JP4554174B2 - 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム - Google Patents
顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム Download PDFInfo
- Publication number
- JP4554174B2 JP4554174B2 JP2003272286A JP2003272286A JP4554174B2 JP 4554174 B2 JP4554174 B2 JP 4554174B2 JP 2003272286 A JP2003272286 A JP 2003272286A JP 2003272286 A JP2003272286 A JP 2003272286A JP 4554174 B2 JP4554174 B2 JP 4554174B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- correction
- objective lens
- microscope
- distance
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
- G02B21/365—Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B27/00—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00
- G02B27/0025—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration
- G02B27/0037—Optical systems or apparatus not provided for by any of the groups G02B1/00 - G02B26/00, G02B30/00 for optical correction, e.g. distorsion, aberration with diffracting elements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/02—Objectives
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Automatic Focus Adjustment (AREA)
Description
なお、上記[1]式の導出については後述する。
ΔZ=ΔZ’×n1 /n3 ・・・[2]
だけ変化させるようにすればよいことが分かる。CPU111では上記の[2]式の計算を実行することによって、指定された取得間隔で断層像を取得するためのステージ106と対物レンズ104との相対的な移動量を算出する。
CPU111では、上記の[3]式の計算を実行することによってZ2 を算出した後、記憶装置112に格納されている、図3にグラフで示した補正環の調整状態と対物レンズ104の焦点位置との関係が表されているデータベースを参照し、このデータベースでこのZ2 に対応付けられている補正環の回転角度θ2 を取得する処理が行われる。このθ2 が収差補正機構の調整量の決定の結果となる。
n1 ・sin θ=n2 ・sin θ'
n2 ・sin θ' =n3 ・sin θ''
が成立するので、これより、
n1 ・sin θ=n3 ・sin θ''・・・[i ]
が成立する。
ΔZ=d・tan θ
ΔZ' =d・tan θ''
が成立するので、これより、
ΔZ' =ΔZ・tan θ''/tan θ・・・[ii]
と表すことができる。
sin θ≒θ
sin θ''≒θ''
tan θ≒θ
tan θ''≒θ''
が成立するので、上記[i ]式より、
n1 ・θ=n3 ・θ''
従って、上記[ii]式より、
ΔZ' =ΔZ・n3 /n1
となり、前述した式[1]が導出される。
101 補正環コントローラ
102 光源
103 ダイクロイックミラー
104 対物レンズ
105 試料
106 ステージ
107 共焦点ピンホール
108 画像取得装置
109 位置制御コントローラ
110 PC
111 CPU
112 記憶装置
113 マンマシンインタフェース
114 画像モニタ
201 可変形状ミラー
301 吸収フィルタ
302 画像取得装置または接眼部
Claims (17)
- 顕微鏡に配置された観察対象の試料を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚み、顕微鏡の対物レンズ先端から前記カバーガラス又は前記保持部材の対物レンズ側の面までの液状のイマージョン媒質の厚み、及び前記カバーガラス又は前記保持部材の前記試料側の面から前記対物レンズの焦点位置までの試料又は当該試料を封入する封入剤の厚みの変化に起因する光学的な収差に対する補正量を、前記試料と前記対物レンズとの間の距離に基づいて決定する補正量決定手段と、
前記収差を補正する補正手段を前記補正量に基づいて制御する補正制御手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記距離を所定の間隔で逐次変化させる制御を行う距離制御手段と、
前記距離が変化する度に、前記試料についての前記顕微鏡による観察像を取得することにより、前記試料の異なる観察深さの画像群を取得する観察像取得手段と、
を更に有することを特徴とする請求項1に記載の顕微鏡システム。 - 前記顕微鏡は共焦点顕微鏡であることを特徴とする請求項1または2に記載の顕微鏡システム。
- 前記補正量決定手段は、前記試料の位置においての前記対物レンズの焦点位置の光軸方向の位置の変化量に対応する前記距離の変化量を算出する算出手段を更に有することを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
- 前記算出手段は、前記イマージョン媒質の屈折率、または前記試料の屈折率若しくは前記封入剤の屈折率に基づいて前記距離の変化量を算出することを特徴とする請求項4に記載の顕微鏡システム。
- 前記対物レンズには、前記補正手段として補正環が設けられていることを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
- 前記補正制御手段は前記補正環の回転角度の制御を行うことを特徴とする請求項6に記載の顕微鏡システム。
- 前記補正量決定手段は、予め得られている、前記対物レンズの光軸方向の位置と当該位置における前記補正環の適切な回転角度との関係に基づいて、当該補正環の回転角度を前記補正量として決定することを特徴とする請求項7に記載の顕微鏡システム。
