JP4579704B2 - 干渉防止機能付き光電センサ - Google Patents

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本発明は、物体を検出する光電センサが複数配置されている場合に、各光電センサの干渉防止機能に関する。
一般に、光電センサは、検出物体が搬送された状態で、投光素子からの投光ビームで照射された検出物体の反射光を受光素子で受光させ、この受光した受光信号を増幅回路で増幅して、比較回路(コンパレータ)によって所定のしきい値と比較して、例えば物体の有無を検出する。複数の方向または位置から物体を検出する場合には、複数の光電センサを並列配置する必要がある。この場合、1つの光電センサの投光素子の出力を開始させる物体検知タイミング(投光タイミング)の終了前に他の光電センサの投光に基づく反射光(干渉光)を受光することにより、相互干渉を生じるおそれがある。
このため、従来から、干渉光を受光した光電センサの物体検知タイミングを所定の遅延時間だけ遅らせて、各光電センサの相互干渉を防止する種々の提案がなされている。この例として、光電センサの投光タイミングを当該光電センサの同期タイミング制御手段に設定された所定時間で決定することにより、所定時間を干渉防止に必要な時間よりも長く確保して相互干渉を防止するもの(例えば、特許文献1)、1の光電センサの投光タイミングと他の光電センサからの干渉光との重なり状態に応じて、各光電センサの投光タイミングをそれぞれ異なるずらしパターンでずらすことにより、相互干渉を防止するもの(例えば、特許文献2)が知られている。
一方、複数の検知レベルを設けて、干渉光が受光素子に入射されない期間を有効に利用して検出動作を行ない、各検知レベルに応じた遅延時間だけ遅らせて、一律の遅延時間としないことにより、干渉防止率の向上を図るものが知られている(例えば、特許文献3)。
特開平9−83330号公報 特開2003−194962号公報 特開平6−169248号公報
しかし、検出物体が高速で搬送された状態で物体を検出する高速測定の場合、相互干渉を防止するだけでなく、干渉光に対する遅延時間をできるだけ短くする必要があるが、特許文献1、2では遅延時間を短縮することができず、特許文献3のように複数の検知レベルに対して複数の遅延時間を設けたものでも、全体の遅延時間の短縮に限界があり、いずれも高速測定への対応が困難であった。すなわち、従来では、高速測定に対応して可及的に全体の投光遅延時間を短縮できる光電センサを実現できなかった。
本発明は、前記の問題点を解決して、複数の光電センサの相互干渉を防止し、かつ物体の高速測定に対応して可及的に投光遅延時間を短縮することを可能とした干渉防止機能付き光電センサを提供することを目的とする。
前記目的を達成するために、本発明にかかる干渉防止機能付き光電センサは、投光素子を出力させて投光ビームを照射させる駆動回路と、投光ビームで照射された物体からの反射光を受光した受光素子からの受光信号を増幅する増幅回路と、投光素子の出力を開始させる物体検知タイミングで、増幅された受光信号の電圧と物体検知しきい値との比較に基づき、物体検知信号を出力する比較回路とを備えたものであって、前記比較回路は、さらに前記物体検知タイミングの終了前に複数段階設けられた干渉光検知タイミングで、増幅された受光信号の電圧と、前記干渉光検知タイミングごとに複数段階設けられた干渉光検知レベルをもつ干渉光検知しきい値との比較に基づき干渉光検知信号を出力するものであり、前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルに基づき、これに応じて複数設けられた投光遅延時間から所定の投光遅延時間を出力する干渉制御部と、前記所定の投光遅延時間だけ遅延された物体検知タイミングで前記投光素子を出力させるように前記駆動回路を制御する投光制御部とを備えている。
この構成によれば、物体検知タイミングの終了前での複数段階の干渉光検知タイミングにおける複数段階の干渉光検知レベルを設け、これに応じて複数段階の投光遅延時間を設けているので、従来のように複数段階の干渉光検知レベルおよび投光遅延時間だけを設けたのと異なり、これに複数段階の干渉光検知タイミングを加味して検知していることから、干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベル、つまり干渉光の経時的な検知状態に応じた最適な遅延時間を与えるので、無駄な遅延時間がなくなり、全体として可及的に投光遅延時間を短縮することができ、高速測定に対応可能となる。
好ましくは、前記干渉制御部は、前記干渉光検知タイミングの複数段階、干渉光検知タイミングの各段階ごとに設けられた干渉光検知レベルの複数段階と、干渉光検知タイミングおよび干渉光検知レベルの各段階の組合せごとに設けられた複数の投光遅延時間とを記憶する設定値記憶部と、前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルが、前記記憶された干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルの各段階に該当する場合に、これら各段階の組合せに応じた所定の投光遅延時間を前記投光制御部に出力する遅延時間出力部とを備えている。
以下、本発明の実施形態を図面にしたがって説明する。図1は、本発明の一実施形態に係る干渉防止機能付き光電センサを示す構成図である。本センサは、投光素子1と、投光素子1を出力させて投光ビームを照射させる駆動回路2と、投光ビームで照射された検出物体Mからの反射光を受光する受光素子3と、受光素子3で受光した受光信号を増幅する増幅回路5と、物体Mを検知するために投光素子1の出力を開始させる物体検知タイミングで、増幅回路5により増幅された受光信号の電圧と所定しきい値とを比較する比較回路(コンパレータ)6、およびカウンタ回路11を有する制御部(CPU)7と、比較の結果に基づき例えば検出物体Mの有無(ON、OFF)を出力する出力回路8とを備えて、検出物体Mが搬送された状態で検出物体Mの有無を検出するものである。検出物体Mの有無のほかに、検出物体Mの大小や明暗などを検出してもよい。投光素子1は例えば発光ダイオード(LED)、受光素子3は例えばフォトダイオード(PD)が用いられる。
前記制御部7は、本センサ全体を制御するもので、前記比較回路6とカウンタ回路11のほかに、干渉光防止に関する制御を行う干渉制御部9および投光素子1に関する制御を行う投光制御部10を有する。
前記比較回路6は、所定の検知タイミングで受光信号としきい値とを比較するものであり、前記物体検知タイミングで比較するほか、さらに物体検知タイミングの終了前に複数段階設けられた干渉光検知タイミングで、増幅された受光信号の電圧と、前記干渉光検知タイミングごとに複数段階設けられた干渉光検知レベルをもつ干渉光検知しきい値との比較に基づき干渉光検知信号を出力する。この比較回路6における複数段階の干渉光検知レベルは、後述するカウンタ回路11を介した干渉光検知タイミングと対応して干渉制御部9により設定される。
カウンタ回路11は、比較回路6に対して検知タイミング、つまり物体検知タイミングおよび物体検知タイミング終了前に複数段階設けられた干渉光検知タイミングを与える。このカウンタ回路11における、物体検知タイミングは制御部7により、干渉光検知タイミングは干渉制御部9により設定される。
前記干渉制御部9は、前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルに基づき、これに応じて複数設けられた投光遅延時間から所定の投光遅延時間を出力する。この干渉制御部9は、設定値記憶部(設定値記憶メモリ)12と投光遅延時間出力部14とを備えている。設定値記憶メモリ12は、干渉光検知タイミングの複数段階を記憶する記憶部21および干渉光検知タイミングの各段階ごとに設けられた干渉光検知レベルの複数段階を記憶する記憶部22と、干渉光検知タイミングおよび干渉光検知レベルの各段階の組合せごとに設けられた複数の投光遅延時間を記憶する記憶部23とを備えている。これらの設定値は予め記憶させておいてもよいし、外部入力により設定するようにしてもよい。
投光遅延時間出力部14は、前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルが、前記記憶された干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルの設定値以上に該当する場合に、これら各設定値の組合せに応じた投光遅延時間の設定値を投光制御部10に出力する。
前記投光制御部10は、駆動回路2に対して物体検知タイミングまたは所定の投光遅延時間だけ遅延された物体検知タイミングで投光パルスを出力することにより、投光素子1を出力させるように駆動回路2を制御する。
以下、上記構成の光電センサにおける干渉光防止動作を、図3、4に基づいて説明する。図3は設定値記憶メモリ12に記憶された設定値の一例を示し、図4は投光遅延動作を表すタイムチャートを示す。
図3のように、干渉制御部9における設定値記憶メモリ12には、物体検知タイミング終了前6クロック、4クロック、および2クロックの干渉光検知タイミングの各段階に対して、それぞれレベル2、1、3の3段階の干渉光検知レベルが記憶されている。各干渉光検知タイミングにおける各干渉光検知レベルの各段階に対して、3、4、5、6クロックの4つの投光遅延時間が記憶されている。つまり、干渉光検知タイミングと干渉光検知レベルの各段階による9つの組合せに対して4つの投光遅延時間が設けられている。物体検知タイミングの終了時点に近づけば近づく程に、干渉光の影響が大きくなるので、投光遅延時間も大きな値に設定している。
図3において、例えば、干渉光検知レベル1は、物体を検知するしきい値であるON検知レベル×0.8、干渉光検知レベル2は、ON検知レベル×0.4、干渉光検知レベル3は、干渉光の跳ね返り信号であり、オフセット電圧−(ON検知レベル×0.4)に設定される。なお、1クロックは所定値(例えば、5μs以下)に設定される。
カウンタ回路11は、タイマとカウンタを有し、干渉光がない場合には例えば、タイマにより計時されて、カウンタにより25クロックを1周期としてカウントされる。25クロックごとに、物体検知タイミングが比較回路6に与えられる。25クロックをカウントするとリセットされる。また、設定値記憶メモリ12に記憶された各段階に基づいて、カウンタ回路11により、物体検知タイミングの終了前における6、4、2クロックの干渉光検知タイミングが比較回路6に与えられ、この干渉光検知タイミングに対応して、各干渉光検知レベル1〜3が干渉光検知しきい値として比較回路6に与えられる。
図1の増幅回路5で増幅された受光信号について、比較回路6により、25クロックごとの物体検知タイミングでON検知レベルをもつしきい値と比較されて物体Mの有無が検出される。物体検知タイミング終了前における6クロック、4クロック、2クロックの干渉光検知タイミングで各干渉光検知レベル1〜3をもつ干渉光検知しきい値と比較されて干渉光が検知される。
図4のように、物体検知タイミング終了前6クロック〜4クロック間(図示a)の干渉光検知タイミングで干渉光検知レベル2の干渉光(図示b)を検知した場合、3クロック(図示c)の投光遅延時間がセットされる。この場合、前回の物体検知タイミングよりも3クロックだけ遅らせた物体検知タイミングで投光素子1から投光ビームが照射され、カウンタ回路11は3クロック遅らせたうえで25クロックをカウントする。
なお、仮に、その後、物体検知タイミング終了前2クロック〜0クロック間(図示d)の干渉光検知タイミングで、図示しない干渉光検知レベル3の干渉光を検知した場合、前記投光遅延時間の3クロックをリセットして6クロック(図示e)の投光遅延時間が再セットされる。そして、最終的にセットされた6クロックを投光遅延時間として、前回の物体検知タイミングよりも6クロックだけ遅らせた物体検知タイミングで投光素子1から投光ビームが照射され、カウンタ回路11は6クロック遅らせたうえで25クロックをカウントする。
これにより、各光電センサの相互干渉が防止されるとともに、干渉光検知信号の複数段階の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベル、つまり干渉光検知タイミングと干渉光検知レベルを細分化して検知して、干渉光の経時的な検知状態に応じた最適な遅延時間を与えることができる。
このように、本発明は、干渉制御部9において、物体検知タイミングの終了前での複数段階の干渉光検知タイミングにおける複数段階の干渉光検知レベルを設け、これに応じて複数段階の投光遅延時間を設けているので、従来のように複数段階の干渉光検知レベルおよび投光遅延時間だけを設けたのと異なり、これに複数段階の干渉光検知タイミングを加味して検知していることから、干渉光の経時的な検知状態に応じた最適な遅延時間を与えるので、無駄な遅延時間がなくなり、全体として可及的に投光遅延時間を短縮することができ、高速測定に対応可能となる。
本発明の一実施形態に係る干渉防止機能付き光電センサを示すブロック図である。 図1の光電センサの干渉制御部を示すブロック図である。 設定値記憶部に記憶された設定値の一例を示す図である。 投光遅延動作を表すタイムチャートである。
符号の説明
1:投光素子(LED)
2:駆動回路
3:受光素子(PD)
5:増幅回路
6:比較回路(コンパレータ)
7:制御部(CPU)
9:干渉制御部
10:投光制御部
12:設定値記憶部
14:投光遅延時間出力部
21:干渉光検知タイミング記憶部
22:干渉光検知レベル記憶部
23:投光遅延時間記憶部
M:検出物体

Claims (2)

  1. 投光素子を出力させて投光ビームを照射させる駆動回路と、投光ビームで照射された物体からの反射光を受光した受光素子からの受光信号を増幅する増幅回路と、投光素子の出力を開始させる物体検知タイミングで、増幅された受光信号の電圧と所定しきい値との比較に基づき、物体検知信号を出力する比較回路とを備えた光電センサであって、
    前記比較回路は、さらに前記物体検知タイミングの終了前に複数段階設けられた干渉光検知タイミングで、増幅された受光信号の電圧と、前記干渉光検知タイミングごとに複数段階設けられた干渉光検知レベルをもつ干渉光検知しきい値との比較に基づき干渉光検知信号を出力するものであり、
    前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルに基づき、これに応じて複数設けられた投光遅延時間から所定の投光遅延時間を出力する干渉制御部と、
    前記所定の投光遅延時間だけ遅延された物体検知タイミングで前記投光素子を出力させるように前記駆動回路を制御する投光制御部と、
    を備えている干渉防止機能付き光電センサ。
  2. 請求項1において、前記干渉制御部は、
    前記干渉光検知タイミングの複数段階と、干渉光検知タイミングの各段階ごとに設けられた干渉光検知レベルの複数段階と、干渉光検知タイミングおよび干渉光検知レベルの各段階の組合せごとに設けられた複数の投光遅延時間とを記憶する設定値記憶部と、
    前記干渉光検知信号の干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルが、前記記憶された干渉光検知タイミングにおける干渉光検知レベルの各段階に該当する場合に、これら各段階の組合せに応じた所定の投光遅延時間を前記投光制御部に出力する遅延時間出力部と、
    を備えている干渉防止機能付き光電センサ。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013090301A (ja) * 2011-10-21 2013-05-13 Azbil Corp 光電スイッチ
CN113567781A (zh) * 2021-07-17 2021-10-29 深圳市志奋领科技有限公司 一种光电传感器抗干扰方法及系统

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04349717A (ja) * 1991-05-27 1992-12-04 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0581774U (ja) * 1992-04-10 1993-11-05 株式会社本田電子技研 光学式物体検知装置
JPH06140901A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0681145U (ja) * 1993-04-26 1994-11-15 横河電機株式会社 光電スイッチ
JPH08307233A (ja) * 1995-05-12 1996-11-22 Omron Corp 光電センサ
JPH1041802A (ja) * 1996-07-26 1998-02-13 Secom Co Ltd 物体検出器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04349717A (ja) * 1991-05-27 1992-12-04 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0581774U (ja) * 1992-04-10 1993-11-05 株式会社本田電子技研 光学式物体検知装置
JPH06140901A (ja) * 1992-10-23 1994-05-20 Omron Corp 光電スイッチ
JPH0681145U (ja) * 1993-04-26 1994-11-15 横河電機株式会社 光電スイッチ
JPH08307233A (ja) * 1995-05-12 1996-11-22 Omron Corp 光電センサ
JPH1041802A (ja) * 1996-07-26 1998-02-13 Secom Co Ltd 物体検出器

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