JP4595554B2 - 平面モータ - Google Patents
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Description
図7は本発明の一実施例を示す構成説明図である。
図7において、格子プラテン30はX軸方向及びY軸方向に沿って一定ピッチで歯が形成されている。図では簡略化のため一部の歯だけを示している。
このような格子プラテン30は、平坦面に格子状に溝を切ることによって形成される。格子プラテン30は磁性体で構成されている。
浮揚手段32は、スライダ部31を格子プラテン30上に浮揚させる。
スライダ部31の格子プラテン30と対向する面にはノズルが設けられていて、このノズルから浮揚手段32が圧縮空気を噴出させることによって、浮上力を得ている。
スライダ部31と格子プラテン30の間をノズルから噴出した空気が流れることによって、エアベアリングを構成している。スライダ部31と格子プラテン30とのギャップは数十μm程度である。
Y軸モータ33は、歯332と格子プラテン30の歯301との間に磁気吸引力を生じさせてスライダ部をY軸方向に移動させる。
コイル333はコア331に巻かれている。
X軸モータ34,35は、コア341,351の格子プラテン30と対向する面にはX軸方向に一定ピッチで歯342,352が形成されている。
コイル343,353はコア341,351に巻かれている。
連結部材311,312はY軸モータ33とX軸モータ34,35を連結する。
Y軸センサ38は、Y軸ミラー37に光を照射し、その反射光を受け、光の干渉を利用してスライダ部31のY軸方向の位置を検出する干渉計である。
X軸センサ39及び40は、X軸ミラー36に光を照射し、その反射光を受け、光の干渉を利用してスライダ部31のY軸方向の位置を検出する干渉計である。
X軸制御部42及び43は、X軸センサ39及び40の検出位置をもとにスライダ部31の位置をそれぞれフィードバック制御する。
補正手段44及び45は、与えられた指令位置をもとに補正テーブル46及び47から補正量を読み出し、読み出した補正量でX軸制御部42及び43に与える指令位置を補正する。
X軸ミラー36とY軸ミラー37の曲がりが位置検出に影響しない程度の曲がりであれば、補正手段44と45は設けなくてもよい。
図9は図8のA−A´部分の断面図である。
これらの図ではX軸モータ34の例を示している。他のモータも同様な構成になっている。
溝344は対向面に形成されている。
ノズル345は溝344の中に形成されていて、浮揚手段32から供給された圧縮空気を噴出する。
対向面にコーティングを施すことによって、歯342の凹部に埋込部材346を形成することができる。
埋込部材346は歯342の凹部を伝わって圧縮空気が外に漏れることを防いでいる。
図10ではX軸制御部42の例を示しているが、X軸制御部43とY軸制御部41も同様な構成になっている。
図10において、フォトダイオードアレイ(PDAとする)420は、X軸センサ39にできた干渉縞の明暗を検出する。
信号処理回路421はPDA420の検出信号に演算処理を行う。
コンパレータ422,423は信号処理回路421の演算信号からA相パルスとB相パルスを生成する。
アップダウンカウンタ425はアップパルスまたはダウンパルスに応じてアップカウントまたはダウンカウントを行う。
アップダウンカウンタ425のカウントがスライダ部31の検出位置になる。
この時のアップダウンカウンタ425の値を基準値、例えば0に設定する。
スライダ部31の移動に伴ってアップダウンカウンタ425は基準値からアップカウントまたはダウンカウントを行って位置を検出する。
このようにしてインクリメンタル方式に位置検出をする。
位置制御手段427は減算器426で求めた偏差をもとにX軸モータ34を位置フィードバック制御するための制御信号を出力する。
速度演算手段428はアップダウンカウンタ425のカウントX1の変化速度からスライダ部31の移動速度を検出する。
速度演算手段428は、例えばF/V変換器である。
速度制御手段430は減算器429で求めた偏差をもとにX軸モータ34を速度フィードバック制御するための制御信号を出力する。
X軸モータ34が3相モータである場合は、アップダウンカウンタ425のカウントが与えられると、sinテーブル431からはsin(θ+120°)とsin(θ−120°)の値が読み出される。
θはアップダウンカウンタ425のカウントに応じて変わる角度である。
ここで、2つの指令値の位相が120°ずれているのは、モータが3相モータであるためである。相数が異なる場合は位相ずれは他の値になる。
減算器436及び437は、Isin(θ+120°)及びIsin(θ−120°)と電流センサ434及び435の偏差をそれぞれ求める。
パルス幅変調回路(PWM回路とする)438及び439は電流センサ434及び435で求めた偏差をもとにモータコイルの励磁電流をフィードバック制御するためのパルス幅変調信号(PWM信号とする)を生成して出力する。
PWM回路441は減算器440の減算信号からPWM信号を生成する。
駆動回路442は、ブリッジ形のインバータ回路であり、PWM回路438,439,441の3相のPWM信号をもとにX軸モータ34を駆動する。
このようにして設定した位相関係を転流角の原点とする。
このときのアップダウンカウンタ425のカウントを基準値、例えば0にする。
図7のY軸センサ38、X軸センサ39,40は同様な構成になっている。
X軸センサ39を例に説明する。
図11で、レーザ光源391はレーザ光を出射する。
レーザ光源391の出射光の光路には、ミラー392,393、ハーフミラー394、偏向ビームスプリッタ(PBSとする)395、λ/4板396、コーナーキューブ397が配置されている。
この光を第1の光とする。
また、レーザ光源391から出た光には、ハーフミラー394、PBS395、λ/4板396、X軸ミラー36、λ/4板396、PBS395、コーナーキューブ397、λ/4板396、X軸ミラー36、λ/4板396、PBS395、ハーフミラー394の経路で進み、図のa方向に進む光がある。
この光を第2の光とする。
4個のフォトダイオード398A〜398Dは干渉縞Sの1ピッチ内に配置されている。
各フォトダイオード398A〜398DはP/4(Pは干渉縞のピッチ)ずつずらして配置されている。
減算器400は、(フォトダイオード398Bの検出信号)−(フォトダイオード39
8Dの検出信号)なる演算を行う。
減算器399と400で図7の信号処理回路421を構成している。
干渉縞が動くと各フォトダイオード398A〜398Dに当る干渉縞の明暗部分が動き、フォトダイオード398A〜398Dの検出値が変化する。これをもとにスライダ部31の位置を検出する。
VA=K[1+msin{x・2π/(λ/4)}]+Kn
VB=K[1+mcos{x・2π/(λ/4)}]+Kn
VC=K[1−msin{x・2π/(λ/4)}]+Kn
VD=K[1−mcos{x・2π/(λ/4)}]+Kn
x:検出対象の距離、K,m:係数、Kn:ノイズ成分
VA−VC=2mKsin{x・2π/(λ/4)}
VB−VD=2mKcos{x・2π/(λ/4)}
減算の結果、外乱光により発生した直流のノイズ成分Knがキャンセルされる。
信号VA−VCとVB−VDが前述したA相パルスとB相パルスに変換される。
干渉縞がd´方向に動いたときは、信号VA−VCとVB−VDの位相関係は逆転する。
電源投入時に、X軸モータ34の各コイルに既知の電流を流し、スライダ部31を基準位置に位置決めする。
基準位置からX軸方向及びY軸方向にスライダ部31が移動したときに、X軸センサ39.40及びY軸センサ38により2次元位置をインクリメンタル方式に検出する。
このため、X軸制御部42と43のフィードバック制御によりX軸モータ34と35はスライダ部31を等しいX軸位置に位置決めする。
これによって、スライダ部31のヨーイングが除去される。
このときは、補正手段44と45は設けられている。
位置決め動作を行う前にXYステージのキャリブレーションを行っておく。
キャリブレーションにおいてスライダ部31を座標(X1,Y1)に位置決めしたときに、XYステージの機械的誤差等が原因でスライダ部31にヨーイングが発生し、X軸センサ39と40の検出値がそれぞれX1+ΔX1とX2−ΔX2であるとする。このときは、補正テーブル46には(X1,Y1)と−ΔX1を対応させて格納し、補正テーブル47には(X1,Y1)と+ΔX2を対応させて格納しておく。
