JP4629177B2 - 測定対象の位相ノイズの測定装置 - Google Patents
測定対象の位相ノイズの測定装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4629177B2 JP4629177B2 JP2000009128A JP2000009128A JP4629177B2 JP 4629177 B2 JP4629177 B2 JP 4629177B2 JP 2000009128 A JP2000009128 A JP 2000009128A JP 2000009128 A JP2000009128 A JP 2000009128A JP 4629177 B2 JP4629177 B2 JP 4629177B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- level
- output
- frequency
- oscillator
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/26—Measuring noise figure; Measuring signal-to-noise ratio
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R23/00—Arrangements for measuring frequencies; Arrangements for analysing frequency spectra
- G01R23/16—Spectrum analysis; Fourier analysis
- G01R23/20—Measurement of non-linear distortion
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Mathematical Physics (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、独立請求項の前文部による測定対象(test specimen)の位相ノイズ(phase noise)の測定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
スペクトラム・アナライザ(spectrum analizer)を用いる測定対象の信号の位相ノイズ測定においては、スペクトラム・アナライザの混合発振器(mixing oscillators)の位相ノイズが、測定対象の位相ノイズに加えられる。したがって、測定対象は、それらの信号対ノイズ比がスペクトラム・アナライザについてのものより少なくとも5dB悪い場合にのみ、正しく測定されることができる(Ulrich Rohdeによる「マイクロ波およびワイヤレス・シンセサイザ(Microwave and Wireless Synthesizers)」第2.8.2章)。
【0003】
この不利益を避けるため、2つの同一の測定対象を構成し、そしてこれらを0Hzで混合器で混合するということが知られている( Ulrich Rohde、第2.8.5章)。このプロセスを用いると、測定対象の実際の搬送波(carrier)は、消失し、そしてノイズ側波帯(noise sidebands)のみが測定されるが、スペクトラム・アナライザ自体の位相ノイズは含まれていない。この周知のプロセスの不利益は、2つの同一の測定対象が存在しなければならないことである。
【0004】
搬送波を抑制するために、専門のいわゆるノッチ・フィルタ(notch filters)を用いることも知られているが、しかしながら、それは高品質のものでなければならない。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、位相ノイズが、スペクトラム・アナライザのノイズ特性と比べて、比較的良好なノイズ特性を有する測定対象のものでさえも、スペクトラム・アナライザで測定されることのできる、構造的に複雑ではない装置を提供することである。
【0006】
【課題を解決するための手段】
この目的は、主要請求項の前文部に説明されるような装置について、その特徴とされ、請求の範囲に記載された主要点によって満たされる。有利となるよういっそう良くしたものが、従属請求項に説明されている。
【0007】
本発明の請求項1に記載の位相ノイズの測定装置は、
[請求項1] 測定分枝が、複数の直列に接続されるヘテロダイン・ステージを有し、各々の前記ヘテロダイン・ステージがそれぞれの混合器(3,6,9)、混合発振器(4,7,10)および中間周波数フィルタ(5,8,11)を有するところの、スペクトラム・アナライザを用いる、測定対象(28)の位相ノイズを含む出力信号の位相ノイズの測定装置であって、
補償発生器が、測定分枝のヘテロダイン・ステージに反対の順序で配列される、複数の直列に接続されるヘテロダイン・ステージ(10,18,19;7,15,16;4,29,13)からなり、
また測定分枝の最後の中間周波数に対応し、かつその出力信号が、測定対象(28)の出力信号に、それに等価のレベルでかつ反対の位相で、測定分枝の入力(1)に直列に接続される加算器ステージ(27)において加算される、低いノイズを有するように構築された、入力発振器(21)を有し、
位相における信号対ノイズ比は、補償発生器を遮断して測定される、補償なしの入力信号のレベルと、測定対象(28)の出力信号と補償発生器の出力信号との和信号に基づいて測定されるノイズ−パワー密度との、間の差異から決定される
ことを特徴とする。
【0008】
本発明の請求項2に記載の位相ノイズの測定装置は、さらに、
前記補償発生器の前記出力信号のレベルが、前記加算器ステージ(27)へと送出され、前記測定分枝の出力レベルに依存する制御素子(22)によって、前記測定対象(28)の前記出力信号のレベルと等価なレベルに調整される、
ことを特徴とする。
【0009】
本発明の請求項3に記載の位相ノイズの測定装置は、さらに、
前記補償発生器の前記入力発振器(21)の周波数が、前記測定分枝の前記出力レベルに依存して、その測定分枝の出力レベルが所定の小さな値(制御回路23,24,25)を有するように規制される、
ことを特徴とする。
【0010】
本発明の請求項4に記載の位相ノイズの測定装置は、さらに、
前記補償発生器の前記入力発振器(21)の周波数が調整可能である、
ことを特徴とする。
【0011】
【発明の実施の形態】
本発明の原理によると、測定対象の搬送波は、測定対象の出力信号を補償発生器(compensation generator)の出力信号に加えることによって、所定の小さな搬送波残余(carrier remainder)にまで強く抑制され、その発生器は、トラッキング発生器(tracking generator)の様式に構築され、これによって側波帯ノイズに影響を与えないものとされる。このように、ノイズに関して良好な発振器が、比較的粗末なスペクトラム・アナライザを用いて正確に測定されることができる。補償発生器の出力信号を作り出すことは、いわゆるトラッキング発生器について知られているとおり、全く複雑ではない経済的なやり方で達成される。搬送波の抑制に用いられる等価であるが反対の位相の補償信号は、それ自体が位相ノイズには貢献しない;補償発生器の追加の入力発振器の位相ノイズのみが影響を有する。しかしながら、低い周波数の故に、この入力発振器は、大きな費用をかけることなく低ノイズで構築されることができる。
【0012】
《実施例1》
本発明は、概略図に示される代表例の実施例を用いて以下により詳細に記述される。
図には、測定分枝(measuring branch)において三重の周波数変換を有する従来のスペクトラム・アナライザの回路図が示されている。測定分枝の入力1には、低域フィルタ2および、第1の混合器3が続いており、それは、第1の周波数調整可能な混合、局部、発振器4を用いて、入力信号を第1の中間周波数(intermediate frequency)(IF)へと変換する。この第1のIFは、中間周波数帯域フィルタ5を経て第2の混合器6へと送出され、そこでそれは、一定周波数を有する第2の混合発振器7によって第2の中間周波数へと変換される。さらなる中間周波数フィルタ8を通過した後、第2のIFが第3の混合器9へと送出され、そこではその第2の中間周波数信号は、固定周波数の第3の混合発振器10によって出力中間周波数IFへと変換される。これは、第3の中間周波数帯域フィルタ11で濾過され、そしてアナログ/デジタル(A/D)変換器(analog−to−digital converter)12へと送出され、そしてデジタル化された出力信号が、プロセッサ20で評価される。A/D変換器からサンプルされるデジタルの第4の、測定分枝からの出力信号は、プロセッサ20において、例えば、周波数およびレベルについてFFT「Fast Fourier transform:高速フーリェ変換」アルゴリズムで評価される。図において与えられている周波数値とともに示される実施例では、出力IFは、20MHzである。
【0013】
補償発生器は、スペクトラム・アナライザのこの実際の測定分枝に並列に、周知のトラッキング発生器の様式で、反対の順序でかつ直列に配列された混合器19,16,および13をそれらの間に接続される中間周波数フィルタ18,15,および12とともに含めて構築される。混合器は、測定分枝の同じ混合発振器10,7,および4によって再度供給される。入力発振器21は、レベル制御部22を経て第1の混合器19に接続されるこの補償発生器の入力に、ある。入力発振器21は、比較的低費用で非常に低いノイズを有するように構築されることができる。その出力周波数は常態では、測定分枝の出力IFと同じで、例えば20MHzである。制御素子22は、プロセッサ20によって調整可能である。入力発振器21の周波数または位相は、出力IFの出力レベルに依存して、積分制御回路(integrating control circuit)23によって規制される。出力IFのレベルは、ダイオード24によって整流され、そして所定のレベル値に、すなわち、以下により詳細に記述されるように、デジタル/アナログ(D/A)変換器(digital−to−analog converter)25によって変換される、プロセッサ20を介して特定されるレベルに、制御される。
【0014】
補償発生器の出力信号は、出力26で加算器ステージ(adder stage)27へと送出され、そして実際は、位相ノイズについて測定される測定対象28の出力信号と一緒に、加算器27の出力で和信号(sum signal)が測定分枝の入力1へと送出される。
【0015】
示されている構成において、補償発生器における入力発振器21の20MHzの周波数は、続いて全ての局部発振器と混合され、それによって、測定分枝のしばらくの間設定される受信周波数(momentarily set received frequency)に対応し、すなわち、測定対象28の出力周波数に対応する出力信号を作り出す。レベルは、制御素子22を介して、それが測定対象28の測定信号のレベルと一致するように調整される。補償発生器分枝におけるフィルタは、一つの信号のみが発生され、および好ましくないイメージ周波数(image frequencies)が濾過して取り除かれることを、保証する。
【0016】
ダイオード24の出力信号は、補償発生器の周波数と測定対象28の出力周波数との間の位相変位(phase displacement)を測定したもの(measure)である。入力発振器21の周波数または位相は、積分器制御回路(integrator control circuit)23によって、出力IFのレベルがD/A変換器25によって特定されるレベルと一致するように規制される。この規制は、あるレベルまでのみ機能し、より大きなレベルの抑制では、制御するのに利用できる出力IF信号はないであろう。測定分枝における搬送波のおよそ20から30dBの抑制は、一般に測定のために十分である。このように、プロセッサ20およびD/A変換器25を介しておよそ−30dBのレベルを特定することで十分である。もちろん、抑制は、加算器27において加算される2つの信号の振幅の同一性にもまた依存するので、補償発生器のレベルを制御要素22を用いてできる限り正確に調整することが必要である。
【0017】
本発明の理解のために、具体的な数値を用いて、実施例のひとつを説明する。以下の説明は、発明の理解のためのものであって、本発明の技術的範囲を限定するものではない。
概略図に示す実施例においては、例えば、第2の混合発振器7の発振周波数f2を3GHz、第3の混合発振器10の発振周波数f3を480MHz、入力発振器21の発振周波数f4を20MHzに設定する。
測定対象の周波数fsを1GHzとすると、位相ノイズの測定装置のユーザは、第1の周波数調整可能な混合、局部、発振器4の周波数f1を、f1=fs+f2+f3+f4=4.5GHzに調整する。この調整は、完全なものでなくても良い。
【0018】
測定分枝において、加算器ステージ27は、周波数fsの測定対象と、周波数f6の補償発生器の出力信号と、を出力する。上述のように、補償発生器の出力信号f6は、測定対象と、同じ周波数で反対の位相の信号である。
第1の混合器3の出力信号は、第1の周波数調整可能な混合、局部、発振器4の発振周波数f1と、測定対象の周波数fsと、の差の信号(f1−fs=4.5GHz−1GHz=3.5GHz)である、第1の中間周波数信号を含む。3.5GHzの帯域フィルタである中間周波数帯域フィルタ5は、第1の中間周波数信号(f1−fs)のみを出力する。
第2の混合器6の出力信号は、第2の混合発振器7の発振周波数f2と、第1の中間周波数信号(f1−fs)と、の差の信号(f1−fs−f2=3.5GHz−3GHz=500MHz)である、第2の中間周波数信号を含む。500MHzの帯域フィルタである中間周波数フィルタ8は、第2の中間周波数信号(f1−fs−f2)のみを出力する。
第3の混合器9の出力信号は、第3の混合発振器10の発振周波数f3と、第2の中間周波数信号(f1−fs−f2)と、の差の信号(f1−fs−f2−f3=500MHz−480MHz=20MHz)である、出力中間周波数信号を含む。20MHzの帯域フィルタである中間周波数帯域フィルタ11は、出力中間周波数信号(f1−fs−f2−f3)のみを出力する。
【0019】
入力発振器21は、周波数f4(20MHz)の信号を出力する。入力発振器21は、例えば、位相ノイズの極めて小さい安定な水晶発振器である。例えば測定対象の周波数が2GHzである場合、入力発振器21の発振周波数f5=20MHzは、測定対象の周波数の1/100である。両者の信号が同じ周波数比率の位相ノイズを有する場合には、入力発振器21の位相ノイズの絶対値は、測定対象のそれの1/100になる。
又、入力発振器21の発振周波数は、積分制御回路23により、調整することが出来る。プロセッサ20は、デジタル/アナログ変換器25及び積分制御回路23を通じて、補償発生器の出力信号が、測定対象と較べて、ほぼ同じ周波数と反対の位相を有するように、入力発振器21の発振周波数f5の微細な制御を行う。
プロセッサ20は、補償発生器が、測定対象とほぼ同じ値の振幅を有するように、レベル制御部22を制御する。
それらは、アナログ/デジタル変換器12の出力レベルが最小になるように、入力発振器21とレベル制御部22を調整することで、達成される。
【0020】
補償発生器において、第1の混合器19の出力信号は、入力発振器21の発振周波数f5と、第3の混合発振器10の発振周波数f3と、の和の信号(f5+f3=20MHz+480MHz=500MHz。第1の和の信号という。)を含む。0.5GHzの帯域フィルタである中間周波数帯域フィルタ18は、第1の和の信号(f5+f3)のみを出力する。
第2の混合器16の出力信号は、第1の和の信号(f5+f3)と、第2の混合発振器7の発振周波数f2と、の和の信号(f5+f3+f2=500MHz+3GHz=3.5GHz。第2の和の信号という。)を含む。3.5GHzの帯域フィルタである中間周波数帯域フィルタ15は、第2の和の信号(f5+f3+f2)のみを出力する。
第3の混合器13の出力信号は、第2の和の信号(f5+f3+f2)と、第1の混合発振器4の発振周波数f1と、の差の信号(f1−(f5+f3+f2)=4.5GHz−3.5GHz=1GHz)を含む。3GHzの低域フィルタ12は、上記の差の信号(f1−(f5+f3+f2))=f6のみを出力する。
【0021】
出力中間周波数信号(f1−fs−f2−f3)に含まれる補償発生器の出力信号f6による周波数成分f7は、(f1−f6−f2−f3)として、表される。
f6=f1−(f5+f3+f2)であるから、上記の周波数成分f7は、
となる。入力発振器21の出力信号(f5)は、3つの混合発振器により変調されて、測定対象と加算される。しかし、上記の式は、f5(20MHz)の周波数成分のみが、出力中間周波数IFに含まれることを、示す。
【0022】
本発明の装置において、同じレベルを有しかつ反対の位相の補償発生器の補償信号は、このように測定対象28の測定されるべき信号へと送出され、その周波数にスペクトラム・アナライザの測定分枝が調整される;2つの信号の間の相対位相変位の故に、搬送波は強く抑制されることができ、また、和信号は、ほんの小さな搬送波残余と測定対象の側波帯ノイズのみを含む。補償発生器は、側波帯ノイズを供給するものではなく、というのもそれは、スペクトラム・アナライザの測定分枝のそれと相互に関係するノイズを発するからである。搬送波残余の低レベルの故に、スペクトラム・アナライザの混合発振器は、同じく、出力での混合IF信号に容易に感知されるような寄与を送っていない。本質的には、入力信号の位相ノイズのみが出力IFで混合されており、それは、ノイズ−パワー密度(noise−power density)としてそこで測定されることができる。前もって必要なのは、スペクトラム・アナライザのなおも十分に低いノイズのレベルのみであって、もはや可能な表示ダイナミック(display dynamic)ではない。実際の測定は、FFTの助けで周知のやり方で最も迅速に行われる。位相信号対ノイズ比は、補償発生器を遮断して測定される、補償なしの入力信号のレベルと、より感度をよく調整し、かつ搬送波を抑制して測定されるノイズ−パワー密度との間の差異から決定される。
【0023】
多くの場合、位相ノイズの測定は、搬送波からのより大きな間隔で、例えば±5MHzの間隔で望まれる。これは、測定対象28の出力周波数と比較された補償発生器の出力周波数を、対応して変位させることにより、容易に可能とされる。これは、補償発生器の入力発振器21の適切な調整によって達成されることができる。これが、例えば30MHzに調整され、かつ実際のスペクトラム・アナライザが、測定されるべき測定対象28の出力信号より10MHz低い入力周波数に調整されるならば、位相ノイズは、このように搬送波からの記述された横方への変位において送信される。ダイオード24が十分に広帯域のものであって、それで30MHzで信号を測定するものであることのみが重要である。
【0024】
【発明の効果】
本発明は、位相ノイズが、スペクトラム・アナライザのノイズ特性と比べて、比較的良好なノイズ特性を有する測定対象のものでさえも、スペクトラム・アナライザで測定されることのできる、構造的に複雑ではない装置を提供する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の位相ノイズの測定装置のブロック図
【符号の説明】
2 3GHzの低域フィルタ
3 第1のミキサ
4 第1の混合発振器
5 3.5GHzの帯域フィルタ
6 第2のミキサ
7 第2の混合発振器
8 0.5GHzの帯域フィルタ
9 第3のミキサ
10 第3の混合発振器
11 20MHz帯域フィルタ
12 A/D変換器
15 3.5GHzの帯域フィルタ
18 0.5GHzの帯域フィルタ
20 プロセッサ
21 20MHzの入力発振器
22 レベル制御部
23 積分制御回路
24 ダイオード
25 D/A変換器
27 加算器
28 測定対象
29 3GHzの低域フィルタ
Claims (4)
- 測定分枝が、複数の直列に接続されるヘテロダイン・ステージを有し、各々の前記ヘテロダイン・ステージがそれぞれの混合器(3,6,9)、混合発振器(4,7,10)および中間周波数フィルタ(5,8,11)を有するところの、スペクトラム・アナライザを用いる、測定対象(28)の位相ノイズを含む出力信号の位相ノイズの測定装置であって、
補償発生器が、測定分枝のヘテロダイン・ステージに反対の順序で配列される、複数の直列に接続されるヘテロダイン・ステージ(10,18,19;7,15,16;4,29,13)からなり、
また測定分枝の最後の中間周波数に対応し、かつその出力信号が、測定対象(28)の出力信号に、それに等価のレベルでかつ反対の位相で、測定分枝の入力(1)に直列に接続される加算器ステージ(27)において加算される、低いノイズを有するように構築された、入力発振器(21)を有し、
位相における信号対ノイズ比は、補償発生器を遮断して測定される、補償なしの入力信号のレベルと、測定対象(28)の出力信号と補償発生器の出力信号との和信号に基づいて測定されるノイズ−パワー密度との、間の差異から決定される
ことを特徴とする前記装置。 - 前記補償発生器の前記出力信号のレベルが、前記加算器ステージ(27)へと送出され、前記測定分枝の出力レベルに依存する制御素子(22)によって、前記測定対象(28)の前記出力信号のレベルと等価なレベルに調整される、
ことを特徴とする請求項1に記載の装置。 - 前記補償発生器の前記入力発振器(21)の周波数が、前記測定分枝の前記出力レベルに依存して、その測定分枝の出力レベルが所定の小さな値(制御回路23,24,25)を有するように規制される、
ことを特徴とする請求項1または2に記載の装置。 - 前記補償発生器の前記入力発振器(21)の周波数が調整可能である、
ことを特徴とする請求項1から請求項3のいずれか1つの請求項に記載の装置。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19901750A DE19901750B4 (de) | 1999-01-18 | 1999-01-18 | Anordnung zum Messen des Phasenrauschens des Ausgangssignals eines Meßobjektes |
DE19901750.6 | 1999-01-18 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000206165A JP2000206165A (ja) | 2000-07-28 |
JP4629177B2 true JP4629177B2 (ja) | 2011-02-09 |
Family
ID=7894598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000009128A Expired - Fee Related JP4629177B2 (ja) | 1999-01-18 | 2000-01-18 | 測定対象の位相ノイズの測定装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6313619B1 (ja) |
JP (1) | JP4629177B2 (ja) |
DE (1) | DE19901750B4 (ja) |
Families Citing this family (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7035324B2 (en) * | 2001-08-01 | 2006-04-25 | Agilent Technologies, Inc. | Phase-noise measurement with compensation for phase noise contributed by spectrum analyzer |
US6756854B2 (en) * | 2002-10-31 | 2004-06-29 | Aeroflex Powell, Inc. | Digitally controlled angle noise signal generator |
US6980915B2 (en) * | 2004-03-23 | 2005-12-27 | Agilent Technologies, Inc. | Phase noise compensation for spectral measurements |
DE102004037577A1 (de) * | 2004-08-03 | 2006-03-16 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co. Kg | Verfahren zum Messen des Phasenrauschens eines Hochfrequenzsignals und Meßgerät zum Ausführen dieses Verfahrens |
US7124043B2 (en) * | 2004-09-20 | 2006-10-17 | Guzik Technical Enterprises | Spectrum analyzer with phase noise compensation |
US7634236B2 (en) * | 2006-11-15 | 2009-12-15 | Northrop Grumman Corporation | Controlled signal-to-noise ratio generator circuit |
CN102928664A (zh) * | 2012-11-01 | 2013-02-13 | 南京国睿安泰信科技股份有限公司 | 逐点锁相实现频谱仪全频段扫描的系统 |
CN110687362A (zh) * | 2019-11-07 | 2020-01-14 | 南京国睿安泰信科技股份有限公司 | 一种实时相噪测试方法 |
Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04350576A (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 付加位相雑音測定方法および装置 |
JPH06343010A (ja) * | 1993-06-01 | 1994-12-13 | Toshiba Corp | 乗算装置 |
JPH0875808A (ja) * | 1994-05-20 | 1996-03-22 | Hewlett Packard Co <Hp> | 両側波帯測定から単側波帯雑音指数を求めるための装置及び方法 |
JPH08146062A (ja) * | 1994-11-24 | 1996-06-07 | Advantest Corp | 位相ジッタ解析装置 |
JPH08204772A (ja) * | 1995-01-24 | 1996-08-09 | Kokusai Electric Co Ltd | 直交変調回路 |
JPH09119957A (ja) * | 1995-06-06 | 1997-05-06 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | ノイズ測定検査システム |
JPH10501061A (ja) * | 1994-05-25 | 1998-01-27 | ポセイドン・サイエンティフィック・インストルメンツ・プロプライエタリー・リミテッド | 位相雑音検出器 |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5822708B2 (ja) * | 1978-02-27 | 1983-05-10 | タケダ理研工業株式会社 | 電界強度測定装置 |
US4780667A (en) * | 1985-06-25 | 1988-10-25 | Hewlett-Packard Company | Magnetostatic wave delay line discriminator with automatic quadrature setting and automatic calibration |
GB2179458B (en) * | 1985-08-23 | 1988-11-09 | Ferranti Plc | Microwave noise measuring apparatus |
FR2647221B1 (fr) * | 1989-05-19 | 1991-08-16 | Thomson Csf | Chaine de mesure de la caracteristique de bruit de phase additif d'un composant au voisinage d'une frequence porteuse |
US5059927A (en) * | 1989-08-28 | 1991-10-22 | Ail Systems, Inc. | Microwave oscillator with reduced phase noise |
US5442593A (en) * | 1993-04-16 | 1995-08-15 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Apparatus and method of nulling discrete frequency noise signals |
-
1999
- 1999-01-18 DE DE19901750A patent/DE19901750B4/de not_active Expired - Fee Related
-
2000
- 2000-01-04 US US09/477,408 patent/US6313619B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2000-01-18 JP JP2000009128A patent/JP4629177B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04350576A (ja) * | 1991-05-27 | 1992-12-04 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 付加位相雑音測定方法および装置 |
JPH06343010A (ja) * | 1993-06-01 | 1994-12-13 | Toshiba Corp | 乗算装置 |
JPH0875808A (ja) * | 1994-05-20 | 1996-03-22 | Hewlett Packard Co <Hp> | 両側波帯測定から単側波帯雑音指数を求めるための装置及び方法 |
JPH10501061A (ja) * | 1994-05-25 | 1998-01-27 | ポセイドン・サイエンティフィック・インストルメンツ・プロプライエタリー・リミテッド | 位相雑音検出器 |
JPH08146062A (ja) * | 1994-11-24 | 1996-06-07 | Advantest Corp | 位相ジッタ解析装置 |
JPH08204772A (ja) * | 1995-01-24 | 1996-08-09 | Kokusai Electric Co Ltd | 直交変調回路 |
JPH09119957A (ja) * | 1995-06-06 | 1997-05-06 | He Holdings Inc Dba Hughes Electron | ノイズ測定検査システム |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6313619B1 (en) | 2001-11-06 |
JP2000206165A (ja) | 2000-07-28 |
DE19901750A1 (de) | 2000-07-20 |
DE19901750B4 (de) | 2006-04-13 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US6340883B1 (en) | Wide band IQ splitting apparatus and calibration method therefor with balanced amplitude and phase between I and Q | |
US8145166B2 (en) | Enhanced programmable automatic level control | |
US8224269B2 (en) | Vector modulator calibration system | |
US10571500B2 (en) | Electronic arrangement and vector network analyzer characterized by reduced phase noise | |
JP3850448B2 (ja) | カルテシアン増幅器を備えた回路装置 | |
US7313492B2 (en) | Method and device for increasing the dynamic range and measuring accuracy of a measuring device for spectrum and/or network analysis | |
JP4629177B2 (ja) | 測定対象の位相ノイズの測定装置 | |
US20070185947A1 (en) | Frequency synthesizer | |
US6480006B1 (en) | Method for measuring phase noise using a low noise synthesizer | |
US7747403B2 (en) | Method for measuring the phase jitter of a high-frequency signal and a measuring device for the implementation of this method | |
GB2332748A (en) | Determining the transmission function of a measurement apparatus e.g. a spectrum analyser | |
CN1996759A (zh) | 频率合成器 | |
US20050267716A1 (en) | System and method for generating and measuring noise parameters | |
US3781669A (en) | System for measuring amplitude and phase distortion | |
JP5956383B2 (ja) | Pllシンセサイザ、それを用いた信号分析装置及び信号発生装置、並びに校正方法 | |
JP4376751B2 (ja) | トラッキング発生器及び試験信号発生方法 | |
US6782246B1 (en) | Method for producing a test signal | |
JP4036636B2 (ja) | 一巡利得を補償する機能を備えたフェーズ・ロックド・ループ発振装置 | |
US8760176B2 (en) | Methods and systems for production testing of DCO capacitors | |
Hati et al. | A simple optimization method for generating high-purity amplitude and phase modulation | |
US11095376B1 (en) | System and method for measuring residual phase noise of a frequency mixer | |
SU277939A1 (ru) | Устройство для автоматического измерения номера используемой гармоникй гетеродина | |
JP2505653Y2 (ja) | 周波数特性測定装置 | |
SU1019361A1 (ru) | Устройство дл регулировки амплитуды и фазы переменного напр жени в компенсационных измерител х напр жени | |
JP2019087772A (ja) | 発振回路、それを用いた信号発生装置及び信号分析装置、並びにテーブル更新方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20060815 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060815 |
|
RD12 | Notification of acceptance of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7432 Effective date: 20060815 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20060815 |
|
RD13 | Notification of appointment of power of sub attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7433 Effective date: 20090205 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20090206 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090407 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090707 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100601 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100901 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20101102 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20101111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131119 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100901 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |