JP4470456B2 - 画像形成装置及び画像形成ユニット - Google Patents
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- Control Or Security For Electrophotography (AREA)
Description
(1)平均粒径が0.20μm以下であり、BET比表面積が45m2/g以上。
(2)CuKα特性X線を用いたX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度(2θ±0.2°)7.5°、9.9°、12.5°、16.3°、18.6°、25.1°及び28.3°に回折ピークを有する。
(3)25℃から400℃まで昇温したときの熱重量減少率が2.0〜4.0%。
(i)CuKα特性X線を用いたX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度(2θ±0.2°)7.5°、9.9°、12.5°、16.3°、18.6°、25.1°及び28.3°に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニン、
(ii)CuKα特性X線を用いたX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度(2θ±0.2°)7.6°及び28.2°の位置に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニン、
(iii)一般式(1)で表されるトリスアゾ顔料、
(iv)一般式(2)で表されるトリスアゾ顔料、
(v)一般式(3)で表されるトリスアゾ顔料、
(vi)一般式(4)で表されるトリスアゾ顔料。
遠心分離処理やフィルタリング処理は所望の電子写真感光体特性が得られる条件であれば、いかなる条件でも実施することができるが、必要な電荷発生材料を除去してしまわないように注意する必要がある。
さらにこの電荷発生層を設けるときに用いる塗布方法としては、ブレードコーティング法、ワイヤーバーコーティング法、スプレーコーティング法、浸漬コーティング法、ビードコーティング法、エアーナイフコーティング法、カーテンコーティング法等の通常の方法を用いることができる。
[一般式(I)中、Fは光機能性化合物から誘導される有機基を表し、Dは2価の基を表し、R14は水素原子、アルキル基又は置換若しくは未置換のアリール基を表し、R15は水素原子、アルキル基又は置換若しくは未置換のアリール基を表し、aは1〜3の整数を表し、bは1〜4の整数を表す。]
[式中、R16は水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルキル基若しくは炭素数1〜4のアルコキシ基で置換されたフェニル基、又は未置換のフェニル基、炭素数7〜10のアラルキル基からなる群より選ばれる1種を表し、R17〜R19はそれぞれ水素原子、炭素数1〜4のアルキル基、炭素数1〜4のアルキル基若しくは炭素数1〜4のアルコキシ基で置換されたフェニル基、又は未置換のフェニル基、炭素数7〜10のアラルキル基、ハロゲン原子からなる群より選ばれる1種を表し、Arは置換又は未置換のアリーレン基を表し、Xは一般式(I)中の−D−SiR14 3−a(OR15)aを表し、tは1〜3の整数を表す。]
−(CH2)q− (II−10)
−(CH2CH2O)r− (II−11)
[一般式(III)中、R14、R15、aは一般式(I)中のR14、R15、aと同一の定義内容を表す。Bは、n価の炭化水素基及び−NH−から選ばれる1種又はこれらの2種以上の組み合わせから構成されるn価の基を表し、nは2以上の整数を表す。]
陽イオン交換樹脂:アンバーライト15、アンバーライト200C、アンバーリスト15(以上、ローム・アンド・ハース社製);ダウエックスMWC−1−H、ダウエックス88、ダウエックスHCR−W2(以上、ダウ・ケミカル社製);レバチットSPC−108、レバチットSPC−118(以上、バイエル社製);ダイヤイオンRCP−150H(三菱化成社製);スミカイオンKC−470、デュオライトC26−C、デュオライトC−433、デュオライト−464(以上、住友化学工業社製);ナフィオン−H(デュポン社製)など
陰イオン交換樹脂:アンバーライトIRA−400、アンバーライトIRA−45(以上、ローム・アンド・ハース社製)など
プロトン酸基を含有する基が表面に結合されている無機固体:Zr(O3 PCH2 CH2 SO3 H)2 ,Th(O3 PCH2 CH2 COOH)2 など
プロトン酸基を含有するポリオルガノシロキサン:スルホン酸基を有するポリオルガノシロキサンなど
ヘテロポリ酸:コバルトタングステン酸、リンモリブデン酸など
イソポリ酸:ニオブ酸、タンタル酸、モリブデン酸など
単元系金属酸化物:シリカゲル、アルミナ、クロミア、ジルコニア、CaO、MgOなど
複合系金属酸化物:シリカ−アルミナ、シリカ−マグネシア、シリカ−ジルコニア、ゼオライト類など
粘土鉱物:酸性白土、活性白土、モンモリロナイト、カオリナイトなど
金属硫酸塩:LiSO4 ,MgSO4 など
金属リン酸塩:リン酸ジルコニア、リン酸ランタンなど
金属硝酸塩:LiNO3 ,Mn(NO3 )2 など
アミノ基を含有する基が表面に結合されている無機固体:シリカゲル上にアミノプロピルトリエトキシシランを反応させて得られた固体など
アミノ基を含有するポリオルガノシロキサン:アミノ変性シリコーン樹脂など。
ED管アルミニウム基体の外周面をD50が30μmの球状のアルミナ微粉末を用いて液体ホーニング処理し、中心線平均粗さRaが0.18μmに粗面化された30mmφの導電性基体を得た。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、下記式(13)で表され、CuKα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角(2θ±0.2°)において少なくとも7.4°、16.6°、25.5°、28.3°の位置に回折ピークを有するクロロガリウムフタロシアニンを用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、下記式(14)で表されるトリスアゾ系顔料を用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、下記式(15)で表されるトリスアゾ系顔料を用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりにCuKα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角(2θ±0.2°)において、少なくとも27.3°の位置に回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニンを用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりにx型無金属フタロシアニンを用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
先ず、直径30mm、長さ340mm、肉厚1mmのアルミニウム基体を用意した。次に、酸化亜鉛(平均粒子径70nm、テイカ社製試作品)100重量部及びトルエン500重量部の混合物を攪拌し、シランカップリング剤(KBM603、信越化学社製)1.5重量部を添加してさらに2時間攪拌した。その後、トルエンを減圧蒸留にて留去し、150℃で2時間焼き付けを行った。
電荷発生物質として、参考例5におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、上記式(13)で表され、CuKα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角(2θ±0.2°)において少なくとも7.4°、16.6°、25.5°、28.3°の位置に回折ピークを有するクロロガリウムフタロシアニンを用いたこと以外は参考例5と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例5におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、上記式(14)で表されるトリスアゾ系顔料を用いたこと以外は参考例5と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例5におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、下記式(15)で表されるトリスアゾ系顔料を用いたこと以外は参考例5と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりにCuKα線を用いたX線回折スペクトルのブラッグ角(2θ±0.2°)において、少なくとも27.3°の位置に回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニンを用いたこと以外は参考例5と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
電荷発生物質として、参考例5におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりにx型無金属フタロシアニンを用いたこと以外は参考例5と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。
参考例1〜8及び比較例1〜4の各画像形成装置について、22℃、50%RHの条件において感光体の回転方向に発生する筋状濃度ムラが発生しないように、SLEDの各発光点の露光量の調整を行った。次に10℃、15%RHでプリント試験を行い、筋状濃度ムラの発生の有無を調べた。得られた結果を表2に示す。表2中、Aは筋状濃度ムラの発生が全くないか極軽微なもの、Bは筋状濃度ムラの発生が軽微なもの、Cは筋状濃度ムラの発生が顕著なものを意味する。
(合成例1)
1,3−ジイミノイソインドリン30重量部及び三塩化ガリウム9.1重量部をジメチルスルホキシド230重量部に加え、160℃で6時間攪拌しながら反応させて赤紫色結晶を得た。得られた結晶をジメチルスルホキシドで洗浄した後、イオン交換水で洗浄し、乾燥してI型クロロガリウムフタロシアニンの粗結晶28重量部を得た。
使用測定器:理学電機社製X線回折装置Miniflex
X線管球:Cu
管電流:15mA
スキャン速度:5.0deg./min
サンプリング間隔:0.02deg.
スタート角度(2θ):5deg.
ストップ角度(2θ):35deg.
ステップ角度(2θ):0.02deg.
合成例1で得られたI型ヒドロキシガリウムフタロシアニン6重量部を、N,N−ジメチルホルムアミド90重量部及び外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部とともに、ガラス製ボールミルを使用して25℃で48時間湿式粉砕処理した。このとき、結晶変換の進行度合いを湿式粉砕処理液の吸収波長測定によりモニターし、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)が827nmであることを確認した。
湿式粉砕処理時間を48時間から96時間に代えた以外は製造例1と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は825nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトルを図17に、分光吸収スペクトルを図22に、透過型電子顕微鏡写真を図29に、それぞれ示す。
湿式粉砕処理時間を48時間から192時間に代えた以外は製造例1と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は819であった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトルを図18に、分光吸収スペクトルを図23に、透過型電子顕微鏡写真を図30に、それぞれ示す。
外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径2.0mmのガラス製球形状メディア350重量部を用いた以外は製造例1と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は827nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径0.3mmのガラス製球形状メディア400重量部を用い、N,N−ジメチルホルムアミドの使用量を90重量部から120重量部に代えた以外は製造例1と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は826nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
製造例1と同様にして湿式粉砕処理を行った後、得られた結晶をポアサイズ1.0μmのセラミックフィルター(UF巻セラミックフィルター、日本ガイシ社製)上で、アセトン300重量部を用いて洗浄した。次いで、光を遮断した乾燥機(DFB型、入江商会社製)を用いて、80℃で24時間加熱乾燥した後、光を遮断した真空乾燥機(DP61型、ヤマト科学社製)を用いて、110℃、0.01mmHgの減圧下で2時間加熱乾燥し、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は823nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径1.0mmのガラス製球形状メディア350重量部を用いた以外は製造例1と同様にして湿式粉砕処理を行った後、得られた結晶をポアサイズ1.0μmのセラミックフィルター上で、アセトン300重量部を用いて洗浄した。次いで、光を遮断した乾燥機(DFB型、入江商会社製)を用いて、80℃で24時間加熱乾燥した後、光を遮断した真空乾燥機(DP61型、ヤマト科学社製)を用いて、110℃、−0.98kPaの減圧下で2時間加熱乾燥し、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は818nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンの分光吸収スペクトルを図24に示す。また、得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトルは、製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
光を遮断した真空乾燥機による加熱乾燥の温度を110℃から150℃に代えた以外は製造例7と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は821nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
外径1.0mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径3.0mmのガラス製球形状メディア350重量部を用いた以外は製造例7と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は835nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
光を遮断した真空乾燥機による加熱乾燥の温度を110℃から220℃に代えた以外は製造例7と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は823nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例1とほぼ同様のスペクトルを示した。
1,3?ジイミノイソインドリン30重量部および三塩化ガリウム9.1重量部をキノリン230重量部中に添加し、200℃において3時間反応させた後、生成物を濾別した。次いで、この生成物をアセトン、メタノールで洗浄し、得られた湿ケーキを乾燥してクロロガリウムフタロシアニン結晶28重量部を得た。このクロロガリウムフタロシアニン結晶3重量部を濃硫酸(濃度97%)60重量部に0℃にて溶解した溶液を、5℃の蒸留水450重量部中に滴下してヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶を析出させた。この結晶を蒸留水、希アンモニア水で洗浄した後、乾燥して、ヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶2.5重量部を得た。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニン結晶を自動乳鉢にて5.5時間粉砕し、非晶質のヒドロキシガリウムフタロシアニンを得た。
合成例1で得られたI型ヒドロキシガリウムフタロシアニン5重量部を、N,N−ジメチルホルムアミド80重量部とともに、撹拌装置を有するガラス製撹拌槽を使用して25℃で48時間撹拌した。撹拌後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は846nmであった。
外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径5.0mmのガラス製球形状メディア350重量部を用いた以外は製造例1と同様にして、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は845nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトルを図20に、分光吸収スペクトルを図26に、透過型電子顕微鏡写真を図32に、それぞれ示す。
外径0.9mmのガラス製球形状メディア350重量部に代えて外径5.0mmのガラス製球形状メディア350重量部を用いた以外は製造例1と同様にして湿式粉砕処理を行った後、得られた結晶をポアサイズ1.0μmのセラミックフィルター上で、アセトン300重量部を用いて洗浄した。次いで、光を遮断した乾燥機(DFB型、入江商会社製)を用いて、60℃で24時間加熱乾燥し、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。なお、湿式粉砕処理において結晶変換の進行度合いをモニターしたときの、湿式粉砕処理後のヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は842nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトル、及び分光吸収スペクトルは、それぞれ製造例13とほぼ同様のスペクトルを示した。
合成例1で得られたI型ヒドロキシガリウムフタロシアニン5重量部を、N,N−ジメチルホルムアミド80重量部とともに、撹拌装置を有するガラス製撹拌槽を使用して25℃で48時間撹拌して結晶を得た。次いで、得られた結晶を、アセトンを用いて洗浄し、光を遮断した乾燥機を用いて80℃で24時間加熱乾燥して、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たすヒドロキシガリウムフタロシアニン5.5重量部を得た。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンの600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおける最大ピーク波長(λMAX)は858nmであった。得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンの分光吸収スペクトルを図27に示す。また、得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンのX線回折スペクトルは、製造例13とほぼ同様のスペクトルを示した。
製造例11と同一条件で結晶変換処理を24時間行った後、メタノールで洗浄し、乾燥して、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たす目的のヒドロキシガリウムフタロシアニン0.4重量部を得た。
製造例11と同一条件で結晶変換処理を48時間行った後、メタノールで洗浄し、乾燥して、製造例1と同様のX線回折スペクトルにおける回折ピークの条件を満たす目的のヒドロキシガリウムフタロシアニン0.4重量部を得た。
電荷発生物質として、参考例1におけるヒドロキシガリウムフタロシアニンの代わりに、製造例1〜17で得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンを用いたこと以外は参考例1と同様にして、電子写真感光体を作製し、さらに画像形成装置を作製した。なお、製造例1〜17で得られたヒドロキシガリウムフタロシアニンを用いたものが、それぞれ実施例1〜11及び参考例9〜14に該当する。
実施例1〜11及び参考例9〜14の各画像形成装置について、22℃、50%RHの条件において感光体の回転方向に発生する筋状濃度ムラが発生しないように、SLEDの各発光点の露光量の調整を行った。次に10℃、15%RHでプリント試験を行い、筋状濃度ムラの発生の有無を調べた。その結果、実施例1〜11及び参考例9〜14の全てにおいて、筋状濃度ムラの発生が全くないか極軽微であった。しかし、分光吸収スペクトルが、810〜839nmに吸収極大を有するヒドロキシガリウムフタロシアニンを用いた電子写真感光体は、優れた電子写真特性を有し、分散性が良好で、細線の太りや細り、かぶりなどの現象を生じることなく良好な画質が得られたのに対して、840nm以上に吸収極大を有するヒドロキシガリウムフタロシアニンを用いた電子写真感光体は、暗減衰や帯電性などの電気特性に問題があり、電荷発生層における電荷発生材料の分散性が不十分となりやすく、その結果、電子写真画像形成装置においてかぶりが生じやすかった。
Claims (8)
- 導電性支持体及び該支持体上に配置された感光層を備える電子写真感光体と、前記電子写真感光体を帯電させるための帯電手段と、前記電子写真感光体上に静電潜像を形成するための露光手段と、前記電子写真感光体上に形成された静電潜像をトナーにより現像してトナー像を形成するための現像手段と、前記トナー像を被転写体に転写するための転写手段と、を備える画像形成装置であって、
前記露光手段は、複数の自己走査型LEDが配列した発光素子アレイであり、
前記感光層は、電荷発生材料として、600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおいて、810〜839nmの範囲に最大ピーク波長を有するヒドロキシガリウムフタロシアニンを含有する、画像形成装置。 - 前記露光手段は、複数の自己走査型LEDを備える発光素子ユニットを、隣接する前記発光素子ユニットが一部重なるように配列した発光素子アレイである、請求項1記載の画像形成装置。
- 前記ヒドロキシガリウムフタロシアニンは、CuKα特性X線を用いたX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度(2θ±0.2°)7.6°及び28.2°の位置に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニンである、請求項1又は2記載の画像形成装置。
- 前記ヒドロキシガリウムフタロシアニンは、平均粒径が0.20μm以下であり、BET比表面積が45m2/g以上のヒドロキシガリウムフタロシアニンである、請求項1〜3のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記ヒドロキシガリウムフタロシアニンは、CuKα特性X線を用いたX線回折スペクトルにおいて、ブラッグ角度(2θ±0.2°)7.5°、9.9°、12.5°、16.3°、18.6°、25.1°及び28.3°に回折ピークを有するヒドロキシガリウムフタロシアニンである、請求項1〜4のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記ヒドロキシガリウムフタロシアニンは、25℃から400℃まで昇温したときの熱重量減少率が2.0〜4.0%のヒドロキシガリウムフタロシアニンである、請求項1〜5のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 前記感光層は、前記導電性支持体上に形成された電荷発生層と該電荷発生層上に形成された電荷輸送層とからなり、前記電荷発生層は前記ヒドロキシガリウムフタロシアニンを含有する、請求項1〜6のいずれか一項に記載の画像形成装置。
- 導電性支持体及び該支持体上に配置された感光層を備える電子写真感光体と、
前記電子写真感光体を帯電させるための帯電手段、前記電子写真感光体上に静電潜像を形成するための露光手段、前記電子写真感光体上に形成された静電潜像をトナーにより現像してトナー像を形成するための現像手段、及び前記電子写真感光体上に残存したトナーを除去するためのクリーニング手段からなる群より選ばれる少なくとも1種と、
を備える画像形成ユニットであって、
前記露光手段は、複数の自己走査型LEDが配列した発光素子アレイであり、
前記感光層は、電荷発生材料として、600〜900nmの波長域での分光吸収スペクトルにおいて、810〜839nmの範囲に最大ピーク波長を有するヒドロキシガリウムフタロシアニンを含有する、画像形成ユニット。
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