JP4561666B2 - 検証シミュレータ及び検証シミュレーション方法 - Google Patents
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Description
図1に、本実施形態の検証シミュレータの検証対象デバイスである表示ドライバ510の構成例を示す。なお表示ドライバ510の構成は図1に限定されるものではなく、種々の変形実施が可能である。
図2に本実施形態の検証シミュレータの構成例を示し、図3に検証シミュレータのシミュレーション環境の例を示す。
TFD(Thin Film Diode)ドライバなどの表示ドライバでは、PWM方式の駆動方式が採用されている。PWM方式は、信号の時間幅で階調を変調する変調方式である。
さて、従来の検証シミュレーション手法では、図8に示すような信号波形を出力し、設計者がこれを目視で確認していた。しかしながら、このような信号波形の目視確認のみでは、バグ発見が複雑且つ困難であり、全ての信号波形を目視確認する作業も容易ではないという問題があった。
これまでの検証シミュレーション手法では、論理検証言語の1つであるVerilogの記述を用いて、テストパターン(テスト入力情報)を(1、0)のバイナリデータで作成していた。或いは、テストパターンの信号タイミングをタスク記述し、それを繰り返し使用することで、信号入力の簡略化を図っていた。
80 内部インターフェース回路モデル、90 表示パネルモデル、
92 データキャプチャ部、96 画像データファイル作成部、110 カウント部、
112 サンプリングクロック生成部、114 階調データ演算部、
116 内部レジスタ部、130 外部インターフェース回路モデル、
150 テスト入力情報、152 コマンドファイル、154 画像データ、
160 画像データファイル、
Claims (11)
- デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、
前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、
前記シミュレーション処理部は、
階調クロックに基づきカウント値のカウント処理を行い、前記表示ドライバモデルからのPWM(Pulse Width Modulation)データ信号のデータを前記表示パネルモデルに入力し、PWMデータ信号の変化点を特定し、特定された変化点に対応するカウント値を取得し、取得されたカウント値に基づいて、PWMデータ信号の階調データを求めるシミュレーション処理を行い、
前記表示ドライバモデルはデータドライバモデルを含み、前記データドライバモデルは、階調データをラッチするデータラッチ回路と、ラッチされた階調データに基づいてPWM方式で変調されたPWMデータ信号を生成するPWMデータ信号生成回路と、前記PWMデータ信号生成回路で生成されたPWMデータ信号をデータ線に出力する出力回路のモデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記データラッチ回路、前記PWMデータ信号生成回路、前記出力回路のモデルとして、前記データラッチ回路、前記PWMデータ信号生成回路、前記出力回路のネットリストを使用することを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1において、
前記シミュレーション処理部は、
前記階調クロックにより得られたサンプリングクロックに基づいて、PWMデータ信号の変化点を特定することを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項2において、
前記シミュレーション処理部は、
前記サンプリングクロックにより第K−1のタイミングでPWMデータ信号をサンプリングした時の論理レベルと、第KのタイミングでPWMデータ信号をサンプリングした時の論理レベルが異なる場合に、第Kのタイミングでのカウント値に基づいて、PWMデータ信号の階調データを求めることを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1乃至3のいずれかにおいて、
前記シミュレーション処理部は、
求められた階調データを、前記表示ドライバモデルからの走査信号のデータに基づいて、前記表示パネルモデルの内部レジスタ部のレジスタに格納することを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1乃至4のいずれかにおいて、
前記表示パネルモデルは、
階調クロックに基づきカウント値のカウント処理を行うカウント部と、
前記表示ドライバモデルからのPWMデータ信号の変化点を特定し、前記カウント部からのカウント値に基づいて、PWMデータ信号の階調データを求める階調データ演算部を含むことを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1乃至5のいずれかにおいて、
前記シミュレーション処理部は、
前記テスト入力情報と前記表示ドライバモデルと前記表示パネルモデルに基づいてシミュレーション処理を行い、前記表示パネルに表示されるべき画像を表示装置に表示するための画像データファイルに、シミュレーション結果データである階調データをフォーマット変換して出力することを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1乃至6のいずれかにおいて、
前記表示ドライバモデルは、
表示制御信号を生成するロジック回路の動作が記述されたロジック回路モデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記ロジック回路モデルとして前記ロジック回路のネットリストを使用することを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項1乃至7のいずれかにおいて、
前記モデルは、
前記表示ドライバの外部デバイスが含む外部インターフェース回路の動作が記述された外部インターフェース回路モデルを含み、
前記テスト入力情報は、
前記表示ドライバを動作させるためのコマンドが少なくとも記述されたコマンドファイルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記コマンドファイルを前記外部インターフェース回路モデルに入力し、前記コマンドファイルに基づき前記外部インターフェース回路モデルにより生成された所与の形式のインターフェース信号のデータを、前記表示ドライバモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項8において、
前記インターフェース信号は、MPUインターフェース信号、RGBインターフェース信号、シリアルインターフェース信号及びYUVインターフェース信号の少なくとも1つを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記外部インターフェース回路モデルにより生成された前記MPUインターフェース信号、前記RGBインターフェース信号、前記シリアルインターフェース信号及び前記YUVインターフェース信号の少なくとも1つのインターフェース信号のデータを、前記表示ドライバモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。 - 請求項8又は9において、
前記コマンドファイルは、インターフェースモード指定コマンドを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記インターフェースモード指定コマンドで指定される形式のインターフェース信号のデータを、前記表示ドライバモデルに入力するシミュレーション処理を行うことを特徴とする検証シミュレータ。 - 検証シミュレータのための検証シミュレーション方法であって、
前記検証シミュレータは、
デバイスの動作が記述されたモデルの情報を記憶する記憶部と、
前記モデルとテスト入力情報とに基づいて検証対象デバイスのシミュレーション処理を行うシミュレーション処理部とを含み、
前記モデルは、
表示ドライバの動作が記述された表示ドライバモデルと、前記表示ドライバにより駆動される表示パネルの動作が記述された表示パネルモデルとを含み、
前記シミュレーション処理部は、
階調クロックに基づきカウント値のカウント処理を行い、前記表示ドライバモデルからのPWM(Pulse Width Modulation)データ信号のデータを前記表示パネルモデルに入力し、入力されたPWMデータ信号の変化点を特定し、特定された変化点に対応するカウント値を取得し、取得されたカウント値に基づいて、PWMデータ信号の階調データを求めるシミュレーション処理を行い、
前記表示ドライバモデルはデータドライバモデルを含み、前記データドライバモデルは、階調データをラッチするデータラッチ回路と、ラッチされた階調データに基づいてPWM方式で変調されたPWMデータ信号を生成するPWMデータ信号生成回路と、前記PWMデータ信号生成回路で生成されたPWMデータ信号をデータ線に出力する出力回路のモデルを含み、
前記シミュレーション処理部は、
前記データラッチ回路、前記PWMデータ信号生成回路、前記出力回路のモデルとして、前記データラッチ回路、前記PWMデータ信号生成回路、前記出力回路のネットリストを使用することを特徴とする検証シミュレーション方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006085740A JP4561666B2 (ja) | 2006-03-27 | 2006-03-27 | 検証シミュレータ及び検証シミュレーション方法 |
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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Publication Number | Publication Date |
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JP2007264762A JP2007264762A (ja) | 2007-10-11 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4561666B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010086318A (ja) * | 2008-09-30 | 2010-04-15 | Digital Electronics Corp | デバッグシステム |
CN112731263B (zh) * | 2020-12-25 | 2023-06-30 | 河南翔宇医疗设备股份有限公司 | 一种功率校准方法、装置及系统 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2000181940A (ja) * | 1998-12-17 | 2000-06-30 | Ricoh Co Ltd | アナログ・デジタル混載論理シミュレーション方法 |
JP2005156962A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器 |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH1040273A (ja) * | 1996-07-24 | 1998-02-13 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | シミュレーション装置 |
-
2006
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JP2000181940A (ja) * | 1998-12-17 | 2000-06-30 | Ricoh Co Ltd | アナログ・デジタル混載論理シミュレーション方法 |
JP2005156962A (ja) * | 2003-11-26 | 2005-06-16 | Seiko Epson Corp | 電気光学装置、電気光学装置の駆動方法および電子機器 |
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JP2007264762A (ja) | 2007-10-11 |
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