JP4654910B2 - 集光状態検出装置、光走査装置、および画像形成装置 - Google Patents

Description

本発明は、被走査面上を走査する光線の集光状態を検出する集光状態検出装置、およびそれを備える光走査装置、さらには、かかる光走査装置を備える画像形成装置に関するものである。

通常、画像形成装置（レーザプリンタやコピー機等）における出力画像の画質は、感光体表面上の光束径（ビーム径）の影響をうけやすい。そのため、光走査装置は、光学系等を利用し、光線を感光体表面（被走査面）に対し精度よく照射させている。しかしながら、光走査装置内の光学系等は、温度変化の影響をうけて変形等しやい。したがって、温度変化の影響をうけた光学系等を通過する光線が感光体表面上で集光しない事態（合焦ズレ）が生じ得る。

かかるような事態は、出力画像の画質低下につながる。そのため、光走査装置は、適宜、光学系等を調整する必要がある。ただし、このような調整のためには、感光体面における光線の合焦ズレを逐次検出しておかなくてはならない。そこで、合焦ズレを検出する装置（集光状態検出装置）が種々開発されている。

例えば特許文献１の集光状態検出装置１１９は、図７に示すように、感光体１３１に入射する直前の偏向した光を受光する光センサ１１１と、受光の検出精度を高めるためのナイフエッジ１４１ａ・１４１ｂとを有している。そして、偏向光線による光センサ１１１への走査のときに、かかる光センサ１１１の出力する信号、特に、ナイフエッジ１４１ａにより立ち上がる信号に基づく微分ピーク値と、ナイフエッジ１４１ｂにより立ち下がる信号に基づく微分ピーク値を用いて、特許文献１の集光状態検出装置１１９は、合焦ズレを検出するようになっている。
特開平０４−１５５３０４号公報

また、単一の受光部を有する光センサへの走査のときに生じる出力信号波形の立ち上がり時間を、カウンタを含む回路で計測することにより、合焦ズレを検出するその他の集光状態検出装置も存在する。

しかしながら、特許文献１の集光状態検出装置１１９では、光センサ１１１の出力信号に対して、微分等のアナログ処理が複数段にわたって行われる。そのため、微分処理等を行う回路での回路定数の誤差に起因し、周波数特性が変化しやすい。すると、特許文献１の集光状態検出装置１１９では、周波数特性の変化に起因して、合焦ズレの検出精度が劣化しやすいといえる。

また、光線の走査速度が速い場合、上記したその他の集光状態検出装置では、カウンタを含む回路でのカウント用のクロック周波数が、数百ＭＨｚ〜１ＧＨｚになってしまう。かかるような高い周波数を取り扱う回路は、技術的に難しいだけでなくコストアップの要因にもつながる。

本発明は、上記の問題点を解決するためになされたものであって、その目的は、安価でありながら簡易かつ精度よく合焦ズレ（集光状態）を検出できる集光状態検出装置等を提供することにある。

本発明の集光状態検出装置は、被走査面上に集光かつ走査する光を受光する受光素子を複数含む光センサと、受光素子の光電変換により得た受光信号を利用して、被走査面上における光の集光状態を判断する制御部と、を有している。そして、特に、光センサに配置される複数の受光素子が光の走査方向に沿って順に並ぶことで、受光素子の並び方向が光の走査方向に対して平行になっている。

また、本発明の焦点検出装置における制御部は、複数の受光素子に各々対応する複数の受光信号を比較することで、被走査面上における光の集光状態を判断していると望ましい。かかる判断処理の一例としては、制御部が、受光時間の経過を示す時間軸と受光信号の強度レベルを示すレベル軸とから成る２次元上で、複数の受光信号の信号波形を比較し、信号波形同士の交点を示すレベル軸上の値が所定閾値を下回ることをもって、被走査面上における光が合焦していると判断する例が挙げられる。

なお、複数の受光素子に各々対応する複数の受光信号の出力レベルが等しくなっていると望ましい。

また、本発明の集光状態検出装置では、受光素子同士の配置間隔が、光の光束径の２倍以下であると望ましい。

さらに、本発明には、上記した集光状態検出装置と、被走査面に到達する光の集光状態を調整する調整用光学素子と、調整用光学素子に動力を供給することで可動にさせる駆動源と、を含む光走査装置も含まれる。

そして、本発明の光走査装置では、光センサが、光の進行方向において、被走査面上よりも上流側または下流側に配置されている場合、光の進行方向において、光センサよりも上流側に、光を集光させる集光レンズが配置されていると望ましい。

なお、上記の光走査装置と、被走査面になる像担持体と、を有する画像形成装置も、本発明に含まれる。

本発明の集光状態検出装置によると、光センサを介して時間的差異のある複数の受光信号を得ることができ、さらに、制御部が、これらの複数の受光信号を利用して光の合焦度合い（合焦度）を判断できる。そして、特に、かかる判断を比較的単純な出力比較で行うことから、制御部の判断処理の負担が軽減する。よって、安価な制御部を使用しながらも、簡易かつ精度よく合焦ズレ（集光状態）を検出できる集光状態検出装置が実現する。

［実施の形態１］
《１．光走査装置の構成について》
図１は、画像形成装置の一例であるレーザプリンタ３９の概略斜視図である。この図１に示すように、レーザプリンタ３９は、感光体（像担持体）３１に対して、光線を照射する光走査装置２９を含んでいる。

光走査装置２９は、レーザーダイオード２０、コリメータレンズ２１、フォーカシングレンズ２２、第１シリンドリカルレンズ２３、ポリゴンミラー２４、ｆ−θレンズ２５ａ・２５ｂ・２５ｃ、第２シリンドリカルレンズ２６、折り返しミラー２７、および集光状態検出装置１９を含んでいる。

レーザーダイオード２０は光（レーザ光）を発する光源であり、コリメータレンズ２１は進行してくるレーザ光を略平行光に変換させるものである。

フォーカシングレンズ（調整用光学素子）２２は、光軸上を進退移動することにより、感光体３１上のレーザ光の集光状態を変化させるものである。なお、光軸上を進退移動するために、フォーカシングレンズ２２は、回動するピニオンギアＰＧに係合するラックＲＵを備えるベース台ＢＰに取り付けられている。つまり、ピニオンギアＰＢを回動させるステッピングモータ（駆動源）ＳＭの駆動力によって、フォーカシングレンズ２２は、光軸上を進退移動するようになっている。

第１シリンドリカルレンズ２３は、フォーカシングレンズ２２から進行してくるレーザ光を通過させることで、ポリゴンミラー２４近傍で主走査方向に沿って延びる線状に集光させるものである。ポリゴンミラー２４は、具備する複数の反射面を回転させることで、集光されたレーザ光を偏向させるものである。なお、この偏向方向を主走査方向と称し、感光体３１の回転方向を副走査方向と称す。

ｆ-θレンズ２５ａ・２５ｂ・２５ｃは、レーザ光を感光体３１上で集光し、かつ、レーザ光の等角速度運動を等速運動に変換するものである。第２シリンドリカルレンズ２６は、第１シリンドリカルレンズ２４と協同して、ポリゴンミラー２４による面倒れ誤差を補正するものである。折り返しミラー２７は、等速運動するレーザ光を反射させることで、感光体３１に照射させるものである。

本発明でもある集光状態検出装置１９は、光センサ１１および制御部１２を含んでいる。光センサ１１は、光電変換素子から成る受光素子（第１受光素子１ａ・第２受光素子１ｂ；図２参照）を複数含んでいる。そして、かかる光センサ１１は、感光体３１の主走査方向の上流側または下流側であり、かつ、感光体３１外の位置（感光体３１の表面と同一な仮想面上；感光体３１と光学的に等価な位置）に配置されている。そのため光センサ１１上での光の合焦度合い（合焦度）が判断できれば、感光体３１表面の光の合焦度も判断できることになる。

制御部１２は、受光素子１ａ・１ｂによって生成される信号（受光信号）を比較することで、感光体３１上の光線の集光状態を判断するようになっている（詳細は後述）。また、制御部１２は、かかる判断結果に応じて、ステッピングモータＳＭを制御し、フォーカシングレンズ２２を適宜移動させるようにもなっている。そのため、かかる集光状態検出装置１９を備える光走査装置２９は、自動合焦機能（オートフォーカス機能）を有することになる。

《２．光センサによって検出される信号について》
ところで、図２に示すように、光センサ１１は、光の主走査方向の上流から下流に向けて順に複数の受光素子（第１受光素子１ａ・第２受光素子１ｂ）を並べるようにして、受光素子１ａ・１ｂの並び方向を光の主走査方向に対して平行にしている（なお、受光素子１ａ・１ｂ同士の間に間隙Ｇが生じるようになっている）。そのため、受光素子１ａ・１ｂによる光を受光するタイミングはずれるようになる。つまり、主走査方向において上流側に位置する第１受光素子１ａは、第２受光素子１ｂよりも先に光を受光する一方、主走査方向において下流側に位置する第２受光素子１ｂは、第１受光素子１ａよりも後に（遅延して）光を受光するようになっている。

そこで、受光素子１ａ・１ｂによる光の受光時間を示す時間軸（Ｔ）と、光の光強度（すなわち受光信号の信号レベル）を示すレベル軸（Ｌ）とから成る２次元図において、第１受光素子１ａ・第２受光素子１ｂにより生成される第１受光信号Ｓ１・第２受光信号Ｓ２の波形（第１信号波形Ｓ１・第２信号波形Ｓ２とも称す）を示すと、図３（Ａ）・図３（Ｂ）のようになる。

ただし、光（特にレーザー光）の強度分布はガウス分布になっている。そのため、実際は、図３（Ａ）・図３（Ｂ）に示すように、矩形の信号波形にはならない。しかし、便宜上、光における光強度のピーク値を１００％とした場合に、１３．５％以上の光強度を有する光を光束径（ビーム径）Ｄとして説明していく。なお、第１受光素子１ａと第２受光素子１ｂの受光感度は互いに等しくなっている。そのため、図３に示すように、信号波形Ｓ１・Ｓ２の光強度（縦軸）は同程度になっている。

上記したように、図３（Ａ）は第１受光素子１ａに対応する信号波形Ｓ１を示し、図３（Ｂ）は第２受光素子１ｂａに対応する信号波形Ｓ２を示している。このように、信号波形Ｓ１・Ｓ２は同じ２次元図で示すことができることから、制御部１２は、信号波形Ｓ１・Ｓ２を、同一の時間軸かつ同一のレベル軸において重畳させて比較できる。このような比較状態を示すと、図３（Ｃ）のようになる。この図３（Ｃ）に示すように、信号波形Ｓ１・Ｓ２の光強度｛この強度をＬ（ｐ）と称す｝は同程度になるが、受光タイミングのずれ（遅延分）だけ時間軸（横軸）上に差異が生じるようになる。

なお、図３（Ｃ）に示すように第１受光素子１ａの第１信号波形Ｓ１と第２受光素子１ｂの第２信号波形Ｓ２とが重なっている場合、光センサ１１とビーム径Ｄとは図４に示すようになっている。つまり、受光素子１ａ・１ｂの両方によって、同時に光を受光する時間帯が生じるようになっている。

かかるような時間帯が生じるようになっていると、図３（Ｃ）に示すように、受光素子１ａの信号波形Ｓ１と受光素子１ｂの信号波形Ｓ２との交わるポイントＩＰが生じる。そして、このポイントＩＰの光強度は、受光素子１ａ・１ｂに入射する光の合焦度（すなわち、感光体３１上における光線の合焦度）に応じて変化する。

《３．ポイントＩＰについて》
そこで、光の合焦度に応じて、ポイントＩＰが変化していく状態を、図５を用いて説明する。図５（Ａ）は光が合焦しているときの信号波形Ｓ１・Ｓ２を示し、かかる図でのポイントＩＰの光強度を「合焦閾値Ｌ(b)」とする。一方、図５（Ｂ）・図５（Ｃ）は光が合焦していないときの（デフォーカスのときの）信号波形Ｓ１・Ｓ２を示している。

なお、図５（Ｃ）は図５（Ｂ）よりもデフォーカスの度合いが大きくなっている。また、図５（Ｂ）および図５（Ｃ）でのポイントＩＰの光強度は、Ｌ(d1)・Ｌ(d2)と称する。そして、これらのＬ(d1)・Ｌ(d2)は、デフォーカスの度合いに起因して、「Ｌ(d1)＜Ｌ(d2)」という関係になっている。

通常、感光体３１表面に対し光の合焦度が合っていない場合、ビーム径Ｄは合焦時のビーム径Ｄよりも広がるようになる。そのため、各受光素子１ａ・１ｂによって測定される光強度の分布（光強度分布）は、裾野を有するようになる。

すると、主走査により、光強度分布上で最大の光強度を示す光束中心が第１受光素子１ａに到達している場合であっても、光強度分布上で裾野に該当する光束周縁が第２受光素子１ｂに到達するようになる。つまり、光束中心が受光素子１ａ・１ｂ間の間隙Ｇから比較的離間しているにもかかわらず、光束周縁が第２受光素子１ｂを照射するようになる。

かかるような主走査での信号波形Ｓ１・Ｓ２を示したものが図５（Ｂ）・図５（Ｃ）になる。これらの図に示すように、デフォーカスのためにビーム径Ｄの幅を増加させた光の信号波形Ｓ１・Ｓ２の立ち上がりおよび立ち下がりは、合焦時に比べて緩やかな傾斜になり、裾野を有するようになる。そのため、第１信号波形Ｓ１の立ち下がりと第２信号波形Ｓ２の立ち上がりとが、互いに緩やかな傾斜を有しつつ離間するようになる。その結果、ポイントＩＰの光強度｛Ｌ(d1)・Ｌ(d2)｝が、合焦時の合焦閾値Ｌ(b)に比べて増加する。

すると、合焦閾値Ｌ(b)が予め定められていれば、この合焦閾値Ｌ(b)を用いて、集光状態を把握することができる。例えば、制御部１２が、予め記憶部（不図示）に合焦閾値Ｌ(b)を記憶しているとする。そして、制御部１２が、記憶した合焦閾値Ｌ(b)とポイントＩＰの光強度とを比較させることで、感光体３１の表面上の集光状態を判断できる。例えば、制御部１２は、ポイントＩＰの光強度が合焦閾値Ｌ(b)を下回っていれば、感光体３１の表面上における光が合焦していると判断できる。

《４．ポイントＩＰと受光素子同士の間隔との関係について》
ところで、デフォーカスの度合いによって生じるポイントＩＰの光強度の変動は、間隔Ｇと、ビーム径Ｄとの関係に依存する。なぜなら、定性的には間隔Ｇが、ビーム径Ｄよりも大きすぎると、デフォーカスによるビーム径Ｄの変化に対応するポイントＩＰの光強度の変動が小さくなるためである。

そこで、間隔Ｇとビーム径Ｄとの最適な関係について、図６を用いて説明する。この図６は、ポイントＩＰの光強度を縦軸（Ｌ）とし、ビーム径Ｄを横軸とするグラフである。そして、横軸上のＧは、一定になった間隔Ｇを示している。

かかる図６に示すように、ビーム径Ｄが極めて小さいと（≒０）、ポイントＩＰは発生しない（すなわち、光強度のレベル軸上でも「０」になる）。しかしながら、ビーム径Ｄが大きくなるにつれて、徐々にポイントＩＰが発生するようになってくる。そして、ビーム径Ｄが一定以上の大きさになると、ポイントＩＰの光強度は収束する｛かかる光強度の値をＬ(ｐ)／２と称す。なぜなら、２個の受光素子１ａ・１ｂの場合、単一の受光素子に入射する最大の光強度（Ｌ（ｐ））の半分の光強度（Ｌ(ｐ)／２）を得ることができれば、ポイントＩＰが生じるためである｝。

なお、この現象を、光強度の値が「０〜Ｌ(ｐ)／２」に至るまでの変化の度合い（急峻度）で説明すると、ビーム径Ｄが「０〜Ｇ／２」においては急峻度に変化がほぼ生じないといえる。一方で、ビーム径Ｄが「Ｇ／２〜」になると急峻度は徐々に増加していき、ビーム径Ｄが「Ｇ〜∞」になると急峻度は比較的急激に増加するが、徐々に緩やかに増加し、やがて不変になるといえる。

すると、デフォーカスによりポイントＩＰに変動が生じるようにさせておくためには、「Ｇ／２≦Ｄ」の関係を満たすようにして、図６での急峻度が生じるようにしておけばよいといえる。なお、ビーム径Ｄ（特に、最も集光された光束径；ビームウエスト径）は、設計上、予め定められることが多い。そのため、間隔Ｇは、ビーム径Ｄの２倍以下（「Ｇ≦２Ｄ」）になっていればよいともいえる。

《５．本発明の種々の特徴の一例》
以上のように、本発明の集光状態検出装置１９は、感光体３１の表面上（被走査面上）に集光かつ走査する光を受光する受光素子１ａ・１ｂを含む光センサ１１と、受光素子１ａ・１ｂの光電変換により得た受光信号を利用して、感光体３１の表面上における光の集光状態を判断する制御部１２と、を有している。特に、光センサ１１は、光の主走査方向の上流から下流に向けて順に複数の受光素子（第１受光素子１ａ・第２受光素子１ｂ）を並べるようにして、受光素子１ａ・１ｂの並び方向を光の主走査方向に対して平行にしている。

このような集光状態検出装置１９であれば、一主走査（ワンスキャン）する光が第１受光素子１ａ、第２受光素子１ｂの順に入射する。そのため、第１受光素子１ａの受光信号Ｓ１と第２受光素子１ｂの受光信号Ｓ２との間に、受光タイミングのずれ（位相遅れ）が生じることになる。つまり、制御部１２は、光センサ１１を介して時間的差異のある受光信号Ｓ１・Ｓ２を得ることができる。すると、本発明の集光状態検出装置１９では、制御部１２が、受光信号Ｓ１・Ｓ２を利用して光の合焦度合い（合焦度）を判断できる。

例えば、制御部１２が、複数の受光素子１ａ・１ｂに各々対応する複数の受光信号Ｓ１・Ｓ２を比較することで、感光体３１の表面上における光の集光状態を判断してもよい。詳説すると制御部１２は、受光時間の経過を示す時間軸（Ｔ）と受光信号の強度レベル（光強度）を示すレベル軸（Ｌ）とから成る２次元上で、複数の受光信号の信号波形Ｓ１・Ｓ２を比較し、信号波形Ｓ１・Ｓ２同士の交点を示すレベル軸上の値（ポイントＩＰ）が所定閾値｛合焦閾値Ｌ(b)｝を下回るか、または最小値となることをもって、感光体３１の表面上における光が合焦していると判断すると望ましい。

このような場合、制御部１２は、受光信号Ｓ１・Ｓ２に特段の処理を加えない生信号波形を用いて光の合焦度を判断している。そのため、受光信号Ｓ１・Ｓ２に対する複雑な回路処理が不要となり、制御部１２の処理負担の軽減を図ることができる。したがって、本発明の集光状態検出装置１９は、処理能力の比較的低い安価な制御部１２を使用することができる。

また、本発明の集光状態検出装置１９では、生信号波形のために、定数誤差や温度変化（外来ノイズ）に起因する信号波形の特性変化も起きにくい。そのため、特性変化に起因する検出精度の低下を防止した集光状態検出装置１９が実現する。また、制御部１２による判断においては、信号波形のクロックのカウントが不要になっている。したがって、受光信号Ｓ１・Ｓ２が比較的高い周波数を有している必要もない。

なお、複数の受光素子１ａ・１ｂに各々対応する複数の受光信号Ｓ１・Ｓ２の出力レベルは等しくなっていると望ましい。このようになっていれば、例えば、受光感度の等しい受光素子１ａ・１ｂを用いることができ、光センサ１１のコストダウンを図れる。また、受光信号Ｓ１・Ｓ２への種々の処理も不要になるので、制御部１２の処理負担の軽減が確実に図れるためである。

また、本発明の光センサ１１における受光素子１ａ・１ｂ同士の配置間隔（間隔Ｇ）は、光のビーム径Ｄの２倍以下であると望ましい。このような構成であれば、デフォーカスによりポイントＩＰに変動が生じるようになり、制御部１２の判断処理の精度が増すためである。

［その他の実施の形態］
なお、本発明は上記の実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で、種々の変更が可能である。

例えば、上記したような集光状態検出装置と、感光体３１表面に到達する光の集光状態を調整するフォーカシングレンズ２２と、このフォーカシングレンズ２２に動力を供給することで可動にさせるステッピングモータＳＭと、を含む光走査装置２９も本発明といえる。

また、光センサ１１が、光の進行方向において、感光体３１表面上よりも上流側または下流側に配置されている場合、光の進行方向において、光センサ１１の上流側に（光センサ１１の直前に）、光を集光させる集光レンズが配置されるようになっていてもよい。このような構成であれば、集光レンズによる集光作用によって、光センサ１１の受光素子１ａ・１ｂの感度レベルを過剰に高くする必要がなくなる。

ところで、本発明の集光状態検出装置１９では、光センサ１１の受光素子１ａ・１ｂが、隣り合うように並んで配置されている。そのため、受光素子１ａ・１ｂの受ける外来ノイズが互いに相殺しあう。すると、受光素子１ａ・１ｂによる受光信号Ｓ１・Ｓ２の検出が比較的安定して行える。

また、本発明では、複数の受光信号Ｓ１・Ｓ２の比較（出力比較）による判断処理が行われる。そのため、本発明での判断処理は、従来の判断処理に比べて、単一の受光信号の立ち上がりおよび立ち下がりの信号波形への依存度を低くしたといえる。その結果、本発明の集光状態検出装置１９では、従来のように、立ち上がりおよび立ち下がりの信号波形の検出精度を高めるナイフエッジ等が不要になる。

なお、本発明の光走査装置２９の利用は、種々考えられる。例えば、上述したようなレーザプリンタ３９（画像形成装置）もその一例である。

本発明の集光状態検出装置および光走査装置を示すとともに、これらの装置を含む本発明の画像形成装置の概略斜視図である。 光センサの平面図である。 （Ａ）は第１受光素子の信号波形であり、（Ｂ）は第２受光素子の信号波形であり、（Ｃ）は両信号波形を遅延させて重ね合わせた信号波形である。 光センサ上の第１受光素子・第２受光素子に光が照射している状態を示す平面図である。 （Ａ）は合焦時の信号波形であり、（Ｂ）・（Ｃ）は非合焦時（デフォーカス時）の信号波形である。 受光素子間隔Ｇが一定の場合に、ビーム径Ｄの変化に対する交点（第１受光素子の信号波形と第２受光素子の信号波形との交点の光強度）のレベル変動を示す関係図である。 従来の集光状態検出装置を示す平面図である。

符号の説明

１ａ 第１受光素子
１ｂ 第２受光素子
Ｇ 第１受光素子と第２受光素子との間隔
１１ 光センサ
１２ 制御部
１９ 集光状態検出装置
２２ フォーカシングレンズ（調整用光学素子）
ＳＭ ステッピングモータ（駆動源）
２４ ポリゴンミラー
２９ 光走査装置
３９ レーザプリンタ（画像形成装置）
Ｓ１ 第１受光素子の受光信号
Ｓ２ 第２受光素子の受光信号
Ｔ 受光素子の受光時間の経過を示す時間軸
Ｌ 受光信号の光強度レベルを示すレベル軸

Claims (6)

1. 被走査面上に集光かつ走査する光を受光する受光素子を複数含む光センサと、
   上記受光素子の光電変換により得た受光信号を利用して、被走査面上における光の集光状態を判断する制御部と、
   を有する集光状態検出装置であって、
   上記光センサに配置される複数の受光素子の並び方向が光の走査方向に対して平行になっており、
   上記制御部は、受光時間の経過を示す時間軸と受光信号の光強度レベルを示すレベル軸とから成る２次元上で、複数の上記受光素子に各々対応する複数の受光信号の信号波形を比較し、上記信号波形同士の交点を示すレベル軸上の値が所定閾値を下回ることをもって、被走査面上における光が合焦していると判断することを特徴とする集光状態検出装置。
2. 複数の上記受光素子に各々対応する複数の受光信号の出力レベルが等しくなっていることを特徴とする請求項１に記載の集光状態検出装置。
3. 上記受光素子同士の配置間隔は、光の光束径の２倍以下であることを特徴とする請求項１または２に記載の集光状態検出装置。
4. 請求項１〜３のいずれか１項に記載の集光状態検出装置と、
   上記被走査面に到達する光の集光状態を調整する調整用光学素子と、
   上記調整用光学素子に動力を供給することで可動にさせる駆動源と、
   を含む光走査装置。
5. 上記光センサが、上記光の進行方向において、上記の被走査面上よりも上流側または下流側に配置されている場合、
   上記光の進行方向において、上記光センサよりも上流側に、光を集光させる集光レンズが配置されていることを特徴とする請求項４に記載の光走査装置。
6. 請求項４または５の光走査装置と、
   上記の被走査面になる像担持体と、
   を有する画像形成装置。

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