JP4690367B2 - 還元性雰囲気炉用炭素複合材料 - Google Patents

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本発明は、高温下における還元性ガスとの反応抑制効果に優れた炭素複合材料、さらに詳しくは1000℃を超える高温の還元性ガス雰囲気中においても、炭素材料と還元性ガスとの反応抑制効果を十分に発揮することができる炭化タンタル被覆黒鉛系材料に関するものである。
従来、高温下におけるチッ素ガス、アンモニアガス等の還元性ガス雰囲気下に晒される黒鉛系材料は、当然ながら還元性ガスとの反応によって変質したり目減りし、その材料に求められている本来の機能が十分果たせなくなったとき、寿命が尽きたとして新しい部材と取り換えることが行われる。
例えば、炉内に黒鉛系材料からなるヒーターを配置し、炉内にアンモニアガスを導入してアンモニア雰囲気を形成し、そのヒーターで炉内を1200℃程度に加熱保持されたアンモニア雰囲気炉の場合についていえば、ヒーターとしては一般には黒鉛基材の表面に炭化ケイ素を被覆した黒鉛系材料が使用される。これは、黒鉛基材そのものはアンモニアと非常に反応しやすいため、黒鉛製のヒーターでは短時間のうちに消耗が進行し穴が開き始める、つまり断線が生じるため、このような現象を回避して少しでもヒーターとしての寿命を長くできるように、アンモニアとの反応を緩和させる手段として、黒鉛基材の表面に炭化ケイ素を被覆したものである。
しかし、上記の炭化ケイ素の被覆という手段は、あくまでもヒーターとアンモニアとの反応を緩慢にしてヒーターの消耗を遅らせることを目的としており、黒鉛基材上の炭化ケイ素被膜とアンモニアとの反応が徐々に進行することに変わりはない。最大の理由は、炭化ケイ素の分解温度が約1400℃であって、その近辺の温度域での蒸気圧が高いことによる。そして、炭化ケイ素被膜がアンモニアとの反応により徐々に薄くなり、黒鉛基材の露出にまで至ると、黒鉛基材とアンモニアが一気に反応し、上述したように短時間のうちに消耗が進行し穴が開き始め、つまり断線が生じ、ヒーターとしての寿命が尽きることになる。
本発明者らは、かねてより還元性雰囲気炉用炭素複合材料の研究を進めており、上記の炭化ケイ素被覆炭素複合材料より優れた材料を開発するための糸口として、遷移金属炭化物では一番融点が高く、かつ化学的安定度が高いとされる炭化タンタル(以下「TaC」で表示する。)に着目した。そして、黒鉛基材(ヒーター)の上にTaCの被膜を形成するに際しては、まず特開平6−280117号公報に開示のプラズマ溶射による物理的蒸着法(いわゆるPVD法)及びCVD法を参考に実験を行った。その後、CVR(化学気相反応)法の実施による実験も行った。
しかし、TaCの融点が約4000℃と非常に高いため、PVD法の実施は極めて困難であり、またいわゆるCVR法により得られるTaC被膜は多孔質となってしまうため、両法については実用的な成膜法として基本的に採用困難と判断した。結局、CVD法により得られたTaC被覆黒鉛基材を高温の還元性ガス雰囲気中で使用した所、わずか数回(約30時間)の使用でTaC被膜にクラックが生じ、黒鉛基材とTaC被膜との間に剥離が生じた。
本発明は、上記の事情に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、1000℃を超える高温の還元性ガス雰囲気中においても、優れた還元性ガス反応抑制効果を発揮し、製品寿命を大きく延ばすことができる還元性雰囲気炉用炭素複合材料を提供する点にある。
本発明者らは、従来法(CVD法)で得られたTaC被膜と黒鉛基材との間に簡単に生じるクラックや剥離の原因を解明すべく、特に結晶組織面から検討してきた。その結果、黒鉛基材上のTaC被膜の結晶組織は繊維柱状(図5(a)参照)又は柱状(図5(b)参照)をしており、さらにいずれの場合も黒鉛基材とTaC被膜との密着力に弱い構造をしていることが判明した。
この結果、本発明者らは、TaC被膜の結晶組織が微粒子が緻密に積層した状態であれば被膜内のクラックの進行を著しく遅らせ、ひいては黒鉛基材とTaC被膜との剥離の発生の大幅な抑制につながるはず、との知見を得ることができ、この知見を基にそのような微粒子が緻密に積層した結晶組織のTaC被膜を黒鉛基材上に形成できる最適な反応性蒸着手段を見い出すべく、更に検討を重ね、本発明を完成した。
即ち、上記目的を達成し得た本発明の一つは、タンタル微粒子を、炭素を含む反応性ガス粒子と共に、黒鉛基材の表面に付着させることによって、前記表面に炭化タンタル微粒子を積層してなる結晶組織の炭化タンタルの被膜を有している還元性雰囲気炉用炭素複合材料である。ここで、前記被膜の嵩密度が14.30g/cm 以上であることが好ましい。また、この還元性雰囲気炉用炭素複合材料の被膜は、その組成比(Ta/C)が0.8〜1.2であることが好ましい。さらにTaC被膜の膜厚が5〜100μmであることを追加構成要件とする還元性雰囲気炉用炭素複合材料であることが好ましい。
さらに、本発明の還元性雰囲気炉用炭素複合材料は、アンモニア雰囲気炉用炭素複合材料として利用できる。また、本発明の還元性雰囲気炉用炭素複合材料は、半導体薄膜の成膜炉用ヒーターに利用できる。半導体薄膜としては、Si、GaAs、GaInP、GaN、InGaNなどが例示できる。さらに、本発明の還元性雰囲気炉用炭素複合材料は、ターゲット材としての金属Ta及び反応ガスを使用してアークイオンプレーティング(AIP)式反応性蒸着法(以下単に「AIP法」という。)により黒鉛基材の表面にTaCの被膜を形成する。特に、前記金属タンタルの微粒子を前記反応ガス粒子と共に前記黒鉛基材の表面に炭化タンタル微粒子として付着させることで製造できる。
本発明の効果を要約すると、次のとおりである。
本発明の複合材料は、微粒子状の緻密で均質な積層結晶組織を有するTaC被膜を黒鉛基材の表面に被覆した構成であるため、高温の還元性雰囲気下で黒鉛基材中の不純物(Fe、Al等)が拡散してTaC被膜の下層に到達しても、TaC被膜内からの抜け出しは非常に困難となる。また、高温でTaC被膜にピンホール及びクラックが生じるまでの時間を非常に長く延ばすことができる。従って、ピンホールが生じるまではTaCの本来有する好ましい特長である高耐熱性及び化学的安定性が有効に発揮され、複合材料からなる製品の寿命を従来品よりも大きく延ばすことができる。
また、TaC被膜の厚みを5〜100μm、望ましくは10〜90μmとなるように形成しておくことにより、上記の効果を十分に発揮させつつも、必要以上の被膜形成に要するコストの無駄を省き、製品コストの上昇を防止することができる。
また、本発明の複合材料を半導体薄膜の成膜炉用ヒーターに適用した場合には、このヒーターの著しい延命化により、半導体薄膜の成膜に要するコストの低減化を図ることができる。
また、TaC被膜の形成には、コンパクトな汎用装置でもあるAIP装置を利用できるので、経済的である。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照しつつ説明する。図1は、本発明に係る還元性雰囲気炉用炭素複合材料を示す断面模式図であり、図2は、本発明の製造方法の一例を示す工程図、図3は、AIP処理を実施するためのAIP装置を示す原理説明図である。
図1(a)において、本発明の複合材料1は、黒鉛基材2の表面にTaC被膜3が形成された構造をしている。図1(b)は、TaC被膜3の一部を拡大した模式図である。黒鉛基材2としては、高純度等方性黒鉛製のものが望ましい。また、TaC被膜3は、φ1〜10μm程度のTaC微粒子が均質かつ緻密に詰まって積層した状態の結晶組織からなる層であり、その場合嵩密度が14.30g/cm以上であるようなものが望ましい。アウトガスの少ない高純度等方性黒鉛基材を使うのは、高温で黒鉛基材から放出するガス(H、CH、CO、CO、HOなど)及び不純物が少なく、また電気抵抗率や熱膨張率が各方向における方向性が少ないためである。なお、TaC被膜が多孔質に形成されるのを防ぐため、TaC被膜の嵩密度が14.30g/cm以上とすることによって、外部からのガス侵入を抑制することができる。
また、TaC被膜の組成比(Ta/C)は、X線光電子分光計(ESCA)による測定値基準で0.8〜1.2であることが望ましい。(Ta/C)が0.8未満では、Taが本来有する高耐熱性が低下しやすく、その分、黒鉛基材2と高温還元性ガスが反応しやすくなるからであり、一方(Ta/C)が1.2を超える場合は、黒鉛基材2とTaC被膜3との熱膨張係数の差が両者の密着状態を保持し得る許容量を超え、両者が剥がれやすくなるからである。
上記の特性を有するTaC被膜3を形成するには、後に詳記するようにターゲット材としての金属タンタル及び反応ガスを使用したAIP法の実施が有効である。
従って、本発明の複合材料1を高温の還元性ガス、例えばアンモニア雰囲気下に晒しても、TaC被膜3としては微粒子が緻密に積層した結晶組織であるために、たとえ黒鉛基材2中の不純物(Fe、Al等)が拡散してTaC被膜3に到達しても、柱状又は繊維柱状結晶組織と異なり微粒子状結晶組織のTaC被膜3内の抜け出しは非常に困難となる。また、高温でTaC皮膜にピンホール及びクラックが生じるまでの時間を非常に長く延ばすことができる。
従って、ピンホール及びクラックが生じるまではTaCの本来有する好ましい特長がそのまま生かされることになる。即ち、高耐熱性及び高温還元性ガスに対する化学的安定性(例えば、アンモニアガスの場合1500℃でも安定しており、水素ガスの場合2000℃でも安定している。)を有効に発揮して、複合材料1の寿命を従来品よりも大きく延ばすことができる。
また、TaC被膜3は、その厚みが5〜100μm、望ましくは10〜90μmとなるように形成しておくことが望ましい。TaC被膜3を黒鉛基材2の表面に支承なく形成するためには、少なくとも5μmは必要となる一方、100μmを超えると、TaC被膜3と黒鉛基材2との剥離が生じやすくなるからである。TaC被膜3の厚みをこのように最適な範囲に設定することにより、還元性ガス反応抑制効果を十分に発揮させつつも、必要以上の被膜形成に要するコストの無駄を省き、製品コストの上昇を防止することができる。
次に、本発明の製造方法の一例を図2及び図3を参照しつつ説明する。まず、黒鉛基材2を洗浄部4へ導入して、有機溶剤で表面を清浄にする。清浄化した黒鉛基材2をAIP工程に導き該工程内で黒鉛基材2の表面にTaCを被覆する。AIP工程は通常図3に示すようなAIP装置を使用して図2の一点鎖線枠内に示すような手順(真空引き→加熱→下地処理→コーティング→冷却)で行う。即ち、清浄化した黒鉛基材2をチャンバ5内の回転テーブル6に1個又は複数個載置した後、チャンバ5内を10−5Torr程度まで真空引きし、次いでチャンバ5内を400〜600℃程度に加熱する。
次に、供給口7からArガスをチャンバ5内に導入し、−600Vのバイアス電源8を負荷させながらArスパッタリングによるドライエッチングを行う。いわゆる下地処理である。この後、コーティング操作に入り、ターゲット材(金属Ta)10に通電するアーク電源11及びバイアス電源8をそれぞれ所定の電流及び電圧に設定すると共に、供給口7からCHガス等の反応ガスを所定の流量で供給し、ターゲット材10から飛び出したTa微粒子を反応ガス粒子と共に黒鉛基材2の表面にTaC微粒子として付着させる。このコーティング操作を所定の時間保持することにより、黒鉛基材2の表面にTaC微粒子が緻密かつ均質に積層した結晶組織のTaC被膜を5〜100μmの範囲で必要な厚みだけ形成することができる。
コーティング操作が終了すれば、チャンバ5内を所定温度まで冷却した後、製品としてのTaC被膜黒鉛材料をチャンバ5から取り出す。
(実施例1〜4
図4に示す円筒型スリット型(φ100mm×t5mm)の形状寸法からなる黒鉛製ヒーターであって、黒鉛の特性として嵩密度が1.82(g/cm)、熱膨張係数が7.1(10−6/K)のものに対してAIP処理を行い、黒鉛製ヒーターの表面にTaC被膜を形成した。TaC被膜の組成比(Ta/C)の変更はCHガスの流量及びアーク電流を調整することにより行い、TaC被膜の膜厚の変更は蒸着時間を調整することにより行った。AIP条件は、次の通りである。
(1)ターゲット材:金属Ta
(2)反応ガス :CH
(3)熱処理温度 :400〜600℃
(4)ベース圧力 :1×10−5Torr
(5)蒸着圧力 :20mTorr
(6)蒸着電流 :200A
(7)蒸着電圧 :43V
(8)バイアス電圧:−20V
(9)蒸着時間 :25分(5μm)〜500分(100μm)
得られたTaC被膜の嵩密度は14.30g/cm以上であった。
膜厚一定(30μm)の条件下で得られた製品としてのアンモニア雰囲気炉用ヒーターをそれぞれ使用して、1200℃のアンモニア雰囲気下にある半導体薄膜の成膜炉での成膜実験を順次、繰り返して行った。断線した時点をもってヒーターの寿命とした。その結果を、表1に示す。
(比較例1)
実施例1〜4と同一の形状寸法及び特性からなる黒鉛製ヒーターに対してCVD処理を行い、ヒーターの表面にSiC被膜を30μmの厚みで形成した。得られた従来型製品としてのアンモニア雰囲気炉用ヒーターを使用して、実施例1と同様にして同一条件下にある半導体薄膜の成膜炉での成膜実験を繰り返し行い、断線した時点をもってヒーターの寿命とした。結果は、表1に併せて示す。表1からも明らかなように、従来型ヒーターの場合は50回の繰り返し使用で(延べ時間にして150時間の使用で)断線したのに対し、本発明に係るヒーターの場合は、500回繰り返し使用しても(延べ時間にして1500時間使用しても)、断線は起こらなかった。
なお、熱処理(成膜実験)後における実施例及び参考例のそれぞれのTaC被膜について、走査型電子顕微鏡で観察した結果が図6(a)、(b)に示すSEM写真である。このSEM写真からも、TaC被膜の組成比(Ta/C)が本発明の要件を満たす場合は、クラックの発生が認められず、要件を外れる場合は、クラックが進行していることが分かる。
(実施例5〜8)
次に、(Ta/C)=1(一定)の条件下で実施例1〜4と同様にAIP処理してTaC被膜の膜厚が表2のように異にして得られた製品としてのアンモニア雰囲気炉用ヒーター(4種類)をそれぞれ使用して、実施例1〜4と同様に1200℃のアンモニア雰囲気下にある半導体薄膜の成膜炉での成膜実験を順次、繰り返して行った。断線した時点をもってヒーターの寿命とした。その結果を、表2に併せて示す。
(比較例2)
実施例1〜と同一の形状寸法及び特性からなる黒鉛製ヒーターに対してCVD処理を行い、ヒーターの表面にSiC被膜を100μmの厚みで形成した。得られた従来型製品としてのアンモニア雰囲気炉用ヒーターを使用して、実施例1〜と同様にして同一条件下にある半導体薄膜成膜炉での成膜実験を繰り返し行い、断線した時点をもってヒーターの寿命とした。結果は、表2に併せて示す。表2からも明らかなように、従来型ヒーターの場合は50回の繰り返し使用で(延べ時間にして150時間の使用で)断線したのに対し、本発明に係るヒーターの場合は、500回繰り返し使用しても(延べ時間にして1500時間使用しても)、断線は起こらなかった。
なお、本発明は、特許請求の範囲を逸脱しない範囲で設計変更できるものであり、上記実施形態や実施例に限定されるものではない。
本発明に係る還元性雰囲気炉用炭素複合材料を示す断面模式図である。 本発明の製造方法の一例を示す工程図である。 AIP処理を実施するためのAIP装置を示す原理説明図である。 半導体薄膜の成膜炉用ヒーターの概略斜視図である。 CVD法で成膜したTaC被膜の結晶組織を示す要部断面模式図であり、(a)は結晶組織が繊維柱状のもの、(b)は柱状のものを示す図である。 実施例2及び参考例2のそれぞれのTaC被膜についてのSEM写真を示す図である。
符号の説明
1 本発明複合材料
2 黒鉛基材
3 TaC被膜
4 洗浄部
5 チャンバ
6 回転テーブル
7 供給口
8 バイアス電源
9 排気口
10 ターゲット材(金属Ta)
11 アーク電源
12 陽極

Claims (5)

  1. タンタル微粒子を、炭素を含む反応性ガス粒子と共に、黒鉛基材の表面に付着させることによって、前記表面に炭化タンタル微粒子を積層してなる結晶組織の炭化タンタルの被膜を有していることを特徴とする還元性雰囲気炉用炭素複合材料。
  2. 前記被膜の嵩密度が14.30g/cm 以上であることを特徴とする請求項1に記載の還元性雰囲気炉用炭素複合材料。
  3. 前記炭化タンタルの被膜の膜厚が5〜100μmである請求項1又は2に記載の還元性雰囲気炉用炭素複合材料。
  4. 前記還元性雰囲気炉がアンモニア雰囲気炉である請求項1〜3にいずれか1項に記載の還元性雰囲気炉用炭素複合材料。
  5. 上記炭素複合材料が成膜炉用ヒーターである請求項1〜4にいずれか1項に記載の還元性雰囲気炉用炭素複合材料。
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