JP4456974B2 - 真空処理装置 - Google Patents
真空処理装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4456974B2 JP4456974B2 JP2004300114A JP2004300114A JP4456974B2 JP 4456974 B2 JP4456974 B2 JP 4456974B2 JP 2004300114 A JP2004300114 A JP 2004300114A JP 2004300114 A JP2004300114 A JP 2004300114A JP 4456974 B2 JP4456974 B2 JP 4456974B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- substrate
- vacuum processing
- processing apparatus
- vacuum
- chamber
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Drying Of Semiconductors (AREA)
- Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
Description
この特許文献1記載の真空処理装置の特徴について、図9を用いて簡単に説明する。
図9は第1の従来例の真空処理装置の概略構成を示す平面図で、特許文献1の図10に相当するものである。
図10は、従来の真空処理装置の主要構成を示す平面図である。
図11は、基板キャリアの構造を示す外観斜視図である。
また、同図において、150は真空排気装置である。
更に、従来の真空処理装置100は、最後部(図中右端)の第3の真空処理室134が、基板キャリア140を往路から復路に、この2つの搬送経路160、162に対して横方向に移動させて移載する移載機構(図示せず)を備えている。
先ず、基板着脱部110では、移載ロボット(図示せず)が、基板着脱部110内の所定位置にストックされた未処理基板112を取り込み、基板キャリア140に移載する。
基板着脱部110で、基板キャリア140に基板112が載置されると、この基板キャリア140は、ロード/アンロード室(L/UL室)120に搬入される。
基板キャリア140は、往路160を搬送されながら、第1乃至第3の真空処理室130、132、134において、載置された基板が加熱や成膜等の真空処理が施される。
即ち、この従来例は、真空中で基板112がL/UL室120に帰還してくる真空リターン方式である点に特徴を有している。
従来の真空処理装置では、基板キャリアが大気側と真空側とを往復し、大気に晒されるため、基板キャリアが真空側に水分を持ち込み、クライオポンプ等の水素に対する排気能力に優れた排気系と、十分な排気時間が不可欠で、コストの増大、タクトタイムが長くなって生産効率が低減するという問題を備えていた。
この対策として、移載ロボットを2台配置すると、真空処理装置のコストが過大になるという新たな問題が発生する。
(1)請求項1に記載したように構成すると、真空側基板キャリアは大気に晒されることはないので、排気系によるコストが増大するという問題や、タクトタイムが長くなって生産効率が低減するという問題を回避することができる。
(3)また、高価な移載ロボットの複数台分の働きを、桁違いに廉価な基板キャリアが行うことで、真空処理装置のコストが過大になる問題も解決できる。
(6)また、基板の受け渡しの際に、基板を一旦基板キャリアから浮き上がらせることができるので、基板受け渡しの安定度が一層向上する。
第1の実施の形態:
先ず、本発明の真空処理装置の第1の実施の形態を図1乃至図7を用いて説明する。
図2は、本実施の形態の真空処理装置の主要部を示す要部平面図である。
図3は、本実施の形態の真空処理装置に用いるL/UL室の外観構成を示す斜視図である。
図4は、本実施の形態の真空処理装置に用いる基板受け渡し機構の要部を示す一部裁断斜視図である。
図6は、本実施の形態の真空処理装置に用いる基板受け渡し機構の主要構成を示す一部裁断斜視図である。
図7は、本実施の形態の真空処理装置に用いる基板受け渡し機構による基板の受け渡し工程を説明するための一部拡大側面図である。
図1に示すように、本実施の形態の真空処理装置10は、従来の真空処理装置100同様に、基板着脱部20、L/UL室30、複数(図示のものでは3)の真空処理室130、132、134と、基板16の移載ロボット114とを備えている。
また、同図において、150は真空排気装置である。
図2には、図1において、基板着脱部20とL/UL室30近辺の主要構成が図示されている。
本実施の形態の真空処理装置10の構成上の特徴は、図2に示すように、第1に、大気側の基板搬送を行う大気側基板キャリア12と、真空処理装置の真空側の基板搬送を行う真空側基板キャリア14を有していることである。
また、第2に、U/UL室30が、大気側基板キャリア12及び真空側基板キャリア14相互間で、基板16を受け渡しする基板受け渡し機構40(図3参照)を具備していることである。