- 前記補正手段は、伝播する光の波面を変換する波面変換素子であることを特徴とする請求項1から3のうちのいずれか一項に記載の顕微鏡システム。
- 前記波面変換素子は可変形状ミラーであることを特徴とする請求項9に記載の顕微鏡システム。
- 顕微鏡に配置された観察対象の試料と当該顕微鏡の有する対物レンズとの間の距離に基づいて、当該試料を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚み、顕微鏡の対物レンズ先端から前記カバーガラス又は前記保持部材の対物レンズ側の面までの液状のイマージョン媒質の厚み、及び前記カバーガラス又は前記保持部材の前記試料側の面から前記対物レンズの焦点位置までの試料又は当該試料を封入する封入剤の厚みの変化に起因する光学的な収差に対する補正量を決定し、
前記顕微鏡に備えられている前記収差を補正する補正部を前記補正量に基づいて制御する、
ことを特徴とする顕微鏡の制御方法。 - 顕微鏡に配置された観察対象の試料と当該顕微鏡の有する対物レンズとの間の距離に基づいて、当該試料を保護するカバーガラスの厚み又は当該試料を保持する透過性を有する保持部材の厚み、顕微鏡の対物レンズ先端から前記カバーガラス又は前記保持部材の対物レンズ側の面までの液状のイマージョン媒質の厚み、及び前記カバーガラス又は前記保持部材の前記試料側の面から前記対物レンズの焦点位置までの試料又は当該試料を封入する封入剤の厚みの変化に起因する光学的な収差に対する補正量を決定する処理と、
前記顕微鏡に備えられている前記収差を補正する補正部を前記補正量に基づいて制御する処理と、をコンピュータに行わせるためのプログラム。 - 液状のイマージョン媒質を観察対象の試料との間に満たして観察する対物レンズと、この対物レンズと前記試料との間の距離を変化させる距離調節手段と、前記試料を保護するカバーガラスの厚み又は前記試料を保持する透過性を有する保持部材の厚みに起因する光学的な収差を補正可能な補正手段とを備える顕微鏡において、
前記距離調節手段により調節される前記距離に基づいて、前記対物レンズの焦点位置の前記試料の表面からの深さの変化に起因する光学的な収差の変化を補正するため前記補正手段における補正量を決定する補正量決定手段と、前記補正手段を前記補正量に基づいて制御する補正制御手段と、
を有することを特徴とする顕微鏡システム。 - 液状のイマージョン媒質を観察対象の試料との間に満たして観察する対物レンズと、
この対物レンズと前記試料との間の距離を変化させる距離調節手段と、
前記距離を所定間隔で変化させるように前記距離調節手段を制御する距離制御手段と、
前記距離の変化に基づく対物レンズ焦点位置の試料表面からの深さの変化に起因する光学的な収差の変化を補正する補正手段と、
前記距離に基づいて前記補正手段における補正量を決定する補正量決定手段と、
前記補正手段を前記補正量に基づいて制御する補正制御手段と、
を有し、
前記距離の変化の度に、当該変化した距離に基づく前記補正量決定手段及び前記補正制御手段が前記補正量の決定及び前記補正手段の制御を行い、その後に前記試料の観察像を取得することにより前記試料の異なる観察深さの画像群を取得することを特徴とする顕微鏡システム。 - 前記補正量決定手段は、前記試料として標準試料を使用して当該標準試料と前記対物レンズの焦点位置を変化させながら、当該対物レンズの焦点位置とその位置において取得される画像が最適に補正されたときの前記補正手段の補正量との関係を予め取得して記憶し、この記憶された関係に基づいて前記距離に対応する前記補正手段の補正量を決定することを特徴とする請求項1、2、13又は14のいずれかに記載の顕微鏡システム。
- 前記補正量決定手段は、前記対物レンズに使用される液状のイマージョン媒質の屈折率又は前記試料若しくはこの試料を封入する封入剤の屈折率を所定の値としたときの、前記対物レンズの焦点位置と前記補正手段の補正量との関係を示す基準補正データ群を予め取得して記憶し、
前記基準補正データ群の取得時の前記イマージョン媒質の屈折率又は前記試料若しくはこの試料を封入する封入剤の屈折率の値と、前記観察対象の試料の観察時におけるイマージョン媒質の屈折率又は前記試料若しくはこの試料を封入する封入剤の屈折率の値とから得られる換算結果に基づいて、前記基準補正データ群から前記補正手段の補正量を取得することを特徴とする請求項1、2、13又は14のいずれかに記載の顕微鏡システム。 - 前記標準試料の観察において取得される画像が最適に補正されたときの前記補正手段の補正量は、その焦点位置において取得される画像が最も明るくなる場合のものであることを特徴とする請求項15または16に記載の顕微鏡システム。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003272286A JP4554174B2 (ja) | 2003-07-09 | 2003-07-09 | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003272286A JP4554174B2 (ja) | 2003-07-09 | 2003-07-09 | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005031507A JP2005031507A (ja) | 2005-02-03 |
JP2005031507A5 JP2005031507A5 (ja) | 2008-02-28 |
JP4554174B2 true JP4554174B2 (ja) | 2010-09-29 |
Family
ID=34209892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003272286A Expired - Lifetime JP4554174B2 (ja) | 2003-07-09 | 2003-07-09 | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4554174B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013172085A1 (ja) | 2012-05-17 | 2013-11-21 | シチズンホールディングス株式会社 | 収差補正デバイス及びレーザー顕微鏡 |
WO2014027694A1 (ja) | 2012-08-16 | 2014-02-20 | シチズンホールディングス株式会社 | 収差補正光学ユニット及びレーザー顕微鏡 |
Families Citing this family (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007094079A (ja) * | 2005-09-29 | 2007-04-12 | Olympus Corp | 光学装置及び走査型顕微鏡 |
JP4815179B2 (ja) * | 2005-09-30 | 2011-11-16 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡 |
JP4812443B2 (ja) * | 2006-01-27 | 2011-11-09 | オリンパス株式会社 | 走査型共焦点レーザ顕微鏡 |
JP2008026643A (ja) * | 2006-07-21 | 2008-02-07 | Olympus Corp | レーザ走査型顕微鏡 |
JP2008276070A (ja) * | 2007-05-02 | 2008-11-13 | Olympus Corp | 拡大撮像装置 |
JP5536995B2 (ja) | 2007-07-17 | 2014-07-02 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡対物レンズおよびレーザー走査型顕微鏡システム |
JP5381984B2 (ja) * | 2008-06-17 | 2014-01-08 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム |
JP5692969B2 (ja) * | 2008-09-01 | 2015-04-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 収差補正方法、この収差補正方法を用いたレーザ加工方法、この収差補正方法を用いたレーザ照射方法、収差補正装置、及び、収差補正プログラム |
JP5537855B2 (ja) * | 2009-07-15 | 2014-07-02 | パナソニックヘルスケア株式会社 | 培養物観察システム |
JP5980471B2 (ja) * | 2010-02-26 | 2016-08-31 | 浜松ホトニクス株式会社 | 収差補正方法、この収差補正方法を用いた顕微鏡観察方法、この収差補正方法を用いたレーザ照射方法、収差補正装置、及び、収差補正プログラム |
DE102011084562B4 (de) * | 2011-10-14 | 2018-02-15 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung und Korrektur von sphärischen Abbildungsfehlern in einem mikroskopischen Abbildungsstrahlengang |
JP6180130B2 (ja) | 2013-02-20 | 2017-08-16 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、プログラム、及び球面収差を補正する方法 |
JP6196825B2 (ja) * | 2013-07-09 | 2017-09-13 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、及び、試料の屈折率測定方法 |
US9933607B2 (en) | 2014-08-06 | 2018-04-03 | General Electric Company | Microscope objective |
DE102014216227B4 (de) | 2014-08-14 | 2020-06-18 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen eines Abstandes zweier voneinander entlang einer ersten Richtung beabstandeter optischer Grenzflächen |
US10379329B2 (en) | 2014-12-15 | 2019-08-13 | Olympus Corporation | Microscope system and setting value calculation method |
JP6423261B2 (ja) * | 2014-12-15 | 2018-11-14 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、関数算出方法、及び、プログラム |
JP6555811B2 (ja) | 2015-07-16 | 2019-08-07 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、特定方法、及び、プログラム |
JP6552041B2 (ja) * | 2015-07-16 | 2019-07-31 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡システム、屈折率算出方法、及び、プログラム |
WO2020240638A1 (ja) * | 2019-05-24 | 2020-12-03 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム |
WO2020240639A1 (ja) * | 2019-05-24 | 2020-12-03 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム |
CN114216903B (zh) * | 2021-11-27 | 2024-04-02 | 宁夏农林科学院园艺研究所(宁夏设施农业工程技术研究中心) | 背负式花粉活性鉴定装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05266511A (ja) * | 1991-12-04 | 1993-10-15 | General Electric Co <Ge> | 球面収差を補正する装置 |
JP2002169101A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2005017643A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Hamamatsu Photonics Kk | 対物レンズおよび光学装置 |
-
2003
- 2003-07-09 JP JP2003272286A patent/JP4554174B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH05266511A (ja) * | 1991-12-04 | 1993-10-15 | General Electric Co <Ge> | 球面収差を補正する装置 |
JP2002169101A (ja) * | 2000-09-22 | 2002-06-14 | Olympus Optical Co Ltd | 顕微鏡 |
JP2005017643A (ja) * | 2003-06-25 | 2005-01-20 | Hamamatsu Photonics Kk | 対物レンズおよび光学装置 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2013172085A1 (ja) | 2012-05-17 | 2013-11-21 | シチズンホールディングス株式会社 | 収差補正デバイス及びレーザー顕微鏡 |
US9594238B2 (en) | 2012-05-17 | 2017-03-14 | Citizen Watch Co., Ltd. | Aberration correction device and laser microscope |
WO2014027694A1 (ja) | 2012-08-16 | 2014-02-20 | シチズンホールディングス株式会社 | 収差補正光学ユニット及びレーザー顕微鏡 |
US9423600B2 (en) | 2012-08-16 | 2016-08-23 | Citizen Holdings Co., Ltd. | Aberration correction optical unit and laser microscope |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005031507A (ja) | 2005-02-03 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4554174B2 (ja) | 顕微鏡システム、顕微鏡の制御方法、及びプログラム | |
US8400709B2 (en) | Laser scan confocal microscope | |
JP5621259B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP5381984B2 (ja) | 顕微鏡装置および顕微鏡装置制御プログラム | |
WO2006124800A3 (en) | Confocal scanning microscope having optical and scanning systems which provide a handheld imaging head | |
JP6233784B2 (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
JP2011118264A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2017215546A (ja) | 共焦点顕微鏡 | |
CN108351502A (zh) | 图像取得装置、图像取得方法以及空间光调制单元 | |
US10302925B2 (en) | Microscope including a variable-focus optical system disposed between a photodetector and an objective optical system | |
JP2015069202A (ja) | 顕微鏡システム | |
EP2360505B1 (en) | Microscope apparatus | |
WO2018087820A1 (ja) | 画像群生成装置、球面収差補正算出装置、顕微鏡、プログラム及び球面収差補正算出方法 | |
US11500188B2 (en) | Microscope with focusing system | |
JP6969134B2 (ja) | 補正量算出装置、顕微鏡、補正量算出プログラム、補正量算出方法 | |
JP2008026643A (ja) | レーザ走査型顕微鏡 | |
JP4700334B2 (ja) | 全反射蛍光顕微鏡 | |
JP7195269B2 (ja) | 観察装置、観察装置の作動方法、及び観察制御プログラム | |
US10897580B2 (en) | Observation device that controls numerical aperture in accordance with specified observation scope | |
JP3506749B2 (ja) | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 | |
JP7380906B2 (ja) | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の試料屈折率測定方法、および顕微鏡装置の試料屈折率測定プログラム | |
JP4381687B2 (ja) | 全反射蛍光顕微測定装置 | |
WO2021166069A1 (ja) | ライトシート顕微鏡、制御方法、及び、プログラム | |
WO2020240638A1 (ja) | 顕微鏡装置、顕微鏡装置の制御方法、および顕微鏡装置の制御プログラム | |
JPH04157413A (ja) | 走査型顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060619 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20080109 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20091215 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100209 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100413 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100525 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100622 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100714 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 4554174 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130723 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |