JP4642709B2 - 顕微鏡とオートフォーカス装置およびオートフォーカス方法 - Google Patents
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本発明は、透明板部材上に載置された被検物体から発せられる光を集光する対物レンズを具備する顕微鏡に備えられ、前記対物レンズの焦点面を前記被検物体と前記透明板部材との境界面に一致させるオートフォーカス装置であって、光源と、該光源から発せられ前記対物レンズを介して前記透明板部材の表面および前記境界面において反射して戻る反射光を検出する検出器とを有する検出手段と、該検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるゲイン調節手段と、前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを光軸方向に沿って相対移動させる焦点面移動手段と、前記検出器からの出力に基づいて、前記対物レンズの焦点面が前記表面または前記境界面に一致したか否かを判定し、前記対物レンズの焦点面と前記表面とが一致したと判定した場合に前記検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるように前記ゲイン調節手段を制御し、前記焦点面移動手段により、前記対物レンズの焦点面を前記表面に一致させた後に前記境界面に近接させるように前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを相対移動させ、前記対物レンズの焦点面が前記境界面に一致したと判定した場合に前記対物レンズの焦点面と前記被検物体との相対移動を停止させるように前記焦点面移動手段を制御する制御手段とを備えるオートフォーカス装置を提供する。
その結果、検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるだけの簡易な構成により、コストを増加させることなく、対物レンズの焦点面を精度よく高速に被検物体と透明板部材との境界面に一致させることができる。
このように構成することで、反射率の高い透明板部材の表面は、光源から弱い光を出射して検出し、反射率の低い被検物体と透明板部材との境界面は、光源から強い光を出射することにより検出することができる。これにより、表面からの反射光によって境界面の検出が妨げられたり、被検物体にダメージを与えたりすることなく、境界面に精度よく対物レンズの焦点面を一致させることができる。
このように構成することで、反射率の高い透明板部材の表面からの反射光は、検出器の受光感度を下げて検出し、反射率の低い被検物体と透明板部材との境界面からの反射光は、検出器の受光感度を上げることにより検出することができる。これにより、表面からの反射光によって境界面の検出が妨げられたり、被検物体にダメージを与えたりすることなく、境界面に精度よく対物レンズの焦点面を一致させることができる。
このように構成することで、簡易な構成により、精度よくオートフォーカスを高速処理することができ、迅速かつ高精度な観察を行うことができる。
その結果、検出手段の判定条件を変更するだけの簡易な構成により、コストを増加させることなく、対物レンズの焦点面を精度よく高速に被検物体と透明板部材との境界面に一致させることができる。
このように構成することで、反射率の高い透明板部材の表面は、光源から弱い光を出射して検出し、反射率の低い被検物体と透明板部材との境界面は、光源から強い光を出射することにより検出することができる。これにより、表面からの反射光によって境界面の検出が妨げられたり、被検物体にダメージを与えたりすることなく、境界面に精度よく対物レンズの焦点面を一致させることができる。
このように構成することで、反射率の高い透明板部材の表面からの反射光は、検出器の受光感度を下げて検出し、反射率の低い被検物体と透明板部材との境界面からの反射光は、検出器の受光感度を上げることにより検出することができる。これにより、表面からの反射光によって境界面の検出が妨げられたり、被検物体にダメージを与えたりすることなく、境界面に精度よく対物レンズの焦点面を一致させることができる。
その結果、検出ステップにおける入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるだけの簡易な方法により、コストを増加させることなく、対物レンズの焦点面を精度よく高速に被検物体と透明板部材との境界面に一致させることができる。
以下、本発明の第1の実施形態に係る顕微鏡とオートフォーカス装置ついて、図1〜図10を参照して説明する。
本実施形態に係る顕微鏡1は、図1に示されるように、観察光学系1Aと、照明光学系1Bと、オートフォーカス装置1Cとを備えている。
演算部19aはフォトディテクタ18の2つの受光素子18a,18bからの出力信号A,Bを用いて(A−B)/(A+B)の演算を行い、図3のフォーカス判定曲線に示されるようなデータを作成してCPU19cへ送信する。図3において、横軸はXY電動ステージ11と対物レンズ2との距離を示し、縦軸は(A−B)/(A+B)の演算値を示している。
Zモータドライバ19fは対物レンズ2を光軸方向に沿って上下に動作させるべく、焦点面移動手段33を作動させる。焦点面移動手段33には、例えば、不図示のステッピングモータが採用される。
PCインターフェース19dは、接続コネクタ25を経由してCPU19cとコントロールボックス24との通信のために信号レベルの変換やノイズ除去を行なうものである。
本実施の形態では、アドレスは0−900000の範囲で管理される。アドレス0は対物レンズ2が下がりきった状態、つまり、マイクロタイタープレート12から一番遠ざかった状態である。アドレス900000は対物レンズ2が上がりきった状態である。1アドレスは0.01μmに相当する。
図4および図5に示されるように、マイクロタイタープレート12はXY電動ステージ11上にセットされている。透明なプラスチックで出来ているマイクロタイタープレート12の底面はプレート底下面(表面)12a、プレート底上面(境界面)12bを有し、プレート底上面12bには培養液12d内で培養された細胞12cが配置されている。尚、この底面の厚さは約800μmである。
本実施の形態ではこの状態を第一の焦点位置と定義する。
上述した第一の焦点位置の判定方法と同様に演算が行われ、0クロスポイントとなったとき、対物レンズ2の焦点面は、プレート底上面12bと一致する。
本実施の形態ではこの状態を第二の焦点位置と定義する。
図7に示されるように、アドレス500000位置をプレート底下面12aとし、対物レンズ2の焦点面がマイクロタイタープレート12に近づくにつれて受光素子18a,18bからの出力が大きくなり、遠ざかるにつれて出力が小さくなる。
図7で分かるように、プレート底下面12aの位置付近では受光素子18a,18bは十分なフォーカスビーム2aの反射により出力が出ているが、プレート底上面12b付近では反射が弱いため出力が殆ど見られない。
尚、本実施の形態における演算部19aはノイズによる誤動作を避けるため、フォーカスビーム2aの反射が規定値以上なければ演算を開始しない様になっている。
ユーザが顕微鏡1、コントロールボックス24、コンピュータ20およびモニタ21の電源を入れ、システムを起動させるとともに、不図示の制御プログラムをコンピュータ20上で起動させる。制御プログラムは装置全体をイニシャライズする。
マイクロタイタープレート12の光学像は、不図示の接眼レンズもしくは不図示のカメラポートに接続されているCCDカメラで観察することができるので、現在の焦点状態を目視で確認することができる。
なお、ステップSA9において、アドレスが500000以上のときは(ステップSA9「NO」)、オートフォーカスはエラーとなる(ステップSA10)。
一方、0クロスポイントとならないときは(ステップSA8「NO」)、結像位置判定部19は、再度焦点面移動手段33を作動させて対物レンズ2をアドレス500000方向に動作させ(ステップSA12)、フォトディテクタ18の受光素子18a、18bの出力を検出する(ステップSA13)。そして、ステップSA7に戻り、0クロスポイントになるまで、ステップSA7、ステップSA8、ステップSA12およびステップSA13を繰り返す。
尚、マイクロタイタープレート12のプレート底下面12aを検出するときにレーザーダイオード13の出力を25mWに落としているのは、プレート底下面12aからの反射が強く、これ以上大きくするとフォトディテクタ18の受光素子18a,18bの出力が飽和してしまうからである。
一方、フォトディテクタ18の受光素子18a,18bの出力が規定の大きさに満たない場合(ステップSA19「NO」)、ステップSA17に戻る。そして、フォトディテクタ18の受光素子18a,18bの出力が規定の大きさになるまで、ステップSA17〜ステップSA19を繰り返す。
マイクロタイタープレート12のプレート底上面12bからの反射によるフォトディテクタ18の出力はマイクロタイタープレート12のプレート底下面12aに比べるとまだ小さいが、演算には十分な出力であり、また、これ以上レーザーダイオード13の出力を大きくすると細胞12Cにダメージを与える可能性があるのでこれで十分である。
一方、0クロスポイントとならないとき(ステップSA21「NO」)、結像位置判定部19は、再度焦点面移動手段33を作動させて対物レンズ2をアドレス500000方向に動作させ(ステップSA22)、フォトディテクタ18の受光素子18a、18bの出力を検出する(ステップSA23)。そして、ステップSA20に戻り、0クロスポイントとなるまで、ステップSA20〜ステップSA23を繰り返す。
以下、本発明の第2の実施形態に係る顕微鏡1´とオートフォーカス装置1C´について、図11〜図14を参照して説明する。但し、第1の実施形態と同じ構成、動作、原理についてはその説明を割愛する。
図11に示されるように、本実施の形態に係る顕微鏡1´の構成は、第1の実施形態と結像位置判定部19iが異なっている。結像位置判定部19iは、図12に示されるように、第1の実施形態の結像位置判定部19の構成と演算部19g、CPU19jおよびLDドライバ19hが異なっており、さらにゲインコントロール回路190を備えている。
プレート底下面12aの検出において、上記ゲインコントロール回路190は演算部19gが判定できるだけの大きさにまで出力ゲインを増大させる。LDドライバ19hは、CPU19iからの指示でレーザーダイオード13をON、OFFする。
一方、フォトディテクタ18の受光素子18a,18bからの出力が規定の大きさに満たない場合(ステップSB6「NO」)、出力ゲインがMAX値以下のときは(ステップSB9「YES」)、ゲインコントロール回路190は演算部19gが判定できるだけの大きさにまで出力ゲインを上昇させ(ステップSB10)、ステップSB5に戻る。そして、フォトディテクタ18の受光素子18a,18bからの出力が規定の大きさ以上になるまで、ステップSB5,ステップSB6、ステップSB9およびステップSB10を繰り返す。なお、ステップSB9において、出力ゲインがMAX値より大きいときは(ステップSB9「NO」)、オートフォーカスはエラーとなる(ステップSB11)。
上述においては、フォトディテクタ18の受光素子18a,18bからの出力をCPU19jからの指示に基づきゲインを可変して取り込みを行なっているが、勿論これと併用してレーザーダイオード13のパワーを変更しても良い。
これにより、簡易な構成で、精度よくオートフォーカスを高速処理することができる。
本発明の第3の実施形態に係る顕微鏡1″とそのオートフォーカス装置1C″ついて、図15〜図18を参照して説明する。但し、第1の実施形態と同じ構成、動作、原理についてはその説明を割愛する。
図15に示されるように、本実施の形態に係る顕微鏡1″の構成は、第1の実施形態と結像位置判定部19nが異なっている。結像位置判定部19nは、図16に示されるように、第1の実施形態の結像位置判定部19の構成と演算部19kおよびCPU19mが異なっている。演算部19kでは、第1の実施形態の演算部19aにおいて行われる演算(A−B)/(A+B)に加えて、A+Bの演算が行われるようになっている。
本実施の形態は、図17に示されるように、第1の実施形態と同様の動作でマイクロタイタープレート12のプレート底下面12aを検出する。
一方、0クロスポイントとならないとき(ステップSC22「NO」)、ステップSC19に戻る。そして、0クロスポイントとなるまで、ステップSC19〜ステップSC22を繰り返す。
これにより、簡易な構成で、精度よくオートフォーカスを高速処理することができる。
2 対物レンズ
2C 検出手段
12 マイクロタイタープレート(透明板部材)
13 レーザーダイオード(光源)
18 フォトディテクタ(検出器)
19 結像位置判定部(制御手段)
33 焦点面移動手段
Claims (10)
- 透明板部材上に載置された被検物体から発せられる光を集光する対物レンズを具備する顕微鏡に備えられ、前記対物レンズの焦点面を前記被検物体と前記透明板部材との境界面に一致させるオートフォーカス装置であって、
光源と、該光源から発せられ前記対物レンズを介して前記透明板部材の表面および前記境界面において反射して戻る反射光を検出する検出器とを有する検出手段と、
該検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるゲイン調節手段と、
前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを光軸方向に沿って相対移動させる焦点面移動手段と、
前記検出器からの出力に基づいて、前記対物レンズの焦点面が前記表面または前記境界面に一致したか否かを判定し、前記対物レンズの焦点面と前記表面とが一致したと判定した場合に前記検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるように前記ゲイン調節手段を制御し、前記焦点面移動手段により、前記対物レンズの焦点面を前記表面に一致させた後に前記境界面に近接させるように前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを相対移動させ、前記対物レンズの焦点面が前記境界面に一致したと判定した場合に前記対物レンズの焦点面と前記被検物体との相対移動を停止させるように前記焦点面移動手段を制御する制御手段とを備えるオートフォーカス装置。 - 前記ゲイン調節手段が、前記光源のパワーを切り替える請求項1に記載のオートフォーカス装置。
- 前記ゲイン調節手段が、前記検出手段の出力ゲインの切替により前記検出器の受光感度を切り替える請求項1または請求項2に記載のオートフォーカス装置。
- 前記透明板部材がマイクロタイタープレートである請求項1から請求項3のいずれかに記載のオートフォーカス装置。
- 前記被検物体が細胞である請求項1から請求項4のいずれかに記載のオートフォーカス装置。
- 請求項1から請求項5のいずれかに記載のオートフォーカス装置を備える顕微鏡。
- 透明板部材上に載置された被検物体から発せられる光を集光する対物レンズを具備する顕微鏡に備えられ、前記対物レンズの焦点面を前記被検物体と前記透明板部材との境界面に一致させるオートフォーカス装置であって、
光源と、該光源から発せられ前記対物レンズを介して前記透明板部材の表面および前記境界面において反射して戻る反射光を検出する検出器とを有する検出手段と、
前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを光軸方向に沿って相対移動させる焦点面移動手段と、
前記検出器からの出力に基づいて、前記対物レンズの焦点面が前記表面または前記境界面に一致したか否かを判定し、前記対物レンズの焦点面と前記表面とが一致したと判定した場合に判定条件を変更し、前記焦点面移動手段により、前記対物レンズの焦点面を前記表面に一致させた後に前記境界面に近接させるように前記対物レンズの焦点面と前記被検物体とを相対移動させ、前記対物レンズの焦点面が前記境界面に一致したと判定した場合に前記対物レンズの焦点面と前記被検物体との相対移動を停止させるように前記焦点面移動手段を制御する制御手段とを備えるオートフォーカス装置。 - 前記判定条件変更手段が、前記光源のパワーを変更する請求項7に記載のオートフォーカス装置。
- 前記判定条件変更手段が、前記検出手段の出力ゲインを変更する請求項7または請求項8に記載のオートフォーカス装置。
- 透明板部材上に載置された被検物体に光を照射し、前記透明板部材の表面および前記被検物体と前記透明板部材との境界面において反射して戻る反射光を検出する検出手段を備えた顕微鏡において、前記対物レンズの焦点面を前記被検物体と前記透明板部材との境界面に一致させるオートフォーカス方法であって、
前記対物レンズの焦点面と前記透明板部材の表面とを近接させる第1の近接ステップと、
前記対物レンズの焦点面が前記透明板部材の表面に一致したか否かを判定する第1の判定ステップと、
該第1の判定ステップにより前記対物レンズの焦点面が前記表面に一致したと判定された場合に、前記検出手段の入力ゲインおよび/または出力ゲインを切り替えるゲイン切替ステップと、
前記対物レンズの焦点面と前記境界面とを近接させる第2の近接ステップと、
前記対物レンズの焦点面が前記境界面に一致したか否かを判定する第2の判定ステップと、
該第2の判定ステップにより前記対物レンズの焦点面が前記境界面に一致したと判定された場合に、前記対物レンズの焦点面と前記境界面とが近接するのを停止させる停止ステップとを含むオートフォーカス方法。
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Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5394718B2 (ja) * | 2008-12-16 | 2014-01-22 | オリンパス株式会社 | 顕微観察装置 |
DE102012211943A1 (de) * | 2012-07-09 | 2014-06-12 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Mikroskop |
WO2016067526A1 (en) * | 2014-10-30 | 2016-05-06 | Canon Kabushiki Kaisha | Nonlinear optical microscope and method for acquiring information |
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CN112230416B (zh) * | 2020-10-26 | 2023-03-10 | 琉明光电(常州)有限公司 | 一种基于微型晶粒的物镜检测系统方法和装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62121934A (ja) * | 1985-10-17 | 1987-06-03 | オプテイカル デイスク コ−ポレイシヨン | 集束装置 |
JPS62246009A (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 | Canon Inc | 自動焦点検出方法 |
JPS6329326A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスク装置 |
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Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62121934A (ja) * | 1985-10-17 | 1987-06-03 | オプテイカル デイスク コ−ポレイシヨン | 集束装置 |
JPS62246009A (ja) * | 1986-04-18 | 1987-10-27 | Canon Inc | 自動焦点検出方法 |
JPS6329326A (ja) * | 1986-07-23 | 1988-02-08 | Mitsubishi Electric Corp | 光デイスク装置 |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2017175783A1 (ja) | 2016-04-08 | 2017-10-12 | 株式会社Screenホールディングス | 底面位置検出装置、画像取得装置、底面位置検出方法および画像取得方法 |
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