JP4521121B2 - マイクロタイタプレートとともに用いるための光学オートフォーカス - Google Patents
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- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 36
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 30
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 10
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 claims 2
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 30
- 229910052742 iron Inorganic materials 0.000 description 15
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 13
- 238000003556 assay Methods 0.000 description 11
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 11
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 8
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 8
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 8
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 5
- 238000012216 screening Methods 0.000 description 5
- 239000003153 chemical reaction reagent Substances 0.000 description 4
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000006117 anti-reflective coating Substances 0.000 description 2
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 2
- 238000001917 fluorescence detection Methods 0.000 description 2
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 2
- 230000007935 neutral effect Effects 0.000 description 2
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 2
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 description 1
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 238000003271 compound fluorescence assay Methods 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 229940000406 drug candidate Drugs 0.000 description 1
- 238000012912 drug discovery process Methods 0.000 description 1
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 1
- 238000012921 fluorescence analysis Methods 0.000 description 1
- CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N helium neon Chemical compound [He].[Ne] CPBQJMYROZQQJC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000013537 high throughput screening Methods 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L magnesium fluoride Chemical compound [F-].[F-].[Mg+2] ORUIBWPALBXDOA-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- 229910001635 magnesium fluoride Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000002547 new drug Substances 0.000 description 1
- 239000000825 pharmaceutical preparation Substances 0.000 description 1
- 229940127557 pharmaceutical product Drugs 0.000 description 1
- 238000001556 precipitation Methods 0.000 description 1
- 210000001747 pupil Anatomy 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 238000011896 sensitive detection Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 239000013076 target substance Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
- BYMUNNMMXKDFEZ-UHFFFAOYSA-K trifluorolanthanum Chemical compound F[La](F)F BYMUNNMMXKDFEZ-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/34—Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/62—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
- G01N21/63—Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
- G01N21/64—Fluorescence; Phosphorescence
- G01N21/645—Specially adapted constructive features of fluorimeters
- G01N21/6452—Individual samples arranged in a regular 2D-array, e.g. multiwell plates
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- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/241—Devices for focusing
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Nuclear Medicine, Radiotherapy & Molecular Imaging (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Description
【関連出願のクロスリファレンス】
この発明は、1999年1月7日に出願された米国特許出願連続番号第09/226,842号の部分的な継続である。
【0002】
【技術分野】
この発明は一般的に、光学測定のための光を容量空間に焦点合わせする方法に関し、より特定的には、マイクロプレート内のウェルにおける測定とともに用いるためのオートフォーカスシステムに関する。
【0003】
【背景技術】
多くの研究アッセイにおいては、蛍光を用いて興味の対象を同定し、または数える。血清学、細胞学、微生物学および組織病理学において、蛍光検出は多くの適用を有する。蛍光を用いることの主な利点は、蛍光は低いレベルで検出できるために高感度のテストが可能なことである。蛍光を用いることの第2の利点は、異なる蛍光組成物がさまざまな異なる励起および放射波長を有することである。このため、マーカとして異なる波長に関連付けられた各興味の対象に対するアッセイを行なうことによって、単一のサンプル中での複数の対象のアッセイの開発が可能である。付加的な利点は、蛍光は放射性同位元素の使用を必要としないため、試薬の使用が安全であり、かつより簡単に処理できることである。
【0004】
蛍光に基づくアッセイの使用の適用の1つに、医薬品となる可能性のあるものを同定するための組成物のスクリーニングがある。薬剤発見のプロセスは、組合せの化学によって作られた多数の薬剤候補のスクリーニングのステップを含み、極度に多数のアッセイを必要とする。このプロセスを簡略化するために、しばしばアッセイ手順が自動化される。自動化によってスクリーニングのスループットが大きく増加し、新たな薬剤であり得るもののよりよい費用対効果による分離が可能となる。
【0005】
スクリーニングプロセスを自動化する方法の1つは、サンプルをマイクロプレートウェルに導入するステップを含む。これらのウェルはしばしば、プラスチックのサンプルプレート上の矩形の配列中に列をなして配される小さな円筒形の容器である。一般的に用いられるマイクロプレートは、プレート当たり96、384、またはそれ以上のウェルを有する。これらのプレートを自動的に取扱うことによって、マイクロプレートにおけるサンプルのスクリーニングのより高いスループットが可能となる。
【0006】
現在、マイクロプレートおよび蛍光を用いるアッセイは、マイクロプレートウェルの2次元的な読取によって放射を検出する。たとえば米国特許第5,589,351号は、マイクロプレート中のウェルから送られる光を検出する蛍光分析システムを教示する。ウェルからの光が集められて反射器に伝達され、反射器は光を単一の検出器に方向付ける。このシステムはウェルの列の連続的な読取を可能にする。ウェルの読取は2次元的にもたらされ、各ウェルは放射光の単一の光源として読取られる。このため、ウェル内の局在化された事象における情報を集めるというアッセイの可能性がなくなる。米国特許第5,784,152号は、蛍光放射を検出する別のマイクロプレート読取機を教示する。この読取機には光学部材が含まれるため、特定の波長に対する調節可能な検出が可能となる。ここでも検出は2次元の態様でもたらされる。
【0007】
マイクロプレートを用いるとき、マイクロプレートウェルの3次元の読取によってより多くの情報を集めることが可能となる。目標の蛍光はしばしばマイクロプレートウェルの底部に局在化する。マイクロプレートウェル中の液体はしばしば付加的な未結合の蛍光試薬を含む。標準的な2次元マイクロプレート蛍光アッセイにおいては、同じ液体中でマイクロプレートウェルの底部の蛍光を検出することはできない。ウェルの底部における蛍光放射は、ウェルの残りの深さにおける未結合の蛍光組成物から放射されるバックグラウンド蛍光によってマスクされる。簡略化した高スループットスクリーニングにおいて、未反応の蛍光試薬を取除くことなくウェルの底部層の検出が可能であることが理想的である。
【0008】
マイクロプレートウェルの底部層からの蛍光を検出できるようにするためには、ウェル底部の薄い層に自動的に焦点合わせをして蛍光放射を励起できることが必要である。そのためには、マイクロプレートウェルの底部の30から150ミクロンの深さに光源を焦点合わせできることが必要である。この焦点深度はウェルの底部に仮想毛細管、すなわち深さわずか30から150ミクロンのウェル底部の領域を有する焦点層を作り出す。
【0009】
マイクロプレートのジオメトリは、マイクロプレートウェルの底部に焦点合わせする試みを困難にする。プレートが光学許容度に対して均一であれば、標準的な焦点距離が可能である。しかし、マイクロプレートウェルの底面の場所は30から150ミクロンの許容度に対して均一ではない。この問題を克服するためには、マイクロプレートウェルの底部の場所を正確に定め、この場所に焦点合わせする方法を考案する必要がある。高スループットシステムにおいて、この方法は迅速かつ正確でなければならない。
【0010】
マイクロプレートの底部層を検出するための公知の方法の1つでは、蛍光検出を用いてマイクロプレートウェル内の目標層の上に光学的にオートフォーカスする。レーザ光の焦点スポットがウェル底部の上面よりも下にあるときには、最小限の蛍光が検出される。マイクロプレートを、マイクロプレートウェルのz軸に沿って動かすとき(z軸とはマイクロプレートウェルの長手軸である)、その焦点スポットはいくつかの点においてウェル底部の上面と交差し始める。焦点スポットがウェルに入ると、焦点スポットからの光がウェル中の蛍光組成物のいくつかからの蛍光放射を励起し始める。焦点スポット全体がウェル底部の上面よりも上にあるとき、蛍光強度は最大に達する。図2は、焦点スポットがウェル中に移動するときの蛍光強度のグラフである。蛍光強度の最大平坦部の開始点は、焦点スポット全体がウェル底部の上面よりも上にきたときのプレートの場所である。これはマイクロプレートウェル内でビームを再焦点合わせするために用いられてきた。しかし実際には、この方法を行なうことは困難であることが明らかになった。蛍光グラフを用いてウェル内の焦点スポットの配置を定めるために必要とされる時間は、高スループット適用のために十分なほど迅速ではない。
【0011】
したがってこの発明の目的は、マイクロプレートウェルの底部における薄い層に自動的に焦点合わせできる方法および装置を提供することである。この焦点合わせの手順は迅速、正確、かつ未結合の蛍光試薬を含む異なるアッセイにおける蛍光測定に適合可能であるべきである。この発明の付加的な目的は、この焦点合わせの方法を用いて、マイクロプレートウェル内の液体の体積を定め得るようにすることである。
【0012】
【発明の概要】
前述の目的は、焦点合わせされた光のビームを用いて、マイクロプレートウェル底部の上面すなわちウェルの底部を定める面などの、マイクロプレート上の参照点を光学的に感知し、この参照場所を用いて、その参照場所に対する定められた関係に位置決めされるマイクロプレートウェル内の目標に光のビームを再焦点合わせする方法および装置を通じて達成される。目標層を走査することにより、特に蛍光を用いて目標物質を同定するときに、マイクロプレートウェル内の目標以外の場所からの光学干渉なしにマイクロプレートウェル内の薄い層のアッセイが可能となる。
【0013】
第1の実施例において、この方法は、マイクロプレートの下側の光学的に検出可能な参照面において起こる材料界面に向けて光のビームを焦点合わせすることによって達成される。次いでこの参照面を光のビームの焦点スポットに対して動かす。この移動が起こるときに参照面からの鏡面反射が回収され、焦点開口を通じて光検出器に方向付けられて、そこで鏡面反射の強度が測定される。光のビームの焦点スポットが参照面上にあるときには最大量の光が焦点開口を通じて検出器に方向付けられ、ピーク強度が測定される。一旦参照面の場所がわかると、目標層が参照面に対して公知の関係にあるときには、この場所を用いて光のビームをマイクロプレートウェル中の目標層に再置できる。焦点スポットが目標層に再置されると、蛍光が励起され、目標層の走査を用いて検出される。
【0014】
オートフォーカス法の代替的な実施例において、焦点開口および検出器は位置検知型検出器に取換えられる。ここでも光のビームの焦点スポットがマイクロプレートウェルの下側の参照面に方向付けられる。この参照面は光のビームの焦点スポットに対して動かされるが、検出器は静止して保たれる。この移動が起こるとき、その移動中に反射される焦点スポットをイメージングするために十分に大きい感受性領域を有する位置検知型検出器に参照標準からの鏡面反射が方向付けられる。この位置検知型検出器は、反射光の強度と、検出器上の反射光の位置との両方を測定する。第1の実施例と同様に、最大検出光強度の測定は、焦点スポットが参照面上にあることに相関する。その光が測定される鏡面反射の最大強度に達するとき、その光は位置検知型検出器上の位置においても検出される。焦点スポットが参照面を目標にするとき、位置検知型検出器上のこの位置がその場所である。一旦位置検知型検出器上のこの位置がわかると、それを決定性表示として用いて、マイクロプレート上の他の場所における参照面の位置を見つけることができる。第1の実施例と同様、一旦参照面の場所が定められると、それを用いてその後光学的に走査される目標層に焦点スポットが再位置決めされる。
【0015】
【好ましい実施例の説明】
図1を参照すると、レーザ10はレーザビーム11を生成する。好ましい実施例においてはヘリウム−ネオンレーザが用いられる。このレーザは633nmの波長において干渉光を生成できる。この波長の光を用いることによって、生物サンプル中の蛍光目標組成物の最適な検出が可能となる。なぜなら、典型的な生物サンプルの吸光はこの波長よりも下であるため、前記サンプルからの自己蛍光が最小化されるためである。レーザ光11は第1のステアリング鏡12によって方向付けられて第1のシャッタ22を通る。次に光は第2のステアリング鏡14によって方向付けられて第2のシャッタ24を通る。シャッタ22および24はレーザの安全要求に従うために含まれる。レーザ光は第2のシャッタ24を通過した後にレーザ線フィルタ26を通る。レーザ線フィルタはプラズマ管光を抑制し、かつレーザ光を送るために含まれる。プラズマ光は回収される蛍光と干渉するため、これが必要である。レーザ光はレーザ線フィルタ26を通過してビームスプリッタ28に達する。ビームスプリッタ28は光の一部をレーザ電力センサ16に反射する。電力センサ16はレーザの電力を継続的にモニタし、光電力出力が特定的な要求よりも下になったかどうかを検出できる。付加的には、光電力をモニタすることによって光出力を正常化できる。ビームスプリッタ28によって偏光されなかったレーザ光は、ビームスプリッタを通り、正のコントラクタレンズ30および負のコントラクタレンズ32を通って送られる。これらのレンズは、レーザ光ビームの大きさを成形して目標のマイクロプレートウェル上に要求される焦点スポットの大きさを生成するために用いられる。次いで、レーザ光はレーザ2色性スプリッタ34によって方向付けられ、振動する亜鉛めっき鉄板鏡36に達する。振動する亜鉛めっき鉄板鏡36の動きにより、レーザ光は1つの軸に沿って移動する。この光は振動する亜鉛めっき鉄板鏡36によって方向付けられて亜鉛めっき鉄板リレーレンズ38を通り、リレー折り畳み鏡56によって方向付けられて光を焦点合わせする対物リレーレンズ54を通る。亜鉛めっき鉄板レンズ38および対物リレーレンズ54の目的は、亜鉛めっき鉄板の中心を照らしたレーザを対物レンズの入射瞳上にイメージングすることである。好ましい実施例においては、リレー折り畳み鏡56がレーザ光11を方向付けることによって、光はその光が以前方向付けられていた面と直交するようになる。次に光は対物レンズ51を通過し、目標のマイクロプレートウェル底部の下面53に達する。
【0016】
この光学システムは、ウェル底部の下面53の2次元的な走査を可能にする。亜鉛めっき鉄板鏡36は、焦点合わせされた光の1つの軸に沿った移動を可能にする。マイクロプレート53を保持するためのステージ(図示せず)は、焦点合わせされた光の別の軸に沿った移動を可能にする。ステージの増分的な動きは、マイクロタイタプレートの下面のラスタ線走査をもたらす。マイクロプレートウェルに含まれる薄い目標層の面のラスタ線走査は、制限された深さの場を有する大きい表面領域にわたる蛍光の検出を可能にする。
【0017】
光が一旦ウェル底部の下面53を通ってマイクロプレートウェル55に入ると、光の焦点スポットがどこに向けられているかに依存して、2つの光源から光を回収できる。
【0018】
第1に、ウェル底部の下面53における空気からガラス/プラスチックへの遷移など、材料の遷移があるいくつかの表面からの鏡面反射からレーザ光の一部を回収できる。この光は対物レンズ51および対物リレーレンズ54を通じて反射され、リレー折り畳み鏡56によって方向付けられて亜鉛めっき鉄板リレーレンズ38を通る。反射光は次いで亜鉛めっき鉄板鏡36によって方向付けられてレーザ2色性スプリッタ34に達する。この光は反射光であるため、これは元のレーザ光11と同じ波長であり、レーザ2色性スプリッタ34を通過せずに負のコントラクタレンズ32および正のコントラクタレンズ30を通るよう方向付けられてビームスプリッタ28に達する。ビームスプリッタ28は、この鏡面反射したレーザ光を焦点センサレンズ58を通じて開口50に向けて方向付ける。焦点合わせされたこの反射光は開口50によって止められることなくセンサ52によって検出される。これについては、図3a、3b、3cおよび3dに関連してさらに説明する。
【0019】
第2に、レーザ光はマイクロプレート53のウェル55の内部に焦点合わせされてもよい。ウェル内には蛍光組成物が含まれており、これはレーザ光11の波長の光によって励起される。レーザ光がマイクロプレートウェル55の内部の蛍光組成物に方向付けられるとき、公知の波長の蛍光が生成される。好ましい実施例において、この蛍光組成物はCy5TMおよびCy5.5TMであり、これらはイリノイ州アーリントンハイツのアマシャム・ライフサイエンス社(Amersham Life Sciences, Inc.)から入手可能な蛍光体であって、それぞれ670nmおよび698nmにおいて最大限に蛍光を放射する。この光が放射され、その一部は対物レンズ51に入り、対物リレーレンズ56を通過してリレー折り畳み鏡56に達する。この蛍光放射光は亜鉛めっき鉄板リレーレンズ38を通って亜鉛めっき鉄板鏡36に達し、これは蛍光をレーザ2色性鏡34に方向付ける。レーザ2色性スプリッタ34は、レーザ光の波長の光を反射し、かつ蛍光放射の波長の光を通すように選択される。レーザ2色性スプリッタ34を通過した蛍光は次いでロングパスフィルタ40に入る。ロングパスフィルタは、レーザ2色性スプリッタ34を通過したあらゆるレーザ光を抑制する。好ましい実施例において、ロングパスフィルタ40は645nm以上の波長を通し、それより低い波長の光を抑制する。次いで蛍光は折り畳み鏡42によって方向付けられて空間フィルタレンズ44を通り、空間フィルタレンズは開口46を通じて蛍光を焦点合わせする。この開口は、目的の収集体積の外側に由来する蛍光放射の光線を遮断する。開口46を通過した蛍光は蛍光2色性フィルタ48によって方向付けられ、これは光を2つのチャネルに分ける。680nm以下の光は蛍光2色性フィルタ48によって反射され、蛍光を検出する光電子増倍管62に達する。680nm遮断よりも上の光は蛍光2色性フィルタ48を通過して、光電子増倍管64によって検出される。
【0020】
同種のアッセイは、マイクロプレートウェルの走査の場の深さを、マイクロプレートウェル内に含まれる薄い目標層に制限することを要求する。目標細胞または蛍光ビーズはしばしばマイクロプレートウェルの底部に位置する。これは、ウェルの底部に結合する何らかの組成物への目標体の結合、または重力による沈殿の結果である。溶液中に残った未反応の蛍光組成物は通常、マイクロプレートウェル内の特定の目標層からの蛍光の局在化した検出を妨げる。未反応の蛍光組成物からのバックグラウンド蛍光は、マイクロプレートウェル中の目標層からの蛍光を検出不可能にするおそれがある。マイクロプレートウェル中の目標層の場所を定め、この場所に光のビームを焦点合わせする必要がある。このことによって、目標でないウェルの領域からの照明および蛍光放射が防がれる。必要とされる焦点深度は、マイクロプレートウェルの底面から30から150ミクロンの範囲である。マイクロプレートはこの許容度に対して光学的に平らであるように設計されていないため、目標層に対する公知の関係を有する参照点を自動的に感知する何らかの方法が必要である。
【0021】
光学オートフォーカスの主要な実施例を図3a、3cおよび3dに示す。図3aに、マイクロプレートウェル底部の下面114を検出するために用いられる図1のオートフォーカス部材を示す。マイクロプレートウェルは、マイクロプレートの頂部から下向きに延在する壁によって形成される。ウェルの底部は、透明なガラスまたはプラスチック材料の層によって形成される。ウェル底部の上面は、ウェルの開いた頂端部に面する。このウェル底部の下面は、マイクロプレートの開いた下側から下に面する。目標細胞120は、マイクロプレートウェル中の液体の底部に重力によって沈下した。ウェル底部を含むプラスチックまたはガラスの層は、目標細胞が沈下したウェル底部の上面116と、ウェル底部の下面114とを有する。レーザ光のビーム110はビームスプリッタ124を通るよう方向付けられ、レンズ112によって焦点スポットに焦点合わせされる。この焦点スポットはウェル底部の下面114に方向付けられる。ウェル底部の下面114に方向付けられた光の一部は鏡面反射によってレンズ112に向けて反射される。この光はビームスプリッタ124によって方向付けられ、焦点センサレンズ128を通って、焦点センサ開口132に向かう。焦点センサ開口は焦点合わせされていない光に対する止めとして作用する。この開口の大きさを変えることによって、焦点スポットの大きさを合わせることができる。焦点センサ開口132を通過した光は焦点センサ136によって検出される。この焦点センサはフォトダイオードであっても、または反射光の強度を測定するその他の装置であってもよい。ウェル底部の下面114の場所を定めるために、マイクロタイタプレートはマイクロプレートウェルの長手方向の軸に沿って動かされる。その結果、焦点スポットがこの軸に沿って動かされる。ビームの焦点スポットがウェル底部の下面114にないとき、ウェル底部の下面114からの鏡面反射はより広く散乱される。この散乱光は焦点センサ開口132によって止められるため、検出器136はあまり光を検出しない。反対に、焦点合わせされたビームのくびれ部分がウェル底部の下面114にあるとき、ウェル底部の下面114からの鏡面反射はあまり散乱されない。そのため、より多くの光が焦点センサ開口132を通過し、その光が検出器136によって検出される。図4は、ウェル底部の下面114を、焦点合わせされた光ビームのくびれ部分に対してz軸に沿って動かしたときに検出される光の強度をグラフにしたものである。z軸上の位置5において、ビームの焦点スポットはプレートのウェル底部の下面よりも下にあり、焦点センサ開口を通って焦点合わせされる光はほとんどない。マイクロプレートがz軸に沿って動かされ、ビームの焦点スポットがウェル底部の下面に近づくにつれて、ウェル底部の下面からのより多くの鏡面反射が検出される。z軸上の位置5.4付近において、鏡面反射が最大強度に達する。これは光のビームの焦点スポットがウェル底部の下面114に焦点合わせされたときに起こる。マイクロプレートをz軸に沿って動かすと、ビームの焦点スポットがウェル底部の内部に入るため、鏡面反射の強度は減少する。この方法を用いて、ビームの焦点スポットがウェル底部の下面114に焦点合わせされる、z軸に沿った場所を定めることができる。次いでこの場所を参照点として用いて、光ビームの焦点スポットをマイクロプレートウェル中の目標層に再置する。ウェル底部の下面114とウェル底部の上面116との間の距離は、ウェル底部を含むプラスチックまたはガラス材料の厚みである。この厚みの寸法は、マイクロプレートの製造者より入手可能である。光ビームのくびれ部分をウェル底部の上面116のすぐ上に移動することによって、細胞の目標体120の場所を定めることができる。次いで、この光学システムによって目標層の走査をもたらすことができる。
【0022】
図3aに関して説明したオートフォーカス法においては、焦点合わせされた光ビームの長手軸が、マイクロプレートウェル底部の下面114に対して実質的に垂直であることが要求される。これは、亜鉛めっき鉄板リレー鏡36を中心合わせし、この鏡を静止して保持することによってもたらされる。光はレンズ112によってウェル底部の下面114に対して垂直に焦点合わせされる。
【0023】
図3bに示される代替的な実施例においては、検出器を取換えることによってオートフォーカスシステムの付加的な特徴を可能にする。この実施例において、レーザ光110はビームスプリッタ124を通って亜鉛めっき鉄板リレー鏡142に達する。この実施例において、亜鉛めっき鉄板リレー鏡142は中心合わせされずに、レーザビーム110がウェル底部の下面114に対して非垂直な角度に方向付けられるような固定された位置に動かされて、静止して保持される。したがってレーザ光110がレンズ112を通ってウェル底部の下面114に達するとき、レーザ光の長手軸はウェル底部の下面114に対して垂直ではなく、ウェル底部の下面114に対して非直角に方向付けられる。レーザ光110は鏡面反射によりウェル底部の下面114によって反射され、反射光126が生じる。この光はレンズ112を通り、亜鉛めっき鉄板リレー鏡142によって方向付けられてビームスプリッタ124に達する。反射光126は元のレーザ光110と同じ波長であるため、この光はビームスプリッタ124を通過する代わりに焦点センサレンズ128を通るように方向付けられて位置検知型検出器140に達する。
【0024】
位置検知型検出器(PSD)の一例は、検出器の光学感受性ストリップ上の光スポットの位置に直接比例してアナログ出力を生成するシリコンフォトダイオードである。これによって、検出器上の光の強度および光の位置の同時測定が可能となる。光がフォトダイオードに衝突すると、光電流が生じる。入射光によって生じたこの光電流は入力電流であり、2つの出力電流に分けられる。光学感受性ストリップ上の出力電流の分配は、検出器上の光の位置を示す。出力電流の和は光の強度を示す。
【0025】
光の強度の測定は、図3aに示されるのと同じ態様で用いられる。マイクロプレートの下側の表面の場所を定めるために、ウェル底部の下面114はビームの焦点スポットに対して動かされる。このことによって焦点スポットはウェル底部の下面114の下からウェル底部の下面114に動かされる。このとき、だんだん小さくなる光のスポットによってPSDの感光部材の幅の中により多くの光が衝突するために、PSDによって検出される光の強度が増加する。光強度のピークにおいて、ビームのくびれ部分はウェル底部の下面114に焦点合わせされる。これを参照場所として用いて、ビームのくびれ部分をマイクロプレートウェル内の目標層に再置できる。焦点スポットがウェル底部の下面114の下からこの面に移動し、次いでウェル底部の中に移動すると、反射光の強度はここでも図4に示される曲線と類似の形のガウス曲線を形成する。曲線のピークにおいて反射光の強度は最大となり、これは焦点スポットがウェル底部の下面114にあることを示す。
【0026】
PSD140上の感光ストリップの幅は、PSD140とともに用いられる光学構成を定める。ストリップの幅が非常に狭いとき、焦点センサレンズ128とPSD140との間に開口が置かれてもよい。この開口は焦点合わせされない光に対する止めとして機能し、焦点スポットがウェル底部の下面114に向けて、およびそこから移動されるときにガウス曲線を生成する。反対にPSD上の感光ストリップの幅が広いとき、そのPSD140は焦点センサレンズ128なしで用いられてもよい。ウェル底部の下面114に焦点合わせされるときに鏡面反射が平行にされるため、光の強度が測定される。
【0027】
PSDは光の強度に加えて、PSDの感光長さに沿った光の場所も測定する。光はウェル底部の下面114に対して非直角に向けられるため、光のビームのくびれ部分に対してウェル底部の下面114を動かすことによって、焦点合わせされたビームの中央が下面114に当たる場所が変化する。このことにより、PSDの感光長さに沿って反射光が衝突する場所が変化する。よって、ウェル底部の下面114が焦点スポットに対して動かされると、光はPSDの長さに沿って動く。焦点スポットのウェル底部の下面114上の位置は、PSDの1つの場所に衝突する光に対応する。焦点スポットがウェル底部の下面114の下に移動するとき、光はPSDに沿った一方の方向にこの場所から離れ、焦点スポットがウェル底部の下面114の上に移動するときには、光は他方の方向にこの場所から離れる。
【0028】
マイクロプレートウェル内の目標層に焦点合わせするためにPSDを用いることは、マイクロプレートがz軸に沿って動かされるときに、第1にPSD上の反射光の強度と反射光の位置との両方を測定することを要求する。そのピーク強度は、焦点スポットのウェル底部の下面上の場所に対応する。このことは1つのマイクロプレートウェルに対するz軸に沿った移動の範囲を要求する。一旦1つのマイクロプレートウェルに対してこれらの測定が行なわれると、ピーク光強度に対する測定に対応する、PSDの長さに沿った場所がわかる。一旦この場所がわかると、それが参照測定値となって、マイクロプレート上のその他のウェルに対する決定性オートフォーカスが可能となる。プレート上のその他の各ウェルに対し、z軸に沿った鏡面反射の単一の測定は、PSDの感光長さに沿った場所に対応する。このPSDに沿った場所を、強度ピークであることが知られるPSDに沿った位置と比較できる。これは、ビームのくびれ部分をウェル底部の下面に焦点合わせするために必要な、下面の移動方向および量の両方を示す。
【0029】
関連する測定を行なうために、PSDとともに回路が用いられる。図8の光学位置感知検出回路を参照すると、光はシリコンフォトダイオード160に当たり、これは検出器の光学的に活性な領域上の光のスポットの位置に直接比例するアナログ出力を与える。出力信号は電極161および162において取得される。電極161からの出力は演算増幅器170に供給され、電極162からの出力は演算増幅器170と並列な経路にある演算増幅器172に供給される。この2つの演算増幅器は、クロスカップリングされた並列な対称経路に位置する。演算増幅器170は演算増幅器192の入力にクロスカップリングされ、この演算増幅器192も演算増幅器172からの入力を受取る。演算増幅器190は演算増幅器172にクロスカップリングされ、この演算増幅器172も演算増幅器170からの入力を受取る。この態様で信号は加えられたり減じられたりし、上側のチャネルにおいては演算増幅器190の適切な入力によって、演算増幅器190の出力は減法信号X1−X2であり、一方下側のチャネルにおいては演算増幅器192の出力は加法信号X1+X2である。これら2つの組合された信号はアナログ除算器196に供給され、これは2つの信号の比をX1−X2/X1+X2として取得する。演算増幅器192の出力X1+X2は強度測定値を与える。アナログ除算器196の出力は光の強度に対して標準化された検出器上の入射光の位置を与える。
【0030】
図3cに、マイクロプレートウェル中の目標層の場所を定めるための代替的な光学オートフォーカス法を例示する。この方法において、焦点スポットはウェル底部の上面116に方向付けられる。図3aと同様に、この表面からの鏡面反射が回収されて焦点センサ開口132を通じて焦点合わせされ、焦点センサ136によって検出される。図3aと同様に、焦点スポットはz軸に沿って動かされる。また図3aと同様に、ビームの焦点スポットがウェル底部の上面116に位置するときに鏡面反射の最大強度が起こる。ここでもこの表面を、興味ある目標を含む層の場所に対する参照点として用いることができる。図5は、光のビームの焦点スポットに対してウェル底部を動かしたときにウェル底部の下面およびウェル底部の上面から検出される強度プロファイルを例示するものである。約20.5における大きい方の強度ピークは、ウェル底部の下面からの鏡面反射である。約21.4における小さい方の第2のピークは、ウェル底部の上面からの反射である。この第2のピークは第1のピークよりもかなり小さく、ウェル底部の上面からの鏡面反射がかなり少ないことを示す。これは反射指数がより低いことによるものである。
【0031】
この低い反射指数は、1つの材料から別の材料への異なる遷移によるものである。鏡面反射によって生成される光の量は次の式によって定められる。
【0032】
I=(N−N′)2/(N+N′)2
Nは、光が通過する第1の材料の反射指数である。
【0033】
N′は、光が通過する第2の材料の反射指数である。
この式から、反射指数が離れた材料間の遷移に対する鏡面反射の方が大きくなることが示される。マイクロプレートウェル底部の下面は、反射指数1の空気から反射指数1.47から1.5のプラスチックまたはガラスへの遷移である。これら2つの反射指数の相違が比較的大きいことから、図5に見られる20.5における強度ピークのような鏡面反射が生じる。反対にマイクロプレートウェル底部の上面は、反射指数1.47のプラスチックから反射指数1.33のウェル内に含まれる液体への遷移である。この反射指数の相違が比較的小さいことから、図5に見られる21.4におけるかなり小さい強度ピークが生じる。マイクロプレートによっては、用いられる材料の光学品質が、ウェル底部の上面からの鏡面反射による強度ピークを決定するには不十分なこともある。
【0034】
反射指数を変えて鏡面反射による上面の検出を可能にするために、表面にコーティングを付加してもよい。たとえば、ウェル底部の下面をコーティングで被覆することによって反射を減少させてもよい。この反射防止コーティングは、真空蒸着によってウェル底部の下面に付加される。反射防止コーティングに用いられる組成物の例にはフッ化マグネシウムおよび三フッ化ランタンが含まれる。代替的には、ウェルの上面をコーティングによって被覆することにより反射を増加させてもよい。反射を増加させるための組成物は金属中性コーティングを含み、これは所望の量の反射を与えるために所望の厚みでウェル底部の上面に真空蒸着されてもよい。
【0035】
マイクロプレートウェル中の目標層に光学的に焦点合わせするための別の方法は、マイクロプレートウェル中の薄い層の場所に対する参照点として機能する、マイクロプレートの下側に加えられる光学的に検出可能な特徴を用いる。図6に、これらの特徴を有するマイクロプレート150の底部の一部を示す。光学的に検出可能なウェル154は光学的に検出可能な特徴を有することにより、ウェル底部の上面の正確な位置測定を可能にする。一旦この表面が検出されると、光学的特徴を有さないウェル152の上面を検出するための参照点としてこれが用いられる。
【0036】
図7に、光学的に検出可能なレジストレーション標識の例を示す。図7は、光学的に検出可能であるように物理的に変えられたウェル底部の上面を示す。影を付けた部分は、表面からの反射を減少させるために粗くした表面の領域を示す。影を付けていない領域は、粗くしていない、かなり高い量の鏡面反射を有する領域を示す。焦点スポットをこの光学的に変化させた底面上に焦点合わせし、その表面を横切って走査するとき、その焦点スポットがプレートの底部の粗い領域から底部の粗くない領域に移動する際にはっきりした遷移がある。スポットが焦点合わせされていないとき、その遷移はあまりはっきりしなくなる。
【0037】
この光学的参照標識は、その場所がウェル底部の場所に対して定められた関係を有していれば、ウェル底部の下面に位置しても、ウェル底部の上面に位置しても、またはマイクロプレートの下側の別の場所に位置してもよい。光学的に検出可能な参照は、前述の罫書き標識であっても、また代替的にはバーコードの印であっても、または(前述の中性コーティングなどの)パターン化された反射コーティングであってもよい。
【0038】
図3dに、液面118を検出するために用いられる図1のオートフォーカス部材を示す。一旦ウェルの底部の上面116の場所が定められると、光ビームの焦点スポットをウェルの頂部に向けてz軸に沿って動かしてもよい。焦点スポットが液面に近接するとき、鏡面反射された光を焦点センサ136によって検出できる。他の表面と同様に、焦点スポットを表面118に向けて動かすと反射される光の強度が増加し、焦点スポットが液面118に位置するときに最大点に達する。液面118およびマイクロプレートウェル底部の上面116の場所がわかると、ウェルのジオメトリが知られている場合にはウェル中の液体の体積を算出することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明に従った、オートフォーカス能を有する蛍光分光計の光学部材を示す図である。
【図2】 先行技術の焦点合わせ法の結果を示すグラフ図である。
【図3a】 ウェル底部の下面を検出するために用いられる図1のオートフォーカス光学部材を示す図である。
【図3b】 代替的な検出器を用いる図3aの光学システムを示す図である。
【図3c】 ウェル底部の上面を検出するために用いられる図1のオートフォーカス光学部材を示す図である。
【図3d】 マイクロプレートウェル内の液体の表面を検出するために用いられる図1のオートフォーカス光学部材を示す図である。
【図4】 マイクロプレートウェルの下面を光ビームの焦点スポットに対してウェルの長手軸に沿って動かしたときの、光の鏡面反射のグラフを示す図である。
【図5】 マイクロプレートウェルの底部を光ビームの焦点スポットに対してウェルの長手軸に沿って動かしたときの、反射光の強度の第2のグラフを示す図である。
【図6】 光学的に検出可能なレジストレーション標識を有するマイクロプレートの部分を示す図である。
【図7】 図6のマイクロプレートにおいて用いられる、マイクロプレートウェル底部の光学的に検出可能なレジストレーション標識を示す図である。
【図8】 図3bの位置検知型検出器とともに用いられる回路を示す回路図である。
Claims (16)
- マイクロプレート中に定められたマイクロプレートウェルの目標層に光学的に焦点合わせするための方法であって、前記ウェルはウェルの下に透明な領域を有し、前記方法は
a) 焦点スポットを有するビームからの鏡面反射を用いて、マイクロプレートの下側の特定化した場所における光学参照点を光学的に感知するステップと、
b) ビームの焦点スポットを、前記参照点からウェル中の目標層への固定された距離だけ、マイクロプレートウェルの底部よりも少なくとも部分的に上に移動させるステップと、
c) 異なるマイクロプレートウェルに対応して、複数の場所に対してステップa−bを繰返すステップとを含む、方法。 - ステップaは
i) マイクロプレートウェルのウェル底面にビームを方向付けるステップと、
ii) ビームを焦点合わせすることによってそのビームが下面の近くに焦点スポットを有し、そこから鏡面反射を起こすようにするステップと、
iii) 前記焦点スポットからの前記鏡面反射を回収するステップと、
iv) 前記回収した鏡面反射の強度を検出するステップと、
v) 前記ウェルの長手軸に沿ってマイクロプレートウェルのウェル底面を移動させるステップと、
vi) ステップi−ivを繰返すステップと、
vii) 鏡面反射の最大強度が検出されたウェル底面の場所を定めることによって前記ウェル底面の場所を定めるステップと、
viii) 前記ウェル底面を前記光学参照点として用いるステップとを含む、請求項1に記載の方法。 - ステップaは
i) 光のビームの焦点スポットを第1のマイクロプレートウェルの下側にあるウェル底面上に非直角に方向付けることによって、そのビームがウェル底面の近くに焦点スポットを有し、そこから鏡面反射を起こすようにするステップと、
ii) 位置検知型検出器を用いて、鏡面反射の位置検知型検出器上の感光範囲における光の強度レベルおよび光の位置を検出するステップと、
iii) ステップa−bを繰返しながらウェルの長手軸に沿ってウェル底面を移動させるステップと、
iv) 鏡面反射の最大強度が検出されたウェル底面の場所を定めることによってウェル底面の場所を定めるステップとを含む、請求項1に記載の方法。 - 複数の目標層に焦点合わせするステップをさらに含み、複数の目標層の1つの各々は複数のマイクロプレートウェルの1つに含まれ、このステップは
v) 光が最大強度測定値に達したときに感光範囲に沿って光の位置を定めるステップと、
vi) マイクロプレートウェル内の第1の目標層にビームを再焦点合わせするステップとを含み、前記第1の目標層は前記ウェル底面に対して定められた関係にあり、さらに
vii) 光のビームの焦点スポットを第2のマイクロプレートウェルのウェル底面上に非直角に方向付けることによって、そのビームが下面の近くに焦点スポットを有し、そこから鏡面反射を起こすようにするステップと、
viii) 位置検知型検出器を用いて、第2のマイクロプレートウェルのウェル底面からの鏡面反射の位置検知型検出器上の感光範囲における別の光の強度レベルおよび光の位置を検出するステップと、
ix) 第2のマイクロプレートウェルから測定された感光範囲に沿った光の位置と、最大の光の強度が測定されたときに第1のマイクロプレートウェルから測定された感光範囲に沿った光の位置とを比較するステップと、
x) この比較から第2のマイクロプレートウェルのウェル底面の場所を定めるステップと、
xi) この焦点スポットを、ウェル底面に対して定められた関係にある第2の目標層に再置するステップと、
xii) 複数のマイクロプレートウェルに対してステップvii−xを繰返すステップとを含む、請求項3に記載の方法。 - ステップaは
i) マイクロプレート中に定められたマイクロプレートウェルのウェル底部の上面にビームを方向付けるステップと、
ii) 前記ビームを焦点合わせすることによってそのビームがウェル底部の上面の近くに焦点スポットを有し、そこから鏡面反射を起こすようにするステップと、
iii) 焦点スポットに対してウェルの長手軸に沿ってウェル底部の上面を移動させる際に鏡面反射光の強度を測定するステップと、
iv) 最大の鏡面反射が検出されたときにウェル底部の上面の位置の場所を定めることによってウェル底部の上面の場所を定めるステップと、
v) 前記ウェル底部の上面を前記光学参照点として用いるステップとを含む、請求項1に記載の方法。 - 前記マイクロプレートのウェル底部の下面の反射率を変えることによってウェル底部の下面が減少した反射率を有するようにする最初のステップをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- 前記マイクロプレートのウェル底部の上面の反射率を変えることによって前記ウェル底部の上面が増加した反射率を有するようにする最初のステップをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- 参照点を用いてビームを再焦点合わせすることにより、焦点スポットが部分的にマイクロプレートウェルの底部内にあり、かつマイクロプレートウェルの底面における材料の層を部分的に照らすようにすることによってさらに定められる、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 目標層は30−150ミクロンの範囲の厚みを有する、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記ビームはレーザビームである、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- 前記ビームは少なくとも633nmの波長を有するレーザビームである、請求項1から5のいずれかに記載の方法。
- マイクロプレートウェルのウェル底面に対して定められた関係にある、マイクロプレートウェル内に含まれる薄い目標層を照明するための光学スキャナであって、前記スキャナは
公知の波長のビームを生成するレーザと、
鏡面反射するウェル底面の方向における焦点スポットにビームを焦点合わせするためにビームの経路に位置するレンズと、
前記鏡面反射光の経路に位置する光学検出光学部品とを含み、前記検出光学部品は前記反射光の強度を測定し、さらに
マイクロプレートの前記底面に対して前記ウェルの長手軸に沿って焦点スポットを移動させるための、マイクロプレートを保持するプラットホーム手段と、
前記強度プロファイルのピーク強度を検出することによって下面の場所を識別し、それによって薄い目標層の場所を定めるための手段とを含む、光学スキャナ。 - 光学検出光学部品は
鏡面反射光の経路に位置する位置検知型検出器を含み、前記位置検知型検出器は検出器の光活性領域上の光スポットの位置をモニタすると同時に光の強度をモニタし、さらに
光の強度によって位置データを分離することによって位置データを標準化するための回路を含む、請求項12に記載の光学スキャナ。 - 位置検知型検出器の前の鏡面反射光の経路に位置する開口をさらに含む、請求項13に記載の光学スキャナ。
- 鏡面反射の経路に位置する第2のレンズをさらに含み、前記レンズは鏡面反射光を焦点合わせする、請求項13に記載の光学スキャナ。
- 前記光学検出光学部品は
鏡面反射ビームの経路に位置することによってその強度プロファイルを生じさせるための開口と、
前記開口の末端部に位置する光検出器とを含み、前記検出器は前記反射光の強度を測定する、請求項12に記載の光学スキャナ。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/245,782 US6130745A (en) | 1999-01-07 | 1999-02-05 | Optical autofocus for use with microtiter plates |
US09/245,782 | 1999-02-05 | ||
PCT/US1999/009699 WO2000046590A1 (en) | 1999-02-05 | 1999-05-03 | Optical autofocus for use with microtiter plates |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002541430A JP2002541430A (ja) | 2002-12-03 |
JP2002541430A5 JP2002541430A5 (ja) | 2006-06-01 |
JP4521121B2 true JP4521121B2 (ja) | 2010-08-11 |
Family
ID=22928053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000597622A Expired - Fee Related JP4521121B2 (ja) | 1999-02-05 | 1999-05-03 | マイクロタイタプレートとともに用いるための光学オートフォーカス |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6130745A (ja) |
EP (2) | EP1942333B1 (ja) |
JP (1) | JP4521121B2 (ja) |
DE (2) | DE69941236D1 (ja) |
WO (1) | WO2000046590A1 (ja) |
Families Citing this family (70)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20030030797A1 (en) * | 1999-09-24 | 2003-02-13 | Henry Palladino | Solid state fluorescence and absorption spectroscopy |
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US6979530B2 (en) * | 2001-05-21 | 2005-12-27 | Applera Corporation | Peptide conjugates and fluorescence detection methods for intracellular caspase assay |
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- 1999-02-05 US US09/245,782 patent/US6130745A/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-03 DE DE69941236T patent/DE69941236D1/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-03 WO PCT/US1999/009699 patent/WO2000046590A1/en active Application Filing
- 1999-05-03 EP EP08004221A patent/EP1942333B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-03 DE DE69938512T patent/DE69938512T2/de not_active Expired - Lifetime
- 1999-05-03 JP JP2000597622A patent/JP4521121B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1999-05-03 EP EP99922783A patent/EP1169632B1/en not_active Expired - Lifetime
- 1999-10-29 US US09/430,418 patent/US6441894B1/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1169632A1 (en) | 2002-01-09 |
EP1169632B1 (en) | 2008-04-09 |
EP1942333B1 (en) | 2009-08-05 |
EP1169632A4 (en) | 2007-07-18 |
WO2000046590A1 (en) | 2000-08-10 |
DE69938512D1 (de) | 2008-05-21 |
EP1942333A1 (en) | 2008-07-09 |
DE69941236D1 (de) | 2009-09-17 |
US6130745A (en) | 2000-10-10 |
US6441894B1 (en) | 2002-08-27 |
JP2002541430A (ja) | 2002-12-03 |
DE69938512T2 (de) | 2009-04-30 |
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Legal Events
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RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
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A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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