JPH04350576A - 付加位相雑音測定方法および装置 - Google Patents
付加位相雑音測定方法および装置Info
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- JPH04350576A JPH04350576A JP15119091A JP15119091A JPH04350576A JP H04350576 A JPH04350576 A JP H04350576A JP 15119091 A JP15119091 A JP 15119091A JP 15119091 A JP15119091 A JP 15119091A JP H04350576 A JPH04350576 A JP H04350576A
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims abstract description 17
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 69
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 45
- 239000000654 additive Substances 0.000 claims description 18
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 claims description 18
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims description 11
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 9
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- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は２ポートデバイスの試験
に利用する。特に、入力と出力とで周波数が異なる回路
の付加位相雑音の測定に関する。
に利用する。特に、入力と出力とで周波数が異なる回路
の付加位相雑音の測定に関する。
【０００２】本明細書において「２ポートデバイス」と
は、増幅器、分周器、ミキサ、逓倍器、位相同期ループ
発振器など、一つの入力に対して一つの出力が得られる
電気回路または電子回路をいう。
は、増幅器、分周器、ミキサ、逓倍器、位相同期ループ
発振器など、一つの入力に対して一つの出力が得られる
電気回路または電子回路をいう。
【０００３】
【従来の技術】図４および図５は従来の付加位相雑音測
定方法を示す図であり、図４は入力と出力との周波数が
同じ場合、図５は双方の周波数が異なる場合を示す。
定方法を示す図であり、図４は入力と出力との周波数が
同じ場合、図５は双方の周波数が異なる場合を示す。
【０００４】増幅器などの入力と出力とで周波数が同じ
回路について測定する場合には、信号源１の出力信号を
パワースプリッタ２で分岐し、その一方を被測定回路１
００に入力し、他方を９０°移相器３に入力する。さら
に、被測定回路１００の出力と９０°移相器３の出力と
を位相検波器４に入力し、その出力を低域通過フィルタ
５に通してスペクトラムアナライザ６によりパワースペ
クトラムを観測する。
回路について測定する場合には、信号源１の出力信号を
パワースプリッタ２で分岐し、その一方を被測定回路１
００に入力し、他方を９０°移相器３に入力する。さら
に、被測定回路１００の出力と９０°移相器３の出力と
を位相検波器４に入力し、その出力を低域通過フィルタ
５に通してスペクトラムアナライザ６によりパワースペ
クトラムを観測する。
【０００５】分周器、ミキサ、逓倍器、位相同期ループ
発振器など、入力と出力とで周波数が異なる回路の場合
には、９０°移相器３の前段にも同等の回路を挿入する
。すなわち、パワースプリッタ２で分岐された信号の一
方を被測定回路１００−１に入力し、他方をこの被測定
回路１００−１と同等の被測定回路１００−２を介して
９０°移相器３に入力する。被測定回路１００−１の出
力と９０°移相器３の出力とは、位相検波器４に入力さ
れ、低域通過フィルタ５を介してスペクトラムアナライ
ザ６に供給される。
発振器など、入力と出力とで周波数が異なる回路の場合
には、９０°移相器３の前段にも同等の回路を挿入する
。すなわち、パワースプリッタ２で分岐された信号の一
方を被測定回路１００−１に入力し、他方をこの被測定
回路１００−１と同等の被測定回路１００−２を介して
９０°移相器３に入力する。被測定回路１００−１の出
力と９０°移相器３の出力とは、位相検波器４に入力さ
れ、低域通過フィルタ５を介してスペクトラムアナライ
ザ６に供給される。
【０００６】ここで、入力と出力との周波数が同じ場合
について説明する。信号源１の出力信号Ａ（ｔ） を
Ａ（ｔ） ＝Ａｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ
））
……（１）とする。Ａとωは振幅と角周波数であり
、φＲＥＦ，ｎ（ｔ）は信号の位相雑音、すなわちジッ
タである。被測定回路１００は入力と出力とで周波数が
同じであるから、その出力信号は、 Ｂ（ｔ） ＝Ｂｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（
ｔ）＋φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
……（２）となる。Ｂは振幅、φＤＵＴ，ｎ（ｔ）は
被測定回路１００で付加される位相雑音である。９０°
位相器３の出力信号は、そこで付加される位相雑音を無
視すると、 Ｃ（ｔ） ＝Ｃｓｉｎ（ωｔ＋φＲ
ＥＦ，ｎ（ｔ）＋９０°） ＝Ｃ
ｃｏｓ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ））
……（３）となる
。位相検波器４は乗算器であり、その出力は、
Ｄ（ｔ） ＝Ｂｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ）＋φ
ＤＵＴ，ｎ（ｔ）） ×Ｃｃ
ｏｓ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ））
＝（ＢＣ／２）ｓｉｎ（２ωｔ＋２φＲＥＦ，ｎ（
ｔ）＋φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
＋（ＢＣ／２）ｓｉｎ（φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
……（４）となる。 この式の第１項は高周波成分であり、低域通過フィルタ
５により除去される。また、φＤＵＴ，ｎ（ｔ）は微小
であることから、 Ｄ（ｔ） ≒（ＢＣ／２）φＤＵＴ，ｎ（ｔ）
……（５）となる。この電圧をスペクトラムアナライ
ザ６に入力することによって、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ，ｎ（ｆｍ）〕２
……（６）なるパワースペクトラムが得られる
。ただし、ΦＤＵＴ，ｎ（ｆｍ）はφＤＵＴ，ｎ（ｔ）
のフーリエ展開である。すなわち、信号源１の位相雑音
は相殺され、被測定回路１００の位相雑音だけを測定で
きる。
について説明する。信号源１の出力信号Ａ（ｔ） を
Ａ（ｔ） ＝Ａｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ
））
……（１）とする。Ａとωは振幅と角周波数であり
、φＲＥＦ，ｎ（ｔ）は信号の位相雑音、すなわちジッ
タである。被測定回路１００は入力と出力とで周波数が
同じであるから、その出力信号は、 Ｂ（ｔ） ＝Ｂｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（
ｔ）＋φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
……（２）となる。Ｂは振幅、φＤＵＴ，ｎ（ｔ）は
被測定回路１００で付加される位相雑音である。９０°
位相器３の出力信号は、そこで付加される位相雑音を無
視すると、 Ｃ（ｔ） ＝Ｃｓｉｎ（ωｔ＋φＲ
ＥＦ，ｎ（ｔ）＋９０°） ＝Ｃ
ｃｏｓ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ））
……（３）となる
。位相検波器４は乗算器であり、その出力は、
Ｄ（ｔ） ＝Ｂｓｉｎ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ）＋φ
ＤＵＴ，ｎ（ｔ）） ×Ｃｃ
ｏｓ（ωｔ＋φＲＥＦ，ｎ（ｔ））
＝（ＢＣ／２）ｓｉｎ（２ωｔ＋２φＲＥＦ，ｎ（
ｔ）＋φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
＋（ＢＣ／２）ｓｉｎ（φＤＵＴ，ｎ（ｔ））
……（４）となる。 この式の第１項は高周波成分であり、低域通過フィルタ
５により除去される。また、φＤＵＴ，ｎ（ｔ）は微小
であることから、 Ｄ（ｔ） ≒（ＢＣ／２）φＤＵＴ，ｎ（ｔ）
……（５）となる。この電圧をスペクトラムアナライ
ザ６に入力することによって、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ，ｎ（ｆｍ）〕２
……（６）なるパワースペクトラムが得られる
。ただし、ΦＤＵＴ，ｎ（ｆｍ）はφＤＵＴ，ｎ（ｔ）
のフーリエ展開である。すなわち、信号源１の位相雑音
は相殺され、被測定回路１００の位相雑音だけを測定で
きる。
【０００７】入力と出力とで周波数が異なる場合、被測
定回路１００−１の出力信号は、 Ｅ（ｔ） ＝Ｅｓｉｎ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，
ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）） …
…（７）となる。ただし、信号源１の出力信号が（１）
式で表されるとした。（７）式において、Ｅは振幅、ω
′は被測定回路１００−１の出力角周波数、φ′ＲＥＦ
，ｎ（ｔ）は被測定回路１００−１を介して出力される
信号源１の位相雑音、φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）は被測定回
路１００−１で付加される位相雑音である。また、９０
°移相器３で付加される移相雑音を無視すると、被測定
回路１００−２と９０°移相器３とを経由した信号は、 Ｆ（ｔ） ＝Ｆｓｉｎ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，
ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）＋９０°）
＝Ｆｃｏｓ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，ｎ（ｔ
）＋φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）） ……（８
）となる。ただし、Ｆは振幅、φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）
は被測定回路１００−２で付加される移相雑音である。 したがって、位相検波器４と低域通過フィルタ５とを経
由した信号は、 Ｇ（ｔ） ＝（ＥＦ／２）〔φＤＵＴ１，ｎ（
ｔ）−φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）〕 ……（
９）となる。被測定回路１００−１、１００−２で発生
する雑音は互いに相関がないため（９）式のパワースペ
クトラムは個々の和として観測され、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ）〕２
＋〔ΦＤＵＴ２，ｎ（ｆｍ）〕２ ……
（１０）となる。ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ） 、ΦＤＵＴ
２，ｎ（ｆｍ） はそれぞれφＤＵＴ１，ｎ（ｔ） 、
φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）のフーリエ展開である。
定回路１００−１の出力信号は、 Ｅ（ｔ） ＝Ｅｓｉｎ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，
ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）） …
…（７）となる。ただし、信号源１の出力信号が（１）
式で表されるとした。（７）式において、Ｅは振幅、ω
′は被測定回路１００−１の出力角周波数、φ′ＲＥＦ
，ｎ（ｔ）は被測定回路１００−１を介して出力される
信号源１の位相雑音、φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）は被測定回
路１００−１で付加される位相雑音である。また、９０
°移相器３で付加される移相雑音を無視すると、被測定
回路１００−２と９０°移相器３とを経由した信号は、 Ｆ（ｔ） ＝Ｆｓｉｎ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，
ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）＋９０°）
＝Ｆｃｏｓ（ω′ｔ＋φ′ＲＥＦ，ｎ（ｔ
）＋φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）） ……（８
）となる。ただし、Ｆは振幅、φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）
は被測定回路１００−２で付加される移相雑音である。 したがって、位相検波器４と低域通過フィルタ５とを経
由した信号は、 Ｇ（ｔ） ＝（ＥＦ／２）〔φＤＵＴ１，ｎ（
ｔ）−φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）〕 ……（
９）となる。被測定回路１００−１、１００−２で発生
する雑音は互いに相関がないため（９）式のパワースペ
クトラムは個々の和として観測され、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ）〕２
＋〔ΦＤＵＴ２，ｎ（ｆｍ）〕２ ……
（１０）となる。ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ） 、ΦＤＵＴ
２，ｎ（ｆｍ） はそれぞれφＤＵＴ１，ｎ（ｔ） 、
φＤＵＴ２，ｎ（ｔ）のフーリエ展開である。
【０００８】すなわち、信号源１の位相雑音は相殺され
て被測定回路１００−１、１００−２の雑音だけを測定
できるが、この二つの回路は独立に雑音を発生するため
、雑音測定結果を１／２倍した値、すなわちｄＢ表示で
３ｄＢ差し引いた値が被測定回路１個あたりの雑音とな
る。
て被測定回路１００−１、１００−２の雑音だけを測定
できるが、この二つの回路は独立に雑音を発生するため
、雑音測定結果を１／２倍した値、すなわちｄＢ表示で
