JP4556610B2 - 表面被覆プラスチック材 - Google Patents
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Description
本発明の他の目的は、包装材の分野にも有効に適用される表面被覆プラスチック基材を提供することにある。
本発明によれば、また、プラスチック基材表面に蒸着膜が形成された表面被覆プラスチック材において、該蒸着膜は、プラスチック基材表面との界面側に形成された有機ケイ素層を含んでおり、更に、該有機ケイ素層上には、ケイ素酸化物とジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物とを含む複合酸化物層が形成されており、該複合酸化物層には元素換算でZr又はTiを少なくとも3%含有していることを特徴とする表面被覆プラスチック材も提供される。
(1)前記複合酸化物層上に、ジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物単独からなる層が形成されていること、
(2)前記ケイ素酸化物層は、前記有機ケイ素層に比してケイ素(Si)リッチな層であること、
(3)前記複合酸化物層はジルコニウム(Zr)含有層であること、
(4)各層間では元素組成が連続的に変化しており、各層間に明確な界面が形成されていないこと、
(5)前記蒸着膜は、プラズマCVD法により形成されていること、
(6)前記プラスチック基材がフィルムまたはシートであること、
(7)前記プラスチック基材が容器であること、
が好適である。
本発明の表面被覆プラスチック材は、図1に示すように、プラスチック基材1の表面に蒸着膜2が形成されたものであるが、この蒸着膜2は、プラスチック基材1の表面側から順に、有機ケイ素層2a、ケイ素酸化物層2b、ケイ素酸化物とジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物を含む複合酸化物層2cからなる層状構造を有している。
本発明においては、上記のような層状分布構造を有する蒸着膜は、例えば、プラズマCVD法により、有機ケイ素重合体層2aとケイ素酸化物層2bとを連続的に製膜し、さらに、プラズマCVD法或いは真空蒸着法により、ケイ素酸化物層2b上に、複合酸化物層2cを製膜することにより、形成することができる。従って、このような蒸着膜の形成プロセスは、有機ケイ素層2aを形成するための前蒸着工程と、ケイ素酸化物層2bを形成するための本蒸着工程と、複合酸化物層2cを形成するための後蒸着工程とに分けられる。
かかるプラズマ処理に際して、プラズマ処理室は、グロー放電が発生する真空度に保持するべきであり、一般的にいって、製膜時の圧力を1〜200Pa、特に好適には、5〜50Paの範囲に維持し、この状態で、マイクロ波や高周波などを供給してのグロー放電により、前蒸着が行われ、引き続いて本蒸着が行われる。
(a)水素の引き抜き:SiCH3→SiCH2・
(b)酸化:SiCH2・→SiOH
(c)縮合:SiOH→SiO
以下に、前蒸着工程及び本蒸着工程、並びに、その後に行われる後蒸着工程について詳細に説明する。
蒸着開始時における前蒸着工程においては、処理すべきプラスチック基材1が保持されたプラズマ処理室に一定量の有機ケイ素化合物ガス(及び必要によりキャリヤガス、炭化水素ガス)が供給されるが、前記(a)の段階で反応を止めるために、酸化性ガスを供給しないことが好ましい。
前蒸着工程に引き続いて行われる本蒸着工程では、一定量の有機ケイ素化合物ガスに加えて酸化性ガス(及び必要によりキャリヤガス、炭化水素ガス)をプラズマ処理室に供給してのグロー放電により、前記(c)の段階まで反応を進行させてケイ素酸化物層2bを形成する。
また、有機ケイ素層2aからケイ素酸化物層2bにかけて、光電子分光分析におけるケイ素の結合エネルギーも有機ケイ素に由来する約101〜102eVからケイ素酸化物の結合に由来する約103〜104eVに連続的に変化させることが好適である。
上記のようにして前蒸着及び本蒸着を行って有機ケイ素層2a及びケイ素酸化物層2bを形成した後には、後蒸着を行って複合酸化物層2cを形成する。
一方、ケイ素酸化物層2bの上に形成するチタニウム酸化物含有層中の該チタニウム酸化物源として使用されるチタニウム化合物は、プラズマCVD法として使用されるチタニウム化合物は酸化性ガスと反応して酸化チタニウムを形成するものであれば、任意のものを使用することができるが、一般的には、有機チタニウム化合物としては、テトライソプロピルチタネートやテトラーNーブチルチタネートなどのアルキルチタネートが用いられる。有機チタニウム化合物の蒸気圧は低く、反応に使用する酸化性ガスやアルゴン、ヘリウムなどのプラズマ助剤でバブリングして、プラズマ処理室内に導入することができる。
上述した蒸着膜2を形成するためのマイクロ波プラズマ処理装置の構造を、プラスチックボトルの内面にマイクロ波グロー放電によるプラズマ処理を行う場合を例にとって、図4に示した。
上述した蒸着膜2を形成するための高周波プラズマ処理装置の構造を、プラスチックシートの表面に高周波グロー放電によるプラズマ処理を行う場合を例にとって、図5に示した。
図5に示した様に、高周波プラズマCVD装置は処理室50を真空に引くための排気管73と処理室内60の中に基板ホルダー71とそれに接続された基板72そしてその基板72の対向の位置に高圧電源63と接続された蒸発源64が配置され、基板72と蒸発源64との間に高周波電源61と接続された高周波誘導リング62が配置され、更に有機ケイ素化合物用タンク51、酸化性ガスやキャリヤーガスのタンク54、ガスの乾燥管53そして有機ジルコニウムのバブラー52を図5に示した様にバルブ57を介して配置、配管し、処理室内60のガス供給管55に接続した。
プラズマ処理に際しては、先ず真空ポンプを駆動して、排気管73を介して、処理室内60を減圧状態にする。
所定の減圧状態に達した後、有機ケイ素化合物層を形成する為、有機ケイ素化合物用タンク51のバルブを調整し、ガス供給管を介して、処理室内60に所定の圧力になるように有機ケイ素化合物を導入する。高周波電源61を駆動し、高周波誘導リング62より、処理室内60に高周波電界を導入する。
高周波電界の導入により、蒸発源64と基板72の間に有機ケイ素化合物によるプラズマが形成され、基板72上に有機ケイ素膜が形成させる。有機ケイ素のプラズマを所定の時間保持し、次に酸素を導入し、有機ケイ素化合物と酸素の混合によるプラズマを形成し、更に所定の時間保持する。この工程により、基板上の有機ケイ素膜上に酸化ケイ素膜が形成される。更に、所定の時間、有機ケイ素化合物の導入量を減少させると共に有機ジルコニウムを導入することにより、酸化ケイ素膜上に酸化ジルコニウム含有膜が形成される。
蒸着膜を被覆したシートの蒸着面又は内面に蒸着したボトルの胴部の内面を、PHI社製、X線光電子分光装置(Quantum2000)により、膜の深さ方向のジルコニウム又はチタニウム、ケイ素、酸素そして炭素のそれぞれの濃度を測定し、組成分布を測定した。
尚、ケイ素濃度及びジルコニウム濃度又はチタニウム濃度そして酸素濃度は溶融石英(SiO2)及び酸化ジルコニウム(ZrO2)又は酸化チタニウム(TiO2)を基準として補正し、膜厚に関しては、溶融石英(SiO2)と同様のスパッタ速度で推測した。
(ボトルの場合)蒸着膜を内面に被覆したPETボトルの場合、pH8.5に調整した水をボトルに充填し、シーラント付きアルミ積層体でボトルの口部を密封して、重量(M1)を測定後、40℃10%RHの環境下に14日間保存した後の重量(M2)を測定し、M1−M2から、水分の透過量を求め、同様にして測定した未蒸着PETボトルの水分の透過量との比(未蒸着PETボトル/蒸着PETボトル)で表した。
(シートの場合)蒸着膜を被覆したシートを角形ジャーに入れ、pH8.5に調整した水をシートが浸る程充填し、密封後、40℃の環境下に14日間保存した後、被覆シートのガス透過量を調べ、同様にして測定した未蒸着シートのガス透過量との比(未蒸着シート/蒸着シート)で表した。
モダンコントロール社の水蒸気透過量測定装置(パーマトランW3/30)を用い、アルカリ液保存前後の蒸着膜被覆シートの40℃での水蒸気透過量を求め、同様にして測定した未蒸着シートの水蒸気の透過量との比(未蒸着シート/蒸着シート)で表した。
(ボトルの場合)前記水分バリヤー性測定後のボトルからアルカリ水を除去した後、モダンコントロール社の酸素透過量測定装置(オキシトラン)により37℃での酸素透過量を測定し、同様にして測定した未蒸着PETボトルの酸素透過量のと比(未蒸着PETボトル/蒸着PETボトル)で表した。
(シートの場合)モダンコントロール社の酸素透過量測定装置(オキシトラン2/20)を用い、アルカリ液保存前後の蒸着膜被覆シートの23℃での酸素透過量を求め、同様にして測定した未蒸着シートの酸素の透過量の比(未蒸着シート/蒸着シート)で表した。
(ボトルの場合)蒸着膜を内面に被覆したPETボトルにpH8.5に調整した水を充填し、アルミ積層体で密封シールした後、50℃14日間保存した。保存後、ボトルの胴部のケイ素量及びジルコニウム量又はチタニウム量を蛍光X線分析装置(Rigaku ZSX)により、測定し、同条件で蒸着したアルカリ水未充填のボトルの胴部の各元素の濃度と比較して残存率を求め、アルカリ耐性とした。
(シートの場合)蒸着膜を被覆したシートを角形ジャーに入れ、pH8.5に調整した水をシートが浸る程充填し、密封後、50℃の環境下に14日間保存した。保存後、シートのケイ素量及びジルコニウム量又はチタニウム量を蛍光X線分析装置(Rigaku ZSX)により、測定し、同条件で蒸着したアルカリ水未接触の蒸着シートの各元素の濃度と比較して残存率を求め、アルカリ耐性とした。
周波数2.45GHz、最大出力1.2kWのマイクロ波電源、直径90mm、高さ500mmの金属製円筒プラズマ処理室、処理室及びボトル内を真空にする真空ポンプ、マイクロ波を発振器からプラズマ処理室に導入する矩形導波管を接続した図4に示す装置を用いた。
ボトルホルダーに、口径28mm、胴径64mm、高さ206mmそして内容積520mlの円筒形ポリエチレンテレフタレート製のボトル(以下PETボトルと記す)を設置し、処理室内の真空度を7kPa、ボトル内真空度を10Paとし、ヘキサメチルジシロキサン(以下HMDSOと記す)を3sccm導入後、マイクロ波発振器より500Wのマイクロ波を発信させてPETボトル内にプラズマを発生させて3秒間プラズマ処理を行い、接着層である有機ケイ素化合物層を形成した。続いて、HMDSOを3sccmと酸素を30sccm導入し、同様に接着層の上にバリヤー層であるケイ素酸化物層を6秒間被覆し、そして、HMDSO(1sccm)とテトラブトキシジルコニウム(以下TBZrと記す)(1sccm)と酸素(36sccm)を導入し、ケイ素酸化物層の上に、酸化ジルコニアを含むケイ素酸化物層であるジルコニア酸化物含有層を3秒間被覆した。
この膜の厚み方向の組成を所定の分析法によるケイ素、酸素、ジルコニウムそして炭素の濃度を測定し、膜の深さ方向における組成分布を図2に示した。
このボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―1に示した。
三層目の製膜にテトラブトキシジルコニウムを導入せず、製膜した事以外は実施例1と同様にPETボトルの内面にケイ素酸化膜を被覆した。
この膜の厚み方向の組成を所定の分析法によるケイ素、酸素、ジルコニウムそして炭素の濃度を測定し、膜の深さ方向における組成分布を図6に示した。
このボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―1に示した。
三層目の製膜時のTBZrとHMDSOそして酸素の量を下表に示した製膜条件以外は実施例1と同様にPETボトルの内面にケイ素化合物薄膜を被覆した。
この膜の第三層の膜組成は所定の分析法により、ケイ素、酸素、ジルコニウムそして炭素の濃度を測定し、表―2に示した。また、これらのボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―2に示した(表中の実施例2−5は本発明の範囲外の比較例である)。
周波数13.56MHz、最大出力1.5kWの高周波電源を接続した直径600mm、高さ600mmの金属製ベルジャー型プラズマ処理室、処理室内を真空にするための真空ポンプを備えた図5に示す装置を用いた。
基板ホルダーに基板として直径200mm、厚み100μmのポリエチレンテレフタレートシートを配置し、チャンバー内の真空度を10Paとし、HMDSOを5sccm導入後、高周波発振器より300Wの高周波を導入し、基板近傍にHMDSOプラズマを発生させ、3秒間プラズマ処理を行った。続いて、HMDSOを5sccm酸素を50sccm導入し、HMDSOと酸素の混合プラズマを形成し、6秒間プラズマ処理を行った。続いて、HMDSOの導入量を減少させながら、酸化ジルコニウムを入れた蒸発源64を加熱しながら、酸化ジルコニウムを気化させ、基板上に3秒間、堆積させた。
この膜の厚み方向の組成を所定の分析法によるケイ素、酸素、ジルコニウムそして炭素の濃度を測定し、膜の深さ方向における組成分布を図7に示した。また、このボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―1に示した。
実施例1で用いた装置を用い、ボトルホルダーに、口径28mm、胴径64mm、高さ206mmそして内容積520mlの円筒形ポリエチレンナフタレート(PEN)製のボトル(以下PENボトルと記す)を設置し、処理室内の真空度を7kPa、ボトル内真空度を10Paとし、HMDSOを3sccm導入後、マイクロ波発振器より500Wのマイクロ波を発信させてPENボトル内にプラズマを発生させて3秒間プラズマ処理を行い、接着層である有機ケイ素化合物層を形成した。続いて、HMDSOを3sccmと酸素を30sccm導入し、同様に接着層の上にバリヤー層であるケイ素酸化物層を6秒間被覆した。続いて、酸素の流路を加熱したイソプロピルチタニウム(IPTi)を入れたチタニウム源を経由し、IPTiを酸素でバブリングしながら装置内に導入し、HMDSOの導入量を連続的に減少させながら、マイクロ波を導入し、基板上に酸化チタニウムを含む層を堆積させた。
この膜の厚み方向の組成を所定の分析法によるケイ素、酸素、ジルコニウム、チタニウムそして炭素の濃度を測定し、膜の深さ方向における組成分布を図8に示した。また、このボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―3に示した。
三層目の製膜にIPTiを導入せず、製膜した事以外は実施例3と同様にPENボトルの内面にケイ素酸化膜を被覆した。
この膜の厚み方向の組成を所定の分析法によるケイ素、酸素、ジルコニウム、チタニウムそして炭素の濃度を測定し、膜の深さ方向における組成分布を図9に示した。また、このボトルについて、水蒸気バリヤー性、酸素バリヤー性そしてアルカリ耐性を所定の方法で測定し、表―3に示した。
Claims (7)
- プラスチック基材表面に蒸着膜が形成された表面被覆プラスチック材において、該蒸着膜は、プラスチック基材表面との界面側に形成された有機ケイ素層と、有機ケイ素層上に形成されたケイ素酸化物層とを含んでおり、更に、該ケイ素酸化物層上には、ケイ素酸化物とジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物とを含む複合酸化物層が形成されており、該複合酸化物層には元素換算でZr又はTiを少なくとも3%含有していることを特徴とする表面被覆プラスチック材。
- プラスチック基材表面に蒸着膜が形成された表面被覆プラスチック材において、該蒸着膜は、プラスチック基材表面との界面側に形成された有機ケイ素層を含んでおり、更に、該有機ケイ素層上には、ケイ素酸化物とジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物とを含む複合酸化物層が形成されており、該複合酸化物層には元素換算でZr又はTiを少なくとも3%含有していることを特徴とする表面被覆プラスチック材。
- 前記複合酸化物層上に、ジルコニウム酸化物又はチタニウム酸化物単独からなる層が形成されている請求項1または2に記載の表面被覆プラスチック材。
- 前記ケイ素酸化物層は、前記有機ケイ素層に比してケイ素(Si)リッチな層であり、前記複合酸化物層はジルコニウム(Zr)含有層であり、各層間では元素組成が連続的に変化しており、各層間に明確な界面が形成されていない請求項1に記載の表面被覆プラスチック材。
- 前記蒸着膜は、プラズマCVD法により形成されている請求項1乃至4の何れかに記載の表面被覆プラスチック材。
- 前記プラスチック基材がフィルムまたはシートである請求項1乃至5の何れかに記載の表面被覆プラスチック材。
- 前記プラスチック基材が容器である請求項1乃至5の何れかに記載の表面被覆プラスチック材。
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