JP4524971B2 - 半導体基板保管箱、半導体基板の製造方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体基板を収納する半導体基板保管箱と、半導体基板の製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
半導体基板は、シリコン単結晶ウェーハ(以下、ウェーハと記載する)にCVD酸化膜形成や不純物の導入・拡散処理、シリコンエピタキシャル成長が施されるなど、多くの工程を経て製造される。このような様々な処理工程の間には、ウェーハの保管や搬送が必要である。その際には、ウェーハの破損を防止しながら保管・搬送するための、半導体基板保管箱が従来から用いられている。
このような半導体基板保管箱にウェーハを出し入れする際には、例えば大気中に飛散しているパーティクル(粒子片)等が、ウェーハ表面に付着しないよう、クリーンルーム内において細心の注意を払って行われる。さらに、収納時においてもウェーハが汚染されることを防止するために、半導体基板保管箱にガスケットを設けて箱体と蓋体との間を密着させたり、ウェーハ収納後の半導体基板保管箱の箱体と蓋体との境界部分に粘着テープを巻いたりするなど、パーティクルの侵入等を防ぐ対策がとられている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
また半導体基板製造過程においては、前述のようにウェーハ保管・搬送時の破損やパーティクル付着を防止するとともに、ウェーハ表面にシミが付着することを防ぐ必要がある。シミは、例えば大気中に浮遊する有機物等の付着によって発生するが、仮にウェーハ表面にシミが付着した場合、当該ウェーハにエピタキシャル成長を施すと、シミが原因となってマウンドやスタッキングフォルト(SF)等の結晶欠陥が発生することがあるからである。
【0004】
本発明の課題は、半導体基板製造過程において、シリコン単結晶ウェーハを収納・保管する際にシミの付着を低減できる半導体保管箱と、シミ付着を防止した半導体基板の製造方法を提供することである。
【0005】
【課題を解決するための手段】
ウェーハ表面にシミが付着した場合でも、SC1洗浄(NH3/H2O2洗浄)等を行うことによって落とすことが可能である。しかし、SC1洗浄したウェーハを半導体基板保管箱に収納すると、再びウェーハ表面にシミができることがある。
本発明者等が、このようなウェーハのシミの成分を分析したところ、当該ウェーハの収納に使用した半導体基板保管箱に備えられ、箱体と蓋体とを密封させているガスケットに含まれる可塑剤成分と、一致することが分かった。また、この可塑剤の成分は、当該ガスケットに弾性を与えるために加えられるパラフィンオイルであった。
そこで、シミを発生させる可能性のある可塑剤成分を含まないガスケットを備えた半導体基板保管箱をウェーハ収納時に使用すれば、ウェーハ表面のシミ発生が低減できると考え検討した。その結果、ポリエステル系エラストマーを主な構成成分とするガスケットは、可塑剤が添加されなくても適度な弾性を有する性状に形成でき、またポリエステル系エラストマー製ガスケットを備えた半導体基板保管箱に収納したウェーハには、シミの発生頻度が小さいことが分かった。
【0009】
そこで、前記課題を解決するため、本発明は、
箱体と、
箱体の上側と、側面の上部周囲と、を覆う蓋体と、
箱体と蓋体との間に介装されて両者間を密封するガスケットと、を備える半導体基板保管箱において、
前記ガスケットは、前記箱体の側面全周に亘って介装され、且つ、前記箱体の側面から外方に突出するように設けられ、 前記ガスケットには、前記箱体の側面から外方に突出する突条が形成され、
前記突条の先端部には厚肉部が形成されていることを特徴とする。
【0010】
本発明の半導体基板保管箱によれば、ガスケットは、箱体の側面において箱体と蓋体との間に介装されるので、仮にガスケットの構成成分が飛散した場合でも、箱体内部に収納されるウェーハ表面に付着し難くできる。
尚、ガスケットには、箱体の側面から外方に突出する突条が形成されるとともに、突条の先端部に、厚肉部が形成されてもよい。この場合、蓋体を取り付けた際に蓋体とガスケットとの密着性が増すので好適である。
【0011】
また、前記課題を解決するための本発明は、シリコン単結晶ウェーハに鏡面研磨を施した後の鏡面ウェーハを、前記保管箱に、気相エピタキシャル成長の直前まで収納し、その後、前記鏡面ウェーハに気相エピタキシャル成長を施すことを特徴とする半導体基板の製造方法である。
【0012】
本発明の半導体基板の製造方法によれば、ウェーハ表面にシミが付着することを防止しながら半導体基板を製造できる。
【0013】
【発明の実施の形態】
以下、図を参照して本発明の実施の形態を説明する。
1.半導体基板保管箱
図1は、本発明の半導体基板保管箱(以降、保管箱100と記載する)の主な構成を示す分解斜視図である。保管箱100は、例えば箱体10と、箱体10の上側を塞ぐように取り付けられる蓋体20と、箱体10に設けられる環状のガスケット30と、箱体10の内部に設置されるウェーハキャリア40と、蓋体20の下側に取り付けられるウェーハ押え部材50と、により主に構成されている。
【0014】
ウェーハキャリア40は、保管箱100の内部にウェーハを収納する際使用されるものであって、ポリプロピレン樹脂により成形されている。ウェーハキャリア40は、対向する側壁41,41と、側壁41,41の一端を連結する端壁42と、側壁41,41の他端を連結する架橋支持部43とから構成されている。側壁41,41は、収納されるウェーハの曲率と略同じ曲率となるように湾曲形成されるとともに、側壁41,41の内面側には、ウェーハが等間隔で保持されるよう、ウェーハ周縁部を支持する溝41aが端壁42および架橋支持部材43と略平行に多数形成されている。また、側壁41,41の下部からは、それぞれ板状の脚部41b、41bが下方に延出し、ウェーハキャリア40が安定して載置されるように支持するようになっている。
【0015】
箱体10は、ポリプロピレン樹脂により成形され、立方形状で上部が開口している。箱体10は、その内部がウェーハキャリア40を嵌合できる形状に形成されている。箱体10には、周方向に張り出す張出15が形成されている。箱体10の側面11,11(ウェーハキャリア40が内部に設置された際側壁41,41に対応する)に位置する張出15には、係止凹部15a(図では片側のみ示す)が形成され、係止凹部15aのそれぞれには、外方に突出する二つの係止突起15b,15bが設けられている。この係止突起15b,15bは、蓋体20が箱体10の上部に係止される際に使用される。また、箱体10の前面13と、後面14に対応する位置の張出15は、箱体10が持ち運びされる際の取っ手として使用される。
さらに、箱体10において、張出15より上部の前面13と、側面11,11および後面14は、蓋体20が取り付けられる際に蓋体20と嵌合する嵌合部16となっている。嵌合部16の外周には、周方向の溝17が形成され、この溝17には後述するガスケット30が嵌め込まれるようになっている。
【0016】
蓋体20は、ポリカーボネート樹脂により成形され、箱体10の上部を覆う四角形状であって、周囲が下方に延出して嵌合部22を形成している。嵌合部22において、箱体10に蓋体20が取り付けられる際、箱体10の側面11,11に対応する位置には、弾性を有する嵌着部23が、下方に延出するように設けられている。嵌着部23には、二つの係止孔23a,23aが形成され、箱体10に取り付けられる際には、この係止孔23a,23aと、箱体10の突起15b,15bとが嵌合して蓋体20が箱体10に係止されるようになっている。
【0017】
ウェーハ押え部材50は、ポリエステル系樹脂により成形され、四角形状の枠体51と、枠体51の対向する2辺にそれぞれ設けられた櫛部52とから構成されている。櫛部52には、弾性を有する多数の突起52aが形成されている。ウェーハ押え部材50は、蓋体20の下面側に着脱可能に取り付けられ、保管箱100に備えられた際には、箱体10内のウェーハキャリア40に収納されるウェーハの上部周縁を、櫛部52の突起52aの間で挟み、弾性的に保持するようになっている。
【0018】
尚、これら箱体10、蓋体20、ウェーハキャリア40、ウェーハ押え部材50を形成する樹脂には、例えばフェノール系の酸化防止剤や、触媒成分を中和するステアリン酸金属塩等の酸中和剤、ソルビトール系核剤、紫外線吸収剤などの光安定剤、またポリアミド系の耐熱安定化剤等の添加剤が加えられ、いずれも半導体基板保管箱としての使用に適する低ガス性、低金属・イオン溶出性等の低汚染性や、機械的特性の要求を満たした合成樹脂とし、適宜の条件下で射出成形することにより得られるものである。
【0019】
ガスケット30は、ポリエステル系エラストマーにより形成される。このエラストマー材料は、例えば1,4−ブタンジオール、ジメチルフタレート、分子量約2000のポリテトラメチレングリコールを原料とし、有機チタン触媒の存在下、エステル交換および重縮合反応を経て射出成形により製造され、ポリブチレンテレフタレートを硬質成分(ハード成分)、ポリオキシテトラメチレングリコールをゴム成分(ソフト成分)としたブロック共重合体として構成される。尚、本実施の形態のガスケット30ではこれらハード成分とソフト成分の構成比を約3:1として構成しているが、これらの構成比によって、ガスケットの硬さ又は弾性率を変えることができ、特に限定されるものではない。
【0020】
また、ガスケット30を構成するポリエステル系エラストマー製造においては、環境要因による劣化を低減させるための各種の安定剤が加えられ、フェノール系酸化防止剤、離型剤としてのモンタン酸エステル、および紫外線吸収剤が添加されるが、可塑剤であるパラフィンオイルの添加は不要である。
【0021】
ガスケット30は、環状に成形され、ガスケット30の外周の中央部分には周方向に外方に突出する突条30aが形成されている。
ガスケット30の断面形状の一例を図2に示す。ガスケット30は、図2(a)のように中央付近の一部を突出させたT字形の断面形状になるように形成してもよく、また図2(b)のように、外周面が幅広く突出するように形成してもよい。
また、図2(c)〜(o)のように、突条30aの先端部に厚肉部30bを形成してもよい。突条30aの先端部に厚肉部30bを形成した場合、ガスケット30の先端と蓋体20との密着性が増し好適である。
この厚肉部30bの断面形状は、図2(c)のような丸形や、図2(d)のような略三角形に形成してもよく、また(e)のような星形、(f)または(g)のような矢印形、(h)のような十字形、(i)のようなバツ印形、(j)のような丸鋸形、(k)のような五角形、(l)のような六角形、(m)のような四角形、(n)のような四辺形あるいは菱形、また(o)のような台形に形成してもよい。さらに、図2(p)のように、厚肉部30bを設けない突条30aを形成してもよく、図2(q)のように突条30aの先端を尖らせた形状にしてもよい。突条30aと、厚肉部30bの形状は、上記のいずれでもよく、また上記に限定されず任意であり、また図2(a)〜(q)に示す以外の形状であってもよい。
尚、ガスケット30の内周面から、突条30a先端までの距離(図3(a)〜(d)においてAで示す)は、箱体10と蓋体20とを組み付けた際にそれらの間を密封できる十分な長さを備えるように形成する。従ってAは、箱体10の嵌合部16の溝17の底部から、蓋体20の嵌合部22の内周面までの距離よりも長くなるように形成する。また、ガスケット30の内周面の長さは、箱体10の溝17底部の周方向の長さと略同一か、もしくはガスケット30の内周面の方がやや小さめになるように形成する。
ガスケット30は、箱体10の溝17に嵌め込まれ、蓋体20が閉じられた際には、突条30aが蓋体20の嵌合部22に押されて撓み(図3(c)参照)、ガスケット30は箱体10と蓋体20とに密着する。その結果、保管箱100が密封され、パーティクルや水滴、あるいは保管箱100外部に浮遊する有機物等が保管箱100内に侵入することが防止される。また、このようにガスケット30が、箱体10の嵌合部16の外周部に取り付けられることによって、仮にガスケット30の構成成分が飛散しても、箱体10内部のウェーハには届き難く、内部に収納されるウェーハにガスケット30の構成成分が飛散してシミが付着することも防止される。
【0022】
保管箱100は、前述のように箱体10の溝17にガスケット30が嵌め込まれ(図3(b))、箱体10内部にウェーハキャリア40が嵌め入れられ、ウェーハ押え部材50が下面側に嵌着された蓋体20が箱体10上部に備えられることによって、構成される。蓋体20を箱体10に取り付ける際は、蓋体20の嵌合部22が箱体10の嵌合部16の周囲を覆うようにし、嵌合部22と箱体10の張出15の上面とが接触するように下方に押し込む。そして、蓋体20の嵌着部23が張出15の係止突起15b,15bに当接して撓み、さらに係止突起15b,15bを乗り越えて、嵌着部23の係止孔23a,23aに係止突起15b,15bが係合すると、蓋体20は箱体10に係止される。
ガスケット30は箱体10の嵌合部16において溝17に装着されているので、前述のように箱体10に蓋体20を取り付ける際にもガスケット30の取り付け位置がずれることはなく、蓋体20の取り付け後には、箱体10の側面全周に亘って蓋体20との間で介装される。蓋体20が箱体10に係止された状態において、ガスケット30は、前述のように箱体10と蓋体20とに密着しているので(図3(c)参照)、保管箱100は密封された状態となる。
【0023】
保管箱100にウェーハを収納する際には、ウェーハを略垂直にして、ウェーハキャリア40の溝41にウェーハ周縁部が支持されるように入れる。このウェーハキャリア40には、溝41の数分のウェーハを収納することができるが、収納枚数などは任意である。そしてウェーハを収納したウェーハキャリア40を箱体10に収納し、蓋体20を箱体10に取り付けて係止させる。この状態において、ウェーハの下方はウェーハキャリア40に支持され、またウェーハの上部周縁は、蓋体20に取り付けられたウェーハ押え部材50によって押えられることにより、保管箱100が搬送されてもウェーハががたつかず安定した状態で収納されるようになっている。
【0024】
このように構成される保管箱100は、半導体基板の製造過程において、シリコン単結晶ウェーハの保管や搬送が必要な際に使用される。尚、保管や搬送が必要な過程とは、例えばCVD酸化膜形成工程や、不純物の導入・拡散処理工程、気相エピタキシャル成長工程などの、半導体製造における一の工程から次の工程に至る間などにおいて、シリコン単結晶ウェーハの保管や搬送の必要が生じるあらゆる過程が含まれる。
【0025】
保管箱100によれば、ガスケット30にはパラフィンオイルなどの可塑剤を含まない素材により形成される。従って、保管箱100にウェーハが収納される際、ウェーハにガスケット30の可塑剤が原因となるシミが付着することを防止できる。
また、ガスケット30は、箱体10の嵌合部16の外周に形成される溝17に装着される。例えば、箱体10の上端部において箱体10と蓋体20との間に介装されるガスケットでは、ガスケット30に含まれる構成成分が飛散すると、箱体10内部に収納されるウェーハに飛散物が等達して付着し、シミとなる可能性がある。しかし本実施の形態の保管箱100では、前述のようにガスケット30が箱体10の嵌合部16の外周部に取り付けられるので、仮にガスケット30の構成成分が飛散しても箱体10内部のウェーハには届き難くなる。従って、保管箱100によれば、内部に収納されるウェーハにガスケット30の構成成分が飛散してシミが付着することを低減できる。
さらに、ガスケット30は、その内周面の長さが、箱体10の溝17底部の周の長さと略同一か、もしくはガスケット30の内周面の長さの方がやや小さめになるように形成されているので、蓋体20を箱体10に取り付ける際にガスケット30がずれることなく、箱体10と蓋体20との間に介装させることができ好適である。
加えて、例えば気相エピタキシャル成長を施す前のウェーハを保管する際に、本発明の保管箱100を用いて収納すれば、ウェーハに可塑剤が付着してシミが発生することを防ぐことができるので、気相成長の際にシミが原因となってマウンドやSF等の結晶欠陥が発生することを防止でき、また気相成長前にシミを落とすためにウェーハを洗浄する工程も必要なく好適である。
【0026】
尚、ガスケットは、本発明のように可塑剤を含まない構成であれば、ウェーハへの可塑剤の付着によるシミの発生を低減できるので、ガスケットが箱体の上端部分において箱体と蓋体との間で介装される構成としてもよい。
【0027】
2.半導体基板の製造方法
保管箱100を使用した半導体基板の製造方法の一例を説明する。
本発明の半導体基板の製造方法においては、例えばFZ法あるいはCZ法等により製造されたシリコン単結晶インゴットから、面取り工程、スライス工程、ラッピング工程、エッチング工程、CVD酸化膜成長工程、鏡面研磨工程を通して製造され、その主裏面にCVD酸化膜が形成された気相成長用のシリコン単結晶ウェーハが使用される。
このシリコン単結晶ウェーハを、保管箱(半導体基板保管箱)100に収納し、気相成長を行う直前まで保管する。尚、気相成長の直前まで保管するとは、保管箱100からシリコン単結晶ウェーハを取り出した後、さらにシリコン単結晶ウェーハを他の保管箱に入れて保管することなく気相成長装置に投入することを意味する。
また、気相成長装置(図示略)は、枚葉型、パンケーキ型、あるいはバレル(シリンダ)型のいずれを用いて行ってもよい。さらに、保管箱100に収納された状態で、シリコン単結晶ウェーハは必要に応じて搬送されてもよい。
【0028】
保管後のシリコン単結晶ウェーハを、保管箱100から取り出して気相成長装置(図示略)に入れ、気相成長を施す。
気相成長においては、シリコン単結晶ウェーハを気相成長装置内の反応炉に配設されたサセプタ上に載置し、次いで、反応炉内を約1050℃〜1150℃程度に加熱する。そして、ジクロロシランやトリクロロシラン等の原料ガスを、ドーパントガスとともにウェーハの主表面上流通させてシリコンエピタキシャル層を形成させる。気相成長後、反応炉内の温度を400℃〜900℃程度まで下降させ、製造された半導体基板(シリコンエピタキシャル層の形成されたシリコン単結晶ウェーハ)を気相成長装置から取り出して、後のデバイス製造工程へと移行させる。
尚、気相成長におけるガスの流量や、ガスの組成、流通時間、また温度の詳細な設定は、所望とするシリコンエピタキシャル層の厚さ等を鑑みて適宜設定する。また、気相成長装置から取り出した後、製造された半導体基板を本発明の保管箱100に収納して保管や搬送を行うと、ガスケット30の可塑剤が原因となるシミの付着を防止でき好適である。
【0029】
本発明の半導体基板の製造方法によれば、気相成長を施す前のシリコン単結晶ウェーハを、気相成長処理の直前まで、パラフィンオイル等の可塑剤を含まないガスケットが装着された保管箱(半導体基板保管箱)100に収納している。
従って、ガスケットの可塑剤が付着することがないので、気相成長の際、シリコン単結晶ウェーハ表面に付着したシミが原因となってマウンドやSF等の結晶欠陥が発生することを低減でき、好適である。
【0030】
【実施例】
本実施例においては、本発明の半導体基板の製造方法によって半導体基板を製造する。前記実施の形態で述べられているようにして製造された気相成長用のシリコン単結晶ウェーハを、本発明の保管箱(半導体基板保管箱)100に収納して保管する。そして、このシリコン単結晶ウェーハを保管箱100から取り出した後、直ちに気相成長装置(図示略)に入れ、気相成長を施してシリコンエピタキシャル層を形成し、半導体基板を形成する。
本実施例において製造された半導体基板について検査したところ、マウンドおよびSFの発生は見られなかった。
【0031】
また、シリコン単結晶ウェーハを、主面を上にして載置し、その上部で本実施例における保管箱100に介装されるガスケット30を折り曲げ、当該シリコン単結晶ウェーハにシミが発生するかどうかの検討を行った。その結果、図4に示すように、ウェーハ上には3点のシミが見られたが、これらはいずれもガスケット30の構成成分ではなく、ガスケット30に含まれる成分によるシミの付着は見られなかった。
従って、シリコン単結晶ウェーハの保管や搬送の際、本発明の保管箱100にウェーハを収納すれば、パラフィンオイルなどの可塑剤が原因となるシミの付着を防止できる。従って、この保管箱100に収納したシリコン単結晶ウェーハに、気相成長を施すと、シミがウェーハに付着しないため、マウンドやSFなどの発生を低減でき好適である。
【0032】
<比較例>
本比較例においては、ポリオレフィン系エラストマー材質によって構成したガスケットを保管箱100に装着し、半導体基板の製造に使用した。
本比較例のガスケットの基本成分であるポリエステル系エラストマーは、主にポリプロピレン(PP)、エチレンプロピレンゴム(EPDMゴム)、および可塑剤としてのパラフィンオイルからなる。これらの組成比は、PP約10~15%、EPDMゴム約41~46%、パラフィンオイル約44%である。尚、パラフィンオイルは、炭素数の中心値56、分子量約746である。
このガスケットは、EPDMゴムとパラフィンオイルを混錬して油展ゴムを形成させた後、PPおよびその他の添加剤を配合し、さらにEPDMゴムを3次元架橋させる架橋剤としてパーオキサイドを配合し、重合触媒の存在下、押出し機中で混錬と架橋を同時に行うことにより製造される。尚、ガスケット製造の際には、上記の他、酸化防止剤、紫外線吸収剤、また触媒の中和剤としての亜鉛華(ZnO)等が添加剤として加えられる。このガスケットにおいては、架橋したEPDMゴムによりゴム弾性が発揮され、またパラフィンオイルにより硬度が調整される。ガスケットは、上下方向に扁平の環状に形成される。
【0033】
本比較例においては、ガスケットは箱体の上部において、箱体と蓋体との間に介装されるようにする。すなわち本比較例の保管箱では、箱体の上端部に、上下方向の溝が環状に形成され、その溝に、ガスケットの下部が嵌め込まれるようにする。そして、蓋体が取り付けられる際に、溝から露出するガスケットの上部が蓋体に押されて撓み、蓋体と箱体との間を密封するようになっている。
尚、ガスケットの装着部分を除く箱体の構造と、その他の部剤の構造及び素材等は、前記実施例と同様である。
【0034】
前記のように構成された半導体基板保管箱を使用して、半導体基盤を製造する
。
前記実施例と同様に、シリコン単結晶ウェーハを本比較例における半導体基板保管箱に収納して保管後、ウェーハを取り出して直ちに気相成長装置に入れてシリコンエピタキシャル層を形成し、半導体基板を製造する。
製造された半導体基板を検討したところ、マウンド、SFといった結晶欠陥の発生が見られた。
【0035】
本比較例において、半導体基板保管箱に収納後、取り出された32枚のシリコン単結晶ウェーハについて、主面に付着しているシミの観察を行ったところ、全てのウェーハにシミの付着が見られた。これらのシミを採取し、ラマン分析により検討したところ、シミの成分はガスケットに可塑剤として含まれるパラフィンオイルであった。図5に、これらの32枚のシリコン単結晶ウェーハに付着したパラフィンオイル由来のシミを、重ねて示す。図のように、収納されたシリコン単結晶ウェーハには、上部と下部に比確的多くのシミが付着している。
【0036】
また、シリコン単結晶ウェーハを、主面を上にして載置し、その上部で本比較例のガスケット30を折り曲げ、当該シリコン単結晶ウェーハに発生するシミを検討した。その結果を図6に示す。図のように、ウェーハ上には多数のシミが発生し、ラマン分析したところパラフィンオイルによるシミであった。
【0037】
さらに、本比較例においてパラフィンオイル由来のシミが付着した2枚のシリコン単結晶ウェーハ(ウェーハ▲1▼・▲2▼と記載する)に、SC1洗浄(NH3/H2O2洗浄)およびSC2洗浄(HCl/H2O2洗浄)を施し、さらに本比較例の半導体基板保管箱に4時間収納して取り出し、シミの検討を行った。
洗浄前と、洗浄して半導体基板保管箱に収納した後のウェーハ▲1▼・▲2▼の主面上のシミの数は、ウェーハ▲1▼では洗浄前は9箇所、洗浄して保管箱に収納した後では1箇所であった。また、ウェーハ▲2▼では、洗浄前11箇所、保管箱に収納した後では1箇所であった。このウェーハ▲1▼および▲2▼において、半導体基板保管箱から取り出した後のシミを検討したところ、洗浄前のシミではなく、洗浄後新たに付着したパラフィンオイル由来のシミであった。
【0038】
また、本比較例において、主面にパラフィンオイル由来のシミが12箇所に付着したシリコン単結晶ウェーハについて、1110℃で60秒間の水素熱処理を行った。その後、シリコン単結晶ウェーハのシミの様子を観察した結果、2箇所に残存するシミが観察された。従って、水素熱処理によってもシミが除去されずに残存する場合もあることがわかる。
【0039】
さらに、主面にパラフィンオイル由来のシミが付着したシリコン単結晶ウェーハに、1110℃で60秒間の水素熱処理を施し、続いて気相成長を行ってシリコンエピタキシャル層を形成した。その結果、水素熱処理で除去されなかったパラフィンオイル由来のシミが付着していた場所にマウンドおよびSFの結晶欠陥が発生した。
従って、シリコン単結晶ウェーハの主面に残存するシミは、気相成長の際にマウンドやSFの核となることが分かる。
【0040】
以上の比較例より、半導体基板保管箱に備えられるガスケットにパラフィンオイルなどの可塑剤が含まれている場合、保管箱の内部にシリコン単結晶ウェーハが収納される際に可塑剤が飛散してシリコン単結晶ウェーハに付着してシミの原因となることがわかる。また、このシミは、SC1洗浄およびSC2洗浄によって除去できるが、洗浄後のシリコン単結晶ウェーハを、可塑剤を含むガスケットを備えた半導体基板保管箱に収納すると、再びシミが付着する。また、シミの付着したシリコン単結晶ウェーハに水素熱処理を施しても、シミが除去しきれずに残存する場合がある。また、主面にシミの付着したシリコン単結晶ウェーハに気相成長を施すと、マウンドやSF等の結晶欠陥が発生する。
従って、パラフィンオイル等の可塑剤を含まない材質で形成されるガスケットを備えた半導体基板保管箱を、シリコン単結晶ウェーハを収納する際に使用すれば、シリコン単結晶ウェーハへのシミの付着を低減でき、また、半導体基板保管箱から取り出したシリコン単結晶ウェーハに気相成長を施した際、結晶欠陥が発生することを低減できる。
【0041】
【発明の効果】
第1の手段の半導体基板保管箱によれば、パラフィンオイルなどの可塑剤を含まないポリエステル系エラストマー材質で形成されるガスケットが備えられているので、当該半導体基板保管箱にウェーハを収納しても、可塑剤が原因であるシミの付着が防止できる。
第2の手段の半導体基板保管箱によれば、ガスケットは、箱体の側面において箱体と蓋体との間に介装されるので、仮にガスケットの構成成分が飛散した場合でも、箱体内部に収納されるウェーハ表面に付着し難くできる。
第3の手段の半導体基板の製造方法によれば、ウェーハ表面にシミが付着することを防止しながら半導体基板を製造できる。従って、ウェーハに気相成長を施す際、マウンドやSFといった結晶欠陥の発生が低減でき、また気相成長前にウェーハを洗浄する必要も生じないので好適である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一例としての半導体基板保管箱の主な構成を示す分解斜視図である。
【図2】本発明の半導体基板保管箱を構成するガスケットの断面図である。
【図3】図1に示す半導体基板保管箱において、(a)は箱体、(b)は箱体にガスケットを装着した様子を示す側面図であり、(c)は箱体と蓋体との間にガスケットが介装された様子を示す一部断面を含む側面図である。
【図4】本発明の半導体基板保管箱に備えられるガスケットによるシミの発生を試験した際の、ウェーハのシミを示す図である。
【図5】従来の可塑剤を含むガスケットを備えた半導体基板保管箱に収納されたウェーハ32枚のシミを重ねて示す図である。
【図6】従来の可塑剤を含むガスケットをシリコン単結晶ウェーハ上で折り曲げた際、ウェーハに付着したシミを示す図である。
【符号の説明】
10 箱体
20 蓋体
30 ガスケット
40 ウェーハキャリア
50 ウェーハ押え部材
100 保管箱(半導体保管箱)
Claims (2)
- 箱体と、
箱体の上側と、側面の上部周囲と、を覆う蓋体と、
箱体と蓋体との間に介装されて両者間を密封するガスケットと、を備える半導体基板保管箱において、
前記ガスケットは、前記箱体の側面全周に亘って介装され、且つ、前記箱体の側面から外方に突出するように設けられ、
前記ガスケットには、前記箱体の側面から外方に突出する突条が形成され、
前記突条の先端部には厚肉部が形成されていることを特徴とする半導体基板保管箱。 - シリコン単結晶ウェーハに鏡面研磨を施した後の鏡面ウェーハを、請求項1に記載の保管箱に、気相エピタキシャル成長の直前まで収納し、その後、前記鏡面ウェーハに気相エピタキシャル成長を施すことを特徴とする半導体基板の製造方法。
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