JP4568108B2 - 真空薄膜装置 - Google Patents
真空薄膜装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4568108B2 JP4568108B2 JP2004373672A JP2004373672A JP4568108B2 JP 4568108 B2 JP4568108 B2 JP 4568108B2 JP 2004373672 A JP2004373672 A JP 2004373672A JP 2004373672 A JP2004373672 A JP 2004373672A JP 4568108 B2 JP4568108 B2 JP 4568108B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tray
- vacuum
- processing
- partition plate
- thin film
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Chemical Vapour Deposition (AREA)
Description
図1は、本発明の実施の形態1における真空薄膜装置の真空容器内の平面図である。図1において、図6と同じ構成または同じ機能の構成については同じ符号を用い、説明を省略する。
図2は、本発明の実施の形態2の真空薄膜装置の処理空間を示す説明図である。図2において、図1または図6に示す部材と同一の構成要素については同じ符号を付して、説明を省略する。
図3は本発明の実施の形態3における真空薄膜装置のトレー仕切り板と容器側仕切り板とよる間隙の部分を示す説明図である。なお、図2に示す部材と同一の構成要素については同じ符号を付して、説明を省略する。
図4は本発明の実施の形態4における真空薄膜装置のトレーに設置した防着板を示す説明図である。なお、図2に示す部材と同一の構成要素については同じ符号を付して、説明を省略する。
図5は本発明の実施の形態1〜3における真空薄膜装置の制御形態の簡略図である。実施の形態1〜3においては、トレー104の搬送系の制御、処理源102による処理や排気口108による排気の制御が制御装置109によって行われる。
102 処理源
103 防着板
104 トレー
105 基板
106 ゲートバルブ
107 処理空間
108 排気口
109 制御装置
201 トレー仕切り板
202 容器側仕切り板
203 処理空間
204 間隙
301 トレー防着板
Claims (5)
- 真空内で複数の処理源により基板の成膜処理またはエッチング処理を行う真空薄膜装置において、真空容器と、この真空容器内に設けられ、かつ前記基板を搬送するトレーと、このトレーに設けたトレー仕切り板と、前記真空容器内に設けられ、前記トレーの移動を許容する容器側仕切り板とを備え、連通する前記真空容器を、前記トレー仕切り板と前記容器側仕切り板とによって個別容器に分割することを特徴とする真空薄膜装置。
- 前記基板を各処理源に対向させるように前記トレーを移動させるトレー駆動機構を設けたことを特徴とする請求項1記載の真空薄膜装置。
- 前記容器側仕切り板と前記トレー仕切り板との間隙によって、それぞれの個別容器の間に差圧を発生させ、処理源ごとに必要とする圧力を生成することを特徴とする請求項1記載の真空薄膜装置。
- 前記トレー仕切り板に前記処理源を覆うように防着板を設置したことを特徴とする請求項1記載の真空薄膜装置。
- 複数の処理源の制御、前記トレーの搬送制御、および前記真空容器の排気制御を行う制御装置を有することを特徴とする請求項4記載の真空薄膜装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004373672A JP4568108B2 (ja) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | 真空薄膜装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004373672A JP4568108B2 (ja) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | 真空薄膜装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006176861A JP2006176861A (ja) | 2006-07-06 |
JP4568108B2 true JP4568108B2 (ja) | 2010-10-27 |
Family
ID=36731226
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004373672A Expired - Fee Related JP4568108B2 (ja) | 2004-12-24 | 2004-12-24 | 真空薄膜装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4568108B2 (ja) |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05286800A (ja) * | 1991-08-19 | 1993-11-02 | Praxair Technol Inc | 加工物を周囲空気を排除した特定の選択ガスの雰囲気中で処理するための装置及び方法 |
JPH05331642A (ja) * | 1992-06-01 | 1993-12-14 | Hitachi Ltd | マルチチャンバ式スパッタリング装置 |
JP2002194538A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Shibaura Mechatronics Corp | 多層膜の形成装置 |
-
2004
- 2004-12-24 JP JP2004373672A patent/JP4568108B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05286800A (ja) * | 1991-08-19 | 1993-11-02 | Praxair Technol Inc | 加工物を周囲空気を排除した特定の選択ガスの雰囲気中で処理するための装置及び方法 |
JPH05331642A (ja) * | 1992-06-01 | 1993-12-14 | Hitachi Ltd | マルチチャンバ式スパッタリング装置 |
JP2002194538A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-10 | Shibaura Mechatronics Corp | 多層膜の形成装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006176861A (ja) | 2006-07-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR20140015372A (ko) | 코팅 장치 및 방법 | |
JP2008297584A (ja) | 成膜装置 | |
JP2005320622A (ja) | 交換可能メンテナンス弁 | |
JPH04206547A (ja) | 装置間搬送方法 | |
KR20140041824A (ko) | 성막 장치 | |
TWI794475B (zh) | 用於接收多個基板以進行處理之保持裝置、處理系統及方法 | |
JP6120621B2 (ja) | 真空処理装置及びその運転方法 | |
CN101484607A (zh) | 基板托盘和成膜设备 | |
JP4477004B2 (ja) | 基板を処理するためのシステムおよび方法 | |
JP4568108B2 (ja) | 真空薄膜装置 | |
JP4891538B2 (ja) | ロードポート | |
KR20120025603A (ko) | 기판 처리 장치 | |
US20040147122A1 (en) | Wafer processing apparatus having dust proof function | |
JP3852570B2 (ja) | クリーンルーム装置 | |
JP2017220496A (ja) | 処理装置、及び物品製造方法 | |
JP6310704B2 (ja) | 成膜装置および成膜方法 | |
KR20130020607A (ko) | 밸브체, 게이트 밸브 및 기판 처리 시스템 | |
JP6500084B2 (ja) | 薄膜形成装置 | |
JP6408349B2 (ja) | 基板搬送方法 | |
US7614840B2 (en) | Wafer processing apparatus having dust proof function | |
JP2009218505A (ja) | アンロードチャンバ及びその運転方法 | |
JP6718755B2 (ja) | 真空処理装置およびその運転方法 | |
JP6836911B2 (ja) | 仕切弁装置 | |
JP2002164408A (ja) | 半導体製造装置および半導体装置の製造方法 | |
TWI682117B (zh) | 閘閥控制方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20071031 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20100722 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100803 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100806 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130813 Year of fee payment: 3 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |