JP4502610B2 - 超音波診断装置 - Google Patents

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Description

本発明は、超音波診断装置に関し、さらに詳しくは、TGC(Time Gain Control)機能のためのゲイン調整の操作性を向上できると共に小型化を図ることができる超音波診断装置に関する。
従来の超音波診断装置は、TGC機能のためのゲイン調整用に、異なる深さにそれぞれ対応した複数のスライドボリュームを備えている(例えば、特許文献1,特許文献2および特許文献3参照。)。
特開平6−54849号公報([0025],図5) 特開平7−236637号公報([0023],図1) 特開平8−294486号公報([0025],図3)
スライドボリュームを操作するには、指でレバーを動かす必要があり、操作性が良いとは言えず、特に微調整し難い問題点がある。また、スライドボリュームは、レバーを動かしうる長さより大きな幅を持っており、装置の小型化の障害になる問題点がある。
そこで、本発明の目的は、TGC機能のためのゲイン調整の操作性を向上できると共に小型化を図ることができる超音波診断装置を提供することにある。
第1の観点では、本発明は、異なる深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチを備えた超音波診断装置であって、一つの深さに対応したTGCゲイン調整用スイッチとして、指を左側にひねるようにして押すことが出来る左側プッシュスイッチ部と指を右側にひねるようにして押すことが出来る右側プッシュスイッチ部とを備えた1個のプッシュスイッチを設けると共に、左右のうちの一方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ増加させ、他方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ減少させるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第1の観点による超音波診断装置では、指を左側または右側にひねるようにして押すことで、ゲインを増減することが出来るため、操作性が良くなり、1回に増減させるゲインの1ステップを小さくすれば、微調整も容易になる。また、プッシュスイッチは、スライドボリュームの数分の一の幅であり、装置の小型化を図ることが出来る。
第2の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させることを自動的にリピートすることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第2の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を何回も押さなくても、押し続けるだけで、連続的にゲインを変更できる。
第3の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、リピートの時間間隔を短くすることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第3の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を長く押し続けると、ゲインの増減速度を加速することが出来る。
第4の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、1回のリピートでゲインを数ステップ増加または減少させることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第4の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を長く押し続けると、ゲインの増減速度を加速することが出来る。
第5の観点では、本発明は、異なる深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチを備えた超音波診断装置であって、一つの深さに対応したTGCゲイン調整用スイッチとして、指を左側にひねるようにして押すことが出来る左側プッシュスイッチ部と指を右側にひねるようにして押すことが出来る右側プッシュスイッチ部と指をひねらずに押すことが出来る中央プッシュスイッチ部とを備えた1個のプッシュスイッチを設けると共に、左右のうちの一方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ増加させ、他方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ減少させるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第5の観点による超音波診断装置では、指を左側または右側にひねるようにして押すことで、ゲインを増減することが出来るため、操作性が良くなり、1回に増減させるゲインの1ステップを小さくすれば、微調整も容易になる。また、プッシュスイッチは、スライドボリュームの数分の一の幅であり、装置の小型化を図ることが出来る。
第6の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させることを自動的にリピートすることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第6の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を何回も押さなくても、押し続けるだけで、連続的にゲインを変更できる。
第7の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、リピートの時間間隔を短くすることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第7の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を長く押し続けると、ゲインの増減速度を加速することが出来る。
第8の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、1回のリピートでゲインを数ステップ増加または減少させることを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第8の観点による超音波診断装置では、左側または右側プッシュスイッチ部を長く押し続けると、ゲインの増減速度を加速することが出来る。
第9の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定するTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第9の観点による超音波診断装置では、中央プッシュスイッチ部が1回押されると、当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。これにより、増減させる操作性を平均的に少なくすることが出来る。
なお、「左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されないこと」を条件としたのは、左側または右側プッシュスイッチ部を交互に押して調整しているときに中央プッシュスイッチ部が押されてもそれを無効にするためである。
第10の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
一般に、浅い所から深い所に向けて順に、あるいは、深い所から浅い所に向けて順に、各深さのゲイン調整を行うことが多く、また、ある深さのゲインは、1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインと同じか少しだけ異なるようにすることが多い。
そこで、上記第10の観点による超音波診断装置では、中央プッシュスイッチ部が1回押されると、当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせることとした。これにより、操作性を向上することが出来る。
なお、「左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されないこと」を条件としたのは、左側または右側プッシュスイッチ部を交互に押して調整しているときに中央プッシュスイッチ部が押されてもそれを無効にするためである。
第11の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定するTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
上記第11の観点による超音波診断装置では、中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると、当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。これにより、増減させる操作性を平均的に少なくすることが出来る。
なお、「短時間内に2回押されること」を条件としたのは、左側または右側プッシュスイッチ部を交互に押して調整しているときに中央プッシュスイッチ部が押されてもそれを無効にするためである。
第12の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置を提供する。
一般に、浅い所から深い所に向けて順に、あるいは、深い所から浅い所に向けて順に、各深さのゲイン調整を行うことが多く、また、ある深さのゲインは、1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインと同じか少しだけ異なるようにすることが多い。
そこで、上記第12の観点による超音波診断装置では、中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると、当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせることとした。これにより、操作性を向上することが出来る。
なお、「短時間内に2回押されること」を条件としたのは、左側または右側プッシュスイッチ部を交互に押して調整しているときに中央プッシュスイッチ部が押されてもそれを無効にするためである。
第13の観点では、本発明は、上記構成の超音波診断装置において、各深さとゲインの関係を表すTGCカーブを表示するTGCカーブ表示部を具備することを特徴とする超音波診断装置を提供する。
従来のスライドボリュームの場合、レバーの位置を見ることで大体のゲインの大きさが判ったが、プッシュスイッチの場合はプッシュスイッチを見ても全く判らない。
そこで、上記第13の観点による超音波診断装置では、TGCカーブを表示するようにした。このTGCカーブを見ることで、ゲインの大きさが判るようになる。
本発明の超音波診断装置によれば、TGC機能のためのゲイン調整の操作性を向上できると共に小型化を図ることが出来る。
以下、図に示す実施例により本発明をさらに詳しく説明する。なお、これにより本発明が限定されるものではない。
図1は、実施例1に係る超音波診断装置100を示す構成図である。
この超音波診断装置100は、超音波探触子1と、超音波探触子1を駆動して超音波を送信しエコーを受信し音線信号を出力する送受信部2と、音線信号を信号処理して超音波画像データを生成する信号処理部3と、超音波画像の表示を制御するDSC(Digital Scan Coverter)4と、超音波画像を表示する表示部5と、操作者が指示等を入力するための操作部6と、超音波診断装置100の動作を制御する制御部7とを具備している。
操作部6は、操作部6の動作を制御するCPU61と、指示を入力するためのキーボード62と、異なる深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチ11〜15とを含んでいる。
制御部7は、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15の操作に応じて各深さのゲインを増加/減少させるTGCゲイン調整部71と、各深さとゲインの関係を表すTGCカーブを表示するためのTGCカーブ表示制御部72を含んでいる。
図2は、操作部6の操作状態例を示す斜視図である。
操作部6は、その筐体に、キーボード62と、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15とを実装している。操作者は、TGCゲインを調整するために、その手Hの指先を、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15のいずれかの中央付近に当てておく。
図3は、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15を示す部分拡大図である。
TGCゲイン調整用スイッチ11は、左側プッシュスイッチ部11Lと右側プッシュスイッチ部11Rとを備えた1個のプッシュスイッチである。操作者は、指をTGCゲイン調整用スイッチ11の中央に当て、指を左側にひねるようにして左側プッシュスイッチ部11Lを押すことが出来る。また、指をTGCゲイン調整用スイッチ11の中央に当て、指を右側にひねるようにして右側プッシュスイッチ部11Rを押すことが出来る。
TGCゲイン調整用スイッチ12〜15も、TGCゲイン調整用スイッチ11と同様である。
なお、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15は、この順に対応する深さが深くなっている。
図4は、CPU61とTGCゲイン調整用スイッチ11〜15を示す回路図である。
CPU61は、入力ポートI1〜I10で、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15の左側プッシュスイッチ部11L〜15Lおよび右側プッシュスイッチ部11R〜15Rを監視しており、監視結果を制御部7のTGCゲイン調整部71へ通知する。
制御部7のTGCゲイン調整部71は、一つのTGCゲイン調整用スイッチの左側プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1ステップ増加させる。また、右側プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1ステップ減少させる。
また、TGCゲイン調整部71は、左側または右側プッシュスイッチ部が例えば1秒以上押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させることを例えば0.5秒毎に自動的にリピートする。さらに、左側または右側プッシュスイッチ部が例えば5秒以上押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させるリピートの時間間隔を例えば0.1秒に短くするか、1回のリピートでゲインを例えば5ステップ増加または減少させる。
図5に示すように、TGCカーブ表示制御部72は、TGCカーブKを表示部5に表示する。
操作者は、TGCカーブKを見ながら、所望の深さに対応するTGCゲイン調整用スイッチの中央に指を当て、指を左右にひねるようにしてゲインを増減し、例えば図6に示すような所望のTGCカーブKを設定することが出来る。
実施例1の超音波診断装置100によれば、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチの中央に指を当てて指を左右にひねるようにしてゲインを調整することが出来る。このため、従来の超音波診断装置において用いられているスライドボリュームのレバーをスライドさせるよりも、操作性が向上する。
また、TGCゲイン調整用スイッチ11〜15に用いているプッシュスイッチは、従来の超音波診断装置において用いられているスライドボリュームよりも小型であるため、超音波診断装置100を小型化することが可能になる。
図7は、実施例2に係る超音波診断装置200を示す構成図である。
この超音波診断装置200は、超音波探触子1と、超音波探触子1を駆動して超音波を送信しエコーを受信し音線信号を出力する送受信部2と、音線信号を信号処理して超音波画像データを生成する信号処理部3と、超音波画像の表示を制御するDSC4と、超音波画像を表示する表示部5と、操作者が指示等を入力するための操作部6と、超音波診断装置200の動作を制御する制御部7とを具備している。
操作部6は、操作部6の動作を制御するCPU61と、指示を入力するためのキーボード62と、異なる深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチ21〜25とを含んでいる。
制御部7は、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25の操作に応じて各深さのゲインを増加/減少させるTGCゲイン調整部71と、各深さとゲインの関係を表すTGCカーブを表示するためのTGCカーブ表示制御部72を含んでいる。
図8は、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25を示す部分拡大図である。
TGCゲイン調整用スイッチ21は、左側プッシュスイッチ部11Lと右側プッシュスイッチ部11Rと中央プッシュスイッチ部11Cとを備えた1個のプッシュスイッチである。操作者は、指をTGCゲイン調整用スイッチ11の中央に軽く当て、指を左側にひねるようにして左側プッシュスイッチ部11Lを押すことが出来る。また、指をTGCゲイン調整用スイッチ11の中央に軽く当て、指を右側にひねるようにして右側プッシュスイッチ部11Rを押すことが出来る。また、指でTGCゲイン調整用スイッチ11の中央を押すことで中央プッシュスイッチ部11Cを押すことが出来る。
TGCゲイン調整用スイッチ22〜25も、TGCゲイン調整用スイッチ21と同様である。
なお、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25は、この順に対応する深さが深くなっている。
図9は、CPU61とTGCゲイン調整用スイッチ21〜25を示す回路図である。
CPU61は、入力ポートI1〜I5でTGCゲイン調整用スイッチ21〜25を監視しながら、出力ポートO1,O2,O3について循環的に一つをハイレベルにする。出力ポートO1,O2,O3をハイレベルにするタイミングと入力ポートI1〜I5の監視結果により、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25の左側プッシュスイッチ部21L〜25L,右側プッシュスイッチ部21R〜25R,中央プッシュスイッチ部21C〜25Cのいずれが押されたかを判定し、判定結果を制御部7のTGCゲイン調整部71へ通知する。
制御部7のTGCゲイン調整部71は、一つのTGCゲイン調整用スイッチの左側プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1ステップ増加させる。また、右側プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1ステップ減少させる。
また、TGCゲイン調整部71は、左側または右側プッシュスイッチ部が例えば1秒以上押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させることを例えば0.5秒毎に自動的にリピートする。さらに、左側または右側プッシュスイッチ部が例えば5秒以上押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させるリピートの時間間隔を例えば0.1秒に短くするか、1回のリピートでゲインを例えば5ステップ増加または減少させる。
また、TGCゲイン調整部71は、TGCゲイン調整用スイッチ21の左側プッシュスイッチ部21L及び右側プッシュスイッチ部21Rが例えば2秒間以上押されず且つ中央プッシュスイッチ部21Cが1回押されると、対応する深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。さらに、TGCゲイン調整用スイッチ22〜25の左側及び右側プッシュスイッチ部が例えば2秒間以上押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1段浅い深さのゲインに合わせる。
なお、左側プッシュスイッチ部または右側プッシュスイッチ部の一方を押している状態から他方を押す状態へ移る途中に中央プッシュスイッチ部を押してしまっても、左側プッシュスイッチ部または右側プッシュスイッチ部の一方を押している状態から2秒未満で中央プッシュスイッチ部を押したことになるから、中央プッシュスイッチ部を押したことは無効になり、支障を生じない。
図10に示すように、TGCカーブ表示制御部72は、TGCカーブKを表示部5に表示する。
操作者は、TGCカーブKを見ながら、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25を操作して、所望のTGCカーブKに設定する。
例えば、次のような操作により、図10に示すTGCカーブKから図19に示すTGCカーブKに設定し直すことが出来る。
(1)操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ21の左側プッシュスイッチ部21L及び右側プッシュスイッチ部21Rを例えば2秒間以上押さずに中央プッシュスイッチ部21Cを1回押す。これにより、図11に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ21に対応する深さのゲインg1が、ゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定される。次いで、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ21の左側プッシュスイッチ部21Lまたは右側プッシュスイッチ部21Rを押し、TGCゲイン調整用スイッチ21に対応する深さのゲインg1を所望の大きさに設定する。
(2)操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ22の左側プッシュスイッチ部22L及び右側プッシュスイッチ部22Rを例えば2秒間以上押さずに中央プッシュスイッチ部22Cを1回押す。これにより、図12に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ22に対応する深さのゲインg2が、1段浅い深さのゲインg1に合わされる。次いで、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ22の左側プッシュスイッチ部22Lまたは右側プッシュスイッチ部22Rを押し、図13に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ22に対応する深さのゲインg2を所望の大きさに設定する。
(3)操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ23の左側プッシュスイッチ部23L及び右側プッシュスイッチ部23Rを例えば2秒間以上押さずに中央プッシュスイッチ部23Cを1回押す。これにより、図14に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ23に対応する深さのゲインg3が、1段浅い深さのゲインg2に合わされる。次いで、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ23の左側プッシュスイッチ部23Lまたは右側プッシュスイッチ部23Rを押し、図15に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ23に対応する深さのゲインg3を所望の大きさに設定する。
(4)操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ24の左側プッシュスイッチ部24L及び右側プッシュスイッチ部24Rを例えば2秒間以上押さずに中央プッシュスイッチ部24Cを1回押す。これにより、図16に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ24に対応する深さのゲインg4が、1段浅い深さのゲインg3に合わされる。次いで、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ24の左側プッシュスイッチ部24Lまたは右側プッシュスイッチ部24Rを押し、図17に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ24に対応する深さのゲインg4を所望の大きさに設定する。
(5)操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ25の左側プッシュスイッチ部25L及び右側プッシュスイッチ部25Rを例えば2秒間以上押さずに中央プッシュスイッチ部25Cを1回押す。これにより、図18に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ25に対応する深さのゲインg5が、1段浅い深さのゲインg4に合わされる。次いで、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチ25の左側プッシュスイッチ部25Lまたは右側プッシュスイッチ部25Rを押し、図19に示すように、TGCゲイン調整用スイッチ25に対応する深さのゲインg5を所望の大きさに設定する。
実施例2の超音波診断装置200によれば、操作者は、TGCゲイン調整用スイッチの中央に指を当てて指を左右にひねるようにしてゲインを調整することが出来る。このため、従来の超音波診断装置において用いられているスライドボリュームのレバーをスライドさせるよりも、操作性が向上する。
また、TGCゲイン調整用スイッチ21〜25に用いているプッシュスイッチは、従来の超音波診断装置において用いられているスライドボリュームよりも小型であるため、超音波診断装置200を小型化することが可能になる。
実施例3の超音波診断装置では、TGCゲイン調整部71は、最も深い深さに対応するTGCゲイン調整用スイッチ25の左側プッシュスイッチ部25L及び右側プッシュスイッチ部25Rが例えば2秒間以上押されず且つ中央プッシュスイッチ部25Cが1回押されると、対応する深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。さらに、TGCゲイン調整用スイッチ21〜24の左側及び右側プッシュスイッチ部が例えば2秒間以上押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると、対応する深さのゲインを1段深い深さのゲインに合わせる。
その他の構成は、実施例2と同じである。
実施例3の超音波診断装置は、最も深い深さから浅い深さへ順にTGCゲインを設定する場合に好適である。
実施例4の超音波診断装置では、TGCゲイン調整部71は、TGCゲイン調整用スイッチ21の中央プッシュスイッチ部21Cが例えば1秒以内に2回押されると、対応する深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。さらに、TGCゲイン調整用スイッチ22〜25の中央プッシュスイッチ部が例えば1秒以内に2回押されると、対応する深さのゲインを1段浅い深さのゲインに合わせる。
なお、左側プッシュスイッチ部または右側プッシュスイッチ部の一方を押している状態から他方を押す状態へ移る途中に中央プッシュスイッチ部を押してしまっても、1回だけ中央プッシュスイッチ部を押したことになるから、中央プッシュスイッチ部を押したことは無効になり、支障を生じない。
その他の構成は、実施例2と同じである。
実施例5の超音波診断装置では、TGCゲイン調整部71は、TGCゲイン調整用スイッチ25の中央プッシュスイッチ部25Cが例えば1秒以内に2回押されると、対応する深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定する。さらに、TGCゲイン調整用スイッチ21〜24の中央プッシュスイッチ部が例えば1秒以内に2回押されると、対応する深さのゲインを1段深い深さのゲインに合わせる。
なお、左側プッシュスイッチ部または右側プッシュスイッチ部の一方を押している状態から他方を押す状態へ移る途中に中央プッシュスイッチ部を押してしまっても、1回だけ中央プッシュスイッチ部を押したことになるから、中央プッシュスイッチ部を押したことは無効になり、支障を生じない。
その他の構成は、実施例3と同じである。
本発明により、超音波診断装置の操作性を向上すると共に、小型化を図ることが出来る。
実施例1に係る超音波診断装置の構成図である。 操作部の操作状態例を示す斜視図である。 実施例1に係る超音波診断装置のTGCゲイン調整スイッチを示す部分拡大図である。 実施例1に係る超音波診断装置のTGCゲイン調整スイッチを示す回路図である。 実施例1に係る超音波診断装置のTGCカーブ表示を示す例示図である。 実施例1に係る超音波診断装置の別のTGCカーブ表示を示す例示図である。 実施例2に係る超音波診断装置の構成図である。 実施例2に係る超音波診断装置のTGCゲイン調整スイッチを示す部分拡大図である。 実施例2に係る超音波診断装置のTGCゲイン調整スイッチを示す回路図である。 実施例2に係る超音波診断装置のTGCカーブ表示を示す例示図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第1の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第2の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第3の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第4の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第5の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第6の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第7の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第8の説明図である。 実施例2に係る超音波診断装置におけるTGCゲイン調整過程を示す第9の説明図である。
符号の説明
1 超音波探触子
2 送受信部
3 信号処理部
4 DSC
5 表示部
6 操作部
7 制御部
11〜15 TGCゲイン調整スイッチ
11L〜15L 左側プッシュスイッチ
11R〜15R 右側プッシュスイッチ
21〜25 TGCゲイン調整スイッチ
21L〜25L 左側プッシュスイッチ
21R〜25R 右側プッシュスイッチ
21C〜25C 中央プッシュスイッチ

Claims (8)

  1. 深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチを備えた超音波診断装置であって、
    一つの深さに対応したTGCゲイン調整用スイッチとして、指を左側にひねるようにして押すことが出来る左側プッシュスイッチ部と指を右側にひねるようにして押すことが出来る右側プッシュスイッチ部と指をひねらずに押すことが出来る中央プッシュスイッチ部とを備えた1個のプッシュスイッチを設けると共に、左右のうちの一方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ増加させ、他方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ減少させるTGCゲイン調整部を設け、
    左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置。
  2. 深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチを備えた超音波診断装置であって、
    一つの深さに対応したTGCゲイン調整用スイッチとして、指を左側にひねるようにして押すことが出来る左側プッシュスイッチ部と指を右側にひねるようにして押すことが出来る右側プッシュスイッチ部と指をひねらずに押すことが出来る中央プッシュスイッチ部とを備えた1個のプッシュスイッチを設けると共に、左右のうちの一方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ増加させ、他方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ減少させるTGCゲイン調整部を設け、
    中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定するTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置。
  3. 深さにそれぞれ対応したTGCゲイン調整用スイッチを備えた超音波診断装置であって、
    一つの深さに対応したTGCゲイン調整用スイッチとして、指を左側にひねるようにして押すことが出来る左側プッシュスイッチ部と指を右側にひねるようにして押すことが出来る右側プッシュスイッチ部と指をひねらずに押すことが出来る中央プッシュスイッチ部とを備えた1個のプッシュスイッチを設けると共に、左右のうちの一方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ増加させ、他方側プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインを1ステップ減少させるTGCゲイン調整部を設け、
    中央プッシュスイッチ部が短時間内に2回押されると当該深さのゲインを1段浅い深さのゲインまたは1段深い深さのゲインに合わせるTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置。
  4. 請求項1から請求項3のいずれかに記載の超音波診断装置において、
    前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続けると、ゲインを1ステップ増加または減少させることを自動的にリピートすることを特徴とする超音波診断装置。
  5. 請求項4に記載の超音波診断装置において、
    前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、リピートの時間間隔を短くすることを特徴とする超音波診断装置。
  6. 請求項4または請求項5に記載の超音波診断装置において、
    前記TGCゲイン調整部は、左側または右側プッシュスイッチ部が押され続ける時間が長くなると、1回のリピートでゲインを数ステップ増加または減少させることを特徴とする超音波診断装置。
  7. 請求項1から請求項6のいずれかに記載の超音波診断装置において、
    左側及び右側プッシュスイッチ部が一定時間押されず且つ中央プッシュスイッチ部が1回押されると当該深さのゲインをゲイン調整可能範囲の中心のゲインに設定するTGCゲイン調整部を設けたことを特徴とする超音波診断装置。
  8. 請求項1から請求項7のいずれかに記載の超音波診断装置において、
    各深さと設定されたゲインの関係を示すTGCカーブを表示するTGCカーブ表示部を具備することを特徴とする超音波診断装置。
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