JP4494931B2 - 誘電体磁器組成物及びこれを用いた電子部品 - Google Patents
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Description
従来、上記のような用途で使用される誘電体材料として、下記特許文献1に開示されたεrが20〜30程度であるBaO−ZnO−Ta2O5系材料(BaZnTa系)、及び、下記特許文献2に開示されたεrが60〜80程度であるBaO−RE2O3−TiO2(RE:希土類元素)系材料(BaRETi系)が知られており、高周波用の共振器やフィルタの材料として実用化されている。また、εrがこれらの中間的な値を示す材料として下記特許文献3及び4に開示されたCaO−TiO2−Al2O3−Nb2O5系材料(CaTiAlNb系)が知られている。更に、本発明者らによる下記特許文献5が知られている。
(1)Ca及びSrの少なくとも一方と、Tiと、Alと、Nb及びTaの少なくとも一方と、Oとの各元素を含有し、
これらの元素について、組成式[aM1O−bTiO2−(1/2)cAl2O3−(1/2)dM2 2O5](但し、M1はCa及び/又はSrであり、M2はNb及び/又はTaであり、a、b、c及びdは各々モル比を表わし、且つ、a+b+c+d=1である)と表した場合に下記条件を満たすことを特徴とする誘電体磁器組成物。
0.4706≦a≦0.4957
0.1111≦b≦0.1923
0.1471≦c≦0.1667
0.1645≦d≦0.2647
(3)本誘電体磁器組成物に含有される金属元素を酸化物換算した全モル量を100モル%とした場合に、希土類元素REをRE2O3換算で0.1〜10モル%含有する上記(1)又は(2)のうちのいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
(4)上記希土類元素REは、La、Nd、Sm、Y及びYbのうちの少なくとも1種である上記(3)に記載の誘電体磁器組成物。
(5)上記組成式中のTiの全量を100モル%とした場合に、Tiの30モル%未満がZr及び/又はSnに置換された上記(1)乃至(4)のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
(6)上記組成式中のAlの全量を100モル%とした場合に、Alの30モル%未満がGaに置換された上記(1)乃至(5)のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
(7)上記組成式中のM2の全量を100モル%とした場合に、M2の30モル%未満がSbに置換された上記(1)乃至(6)のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
(8)上記(1)乃至(7)のうちのいずれかに記載の誘電体磁器組成物からなる誘電体部を備えることを特徴とする電子部品。
MnをMnO2換算で5モル%以下含有する場合は、誘電特性にほとんど影響なく焼成時の酸素が供給されて、安定して目的とする誘電特性が得られる。
REをRE2O3換算で10モル%以下含有する場合は、各誘電特性のコントロールの自由度をより広くできる。
REがLa、Nd、Sm、Y及びYbのうちの少なくとも1種である場合は、特にεrを保持しつつ、Quを向上させることができる。
Tiの30モル%未満がZr及び/又はSnに置換された場合は、非置換時における各誘電特性値の近傍で各誘電特性をコントロールすることができる。
Alの30モル%未満がGaに置換された場合は、各誘電特性を非置換時における各誘電特性値の近傍でコントロールすることができる。
M2の30モル%未満がSbに置換された場合は、特に焼結性が向上され、安定して目的とする誘電特性が得られる。
本発明の電子部品によると、30〜50程度のεrを発現でき、且つ、Qu×f0において10000GHz以上と大きなQuを発現できる。このため、バランスのよい誘電特性を発揮できる各種電子部品を得ることができる。
[1]誘電体磁器組成物
本発明の誘電体磁器組成物は、Ca及びSrの少なくとも一方と、Tiと、Alと、Nb及びTaの少なくとも一方と、Oとの各元素を含有し、
これらの元素について、組成式[aM1O−bTiO2−(1/2)cAl2O3−(1/2)dM2 2O5](但し、M1はCa及び/又はSrであり、M2はNb及び/又はTaであり、a、b、c及びdは各々モル比を表わし、且つ、a+b+c+d=1である)により表すことができる(尚、以下、この組成式を組成式[1]ともいう)。この組成式[1]において、第1誘電体磁器組成物は0.4706≦a≦0.4957、0.1111≦b≦0.1923、0.1471≦c≦0.1667、0.1645≦d≦0.2647であることを特徴とする。
即ち、M1は「Caのみ」、「Ca及びSrの両方」、「Srのみ」のいずれであってもよい。CaとSrとは任意の割合で置換することができ、上記xの範囲は特に限定されないが、例えば、0.0001≦x≦0.5とすることができ、更に0.0001≦x≦0.3とすることができ、特に0.0001≦x≦0.1とすることができる。
この組成式[1]中のTiは、その一部がZr及び/又はSnに置換されていてもよい。Zr及び/又はSnに置換されている場合、組成式[1]中のTiの全量を100モル%とした場合に、Tiの30モル%未満(0.01〜10モル%がより好ましく、0.01〜5モル%が特に好ましい)がZr及び/又はSnに置換されていてもよい。即ち、Tiの一部がZr及び/又はSnに置換されている場合、本誘電体磁器組成物に含有されるTi、Zr及びSnの合計量を100モル%とすると、通常、Zr及びSnの合計(但し、Zr又はSnのいずれかが0モル%であってもよい)は30モル%未満(0.01〜10モル%がより好ましく、0.01〜5モル%が特に好ましい)である。
但し、上記各組成式では、β=0である場合は0<α<0.3(0.0001≦α≦0.1が好ましく、0.0001≦α≦0.05がより好ましい)である。また、α=0である場合は0<β<0.3(0.0001≦β≦0.1が好ましく、0.0001≦β≦0.05がより好ましい)である。更に、α≠0且つβ≠0である場合は0<α+β<0.3(0.0001≦α+β≦0.1が好ましく、0.0001≦α+β≦0.05がより好ましい)である。
この組成式[1]中のAlは、その一部がGaに置換されていてもよい。Gaに置換されている場合、組成式[1]中のAlの全量を100モル%とした場合に、Alの30モル%未満(0.01〜10モル%がより好ましく、0.01〜5モル%が特に好ましい)がSrに置換されていてもよい。即ち、通常、Alの一部がGaに置換されている場合、本誘電体磁器組成物に含有されるAl及びGaの合計量を100モル%とした場合に、Gaは30モル%未満(0.01〜10モル%がより好ましく、0.01〜5モル%が特に好ましい)である。
AlがGaに置換されている場合、組成式[1]は[aM1O−bTiO2−(1/2)c(Al1−γGaγ)2O3−(1/2)dM2 2O5]と表される。但し、0<γ<0.3(0.0001≦γ≦0.1がより好ましく、0.0001≦γ≦0.05がより好ましい)である。上記範囲では、各誘電特性を非置換時における各誘電特性値の近傍でコントロールすることができる。
即ち、M2は「Nbのみ」、「Nb及びTaの両方」、「Taのみ」のいずれであってもよい。これらのなかでは「Nbのみ」又は「Nb及びTaの両方」であることが好ましい。これらの場合は、特にεrを保持しつつ、Quを大きくできる。M2が「Nb及びTaの両方」である場合、上記yの範囲は特に限定されないが、0.0001≦y≦0.5とすることができ、更に0.0001≦y≦0.3とすることができ、特に0.0005≦y≦0.2とすることができる。この範囲であれば、εrへの影響を抑えつつ、Quを大きくできる。
この組成式[1]中のM2は、その一部がSbにより置換されていてもよい。Sbに置換されている場合、組成式[1]中のM2の全量を100モル%とした場合に、M2の30モル%未満(0.01〜10モル%がより好ましく、0.01〜5モル%が特に好ましい)がSbに置換されていてもよい。即ち、Sbによる置換の場合、本誘電体磁器組成物に含有されるNb、Ta及びSbの合計量を100モル%とした場合に、通常、Sbは30モル%未満(0.01〜20モル%が好ましく、0.01〜10モル%がより好ましい)である。M2の一部がSbに置換されている場合、組成式[1]は[aM1O−bTiO2−(1/2)cAl2O3−(1/2)d(M2 1−zSbz)2O5]と表される。但し、zは0<z<0.3(0.0001≦z≦0.2が好ましく、0.0001≦z≦0.1がより好ましい)である。
尚、上記酸化物換算を行う場合、上記の各元素は各々、MnO2、V2O5、Cr2O3、Fe2O3、CoO、NiO、CuO、ZnO、ZrO2、MoO3、HfO2、WO3、B2O3、SiO2、Ga2O3、In2O3、SnO2、Sb2O3、PbO2及びBi2O3として換算するものとする。
本誘電体磁器組成物の製造方法は特に限定されないが、例えば、M1、Al、Ti及びM2のモル比が上記組成式[1]における各元素のモル比となるように、M1、Al、Ti及びM2の各々が含有された原料組成物を熱処理して得ることができる。
また、M1、Al、Ti及びM2と各々置換可能な前記元素を含有する誘電体磁器組成物を得る場合には、M1、Al、Ti、M2及び各置換可能な前記元素のモル比が上記組成式[1]における各元素のモル比となるように、M1、Al、Ti、M2及び各置換可能な前記元素の各々が含有された原料組成物を熱処理して得ることができる。
更に、上記組成式[1]外にMn及びRE等を含む副成分を含有する誘電体磁器組成物を得る場合は、M1、Al、Ti及びM2のモル比が上記組成式[1]における各元素のモル比となるように、且つ、副成分を構成する各元素が前記範囲を満たすように、各々が含有された原料組成物を熱処理して得ることができる。
上記各元素を各々個別に含む原料とは、例えば、Ca化合物、Sr化合物、Al化合物、Ti化合物、Nb化合物、Ta化合物、Zr化合物、Sn化合物、Y化合物、Yb化合物、Sb化合物、及びその他のRE化合物等が挙げられる。更に、これらの各化合物は、通常、各元素の酸化物又は熱処理されて酸化物となる化合物とすることができる。このうち熱処理されて酸化物となる化合物の種類は特に限定されず、例えば、炭酸塩、水酸化物、炭酸水素塩、硝酸塩及び有機金属化合物等が挙げられる。これらの酸化物及び熱処理されて酸化物となる化合物は1種のみを用いてもよく、2種以上を併用してもよい。また、各原料の形態も特に限定されず、粉末又は液状物等を用いることができる。更に、上記複数の元素を含む複酸化物としては、CaTiO3、SrTiO3、(Ca0.5Sr0.5)TiO3、Ca(Al0.5Nb0.5)TiO3、Ca(Al0.5Ta0.5)TiO3等が挙げられる。これらの複酸化物は、1種のみを用いてもよく、2種以上を併用してもよい。更に、前記各原料と併用してもよく、併用してなくてもよい。
焼成工程(上記2段の場合は第2熱処理工程)は、焼成されて誘電体磁器組成物となる、原料組成物(上記2段の場合は仮焼成分)を含む成形体を焼成する工程である。焼成工程における焼成温度は特に限定されないが、例えば、1100〜1700℃(より好ましくは1300〜1600℃)とすることができる。この温度範囲であれば、成形体を十分に焼結できると共に緻密化することができる。また、焼成時間は特に限定されないが、1時間以上(通常100時間以下)とすることができる。
更に、焼成雰囲気は特に限定されず、酸化性雰囲気であっても、非酸化性雰囲気であってもよい。酸化性雰囲気としては、大気雰囲気が挙げられる。また、非酸化性雰囲気とは、酸素分圧が小さい雰囲気であり、通常、酸素分圧が10Pa以下(好ましくは0.1Pa以下、通常0.0001Pa以上)に保持されている雰囲気である。非酸化性雰囲気を構成する気体は特に限定されないが、例えば、窒素及びアルゴン等の希ガスなどの不活性ガスが挙げられる。また、焼成雰囲気は、湿潤雰囲気であってもよく、非湿潤雰囲気であってもよい。湿潤雰囲気とは、露点管理がされた雰囲気であり、通常、露点が90℃以下(好ましくは80℃以下、通常30℃以上)に保たれている雰囲気である。更に、この焼成は加圧焼成でもよく、非加圧焼成でもよい。
仮焼工程における仮焼温度は特に限定されないが600〜1400℃(より好ましくは800〜1300℃)とすることができる。この温度範囲であれば、未反応の原料成分が残存し難く、また、焼結してしまい仮焼物の粉砕が困難となることもない。この仮焼における仮焼時間は特に限定されないが、1時間以上(通常20時間以下)とすることができる。更に、仮焼雰囲気は特に限定されず、前記焼成雰囲気と同様な各種雰囲気を用いることができ、焼成雰囲気と同じであってもよく、異なっていてもよい。
上記造粒工程は、仮焼により得られた仮焼物を粉砕等して得られた仮焼粉末にバインダ、溶剤、可塑剤及び分散剤等を含有させて成形に適した粒子状態にする工程である。造粒方法は特に限定されず、スプレードライ法等を用いることができる。また、成形工程は、前記造粒工程で得られた造粒粉末を成形して成形体を得る工程である。この工程では、通常、造粒粉末等には、バインダ、溶剤、可塑剤及び分散剤等を含有させることで成形性を付与する。また、成形方法は、特に限定されず、一軸プレスや、冷間等方静水圧プレス(以下、単に「CIP」という)等の種々の方法で行うことができる。
本発明の電子部品は、本誘電体磁器組成物からなる誘電体部を備えることを特徴とする。
上記「誘電体部」は、前記本発明の誘電体磁器組成物からなる。また、その形状及び大きさ等は特に限定されない。この誘電体部は、例えば、フィルタ、デュプレクサ、共振器、LCデバイス、カプラ、ダイプレクサ、ダイオード、誘電体アンテナ、セラミックコンデンサ、配線基板及びパッケージ等の磁器製部分として用いることができる。これらの用途により、適した形状及び大きさ等とすることが好ましい。
また、本電子部品には、誘電体部以外にも他部を備えることができる。他部としては、導体部が挙げられる。導体部は、通常、誘電体部の表面及び/又は内部に形成された導電性を有する部分である。この導体部は、誘電体部と同時焼成されたものであってもよく、同時焼成されていないものであってもよい。導体部を構成する導体材料は特に限定されず、例えば、Ag、Cu、Au、Ni、Al、W、Ti、V、Cr、Mn、Mo、Pd、Pb、Ru、Rh及びIr等が挙げられる。これらは1種のみを用いてもよく、2種以上を用いてもよい。
また、列設された複数の貫通孔を備える直方体形状の誘電体部と、誘電体部の所定外表面及び貫通孔内を覆う導体部とを備えるデュプレクサ及び誘電体フィルタが挙げられる。
更に、積層された複数の薄板形状の誘電体部と、各誘電体部間に形成された導体パターンと、導体パターン同士を電気的に接続するスルーホール導体又は外表面導体と、を備える誘電体積層チップアンテナが挙げられる。
また、直方体形状の誘電体部と、誘電体部の長手方向の一端に配設された給電電極と、他端に配設された固定電極と、誘電体部の側面を螺旋状に巻回し一端が給電電極に接続され且つ他端が自由端である放射電極と、を備える誘電体チップアンテナが挙げられる。
更に、積層された複数の薄板形状の誘電体部と、各誘電体部間及び所定の外表面に形成された導体パターンと、導体パターン同士を電気的に接続するスルーホール導体又は外表面導体と、を備えるLCフィルタ、セラミックコンデンサ、及び、セラミック配線基板が挙げられる。
(1)誘電体磁器組成物の作製
市販のCaCO3、TiO2、Al2O3、Nb2O5及びMnO2の各粉末を、それぞれ酸化物換算で、組成式[1]中のa〜dの値が表1の組合せとなるように秤量した。次いで、これらの各粉末(原料)をエタノールを溶媒として湿式混合して混合粉末(原料組成物)を得た。この混合粉末を大気雰囲気において1200℃で2時間仮焼した。その後、この仮焼物に分散剤、バインダ及びエタノールを加え、ボールミルにより粉砕してスラリーにした。次いで、このスラリーを乾燥させて造粒して造粒粉末とした。その後、この造粒粉末を20MPaの圧力で一軸プレスを行い、円柱状に成形した。その後、150MPaの圧力でCIP(冷間等方静水圧プレス)処理を行い、この成形体を大気雰囲気において1500℃で3時間保持し、焼成して、実験例1〜7の誘電体磁器組成物からなる誘電体を得た。
得られた実験例1〜7の各誘電体の表面を研磨した後、平行導体板型誘電体共振器法により、測定周波数3〜5GHzにおいて、εr及びQuを測定した。但し、Quについては、共振周波数f0との積(Qu×f0)として評価した。これらの結果を上記表1に併記した。
これに対して、実験例1〜6では、εrは35〜45であり、Qu×f0は14100〜18800と優れていることが分かる。即ち、εrとQuとがバランスのよく優れる誘電特性を得ることができる誘電体磁器組成物である。
本誘電体磁器組成物を、誘電体共振器として用いた場合を以下に説明する。
上記(1)における表1内の実験例1と同様にして造粒した造粒粉を用い、一軸プレスにて円筒形状の未焼成体を成形した。得られた未焼成体を、大気雰囲気において1500℃で3時間保持して焼成し、内径6.8mm、上部(高さ12mm)の外径26mm、下部(高さ13mm)の外径15mmの外径が異なる2つの円筒形を積み上げた形状の誘電体部(図1の11、即ち、誘電体部)を得た。その後、得られた誘電体部を、金属製のケーシング12内の底面に固定して共振器1を得た。
本誘電体磁器組成物を、デュプレクサとして用いた場合を以下に説明する。
上記(1)における表1内の実験例1と同様にして造粒した造粒粉を用い、一軸プレスにて列設された貫通孔(図2及び3の211及び212)を有する直方体形状(図2及び3の21と同じ形状)の未焼成体を成形した。得られた未焼成体を、大気雰囲気において1500℃で3時間保持し、焼成してデュプレクサ用の誘電体部(図2及び3の21)を得た。その後、得られた誘電体部の所定の外表面(貫通孔の表面を含む)に導体用銀ペーストを印刷して焼き付け、導体部22を形成し、デュプレクサ2を得た。
即ち、デュプレクサ2は、共振器211又は励振孔212となる平行に孔設された貫通孔を有する直方体形状の誘電体部21と、この誘電体部21の貫通孔が開口する開放端面を除く所定の外表面(貫通孔の表面を含む)を覆う導体部22とを備える。
Claims (8)
- Ca及びSrの少なくとも一方と、Tiと、Alと、Nb及びTaの少なくとも一方と、Oとの各元素を含有し、
これらの元素について、組成式[aM1O−bTiO2−(1/2)cAl2O3−(1/2)dM2 2O5](但し、M1はCa及び/又はSrであり、M2はNb及び/又はTaであり、a、b、c及びdは各々モル比を表わし、且つ、a+b+c+d=1である)と表した場合に下記条件を満たすことを特徴とする誘電体磁器組成物。
0.4706≦a≦0.4957
0.1111≦b≦0.1923
0.1471≦c≦0.1667
0.1645≦d≦0.2647 - 本誘電体磁器組成物に含有される金属元素を酸化物換算した全モル量を100モル%とした場合に、MnをMnO2換算で0.01〜5モル%含有する請求項1に記載の誘電体磁器組成物。
- 本誘電体磁器組成物に含有される金属元素を酸化物換算した全モル量を100モル%とした場合に、希土類元素REをRE2O3換算で0.1〜10モル%含有する請求項1又は2に記載の誘電体磁器組成物。
- 上記希土類元素REは、La、Nd、Sm、Y及びYbのうちの少なくとも1種である請求項3に記載の誘電体磁器組成物。
- 上記組成式中のTiの全量を100モル%とした場合に、Tiの30モル%未満がZr及び/又はSnに置換された請求項1乃至4のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
- 上記組成式中のAlの全量を100モル%とした場合に、Alの30モル%未満がGaに置換された請求項1乃至5のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
- 上記組成式中のM2の全量を100モル%とした場合に、M2の30モル%未満がSbに置換された請求項1乃至6のいずれかに記載の誘電体磁器組成物。
- 請求項1乃至7のうちのいずれかに記載の誘電体磁器組成物からなる誘電体部を備えることを特徴とする電子部品。
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