JP4619993B2 - チップ状電子部品用キャリアテープ紙 - Google Patents
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Description
紙料中には両性澱粉以外に、両性澱粉以外の紙力剤、填料、バンド、歩留まり向上剤、染料、蛍光染料等の添加薬品が適宜用いられる。
<原紙の作成>
原料配合
N−BKP20%とL−BKP80%からなるカナディアンスタンダードフリーネス(CSF)400mlのパルプスラリーに両性澱粉を対固形パルプで固形として1.5%を添加し、サイズ剤無添加で、無サイズ紙匹用の原料とした。
<水分散エマルジョンバインダー液の配合>
SBRラテックス(スマテックスPA3010、日本A&L製)を、水で希釈して固形分で8%濃度とした。
実施例1において、水分散エマルジョンバインダー液の配合で、SBRラテックスの代わりに、MBRラテックス(スマテックスPA9160、日本A&L製)を用い、他は実施例1と同様にしてキャリアテープ原紙を抄造した。
実施例1の原料配合において、中性ロジンサイズ剤を、対固形パルプで固形として0.4%添加し、他は実施例1と同様にしてキャリアテープ原紙を抄造した。
実施例1において、水分散エマルジョンバインダー液を用いる代わりに、酸化澱粉の固形で5%溶液を用い、他は実施例1と同様にしてキャリアテープ原紙を抄造した。
実施例1の原料配合において、両性澱粉の添加量を、対固形パルプで固形として0.2%添加として、かつ、中性ロジンサイズ剤を、対固形パルプで固形として0.4%添加し、他は実施例1と同様にしてキャリアテープ原紙を抄造した。
実施例1の原料配合において、両性澱粉の添加量を、対固形パルプで固形として0.2%添加として、他は実施例1と同様にしてキャリアテープ原紙を抄造した。
バインダーへのオスミウム染色による、紙層断面のEPMA(電子線マイクロアナライザー)測定で、水分散エマルジョンバインダーの浸透深さを測定した。
(2)発塵性の試験方法
A5判のサンプルについて、擦り合わせ発塵度、揉み発塵度及び引裂き揉み発塵度の各発塵試験を実施した。測定条件は、SEMI(半導体製造装置・材料国際協会)Doc.No2362規定に準拠した。
擦り合わせ発塵度: 擦り合わせ頻度;3回/10秒、
測定時間;200秒間。
揉み発塵度 : 揉み頻度;1回/15秒、
測定時間;200秒間。
引裂き揉み発塵度: 引裂き;4ヶ所、
揉み頻度;1回/15秒、
測定時間;200秒間。
なお、総発塵度は、上記3種類の発塵試験での発塵度を合計した値である。
(3)角穴のヒゲ及び/又は毛羽の発生状況の試験方法
得られたキャリアテープ原紙を幅8mmにスリットした後、送り用丸穴を開けるとともに、縦1mm、横0.5mmの角穴を、所定間隔をおいて形成せしめ、得られた内壁のヒゲ及び/又は毛羽の発生状況を目視で観察した。評価は次に示す評価基準に基づいて行った。
○:ヒゲ及び/又は毛羽の発生は、ほとんど無く、実用上問題ない。
△:ヒゲ及び/又は毛羽の発生は、わずかに有り、実用に耐えない。
×:ヒゲ及び/又は毛羽の発生は、かなり有り、実用に耐えない。
Claims (3)
- チップ状電子部品の運搬のため、所定間隔をおいて、該チップ状電子部品の収納用の角穴を成形加工によって形成した多層抄き板紙からなるチップ状電子部品用キャリアテープ紙において、
前記多層抄き板紙は、N−BKP(針葉樹晒しクラフトパルプ)とL−BKP(広葉樹晒しクラフトパルプ)とを主体とした表層、中層及び裏層からなり、
JIS P 8118:1998「紙及び板紙−厚さ及び密度の試験方法」で規定される厚さが1.10mm以下であり、
両性澱粉が対パルプ固形分で0.3〜3.0質量%内添されており、
サイズ剤が添加されておらず、かつ、
水分散エマルジョンバインダーが紙表面から30μm以上の深さまでオンマシンサイズプレスで外添されていることを特徴とするチップ状電子部品用キャリアテープ紙。 - SEMI(半導体製造装置・材料国際協会)Doc.No.2362規定に準拠した方法で求めた総発塵度が、30個/L以内であることを特徴とする請求項1に記載のチップ状電子部品用キャリアテープ紙。
- SEMI(半導体製造装置・材料国際協会)Doc.No.2362規定に準拠した方法の紙表面を擦り合わせる方法で求めた擦り合わせ発塵度が、5個/L以内であることを特徴とする請求項1又は2に記載のチップ状電子部品用キャリアテープ紙。
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