリセルMCをアレイ状に配置したものである。図中、左右方向には、1ワード当り(n+1)ビットのメモリセルMCが一列に配置され、上下方向には、(m+1)ワードの各々対応するビットのメモリセルMCが一列に配置されている。本実施例では、上下に隣接する2ワード分のデータが読み出し専用ポートから同時に読み出される。
【0011】
続いて、読み書き両用のアドレスデコーダ14は、MPUが読み出し/書き込みを行うメモリアレイ12のワードを指定するためのアドレス信号(図示省略)をデコードし、これに対応したワード信号をワード線WL(j)(0≦j≦m)に出力する。ワード線WL(j)は、1ワードを構成する(n+1)ビットのメモリセルMCに共通に接続され、MPUは、ビット線BL(i)およびビットバー線/BL(i)を介して1ワード分のデータの読み出し/書き込みを行う。
【0012】
一方、読み出し専用のアドレスデコーダ16は、超多ビット並列読み出しを行うメモリアレイ12の複数のワードを指定するためのアドレス信号(図示省略)をデコードし、これに対応したリードワード信号を複数のリードワード線RWL(j)に出力する。本実施例では、1本のリードワード信号が2つのリードワード線RWLに分配され、リードビット線RBL0(i),RBL1(i)から合計2ワード分のデータが読み出される。
【0013】
なお、図示例では、1本のリードワード信号を2つのリードワード線RWL(j),RWL(j+1)に分配しているが、これに限定されず、同時に読み出される複数のワードをそれぞれ指定するリードワード信号により、複数のワードを同時に指定してもよい。また、同図には、アドレスデコーダ14,16として、NANDゲートおよびインバータを概念的に示しているが、従来公知のアドレスデコーダはいずれも利用可能である。
【0014】
次に、図2を参照しながら、メモリアレイ12を構成するメモリセルMCについて具体例を挙げて説明する。
図2(a)および(b)は、いずれも本発明の半導体メモリとして適用可能なメモリセルの一実施例の構成回路図である。
まず、同図(a)に示すメモリセルMC1は、SRAMセル18と、スタティック構成の読み出し回路20aとを備えている。
【0015】
メモリセルMC1において、SRAMセル18は、1ビットのデータを保持するもので、互いの出力端子を他方の入力端子に接続してリング状に接続された2つのインバータ22,24と、各々のインバータ22,24の入力端子とビット線BLおよびビットバー線/BLとの間に接続された2つのトランジスタ26,28とを備えている。そして、これらの2つのトランジスタ26,28のゲートにはワード線WLが共通に接続されている。
【0016】
また、読み出し回路20aは、メモリセルMC1に保持されているデータをリードビット線RBLに出力するためのもので、インバータ30と、トランジスタ32とを備えている。インバータ30の入力端子は、SRAMセル18を構成するインバータ24の出力端子に接続されている。トランジスタ32は、インバータ30の出力端子とリードビット線RBLとの間に接続され、そのゲートにはリードワード線RWLが接続されている。
【0017】
メモリセルMC1では、ビット線BLおよびビットバー線/BLをMPUが書き込むべきデータでドライブし、ワード線WLをハイレベルとすると、そのデータがトランジスタ26,28を介してSRAMセル18に書き込まれる。一方、ビット線BLおよびビットバー線/BLをドライブせずにワード線WLをハイレベルとすれば、メモリセルMC1に保持されているデータがトランジスタ26,28を介してビット線BLおよびビットバー線/BLに読み出される。
【0018】
メモリセルMC1に保持されたデータのリードビット線RBLへの読み出しは、リードワード線RWLを制御することにより行われる。すなわち、リードワード線RWLがアクティブ状態であるハイレベルになると、読み出し回路20aのトランジスタ32がオンし、SRAMセル18に保持されているデータが、インバータ30およびオン状態のトランジスタ32を介してリードビット線RBLに読み出される。
【0019】
一方、図2(b)に示すメモリセルMC2は、同図(a)に示すメモリセルMC1において、スタティック構成の読み出し回路20aの代わりにダイナミック構成の読み出し回路20bを用いたものである。言い換えると、SRAMセル18の構成は、メモリセルMC1およびメモリセルMC2ともに全く同じであり、したがって、同一の構成要素には同一の符号を付し、その詳細な説明を省略するものとする。
【0020】
読み出し回路20bは、同図に示すように、リードビット線RBLとグランドとの間に直列に接続された2つのトランジスタ32,34を備えている。トランジスタ34のゲートには、SRAMセル18を構成するインバータ24の出力端子が接続され、トランジスタ32のゲートには、リードワード線RWLが接続されている。なお、図示していないが、リードビット線RBLにはプリチャージ回路が設けられている。
【0021】
図示例のメモリセルMC2では、SRAMセル18に保持されているデータを読み出し専用ポートから読み出す前に、前述のプリチャージ回路によりリードビット線RBLがプリチャージされる。
【0022】
リードワード線RWLがアクティブ状態であるハイレベルになると、読み出し回路20bのトランジスタ32がオンする。この時、SRAMセル18に保持されているデータのレベルに応じて、トランジスタ34がオンの場合、リードビット線RBLは、トランジスタ32,34を介してディスチャージされ、ロウレベルが読み出される。逆に、トランジスタ34がオフの場合、リードビット線RBLにはプリチャージされたままのハイレベルが読み出される。
【0023】
なお、本発明の半導体メモリ10で用いられるメモリセルMCの具体的な構成は何ら限定されず、例えばSRAM,DRAM等のRAMの他、EPROM,EEPROM等のROMなど、従来公知の各種構成のメモリセルが全て適用可能である。また、読み出し回路の構成も何ら限定されず、メモリセルMCに格納されているデータを読み出し専用ポートに出力することができるものであれば、どのような回路構成であってもよい。
【0024】
図1に示す半導体メモリ10では、MPUから、ビット線BL(i)およびビットバー線/BL(i)を介して、1ワードを単位として、メモリアレイ12の各ワードに対してデータの読み出し/書き込みが行われる。
これに対して、メモリアレイ12に保持されたデータの読み出し、すなわち、超多ビット並列読み出しは、リードビット線RBL0(i),RBL1(i)を介して、本実施例の場合には2ワードを単位として行われる。
【0025】
読み出し専用のアドレスデコーダ16から、1本のリードワード信号が2つのリードワード線RWL(j)に出力される。図1に示すように、1本のリードワード信号により、例えばリードワード線RWL(0),RWL(1)の2つのワードが同時に選択され、この同時に選択された2つのワードに格納されているデータが、それぞれリードビット線RBL0(i),RBL1(i)を介して同時に出力される。
【0026】
本発明の半導体メモリは、同時に複数のワードを選択し、読み出し専用ポートを介して、これらの同時に選択された複数のワードに保持されているデータを読み出すことにより、超多ビット並列読み出し動作を実現するものである。従って、1ワード当りのビット数は従来の半導体メモリと同じなので、現状の製造技術で物理的に製造可能であり、別途レジスタ等の回路も必要ないので、チップサイズも増大しないという特徴がある。
【0027】
本発明の半導体メモリは、例えばLCDのドライバ等のように、超多ビット並列読み出し動作が要求される用途に好適に利用可能である。なお、本発明は、LCDのドライバに限定されるものではなく、超多ビット並列読み出し動作が要求されるあらゆる用途に適用可能である。また、実施例では、同時に2ワードを選択して読み出しているが、本発明はこれに限定されず、必要に応じて同時に2ワード以上の複数ワードを選択するようにすればよい。
【0028】
本発明の半導体メモリは、基本的に以上のようなものである。
以上、本発明の半導体メモリについて詳細に説明したが、本発明は上記実施例に限定されず、本発明の主旨を逸脱しない範囲において、種々の改良や変更をしてもよいのはもちろんである。
【0029】
【発明の効果】
以上詳細に説明した様に、本発明の半導体メモリは、リードワード信号により、メモリアレイの複数のワードを同時に選択し、この同時に選択された複数のワードに格納されているデータを読み出し専用のデータポートを介して同時に読み出すようにしたものである。
本発明の半導体メモリによれば、1ワード当りのビット数は従来の半導体メモリと同じでよいため、物理的に現状の製造技術で製造することができ、別途レジスタ等の回路を設ける必要もないため、チップサイズを増大させずに、超多ビット並列読み出し動作が可能な半導体メモリを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の半導体メモリの一実施例の構成概略図である。
【図2】 (a)および(b)は、いずれも本発明の半導体メモリとして適用可能なメモリセルの一実施例の構成回路図である。
【符号の説明】
10 半導体メモリ
12 メモリアレイ
14,16 アドレスデコーダ
18 SRAMセル
20a,20b 読み出し回路
22,24 インバータ
26,28,34 トランジスタ
MC,MC1,MC2 メモリセル
WL ワード線
RWL リードワード線
BL ビット線
/BL ビットバー線
RBL0,RBL1 リードビット線
Claims (3)
- 複数のワードを有するメモリアレイと、
第1のアドレス信号をデコードし、前記メモリアレイの複数のワードの2つもしくはそれ以上を同時に選択するリードワード信号を出力する第1のアドレスデコーダと、
前記リードワード信号により同時に選択される2つもしくはそれ以上のワードに格納されているデータを同時に読み出す第1のデータポートと、
第2のアドレス信号をデコードし、前記メモリアレイの1ワードを選択するワード信号を出力する第2のアドレスデコーダとを備えることを特徴とする半導体メモリ。 - 前記第1のデータポートが、前記リードワード信号により同時に選択される2つもしくはそれ以上のワードのそれぞれに対応して設けられたリードビット線を備えることを特徴とする請求項1記載の半導体メモリ。
- 前記メモリアレイの複数のワードに共通に設けられたビット線を備える第2のデータポートをさらに備えることを特徴とする請求項1または2記載の半導体メモリ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000267085A JP4723711B2 (ja) | 2000-09-04 | 2000-09-04 | 半導体メモリ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000267085A JP4723711B2 (ja) | 2000-09-04 | 2000-09-04 | 半導体メモリ |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002074965A JP2002074965A (ja) | 2002-03-15 |
JP2002074965A5 JP2002074965A5 (ja) | 2007-10-04 |
JP4723711B2 true JP4723711B2 (ja) | 2011-07-13 |
Family
ID=18754059
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000267085A Expired - Lifetime JP4723711B2 (ja) | 2000-09-04 | 2000-09-04 | 半導体メモリ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4723711B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007213699A (ja) * | 2006-02-09 | 2007-08-23 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
JP2009295229A (ja) * | 2008-06-05 | 2009-12-17 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07296585A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Hitachi Ltd | マルチポ−トメモリ |
JPH1040685A (ja) * | 1996-07-23 | 1998-02-13 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型記憶装置および同期型記憶装置におけるデータ読み出し方法 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05282869A (ja) * | 1992-03-31 | 1993-10-29 | Nec Corp | 半導体記憶装置 |
-
2000
- 2000-09-04 JP JP2000267085A patent/JP4723711B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH07296585A (ja) * | 1994-04-22 | 1995-11-10 | Hitachi Ltd | マルチポ−トメモリ |
JPH1040685A (ja) * | 1996-07-23 | 1998-02-13 | Mitsubishi Electric Corp | 同期型記憶装置および同期型記憶装置におけるデータ読み出し方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2002074965A (ja) | 2002-03-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR930001282B1 (ko) | 반도체 메모리 | |
KR100955251B1 (ko) | Sram 회로 및 이것을 이용한 버퍼 회로 | |
US6549483B2 (en) | RAM having dynamically switchable access modes | |
JP2004327011A (ja) | 半導体メモリ装置 | |
TWI771090B (zh) | 記憶體裝置、記憶體輸入/輸出以及形成記憶體裝置的方法 | |
JPH08129882A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US11361818B2 (en) | Memory device with global and local latches | |
US4937788A (en) | Semiconductor memory circuit with improved serial access circuit arrangement | |
US6366526B2 (en) | Static random access memory (SRAM) array central global decoder system and method | |
US20150269995A1 (en) | Semiconductor device | |
JP4156706B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH07141873A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7433259B2 (en) | Semiconductor memory device having layered bit line structure | |
JP4723711B2 (ja) | 半導体メモリ | |
US6426913B1 (en) | Semiconductor memory device and layout method thereof | |
JP2003045187A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6219296B1 (en) | Multiport memory cell having a reduced number of write wordlines | |
US6201741B1 (en) | Storage device and a control method of the storage device | |
US6795371B2 (en) | Semiconductor memory apparatus of which data are accessible by different addressing type | |
KR0145889B1 (ko) | 공통 비트 라인의 접속 구조를 갖는 메모리 셀 어레이 및 반도체 메모리 장치 | |
JP3733279B2 (ja) | 集積回路 | |
KR102391131B1 (ko) | 글로벌 래치 및 로컬 래치를 가진 메모리 디바이스 | |
JP4121360B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH01178199A (ja) | スタティック型半導体記憶装置 | |
JP2000322889A (ja) | 半導体記憶装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20070822 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070822 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100602 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100615 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100811 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20110405 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20110408 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140415 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4723711 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |