JP4638184B2 - 積層電子部品の製造方法 - Google Patents

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本発明は、誘電体層と所定パターンの導体層とを組み合わせて構成されているコンデンサやインダクタ,フィルタ,回路基板等の積層電子部品の製造方法に関するものである。
従来より、コンデンサやインダクタ,フィルタ,回路基板等の積層電子部品を形成するのにセラミック材料が用いられている。
このような従来の積層電子部品として、例えば、所定の誘電率を有した複数個のセラミック層を、間に第1の内部電極と第2の内部電極とを交互に介在させて積層するとともに、該積層体の側面や主面に前記第1,第2の内部電極にそれぞれ電気的に接続される一対の外部電極を設けてなる積層セラミックコンデンサ等がよく知られている。かかる積層セラミックコンデンサは、一対の外部電極を介して第1の内部電極と第2の内部電極との間に所定の電圧を印加し、第1の内部電極−第2の内部電極間に配されているセラミック層に所定の静電容量を形成することによってコンデンサとして機能するようになっている。
また上述した積層セラミックコンデンサは以下の工程を経て製作される。
まず、所定のセラミック材料粉末に有機バインダ及び有機溶剤を添加・混合してスラリー状の無機組成物を作製し、これを従来周知のドクターブレード法等によって所定厚みのシートに成形加工してセラミックグリーンシートを形成する。
次に、得られたセラミックグリーンシートの主面に従来周知のスクリーン印刷等によってニッケル等の金属を主成分とする導体ペーストを所定パターンに印刷・塗布して導体パターンを形成し、これを複数枚、積み重ねることによってセラミックグリーンシートの積層体を形成する。
続いて、前記積層体を高温で焼成することによって導体ペーストを内部電極に、セラミックグリーンシートをセラミック層に成し、最後に、前記積層体の端面等に従来周知のディッピング法等によって導体ペーストを塗布し、これを焼き付けて外部電極を形成することによって積層セラミックコンデンサが製作される(例えば、特許文献1参照。)。
特開2000−243650号公報
ところで、近年、電子機器の小型化に伴い、電子部品の小型化が求められており、上述した積層セラミックコンデンサの場合、個々のセラミック層や内部電極を薄く形成し、さらには高積層化、高容量化するための種々の検討がなされている。
例えば、上述した従来の積層セラミックコンデンサにおいて、内部電極の厚みを薄くするには、内部電極の形成に使用されている導体ペースト中に含まれる金属粉末の平均粒径を、例えば、0.3μm程度に極めて小さくすることが重要とされている。
しかしながら、導体ペースト中に含まれている金属粉末の粒径を極めて小さくして、厚みの薄い内部電極を形成し、この内部電極の形成されたセラミック層を複数枚積層した場合でも、内部電極のある領域とない領域で厚み差が生じる。この厚みの差は、積層数が増えれば増えるほど増大して、デラミネーションや電極が湾曲してショートといった電気不良が生じることがある。
本発明は上記欠点に鑑み案出されたもので、その目的は、比較的容易に導体層のある領域とない領域の厚み差を解消し高積層型のセラミック電子部品を製作することができ、しかも導体層やセラミック層に変形やクラック等の不具合が生じるのを有効に防止することができる積層電子部品の製造方法を提供することにある。
本発明の積層電子部品の製造方法は、支持シートの一主面側に下地粘着層を介して導体パターンを形成する工程Aと、前記支持シートに対して、その一主面側より、前記導体パターン及び導体パターン間から露出する前記下地粘着層を被覆するようにして前記導体パターンと略同厚みの誘電体層を形成する工程Bと、前記導体パターンと対応し、縁部が前記導体パターンの縁部よりも外方に位置するように形成されている粘着パターンもしくは吸着パターンを有したフィルムを、前記粘着パターンもしくは前記吸着パターンが前記導体パターン上の前記誘電体層に接触するようにして前記支持シート上に配置させ、しかる後、前記フィルムを前記支持シートより引き離すことによって前記誘電体層のうち前記導体パターン上の部位を選択的に除去する工程Cと、前記支持シート上の前記導体パターン及び前記誘電体層の残部から成る複合層を複数積層することによって積層体を形成する工程Dと、前記積層体を熱処理することによって積層電子部品を得る工程Eと、を含むことを特徴とするものである。
本発明によれば、支持シートの一主面に導体パターンを形成し、この導体パターン及び胴体パターン間から露出する下地を被覆するように導体パターンと略同厚みの誘電体層を形成した後に、導体パターンと対応する粘着パターンもしくは吸着パターンを有したフィルムを、粘着パターンもしくは吸着パターンが導体パターン上の誘電体層に接触するように支持シート上に配置させ、フィルムを支持シートより引き離すことで、導体パターン上の導体パターンに対応する部位の誘電体層のみフィルムに転写するようにしたものであり、これによって支持シート上には導体パターンと誘電体層の残部とが間に大きな隙間を形成することなく略面一に形成されることとなる。従って、導体パターン及び誘電体層の残部から成る複合層を支持シートより剥離させ、かかる複合層間に誘電体層等を介して複数枚積層することによりセラミックグリーンシートの積層体を形成し、これを熱処理して積層電子部品を製作しても、デラミネーションや電極の湾曲による電気不良が生じるのを有効に防止することができ、信頼性及び生産性に優れた積層電子部品を得ることが可能となる。
以下、本発明を添付図面に基づいて詳細に説明する。
(第1実施形態)
図1は本発明の一実施形態に係る製造方法によって製作した積層電子部品としての積層セラミックコンデンサを示す断面図であり、同図に示す積層セラミックコンデンサ1は、大略的に、絶縁層2と、導体層としての内部電極3と、セラミック層4と、外部電極5とで構成されている。
積層セラミックコンデンサ1は、内部電極3と所定の誘電率を有したセラミック層4とを交互に積層して直方体形状の積層体を形成するとともに、該積層体の上下両面にセラミック層4と同一材料からなる絶縁層2を形成し、更に前記積層体の両端部に内部電極3と電気的に接続される外部電極5を被着・形成した構造を有している。
また、積層セラミックコンデンサ1の外形は、例えば、巾1.2mm、長さ2mm、高さ1.2mmの寸法にて形成され、セラミック層4や内部電極3の積層数は30層〜600層に設定される。
また、前記内部電極3の厚みは0.5μm〜2.0μm程度、またセラミック層4の厚みは1.0μm〜4.0μm程度に設定される。
これらセラミック層4の材質や厚み,積層数,内部電極3の対向面積等は、所望する静電容量の大きさによって適宜、決定される。
かかる積層セラミックコンデンサ1は、外部電極5を介して隣合う内部電極間3−3に所定の電圧を印加し、内部電極間3−3に配されているセラミック層4に所定の静電容量を形成することによってコンデンサとして機能する。
次に、上述した積層セラミックコンデンサの製造方法について図2〜図4を用いて説明する。ここで、図2(a)〜(c)は本発明の製造方法における工程1を説明するための断面図、図3(a)、(b)は本発明の製造方法における工程2を説明するための断面図、図4は本発明の製造方法における工程3を説明するための断面図である。尚、以下に述べる工程1〜3は各請求項における工程A〜Eと1対1に対応するものではない。
<工程1>
まず、図2(a)に示す如く、支持シート6の一主面に下地粘着層7を形成するとともに、導体パターン8が被着された支持体10を用意する。
前記支持シート6としては、例えば、厚み10μm〜100μmのポリエチレンテレフタレートフィルム(PETフィルム)、ポリエチレンナフタレート(PENフィルム)、ポリプロピレンフィルム(PPフィルム)等の硬質樹脂材料を用いることができる。
この支持シート6の一主面に形成される下地粘着層7は、従来周知のカーテンコート法やダイコート法により粘着剤を塗布し、しかる後、これを乾燥することにより形成され、その厚みは、例えば、0.005μm〜10μmに設定される。かかる下地粘着層7に用いられる粘着剤は、比較的低温で確実に熱分解される材料が好ましく、導体パターン8及び誘電体層9に付着した場合であっても焼成に際して熱分解する、例えば、アクリル系(溶剤系)、アクリルエマルジョン系(水系)、ブチラール系等の粘着剤(溶剤系)などが用いられ、これらの中でも剥離性の良好なアクリル系粘着剤を用いるのが特に好ましい。
さらに、下地粘着層7となる粘着剤は、乾燥後の粘着力が例えば、0.005N/cm〜1.0N/cm、また転写性の観点から0.01N/cm〜1.0N/cmのものを用いるのが好ましく、剥離性の観点からは、0.01N/cm〜0.2N/cmのものを用いることが好ましい。
一方、導体パターン8は、支持体10の主面に、例えば、電解メッキ及び無電解メッキにより析出された金属メッキ膜を所定のパターンにエッチング処理を施すことにより形成される。あるいは、支持体10の主面に所定の導体パターン8が得られるように、導体パターン8の形成領域以外にマスクをし、電解メッキを施すことによって導体パターン8を作製するようにしてもよいし、金属メッキ膜をイオンプレーテング、スパッタリング、化学蒸着等の薄膜形成法により作製してもよい。
なお、導体パターン8の材料としては、例えば、銅、ニッケル、クローム等の金属または、それらの金属を含む合金等が用いられる。
このようにして得られた導体パターン8を、図2(b)に示す如く、支持シート6の下地粘着層7が形成された面に付着させ、支持シート6の下地粘着層上に導体パターン8を形成する。
尚、導体パターン8は、上述した形成方法以外に、支持シート6の下地粘着層7に使用される粘着剤を離型剤に変更し、これを従来周知のダイコート法等によって塗布して離型層を形成した後に、この離型層の主面に従来周知のスクリーン印刷等によってニッケル等の金属を主成分とする導体ペーストを所定パターンに印刷するようにしても良い。離型剤としては、シリコーン樹脂またはフッ素樹脂を用いることができるが、離型性を有する樹脂であれば特に限定するものではない。
次に、図2(c)に示す如く、導体パターン8が形成された支持シート6の主面に、導体パターン8及び導体パターン間から露出する下地粘着層7を覆うようにしてセラミックスラリーを塗布し、しかる後、70℃〜85℃の温度で約30秒〜60秒間加熱し、セラミックスラリー中に存在する有機溶剤の多くを蒸発させることにより、誘電体層9を形成する。セラミックスラリーは、チタン酸バリウム、チタン酸カルシウム、チタン酸ストロンチウム等を主成分とする誘電体材料粉末に適当な有機溶剤、有機バインダ等を添加・混合して泥漿状となすことにより作製される。塗布するセラミックスラリーの厚みは、乾燥後に導体パターン8の厚みと略同厚みになるように調整する。
尚、誘電体層9を予め別個に形成しておき、これを導体パターン8及び導体パターン間から露出する下地を被覆するように載置させるようにしてもよい。この場合も、誘電体層9をその厚みが導体パターン8の厚みと略同厚みになるようにしておくことが重要である。
<工程2>
次に、導体パターン8と1対1に対応する粘着パターン12を有したフィルム11を用意する。フィルム11としては、例えば、ポリエチレンテレフタラート(PET)、ポリエチレンナフタレート(PEN)、ポリプロピレン等の硬質樹脂材料を用いることができる。
粘着パターン12を形成する粘着剤としては、例えば、エポキシ系、ポリウレタン系、メラミン系、ゴム系、アクリル系(溶剤系)、アクリルエマルジョン系(水系)、ブチラール系等の粘着剤を用いることができ、導体パターン8と誘電体層9の界面密着強度よりも高い粘着力があればよい。かかる粘着パターン12は、フィルム11の主面に従来周知のスクリーン印刷法等によって導体パターン8と対応するように前記材料からなる粘着剤を印刷することにより形成される。
まず、図3(a)に示す如く、このフィルム11に形成された粘着パターン12を導体パターン8の位置に合わせて支持シート上に配置し、しかる後、粘着パターン12と導体パターン8上の誘電体層9とを密着させ、次に、図3(b)に示すようにフィルム11を引き離すことにより、誘電体層9のうち導体パターン上の部位を選択的に除去する。
誘電体層9のうち導体パターン上の部位は、導体パターン8と誘電体層9との密着力が粘着パターン12と誘電体層9との密着力に比べて小さく設定されているので、フィルム11を引き離す際に、同時に導体パターン8から剥離され、誘電体層9のうち導体パターン上の部位が選択的に除去されることになる。一方、誘電体層9のうち導体パターン8の存在しない部位は、それと対応するフィルム11側の部位に粘着パターン12が形成されていないためフィルム11との間に密着力を生じることはなく、また、この部位の誘電体層9は、支持シート側に対しては密着力を有しているのでフィルム11を引き離した際、支持シート側に残存することになる。このようにして、誘電体層9の導体パターン上の部位とそれ以外の部位(下地粘着層上の部位)との境界部で破断が生じ、導体パターン間の間隙に誘電体層9の残部9’が形成され、支持シート6上には、導体パターン8と誘電体層9の残部9’とから成り、主面が略面一の複合層16が形成されることになる。
前記粘着パターン8を、導体パターン8よりも若干広くなるように、すなわち、粘着パターン12の淵部が導体パターン8の淵部よりも外方に位置するようにして形成すれば、フィルム11を引き離す際に、誘電体層9の破断が、導体パターン8の淵部よりも外側領域を起点として発生するため、導体パターン上に誘電体層9を残存させることなく、より確実に導体パターン上の誘電体層9を除去することができる。したがって、粘着パターン12は、導体パターン8よりも広くなして形成することが好ましい。具体的には、導体パターン8の存在しない領域から存在する領域にかけて誘電体層9の起伏が起こる起点と粘着パターン12の淵とが一致するように粘着パターン12を形成すると良い。
これによって、後述する工程3において、これら複合層を複数枚積層しても、導体パターン8の存在する部位と存在しない部位とで大きな厚みの差を生じることもなく、このような積層体を焼成して電子部品を製作した場合、内部電極の変形が抑制されて電気不良やデラミネーションの発生を有効に防止することができるようになる。
次に、図3(c)に示すごとく、この支持シート6上の導体パターン8及び誘電体層9の残部9’から成る複合層16を覆うように誘電体層9と同組成のセラミックスラリーを従来周知のダイコート法等により塗布し、乾燥させセラミック層4となる層形成誘電体層13を作製する。かかる層形成誘電体層13の作製方法はこれに限らず、セラミックスラリーをシート形成用樹脂フィルムの主面に従来周知のダイコート法等により塗布し、乾燥して得たセラミックグリーンシートを支持シート6上の導体パターン8及び誘電体層9に加熱圧着して、このシート形成用樹脂フィルムを剥離するようにして形成してもかまわない。また、このセラミックスラリーの組成は、誘電体層と同組成としたが、適時変更して用いてもよい。
<工程3>
次に、図4に示す如く、工程2で得た複合層16及び層形成誘電体層13を複数枚準備して、これらを相互に圧着・積層し、さらに絶縁層2となる無効層14を積層することにより積層体15を形成する。
このような積層体15は、例えば、60℃の温度で加熱しながら0.9MPaの圧力で仮圧着され、その後、従来周知の静水圧プレス等によって70℃の温度、50MPaの圧力で、複合層16及び層形成誘電体層13を積層してなる積層物を圧着させることによって形成される。
そして、このようにして得られた積層体15を所定形状に切断し、これらを高温で焼成する。
ここで重要なのは、積層体15の焼成温度を、導体パターン8を形成している金属の融点よりも低く、かつ該金属の再結晶温度よりも高い温度で焼成することであり、これによって層形成誘電体層13は積層セラミックコンデンサのセラミック層4となり、残部9’もセラミックスからなる層になり、導体パターン8は内部電極3となる。例えば、導体パターン8がニッケルから成る場合は、ニッケルの再結晶温度は500〜550℃で、ニッケルの融点は1450℃であるため、積層体の焼成は、例えば、1300℃の温度で行われる。
このように導体パターン8を形成する金属の融点より低い温度で焼成することにより、焼成時に導体パターン8が熔けて導体パターン8が分断されるといった不都合が確実に防止され、連続性に優れた内部電極3を形成することができる。
そして最後に、積層体の両端部に外部電極用の導体ペーストを塗布して焼成し、更にメッキ処理を施すことによって外部電極5が形成され、これによって製品としての積層セラミックコンデンサ1が完成する。
(第2実施形態)
次に本発明の第2実施形態に係る製造方法について図5を用いて説明する。尚、先に述べた第1実施形態と同様の工程については重複する説明を省略し、また、構成についても同一の参照符を付して重複する説明を省略することとする。
本実施形態が第1実施形態と異なる点は、導体パターン8上の誘電体層9の除去に吸着手段を用いるようにした点である。具体的には、まず導体パターン8と1対1に対応した多孔質膜から成る吸着パターン17を有するフィルム11を用意し、吸着パターン17と導体パターンとの位置を合わせた状態で、フィルム11をその主面が誘電体層9に接触するようにして支持シート上に配置させる。そして、フィルム11の他主面側から真空引き等によって吸引することにより、導体パターン上の誘電体層9をフィルム側に吸着させ、しかる後、前記フィルム11を支持シート6より引き離すことにより誘電体層9のうち導体パターン8上の部位を選択的に除去するものである。
フィルム11側に吸着した誘電体層9は、吸引を停止することによってフィルム11から簡単に除去できるため、このフィルム11は、導体パターン上の誘電体層9を除去するために再利用することができる。
また、吸着手段を有するフィルム11としては、図6に示す如く、多孔質板18の一主面側にマスク19を施して、導体パターン8と対応する箇所のみ多孔質板が露出するようにしてもよい。したがって、この場合は多孔質板18の一主面側の露出部が吸着パターン17となる。
尚、本発明は上述の実施形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更、改良等が可能である。
また上述した実施形態においては、積層セラミックコンデンサを製造する場合を例にとって説明したが、積層セラミックコンデンサ以外の電子部品、例えば、インダクタ,フィルタ,回路基板等の他の電子部品を製造する場合においても本発明が適用可能であることは言うまでもない。
本発明の第1実施形態に係る製造方法によって製作した電子部品としての積層セラミックコンデンサを示す断面図である。 (a)〜(c)は、本発明の第1実施形態の製造方法における工程1を模式的に示す断面図である。 (a)〜(c)は、本発明の第1実施形態の製造方法における工程2を模式的に示す断面図である。 本発明の第1実施形態の製造方法における工程3を模式的に示す断面図である。 (a)、(b)は、本発明の第2実施形態の製造方法を模式的に示す断面図である。 (a)、(b)は、本発明の第2実施形態の製造方法の他の実施例を模式的に示す断面図である。
符号の説明
1・・・・積層セラミックコンデンサ(電子部品)
2・・・・絶縁層
3・・・・内部電極
4・・・・セラミック層
5・・・・外部電極
6・・・・支持シート
7・・・・下地粘着層
8・・・・導体パターン
9・・・・誘電体層
9’・・・残部
10・・・支持体
11・・・フィルム
12・・・粘着パターン
13・・・層形成誘電体層
14・・・無効層
15・・・積層体
16・・・マスクフィルム
17・・・吸着パターン

Claims (1)

  1. 支持シートの一主面側に下地粘着層を介して導体パターンを形成する工程Aと、
    前記支持シートに対して、その一主面側より、前記導体パターン及び導体パターン間から露出する前記下地粘着層を被覆するようにして前記導体パターンと略同厚みの誘電体層を形成する工程Bと、
    前記導体パターンと対応し、縁部が前記導体パターンの縁部よりも外方に位置するように形成されている粘着パターンもしくは吸着パターンを有したフィルムを、前記粘着パターンもしくは前記吸着パターンが前記導体パターン上の前記誘電体層に接触するようにして前記支持シート上に配置させ、しかる後、前記フィルムを前記支持シートより引き離すことによって前記誘電体層のうち前記導体パターン上の部位を選択的に除去する工程Cと、
    前記支持シート上の前記導体パターン及び前記誘電体層の残部から成る複合層を複数積層することによって積層体を形成する工程Dと、
    前記積層体を熱処理することによって積層電子部品を得る工程Eと、を含む積層電子部品の製造方法。
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