JP4471902B2 - 半導体記憶装置 - Google Patents
半導体記憶装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4471902B2 JP4471902B2 JP2005219419A JP2005219419A JP4471902B2 JP 4471902 B2 JP4471902 B2 JP 4471902B2 JP 2005219419 A JP2005219419 A JP 2005219419A JP 2005219419 A JP2005219419 A JP 2005219419A JP 4471902 B2 JP4471902 B2 JP 4471902B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- address
- signal
- output
- response
- word line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Dram (AREA)
Description
図1は、この発明の実施の形態1によるDRAMの要部の構成を示す回路ブロック図、図2はアドレス発生回路41の構成を示す回路ブロック図である。
図5は、この発明の実施の形態2によるDRAMの行デコーダ42およびメモリマット44のレイアウトを示す図、図6は図5の要部の拡大図である。
[実施の形態3]
図9は、この発明の実施の形態3によるDRAMの行デコーダ42およびメモリマット44のレイアウトを示す図、図10は図9に示したワードドライバ群WDの構成を示す一部省略した回路ブロック図である。
図14は、この発明の実施の形態4によるDRAMの要部の構成を示す回路ブロック図である。
Claims (5)
- セルフリフレッシュモードを有する半導体記憶装置であって、
複数行複数列に配置された複数のメモリセルと、それぞれ前記複数行に対応して設けられ、予め複数のグループに分割された複数のワード線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のビット線対とを含み、前記セルフリフレッシュモード時に、各グループに第1のアドレスが割当てられ、各グループに属する各ワード線に第2のアドレスが割当てられるメモリアレイ、
前記セルフリフレッシュモードが設定されたことに応じて、前記メモリアレイのうちのある第1のアドレスに属する各第2のアドレスを順次指定し、次いで他の第1のアドレスに属する各第2のアドレスを順次指定して行くアドレス指定手段、
各第1のアドレスに対応して設けられ、前記アドレス指定手段によって対応の第1のアドレスの指定が開始されたことに応じて活性化レベルの信号を出力し、前記セルフリフレッシュモードが設定されている場合、前記第1のアドレスに属する各第2のアドレスが順次指定されている間活性化レベルの信号を出力し、対応の第1のアドレスの指定が終了したことに応じて非活性化レベルの信号を出力し、前記セルフリフレッシュモードが設定されていない場合、各アドレスの指定が終了するごとに非活性化レベルの信号を出力する第1の信号発生手段、
各第2のアドレスに対応して設けられ、前記アドレス指定手段によって対応の第2のアドレスの指定が開始されたことに応じて活性化レベルの信号を出力し、アドレスの指定が終了したことに応じて非活性化レベルの信号を出力する第2の信号発生手段、
各ワード線に対応して設けられ、対応の第1および第2の信号発生手段の両方から活性化レベルの信号が出力されたことに応じて、対応のワード線を活性化レベルにするワード線駆動手段、および
前記ワード線駆動手段によって活性化レベルにされたワード線に対応するメモリセルのデータのリフレッシュを行なうリフレッシュ実行手段を備える、半導体記憶装置。 - 前記メモリアレイは、複数のブロックに分割されており、
前記ワード線駆動手段は、前記複数のブロックごとに各ブロックが配置される位置に設けられ、
前記第1の信号発生手段の出力は、前記複数のブロック上を通るサブデコード線を通して、前記各ワード線駆動手段に与えられる、請求項1に記載の半導体記憶装置。 - セルフリフレッシュモードを有する半導体記憶装置であって、
各々が、複数行複数列に配置された複数のメモリセルと、それぞれ前記複数行に対応して設けられた複数のワード線と、それぞれ前記複数列に対応して設けられた複数のビット線対とを有する複数のブロックを含み、前記セルフリフレッシュモード時に、各ブロックに第1のアドレスが割当てられ、各ブロックに属する各ワード線に第2のアドレスが割当てられるメモリアレイ、
前記メモリアレイの複数のブロックの各間に設けられ、隣接するブロックの活性化レベルにされたワード線に対応するメモリセルのデータのリフレッシュを行なうリフレッシュ実行手段、
前記セルフリフレッシュモードが設定されたことに応じて、前記メモリアレイのうちのある第1のアドレスに属する各第2のアドレスを順次指定し、次いで他の第1のアドレスに属する各第2のアドレスを順次指定して行くアドレス指定手段、
各第1のアドレスに対応して設けられ、前記アドレス指定手段によって対応の第1のアドレスの指定が開始されたことに応じて活性化レベルの信号を出力し、前記セルフリフレッシュモードが設定されている場合、前記第1のアドレスに属する各第2のアドレスが順次指定されている間活性化レベルの信号を出力し、対応の第1のアドレスの指定が終了したことに応じて非活性化レベルの信号を出力し、前記セルフリフレッシュモードが設定されていない場合、各アドレスの指定が終了するごとに非活性化レベルの信号を出力する第1の信号発生手段、
各第2のアドレスに対応して設けられ、前記アドレス指定手段によって対応の第2のアドレスの指定が開始されたことに応じて活性化レベルの信号を出力し、アドレスの指定が終了したことに応じて非活性化レベルの信号を出力する第2の信号発生手段、
各ブロックに対応して設けられ、対応の第1の信号発生手段から活性化レベルの信号が出力されたことに応じて、対応のブロックと対応のリフレッシュ実行手段とを接続するとともに該リフレッシュ実行手段と他のブロックとを切離す接続手段、および
各ワード線に対応して設けられ、対応の第1および第2の信号発生手段の両方から活性化レベルの信号が出力されたことに応じて、対応のワード線を活性化レベルにするワード線駆動手段を備える、半導体記憶装置。 - 前記リフレッシュ実行手段は、センスアンプであって、
前記接続手段は、対応のブロックのビット線対とセンスアンプを接続するトランジスタである、請求項3に記載の半導体記憶装置。 - 前記第1の信号発生回路の出力信号の活性化レベルは、電源電圧レベルよりも高い昇圧電圧レベルである、請求項1から請求項4までのいずれかに記載の半導体記憶装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219419A JP4471902B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 半導体記憶装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005219419A JP4471902B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 半導体記憶装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP32165695A Division JP3752288B2 (ja) | 1995-12-11 | 1995-12-11 | 半導体記憶装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005327469A JP2005327469A (ja) | 2005-11-24 |
JP4471902B2 true JP4471902B2 (ja) | 2010-06-02 |
Family
ID=35473661
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005219419A Expired - Fee Related JP4471902B2 (ja) | 2005-07-28 | 2005-07-28 | 半導体記憶装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4471902B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101129147B1 (ko) * | 2006-12-15 | 2012-03-27 | 후지쯔 세미컨덕터 가부시키가이샤 | 컴파일드 메모리, asic 칩 및 컴파일드 메모리의 레이아웃 방법 |
-
2005
- 2005-07-28 JP JP2005219419A patent/JP4471902B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005327469A (ja) | 2005-11-24 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4229674B2 (ja) | 半導体記憶装置及びその制御方法 | |
US5970507A (en) | Semiconductor memory device having a refresh-cycle program circuit | |
US7301843B2 (en) | Semiconductor memory device having complete hidden refresh function | |
JP3752288B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6240039B1 (en) | Semiconductor memory device and driving signal generator therefor | |
US7266032B2 (en) | Memory device having low Vpp current consumption | |
KR950009229B1 (ko) | 반도체 기억장치 | |
US7193925B2 (en) | Low power semiconductor memory device | |
JP3889603B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
JP3358030B2 (ja) | 半導体メモリ装置及びその初期化方法 | |
JPH10222977A (ja) | 半導体メモリ装置の隔離ゲート制御方法及び回路 | |
JP2003338180A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP4999287B2 (ja) | スタティック型半導体記憶装置 | |
JP2006031880A (ja) | 強誘電体メモリ | |
JP4471902B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
JPH10154393A (ja) | スタティック型半導体記憶装置 | |
JP2011065732A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6667919B1 (en) | Semiconductor memory device and test method thereof using row compression test mode | |
JPH1145570A (ja) | 半導体記憶装置 | |
JP4137060B2 (ja) | 半導体メモリおよびダイナミックメモリセルの電荷蓄積方法 | |
US11837276B2 (en) | Apparatuses and methods for 1T and 2T memory cell architectures | |
US20230221871A1 (en) | Memory device and operating method thereof | |
JP2003196983A (ja) | 半導体記憶装置 | |
TW201447894A (zh) | 半導體裝置 | |
JP2007299528A (ja) | 半導体装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080905 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20080916 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20081022 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A132 Effective date: 20090512 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100223 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100302 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 3 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130312 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140312 Year of fee payment: 4 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |