JP4474150B2 - 偏心測定方法 - Google Patents

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Description

本発明は偏心測定方法に関し、特にズームレンズのように複数のレンズエレメントより構成され、しかも移動部分を有するレンズ系の偏心測定に好適なものである。
従来の偏心測定方法については、非特許文献1が詳細に説明しており、
(1)被検レンズ回転方式
(2)被検レンズ静止東独ツアイス方式
(3)被検レンズ静止イメージローテーター方式
の3つの方式について紹介している。
これらの偏心測定方法は、何れも、オートコリメーション法にて指標を被検面の見かけの曲率中心位置に投影し、測定基準軸に対する被検面からの反射像の状態(振れ量、ずれ量)に基づいて偏心量を算出するものである。
(1)の方式は、単純な構成で高精度の測定ができるメリットがあるが、被検レンズがズームレンズのように内部に可動部分を含んでいると正確な偏心測定ができないという問題がある。内部に可動部分を含むレンズ系は、可動させるための摺動部に微小な隙間が必要であり、この方式のように被検レンズを回転させながら測定すると、レンズの自重により姿勢差で偏心状態が変化してしまうためである。
(2)の方式による測定では、被検レンズを回転させないので内部に可動部分を含むレンズ系の測定も可能であるが、測定光がハーフミラーを6回も通過することによる光量損失が大きな問題である。この方式を応用した提案として特許文献1がある。
(3)の方式は、イメージローテーターを利用することで被検レンズを回転させずに測定が可能であり、しかもハーフミラーの使用回数も少ないので光量損失も小さい。この方式を応用した提案として特許文献2、特許文献3、特許文献4、特許文献5などがある。
また、オートコリメーション光学系と被検レンズを相対的に移動させて偏心測定を行う方法も特許文献6にて提案されている、
特公平 3− 54287号公報 特公昭51− 9620号公報 特公平 7− 81931号公報 特公平 7− 39982号公報 特許第2621119号明細書 特開平 4−190130号公報 松居吉哉、臼井正幸,「光学系の偏心測定について」,光学技術コンタクト,Vol.13,No.11,p.11−20
従来の方式で複数のレンズエレメントよりなるレンズ系の偏心測定を行う上で特に重要なことは、レンズ系を構成する全ての面の反射像の状態を正確に測定することである。もし何れかの面の反射像が測定できない場合があると、その面よりも後側の面の偏心量は不確かになる。
しかしながら、実際に上述した従来方式で偏心測定を行うと、反射像の状態を測定できない場合が多々発生する。具体的には、
・反射像を検出できない測定不能面が発生する場合がある。
・偏心誤差の大きな被検面の偏心測定値に大きな測定誤差が生じる。
などの問題があった。
経験的には、偏心誤差の大きな被検面で測定不能面が発生しやすいことが分かっている。また、偏心誤差の大きな被検面の測定誤差が大きくなることへの対策として、特許文献3では、一旦レンズ系の偏心測定を行い、実測した偏心量の二乗平均値が小さくなるような最適光軸を計算し、この計算結果を基に、被検レンズの取り付けを補正し再測定する方法が提案されている。しかし、これらの問題の根本原因を解析し、その原因に対する具体的な対策については従来なされていなかった。
本発明は、従来方式での偏心測定で測定不能面がなぜ発生するのか、なぜ測定精度が悪いのか、その原因について解明し、複数のレンズエレメントからなるレンズ系の偏心測定でも偏心量を正確に測定することができる偏心測定装置及び方法について提供するものである。
その一例として、本発明では、複数の被検面の見かけの球心位置に光学系で指標を順次投影し、指標の被検面による反射像の状態から各被検面の偏心量を求める偏心測定方法であって、予め求めた各被検面の見かけの曲率半径に応じて、第1の見かけの曲率半径よりも小さい第2の見かけの曲率半径の被検面を測定する際には、第1の見かけの曲率半径に対応する第1の焦点距離よりも短い第2の焦点距離となるように、光学系の焦点距離を変更すると共に、前記被検面又は前記光学系の一部を前記光学系によって定められる測定基準軸に対して垂直方向に移動させ、その移動量から前記被検面の偏心量を求めている。
ズームレンズ等の複数のレンズエレメントからなるレンズ系の偏心測定において、レンズ全系の偏心量を正確に測定することができる。
以下に図面を用いて本発明の実施形態について説明するが、初めに従来方式での偏心測定で測定不能面がなぜ発生するのか、なぜ測定精度が悪いのか、その原因について説明する。
従来方式での偏心測定で測定不能面が発生する状況は、
・反射像が見えない場合
・反射像が複数観察され、どの像が測定するべき反射像か判別できない場合
がある。
反射像が見えない、又は見え難い原因は、被検面の曲率中心にめがけて投影したチャート像の反射光が接眼系に戻ってこない、又は戻る光量が少ない場合があるからである。どのような場合に反射光が接眼系に戻らないのか、また、戻る光量が少ないのか、その原理を説明する。
オートコリメーション法で被検レンズ側に投影したチャート像が接眼系の観察視野に反射像として結像する条件は、
・被検面の見かけの球心位置(曲率中心位置)にめがけて投影する場合
・被検面の見かけの頂点位置(表面位置)にめがけて投影する場合
である。
被検面の見かけの球心位置(曲率中心位置)にめがけて投影されたチャート像は被検面で反射され、反転像として結像倍率−1倍の像を接眼系の結像面に結像する。以後この反射像のことを「球心反射像」と呼ぶ。被検面の見かけの頂点位置(表面位置)にめがけて投影されたチャート像は被検面で反射され、結像倍率+1倍の像を接眼系の結像面に結像する。以後この反射像のことを「頂点反射像」と呼ぶ。
球心反射像は、被検面の偏心量にほぼ比例して接眼系結像面上で振れる。しかし、頂点反射像は、被検面が偏心しても接眼結像面上で振れる事は無く一定位置に結像する。
被検レンズに偏心が全くなく、被検レンズ光軸と測定光軸が一致していれば、被検レンズの各面の球心反射像が接眼系結像面に必ず結像するはずである。しかし、実際に偏心のある被検レンズを測定すると球心反射像が接眼系結像面に戻らず球心反射像を観察できない場合が発生する。
発明者の検討によれば、被検面の「見かけの曲率半径」の絶対値が小さい(曲率がきつい)場合に球心反射像が見えない現象が発生することが分かった。
ここで「見かけの曲率半径」の定義について説明する。
見かけの曲率半径とは、レンズ系の第1面側から見た場合の被検面の見かけの曲率半径のことで、被検面の見かけの頂点位置(表面位置)と見かけの球心位置(曲率中心位置)との距離と定義する。見かけの頂点位置、見かけの球心位置は光学の近軸計算で算出でき、被検レンズ系の設計データから求める。
第V面での見かけの曲率半径は、第1面から第(V−1)面までの光学系により変化し、実際の曲率半径とは異なる。実際の曲率半径よりも極端に小さな曲率半径になったり、大きな曲率半径になったりすることがある、また曲率半径の符号が逆転する場合もある。
なお、レンズ系に非球面を含む場合は、光軸方向をX軸、X軸に対して垂直方向の量をH、Rを近軸曲率半径、Kを円錐定数、A,A′…を非球面係数とし、X軸に対して回転対称の非球面形状を、
Figure 0004474150
と定義するとき、
Figure 0004474150
で算出するRを用いて近軸計算すれば、近軸領域において球面と同等に扱うことが可能である。(レンズ設計法:松居吉哉著、共立出版 参照)
第V面の見かけの曲率半径が極端に小さな場合を図6に示す。図6において、照明光源Rで照明された指標チャートTは、ハーフミラーHを介してコリメーター対物レンズKで被検レンズLに向けて投影される。コリメーター対物レンズKは、被検面(ここでは第V面)の見かけの球心位置に指標チャートTの像を形成している。被検レンズLは第1面から第V面まで複数のレンズ面で構成されており、レンズ取り付けマウントMに固定されている。反射像はコリメーター対物レンズKを介して結像面チャートIに結像する。結像面チャートIに形成された反射像を接眼レンズEで観察する。光源R、指標チャートT、ハーフミラーH、コリメーター対物レンズK、結像面チャートI、接眼レンズEによって、オートコリメーション光学系Uが構成される。
図6(a)のごとく被検レンズLに偏心が全くなく、被検レンズLの光軸と測定基準軸Cが一致している状態では、第V面での球心反射像は接眼系の結像面チャートIに結像する。しかし、被検レンズLに偏心が存在し、第V面の見かけの球心位置と測定基準軸Cにずれが生じると、図6(b)に示すように見かけの曲率半径が小さな第V面での球心反射光線は接眼光学系には戻らなくなってしまう。
また、被検レンズLに偏心が全くなく、被検レンズ系Lの光軸と測定基準軸Cが一致している状態であっても、オートコリメーション光学系Uが投影する指標チャートTの中心近傍のみが観察系に戻るだけで、指標チャートTの周辺部は観察系に戻らない。観察系で観察できる指標チャートTのイメージサークル(結像範囲)が小さくなるのである。そのため、少しの偏心量でも球心反射像が見えなくなってしまう場合がある。
これが従来の測定方法での測定不能面が発生する問題点である。
第V面での球心反射光線を観察系に戻すためには、第V面の見かけの球心位置をオートコリメーション光学系Uの測定基準軸Cと一致させればよい。すなわち、オートコリメーション光学系Uと被検レンズLとを相対的に、測定基準軸Cに対して垂直方向に移動させれば、第V面での球心反射光を観察系の結像面に戻すことが可能になる。後述する実施例で開示する偏心測定装置では、各被検面での球心反射像が、観察系の結像面チャートIの原点位置に一致するように、オートコリメーション光学系Uと被検レンズLを相対的に測定基準軸Cに対して垂直方向に移動可能にしている。このような偏心測定装置において、オートコリメーション光学系Uや被検レンズLの移動量から被検レンズLの実際の偏心量を算出すれば、見かけの曲率半径が小さいがゆえに測定不能になることが回避できる。
また、見かけの曲率半径が小さな面での球心反射像には大きな歪曲収差が発生し、球心反射像のフレ量と被検面の偏心量の関係が比例関係から外れる。このため、球心反射像のフレ量が観察系で観察できたとしても、従来方式では歪曲収差の影響で測定誤差が大きくなることがあった。
この測定誤差の問題も、被検面での球心反射像が結像面チャートIの原点位置に一致するように、オートコリメーション光学系Uと被検レンズLを相対的に測定基準軸に対して垂直方向に移動させれば解決できる。つまりこの方式では、反射像の像高ゼロの位置を測定することになるので、見かけの曲率半径が小さな面での反射による歪曲収差の影響を受けなくて済み、測定誤差を小さく抑えることが可能になる。
次に、見かけの曲率半径が大きな場合を図7に示す。
見かけの曲率半径が大きな場合は、オートコリメーション光学系Uが投影する指標チャートTから光線に対して、第V面での球心反射の光線は光軸近傍の一部の光線しか反射しないため、観察系に戻る光線は開口が絞られた状態になる。そのため反射像の光量が減り暗くなる。また、絞られるために回折の影響で解像力の低いボケた反射像として結像面チャートIに結像される。
この問題を回避するためには、コリメーター対物レンズKの焦点距離を変更可能とすれば良く、コリメーター対物レンズKをズームレンズのような焦点距離可変の光学系で構成するか、焦点距離の異なる複数の光学系間で交換可能にすればよい。後述する実施例で開示する偏心測定装置では、被検面の見かけの曲率半径が大きな場合には、コリメーター対物レンズKの焦点距離が長くなるように変更可能とし、チャート像の投影倍率を上げることで、反射像の光線の開口を大きくしている。
図1に実施例1の偏心測定装置の概略図を示す。
図1において、照明光源Rで照明された指標チャートTは、ハーフミラー(ビームスプリッター)Hを介してコリメーター対物レンズKで被検レンズLに向けて投影される。コリメーター対物レンズKは交換可能に構成され、被検面の見かけの曲率半径に応じて焦点距離が変更可能となっている。コリメーター対物レンズKを交換した場合は、交換することにより指標チャートの投影像がずれることがあるので、指標チャートTの像の原点が測定基準軸(測定軸)Cと一致するように、コリメーター対物レンズKの位置を測定基準軸Cに対して垂直方向に調整可能な構造にしてある。
被検レンズLは第1面から第V面まで複数のレンズ面で構成されており、レンズ取り付けマウントMに固定されている。反射像はコリメーター対物レンズKを介して結像面チャートIに結像する。結像面チャートIに対する反射像の振れ量を接眼レンズEで観察する。指標チャートTと結像面チャートIはハーフミラーHに対して等価な位置に設定されている。指標チャートTの球心反射像は結像面チャートIの位置に反転した等倍像で結像される。図2に観察視野を示す。図2では、指標チャートTの反射像の中心を簡易的に「+」で表しており、結像面チャートIに対して△Y’,△Z’のずれ量を持つ場合を描いている。実際に本実施例で用いる指標チャートTと結像面チャートIについては、後ほど詳しく説明する。
光源R、指標チャートT、ハーフミラーH、コリメーター対物レンズK、結像面チャートI、接眼レンズEによって、オートコリメーション光学系Uが構成される。偏心側定時には、オートコリメーション光学系Uと被検レンズLの相対的な距離を測定基準軸Cに沿って変化させ、被検レンズの各被検面の見かけの球心位置CVに指標チャート像を投影して、第1面から順に偏心量の測定を行う。
レンズ取り付けマウントMは、そのマウント面が測定基準軸Cに対して垂直となるように調整できる煽り調整可能な構造であり、測定基準軸Cと垂直方向な方向に移動可能な可動ステージSに固定されている。可動ステージSは、測定基準軸C方向に移動可能な可動ステージQに設置されており、マウントMを紙面での上下方向の移動と紙面で奥側から手前側方向の2軸の移動が可能となるように設定している。可動ステージQは測定基準軸C方向に伸びるレールNの上を紙面で左右方向に可動に設定してある。各ステージの移動方向の座標系は、紙面左右方向をX軸とし、被検レンズ第1面の頂点を原点とし左方向がマイナス、右方向をプラスとしている。紙面上下方向をY軸、紙面奥から手前方向をZ軸としている。
従来は、機械的なステージ移動により測定基準光軸C上の各被検面の見かけの曲率中心位置に高精度に指標を投影することが困難であり、機械的なステージ移動による誤差を回避するために、レンズ回転方式やイメージローテーター方式が考案されていた。しかし、従来のレンズ回転方式やイメージローテーター方式の回転軸精度も完全にゼロにすることは困難であり多少の軸ぶれが残存する。
発明者の検討によれば、測定基準軸C方向に伸びるレールNを高精度金属レールで作成し、高精度に平面加工された堅牢な定盤の上に敷設すれば、レールN上の可動ステージS,Qの精度は、ステージ移動量1m範囲に対して傾き誤差を10秒から20秒程度の精度に抑えることが可能であることが分かった。更に高精度を実現させるためには、セラミックまたは、天然の深成岩などを精密加工した石柱を軸とし、エアーベアリングを用いたステージにすることで、ステージ移動量1m範囲に対して傾き誤差5秒以下が実現可能である。
この精度ならば、一般の写真撮影用レンズ、ビデオカメラ用レンズ、デジタルカメラ用レンズ等の偏心測定に要求される偏心測定精度としては十分実用的な精度である。本実施例の方式は、回転部分や反射プリズムがなく単純な構造であるため誤差要因が少ないため、従来タイプよりも高精度化が可能である。
次に偏心量を測定する手順について説明する。
(1)交換可能なコリメーター対物レンズKをオートコリメーション光学系Uに装着し、指標チャートTの投影像の基準原点が測定基準軸Cと合致するようにコリメーター対物レンズKを調節し固定する。
(2)マウントMが測定基準軸Cに対して垂直になるように煽り調整を行う。
(3)マウントMの中心が測定基準軸Cと一致するように可動ステージSを調整し、その位置で移動量検出装置WのY軸方向、Z軸方向の値を基準原点に設定する。
(4)マウントMに被検レンズLを装着し、被検レンズLの第1面頂点に指標チャート像が結像するように測定軸方向可動ステージQを移動させ、その位置での移動量検出装置WのX軸の値を基準原点に設定する。
(5)被検レンズLの設計基準状態(偏心が全く無い状態)での設計データから、被検レンズLの第1面頂点を原点とし、第1面から最終面までの見かけの球心位置、見かけの頂点位置、見かけの曲率半径を偏心計算装置Pで算出する。
(6)算出した各被検面の球心位置に指標チャートTの投影像が投影されるように、移動量検出装置WのX軸移動量を確認しながら、可動ステージQを移動させる。
(7)観察系結像面(結像面チャートI)に結像した球心反射像を接眼レンズEで観察する。
(8)被検面に偏心がある場合は、球心反射像が観察系結像面チャート原点に対してずれている。この場合、可動ステージSを移動させて球心反射像を結像面チャート原点に一致させる。このときの可動ステージSのY方向、Z方向の移動量△Y,△Zを移動量検出装置Wで検出し、偏心計算装置Pに送り、実際の偏心量を算出する。
被検レンズLに偏心が全くなく、被検レンズLの光軸と測定基準軸Cが一致していれば、見かけの球心位置に投影された指標チャート像の光線は、被検面で反射され、もと来た光路を逆に戻る。戻る光線はハーフミラーHで光路が2分割され一方は指標チャート面に結像し、他方の光線は指標チャートと等価の距離に設定された接眼系の結像面チャート上に結像する。被検レンズ系Lに偏心が全くなく、被検レンズLの光軸と測定基準軸Cが一致していれば、球心反射像は観察系結像面チャート中央の原点に一致する。
被検レンズLに偏心が存在すると球心反射像は観察系視野の結像面チャート原点位置からずれる。従来の偏心測定方法では、このずれ量△Y’,△Z’を検出して偏心量を算出していたが、本実施例では可動ステージSの移動量を移動量検出装置Wで検出し、偏心計算装置Pで実際の偏心量を算出する。移動量検出装置WはX,Y,Z軸の各移動ステージ部分に設置されたマグネスケール等のセンサーからの移動量情報を読み取り、移動量を検出している。本実施例では、測定基準軸Cに対するステージSの移動量△Y,△Zが被検面の見かけの平行偏心量そのものになる。
従来方式で、被検面の見かけの平行偏心量△Y,△Zを求めるためには、観察視野での球心反射像のずれ量△Y’,△Z’を検出し、コリメーター対物レンズの投影倍率を掛け合わせ、反射像は2倍になっているので1/2にして算出していた。このため、コリメーター対物レンズを交換したり、焦点距離可変レンズにしたりした場合は、そのつどコリメーター対物レンズの投影倍率を所定の倍率に変更し計算する必要があった。しかし本方式では、コリメーター対物レンズの投影倍率に関係なく、ステージの移動量△Y,△Zそのものが被検面の見かけの平行偏心量になるので、計算アルゴリズムが従来タイプよりも単純になるメリットがある。しかし、本方式の最も特徴的な点は、測定基準軸に垂直な方向にステージを移動させて被検面の見かけの偏心量を測定することにより、測定不能面が激減することである。
従来はなぜ測定不能面が発生し、本発明ではどのように対策しているかを、ビデオカメラ用のズームレンズの数値データを例に説明する。
以下に示す表1、表2、表3にはf=5.849〜56.263のビデオカメラ用のズームレンズのレンズデータ示している。表1は広角端での数値データ、表2は望遠端での数値データであり、表3には非球面である第12面の近軸曲率半径、円錐定数、非球面係数を示している。
レンズ面は第1面から第20面までの9群11枚構成のズームレンズであり、レンズ断面図を図3に示している。このズームレンズは4ブロックに分割され、第1ブロックはG1/2,G3(第1面〜第5面)、第2ブロックはG4,G5,G6(第6面〜第11面)、第3ブロックはG7,G8,G9(第12面〜第17面)、第4ブロックはG10/11(第18面〜第20面)であり、ズームによる焦点距離変化は各ブロック間隔を変化させて行う。
表1、表2のデータには面番号、実際の曲率半径、実際の面間隔、屈折率、その右側に近軸計算で算出した、見かけの球心位置、見かけの頂点位置、見かけの曲率半径を表示している。
見かけの球心位置とは、第1面側から見たときに各面の実際の球心位置がどこに見えるかを、第1面頂点を原点として設計データから算出したものである。また、見かけの頂点位置とは、第1面側から見たときに各面の実際の面の頂点位置がどこに見えるかを、第1面頂点を原点として設計データから算出したものである。見かけの曲率半径は、第1面から見たときの各面の見かけの曲率半径のことで、見かけの頂点位置から見かけの球心位置までの距離として定義して算出している。
表1と表2には、広角端と望遠端のデータを面番号順に表示したデータと、見かけの球心位置で昇順に並べ替えたデータを併記している。
Figure 0004474150
Figure 0004474150
Figure 0004474150
広角端での第12面に着目する。第12面は非球面であり、実際の近軸曲率半径Rは9.207であるが、見かけの曲率半径は0.662である。レンズ第1面から見ると、見かけの曲率半径が極端に小さいことを意味している。この面の球心反射光線は従来の測定方法では、見かけの曲率半径が極端に小さいため、少しの偏心が存在するだけで観察系に戻らなくなる。しかし、本実施例に開示したように可動ステージSを移動させ、測定基準軸Cと第12面の球心位置が一致するように調整することで、球心反射光線を観察系に戻すことが可能であり、ステージの移動量△Y,△Zを検出することが可能になる。
このように本実施例で開示した偏心測定装置と偏心測定方法によって、従来の測定では測定不能であった面の測定が可能になる。
また、表1の広角端の見かけの球心位置、見かけの頂点位置に着目すると、第12面の見かけの球心位置は17.637、第19面の見かけの球心位置は17.703、第17面の見かけの頂点位置は17.636、第16面の見かけの頂点位置は17.513であり、ほぼ同じ位置に4つの面の球心位置や頂点位置が近接していることがわかる。この場合、観察系視野には第12面の球心反射像と第19面の球心反射像、そして第17面の見かけの頂点反射像と第16面の見かけの頂点反射像が重なって見えることになる。
どの反射像がどの面に該当するのかを判別するためには、先ず、光軸と可動ステージSを移動させながら観察系視野を観察する。ステージSの移動に伴って反射像位置が変動するのは球心反射像であり、ステージ移動に伴わず反射像位置が動かないのが頂点反射像である。この判別方法で、測定するべき第12面の球心反射像と第19面の球心反射像を特定することができる。
しかし、どちらの反射像が第12面の反射像かを判別するのが難しい。そこで、見かけの曲率半径を手がかりに判別する。第12面の見かけの曲率半径は+0.662、第19面の見かけの曲率半径は−1.438であり、共に小さな値であるが、絶対値は第12面の方が小さい。したがって、実際の観察系視野の反射像を観察すると、反射像の見えるイメージサイズが異なる。見かけの曲率半径が小さな面で反射された球心反射像は、見かけの曲率半径が小さいがゆえに、指標チャートの周辺部の光線は接眼系に戻らず、指標チャートの中央部分のみ接眼系に戻るからである。観察系視野に確認できる2つの反射像のうちイメージサークルが小さい方の反射像が第12面の球心反射像であると判別できる。
次に広角端の第9面と第13面に着目する。見かけの球心位置は、第9面が14.400、第13面が14.496であり、ほぼ同じ位置に球心反射像が結像する。この場合も、見かけの曲率半径を比較すると、第9面の見かけの曲率半径が4.356、第13面の見かけの曲率半径が−2.6332であり、第13面の方が見かけの曲率半径の絶対値が小さいので、観察系で確認できる反射像のうちイメージサークルの小さい方が第13面の反射像であることが判別できる。
望遠端においては、第7面の見かけの球心位置が154.811、第20面の見かけの球心位置が154.808である。この場合も見かけの曲率半径を比較すると、第7面の見かけの曲率半径が+66.662、第20面の見かけの曲率半径が−258.113であり、観察系で確認できる反射像のうちイメージサークルの小さい方は第7面の球心反射像であることが判別できる。
このように本実施例で開示した偏心測定装置と偏心測定方法によれば、同時に観察視野に形成される複数の反射像の中から所望の反射像を特定することができるので、従来の測定では測定不能であった面の測定が可能になる。
なお、見かけの曲率半径が小さな被検面を測定する場合は、コリメーター対物レンズKの焦点距離は短いほうが好ましい。コリメーター対物レンズKの焦点距離が短いと指標チャートTの像を小さく投影することが可能であり、見かけの曲率半径が小さな被検面でも観察系にイメージサークルの大きな反射像を戻すことが可能である。コリメーター対物レンズKの焦点距離が長くなると、指標チャートTの投影像が大きくなり、見かけの曲率半径が小さな被検面では、球心反射像の極中央部のみしか観察光学系に戻らず小さなイメージサークルの反射像しか確認できず、チャート像を認識しずらくなる。
逆に、見かけの曲率半径の絶対値が大きな被検面に対しては、コリメーター対物レンズKの焦点距離は長いものが必要になる。また見かけの球心位置の大きな場合もコリメーター対物レンズKの焦点距離の長いものが必要になる。そのためコリメーター対物レンズKは交換可能の構造としている。コリメーター対物レンズKは、ズームレンズのような可変焦点距離レンズで構成しても良い。
観察系は、結像面チャートIに結像している反射像を接眼レンズEで観察しているが、目視での観察の代わりに、テレビカメラ等を設置して電子画像を取り込んで、観察系視野を検出してもよい。また、不図示であるが、接眼レンズEを用いずに、結像面チャート面IにCCD等の受光素子を設定し、電子画像を直接取り込み、画像処理で反射像のずれ量を検出しながら、反射像を基準原点にあわせてもよい。
次に本実施例で用いた指標チャートTと結像面チャートIとについて説明する。図4に本実施例で用いた指標チャートT(図4(a))と結像面チャートI(図4(b))、そして指標チャートTの反射像と結像面チャートIの関係(図4(c))を示す。本実施例では、指標チャートTの反射像を結像面チャート原点位置に合致し易いように工夫をすることで測定精度を向上させている。
図4の紙面での左右方向と上下方向にチャート像が合致し易いようにするためには、指標チャートTの十字線の線幅を極力細くし、結像面チャートIの十字線は破線形状にしている。結像面チャートIを破線形状にすることより、破線の間から指標チャートTの像との重なり状態が確認できるので、高精度に合致しやすくなる。
また、前述したように、被検面の見かけの曲率半径が小さい場合には、指標チャートTの周辺部の光線が観察系に戻らないためイメージサークルが小さくなり、偏心が存在すると指標チャート中心が探しにくくなる。そこで、指標チャートTの中央部には、中央であることを示すマークを設けることが望ましいため、本実施例では図4(a)に示すごとく指標チャートTの中央部に円形マークを設定している。
また、球心反射像は大きな球面収差を伴うことが多く、球心反射像はぼやけた像の場合が多い。ぼやけた球心反射像の場合は、細い十字線はぼやけてしまい認識することが困難になる。そこで本実施例では、左右方向と上下方向の位置合わせを可能にするために、図4(a)に示すように十字線の左右方向と上下方向の位置合わせマークを設定している。
紙面での左右方向に対する位置合わせマークは十字線の縦線に対して左右対称な形状とすることが好ましい。紙面での上下方向に対する位置合わせマークは十字線の横線に対して上下対称な形状とすることが好ましい。本実施例では左右方向又は上下方向に対称な2つの三角形を組み合わせた形状としている。このような位置合わせマークは、ぼやけた反射像であっても対称形状の反射像が認識できれば、そのぼやけた反射像の中央に位置合わせを行うことが可能になる。
一方、見かけの曲率半径や見かけの球心位置が大きな被検面での球心反射像は、指標チャート全面が観察系にもどり、イメージサークルは大きいのだが、反射像は暗く、また大きくぼやけていることが多い。見かけの曲率半径や見かけの球心位置が大きな被検面での球心反射像は、被検面の有効径に対して球心反射位置までの距離が長いので口径比が絞られた状態になるため暗くなる。また絞り込みによる回折の影響で大きくぼやけた反射像になる場合が多い。そのために、指標チャートの細い十字線や中央部分の位置合わせマークの認識が困難になる。その対策として、左右方向、上下方向への合致を可能にするため、観察系視野の周辺部に、中央部の位置合わせマークよりも大きな位置合わせマークを設定する。この大きな位置合わせマークを設定することにより、従来はボケて認識不可能であったチャート位置が認識可能になる。
また位置合わせマークは、図4(a)に示すごとく十字線の中心に対し、上下、左右の片側のみに設定することが好ましい。もし、上下、左右の両方に対称に設定すると、見かけの球心反射像と見かけの頂点反射像と重なる場合に位置合わせマークの反射像が重なってしまい見難くなるからである。
次に実施例2の偏心測定装置について図5を用いて説明する。
実施例2では、実施例1のコリメーター対物レンズKを、平行光線を作るコリメーターレンズK1と平行光線を結像させる対物補助レンズK2に分割した構造にしている。対物補助レンズK2は交換可能又は可変焦点距離レンズで構成し、焦点距離を変更可能にしている。対物補助レンズK2を交換した場合は、投影する指標チャート像が測定基準軸Cと一致するように光軸と垂直方向に調整可能な構造にしている。指標チャートTと結像面チャートIについては、実施例1にて図4を用いて説明したものと同じもの用いている。
対物補助レンズK2は測定基準軸Cと垂直方向に移動可能な可動ステージSに装着されている。可動ステージSは測定基準軸方向Cに移動可能な可動ステージQに設置されている。可動ステージQは測定基準軸方向に伸びるレールNの上に設置されている。
被検レンズ取り付けマウントMは、マウント面が測定基準軸Cに対して垂直に調整できるように煽り調整機構を有しており、かつ測定基準軸CとマウントMの中心が合致するように測定基準軸Cと垂直方向に移動可能な調整機構も有している。
被検レンズLは、マウント面が測定基準軸Cに対して垂直、かつ測定基準軸CとマウントMの中心が合致するように調整された状態でマウントMに装着されている。
偏心測定では、予め設計データから算出した各被検面の見かけの球心位置に指標チャートTの像を投影するように可動ステージQを順次移動させ、各被検面での球心反射像が観察系視野の基準原点に合致するように可動ステージSを移動させ、その移動量△Y、△Zを移動量検出装置Wで検出し、偏心計算装置Pに送り、実際の偏心量を算出する。
実施例2の場合、被検レンズLは測定中に完全に固定させており、測定のために移動させることが無いので、重量の重い被検レンズに対して適している。またズームレンズ等の可動部分を有している場合、測定中に被検レンズの移動に伴う振動等によって偏心状態が変化することを防げる。
実施例1の偏心測定装置の概略図である。 観察系視野の説明図である。 指標チャートと結像面チャートの説明図である。 ズームレンズの断面図である。 実施例2の偏心測定装置の概略図である。 見かけの曲率半径が小さな場合の球心反射像の説明図である。 見かけの曲率半径が大きな場合の球心反射像の説明図である。
符号の説明
R 光源
T 指標チャート
H ハーフミラー
K コリメーター対物レンズ
I 結像面チャート
E 接眼レンズ
U オートコリメーション光学系
L 被検レンズ
S 測定軸と垂直方向可動ステージ
Q 測定軸方向可動ステージ
N 測定軸方向レール

Claims (2)

  1. 複数の被検面の見かけの球心位置に光学系で指標を順次投影し、前記指標の被検面による反射像の状態から各被検面の偏心量を求める偏心測定方法であって、
    予め求めた各被検面の見かけの曲率半径に応じて、第1の見かけの曲率半径よりも小さい第2の見かけの曲率半径の被検面を測定する際には、前記第1の見かけの曲率半径に対応する第1の焦点距離よりも短い第2の焦点距離となるように、前記光学系の焦点距離を変更すると共に、前記被検面又は前記光学系の一部を前記光学系によって定められる測定基準軸に対して垂直方向に移動させ、その移動量から前記被検面の偏心量を求めることを特徴とする偏心測定方法。
  2. 前記反射像が形成される位置に十字線が形成された結像面チャートが配置され、前記指標は、前記十字線の一方の線に対して対称な形状の第1のマークと、前記十字線の他方の線に対して対称な形状の第2のマークとをそれぞれ複数有するチャートであって、複数の前記第1のマーク及び複数の前記第2のマークはそれぞれ、前記十字線の交差点に近い側のマークに比べて遠い側のマークが大きいことを特徴とする請求項1の偏心測定方法。
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Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1519144A1 (en) * 2003-09-29 2005-03-30 Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO Free-form optical surface measuring apparatus and method
JP4298587B2 (ja) * 2004-05-28 2009-07-22 キヤノン株式会社 偏心測定結果の表示方法
KR100703326B1 (ko) * 2004-12-21 2007-04-03 삼성전자주식회사 광학계의 성능 평가 장치
TWI264523B (en) * 2005-09-06 2006-10-21 Instr Technology Res Ct Method and instrument for measuring decenter and tilt of lens by interferometer
JP4774332B2 (ja) * 2006-06-06 2011-09-14 富士フイルム株式会社 偏芯量測定方法
JP2008096197A (ja) * 2006-10-10 2008-04-24 Olympus Corp 偏心測定装置
JP4903550B2 (ja) * 2006-12-22 2012-03-28 オリンパス株式会社 レンズ系の偏心測定装置
CN100582715C (zh) * 2006-12-25 2010-01-20 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 镜片偏心检测系统及方法
US7852459B2 (en) 2007-02-02 2010-12-14 Asml Netherlands B.V. Inspection method and apparatus, lithographic apparatus, lithographic processing cell and device manufacturing method
CN101334334B (zh) 2007-06-25 2010-06-02 佛山普立华科技有限公司 镜片偏心检测系统
WO2009113484A1 (ja) * 2008-03-11 2009-09-17 株式会社ニコン 基準球検出装置、基準球位置検出装置、及び、三次元座標測定装置
JP5543765B2 (ja) * 2009-12-08 2014-07-09 株式会社ミツトヨ フィゾー型干渉計、及びフィゾー型干渉計の測定方法
CN102822656B (zh) * 2010-04-13 2016-05-11 柯尼卡美能达先进多层薄膜株式会社 偏心量测量方法
TWI467262B (zh) * 2011-06-10 2015-01-01 Sharp Kk 透鏡調芯裝置及攝像透鏡
FR2985811B1 (fr) 2012-01-13 2014-12-05 Cassidian Test & Services Dispositif optique, banc de test optique et procede de test optique.
CN103018015B (zh) * 2012-12-26 2016-01-20 青岛歌尔声学科技有限公司 检测设备中镜头的光轴偏移的装置和方法
DE102013001458A1 (de) * 2013-01-23 2014-07-24 Jenoptik Optical Systems Gmbh System zur Lagebestimmung eines Prüfobjektes und zugehöriges Verfahren
CN103453854B (zh) * 2013-09-11 2016-02-24 南京东利来光电实业有限责任公司 平行度检测装置及检测方法
CN103940377B (zh) * 2014-03-26 2017-01-04 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 光学镜头球心偏差测量装置
CN105157617B (zh) * 2015-08-27 2018-01-30 浙江大学 应用于球面光学元件表面缺陷检测的球面自动定中方法
EP3037800B1 (de) 2014-12-24 2018-04-04 Trioptics GmbH Messung der Positionen von Krümmungsmittelpunkten optischer Flächen eines ein-oder mehrlinsigen optischen Systems
CN105108186A (zh) * 2015-06-25 2015-12-02 中国科学院西安光学精密机械研究所 透镜基于定心加工的误差分离方法
US11221211B2 (en) * 2018-01-26 2022-01-11 Vanderbilt University Systems and methods for non-destructive evaluation of optical material properties and surfaces
JP7191632B2 (ja) * 2018-10-11 2022-12-19 キヤノン株式会社 偏心量測定方法
US11493751B2 (en) 2019-01-23 2022-11-08 Vanderbilt University Systems and methods for compact optical relay
CN109883361A (zh) * 2019-02-23 2019-06-14 西安昂科光电有限公司 一种使用高精度导轨实现光学组件中心偏差测试的方法
CN109855844B (zh) * 2019-03-12 2021-08-24 苏州大学 一种光学镜头中心偏差测量装置及方法
CN109737912B (zh) * 2019-03-21 2021-04-02 博奥生物集团有限公司 一种偏心检测方法和偏心检测装置
CN111123987B (zh) * 2019-12-27 2021-05-18 中国科学院西安光学精密机械研究所 一种共孔径双波段成像系统光轴平行性调节系统及方法
CN110926380B (zh) * 2019-12-30 2021-07-09 苏州迅镭激光科技有限公司 一种测量激光切割头光学元件同轴度的方法
CN113203553B (zh) * 2021-04-22 2023-07-14 西安工业大学 一种透镜中心误差测定系统及测定方法
CN113588215A (zh) * 2021-07-30 2021-11-02 南京恒一光电有限公司 一种光学透镜检测用偏心仪
JP2024040947A (ja) * 2022-09-13 2024-03-26 キヤノン株式会社 取得装置、取得方法および光学系の製造方法

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS519620A (ja) 1974-07-15 1976-01-26 Matsushita Electric Ind Co Ltd
US4149801A (en) * 1977-02-17 1979-04-17 David Volk Method and apparatus for measuring aspheric contact lens surfaces
US4213701A (en) * 1978-10-30 1980-07-22 Lanzilloti J J Lens testing apparatus and method
US5351119A (en) * 1988-09-13 1994-09-27 Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha Method and apparatus for measuring a lens
JP2621119B2 (ja) 1988-10-07 1997-06-18 オリンパス光学工業株式会社 レンズ系の偏心測定方法および装置
JPH0812127B2 (ja) * 1988-11-11 1996-02-07 オリンパス光学工業株式会社 曲率半径測定装置及び方法
JPH04190130A (ja) 1990-11-22 1992-07-08 Asahi Optical Co Ltd レンズ偏心測定器
US5539837A (en) * 1992-04-29 1996-07-23 Lindmark; Richard C. Apparatus and method for measuring curved surfaces
JPH0739982A (ja) 1993-07-30 1995-02-10 Ntn Corp 熱間鍛造装置
JPH0781931A (ja) 1993-09-09 1995-03-28 Karushiide:Kk 球状カルサイト型炭酸カルシウム凝集体及びその製造方法
US5844670A (en) * 1995-07-28 1998-12-01 Ricoh Co., Ltd. Method of and systems for measuring eccentricity of an aspherical lens surface

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