なお、真空処理室130、132、134の構成については、従来の真空処理装置100と同様なのでその説明は省略する。
なお、以下、大気側基板キャリア12と真空側基板キャリア14間での基板16の受け渡しを中心に説明し、真空処理室130、132、134については、従来の真空処理装置100と同様の真空処理が行われるので、その基本動作に関する説明は省略する
図1に示すように、この移載の方法は、基板着脱部20において、大気側基板キャリア12が水平に倒れると、この状態で基板着脱部20内に横積みされている基板16を、移載ロボット114により大気側基板キャリア12に移載し、移載後は大気側基板キャリア12が垂直に立ち上がり、大気側基板キャリア12は、略直立した状態で基板16を搬送する(図11参照)。
一方、本実施の形態の真空処理装置10では、この大気側基板キャリア12は、L/UL室30に入室すると、L/UL室30に設けられている基板受け渡し機構40(図3参照)に未処理基板を受け渡し、その後、L/UL室30から退室する。
即ち、図1の矢印で示すように、大気側基板キャリア12は、基板着脱部20とL/UL室30との間で往復し、真空処理室130、132、134には入室しない。
なお、基板受け渡し機構40の基本構成と動作については、説明の都合上、後に詳細に説明する。
真空側基板キャリア14は、未処理基板16を受け渡されると、真空処理室130に退出し、上述した従来の真空処理装置100同様に、各真空処理室130、132、134に基板16を搬送し、基板16が成膜等の真空処理が施される。
大気側基板キャリア12は、この処理済み基板16を基板着脱部20まで搬送して、移載ロボット114により処理基板16が取り外され、処理基板16は所定のポジションに移載される。
本実施の形態の基板受け渡し機構40は、図3に示すように、大別すると、L/UL室30の側面に垂直に挿入されるロッド50と、L/UL室30側面に取り付けられる2つのプレート42、44から構成される。
内側軸位置制御プレート42及び外側軸位置制御プレート44は、図3に示すように、プレート駆動モータ46、47とボールネジ48の組み合わせで、図4の矢印に示すように、L/UL室30の側面に対して平行を保持しながら垂直方向に位置制御され、これに連動して、複数のロッド50の内側軸52及び外側軸54は位置制御される。
なお、図4において、56はベローズ、57はフェローシールである。
また、30bは、L/UL室30のチャンバー側壁である。
なお、以下、説明の便宜上、大気側基板キャリア12と真空側基板キャリア14については、基板キャリア12(14)と総称する。
図7において、(A)は、基板受け渡し機構40の下側に配置されるロッド50の外側軸54に取り付けたピン53と基板キャリア12(14)との関係を示す工程図であり、(B)は、同じく、ロッド50の内側軸52及び外側軸54と、基板16との関係を示す工程図である。
また、(C)は、同じく、ロッド50の内側軸52の断面カム状の軸断面の基本動作を示す工程図である。
この状態では、基板16は、基板キャリア12(14)の基板保持トレイに保持され、内側軸52及び外側軸54も基板キャリア12(14)の基板16から離れた位置に位置制御されている。
また、外側軸54のピン53は、基板キャリア12(14)のクランプ12a(14a)に接近する(図5参照)
すると、カム状に形成された内側軸52により、基板16が基板キャリア12(14)のクランプ12a(14a)より浮き上がらせると同時に、基板16は、フック51の内側に取り込まれる。
この状態では、基板キャリア12(14)のクランプ12a(14a)は、バネ12b(14b)の弾性力により、元の位置に復元している。
このとき、基板16が、基板受け渡し機構40に取り込まれた状態を図5に示す。
図6に示されるように、基板16の下側のロッド50の内側軸52により基板16を下方より支持すると共に、両サイド及び上側の外側軸54のピン53と各内側軸52のフック51によりタイトに固定保持される。
従って、本実施の形態の基板受け渡し機構40を用いると、安定に基板16を受け渡しすることができる。
次に、本発明の真空処理装置の第2の実施の形態を図8を用いて説明する。
図8は、本発明の真空処理装置の第2の実施の形態の主要部の概略を説明する平面図である。
なお、複数の真空処理室及び真空排気装置に関しては、従来の真空処理装置100と同様なのでその図示は省略している。
また、基板着脱部20、L/UL室30及び基板受け渡し機構については、第1の実施の形態と同様である。
本実施の形態の真空処理装置60では、複数(図示のものは2)12A、12Bの内の一つの大気側基板キャリア12A(B)は、基板着脱部20において、未処理基板を移載ロボットから移載され、大気開放されているL/UL室30に入室し、第1の実施の形態のもの同様の手順で、L/UL室30に取り付けられた基板受け渡し機構(図示せず)を介して、大気側基板キャリア12A(B)から、真空側基板キャリア(図示せず)の相互間で基板の受け渡しが行われる。
例えば、上記各実施の形態の真空処理装置では、L/UL室に基板受け渡し機構を備えた構成のもので説明したが、本発明の特徴は、基板キャリアを大気側と真空側に使い分けることにより、真空側基板キャリアが大気に晒されることを防止することであるので、必ずしも、基板受け渡し機構は、L/UL室に取り付けなければならないものではない。
また、基板受け渡し機構についても、基板を安定かつ確実に受け渡されるものであれば良いので、上述したものに限定されない。
12、12A、12B:大気側基板キャリア
14:真空側基板キャリア
20:基板着脱部
30:L/UL室(予備室)
40:基板受け渡し機構
42:内側軸位置制御プレート
44:外側軸位置制御プレート
50:ロッド
51:フック
52:内側軸
53:ピン
54:外側軸
112:基板
114:移載ロボット
130、132、134:真空処理室
Claims (5)
- 基板を真空処理する真空処理室と、前記基板を載置して搬送する基板キャリアと、前記基板を大気側と真空側との間で搬入、搬出すための予備室とを具備した真空処理装置において、
前記真空処理装置の大気側の基板搬送を行う大気側基板キャリアと、
前記真空処理装置の真空側の基板搬送を行う真空側基板キャリアと、
前記大気側基板キャリア及び前記真空側基板キャリア相互間で、前記基板を受け渡しする基板受け渡し機構と、
前記大気側基板キャリアの基板を移載する移載ロボットを設置した基板着脱部と、
前記大気側基板キャリアの、前記基板着脱部と前記予備室間での往復経路と、
を備えたことを特徴とする真空処理装置。 - 上記大気側基板キャリアを上記予備室の基板入れ替え口の前面に2以上配置可能とされていることを特徴とする請求項1記載の真空処理装置。
- 上記予備室が上記基板受け渡し機構を具備していることを特徴とする請求項1又は2に記載の真空処理装置。
- 上記予備室が具備している基板受け渡し機構は、
先端部に、前記基板受け渡し時に該基板を固定保持するフックを有するとともに、回転自在な断面カム状の内側軸と、先端部に、前記基板受け渡し時に前記基板キャリアのクランプを引き倒すピンを有する外側軸と、前記内側軸の回転を制御するロータリーアクチュエーターとを備えた1又は2以上のロッドと、
前記内側軸の位置制御を行う内側軸位置制御プレートと、
前記外側軸の位置制御を行う外側軸位置制御プレートと、を備え、
前記外側軸位置制御プレートにより前記外側軸が前記基板側に送り込まれると、前記外側軸の先端に取り付けられたピンが前記基板キャリアのクランプを引き倒し、
同時に、前記ロータリーアクチュエーターにより内側軸を180度回転させ、前記カム状に形成された内側軸により、前記基板が前記基板キャリアのクランプより浮き上がらせると同時に、前記基板を前記フックの内側に取り込み、
前記ロッドの内側軸及び外側軸で前記基板を挟持して、基板を受け渡しするようにしたことを特徴とする請求項3に記載の真空処理装置。 - 上記真空処理装置は、基板を直立させた状態で真空処理を行う縦型方式であることを特徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の真空処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004300114A JP4456974B2 (ja) | 2004-10-14 | 2004-10-14 | 真空処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004300114A JP4456974B2 (ja) | 2004-10-14 | 2004-10-14 | 真空処理装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006114675A JP2006114675A (ja) | 2006-04-27 |
JP4456974B2 true JP4456974B2 (ja) | 2010-04-28 |
Family
ID=36382945
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004300114A Expired - Fee Related JP4456974B2 (ja) | 2004-10-14 | 2004-10-14 | 真空処理装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4456974B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101663744B (zh) | 2007-04-23 | 2012-08-15 | 株式会社爱发科 | 支撑部件以及托架和支撑方法 |
JP5401210B2 (ja) * | 2009-08-20 | 2014-01-29 | 株式会社テセック | ウェーハフレームの搬送装置および搬送方法 |
JP5731838B2 (ja) * | 2010-02-10 | 2015-06-10 | キヤノンアネルバ株式会社 | トレイ式基板搬送システム、成膜方法及び電子装置の製造方法 |
KR101209654B1 (ko) * | 2010-08-03 | 2012-12-07 | 주식회사 에스에프에이 | 트레이 틸트 장치 |
JP6610980B2 (ja) | 2017-06-08 | 2019-11-27 | 株式会社アルバック | 基板ガイド、キャリア |
-
2004
- 2004-10-14 JP JP2004300114A patent/JP4456974B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006114675A (ja) | 2006-04-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4888917B2 (ja) | 縦型基板搬送装置および成膜装置 | |
KR100676029B1 (ko) | 진공 처리 시스템 | |
JP2001135704A (ja) | 基板処理装置及び基板搬送用トレイの搬送制御方法 | |
JP2009105081A (ja) | 基板処理装置 | |
KR20040105729A (ko) | 반도체 처리 시스템에 있어서의 지지 기구 | |
JP2009146932A (ja) | 基板搬送装置、基板搬送方法及び真空処理装置 | |
JP3629371B2 (ja) | 成膜装置および成膜方法 | |
JP2006352010A (ja) | 真空処理装置およびその運転方法 | |
TW201342518A (zh) | 真空處理裝置及真空處理裝置之運轉方法 | |
JP2009135433A (ja) | 基板処理装置 | |
JP4472005B2 (ja) | 真空処理装置及び真空処理方法 | |
JP5192719B2 (ja) | 加熱装置および基板処理装置 | |
TWI388026B (zh) | 處理基板之裝置和方法 | |
JP4456974B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JP5596853B2 (ja) | 成膜装置 | |
JP2005340425A (ja) | 真空処理装置 | |
JP2012195427A (ja) | 基板処理装置及び基板処理方法 | |
JP4770035B2 (ja) | 処理システム及び処理システムの被処理体の搬送方法 | |
JP2002237507A (ja) | 処理システム及び処理システムの被処理体の搬送方法 | |
KR20070015759A (ko) | 평판표시소자 제조장치 | |
JP4754791B2 (ja) | 真空処理装置 | |
JP5057005B2 (ja) | 真空処理装置 | |
CN113451186A (zh) | 传送机器人及包括此的基板处理系统 | |
KR20110016639A (ko) | 기판처리장치 | |
WO2014030432A1 (ja) | 基板搬送装置および基板処理システム |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Effective date: 20070815 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20070912 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
A977 | Report on retrieval |
Effective date: 20091124 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Effective date: 20091126 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 |
|
A521 | Written amendment |
Effective date: 20100112 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Effective date: 20100127 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Effective date: 20100208 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 |
|
FPAY | Renewal fee payment (prs date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130212 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent (=grant) or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |