JP4660519B2 - リソグラフィ装置およびデバイス製造方法 - Google Patents
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Description
パターンニングされた放射ビームを基板のターゲット部分上に投影するように構成された投影システムと、
液体を投影システムと基板との間の空間に供給するように構成された液体供給システムと、
液体供給システムからリサイクルシステムを通して液体供給システムに戻る液体のための2つのリサイクル経路が存在するように異なる液体を処理するように構成される2つの並行液体処理ユニットを含む、液体供給システムから放出される液体を収集しその液体を液体供給システムに再供給するように構成されたリサイクルシステムと、
を備えるリソグラフィ装置が提供される。
パターンニングされた放射ビームを投影システムと基板との間の空間に供給された液体を通して基板上に投影するために投影システムを使用するステップと、
液体を空間から除去し、液体が空間からどのように除去されたかに応じて、またはパターンニングされた放射ビームが液体を通過したかどうかに応じて、またはその両方に応じて、いくつかのやり方のうちの1つで液体を処理するステップと、
処理された液体の少なくとも一部を空間に再供給するステップと
を含むデバイス製造方法が提供される。
を備える。
実施形態1
実施形態2
実施形態3
実施形態4
実施形態5
Claims (15)
- パターンニングされた放射ビームを投影する投影システムと、
前記投影システムと基板との間の空間に液体を供給する液体供給システムと、
前記液体供給システムから放出される液体を収集し、前記液体を前記液体供給システムに再供給するリサイクルシステムと、
を備えるリソグラフィ装置であって、
前記リサイクルシステムが、前記空間に供給された液体を少なくとも2つの異なる経路から除去し、該除去された異なるレベルの汚染物質を有する液体をそれぞれ処理する少なくとも2つの並行液体処理ユニットを備える、
リソグラフィ装置。 - 前記2つの並行液体処理ユニットがそれぞれの液体に異なる処理を与えるか、または、前記並行液体処理ユニットそれぞれが異なるソースからの液体を処理する、請求項1に記載のリソグラフィ装置。
- 前記並行液体処理ユニットのうちの少なくとも1つに入る前に、または出た後で、液体を処理する順次液体処理ユニットをさらに備える、
請求項1又は請求項2に記載のリソグラフィ装置。 - 前記順次液体処理ユニットが、
それを通過する液体を脱気する脱気ユニット、
それを通過する液体の温度を調節する温度制御ユニット、
それを通過する液体の屈折率を制御する率制御ユニット、
それを通過する液体から粒子を濾過する粒子フィルタユニット、
それを通過する液体の流速を調節する流れ制御ユニット、
を含むリストから選択された1つのユニットまたは選択されたユニットの組合せを備える、
請求項3に記載のリソグラフィ装置。 - 前記並行処理ユニットのそれぞれが、
それを通過する液体を脱気する脱気ユニット、
それを通過する液体の温度を調節する温度制御ユニット、
それを通過する液体の屈折率を制御する率制御ユニット、
それを通過する液体から粒子を濾過する粒子フィルタユニット、
を含むリストから選択された1つのユニットまたは選択されたユニットの組合せを備え、および/または、
前記投影システムからの放射にさらされた液体、
前記基板が支持されるべき基板テーブルを通過した液体、
前記液体供給システムを通過した液体、
ガスナイフと相互作用した液体、
前記投影システムからの放射にさらされなかった液体、または、前記基板の上面にさらされなかった液体、または、その両方の液体から選択された1つまたは組合せのための別個のリサイクル経路が存在する、
請求項1〜請求項4のいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - 前記並行液体処理ユニットの1つを通る経路からその代わりに前記並行液体処理ユニットの別の1つを通る経路に流路を切り換えるバルブをさらに備え、および/または、
前記液体の質を測定するセンサをさらに備える、
請求項1〜請求項5のいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - 前記バルブの上流にある液体が前記投影システムからの放射によって照射されたか、されなかったかに関する計算の結果に応じて前記バルブを制御するフローコントローラをさらに備える、
請求項6に記載のリソグラフィ装置。 - センサが、(i)前記液体を通過する放射ビームの強度、または(ii)前記液体の吸収、または(iii)前記液体の前記屈折率、または(iv)前記液体を通過する放射ビーム内の波面位置誤り、または(v)(i)〜(iv)の任意の組合せを測定し、
または、
(i)前記センサの出力結果が前記液体の所望の特性を達成するように前記リサイクルシステムのパラメータを調節するために使用されるか、または(ii)前記センサの出力結果が前記リソグラフィ装置のイメージングパラメータを調節するために使用されるか、または(iii)(i)と(ii)の両方である、
請求項6に記載のリソグラフィ装置。 - 前記液体の前記質を制御するために前記センサの出力結果に基づいて、(i)少なくとも1つの前記並行液体処理ユニット、(ii)1つまたは複数の前記並行液体処理ユニットに入る前に、または出た後で、液体を処理する順次液体処理ユニット、(iii)別個の液流を1つにまとめる流体リサイクルインテグレータ、あるいは(iv)(i)〜(iii)の任意の組合せを制御する液体コントローラをさらに備える、
請求項6〜請求項8のいずれか1項に記載のリソグラフィ装置。 - パターンニングされた放射ビームを、投影システムと基板との間の空間に供給された液体を通して基板上に投影する液浸リソグラフィ装置であって、
前記液体が巡り流れる液体回路を備え、前記液体回路はすべての液流に共通のいくつかの部分を備え、いくつかの部分は別個の並行液体流路を備え、前記別個の並行液体流路の少なくともいくつかはそれぞれの経路内の液体が通過しなければならない液体処理ユニットを有し、異なる経路の前記液体処理ユニットはそれらを通過する液体であって、前記空間から除去された異なるレベルの汚染物質を有する液体を異なる仕方で処理する、
液浸リソグラフィ装置。 - 前記各液体処理ユニットが異なるソースからの液体を処理するように構成されるか、または、前記各液体処理ユニットが、
それを通過する液体を脱気する脱気ユニット、
それを通過する液体の温度を調節する温度制御ユニット、
それを通過する液体の前記屈折率を制御する率制御ユニット、
それを通過する液体から粒子を濾過する粒子フィルタユニット、
を含むリストから選択された1つのユニットまたは選択されたユニットの組合せを備え、および/または、
前記投影システムからの放射にさらされた液体、
前記基板が支持されるべき基板テーブルを通過した液体、
前記投影システムと前記基板との間の空間に前記液体を供給する液体供給システムを通過した液体、
ガスナイフと相互作用した液体、
前記投影システムからの放射にさらされなかった液体、または、前記基板の上面にさらされなかった液体、またはその両方の液体、
から選択された1つまたは組合せのための別個の液体流路が存在する、
請求項10に記載の液浸リソグラフィ装置。 - 前記液体の質を測定するセンサをさらに備える、
請求項10または請求項11に記載の液浸リソグラフィ装置。 - (i)前記センサの出力結果が前記液体の所望の特性を達成するように前記液体回路のパラメータを調節するために使用されるか、または(ii)前記センサの出力結果が前記リソグラフィ装置のイメージングパラメータを調節するために使用されるか、または(iii)(i)と(ii)の両方である、
請求項12に記載の液浸リソグラフィ装置。 - 前記液体の前記質を制御するために前記センサの出力結果に基づいて、(i)少なくとも1つの前記液体処理ユニット、(ii)1つまたは複数の前記液体処理ユニットに入る前に、または出た後で、液体を処理する順次液体処理ユニット、(iii)別個の液流を1つにまとめる流体リサイクルインテグレータ、あるいは(iv)(i)〜(iii)の任意の組合せを制御する液体コントローラをさらに備える、
請求項12または請求項13に記載の液浸リソグラフィ装置。 - 投影システムを使用して、パターンニングされた放射ビームを、前記投影システムと基板との間の空間に供給された液体を通して前記基板上に投影するステップと、
前記空間に供給された液体を少なくとも2つの異なる経路からそれぞれ除去し、該除去された異なるレベルの汚染物質を有するそれぞれの液体が前記空間からどのように除去されたかに応じて、または、前記パターニングされた放射ビームが液体を通過したかどうかに応じて、または、その両方に応じて、いくつかのやり方のうちの1つで液体をそれぞれ処理するステップと、
前記処理された液体の少なくとも一部分を前記空間に再供給するステップと、
を含むデバイス製造方法。
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