JP4615151B2 - 半導体パッケージ用ソケット - Google Patents

半導体パッケージ用ソケット Download PDF

Info

Publication number
JP4615151B2
JP4615151B2 JP2001185322A JP2001185322A JP4615151B2 JP 4615151 B2 JP4615151 B2 JP 4615151B2 JP 2001185322 A JP2001185322 A JP 2001185322A JP 2001185322 A JP2001185322 A JP 2001185322A JP 4615151 B2 JP4615151 B2 JP 4615151B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor package
socket
contact
mounting plate
slider
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2001185322A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2003007415A (ja
Inventor
智宏 中野
清 足立
詳 金重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Molex LLC
Original Assignee
Molex LLC
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Molex LLC filed Critical Molex LLC
Priority to JP2001185322A priority Critical patent/JP4615151B2/ja
Priority to US10/467,502 priority patent/US7275938B2/en
Priority to CN 02812054 priority patent/CN1244147C/zh
Priority to PCT/US2002/018815 priority patent/WO2002103372A1/en
Priority to TW91209098U priority patent/TW551712U/zh
Publication of JP2003007415A publication Critical patent/JP2003007415A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4615151B2 publication Critical patent/JP4615151B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0483Sockets for un-leaded IC's having matrix type contact fields, e.g. BGA or PGA devices; Sockets for unpackaged, naked chips
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G01R1/0408Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
    • G01R1/0433Sockets for IC's or transistors
    • G01R1/0441Details
    • G01R1/0466Details concerning contact pieces or mechanical details, e.g. hinges or cams; Shielding

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)
  • Connecting Device With Holders (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、格子状に配置された複数のはんだボールを有する半導体パッケージ用ソケットに関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、格子状に配置された複数のはんだボールを有する半導体パッケージ用ソケットとして、図13に示すものが知られている。この試験評価用ソケット300は、半導体パッケージ350のはんだボールSの配置に対応して格子状に配置された複数のコンタクト301・・・と、各コンタクト301を装備するソケット本体302と、半導体パッケージ350が載置される載置プレート303とを備えている。各コンタクト301の先端には、はんだボールSにその両側から挟み込む形態で接触し得る第1および第2接触片304、305が設けられている。
【0003】
上記構成のソケット300に、開口306を介して半導体パッケージ350を挿入し、半導体パッケージ350のはんだボールSを第1接触片304と第2接触片305との間に位置させて、スライダ306を図中上方に移動させると、スライダー306の側面に設けられた傾斜部306a、306bが第1および第2接触片304、305の傾斜部304a、305aにそれぞれ当接する。これによって、第1および第2接触片304、305が相互に近接する方向に変位させられ、はんだボールSにその両側から挟み込む形態で接触する。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
上記構成のソケット300では、第1および第2接触片304、305の先端が載置プレート303の上面(載置面)まで達しているため、半導体パッケージ350の挿入に際してそのはんだボールSが第1および第2接触片304、305に引っかかるなどして、はんだボールSを第1接触片304と第2接触片との間に位置させることが困難であるという問題がある。この問題は、狭ピッチ、フルグリッドではんだボールが配置されているICパッケージにおいて特に顕著となる。
【0005】
上記問題は、半導体パッケージ350の挿入に際してはんだボールSと第1および第2接触片304、305とを精度よく対応させれば解消され得るが、そのように精度よく対応させるには相当の作業時間を要するため、半導体パッケージの試験又は評価を迅速に行うことが困難になるという別の問題を生ずる。
【0006】
本発明の課題は、半導体パッケージの挿入に際してはんだボールを第1接触片と第2接触片との間に迅速に位置させることができ、半導体パッケージの試験又は評価を迅速に行うことが可能な半導体パッケージ用ソケットを提供することにある。
【0007】
【課題を解決するための手段】
上述の課題を解決するため、本発明は、格子状に配置された複数のはんだボールを底面に有する半導体パッケージ用ソケットであって、前記各はんだボールの配置に対応して格子状に配置され、各はんだボールにその両側から挟み込む形態で接触し得る第1および第2接触片を有する複数のコンタクトと、前記各コンタクトを装備するソケット本体と、前記半導体パッケージの各はんだボールが前記第1および第2接触片に接触することなく載置される半導体パッケージ載置位置と該載置された半導体パッケージの各はんだボールが前記第1接触片と第2接触片に接触し得る接触位置との間を移動させられる載置プレートとを備える構成とした。
【0008】
このようにすれば、半導体パッケージ載置位置において半導体パッケージの各はんだボールが前記第1および第2接触片に接触することなく載置可能になる。したがって、半導体パッケージの挿入に際して第1および第2接触片に引っかかることなく第1接触片と第2接触片との間にはんだボールを迅速に位置させることができ、半導体パッケージの試験又は評価を迅速に行うことが可能になる。
【0009】
前記半導体パッケージ載置位置は、前記第1および第2接触片から少なくとも前記はんだボールの直径寸法に相当する長さ寸法だけ前記ソケット本体(つまりは、半導体パッケージ用ソケット)の高さ方向に離れた位置に設定する。このようにすれば、半導体パッケージを載置する際にはんだボールが第1および第2接触片に接触することがない。
【0010】
上記半導体パッケージ用ソケットは、前記ソケット本体に対して前記ソケット本体(つまりは、半導体パッケージ用ソケット)の高さ方向に移動可能なソケットカバーと、前記ソケットカバーの移動に連動して、前記載置プレートを前記半導体パッケージ載置位置と前記接触位置との間で前記ソケット本体(つまりは、半導体パッケージ用ソケット)の高さ方向に移動させる移動手段とを備えることができる。このようにすれば、公知の機械装置などによってソケットカバーを移動させることが可能となり、半導体パッケージの試験又は評価を自動化できる。
【0011】
上記半導体パッケージ用ソケットは、前記ソケットカバーの移動に連動して、前記半導体パッケージを前記載置プレートに固定する固定手段を備えることができる。このようにすれば、半導体パッケージの浮き上がりを防止し得るためより安定した接触を得ることが可能になる。
【0012】
上記半導体パッケージ用ソケットは、前記ソケットカバーの移動に連動して、前記第1および第2接触片を変位させる変位手段を備えることができる。このようにすれば、公知の機械装置などによってソケットカバーを移動させて第1および第2接触片をはんだボールに対する接触位置と非接触位置との間を変位させることが可能となり、半導体パッケージの試験又は評価を自動化できる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態である半導体パッケージ用ソケット(以下単にソケットという)について図面を参照しながら説明する。
【0014】
図1、図3、図4は、本発明に係るソケットの正面図である。図2、図5、図6は、本発明に係るソケットの側面図である。図7は、半導体パッケージ載置位置に位置する載置プレート13と各コンタクト11との位置関係を説明するための図である。図8は、接触位置に位置する載置プレート13と各コンタクト11との位置関係を説明するための図である。
【0015】
図1、図2に示すように、ソケット10は、格子状に配置された複数のはんだボールS・・・を底面に有する半導体パッケージ50の試験評価用ソケットであり、複数のコンタクト11・・・と、それらの各コンタクト11を装備するソケット本体12と、半導体パッケージ50が載置される載置プレート(アダプターともいう)13と、スライダ14とを備える。
【0016】
また、ソケット10は、スライダ14をソケット10の高さ方向(図1中上下方向、以下、上下方向とする)に移動させるためのスライダ昇降機構20と、載置プレート13に載置された半導体パッケージ50を同プレート13に固定すると共に、ソケットカバー21の移動に連動して載置プレート13を移動させるための固定機構30とを備える。なお、固定機構30が主に本発明の移動手段、固定手段に相当し、スライダ昇降機構20が主に本発明の変位手段に相当する。
【0017】
各コンタクト11は、はんだボールSの配置に対応して格子状に配置されている。各コンタクト11は、図1、図7に示すように、プレス打ち抜きされた導電性金属板から形成され、ソケット本体12に固定されるコンタクト基部11cと、そのコンタクト基部11cの先端から傾斜部11d、11eを介して上方に延び、各はんだボールSにその両側から挟み込む形態で接触し得る第1および第2接触片11a、11bとを有する。
【0018】
各コンタクト11の傾斜部11d、11eにはスライダ14がソケット10の高さ方向の上方(図7中上方向、以下、上方とする)に移動しスライダ14に設けられた傾斜部14a、14bが当接して、第1接触部11aと第2接触部11bとを相互に近接する方向に変位させる(図8参照)。これにより、第1および第2接触片11a、11bが載置プレート13に載置された半導体パッケージ50のはんだボールSにその両側から挟み込む形態で接触する。
【0019】
コンタクト11はバネ性を有しているため、スライダー14が下方に移動しコンタクト11に対する当接が解除されると、第1および第2接触片11a、11bが元の形状に復帰する(図7参照)。この復帰時の第1接触片11aと第2接触片11bの間隔は、はんだボールSの直径よりも若干大きくなるように設定されている。
【0020】
載置プレート13は、半導体パッケージ50の各はんだボールSが第1および第2接触片11a、11bに接触することなく載置される半導体パッケージ載置位置(図1および図7に示す載置プレート13の位置)と該載置された半導体パッケージ50の各はんだボールSが第1接触片11aと第2接触片11bに接触し得る接触位置(図3および図8に示す載置プレート13の位置)との間を移動させられる。
【0021】
半導体パッケージ載置位置は、図7に示すように、第1および第2接触片11a、11bの先端から少なくともはんだボールSの直径寸法に相当する長さ寸法H1だけ上方に離れた位置に設定されている。このようにすれば、各はんだボールSが各コンタクト11の第1および第2接触片11a、11bに接触することなく、半導体パッケージ50を載置できる。
【0022】
載置プレート13は平面略長方形のプレート形状に形成され、その上面には半導体パッケージ50が載置される載置面13aが設けられている。載置プレート13の底面の四隅には先端に係合爪13bが設けられた脚部13fがソケット10の中心線C1、C2に対してそれぞれ対象となるように形成されている。各係合爪13bはソケット本体12の内壁に形成された上下方向に延びる4つの溝12aに係合しており、載置プレート13のソケット本体12に対する移動方向が案内されるようになっている。
【0023】
載置プレート13とソケット本体12の間には図示しないスプリングが軸方向(図1中上下方向)に縮んだ状態で配置されている。載置プレート13は、そのスプリングの元の形状に復帰しようとする力によって押し上げられ上方に移動する。載置プレート13が所定量上方に移動すると、係合爪13bがソケット本体12に形成された溝12aの上端面に当接するので、載置プレート13のそれ以上の上方への移動が阻止され停止する。この停止位置が半導体パッケージ載置位置となる。
【0024】
載置プレート13の上面の四隅には、ソケット10の上方から挿入される半導体パッケージ50を載置面13aに誘導するための半導体パッケージ誘導部13cが設けられている。半導体パッケージ誘導部13cには、半導体パッケージ50が載置面13a上の所定位置に誘導されるように、載置プレート13の載置面13aに対して傾斜した傾斜面13dが形成されている。
【0025】
挿入される半導体パッケージ50は、その周縁が少なくとも一つの傾斜面13dに沿って載置面13aに向けて滑り下りる。これにより、半導体パッケージ50は、載置面13a上の所定位置に載置される。
【0026】
載置プレート13には、図7に示すように、その載置面13aから底面に貫通し、同図中左右方向に長く延びるはんだボール挿入穴13eが形成されている。
【0027】
スライダ14は、ソケット本体12にスプリング23を介して支持されている。スライダ14には、コンタクト11の傾斜部11d、11eに当接する傾斜部14a、14bが設けられている。
【0028】
次に、スライダ昇降機構20について説明する。図1、図2に示すように、スライダ昇降機構20は、主に、ソケットカバー21と、交錯リンク22と、スプリング23とによって構成されている。
【0029】
ソケットカバー21は、ソケット本体12に対して上下方向に移動可能なようにソケット本体12に取り付けられている。交錯リンク22は、載置プレート14の両側に配置されている。
【0030】
交錯リンク22は、交錯した一対のレバー22a、22bを備えている。レバー22a、22bは、それらの各末端に設けられ、中心線C1に対して対象の位置にある回転軸22cがソケット本体12に形成された軸穴(図示せず)に挿入されており、各回転軸22cを中心に揺動可能となっている。
【0031】
レバー22a、22bの末端側には側面からフランジ状に張りだした中心線C1に対して対象の位置にある各スライダ本体押圧部22dが設けられている。各スライダ本体押圧部22dは、スライダ14の上面に当接し、レバー22a、22bのそれ以上の揺動が阻止されている。レバー22a、22bの先端にはソケットカバー21の内側上面21aに沿って摺動する中心線C1に対して対象の位置にある円弧状の各摺動部22eが設けられている。
【0032】
ソケットカバー21は、その内側上面21aにレバー22a、22bの各摺動部22eが当接した状態でソケット本体12に取り付けられている。
【0033】
次に、スライダ昇降機構20の動作について図1から図6を参照しながら説明する。
【0034】
図1、図2は、スライダ14およびソケットカバー21が上限位置に位置している状態を示している。ソケットカバー21を機械装置などによって上限位置から押し下げ、図1、図2中下方に移動させると、レバー22a、22bの各摺動部22eがソケットカバー21の内側上面21aに沿って摺動する。これと共に、レバー22a、22bが各回転軸22cを中心に揺動し、各スライダ本体押圧部22dがスライダ14を押し下げ図1中下方の下限位置へ移動させる。図3、図5は、スライダ14およびソケットカバー21が下限位置に位置している状態を示している。図4、図6は、スライダ14およびソケットカバー21が上限位置と下限位置の間に位置している状態を示している。
【0035】
スライダ14の上限位置から下限位置への移動によって、スライダ14とソケット本体12との間に配置されたスプリング23が軸方向(図1中上下方向)に縮められる。ソケットカバー21を押し下げるために加えていた力を除去すると、スプリング23の元の形状に復帰しようとする力によって、スライダ14が押し上げられ上限位置へ移動する。
【0036】
次に、固定機構30について説明する。図1、図2に示すように、固定機構30は、主に、プッシャー31と、プッシャー押圧部材32と、スプリング33とによって構成されている。
【0037】
プッシャー31は、載置プレート14の両側に配置されている。プッシャー31は、その回転軸31aがソケット本体12に形成された軸穴(図示せず)に挿入されており、同軸31aを中心に揺動可能となっている。プッシャー31の末端31bとソケット本体12との間には軸方向に縮んだ状態のスプリング33が配置されている。
【0038】
プッシャー31は、スプリング33の元の形状に復帰しようとする力によって載置プレート13側に揺動し、その先端31cが載置プレート13の上面に当接し、さらに同一方向へ揺動しようとする。このため、載置プレート13の載置面13aに半導体パッケージ50が載置されている場合には、プッシャー31の先端31cと載置プレート13との間に半導体パッケージ50が挟持される。このようにして、半導体パッケージ50が載置プレート13に固定される。
【0039】
また、上記のようにプッシャー31の先端31cが載置プレート13上(半導体パッケージ50が載置されている場合にはその上面)に当接し、さらに同一方向へ揺動しようとすることにより、載置プレート13が押し下げられソケット10の高さ方向の下方(図7中下方向、以下、下方)に移動する。
【0040】
載置プレート13が所定量下方に移動すると、載置プレート13の下面がソケット本体12に形成された図示しない凸部に当接するので、載置プレート13のそれ以上の下方への移動が阻止され停止する。この停止位置が接触位置となる。また、載置プレート13の下方への移動によって、載置プレート13とソケット本体12との間に配置された図示しないスプリングが軸方向に縮められる。
【0041】
次に、固定機構30の動作について図1から図6を参照しながら説明する。
【0042】
図1、図2は、載置プレート13が接触位置(下限位置)に位置しており、および、ソケットカバー21が上限位置に位置している状態を示している。ソケットカバー21を機械装置などによって上限位置から押し下げ、図1、図2中下方に移動させると、ソケットカバー21の内側上面21aから下方に延びるプッシャー押圧部材32の先端がプッシャー31の末端31cに当接する。この状態でさらに、ソケットカバー21を押し下げると、プッシャー31が回転軸31aを中心に揺動する。
【0043】
これにより、プッシャー31の載置プレート13に対する固定が解除され、載置プレート13とソケット本体12との間に配置された図示しないスプリングの元の形状に復帰しようとする力によって載置プレート13が押し上げられ半導体パッケージ載置位置(上限位置)へ移動する。また、このプッシャー31の揺動によってプッシャー31の末端31bがスプリング33を軸方向に縮める。図3、図5は、載置プレート13が半導体パッケージ載置位置(上限位置)に位置している状態を示している。図4、図6は、接触位置(下限位置)と載置プレート13が半導体パッケージ載置位置(上限位置)との間に位置している状態を示している。
【0044】
ソケットカバー21を押し下げるために加えていた力が除去されると、スプリング33の元の形状に復帰しようとする力によって、プッシャー31がこれまでの揺動方向とは反対の方向に揺動させられて元の位置に復帰する。
【0045】
次に、ソケット10に半導体パッケージ50を挿入する動作を説明する。図9から図12は、本発明に係る半導体パッケージ用ソケットに半導体パッケージを挿入して載置されるまでの過程を説明するための図である。
【0046】
図3、図5に示すように、ソケットカバー21を下限位置まで押し下げると、スライダ14がスライダ昇降機構20によって押し下げられ下限位置に移動し、スライダ14のコンタクト11に対する当接が解除される。このため、コンタクト11の第1及び第2接触片11a、11bが元の形状に復帰し、第1接触片と第2接触片との間にはんだボールSの直径よりも若干大きい間隔が形成される。
【0047】
また、ソケットカバー21を下限位置まで押し下げると、プッシャー31の載置プレート31に対する固定が固定機構30によって解除されるので、載置プレート13とソケット本体12との間に配置された図示しないスプリングの作用によって載置プレート13が押し上げられソケット本体12の溝12aに沿って半導体プレート載置位置(上限位置)に移動する。
【0048】
このように載置プレート13が半導体プレート載置位置に位置した状態でソケット10の上方から半導体パッケージ50を挿入すると、図9から図11に示すように、半導体パッケージ50の周縁が半導体パッケージ誘導部13cを構成する傾斜面13d沿って載置面13aに向けて滑り下りる。これにより、半導体パッケージ50のはんだボールSが載置プレート13に形成されたはんだボール挿入穴13eに挿入され、半導体パッケージ50が載置面13a上の所定位置に載置される(図12参照)。
【0049】
半導体プレート載置位置は、第1および第2接触片11a、11bから少なくともはんだボールSの直径寸法に相当する長さ寸法H1だけ上方に離れた位置に設定されている。このため、半導体パッケージ50の挿入に際して、はんだボールSが第1および第2接触片11a、11bに接触することがない。
【0050】
次に、ソケットカバー21を押し下げるために加えていた力を除去すると、プッシャー31が固定機構60を構成するスプリング33の作用によって載置プレート13側に揺動する。載置面13aには半導体パッケージ50が載置されているので、プッシャー31の先端31cと載置プレート13との間に半導体パッケージ50が狭持される。このようにして、半導体パッケージ50が載置プレート13に固定される。
【0051】
また、プッシャー31はその先端31aが半導体パッケージ50の上面に当接後もさらに同一方向へ揺動しようとするため、載置プレート13が押し下げられソケット本体12の溝12aに沿って接触位置(下限位置)に移動する(図8参照)。接触位置においては、載置プレート13に載置された半導体パッケージ50のはんだボールが第1接触片11aと第2接触片11bの間に位置することになる。第1接触片と第2接触片11bとの間隔ははんだボールSの直径よりも若干大きく設定されているため、比較的スムーズにはんだボールが挿入される。
【0052】
これに若干遅れて、スライダ14がスライダ昇降機構20によって押し上げられ上限位置に移動してコンタクト11に接触する。具体的には、スライダ14に設けられた傾斜部14a、14bがコンタクト11の傾斜部11d、11eに当接して、第1接触部11aと第2接触部11bとを相互に近接する方向に変位させる(図8参照)。
【0053】
これにより、第1および第2接触片11a、11bが接触位置に位置した載置プレート13に載置された半導体パッケージ50のはんだボールSにその両側から挟み込む形態で接触する。
【0054】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、半導体パッケージの挿入に際してはんだボールを第1接触片と第2接触片との間に迅速に位置させることができ、半導体パッケージの試験又は評価を迅速に行うことが可能な半導体パッケージ用ソケットを提供することが可能になる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの正面図である。
【図2】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの側面図である。
【図3】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの正面図である。
【図4】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの正面図である。
【図5】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの側面図である。
【図6】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの側面図である。
【図7】半導体パッケージ載置位置に位置する載置プレート13と各コンタクト11との位置関係を説明するための図である。
【図8】接触位置に位置する載置プレート13と各コンタクト11との位置関係を説明するための図である。
【図9】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットに半導体パッケージを挿入して載置されるまでの過程を説明するための図である。
【図10】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットに半導体パッケージを挿入して載置されるまでの過程を説明するための図である。
【図11】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットに半導体パッケージを挿入して載置されるまでの過程を説明するための図である。
【図12】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットに半導体パッケージを挿入して載置されるまでの過程を説明するための図である。
【図13】本発明に係る半導体パッケージ用ソケットの従来例の問題点を説明するための図である。
【符号の説明】
10 ソケット(半導体パッケージ用ソケット)
11 コンタクト
11a 第1接触片
11b 第2接触片
11c コンタクト基部
11d 傾斜部
11e 傾斜部
12 ソケット本体
12a 溝
13 載置プレート
13a 載置面
13b 係合爪
13c 半導体パッケージ誘導部
13d 傾斜面
13e はんだボール挿入穴
13f 脚部
14 スライダ
14a 傾斜部
14b 傾斜部
20 スライダ昇降機構
21 ソケットカバー
21a 内側上面
22 交錯リンク
22a レバー
22b レバー
22c 回転軸
22d スライダ押圧部
22e 摺動部
23 スプリング
30 固定機構
31 プッシャー
31a 回転軸
31b 末端
31c 先端
32 プッシャー押圧部材
33 スプリング
50 半導体パッケージ
S はんだボール

Claims (5)

  1. 格子状に配置された複数のはんだボール(S)を底面に有する半導体パッケージ(50)用ソケットであって、
    前記各はんだボール(S)の配置に対応して格子状に配置され、各はんだボール(S)にその両側から挟み込む形態で接触し得る第1および第2接触片(11a、11b)を有する複数のコンタクト(11)と、
    前記各コンタクト(11)を装備するソケット本体(12)と、
    前記ソケット本体(12)に対して前記ソケット本体(12)の高さ方向に移動可能なソケットカバー(21)と
    前記半導体パッケージ(50)が載置される載置プレート(13)
    前記ソケットカバー(21)の移動に連動して、前記載置プレート(13)を前記ソケット本体(12)の高さ方向において上方の半導体パッケージ載置位置とそれよりも下方の接触位置との間で移動させる移動手段(30)と、
    前記載置プレート(13)の下方に上限位置と下限位置との間を移動可能に設けられ、前記第1および第2接触片(11a、11b)をそれらの外側から変位させる傾斜部(14a、14b)を有するスライダ(14)とを備え、
    前記スライダ(14)が、前記載置プレート(13)が下降し前記接触位置に達した後に前記上限位置に移動することで、前記傾斜部(14a、14b)が前記コンタクト(11)の傾斜部(11d、11e)に当接して前記第1および第2接触片(11a、11b)を相互に近接する方向に変位させ、前記第1および第2接触片(11a、11b)が前記各はんだボール(S)に両側から挟み込む形態で接触する半導体パッケージ用ソケット。
  2. 前記半導体パッケージ載置位置は、前記第1および第2接触片(11a、11b)から少なくとも前記はんだボール(S)の直径寸法に相当する長さ寸法だけ前記ソケット本体(12)の高さ方向に離れた位置に設定されている請求項1に記載の半導体パッケージ用ソケット。
  3. 前記半導体パッケージ(50)の周縁が接触し、前記半導体パッケージ(50)を前記載置プレート(13)の載置面(13a)へ誘導する傾斜面(13d)を有する誘導部(13c)を更に備える請求項1又は2に記載の半導体パッケージ用ソケット。
  4. 前記ソケットカバー(21)の移動に連動して、前記半導体パッケージ(50)を前記載置プレート(13)に固定する固定手段(30)更に備える請求項1から3の何れか1項に記載の半導体パッケージ用ソケット。
  5. 前記ソケットカバー(21)の移動に連動して、前記スライダ(14)を前記上限位置と前記下限位置との間で移動させる変位手段(20)更に備える請求項1から4の何れか1項に記載の半導体パッケージ用ソケット。
JP2001185322A 2001-06-19 2001-06-19 半導体パッケージ用ソケット Expired - Fee Related JP4615151B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001185322A JP4615151B2 (ja) 2001-06-19 2001-06-19 半導体パッケージ用ソケット
US10/467,502 US7275938B2 (en) 2001-06-19 2002-06-13 Socket for semiconductor package
CN 02812054 CN1244147C (zh) 2001-06-19 2002-06-13 用于半导体封装的插座
PCT/US2002/018815 WO2002103372A1 (en) 2001-06-19 2002-06-13 Socket for semiconductor package
TW91209098U TW551712U (en) 2001-06-19 2002-06-18 Socket for semiconductor package

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001185322A JP4615151B2 (ja) 2001-06-19 2001-06-19 半導体パッケージ用ソケット

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2003007415A JP2003007415A (ja) 2003-01-10
JP4615151B2 true JP4615151B2 (ja) 2011-01-19

Family

ID=19024922

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001185322A Expired - Fee Related JP4615151B2 (ja) 2001-06-19 2001-06-19 半導体パッケージ用ソケット

Country Status (4)

Country Link
JP (1) JP4615151B2 (ja)
CN (1) CN1244147C (ja)
TW (1) TW551712U (ja)
WO (1) WO2002103372A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3942936B2 (ja) * 2002-04-09 2007-07-11 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット
CN100427225C (zh) * 2005-04-07 2008-10-22 力成科技股份有限公司 球格阵列封装测试分类机的通用变更套件
US7172450B1 (en) * 2006-01-11 2007-02-06 Qualitau, Inc. High temperature open ended zero insertion force (ZIF) test socket
JP2012109081A (ja) * 2010-11-16 2012-06-07 Yamaichi Electronics Co Ltd 半導体装置用ソケット
US8808010B2 (en) * 2011-06-06 2014-08-19 Interconnect Devices, Inc. Insulated metal socket
KR101585182B1 (ko) * 2014-04-28 2016-01-14 황동원 반도체 소자 테스트용 소켓장치
US9832899B1 (en) * 2016-04-27 2017-11-28 Alcatel Lucent Side clamping BGA socket

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001066346A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Texas Instr Japan Ltd ソケット

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5419710A (en) * 1994-06-10 1995-05-30 Pfaff; Wayne K. Mounting apparatus for ball grid array device
US6069481A (en) * 1995-10-31 2000-05-30 Advantest Corporation Socket for measuring a ball grid array semiconductor
JP3745060B2 (ja) * 1996-12-09 2006-02-15 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 ソケット
JPH10293158A (ja) * 1997-04-18 1998-11-04 Advantest Corp Ic試験装置
TW421333U (en) * 1999-02-24 2001-02-01 Hung Rung Fang IC socket
JP3619413B2 (ja) * 2000-01-18 2005-02-09 株式会社エンプラス 電気部品用ソケット

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001066346A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Texas Instr Japan Ltd ソケット

Also Published As

Publication number Publication date
CN1529817A (zh) 2004-09-15
JP2003007415A (ja) 2003-01-10
WO2002103372A1 (en) 2002-12-27
CN1244147C (zh) 2006-03-01
TW551712U (en) 2003-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4251423B2 (ja) ソケット
US6261114B1 (en) Socket for electrical parts
EP0613335B1 (en) Socket apparatus for IC package testing
KR100654262B1 (ko) 전기 소켓 장치
USRE36217E (en) Top load socket for ball grid array devices
KR100671190B1 (ko) 전기부품용 소켓
JP4615151B2 (ja) 半導体パッケージ用ソケット
KR19980063835A (ko) 소켓 장치
US20030171021A1 (en) Socket for electrical parts
JP4138305B2 (ja) 電気部品用ソケット
JP5094267B2 (ja) ボールグリッドとの完全な互換性を有する一体化されたスライダを有するbgaic装置用バーンインソケット
JP3739626B2 (ja) 電気部品用ソケット
US8021177B2 (en) Burn-in socket
JPH10199646A (ja) 電気部品用ソケット
KR19990013617A (ko) 번-인 테스트 소켓 장치
JP3795300B2 (ja) 電気部品用ソケット
KR20120005580U (ko) 볼단자와 컨택핀을 안내하는 가이드를 구비한 비지에이 테스트 소켓용 어댑터
US7275938B2 (en) Socket for semiconductor package
JP4155833B2 (ja) 電気部品用ソケット
JPH08273777A (ja) Icソケット
JP2000021530A (ja) 電気部品用ソケット
KR102160209B1 (ko) 반도체 칩 테스트 소켓
US20100164482A1 (en) Centering device for electronic components, particularly ics
JP4480874B2 (ja) Icパッケージ用ソケット
JP2003203737A (ja) 部材取付構造

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20080514

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100601

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100825

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100928

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20101020

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131029

Year of fee payment: 3

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees