JP3506749B2 - 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体Info
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Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は一般的に顕微鏡に関し、
更に詳しくは、光学的断層像の歪みを補正できる顕微鏡
と、顕微鏡において歪みを補正した光学的断層像を表示
するための方法と、顕微鏡において歪みを補正した光学
的断層像を表示するための光学的断層像表示プログラム
を記録した記録媒体とに関する。
更に詳しくは、光学的断層像の歪みを補正できる顕微鏡
と、顕微鏡において歪みを補正した光学的断層像を表示
するための方法と、顕微鏡において歪みを補正した光学
的断層像を表示するための光学的断層像表示プログラム
を記録した記録媒体とに関する。
【０００２】
【従来の技術】共焦点レーザー走査顕微鏡（ＣＬＳＭ）
は、光源からの光を対物レンズにより微小なスポットに
絞り、このスポットで試料を走査し、試料からの透過光
または反射光を光電変換器で検出する結果、ＣＲＴ上に
試料像を表示する。
は、光源からの光を対物レンズにより微小なスポットに
絞り、このスポットで試料を走査し、試料からの透過光
または反射光を光電変換器で検出する結果、ＣＲＴ上に
試料像を表示する。
【０００３】このようなＣＬＳＭでは、フレアが少なく
コントラストの良好な像が得られ、共焦点検出法に従っ
て焦点位置をＺ方向に移動させながら試料を走査するこ
とにより、試料の光学的断層像を得ることができる。
コントラストの良好な像が得られ、共焦点検出法に従っ
て焦点位置をＺ方向に移動させながら試料を走査するこ
とにより、試料の光学的断層像を得ることができる。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、対物レ
ンズが浸漬されている媒体の屈折率と、試料を封入して
いる媒体の屈折率との差異により、断層像に歪みが生じ
てしまう。例えば、断層像を得るべき試料として球形の
蛍光ビーズ等を用いた場合には、その断層像の観察結果
は表１に示す通りである。
ンズが浸漬されている媒体の屈折率と、試料を封入して
いる媒体の屈折率との差異により、断層像に歪みが生じ
てしまう。例えば、断層像を得るべき試料として球形の
蛍光ビーズ等を用いた場合には、その断層像の観察結果
は表１に示す通りである。
【０００５】
表１
浸漬媒体の種類 屈折率ｎ1 封入媒体の種類 屈折率ｎ3 観察結果
１． 空気 １．００ グリセリン １．４７５ 横長の楕円形
２． 油 １．５２ グリセリン １．４７５ 実質的に円形
３． 油 １．５２ 水 １．３３３ 縦長の楕円形
従って本発明の目的は、歪みの無い断層像が得られる顕
微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表
示プログラムを記録した記録媒体を提供することであ
る。
微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表
示プログラムを記録した記録媒体を提供することであ
る。
【０００６】
【課題を解決するための手段】請求項１に対応する発明
は、試料の光学的断層像を得るための顕微鏡であって、
光源と、前記光源からの光を試料へ収束させる対物レン
ズと、試料と対物レンズを相対的に走査させる走査手段
と、試料からの反射光または透過光を検出する検出手段
と、前記検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的
断層像を表示する表示手段と、浸漬媒体の屈折率ｎ1及
び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶する記憶手段と、前記走
査手段における第１の最小走査単位Zｓを決定する手段
と、記憶された複数の媒体の屈折率に基づいて、第1の
最小走査単位Zｓを補正した第２の最小走査単位Zｓ'を
決定する手段と、第２の最小走査単位Zｓ'に従って、前
記走査手段を制御しつつ、補正を行う顕微鏡である。ま
た、請求項２に対応する請求項１の発明は、光源と、光
源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、試料と前
記対物レンズとを相対的に走査させる走査手段と、試料
からの反射光または透過光を検出する検出手段と、前記
検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層像を
表示する表示手段と、を備える顕微鏡による試料の光学
的断層像を計算機を使用して表示させる方法であって、
前記計算機に、補正に必要なデータを供給することと、
前記走査手段による最小走査単位Zｓを決定すること
と、前記計算機内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折
率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走
査単位Zｓを補正した第２の最小走査単位Zｓ'を算出す
ることと、前記計算機により最小走査単位Zｓ'にしたが
って、前記走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像
を表示手段に表示させることとを備える顕微鏡である。
また、請求項３に対応する請求項１の記憶手段は、二種
類の媒体の屈折率を記憶する顕微鏡である。請求項４に
対応する請求項１の第１の最小走査単位Zｓは、前記試
料の実寸法から算出した前記表示手段の１単位長により
決定される顕微鏡である。請求項５に対応する請求項１
の試料は、封入媒体に封入されている顕微鏡である。請
求項６に対応する請求項１の第２の最小走査単位Zｓ'
は、Zｓ'=Zｓ＊n３/n１に従って算出される顕微鏡であ
る。 請求項７に対応する請求項１の対物レンズは、浸漬
媒体に浸漬されている顕微鏡である。請求項８に対応す
る請求項１の走査手段は、前記試料と前記対物レンズと
を光軸方向で相対的に走査させる顕微鏡である。請求項
９に対応する請求項１の走査手段は、前記試料と前記対
物レンズとを水平方向で相対的に走査させる顕微鏡であ
る。請求項１０に対応する請求項１の走査手段は、前記
対物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータにより
動作させる顕微鏡である。請求項１１に対応する請求項
１の顕微鏡は、共焦点光学系を用いた顕微鏡である。請
求項１２に対応する請求項１１の光源は、レーザー光源
である。請求項１３に対応する請求項１の検出手段は、
前記試料からの反射光または透過光を光電変換する手段
を用いて検出する顕微鏡である。請求項１４に対応する
請求項１の表示手段は、光学的断層像をリアルタイムで
表示する顕微鏡である。
は、試料の光学的断層像を得るための顕微鏡であって、
光源と、前記光源からの光を試料へ収束させる対物レン
ズと、試料と対物レンズを相対的に走査させる走査手段
と、試料からの反射光または透過光を検出する検出手段
と、前記検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的
断層像を表示する表示手段と、浸漬媒体の屈折率ｎ1及
び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶する記憶手段と、前記走
査手段における第１の最小走査単位Zｓを決定する手段
と、記憶された複数の媒体の屈折率に基づいて、第1の
最小走査単位Zｓを補正した第２の最小走査単位Zｓ'を
決定する手段と、第２の最小走査単位Zｓ'に従って、前
記走査手段を制御しつつ、補正を行う顕微鏡である。ま
た、請求項２に対応する請求項１の発明は、光源と、光
源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、試料と前
記対物レンズとを相対的に走査させる走査手段と、試料
からの反射光または透過光を検出する検出手段と、前記
検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層像を
表示する表示手段と、を備える顕微鏡による試料の光学
的断層像を計算機を使用して表示させる方法であって、
前記計算機に、補正に必要なデータを供給することと、
前記走査手段による最小走査単位Zｓを決定すること
と、前記計算機内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折
率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走
査単位Zｓを補正した第２の最小走査単位Zｓ'を算出す
ることと、前記計算機により最小走査単位Zｓ'にしたが
って、前記走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像
を表示手段に表示させることとを備える顕微鏡である。
また、請求項３に対応する請求項１の記憶手段は、二種
類の媒体の屈折率を記憶する顕微鏡である。請求項４に
対応する請求項１の第１の最小走査単位Zｓは、前記試
料の実寸法から算出した前記表示手段の１単位長により
決定される顕微鏡である。請求項５に対応する請求項１
の試料は、封入媒体に封入されている顕微鏡である。請
求項６に対応する請求項１の第２の最小走査単位Zｓ'
は、Zｓ'=Zｓ＊n３/n１に従って算出される顕微鏡であ
る。 請求項７に対応する請求項１の対物レンズは、浸漬
媒体に浸漬されている顕微鏡である。請求項８に対応す
る請求項１の走査手段は、前記試料と前記対物レンズと
を光軸方向で相対的に走査させる顕微鏡である。請求項
９に対応する請求項１の走査手段は、前記試料と前記対
物レンズとを水平方向で相対的に走査させる顕微鏡であ
る。請求項１０に対応する請求項１の走査手段は、前記
対物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータにより
動作させる顕微鏡である。請求項１１に対応する請求項
１の顕微鏡は、共焦点光学系を用いた顕微鏡である。請
求項１２に対応する請求項１１の光源は、レーザー光源
である。請求項１３に対応する請求項１の検出手段は、
前記試料からの反射光または透過光を光電変換する手段
を用いて検出する顕微鏡である。請求項１４に対応する
請求項１の表示手段は、光学的断層像をリアルタイムで
表示する顕微鏡である。
【０００７】 本発明の他の観点によれば、請求項１５
に対応する発明は、光源と、前記光源からの光を試料へ
収束させる対物レンズと、前記試料と前記対物レンズを
相対的に走査させる走査手段と、試料からの反射光また
は透過光を検出する検出手段と、検出手段の出力信号に
基づいて、試料の光学的断層像を表示する表示手段と、
浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶す
る記憶手段と、を備え、記憶された複数の媒体の屈折率
に基づいて、補正を行う顕微鏡による試料の光学的断層
像を表示する方法であって、前記走査手段における第１
の最小走査単位Ｚsを決定することと、前記対物レンズ
の浸漬媒体の屈折率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づい
て第１の最小走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査単
位Ｚs'を決定することと、第２の最小走査単位Ｚs'に従
って、前記走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像
を前記表示手段に表示させることとを備えることを特徴
とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。また、請
求項１６に対応する請求項１５の発明は、光源と、光源
からの光を試料へ収束させる対物レンズと、試料と前記
対物レンズとを相対的に走査させる走査手段と、試料か
らの反射光または透過光を検出する検出手段と、前記検
出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層像を表
示する表示手段と、浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体
の屈折率ｎ3を記憶する記憶手段と、を備え、記憶され
た複数の媒体の屈折率にしたがって、補正を行う顕微鏡
による試料の光学的断層像を計算機を使用して表示させ
る方法であって、前記計算機に、補正に必要なデータを
供給することと、前記走査手段による最小走査単位Ｚs
を決定することと、前記計算機内で、前記対物レンズの
浸漬媒体の屈折率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づい
て、第１の最小走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査
単位Ｚs'を算出することと、前記計算機により最小走査
単位Ｚs'にしたがって、前記走査手段を制御しつつ、試
料の光学的断層像を表示手段に表示させることとを備え
ることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法であ
る。請求項１７に対応する請求項１５の記憶手段は、二
種類の媒体の屈折率を記憶することを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法である。請求項１８に対応する
請求項１５の第１の最小走査単位Ｚsは、試料の実寸法
から表示手段の１単位長を算出し、この算出された１単
位長により、前記走査手段の第１の最小走査単位Ｚsを
決定することを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。請求項１９に対応する請求項１５の試料は、
封入媒体に封入されていることを特徴とする顕微鏡の光
学的断層像表示方法である。請求項２０に対応する請求
項１５の第２の最小走査単位Ｚs'は、Ｚs'＝Ｚs＊ｎ3／
ｎ1に従って算出されることを特徴とする顕微鏡の光学
的断層像表示方法である。請求項２１に対応する請求項
１５の対物レンズは、浸漬媒体に浸漬されていることを
特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請求
項２２に対応する請求項１５の走査手段は、前記試料と
前記対物レンズとを光軸方向で相対的に走査させること
を特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請
求項２３に対応する請求項１５の走査手段は、前記試料
と前記対物レンズとを水平方向で相対的に走査させるこ
とを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
請求項２４に対応する請求項１５の走査手段は、前記対
物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータにより動
作させることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。請求項２５に対応する請求項１５の顕微鏡
は、共焦点光学系を用いたことを特徴とする顕微鏡の光
学的断層像表示方法である。請求項２６に対応する請求
項２５の光源は、レーザー光源であることを特徴とする
顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請求項２７に対
応する請求項１５の検出手段は、前記試料からの反射光
または透過光を光電変換する手段を用いて検出すること
を特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請
求項２８に対応する請求項１５の表示手段は、光学的断
層像をリアルタイムで表示することを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法である。本発明の更に他の観点
によれば、請求項２９に対応する発明は、レーザー光を
射出するレーザー光源と、前記レーザー光源からのレー
ザー光を試料へ収束させる対物レンズと、前記対物レン
ズにより収束されたレーザー光で前記試料を走査させる
走査手段と、前記試料からの光を共焦点検出法により検
出して光電変換する光電変換手段と、前記光電変換手段
の出力信号に基づく像をコンピュータを介して表示する
表示手段と、を備え、前記試料と前記対物レンズの焦点
位置とを前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移
動させながら前記走査手段で走査することにより、前記
試料の光学的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による
光学的断層像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬
媒体の屈折率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率を
コンピュータに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒
体の屈折率を基に前記媒体を介して前記試料に収束する
レーザー光の焦点位置を求め、求めた焦点位置を用いて
前記試料の補正された光学的断層像を前記表示手段に表
示させることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。また別の観点によれば、請求項３０に対応す
る発明は、レーザー光を射出するレーザー光源と、前記
レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる対物
レンズと、前記試料に対する前記対物レンズの焦点位置
をＸ又はＹ方向に走査させる走査手段と、前記試料から
の光を共焦点検出法により検出して光電変換する光電変
換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基づいて、前
記試料の光学的断層像をコンピュータを介して表示する
表示手段と、を備え、前記対物レンズの焦点位置を前記
対物レンズの光軸方向に沿って移動させながら前記試料
を前記走査手段で走査することにより、前記試料の光学
的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による光学的断層
像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折
率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率をコンピュー
タに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒体の屈折率
を基に前記媒体を介して前記試料に収束するレーザー光
の焦点位置を求め、求めた焦点位置を用いて前記試料の
補正された光学的断層像を前記表示手段に表示させるこ
とを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
また、請求項３１に対応する請求項２９又は３０のコン
ピュータに格納される浸漬媒体と封入媒体の屈折率は、
予め入力されていることを特徴とする顕微鏡の光学的断
層像表示方法である。請求項３２に対応する請求項２９
又は３０のコンピュータに格納される浸漬媒体と封入媒
体の屈折率は、観察のたびに入力することを特徴とする
顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
に対応する発明は、光源と、前記光源からの光を試料へ
収束させる対物レンズと、前記試料と前記対物レンズを
相対的に走査させる走査手段と、試料からの反射光また
は透過光を検出する検出手段と、検出手段の出力信号に
基づいて、試料の光学的断層像を表示する表示手段と、
浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶す
る記憶手段と、を備え、記憶された複数の媒体の屈折率
に基づいて、補正を行う顕微鏡による試料の光学的断層
像を表示する方法であって、前記走査手段における第１
の最小走査単位Ｚsを決定することと、前記対物レンズ
の浸漬媒体の屈折率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づい
て第１の最小走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査単
位Ｚs'を決定することと、第２の最小走査単位Ｚs'に従
って、前記走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像
を前記表示手段に表示させることとを備えることを特徴
とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。また、請
求項１６に対応する請求項１５の発明は、光源と、光源
からの光を試料へ収束させる対物レンズと、試料と前記
対物レンズとを相対的に走査させる走査手段と、試料か
らの反射光または透過光を検出する検出手段と、前記検
出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層像を表
示する表示手段と、浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体
の屈折率ｎ3を記憶する記憶手段と、を備え、記憶され
た複数の媒体の屈折率にしたがって、補正を行う顕微鏡
による試料の光学的断層像を計算機を使用して表示させ
る方法であって、前記計算機に、補正に必要なデータを
供給することと、前記走査手段による最小走査単位Ｚs
を決定することと、前記計算機内で、前記対物レンズの
浸漬媒体の屈折率ｎ1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づい
て、第１の最小走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査
単位Ｚs'を算出することと、前記計算機により最小走査
単位Ｚs'にしたがって、前記走査手段を制御しつつ、試
料の光学的断層像を表示手段に表示させることとを備え
ることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法であ
る。請求項１７に対応する請求項１５の記憶手段は、二
種類の媒体の屈折率を記憶することを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法である。請求項１８に対応する
請求項１５の第１の最小走査単位Ｚsは、試料の実寸法
から表示手段の１単位長を算出し、この算出された１単
位長により、前記走査手段の第１の最小走査単位Ｚsを
決定することを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。請求項１９に対応する請求項１５の試料は、
封入媒体に封入されていることを特徴とする顕微鏡の光
学的断層像表示方法である。請求項２０に対応する請求
項１５の第２の最小走査単位Ｚs'は、Ｚs'＝Ｚs＊ｎ3／
ｎ1に従って算出されることを特徴とする顕微鏡の光学
的断層像表示方法である。請求項２１に対応する請求項
１５の対物レンズは、浸漬媒体に浸漬されていることを
特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請求
項２２に対応する請求項１５の走査手段は、前記試料と
前記対物レンズとを光軸方向で相対的に走査させること
を特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請
求項２３に対応する請求項１５の走査手段は、前記試料
と前記対物レンズとを水平方向で相対的に走査させるこ
とを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
請求項２４に対応する請求項１５の走査手段は、前記対
物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータにより動
作させることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。請求項２５に対応する請求項１５の顕微鏡
は、共焦点光学系を用いたことを特徴とする顕微鏡の光
学的断層像表示方法である。請求項２６に対応する請求
項２５の光源は、レーザー光源であることを特徴とする
顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請求項２７に対
応する請求項１５の検出手段は、前記試料からの反射光
または透過光を光電変換する手段を用いて検出すること
を特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。請
求項２８に対応する請求項１５の表示手段は、光学的断
層像をリアルタイムで表示することを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法である。本発明の更に他の観点
によれば、請求項２９に対応する発明は、レーザー光を
射出するレーザー光源と、前記レーザー光源からのレー
ザー光を試料へ収束させる対物レンズと、前記対物レン
ズにより収束されたレーザー光で前記試料を走査させる
走査手段と、前記試料からの光を共焦点検出法により検
出して光電変換する光電変換手段と、前記光電変換手段
の出力信号に基づく像をコンピュータを介して表示する
表示手段と、を備え、前記試料と前記対物レンズの焦点
位置とを前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移
動させながら前記走査手段で走査することにより、前記
試料の光学的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による
光学的断層像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬
媒体の屈折率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率を
コンピュータに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒
体の屈折率を基に前記媒体を介して前記試料に収束する
レーザー光の焦点位置を求め、求めた焦点位置を用いて
前記試料の補正された光学的断層像を前記表示手段に表
示させることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法である。また別の観点によれば、請求項３０に対応す
る発明は、レーザー光を射出するレーザー光源と、前記
レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる対物
レンズと、前記試料に対する前記対物レンズの焦点位置
をＸ又はＹ方向に走査させる走査手段と、前記試料から
の光を共焦点検出法により検出して光電変換する光電変
換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基づいて、前
記試料の光学的断層像をコンピュータを介して表示する
表示手段と、を備え、前記対物レンズの焦点位置を前記
対物レンズの光軸方向に沿って移動させながら前記試料
を前記走査手段で走査することにより、前記試料の光学
的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による光学的断層
像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折
率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率をコンピュー
タに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒体の屈折率
を基に前記媒体を介して前記試料に収束するレーザー光
の焦点位置を求め、求めた焦点位置を用いて前記試料の
補正された光学的断層像を前記表示手段に表示させるこ
とを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
また、請求項３１に対応する請求項２９又は３０のコン
ピュータに格納される浸漬媒体と封入媒体の屈折率は、
予め入力されていることを特徴とする顕微鏡の光学的断
層像表示方法である。請求項３２に対応する請求項２９
又は３０のコンピュータに格納される浸漬媒体と封入媒
体の屈折率は、観察のたびに入力することを特徴とする
顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
【０００８】 また、本発明の他の観点によれば、請求
項３３に対応する発明は、レーザー光を射出するレーザ
ー光源と、前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ
収束させる対物レンズと、前記対物レンズにより収束さ
れたレーザー光で前記試料を走査させる走査手段と、前
記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基
づいて、前記試料の光学的断層像を表示する顕微鏡にお
いて、前記試料の光学的断層像を計算機を用いて表示さ
せるプログラムを記録した記録媒体であって、該表示プ
ログラムは、前記計算機に補正のため必要なデータを供
給し、走査するために最小走査単位Ｚsを決定し、前記
計算機内で前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ1と封
入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走査単位Ｚs
を補正した第２の最小走査単位Ｚs'を算出し、前記計算
機により最小走査単位Ｚs'にしたがって、前記走査手段
を制御しつつ、前記試料の光学的断層像を表示手段に表
示させることを特徴とする光学的断層像表示プログラム
を記録した記録媒体である。また、本発明の他の観点に
よれば、請求項３４に対応する発明は、レーザー光を射
出するレーザー光源と、前記レーザー光源からのレーザ
ー光を試料へ収束させる対物レンズと、前記対物レンズ
により収束されたレーザー光で前記試料を走査させる走
査手段と、前記試料からの光を共焦点検出法により検出
して光電変換する光電変換手段と、前記光電変換手段の
出力信号に基づく像をコンピュータを介して表示する表
示手段と、を備え、前記試料と前記対物レンズの焦点位
置とを前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動
させながら前記走査手段で走査することにより、前記試
料の光学的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による光
学的断層像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬媒
体の屈折率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率をコ
ンピュータに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒体
の屈折率を基にして焦点位置が補正された前記試料の光
学的断層像を前記表示手段に表示させることを特徴とす
る顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
項３３に対応する発明は、レーザー光を射出するレーザ
ー光源と、前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ
収束させる対物レンズと、前記対物レンズにより収束さ
れたレーザー光で前記試料を走査させる走査手段と、前
記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変換
する光電変換手段と、前記光電変換手段の出力信号に基
づいて、前記試料の光学的断層像を表示する顕微鏡にお
いて、前記試料の光学的断層像を計算機を用いて表示さ
せるプログラムを記録した記録媒体であって、該表示プ
ログラムは、前記計算機に補正のため必要なデータを供
給し、走査するために最小走査単位Ｚsを決定し、前記
計算機内で前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ1と封
入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走査単位Ｚs
を補正した第２の最小走査単位Ｚs'を算出し、前記計算
機により最小走査単位Ｚs'にしたがって、前記走査手段
を制御しつつ、前記試料の光学的断層像を表示手段に表
示させることを特徴とする光学的断層像表示プログラム
を記録した記録媒体である。また、本発明の他の観点に
よれば、請求項３４に対応する発明は、レーザー光を射
出するレーザー光源と、前記レーザー光源からのレーザ
ー光を試料へ収束させる対物レンズと、前記対物レンズ
により収束されたレーザー光で前記試料を走査させる走
査手段と、前記試料からの光を共焦点検出法により検出
して光電変換する光電変換手段と、前記光電変換手段の
出力信号に基づく像をコンピュータを介して表示する表
示手段と、を備え、前記試料と前記対物レンズの焦点位
置とを前記対物レンズの光軸方向に沿って相対的に移動
させながら前記走査手段で走査することにより、前記試
料の光学的断層像を表示手段に表示する顕微鏡による光
学的断層像表示方法であって、前記対物レンズの浸漬媒
体の屈折率と前記試料を封入する封入媒体の屈折率をコ
ンピュータに格納させ、格納された浸漬媒体と封入媒体
の屈折率を基にして焦点位置が補正された前記試料の光
学的断層像を前記表示手段に表示させることを特徴とす
る顕微鏡の光学的断層像表示方法である。
【０００９】
【作用】本発明においては、収束光学系と試料との間に
介在されている屈折率の異なる種類の媒体に起因する試
料の光学的断層像の歪みを補正する制御を行なう。詳し
くは、本発明において、対物レンズの浸漬媒体の屈折率
と試料が封入された封入媒体の屈折率との組み合わせに
応じて走査手段が制御され、その制御により浸漬媒体の
屈折率と封入媒体の屈折率との差異に起因する試料の光
学的断層像の歪みを抑制する。
介在されている屈折率の異なる種類の媒体に起因する試
料の光学的断層像の歪みを補正する制御を行なう。詳し
くは、本発明において、対物レンズの浸漬媒体の屈折率
と試料が封入された封入媒体の屈折率との組み合わせに
応じて走査手段が制御され、その制御により浸漬媒体の
屈折率と封入媒体の屈折率との差異に起因する試料の光
学的断層像の歪みを抑制する。
【００１０】
【実施例】図１を参照すると、全体を符号１０で示され
る共焦点レーザー走査顕微鏡（ＣＬＳＭ）において、レ
ーザー光源１２から射出されたレーザービームは、ダイ
クロイックミラー１４を透過し、対物レンズ１６により
試料１８へ収束される。
る共焦点レーザー走査顕微鏡（ＣＬＳＭ）において、レ
ーザー光源１２から射出されたレーザービームは、ダイ
クロイックミラー１４を透過し、対物レンズ１６により
試料１８へ収束される。
【００１１】一方、試料１８から反射して対物レンズ１
６を透過した光は、その所定の波長領域の光のみがダイ
クロイックミラー１４により反射され、共振点ピンホー
ル２０を通過して光電変換器２２に検出される。光電変
換器２２の出力は、ＣＬＳＭ１０の近傍に接続されたデ
ィジタルコンピュータ２４を介して画像信号として画像
モニタ２６へ与えられる。画像モニタ２６には、試料１
８の断層像が表示される。
６を透過した光は、その所定の波長領域の光のみがダイ
クロイックミラー１４により反射され、共振点ピンホー
ル２０を通過して光電変換器２２に検出される。光電変
換器２２の出力は、ＣＬＳＭ１０の近傍に接続されたデ
ィジタルコンピュータ２４を介して画像信号として画像
モニタ２６へ与えられる。画像モニタ２６には、試料１
８の断層像が表示される。
【００１２】試料１８は、例えばグリセリン、水などの
封入媒体（図示せず）に封入された状態で、ＣＬＳＭ１
０のステージ２８上に載置されている。このステージ２
８は、駆動源としてピエゾ素子（図示せず）を有し、Ｃ
ＬＳＭ１０の近傍に接続されたコンピュータ２４の制御
により垂直方向（Ｚ軸方向）へ自動的に駆動される。ス
テージ２８は、好ましくは、コンピュータ２４の制御に
より水平方向（Ｘ及びＹ軸方向）にも自動的に駆動可能
である。
封入媒体（図示せず）に封入された状態で、ＣＬＳＭ１
０のステージ２８上に載置されている。このステージ２
８は、駆動源としてピエゾ素子（図示せず）を有し、Ｃ
ＬＳＭ１０の近傍に接続されたコンピュータ２４の制御
により垂直方向（Ｚ軸方向）へ自動的に駆動される。ス
テージ２８は、好ましくは、コンピュータ２４の制御に
より水平方向（Ｘ及びＹ軸方向）にも自動的に駆動可能
である。
【００１３】コンピュータ２４には、例えばキーボード
等のマンマシーンインターフェース３０が付属してい
る。ＣＬＳＭ１０の対物レンズ１６が浸漬された浸漬媒
体（例えば、空気または油）の屈折率ｎ1 及び封入媒体
（例えば、グリセリンまたは水）の屈折率ｎ3 を含むデ
ータベースは、インターフェース３０を通じてコンピュ
ータ２４内のメモリー（図示せず）に格納可能である。
等のマンマシーンインターフェース３０が付属してい
る。ＣＬＳＭ１０の対物レンズ１６が浸漬された浸漬媒
体（例えば、空気または油）の屈折率ｎ1 及び封入媒体
（例えば、グリセリンまたは水）の屈折率ｎ3 を含むデ
ータベースは、インターフェース３０を通じてコンピュ
ータ２４内のメモリー（図示せず）に格納可能である。
【００１４】次いで、ＣＬＳＭ１０の操作について、図
２を参照しながら説明する。ここで上述の屈折率ｎ1 及
びｎ3 は、コンピュータ２４内のメモリー（図示せず）
に格納されているものとする。
２を参照しながら説明する。ここで上述の屈折率ｎ1 及
びｎ3 は、コンピュータ２４内のメモリー（図示せず）
に格納されているものとする。
【００１５】先ず、観察者は、使用している浸漬媒体の
屈折率ｎ1 及び封入媒体の屈折率ｎ3 を選択設定する
（Ｓ１）。
屈折率ｎ1 及び封入媒体の屈折率ｎ3 を選択設定する
（Ｓ１）。
【００１６】ステージ２８上に載置された試料１８の観
察すべき部位を対物レンズ１６の光軸上に設定すると、
画像モニタ２６には、ステージ２８のＺ軸方向位置（試
料１８に対する対物レンズ１６の焦点位置）に対応した
試料１８の一断面像が表示される（Ｓ２）。
察すべき部位を対物レンズ１６の光軸上に設定すると、
画像モニタ２６には、ステージ２８のＺ軸方向位置（試
料１８に対する対物レンズ１６の焦点位置）に対応した
試料１８の一断面像が表示される（Ｓ２）。
【００１７】次いで観察者は、画像モニタ２６を参照し
ながら、断面像のうちの観察すべきＸ切片をインターフ
ェース３０により指定する（Ｓ３）。
ながら、断面像のうちの観察すべきＸ切片をインターフ
ェース３０により指定する（Ｓ３）。
【００１８】更に、Ｚ軸における走査の開始位置を指定
（Ｓ４）した後、実際の走査を開始する（Ｓ５）。
（Ｓ４）した後、実際の走査を開始する（Ｓ５）。
【００１９】その際、コンピュータ２４内の演算部（図
示せず）は、モニタ２６に表示される試料１８の断層像
が縦横ともに同じスケールになるようにするため、先ず
試料１８の横方向の実寸法からモニタ２６の１ピクセル
あたりの長さを計算する（Ｓ６）。この長さにより、走
査すべきＺ軸方向のステップＺs が決定される。
示せず）は、モニタ２６に表示される試料１８の断層像
が縦横ともに同じスケールになるようにするため、先ず
試料１８の横方向の実寸法からモニタ２６の１ピクセル
あたりの長さを計算する（Ｓ６）。この長さにより、走
査すべきＺ軸方向のステップＺs が決定される。
【００２０】従来のＣＬＳＭは、このステップＺs に従
ってステージをＺ軸方向へ移動させながら走査を実行し
ていた。対照的に本発明では、対物レンズ１６の浸漬媒
体の屈折率ｎ1 及び封入媒体の屈折率ｎ3 によりＺs を
補正したステップＺs ´に従ってステージ２８をＺ軸方
向へ移動させる。ここで、Ｚs ´は、 Ｚs ´＝Ｚs ・ｎ3 ／ｎ1 ……（Ｉ） であり、コンピュータ２４のメモリーに格納された屈折
率ｎ1 及びｎ3 に従って、コンピュータ２４の演算部で
計算される（Ｓ７）。尚、この補正式（Ｉ）については
後述する。
ってステージをＺ軸方向へ移動させながら走査を実行し
ていた。対照的に本発明では、対物レンズ１６の浸漬媒
体の屈折率ｎ1 及び封入媒体の屈折率ｎ3 によりＺs を
補正したステップＺs ´に従ってステージ２８をＺ軸方
向へ移動させる。ここで、Ｚs ´は、 Ｚs ´＝Ｚs ・ｎ3 ／ｎ1 ……（Ｉ） であり、コンピュータ２４のメモリーに格納された屈折
率ｎ1 及びｎ3 に従って、コンピュータ２４の演算部で
計算される（Ｓ７）。尚、この補正式（Ｉ）については
後述する。
【００２１】コンピュータ２４内の制御部（図示せず）
は、１ライン走査する（Ｓ８）度に取り込んだ画像を画
像モニタ２６に表示し（Ｓ９）、ステージ２８をＺ軸方
向にＺ´s ずつずらしながら（Ｓ１１）、１画面分のデ
ータが得られる（Ｓ１０）まで試料１８の走査及び表示
を実行し、それにより得られた画像をモニタ２６上に縦
方向に並べる。その結果、モニタ２６上には試料１８の
断層像が表示される。
は、１ライン走査する（Ｓ８）度に取り込んだ画像を画
像モニタ２６に表示し（Ｓ９）、ステージ２８をＺ軸方
向にＺ´s ずつずらしながら（Ｓ１１）、１画面分のデ
ータが得られる（Ｓ１０）まで試料１８の走査及び表示
を実行し、それにより得られた画像をモニタ２６上に縦
方向に並べる。その結果、モニタ２６上には試料１８の
断層像が表示される。
【００２２】ここで図３を参照して補正式（Ｉ）の導入
について説明する。
について説明する。
【００２３】スネルの法則により、
ｎ1 ・ｓｉｎ ｉ＝ｎ3 ・ｓｉｎ ｉ′……(i)
図３の点線のように境界面がＺ1 上昇すると、観察点は
０から０″に移動し、上昇後の境界面０´からの移動距
離Ｚ1 ′は、 Ｚ1 ′＝ｄ／ｔａｎ ｉ′ 一方、 Ｚ1 ＝ｄ／ｔａｎ ｉ 従って、 Ｚ1 ′＝Ｚ1 ・ｔａｎ ｉ／ｔａｎ ｉ′……(ii) (i) ，(ii)において、ｉ，ｉ′が充分に小さい領域（近
軸領域）では、近似的に、ｓｉｎ ｉ＝ｉ，ｓｉｎ
ｉ′＝ｉ′，ｔａｎ ｉ＝ｉ，ｔａｎ ｉ′＝ｉ′が成
立するので、(i) ，(ii)は以下のように表せる。
０から０″に移動し、上昇後の境界面０´からの移動距
離Ｚ1 ′は、 Ｚ1 ′＝ｄ／ｔａｎ ｉ′ 一方、 Ｚ1 ＝ｄ／ｔａｎ ｉ 従って、 Ｚ1 ′＝Ｚ1 ・ｔａｎ ｉ／ｔａｎ ｉ′……(ii) (i) ，(ii)において、ｉ，ｉ′が充分に小さい領域（近
軸領域）では、近似的に、ｓｉｎ ｉ＝ｉ，ｓｉｎ
ｉ′＝ｉ′，ｔａｎ ｉ＝ｉ，ｔａｎ ｉ′＝ｉ′が成
立するので、(i) ，(ii)は以下のように表せる。
【００２４】ｎ1 ・ｉ＝ｎ3 ・ｉ′
Ｚ1 ′＝Ｚ1 ・ｉ／ｉ′
これからｉ，ｉ′を消去すると、
Ｚ1 ′＝Ｚ1 ・ｎ3 ／ｎ1
である。その結果、上記（Ｉ）式が得られる。
【００２５】本発明は上記実施例に限定されるものでは
なく、様々な変更及び変形が可能である。例えば上記実
施例では、屈折率ｎ1 及びｎ3 を予めコンピュータ２４
に入力しておくものとしたが、一つの断層像を観察する
たびに入力してもよい。
なく、様々な変更及び変形が可能である。例えば上記実
施例では、屈折率ｎ1 及びｎ3 を予めコンピュータ２４
に入力しておくものとしたが、一つの断層像を観察する
たびに入力してもよい。
【００２６】上記実施例では、試料１８のＺ軸方向の走
査のために、ピエゾ素子を駆動源とするステージ２８を
コンピュータ２４で制御する方式を示したが、これに代
えて、対物レンズ１６にピエゾ素子を組込み、この対物
レンズ１６をコンピュータ制御によりＺ軸方向移動させ
てもよい。或いは、対物レンズ１６及び／またはステー
ジ２８をコンピュータ制御されたステップモータにより
Ｚ軸方向移動させてもよい。上記実施例では、落射照明
系の顕微鏡を示したが、透過照明系の顕微鏡を構成して
もよい。
査のために、ピエゾ素子を駆動源とするステージ２８を
コンピュータ２４で制御する方式を示したが、これに代
えて、対物レンズ１６にピエゾ素子を組込み、この対物
レンズ１６をコンピュータ制御によりＺ軸方向移動させ
てもよい。或いは、対物レンズ１６及び／またはステー
ジ２８をコンピュータ制御されたステップモータにより
Ｚ軸方向移動させてもよい。上記実施例では、落射照明
系の顕微鏡を示したが、透過照明系の顕微鏡を構成して
もよい。
【００２７】尚、上記実施例では１ラインの走査につい
て述べたが、ＸＹ走査による連続断面を得るものにも適
用できる。
て述べたが、ＸＹ走査による連続断面を得るものにも適
用できる。
【００２８】
【発明の効果】以上説明したように本発明の顕微鏡及び
その光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログ
ラムを記録した記録媒体によれば、収束光学系と試料と
の間に介在されている屈折率の異なる種類の媒体に起因
する試料の光学的断層像の歪みを補正することができ
る。そのため、例えば対物レンズの浸漬媒体の屈折率
と、試料が封入された封入媒体の屈折率との組み合わせ
に応じて、対物レンズの光軸方向に沿った対物レンズの
焦点位置が補正されるので、歪みの無い断層像がリアル
タイムで得られる。
その光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログ
ラムを記録した記録媒体によれば、収束光学系と試料と
の間に介在されている屈折率の異なる種類の媒体に起因
する試料の光学的断層像の歪みを補正することができ
る。そのため、例えば対物レンズの浸漬媒体の屈折率
と、試料が封入された封入媒体の屈折率との組み合わせ
に応じて、対物レンズの光軸方向に沿った対物レンズの
焦点位置が補正されるので、歪みの無い断層像がリアル
タイムで得られる。
【図１】本発明の共焦点レーザー走査顕微鏡を示すブロ
ック図である。
ック図である。
【図２】図１の共焦点レーザー走査顕微鏡の操作を示す
フローチャートである。
フローチャートである。
【図３】図１の共焦点レーザー走査顕微鏡の焦点位置の
補正を説明するための光路図である。
補正を説明するための光路図である。
１０…共焦点レーザー走査顕微鏡、１２…レーザー光
源、１６…対物レンズ、１８…試料、２２…光電変換器
（光電変換手段）、２４…ディジタルコンピュータ（記
憶手段、制御手段）、２６…画像モニタ（電子的表示手
段）、２８…ステージ（走査手段）。
源、１６…対物レンズ、１８…試料、２２…光電変換器
（光電変換手段）、２４…ディジタルコンピュータ（記
憶手段、制御手段）、２６…画像モニタ（電子的表示手
段）、２８…ステージ（走査手段）。
Claims (34)
- 【請求項１】 試料の光学的断層像を得るための顕微鏡
であって、 光源と、 前記光源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、 試料と対物レンズを相対的に走査させる走査手段と、 試料からの反射光または透過光を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層
像を表示する表示手段と、 浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶す
る記憶手段と、 前記走査手段における第１の最小走査単位Ｚsを決定す
る手段と、 記憶された複数の媒体の屈折率に基づいて、第１の最小
走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査単位Ｚs'を決定
する手段と、 第２の最小走査単位Ｚs'に従って、前記走査手段を制御
しつつ、補正を行うことを特徴とする顕微鏡。 - 【請求項２】 光源と、 光源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、 試料と前記対物レンズとを相対的に走査させる走査手段
と、 試料からの反射光または透過光を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層
像を表示する表示手段と、を備える顕微鏡による試料の
光学的断層像を計算機を使用して表示させる方法であっ
て、 前記計算機に、補正に必要なデータを供給することと、 前記走査手段による最小走査単位Ｚsを決定すること
と、 前記計算機内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ
1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走査単
位Ｚsを補正した第２の最小走査単位Ｚs'を算出するこ
とと、 前記計算機により最小走査単位Ｚs'にしたがって、前記
走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像を表示手段
に表示させることとを備えることを特徴とする請求項１
記載の顕微鏡。 - 【請求項３】 前記記憶手段は、 二種類の媒体の屈折率を記憶することを特徴とする請求
項１記載の顕微鏡。 - 【請求項４】 前記第１の最小走査単位Ｚsは、 前記試料の実寸法から算出した前記表示手段の１単位長
により決定されることを特徴とする請求項１記載の顕微
鏡。 - 【請求項５】 前記試料は、 封入媒体に封入されていることを特徴とする請求項１記
載の顕微鏡。 - 【請求項６】 前記第２の最小走査単位Ｚs'は、 Ｚs'＝Ｚs＊ｎ3／ｎ1に従って算出されることを特徴と
する請求項１記載の顕微鏡。 - 【請求項７】 前記対物レンズは、 浸漬媒体に浸漬されていることを特徴とする請求項１記
載の顕微鏡。 - 【請求項８】 前記走査手段は、 前記試料と前記対物レンズとを光軸方向で相対的に走査
させることを特徴とする請求項１記載の顕微鏡。 - 【請求項９】 前記走査手段は、 前記試料と前記対物レンズとを水平方向で相対的に走査
させることを特徴とする請求項１記載の顕微鏡。 - 【請求項１０】 前記走査手段は、 前記対物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータに
より動作させることを特徴とする請求項１記載の顕微
鏡。 - 【請求項１１】 前記顕微鏡は、 共焦点光学系を用いたことを特徴とする請求項１記載の
顕微鏡。 - 【請求項１２】 前記光源は、 レーザー光源であることを特徴とする請求項１１記載の
顕微鏡。 - 【請求項１３】 前記検出手段は、 前記試料からの反射光または透過光を光電変換する手段
を用いて検出することを特徴とする請求項１記載の顕微
鏡。 - 【請求項１４】 前記表示手段は、 光学的断層像をリアルタイムで表示することを特徴とす
る請求項１記載の顕微鏡。 - 【請求項１５】 光源と、 前記光源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、 前記試料と前記対物レンズを相対的に走査させる走査手
段と、 試料からの反射光または透過光を検出する検出手段と、 検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層像を
表示する表示手段と、 浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶す
る記憶手段と、を備え、 記憶された複数の媒体の屈折率に基づいて、 補正を行う顕微鏡による試料の光学的断層像を表示する
方法であって、 前記走査手段における第１の最小走査単位Ｚsを決定す
ることと、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ1と封入媒体の屈
折率ｎ3に基づいて第１の最小走査単位Ｚsを補正した第
２の最小走査単位Ｚs'を決定することと、 第２の最小走査単位Ｚs'に従って、前記走査手段を制御
しつつ、 試料の光学的断層像を前記表示手段に表示させることと
を備えることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像表示方
法。 - 【請求項１６】 光源と、 光源からの光を試料へ収束させる対物レンズと、 試料と前記対物レンズとを相対的に走査させる走査手段
と、 試料からの反射光または透過光を検出する検出手段と、 前記検出手段の出力信号に基づいて、試料の光学的断層
像を表示する表示手段と、 浸漬媒体の屈折率ｎ1及び封入媒体の屈折率ｎ3を記憶す
る記憶手段と、を備え、 記憶された複数の媒体の屈折率にしたがって、 補正を行う顕微鏡による試料の光学的断層像を計算機を
使用して表示させる方法であって、 前記計算機に、補正に必要なデータを供給することと、 前記走査手段による最小走査単位Ｚsを決定すること
と、 前記計算機内で、前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ
1と封入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、第１の最小走査単
位Ｚsを補正した第２の最小走査単位Ｚs'を算出するこ
とと、 前記計算機により最小走査単位Ｚs'にしたがって、前記
走査手段を制御しつつ、試料の光学的断層像を表示手段
に表示させることとを備えることを特徴とする請求項１
５記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項１７】 前記記憶手段は、 二種類の媒体の屈折率を記憶することを特徴とする請求
項１５記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項１８】 前記第１の最小走査単位Ｚsは、 試料の実寸法から表示手段の１単位長を算出し、この算
出された１単位長により、前記走査手段の第１の最小走
査単位Ｚsを決定することを特徴とする請求項１５記載
の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項１９】 前記試料は、 封入媒体に封入されていることを特徴とする請求項１５
記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２０】 前記第２の最小走査単位Ｚs'は、 Ｚs'＝Ｚs＊ｎ3／ｎ1に従って算出される請求項１５記
載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２１】 前記対物レンズは、 浸漬媒体に浸漬されていることを特徴とする請求項１５
記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２２】 前記走査手段は、 前記試料と前記対物レンズとを光軸方向で相対的に走査
させることを特徴とする請求項１５記載の顕微鏡の光学
的断層像表示方法。 - 【請求項２３】 前記走査手段は、 前記試料と前記対物レンズとを水平方向で相対的に走査
させることを特徴とする請求項１５記載の顕微鏡の光学
的断層像表示方法。 - 【請求項２４】 前記走査手段は、 前記対物レンズをピエゾ素子あるいはステップモータに
より動作させることを特徴とする請求項１５記載の顕微
鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２５】 前記顕微鏡は、 共焦点光学系を用いたことを特徴とする請求項１５記載
の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２６】 前記光源は、 レーザー光源であることを特徴とする請求項２５記載の
顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２７】 前記検出手段は、 前記試料からの反射光または透過光を光電変換する手段