他の位置にもスライダ部31を位置決めして補正量を求める。このようにして補正テーブルを作成する。
これによって、スライダ部31のヨーイングが除去される。
このようにしてミラー面の曲がりによるスライダ部31のθ軸方向の回転ずれが補正される。
図14に示す如く、装置内に複数の作業工程が存在する場合は、作業対象のワークを他の工程の平面モータへ移載する必要がある。
図14において、A1,Bは、1可動部(スライダ)構成の平面モータ装置、C1はワーク移載手段、LDは半導体レーザー発光源(レーザーダイオード)である。
また、分かりやすくする為に、干渉計部分の詳細は省略し、各軸への光分配の様子のみ記述する。
精密な位置決めが必要な製造装置においては、移載により生じたワーク搭載位置のずれを補正、もしくは位置誤差を生じない移動方法を採用する必要がある。
ワーク移載に要する時間が無駄時間となり装置の生産効率が落ちる。
ワーク移載に必要なワーク移載手段を配置する必要があるために、装置が大型化する。
単一のプラテン上で複数のスライダを動作させる場合はそれぞれのスライダがフィードバック制御用位置検出用レーザー干渉計の光軸をさえぎる為、光軸を複数用意し、切り替えて使用する必要がある。
この場合、切換の瞬間に、それぞれの干渉計のレーザー波長が異なると位置誤差が発生する。
一方、多数の光軸を持つ干渉計を単一の発光源で構成する場合、半導体レーザーの場合パワーの限界や安全規格の制限のため、各光軸に分配されるレーザーパワーは少なくなる。
複数のスライダーとプラテンに設けられた半導体レーザー光源で干渉計を構成し前記スライダーの位置を検出する平面モータにおいて、複数のスライダーの位置検出の干渉計に使用される一つの半導体レーザー光源と、この半導体レーザー光源からのレーザースポット径より大きな受光面を有するフォトダイオードアレーと、オフセット補正手段とゲイン補正手段とを有し前記フォトダイオードアレーの出力の偏差を補正する補正手段と、前記フォトダイオードアレーに設けられ前記レーザースポットの中心位置を検出する中心位置検出手段と、前記フォトダイオードアレーの受光面に設けられ中央部は幅が広く周辺部は矩形で幅が狭くなっておりスポット周囲にある錯乱光による干渉光が前記フォトダイオードアレーに入射するのを防止するスリットと、前記中心位置検出手段の信号に基づき前記レーザースポットの中心位置の変位に応じて前記スリットを移動させるスリット移動手段と、を具備したことを特徴とする。
前記中心位置検出手段は、ペアフォトダイオードが使用されたことを特徴とする。
前記ペアフォトダイオードの受光面は楔形状をなし対向して設けられ全体として前記レーザースポットの移動方向に長い矩形状を構成することを特徴とする。
前記スリット動作手段は、空気を動力源として使用されたことを特徴とする。
複数スライダの平面モータ装置が実現出来、作業効率が向上出来る平面モータが得られる。
一つの半導体レーザー光源で構成されたので、光軸切換時に誤差が生じず、精度が向上された平面モータが得られる。
フォトダイオードアレーの出力の偏差を補正する補正手段が設けられたので、精度が向上された平面モータが得られる。
図1は本発明の一実施例の要部構成説明図、図2は図1の要部構成説明図、図3は図2の部品説明図、図4は図2の部品説明図、図5は図4の要部構成説明図、図6は図5の動作説明図である。
以下図7と相違部分のみ説明する。
図1に示す如く、一つの半導体レーザー光源LDが、複数のスライダーの位置検出の干渉計に使用される。
この場合は、2個のスライダー51,52が使用されている。
フォトダイオードアレー55は、図4に示す如く、半導体レーザー光源LDからのレーザースポット53を受光し、半導体レーザー光源LDからのレーザースポット53の直径より大きな受光面を有している。
この場合は、中心位置検出手段56は、ペアフォトダイオード56が使用されている。
また、この場合は、ペアフォトダイオード56の受光面は、楔形状をなし対向して設けられ全体として、レーザースポット53の移動方向に長い矩形状を構成する。
スリット移動手段(図示せず。)は、中心位置検出手段56の信号に基づき、レーザースポット53の中心位置の変位に応じて、スリット57の中心位置が、レーザースポット53の中心位置に合致移動するようにスリット57を動作させる。
この場合は、スリット動作手段は、空気を動力源として使用されている。
59はI/Vアンプ、61は位置検出処理回路である。
補正手段58は、図5に示す如くオフセット補正手段とゲイン補正手段とを有する。
補正手段58は、フォトダイオードアレー54の0°,90°の出力信号に対してそれぞれ設けられて、2個存在するが、ここでは、1個のみを示す。
減算器583は、振幅検出回路584で振幅を検出し、補正値算出回路585で補正値を算出して、減算器581からの入力の振幅を補正する。
また、干渉計に使用するフォトダイオードアレー54の面積を、平面モータがヨ−イング方向にある程度回転した場合のレーザースポット径移動範囲より十分大きくし、すべてのレーザーパワーを受光するようにした。
この為に、各出力毎または減算処理(0°-180°、90°-270°)後の信号のオフセット、振幅補正を補正回路58で行うようにした。
スリット57はフォトダイオードアレー54内に設けた楔形のパワー検出用ペアフォトダイオード56によりスポット53の位置を検出し、最適点に移動する手段を設けるようにした。
スポット53の位置を検出する為、楔形のパワー検出用ペアフォトダイオード56の面には矩形のスリット571により、遮光せずにすべての干渉光を受光させるようにした。
複数スライダの平面モータ装置が実現出来、作業効率が向上出来る平面モータが得られる。
一つの半導体レーザー光源HDで構成されたので、光軸切換時に誤差が生じず、精度が向上された平面モータが得られる。
フォトダイオードアレー54の出力の偏差を補正する補正手段58が設けられたので、精度が向上された平面モータが得られる。
したがって本発明は、上記実施例に限定されることなく、その本質から逸脱しない範囲で更に多くの変更、変形をも含むものである。
31 スライダ部
32 浮揚手段
33 Y軸モータ
34 X軸モータ
35 X軸モータ
36 X軸ミラー
37 Y軸ミラー
38 Y軸センサ
39 X軸センサ
40 X軸センサ
41 Y軸制御部
42 X軸制御部
43 X軸制御部
44 補正手段
45 補正手段
51 スライダー
52 スライダー
53 レーザースポット
54 受光する部分
55 フォトダイオードアレー
56 中心位置検出手段
56 ペアフォトダイオード
57 スリット
58 補正手段
581 減算器
582 オフセット検出回路
583 減算器
584 振幅検出回路
585 補正値算出回路
59 I/Vアンプ
61 位置検出処理回路
LD 半導体レーザー発光源
Claims (4)
- 複数のスライダーとプラテンに設けられた半導体レーザー光源で干渉計を構成し前記スライダーの位置を検出する平面モータにおいて、
複数のスライダーの位置検出の干渉計に使用される一つの半導体レーザー光源と、
この半導体レーザー光源からのレーザースポット径より大きな受光面を有するフォトダイオードアレーと、
オフセット補正手段とゲイン補正手段とを有し前記フォトダイオードアレーの出力の偏差を補正する補正手段と、
前記フォトダイオードアレーに設けられ前記レーザースポットの中心位置を検出する中心位置検出手段と、
前記フォトダイオードアレーの受光面に設けられ中央部は幅が広く周辺部は矩形で幅が狭くなっておりスポット周囲にある錯乱光による干渉光が前記フォトダイオードアレーに入射するのを防止するスリットと、
前記中心位置検出手段の信号に基づき前記レーザースポットの中心位置の変位に応じて前記スリットを移動させるスリット移動手段と、
を具備したことを特徴とする平面モータ。 - 前記中心位置検出手段は、ペアフォトダイオードが使用されたこと
を特徴とする請求項1記載の平面モータ。 - 前記ペアフォトダイオードの受光面は楔形状をなし対向して設けられ全体として前記レーザースポットの移動方向に長い矩形状を構成すること
を特徴とする請求項2記載の平面モータ。 - 前記スリット動作手段は、空気を動力源として使用されたこと
を特徴とする請求項1記載の平面モータ。
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