JP4532745B2 - 顕微鏡における励起光と放出光との分離構造 - Google Patents
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Description
(発明を実施するための最良の形態)
図1〜図3は、本発明に従う構造の実施例を示す。
【0002】
図1では、ミラーSPとビームスプリッタSTとによって、異なる波長をもつ2つのレーザL1,L2の光(励起光)が共通のビームパスに与えられ、蒸着プリズム(vaporized prism)の面S1上でAOTF(音響光学変調フィルター)方向に反射される。励起光はAOTFに導入され、AOTF制御周波数によって設定された波長について第1のオーダで回折された光は、上流と下流にビームプロファイル調整用のピンホール光学系PHOを有するピンホールPHの方向に正確に偏向され、一方、他の可能な波長は回折されずにゼロオーダでAOTFを横切り、ピンホールには達しない。
【0003】
ここでピンホールPHは、励起および検出ピンホールとして同時に機能する。スキャナーユニットSC1,SC2およびスキャン光学系SCOによって、励起光は顕微鏡のビームパスM1方向に試料に向かって投影される。
【0004】
試料から放出され、励起光成分と周波数偏移された蛍光成分とを含む光は、光路をさかのぼってAOTFへと進む。第1のオーダの回折によって励起光波長成分は再びプリズムPSの鏡面S1に達し、一方、蛍光成分は回折されずにゼロオーダでAOTFを横切り、最終的には反射励起光に対してある角度をとる。こうしてゼロオーダと第1のオーダのビームとの間に、プリズム面S1−S2間のピークが正確に位置決めされ、これにより蛍光は面S2に当射し、この面によって検出ユニット方向に反射される。検出ユニットは一例としてラインフィルターLFと、カラーディバイダNFTと、異なる波長用の2つの検出器とを含む。
【0005】
AOTFは励起光に対する帯域幅が約2nmと低いため、10nmを上回る帯域幅をもつダイクロイックフィルターと比較した場合に明らかに有利なエキストリームエッジフィルターとして機能する。
【0006】
励起光波長と蛍光波長との間の間隔は10nm未満になりうるから、このことは特に重要であり、本発明に従う構造によって波長に関係なくなお分離が可能である。
【0007】
AOTFは、周波数の変更によってレーザL1の波長からレーザL2の波長へ切り替え可能で、この場合もやはり励起光を蛍光から分離することができる。
【0008】
面S1,S2をもつプリズムの代わりに、面S1,S2に対応するが接続はされていない2つの独立したミラーを使用してもよい。この場合の利点は、AOTFまたは検出器DEに対して正確な設定ができるようにミラーを回転式に構成してもよいことである。
【0009】
図2は、スキャナーSCが1つだけの場合における上記と同様の構造を示す。ここではプリズムの代わりに、図1と同じ態様で励起光をAOTF方向に偏向するミラーSが設けらる。この場合、AOTFを通ってゼロオーダで戻る蛍光はミラーSに沿って進み、図示しないが検出部へと進む。
【0010】
基本的には、AOTFのみが励起光と蛍光との分離装置として機能する構造を考えることができ、この場合、レーザ光は上流の素子を経ずに第1のオーダ方向にAOTFへ進み、検出器光は励起光に対してある角度でAOTFから射出して、直接、検出ユニットへ進む。このような構成は、例えば4°という角度は非常に小さく、波長成分の混合は回避されるため、構造の長さにのみ影響を及ぼす。また、蛍光用にのみ分離用ミラーを設けてもよい。
【0011】
図3は、非蒸着プリズム(unvaporized prism)を有する他の有利な構造を示し、これは屈折によって励起レーザ光を第1のオーダでAOTFへ導き、ゼロオーダ(蛍光)を検出器DEへ向けて偏向する。
【0012】
第1オーダとゼロオーダとの間の角度および波長が有利に異なるため、波長成分を明確に分離できる。
【0013】
本発明は、特にAOTFを有するレーザスキャン顕微鏡での使用に有利である。顕微鏡のビームパス中で異なる回折オーダによってビームを分離する他の光回折素子を有利に利用することも可能であり、これは本発明の範囲内に有利に含まれる。
【0014】
従って、これは励起強度の調整に有利に使用可能である。
【0015】
図4では、レーザビームパス中にAOTFおよびAOMで構成される複数のかかる素子が有利に設けられ、レーザ光を供給する。ここではUV,VISまたはIR等の複数のレーザ線L1〜L3は、互いに独立して調整可能な励起力によって同時または個々に与えることができる。
Claims (20)
- 試料に向かって励起光を放出する、照射源を有し、
前記試料から放出された放出光を検出するための検出素子を有し、
励起光を前記試料まで導くため、かつ放出光を前記照射源および検出素子の方向に戻すように導くための顕微鏡光学系を有し、
励起光を回折させるための音響光学素子であって、これにより、回折された励起光の強度を調節することが可能であり、回折された励起光を前記顕微鏡光学系に導入することが可能となるように前記照射源と前記顕微鏡光学系との間に配置された、音響光学素子を有し、
前記試料から放出された放出光が、励起光成分と波長偏移された蛍光成分とを含み、
前記試料から放出された励起光が、前記音響光学素子によって前記照射源の方向に偏向可能であり、
前記試料から放出された波長偏移された蛍光が、回折されずに前記音響光学素子を通過可能であるとともに、前記放出光の励起光成分から空間的に分離可能であり、
回折されずに前記音響光学素子を通過させられた波長偏移された蛍光が、前記検出素子によって検出可能なように、前記検出素子が、前記音響光学素子を基準にして配置されており、
前記検出素子において波長偏移された蛍光を選択的に検出するために、前記音響光学素子と前記検出素子との間に配置されたフィルター素子を有する、蛍光顕微鏡。 - 請求項1に記載の蛍光顕微鏡であって、
光成分の分離を改善するため、光の方向に影響を及ぼす少なくとも1つの光学素子が、前記音響光学素子の上流の励起ビームパス中、または前記音響光学素子の下流の検出ビームパス中に設けられている、蛍光顕微鏡。 - 請求項2に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記光学素子として、反射素子、または蒸着プリズムが設けられている、蛍光顕微鏡。 - 請求項2または請求項3に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記光学素子として、あるいはもう1つの光学素子として、前記音響光学素子の上流の励起ビームパス中、または前記音響光学素子の下流の検出ビームパス中に配置された光屈折素子が設けられている、蛍光顕微鏡。 - 試料に向かって励起光を放出する、照射源を有し、
前記試料から放出された放出光を検出するための検出素子を有し、
励起光を前記試料まで導くため、かつ放出光を前記照射源および検出素子の方向に戻すように導くための顕微鏡光学系を有し、
励起光を回折させるための音響光学素子であって、回折された励起光を前記顕微鏡光学系に導入することが可能となるように前記照射源と前記顕微鏡光学系との間に配置された、音響光学素子を有し、
前記試料から放出された放出光が、励起光成分と波長偏移された蛍光成分とを含み、
前記試料から放出された励起光が、前記音響光学素子によって回折により前記照射源の方向に偏向可能であり、
前記試料から放出された波長偏移された蛍光が、回折されずに前記音響光学素子を通過可能であるとともに、前記放出光の励起光成分から空間的に分離可能であり、
回折されずに前記音響光学素子を通過させられた波長偏移された蛍光が、前記検出素子によって検出可能なように、前記検出素子が、前記音響光学素子を基準にして配置されており、
前記検出素子において波長偏移された蛍光を選択的に検出するために、前記音響光学素子と前記検出素子との間に配置されたフィルター素子を有し、
前記音響光学素子の上流の励起ビームパス中、または前記音響光学素子の下流の検出ビームパス中に配置された、光の方向に影響を及ぼすため、かつ光成分を分離するための、少なくとも1つの光屈折素子を有する、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項5のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記顕微鏡光学系の方向に、音響光学素子として、まずAOMが、次にAOTFが設けられている、蛍光顕微鏡。 - 試料に向かって励起光を放出する、照射源を有し、
前記試料から放出された放出光を検出するための検出素子を有し、
励起光を前記試料まで導くため、かつ放出光を前記照射源および検出素子の方向に戻すように導くための顕微鏡光学系を有し、
励起光を回折させるための複数の音響光学素子であって、回折された励起光を前記顕微鏡光学系に導入することが可能となるように前記照射源と前記顕微鏡光学系との間に配置された、音響光学素子を有し、
前記顕微鏡光学系の方向に、音響光学素子として、まずAOMが、次にAOTFが設けられており、
前記試料から放出された放出光が、励起光成分と波長偏移された蛍光成分とを含み、
前記試料から放出された励起光が、前記音響光学素子によって前記照射源の方向に回折により偏向可能であり、
前記試料から放出された波長偏移された蛍光が、回折されずに前記音響光学素子を通過可能であるとともに、前記放出光の励起光成分から空間的に分離可能であり、
回折されずに前記音響光学素子を通過させられた波長偏移された蛍光が、前記検出素子によって検出可能なように、前記検出素子が、前記音響光学素子を基準にして配置されており、
前記検出素子において波長偏移された蛍光を選択的に検出するために、前記音響光学素子と前記検出素子との間に配置されたフィルター素子を有する、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項7のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、少なくとも1本のガラスファイバが励起光を送り込むために設けられている、蛍光顕微鏡。
- 請求項7または請求項8に記載の蛍光顕微鏡であって、
光成分の分離を改善するため、光の方向に影響を及ぼす少なくとも1つの光学素子が、前記音響光学素子の上流の励起ビームパス中、または前記音響光学素子の下流の検出ビームパス中に設けられている、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項9のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記照射源が、波長の異なる複数のレーザとして構成されており、
複数の音響光学素子が設けられており、各々のレーザに、少なくとも1つの音響光学素子が対応付けられており、
前記音響光学素子における回折による異なる波長を、顕微鏡のビームパスに同時または個別に送り込むことが可能であり、
波長偏移された放出光および各々の場合において波長の異なる励起光が、回折されずにそれぞれの音響光学素子を通過可能である、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項10のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、前記音響光学素子として、AOTFまたはAOMが設けられている、蛍光顕微鏡。
- 請求項10に記載の蛍光顕微鏡であって、
各々のレーザの励起パワーが、それぞれの音響光学素子により個別に調整可能である、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項12のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記音響光学素子が周波数変更によって、第1のレーザの第1の波長から第2のレーザの第2の波長に切り換えることが可能である、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項13のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
第1の回折オーダでの前記音響光学素子における回折により前記励起光を前記顕微鏡光学系に導入することが可能である、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項14のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
励起および検出ピンホールとしてのピンホールが、前記顕微鏡光学系の上流に配置されている、蛍光顕微鏡。 - 請求項10から請求項15のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
前記顕微鏡光学系の方向における前記複数のレーザの照射を波長の大きい順に顕微鏡のビームパスに連続的に送り込むことが可能である、蛍光顕微鏡。 - 請求項1から請求項16のいずれか1項に記載の蛍光顕微鏡であって、
UV光、可視光、または赤外線光を顕微鏡のビームパスに送り込むことが可能である、蛍光顕微鏡。 - 蛍光顕微鏡の光路に光をカップリングさせて入力する装置であって、
異なる波長の光を放出する、複数の光源を有し、
複数の音響光学素子が設けられており、前記複数の光源の各々に、少なくとも1つの音響光学素子が対応付けられており、
前記複数の光源の光を合成するために、前記音響光学素子が共通の光軸上に配置されており、
前記音響光学素子における回折によって、異なる波長の光を前記共通の光軸に同時または個別に送り込むことが可能であり、前記共通の光軸において合成可能である、装置。 - 請求項18に記載の装置であって、
AOTFまたはAOMが前記音響光学素子として設けられている、装置。 - 請求項19に記載の装置であって、
顕微鏡光学系の方向に、音響光学素子として、まずAOMが、次にAOTFが設けられている、装置。
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Families Citing this family (19)
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EP1421367A1 (de) * | 2001-08-28 | 2004-05-26 | Gnothis Holding SA | Einkanal-mehrfarben-korrelationsanalyse |
DE102004031048A1 (de) * | 2004-06-25 | 2006-01-12 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Mikroskop |
DE102004034962A1 (de) * | 2004-07-16 | 2006-02-16 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Mikroskop mit erhöhter Auflösung |
DE102004034996A1 (de) | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Lichtrastermikroskop mit linienförmiger Abtastung |
DE102004054262B4 (de) * | 2004-11-09 | 2016-08-18 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung zur Untersuchung und Manipulation von mikroskopischen Objekten |
DE102005020545A1 (de) * | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Vorrichtung zur Steuerung von Lichtstrahlung |
DE102005020543A1 (de) | 2005-05-03 | 2006-11-09 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur einstellbaren Veränderung von Licht |
TWI364889B (en) * | 2005-11-11 | 2012-05-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Laser device and laser system using the same |
DE102005059338A1 (de) * | 2005-12-08 | 2007-06-14 | Carl Zeiss Jena Gmbh | Verfahren und Anordnung zur Untersuchung von Proben |
DE102006034915A1 (de) * | 2006-07-28 | 2008-01-31 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Laser-Scanning-Mikroskop |
DE102007024075B4 (de) * | 2007-05-22 | 2022-06-09 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Durchstimmbares akusto-optisches Filterelement, einstellbare Lichtquelle, Mikroskop und akusto-optischer Strahlteiler |
DE102007053199A1 (de) * | 2007-11-06 | 2009-05-14 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Vorrichtung und Verfahren zur Ansteuerung eines akustooptischen Bauteils |
US9229294B2 (en) | 2010-05-06 | 2016-01-05 | Leica Microsystems Cms Gmbh | Apparatus and method for operating an acousto-optical component |
DE102010033722A1 (de) | 2010-08-07 | 2012-02-09 | Carl Zeiss Microimaging Gmbh | Anordnung und/oder Verfahren zur Eliminierung unerwünschter Strahlungsanteile aus detektiertem Licht von einer beleuchteten Probe |
JP2013545107A (ja) | 2010-12-10 | 2013-12-19 | エヌケイティー フォトニクス アクティーゼルスカブ | 蛍光測定システム用の広帯域光源の音響光学的同調可能フィルタ(aotf) |
EP2771731B1 (en) | 2011-10-25 | 2020-01-15 | Daylight Solutions Inc. | Infrared imaging microscope |
WO2014209471A2 (en) | 2013-04-12 | 2014-12-31 | Daylight Solutions, Inc. | Infrared refractive objective lens assembly |
DE102013010731A1 (de) * | 2013-06-24 | 2014-12-24 | Carl Zeiss Microscopy Gmbh | Schnell und genau schaltende Lichtweiche und Strahlstabilisierungsvorrichtung |
EP3538941A4 (en) | 2016-11-10 | 2020-06-17 | The Trustees of Columbia University in the City of New York | METHODS FOR FAST IMAGING OF HIGH RESOLUTION LARGE SAMPLES |
Family Cites Families (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DD159819A1 (de) * | 1981-06-22 | 1983-04-06 | Bernd Walter | Steuerschaltung fuer elektronische modulatoren eines akustooptischen zweistrahlmodulationssystems |
US4631416A (en) * | 1983-12-19 | 1986-12-23 | Hewlett-Packard Company | Wafer/mask alignment system using diffraction gratings |
FR2557985B1 (fr) | 1984-01-10 | 1987-04-24 | Sfena | Deflecteur acousto-optique polychromatique |
JPS60252246A (ja) * | 1984-05-29 | 1985-12-12 | Hamamatsu Photonics Kk | 顕微鏡像の分光イメ−ジング装置 |
US4627730A (en) | 1984-07-06 | 1986-12-09 | The Board Of Trustees Of The Leland Stanford Junior University | Optical scanning microscope |
JPH01145621A (ja) * | 1987-12-02 | 1989-06-07 | Nikon Corp | 多波長光ビーム光学系 |
JPH0195648U (ja) * | 1987-12-17 | 1989-06-23 | ||
FR2626383B1 (fr) * | 1988-01-27 | 1991-10-25 | Commissariat Energie Atomique | Procede de microscopie optique confocale a balayage et en profondeur de champ etendue et dispositifs pour la mise en oeuvre du procede |
JPH01282515A (ja) | 1988-05-10 | 1989-11-14 | Tokyo Electron Ltd | ビーム走査型光学顕微鏡 |
JPH04157413A (ja) | 1990-10-20 | 1992-05-29 | Fuji Photo Film Co Ltd | 走査型顕微鏡 |
US5208648A (en) | 1991-03-11 | 1993-05-04 | International Business Machines Corporation | Apparatus and a method for high numerical aperture microscopic examination of materials |
JPH04350816A (ja) * | 1991-05-29 | 1992-12-04 | Olympus Optical Co Ltd | 共焦点蛍光顕微鏡 |
JPH0580366A (ja) * | 1991-09-20 | 1993-04-02 | Asahi Glass Co Ltd | 音響光学光スイツチ |
JPH0695038A (ja) | 1992-03-19 | 1994-04-08 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 超解像走査光学装置、光学装置の超解像用光源装置及び光学装置の超解像用フィルター |
US5422712A (en) * | 1992-04-01 | 1995-06-06 | Toa Medical Electronics Co., Ltd. | Apparatus for measuring fluorescent spectra of particles in a flow |
WO1994006041A1 (en) | 1992-09-07 | 1994-03-17 | Nikon Corporation | Optical waveguide device and optical instrument using the same |
US5418371A (en) * | 1993-02-01 | 1995-05-23 | Aslund; Nils R. D. | Apparatus for quantitative imaging of multiple fluorophores using dual detectors |
JP3343276B2 (ja) * | 1993-04-15 | 2002-11-11 | 興和株式会社 | レーザー走査型光学顕微鏡 |
DE4433753A1 (de) * | 1993-11-15 | 1995-05-24 | Hoffmann La Roche | Anordnung zur Analyse von Substanzen an der Oberfläche eines optischen Sensors |
JPH0829692A (ja) * | 1994-07-11 | 1996-02-02 | Nikon Corp | 蛍光顕微鏡 |
DE19510102C1 (de) * | 1995-03-20 | 1996-10-02 | Rainer Dr Uhl | Konfokales Fluoreszenzmikroskop |
US5841577A (en) | 1996-02-16 | 1998-11-24 | Carnegie Mellon University | Light microscope having acousto-optic tunable filters |
DE19633185C2 (de) * | 1996-04-16 | 2000-06-15 | Leica Microsystems | Mehrfarbige Punktlichtquelle für ein Laserscanmikroskop |
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DE19627568A1 (de) * | 1996-07-09 | 1998-01-15 | Zeiss Carl Jena Gmbh | Anordnung und Verfahren zur konfokalen Mikroskopie |
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