を用いて検出することを特徴とする請求項１５記載の顕
微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２８】 前記表示手段は、 光学的断層像をリアルタイムで表示することを特徴とす
る請求項１５記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項２９】 レーザー光を射出するレーザー光源
と、 前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる
対物レンズと、 前記対物レンズにより収束されたレーザー光で前記試料
を走査させる走査手段と、 前記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変
換する光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づく像をコンピュータ
を介して表示する表示手段と、を備え、 前記試料と前記対物レンズの焦点位置とを前記対物レン
ズの光軸方向に沿って相対的に移動させながら前記走査
手段で走査することにより、前記試料の光学的断層像を
表示手段に表示する顕微鏡による光学的断層像表示方法
であって、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率と前記試料を封入す
る封入媒体の屈折率をコンピュータに格納させ、格納さ
れた浸漬媒体と封入媒体の屈折率を基に前記媒体を介し
て前記試料に収束するレーザー光の焦点位置を求め、求
めた焦点位置を用いて前記試料の補正された光学的断層
像を前記表示手段に表示させることを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法。 - 【請求項３０】 レーザー光を射出するレーザー光源
と、 前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる
対物レンズと、 前記試料に対する前記対物レンズの焦点位置をＸ又はＹ
方向に走査させる走査手段と、 前記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変
換する光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づいて、前記試料の光
学的断層像をコンピュータを介して表示する表示手段
と、を備え、 前記対物レンズの焦点位置を前記対物レンズの光軸方向
に沿って移動させながら前記試料を前記走査手段で走査
することにより、前記試料の光学的断層像を表示手段に
表示する顕微鏡による光学的断層像表示方法であって、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率と前記試料を封入す
る封入媒体の屈折率をコンピュータに格納させ、格納さ
れた浸漬媒体と封入媒体の屈折率を基に前記媒体を介し
て前記試料に収束するレーザー光の焦点位置を求め、求
めた焦点位置を用いて前記試料の補正された光学的断層
像を前記表示手段に表示させることを特徴とする顕微鏡
の光学的断層像表示方法。 - 【請求項３１】 前記コンピュータに格納される浸漬媒
体と封入媒体の屈折率は、 予め入力されていることを特徴とする請求項２９又は３
０記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項３２】 前記コンピュータに格納される浸漬媒
体と封入媒体の屈折率は、 観察のたびに入力することを特徴とする請求項２９又は
３０記載の顕微鏡の光学的断層像表示方法。 - 【請求項３３】 レーザー光を射出するレーザー光源
と、 前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる
対物レンズと、 前記対物レンズにより収束されたレーザー光で前記試料
を走査させる走査手段と、 前記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変
換する光電変換手段と、 前記光電変換手段 の出力信号に基づいて、前記試料の光
学的断層像を表示する顕微鏡において、 前記試料の光学的断層像を計算機を用いて表示させるプ
ログラムを記録した記録媒体であって、 該表示プログラムは、 前記計算機に補正のため必要なデータを供給し、 走査するために最小走査単位Ｚsを決定し、 前記計算機内で前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率ｎ1
と封入媒体の屈折率ｎ3に基づいて、 第１の最小走査単位Ｚsを補正した第２の最小走査単位
Ｚs'を算出し、 前記計算機により最小走査単位Ｚs'にしたがって、前記
走査手段を制御しつつ、 前記試料の光学的断層像を表示手段に表示させることを
特徴とする光学的断層像表示プログラムを記録した記録
媒体。 - 【請求項３４】 レーザー光を射出するレーザー光源
と、 前記レーザー光源からのレーザー光を試料へ収束させる
対物レンズと、 前記対物レンズにより収束されたレーザー光で前記試料
を走査させる走査手段と、 前記試料からの光を共焦点検出法により検出して光電変
換する光電変換手段と、 前記光電変換手段の出力信号に基づく像をコンピュータ
を介して表示する表示手段と、を備え、 前記試料と前記対物レンズの焦点位置とを前記対物レン
ズの光軸方向に沿って相対的に移動させながら前記走査
手段で走査することにより、前記試料の光学的断層像を
表示手段に表示する顕微鏡による光学的断層像表示方法
であって、 前記対物レンズの浸漬媒体の屈折率と前記試料を封入す
る封入媒体の屈折率をコンピュータに格納させ、 格納された浸漬媒体と封入媒体の屈折率を基にして焦点
位置が補正された前記試料の光学的断層像を前記表示手
段に表示させることを特徴とする顕微鏡の光学的断層像
表示方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35420793A JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP35420793A JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07199073A JPH07199073A (ja) | 1995-08-04 |
| JP3506749B2 true JP3506749B2 (ja) | 2004-03-15 |
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ID=18436009
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP35420793A Expired - Fee Related JP3506749B2 (ja) | 1993-12-28 | 1993-12-28 | 顕微鏡及びその光学的断層像表示方法及び光学的断層像表示プログラムを記録した記録媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP3506749B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP5208340B2 (ja) * | 2001-09-20 | 2013-06-12 | オリンパス株式会社 | 透過型顕微鏡装置 |
| JP4236123B1 (ja) | 2008-04-21 | 2009-03-11 | 株式会社林創研 | 三次元画像取得装置 |
-
1993
- 1993-12-28 JP JP35420793A patent/JP3506749B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH07199073A (ja) | 1995-08-04 |
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