JP4514432B2 - ホイートストーンブリッジ調整回路 - Google Patents
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Description
12 ピエゾ抵抗ブリッジ
14 集積回路
R1、R2、R3、R4 ピエゾ抵抗器
VHB1、VHB2 電源電圧
RS1、RS2 直列抵抗器
U1、U2、U4、U5 増幅器
Claims (8)
- ホイートストーンブリッジ調整回路であって、
第1および第2ハーフブリッジと集積回路とを備え、該集積回路は、集積回路電源、第1および第2ハーフブリッジに給電する少なくとも1つの電源に接続された第1および第2ハーフブリッジ電源ノード、第1および第2ハーフブリッジ入力ノードおよび少なくとも1つのアースノードを有し、
前記第1ハーフブリッジは、第1ハーフブリッジ電源ノードとアースノードとの間に直列接続された検出対象である刺激に応答する第1および第2刺激応答ブリッジ素子と、前記第1ハーフブリッジ入力ノードに接続されかつ第1刺激応答ブリッジ素子と第2刺激応答ブリッジ素子との間の接合に第1ハーフブリッジ出力とを有し、
前記第2ハーフブリッジは、第2ハーフブリッジの電源ノードとアースノードとの間に直列に接続された検出対象である刺激に応答する第3および第4刺激応答ブリッジ素子と、前記第2ハーフブリッジ入力ノードに接続されかつ第3刺激応答ブリッジ素子と第4刺激応答ブリッジ素子との間の接合に第2ハーフブリッジ出力とを有し、
前記ホイートストーンブリッジ調整回路はさらに、前記第1および第2ハーフブリッジ電源ノードからの電圧の温度依存性に基づきそれぞれ動作される第1および第2オフセットおよび利得補償制御回路と、
第1および第2増幅器であって、第1および第2増幅器の各々は2つの入力と1つの出力を有し、前記第1および第2ハーフブリッジ入力ノードが第1および第2増幅器の一方の入力にそれぞれ接続され、前記第1および第2増幅器の他方の入力に第1および第2ハーフブリッジ電源ノードの電圧にそれぞれ比例した電圧信号が供給された、前記第1および第2増幅器とを有し、
前記第1および第2オフセットおよび利得補償制御回路の出力がそれぞれ前記第1および第2増幅器に接続され、前記第1および第2オフセットおよび利得補償制御回路は、前記電圧の温度依存性に基づき第1および第2増幅器の伝達関数の温度依存を補償するように前記第1および第2増幅器のオフセットおよび利得を制御し、前記第1および第2増幅器は前記入力の差をそれぞれ増幅し、第1および第2増幅器の各々の出力がそれぞれの第1および第2ハーフブリッジの出力電圧に比例した出力信号を有する、ホイートストーンブリッジ調整回路。 - 第1および第2のハーフブリッジ電源ノードが電圧電源である、請求項1記載のホイートストーンブリッジ調整回路。
- 前記集積回路の電源は、固定された電圧の供給源であり、前記第1および第2ハーフブリッジ電源ノードは、それぞれ第1および第2抵抗器を介して前記集積回路の電源に直列に接続されている、請求項1記載のホイートストーンブリッジ調整回路。
- 前記第1および第2オフセットおよび利得補償制御回路は、前記第1および第2ハーフブリッジ電源ノードの電圧によってそれぞれ制御される、請求項1記載のホイートストーンブリッジ調整回路。
- 前記第1、第2、第3、第4刺激応答ブリッジ素子がピエゾ抵抗器である、請求項1記載のホイートストーンブリッジ調整回路。
- ホイートストーンブリッジ調整回路はさらに、第3増幅器および第4増幅器を備え、第3増幅器は、第1および第2入力と1つの出力を有し、第4増幅器は、単一の入力と出力とを有し、
前記第2増幅器の出力が前記第3増幅器の第1入力に接続されると共に、前記第4増幅器の入力にも接続されており、
前記第1増幅器の出力が前記第3増幅器の第2入力に接続されており、前記第3増幅器の出力が第1および第2ハーフブリッジの出力電圧差に比例した信号を発生し、前記第4増幅器の出力が第2ハーフブリッジの出力電圧に比例した信号を発生し、前記第3および第4増幅器の出力信号は、検出対象である刺激に対してオフセットおよび利得が調整された信号である、請求項5記載のホイートストーンブリッジ調整回路。 - ホイートストーンブリッジ調整回路はさらに、第3増幅器および第4増幅器を備え、第3および第4増幅器の各々は単一の入力および出力を有し、
前記第1および第2増幅器の出力が前記第3および第4増幅器の入力にそれぞれ接続されており、第3および第4の増幅器はそれぞれ第1および第2ハーフブリッジの出力電圧に比例した出力信号を発生し、前記第3および第4増幅器の出力信号は、検出対象である刺激に対してオフセットおよび利得が調整された信号である、請求項5記載のホイートストーンブリッジ調整回路。 - ホイートストーンブリッジ調整回路はさらに、第3、第4および第5増幅器を備え、第3、第4および第5増幅器が単一の入力および出力を有し、前記第1増幅器の出力が前記第3増幅器の入力に接続されており、
更に多重化スイッチおよびステートマシンを備え、前記多重化スイッチは、前記第4増幅器の入力に接続された出力と前記ステートマシンの制御により前記第2増幅器の出力と前記第5増幅器の出力間で移動自在な入力とを有し、
前記第5増幅器の入力が温度に依存した第2ハーフブリッジ電源ノードに接続され、前記ホイートストーンブリッジ調整回路への給電後の所定時間の間、前記第4増幅器の出力が温度に依存した電圧に比例した出力信号を発生し、その後、第2ハーフブリッジの出力電圧に比例した連続した出力信号を発生する、請求項5記載のホイートストーンブリッジ調整回路。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US10/277,797 US6765391B2 (en) | 2002-10-22 | 2002-10-22 | Low cost asic architecture for safety critical applications monitoring an applied stimulus |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2004144751A JP2004144751A (ja) | 2004-05-20 |
JP4514432B2 true JP4514432B2 (ja) | 2010-07-28 |
Family
ID=32093358
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003360315A Expired - Fee Related JP4514432B2 (ja) | 2002-10-22 | 2003-10-21 | ホイートストーンブリッジ調整回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6765391B2 (ja) |
EP (1) | EP1416286B1 (ja) |
JP (1) | JP4514432B2 (ja) |
DE (1) | DE60329360D1 (ja) |
Families Citing this family (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7031863B2 (en) * | 2003-12-22 | 2006-04-18 | Texas Instruments Incorporated | Variable condition responsive sense system and method |
JP5156671B2 (ja) * | 2009-02-27 | 2013-03-06 | 株式会社日立製作所 | 磁界検出装置および計測装置 |
DE102009028938A1 (de) * | 2009-08-27 | 2011-03-03 | Endress + Hauser Gmbh + Co. Kg | Feldgerät zur Bestimmung oder Überwachung einer physikalischen oder chemischen Variablen |
JP5669551B2 (ja) * | 2010-12-14 | 2015-02-12 | 大和製衡株式会社 | ロードセルの故障診断装置 |
JP5679837B2 (ja) * | 2011-01-27 | 2015-03-04 | 大和製衡株式会社 | 計量装置 |
JP5679862B2 (ja) * | 2011-02-24 | 2015-03-04 | 大和製衡株式会社 | ホッパ式計量装置 |
WO2014006442A1 (en) | 2012-07-02 | 2014-01-09 | Freescale Semiconductor, Inc. | Integrated circuit device, safety circuit, safety-critical system and method of manufacturing an integrated circuit device |
EP3598148B1 (en) | 2018-07-16 | 2021-03-17 | Melexis Technologies NV | Half-bridge differential sensor |
EP3647737B1 (en) | 2018-11-05 | 2022-08-03 | Melexis Technologies NV | Sensor interface circuit |
DE102018128399A1 (de) * | 2018-11-13 | 2020-05-14 | Thyssenkrupp Ag | Lenksäule für ein Lenksystem eines Kraftfahrzeugs mit einer Steuereinheit für zwei Verstellantriebe |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPS5255568A (en) * | 1975-10-30 | 1977-05-07 | Nippon Denso Co Ltd | Physical quantity detecting apparatus |
JPH02177566A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-10 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 半導体歪み検出装置 |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0592205B1 (en) | 1992-10-07 | 1998-01-07 | Nec Corporation | Semiconductor sensor with fault detecting circuit |
DE4417228A1 (de) | 1994-05-17 | 1995-11-23 | Michael Dr Altwein | Dehnungsmeßstreifen-Meßanordnung, Verwendung derselben und Modulationsverstärker für derartige Meßanordnungen |
US5770802A (en) * | 1997-04-16 | 1998-06-23 | Texas Instruments Incorporated | Sensor with improved capacitive to voltage converter integrated circuit |
DE19852502A1 (de) * | 1998-11-13 | 2000-05-18 | Philips Corp Intellectual Pty | Verfahren zur Offset-Kalibrierung eines magnetoresistiven Winkelsensors |
JP2001091387A (ja) | 1999-09-27 | 2001-04-06 | Matsushita Electric Works Ltd | 圧力センサ温度補償回路 |
US6433554B1 (en) * | 1999-12-20 | 2002-08-13 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for in-range fault detection of condition responsive sensor |
US6549138B2 (en) * | 2000-09-20 | 2003-04-15 | Texas Instruments Incorporated | Method and apparatus for providing detection of excessive negative offset of a sensor |
-
2002
- 2002-10-22 US US10/277,797 patent/US6765391B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2003
- 2003-10-20 EP EP03256596A patent/EP1416286B1/en not_active Expired - Lifetime
- 2003-10-20 DE DE60329360T patent/DE60329360D1/de not_active Expired - Lifetime
- 2003-10-21 JP JP2003360315A patent/JP4514432B2/ja not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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JPH02177566A (ja) * | 1988-12-28 | 1990-07-10 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 半導体歪み検出装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1416286A2 (en) | 2004-05-06 |
US6765391B2 (en) | 2004-07-20 |
DE60329360D1 (de) | 2009-11-05 |
JP2004144751A (ja) | 2004-05-20 |
US20040075447A1 (en) | 2004-04-22 |
EP1416286A3 (en) | 2007-11-14 |
EP1416286B1 (en) | 2009-09-23 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
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A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20060731 |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20060821 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20061117 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20061117 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20071207 |
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A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821 Effective date: 20071207 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080625 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080701 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20080918 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20080924 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20081027 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20081030 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081122 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090414 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090701 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090706 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090727 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090730 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090907 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090910 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20100105 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20100402 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100511 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100511 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4514432 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130521 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130521 Year of fee payment: 3 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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R250 | Receipt of annual fees |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |