JP4695959B2 - 集束イオンビーム装置及び集束イオンビーム装置の加工位置設定方法 - Google Patents
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- 試料に集束イオンビームを照射する照射系と、上記集束イオンビームを偏向する偏向制御系と、上記試料からの二次粒子信号を検出する検出器と、該検出器からの信号より上記試料の走査イオン顕微鏡像を生成する画像生成部と、該生成された走査イオン顕微鏡像の全部もしくは一部を表示する表示装置と、ユーザからの指示を入力する入力装置とを有し、
上記表示装置の初期画面にズーム率が1の走査イオン顕微鏡像を表示し、上記入力装置を介してユーザが入力したズーム率が一定倍以下の場合には上記ズーム率が1の走査イオン顕微鏡像に対して画素補間を行うことによってユーザが指定したズーム率の走査イオン顕微鏡像を生成して上記表示装置に表示し、上記入力装置を介してユーザが入力したズーム率が一定倍以下でない場合には上記一定倍の走査イオン顕微鏡像を再取得し、該再取得した走査イオン顕微鏡像に対して画素補間を行うことによってユーザが指定したズーム率の走査イオン顕微鏡像を生成して上記表示装置に表示することを特徴とする集束イオンビーム装置。 - 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記偏向制御系は上記表示装置による表示分解能より大きいビーム偏向点分解能と該ビーム偏向点を間引いて偏向する機能とを有し、上記ズーム率が1の走査イオン顕微鏡像は、ビーム偏向点を間引いて生成されることを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記表示装置による表示分解能がx×y画素とした時、上記偏向制御系のビーム偏向点分解能は(4×x)×(4×y)点もしくは(8×x)×(8×y)点であることを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記表示装置は、上記走査イオン顕微鏡像を表示する画像表示領域と設定されたズーム率を表示する領域を含む画面を表示し、上記画像表示領域に表示された走査イオン顕微鏡像が画素補間を行わず生成された場合のズーム率と画素補間を行って生成された場合のズーム率の表示を異なる色で行うことを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項4記載の集束イオンビーム装置において、上記表示装置によって表示される画面は、上記画像表示領域に表示された像を縦方向に移動させるための縦スライドバーと横方向に移動させるための横スライドバーを有し、スライドバーの長さにはズーム率が反映され、スライドバーの位置は上記画像表示領域に表示されている領域が全体の画像のどの位置にあるかを示すことを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記画像生成部は、上記試料の走査イオン顕微鏡像を格納する画像メモリーを有し、該画像メモリーは上記偏向制御系からの走査信号と同期的に上記試料の走査イオン顕微鏡像の書き込みを行うことを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記偏向制御系は、X方向及びY方向の走査信号を出力するスキャナと、該スキャナからの走査信号を入力しデフレクタを駆動する信号を生成する偏向アンプと、を有することを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 請求項1記載の集束イオンビーム装置において、上記表示装置に表示された顕微鏡像をもとに集束イオンビームを局所照射する領域を設定する加工位置設定部と、デポジション用ガス源と、マニピュレータが設けられ、マイクロサンプリング法によって試料の局所領域から微細試料片を摘出することができるように構成されていることを特徴とする集束イオンビーム装置。
- 試料に集束イオンビームを照射する照射系と、上記集束イオンビームを偏向する偏向制御系と、上記試料からの二次粒子信号を検出する検出器と、該検出器からの信号より上記試料の走査イオン顕微鏡像を生成する画像生成部と、該生成された走査イオン顕微鏡像の全部もしくは一部を表示する表示装置と、ユーザからの指示を入力する入力装置とを有する集束イオンビーム装置を用いた加工位置設定方法において、
上記表示装置の画面にズーム率が1の走査イオン顕微鏡像を表示することと、上記入力装置を介してユーザが入力したズーム率が一定倍以下であるか否かを判定することと、上記ユーザが入力したズーム率が一定倍以下の場合には上記ズーム率が1の走査イオン顕微鏡像に対して画素補間を行うことによってユーザが指定したズーム率の走査イオン顕微鏡像を生成して上記表示装置に表示し、上記ユーザが入力したズーム率が一定倍以下でない場合には上記一定倍の走査イオン顕微鏡像を再取得し、該再取得した走査イオン顕微鏡像に対して画素補間を行うことによってユーザが指定したズーム率の走査イオン顕微鏡像を生成して上記表示装置に表示することと、上記表示装置に表示された画像をもとに加工領域を設定することと、を含む集束イオンビーム装置を用いた加工位置設定方法。 - 請求項9記載の集束イオンビーム装置の加工位置設定方法において、上記表示装置による表示分解能をx×y画素とした時、上記偏向制御系のビーム偏向点分解能を(4×x)×(4×y)点もしくは(8×x)×(8×y)点とすることを特徴とする集束イオンビーム装置の加工位置設定方法。
- 請求項9記載の集束イオンビーム装置の加工位置設定方法において、上記表示装置は、上記走査イオン顕微鏡像を表示する画像表示領域と設定されたズーム率を表示する領域を含む画面を表示し、上記画像表示領域に表示された走査イオン顕微鏡像が画素補間を行わず生成された場合のズーム率と画素補間を行って生成された場合のズーム率の表示を異なる色で行うことを特徴とする集束イオンビーム装置の加工位置設定方法。
- 請求項11記載の集束イオンビーム装置の加工位置設定方法において、上記表示装置によって表示される画面は、上記画像表示領域に表示された像を縦方向に移動させるための縦スライドバーと横方向に移動させるための横スライドバーを有し、スライドバーの長さにはズーム率が反映され、スライドバーの位置は上記画像表示領域に表示されている領域が全体の画像のどの位置にあるかを示すことを特徴とする集束イオンビーム装置の加工位置設定方法。
- 請求項9〜12のいずれか1項記載の集束イオンビーム装置の加工位置設定方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
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