３ｄＢ差し引いた値が被測定回路１個あたりの雑音とな
る。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】しかし、９０°移相器
で付加される移相雑音φ９０，ｎ（ｔ） がある場合に
は、観測されるパワースペクトラムが、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ）〕２
＋〔ΦＤＵＴ２，ｎ（ｆｍ）〕２ ＋〔Φ９０，ｎ（
ｆｍ）〕
……（１１）となってしまう
。Φ９０，ｎ（ｆｍ）はφ９０，ｎ（ｔ） のフーリエ
展開である。
で付加される移相雑音φ９０，ｎ（ｔ） がある場合に
は、観測されるパワースペクトラムが、 Ｓφ（ｆｍ）＝〔ΦＤＵＴ１，ｎ（ｆｍ）〕２
＋〔ΦＤＵＴ２，ｎ（ｆｍ）〕２ ＋〔Φ９０，ｎ（
ｆｍ）〕
……（１１）となってしまう
。Φ９０，ｎ（ｆｍ）はφ９０，ｎ（ｔ） のフーリエ
展開である。
【００１０】すなわち、従来の付加位相雑音測定方法で
は、測定系の発生する雑音を十分に切り分けることがで
きなかった。
は、測定系の発生する雑音を十分に切り分けることがで
きなかった。
【００１１】本発明は、このような課題を解決し、測定
系の発生する雑音を十分に切り分けることのできる付加
位相雑音測定方法およびそのための装置を提供すること
を目的とする。
系の発生する雑音を十分に切り分けることのできる付加
位相雑音測定方法およびそのための装置を提供すること
を目的とする。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本発明の付加位相雑音測
定方法は、測定のための信号を被測定回路に通過させ、
その通過した信号を二つに分岐し、その一方の信号を９
０°移相器に通過させた後に他方の信号に乗算し、この
乗算結果により測定系の位相雑音を求め、この測定系の
位相雑音を従来の方法により測定された値から差し引く
ことを特徴とする。
定方法は、測定のための信号を被測定回路に通過させ、
その通過した信号を二つに分岐し、その一方の信号を９
０°移相器に通過させた後に他方の信号に乗算し、この
乗算結果により測定系の位相雑音を求め、この測定系の
位相雑音を従来の方法により測定された値から差し引く
ことを特徴とする。
【００１３】この方法を実施するための装置は、信号源
と、この信号源の出力を二つの信号路に分配するパワー
スプリッタと、この二つの信号路の一方の出力に配置さ
れた９０°移相器と、この二つの信号路を経由した二つ
の信号を乗算する位相検波器と、この位相検波器の出力
スペクトラムを観測する観測手段と、二つの信号路にそ
れぞれ被測定回路を接続する接続手段とを備え、さらに
、接続手段を短絡して二つの信号路からそれぞれ被測定
回路を切り離すとともにその被測定回路の一方を信号源
とパワースプリッタとの間に接続する接続切替手段を備
えたことを特徴とする。
と、この信号源の出力を二つの信号路に分配するパワー
スプリッタと、この二つの信号路の一方の出力に配置さ
れた９０°移相器と、この二つの信号路を経由した二つ
の信号を乗算する位相検波器と、この位相検波器の出力
スペクトラムを観測する観測手段と、二つの信号路にそ
れぞれ被測定回路を接続する接続手段とを備え、さらに
、接続手段を短絡して二つの信号路からそれぞれ被測定
回路を切り離すとともにその被測定回路の一方を信号源
とパワースプリッタとの間に接続する接続切替手段を備
えたことを特徴とする。
【００１４】
【作用】被測定回路を接続しない状態でその測定系の雑
音を測定しておけば、それを被測定回路による雑音と区
別できる。しかし、被測定回路の入力と出力とで周波数
が異なる場合には、被測定回路を接続したときと接続し
ないときとでその後段の周波数が異なり、測定系を正し
く測定することはできない。そこで、信号源とパワース
プリッタとの間に被測定回路を挿入し、信号源と被測定
回路との付加雑音を共に相殺して測定系の発生する雑音
を測定する。この雑音を従来の付加位相雑音測定方法で
得られた値から差し引く。これにより測定系の発生する
雑音を十分に切り分けることができ、正確な付加位相雑
音を測定できる。
音を測定しておけば、それを被測定回路による雑音と区
別できる。しかし、被測定回路の入力と出力とで周波数
が異なる場合には、被測定回路を接続したときと接続し
ないときとでその後段の周波数が異なり、測定系を正し
く測定することはできない。そこで、信号源とパワース
プリッタとの間に被測定回路を挿入し、信号源と被測定
回路との付加雑音を共に相殺して測定系の発生する雑音
を測定する。この雑音を従来の付加位相雑音測定方法で
得られた値から差し引く。これにより測定系の発生する
雑音を十分に切り分けることができ、正確な付加位相雑
音を測定できる。
【００１５】
【実施例】図１は付加位相雑音測定方法の第一の実施例
を示すブロック構成図である。
を示すブロック構成図である。
【００１６】まず、図１（ａ）に示すように、信号源１
からの測定のための信号をパワースプリッタ２で二つに
分岐し、その一方の信号を第一の被測定回路１００−１
に入力し、その他方の信号を被測定回路１００−１と実
質的に同一の特性をもつ第二の被測定回路１００−２に
入力し、この第二の被測定回路１００−２を通過した信
号の位相を９０°移相器３で９０°偏移させ、この位相
が９０°偏移した信号と第一の被測定回路１００−１を
通過した信号とを位相検波器４により乗算し、この乗算
結果を低域通過フィルタ５を介してスペクトラムアナラ
イザ６に供給することにより、被測定回路１００−１、
１００−２によって生じる付加位相雑音を求める。この
時の測定結果を以下「測定結果Ａ」という。測定結果Ａ
は、上述した（１１）式で表される。
からの測定のための信号をパワースプリッタ２で二つに
分岐し、その一方の信号を第一の被測定回路１００−１
に入力し、その他方の信号を被測定回路１００−１と実
質的に同一の特性をもつ第二の被測定回路１００−２に
入力し、この第二の被測定回路１００−２を通過した信
号の位相を９０°移相器３で９０°偏移させ、この位相
が９０°偏移した信号と第一の被測定回路１００−１を
通過した信号とを位相検波器４により乗算し、この乗算
結果を低域通過フィルタ５を介してスペクトラムアナラ
イザ６に供給することにより、被測定回路１００−１、
１００−２によって生じる付加位相雑音を求める。この
時の測定結果を以下「測定結果Ａ」という。測定結果Ａ
は、上述した（１１）式で表される。
【００１７】続いて、図１（ｂ）に示すように、信号源
１からの信号を第一の被測定回路か第二の被測定回路、
またこれらと実質的に同一の特性をもつ第三の被測定回
路（これを被測定回路１００とする）に通過させ、その
通過した信号を二つに分岐し、その一方の信号を９０°
移相器３に通過させた後に位相検波器４により他方の信
号に乗算し、この乗算結果により測定系の位相雑音を求
めて「測定結果Ｂ」とし、この測定結果Ｂを最初に求め
た測定結果Ａから差し引く。
１からの信号を第一の被測定回路か第二の被測定回路、
またこれらと実質的に同一の特性をもつ第三の被測定回
路（これを被測定回路１００とする）に通過させ、その
通過した信号を二つに分岐し、その一方の信号を９０°
移相器３に通過させた後に位相検波器４により他方の信
号に乗算し、この乗算結果により測定系の位相雑音を求
めて「測定結果Ｂ」とし、この測定結果Ｂを最初に求め
た測定結果Ａから差し引く。
【００１８】パワースプリッタ２の前段に被測定回路１
００を接続した場合には、被測定回路１００の出力信号
が（７）式で表され、位相検波器４の出力は、振幅をＨ
として、 Ｈ（ｔ） ＝Ｈｓｉｎ（２ω′ｔ＋２φ′ＲＥ
Ｆ，ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）＋φ９０，ｎ（ｔ
）） ＋Ｈｓｉｎ（φ９０，ｎ
（ｔ））
……（１２）となる。これを低域通過フ
ィルタ５を介してスペクトラムアナライザ６に入力し、
パワースペクトラムを観測する。このときの測定結果Ｂ
は、 Ｓφ（ｆｍ） ＝〔Φ９０，ｎ（ｆｍ） 〕２
……（１３）となる。したがって、被測定回路ひと
つ当たりの正確な雑音は、 〔測定結果Ａ−測定結果Ｂ〕／２ として求めることができる。
００を接続した場合には、被測定回路１００の出力信号
が（７）式で表され、位相検波器４の出力は、振幅をＨ
として、 Ｈ（ｔ） ＝Ｈｓｉｎ（２ω′ｔ＋２φ′ＲＥ
Ｆ，ｎ（ｔ）＋φＤＵＴ１，ｎ（ｔ）＋φ９０，ｎ（ｔ
）） ＋Ｈｓｉｎ（φ９０，ｎ
（ｔ））
……（１２）となる。これを低域通過フ
ィルタ５を介してスペクトラムアナライザ６に入力し、
パワースペクトラムを観測する。このときの測定結果Ｂ
は、 Ｓφ（ｆｍ） ＝〔Φ９０，ｎ（ｆｍ） 〕２
……（１３）となる。したがって、被測定回路ひと
つ当たりの正確な雑音は、 〔測定結果Ａ−測定結果Ｂ〕／２ として求めることができる。
【００１９】図２は測定装置の実施例を示すブロック構
成図である。図１に示した測定は、回路の接続を手作業
で切り替えて行うこともできるが、図２に示した装置を
用いれば、作業が容易になる。
成図である。図１に示した測定は、回路の接続を手作業
で切り替えて行うこともできるが、図２に示した装置を
用いれば、作業が容易になる。
【００２０】この装置は、信号源１と、この信号源１の
出力を二つの信号路に分配するパワースプリッタ３と、
この二つの信号路の一方の出力に配置された９０°移相
器３と、この二つの信号路を経由した二つの信号を乗算
する位相検波器４と、この位相検波器４の出力スペクト
ラムを観測する観測手段としての低域通過フィルタ５お
よびスペクトラムアナライザ６とを備える。
出力を二つの信号路に分配するパワースプリッタ３と、
この二つの信号路の一方の出力に配置された９０°移相
器３と、この二つの信号路を経由した二つの信号を乗算
する位相検波器４と、この位相検波器４の出力スペクト
ラムを観測する観測手段としての低域通過フィルタ５お
よびスペクトラムアナライザ６とを備える。
【００２１】また、二つの信号路にそれぞれ被測定回路
（ここでは被測定回路１００−１、１００−２として示
す）を接続する接続手段として、二つの信号路の一方に
は端子１３、１４が設けられ、他方には端子１５、１６
が設けられ、それぞれが、被測定回路を接続するための
接続端子１３′、１４′、１５′、１６′に接続される
。すなわち、一方の信号路では、端子１３、接続端子１
３′、被測定回路１００−１、接続端子１４′、端子１
４の順に信号が伝えられ、他方の信号路では、端子１５
、接続端子１５′、被測定回路１００−２、接続端子１
６′、端子１６の順に信号が伝えられる。
（ここでは被測定回路１００−１、１００−２として示
す）を接続する接続手段として、二つの信号路の一方に
は端子１３、１４が設けられ、他方には端子１５、１６
が設けられ、それぞれが、被測定回路を接続するための
接続端子１３′、１４′、１５′、１６′に接続される
。すなわち、一方の信号路では、端子１３、接続端子１
３′、被測定回路１００−１、接続端子１４′、端子１
４の順に信号が伝えられ、他方の信号路では、端子１５
、接続端子１５′、被測定回路１００−２、接続端子１
６′、端子１６の順に信号が伝えられる。
【００２２】ここで本実施例の特徴とするところは、二
つの信号路からそれぞれ被測定回路を切り離してその部
分を短絡するともにその被測定回路の一方を信号源１と
パワースプリッタ２との間に接続する接続切替手段とし
て、端子１３〜１６と接続端子１３′〜１６′との間に
切替回路７を備え、信号源１とパワースプリッタ２との
間に切替回路７に接続される端子１１、１２を備えたこ
とにある。
つの信号路からそれぞれ被測定回路を切り離してその部
分を短絡するともにその被測定回路の一方を信号源１と
パワースプリッタ２との間に接続する接続切替手段とし
て、端子１３〜１６と接続端子１３′〜１６′との間に
切替回路７を備え、信号源１とパワースプリッタ２との
間に切替回路７に接続される端子１１、１２を備えたこ
とにある。
【００２３】切替回路７は連動する複数のスイッチを備
え、第一の状態では、端子１１と端子１２、端子１３と
接続端子１３′、端子１４と接続端子１４′、端子１５
と接続端子１５′、端子１６と接続端子１６′を接続す
る。また、第二の状態では、端子１１と接続端子１３′
、端子１２と接続端子１４′、端子１３と端子１４、端
子１５と端子１６を接続する。
え、第一の状態では、端子１１と端子１２、端子１３と
接続端子１３′、端子１４と接続端子１４′、端子１５
と接続端子１５′、端子１６と接続端子１６′を接続す
る。また、第二の状態では、端子１１と接続端子１３′
、端子１２と接続端子１４′、端子１３と端子１４、端
子１５と端子１６を接続する。
【００２４】図３は付加位相雑音測定方法の第二の実施
例を示すブロック構成図である。
例を示すブロック構成図である。
【００２５】この実施例は、被測定回路１００−１、１
００−２の出力周波数が高いためにそれぞれの出力にダ
ウンコンバータ８−１、８−２を用い、さらにその後段
に増幅器９−１、９−２を用いた場合の測定を示す。
００−２の出力周波数が高いためにそれぞれの出力にダ
ウンコンバータ８−１、８−２を用い、さらにその後段
に増幅器９−１、９−２を用いた場合の測定を示す。
【００２６】この場合には、まず、図３（ａ）に示すよ
うに、パワースプリッタ２で分岐した一方の信号を被測
定回路１００−１、ダウンコンバータ８−１、増幅器９
−１に通過させ、他方の信号を被測定回路１００−２、
ダウンコンバータ８−２、増幅器９−２および９０°移
相器３に通過させ、それぞれの信号を位相検波回路４に
入力する。この位相検波回路４の出力を低域通過フィル
タ５を介してスペクトラムアナライザ６により観測する
。このときの測定結果をＡとすると、測定結果Ａは、信
号源１の雑音が相殺され、被測定回路１００−１、１０
０−２、ダウンコンバータ８−１、８−２、増幅器９−
１、９−２および９０°移相器３により付加された雑音
の和となる。
うに、パワースプリッタ２で分岐した一方の信号を被測
定回路１００−１、ダウンコンバータ８−１、増幅器９
−１に通過させ、他方の信号を被測定回路１００−２、
ダウンコンバータ８−２、増幅器９−２および９０°移
相器３に通過させ、それぞれの信号を位相検波回路４に
入力する。この位相検波回路４の出力を低域通過フィル
タ５を介してスペクトラムアナライザ６により観測する
。このときの測定結果をＡとすると、測定結果Ａは、信
号源１の雑音が相殺され、被測定回路１００−１、１０
０−２、ダウンコンバータ８−１、８−２、増幅器９−
１、９−２および９０°移相器３により付加された雑音
の和となる。
【００２７】次に、図３（ｂ）に示すように、被測定回
路１００−１または１００−２を切り離し、その一方（
これを被測定回路１００とする）を信号源１とパワース
プリッタ２との間に接続して同様の測定を行う。このと
きの測定結果をＢとすると、この測定結果Ｂは、信号源
１および被測定回路１００の雑音が相殺され、ダウンコ
ンバータ８−１、８−２、増幅器９−１、９−２および
９０°移相器３による雑音を示す。したがって被測定回
路ひとつあたりの正確な雑音は、 〔測定結果Ａ−測定結果Ｂ〕／２ として求めることができる。
路１００−１または１００−２を切り離し、その一方（
これを被測定回路１００とする）を信号源１とパワース
プリッタ２との間に接続して同様の測定を行う。このと
きの測定結果をＢとすると、この測定結果Ｂは、信号源
１および被測定回路１００の雑音が相殺され、ダウンコ
ンバータ８−１、８−２、増幅器９−１、９−２および
９０°移相器３による雑音を示す。したがって被測定回
路ひとつあたりの正確な雑音は、 〔測定結果Ａ−測定結果Ｂ〕／２ として求めることができる。
【００２８】さらに、図３（ｃ）に示すように、ダウン
コンバータ８−１または８−２を切り離し、その一方（
これをダウンコンバータ８とする）をパワースプリッタ
２の前段に配置し、同様の測定を行う。このときの測定
結果をＣとすると、この測定結果Ｃは、増幅器９−１、
９−２および９０°移相器３による雑音を示す。したが
ってダウンコンバータひとつあたりの正確な雑音は、 〔測定結果Ｂ−測定結果Ｃ〕／２ として求めることができる。
コンバータ８−１または８−２を切り離し、その一方（
これをダウンコンバータ８とする）をパワースプリッタ
２の前段に配置し、同様の測定を行う。このときの測定
結果をＣとすると、この測定結果Ｃは、増幅器９−１、
９−２および９０°移相器３による雑音を示す。したが
ってダウンコンバータひとつあたりの正確な雑音は、 〔測定結果Ｂ−測定結果Ｃ〕／２ として求めることができる。
【００２９】このように、パワースプリッタを設ける位
置を順次後段に設けることにより、測定系で発生する雑
音をさらに切り分けることができる。
置を順次後段に設けることにより、測定系で発生する雑
音をさらに切り分けることができる。
【００３０】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の付加位相
雑音測定方法および装置は、付加位相雑音の測定におい
て、その測定系の発生する雑音を切り分けることができ
、正確な測定が可能となる効果がある。
雑音測定方法および装置は、付加位相雑音の測定におい
て、その測定系の発生する雑音を切り分けることができ
、正確な測定が可能となる効果がある。
【図１】本発明の付加位相雑音測定方法の第一の実施例
を示すブロック構成図。
を示すブロック構成図。
【図２】本発明の付加位相雑音測定装置の実施例を示す
ブロック構成図。
ブロック構成図。
【図３】本発明の付加位相雑音測定方法の第二の実施例
を示すブロック構成図。
を示すブロック構成図。
【図４】従来例付加位相雑音測定方法を示すブロック構
成図。
成図。
【図５】従来例付加位相雑音測定方法を示すブロック構
成図。
成図。
１ 信号源
２ パワースプリッタ
３ ９０°移相器
４ 位相検波器
５ 低域通過フィルタ
６ スペクトラムアナライザ
７ 切替回路
８、８−１、８−２ ダウンコンバータ９、９−１、
９−２ 増幅器 １１〜１６ 端子 １３′〜１６′ 接続端子
９−２ 増幅器 １１〜１６ 端子 １３′〜１６′ 接続端子
Claims (2)
- 【請求項１】 測定のための信号を二つに分岐し、そ
の一方の信号を第一の被測定回路に入力し、その他方の
信号を前記第一の被測定回路と実質的に同一の特性をも
つ第二の被測定回路に入力し、この第二の被測定回路を
通過した信号の位相を９０°移相器で９０°偏移させ、
この位相が９０°偏移した信号と前記第一の被測定回路
を通過した信号とを乗算し、この乗算結果を用いて前記
第一の被測定回路および前記第二の被測定回路によって
生じる付加位相雑音を求める 付加位相雑音測定方法において、前記測定のための信号
を前記第一の被測定回路か前記第二の被測定回路、また
はこれらと実質的に同一の特性をもつ第三の被測定回路
に通過させ、その通過した信号を二つに分岐し、その一
方の信号を前記９０°移相器に通過させた後に他方の信
号に乗算し、この乗算結果により測定系の位相雑音を求
め、この測定系の位相雑音を前記付加位相雑音から差し
引くことを特徴とする付加位相雑音測定方法。 - 【請求項２】 信号源と、この信号源の出力を二つの
信号路に分配するパワースプリッタと、この二つの信号
路の一方の出力に配置された９０°移相器と、この二つ
の信号路を経由した二つの信号を乗算する位相検波器と
、この位相検波器の出力スペクトラムを観測する観測手
段と、前記二つの信号路にそれぞれ被測定回路を接続す
る接続手段とを備えた付加位相雑音測定装置において、
前記二つの信号路からそれぞれ被測定回路を切り離して
その部分を短絡するともにその被測定回路の一方を前記
信号源と前記パワースプリッタとの間に接続する接続切
替手段を備えたことを特徴とする付加位相雑音測定装置
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03151190A JP3099979B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 付加位相雑音測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP03151190A JP3099979B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 付加位相雑音測定方法および装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH04350576A true JPH04350576A (ja) | 1992-12-04 |
| JP3099979B2 JP3099979B2 (ja) | 2000-10-16 |
Family
ID=15513245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP03151190A Expired - Lifetime JP3099979B2 (ja) | 1991-05-27 | 1991-05-27 | 付加位相雑音測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3099979B2 (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2000206165A (ja) * | 1999-01-18 | 2000-07-28 | Rohde & Schwarz Gmbh & Co Kg | 測定対象の位相ノイズの測定装置 |
| JP2004500545A (ja) * | 1999-05-17 | 2004-01-08 | ジスキー ユージン | 自動周波数ステッピングノイズ測定テストシステム |
| JP2005308511A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308509A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音を測定する方法および位相雑音測定装置 |
| JP2005308510A (ja) * | 2004-04-21 | 2005-11-04 | Agilent Technol Inc | 位相雑音測定装置および位相雑音測定システム |
| JPWO2008114700A1 (ja) * | 2007-03-13 | 2010-07-01 | 株式会社アドバンテスト | 測定装置、測定方法、試験装置、電子デバイス、および、プログラム |
| JP2013250260A (ja) * | 2012-05-31 | 2013-12-12 | Agilent Technologies Inc | 位相雑音抽出装置及び技法 |
| JP2017528261A (ja) * | 2014-09-25 | 2017-09-28 | コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェＫｏｎｉｎｋｌｉｊｋｅ Ｐｈｉｌｉｐｓ Ｎ．Ｖ． | 組込み受信位相雑音インジケータを有するデジタル受信コイル |
| CN110095759A (zh) * | 2018-01-29 | 2019-08-06 | 英飞凌科技股份有限公司 | 雷达装置中噪声的光谱估计 |
| CN110187197A (zh) * | 2019-04-11 | 2019-08-30 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
-
1991
- 1991-05-27 JP JP03151190A patent/JP3099979B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| JP4629177B2 (ja) * | 1999-01-18 | 2011-02-09 | ローデ ウント シユバルツ ゲーエムベーハー ウント コンパニー カーゲー | 測定対象の位相ノイズの測定装置 |
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| JP2019132838A (ja) * | 2018-01-29 | 2019-08-08 | インフィニオン テクノロジーズ アクチエンゲゼルシャフトＩｎｆｉｎｅｏｎ Ｔｅｃｈｎｏｌｏｇｉｅｓ ＡＧ | レーダ装置における雑音のスペクトル推定 |
| US11029388B2 (en) | 2018-01-29 | 2021-06-08 | Infineon Technologies Ag | Spectral estimation of noise in radar apparatus |
| CN110187197A (zh) * | 2019-04-11 | 2019-08-30 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
| CN110187197B (zh) * | 2019-04-11 | 2021-07-27 | 东南大学 | 一种附加相位噪声自动化测量装置 |
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|---|---|
| JP3099979B2 (ja) | 2000-10-16 |
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