JP4445315B2 - 基板処理方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態に係る基板処理装置の概略構成を模式的に示す図である。また、図2は、本実施形態の基板処理装置の薬液吐出/吸引機構の概略構成を模式的に示す図である。
図4は、本発明の第2の実施形態に係る基板処理装置を用いた基板処理方法を説明するための図である。ここでは、薬液が現像液の場合、つまり、現像処理方法の場合について説明する。なお、図1−図3と対応する部分には図1−図3と同一符号を付してあり、詳細な説明は省略する。また、以下の図において、既出の図と対応する部分には既出の図と同一符号を付してあり、詳細な説明は省略する。
図5は本発明の第3の実施形態に係る基板処理装置のスキャンノズルを示す図であり、図5(a)はスキャンノズルの概略構成を模式的に示す図、図5(b)はスキャンノズルの斜視図である。
図7は、本発明の第4の実施形態に係る基板処理方法を説明するための図であり、より詳細には、第3の実施形態における現像液吐出、液吸引およびリンス液吐出の動作方法を説明するための図である。
図8は、本発明の第5の実施形態に係る基板処理装置の概略構成を模式的に示す図である。本実施形態の基板処理装置が第3の実施形態の基板処理装置と異なる点は、スキャンノズル30SN内に振動子13が内蔵されていることにある。
被処理基板の周辺に前記被処理基板の被処理面と略面一の補助板を配置し、被処理面が略水平に保持された被処理基板に対して薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口から薬液を前記基板に対して連続的に吐出するとともに、前記薬液吐出/吸引部内の薬液吸引開口にて前記被処理面上の薬液を連続的に吸引しつつ、前記薬液吐出/吸引部と前記被処理基板とを相対的に水平移動させながら前記被処理面を薬液処理する基板処理方法であって、
前記被処理基板上及び補助板上に液盛りを行う第一の工程と、前記第一の工程で形成された液膜に前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口及び薬液吸引開口が接触した状態で薬液吐出/吸引動作を行う第二の工程と、前記第二の工程後、前記被処理基板上及び補助板上に形成された液膜に前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口及び薬液吸引開口が接触し、かつ前記被処理面と前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口及び薬液吸引開口との距離が前記第二の工程における距離に比べ近接した状態で薬液吐出/吸引動作を行う第三の工程とを含むことを特徴とする基板処理方法。
前記第二の工程における薬液吐出/吸引動作は、前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口/薬液吸引開口が前記被処理面の直上方に配置されていない状態で行うことを特徴とする付記1記載の基板処理方法。
被処理基板の周辺に前記被処理基板の被処理面と略面一の補助板を配置し、被処理面が略水平に保持された被処理基板に対して薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口から薬液を前記基板に対して連続的に吐出するとともに、前記薬液吐出/吸引部内の薬液吸引開口にて前記被処理面上の薬液を連続的に吸引しつつ、前記薬液吐出/吸引部と前記被処理基板とを相対的に水平移動させながら前記被処理面を薬液処理する基板処理方法であって、
前記被処理基板上及び補助板上に液盛りを行う第一の工程と、前記薬液吐出開口及び薬液吸引開口で囲まれた領域よりも広い凹部を設けた前記補助板上に、前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口及び薬液吸引開口で囲まれた領域が存在する状態で薬液吐出/吸引動作を行う第二の工程と、前記略水平に保持された被処理基板に対して前記薬液吐出/吸引部と前記被処理基板とを相対的に水平移動させながら前記被処理面を薬液処理する第三の工程とを含むことを特徴とする基板処理方法。
被処理基板を略水平に保持する基板保持機構と、前記被処理基板の周辺に前記被処理基板の被処理面と略面一の面を持つ補助板と、前記被処理基板の被処理面に対向配置され、前記被処理基板に対して薬液を吐出するための薬液吐出開口と、被処理基板上の薬液を吸引するための薬液吸引開口とを具備した薬液吐出/吸引部を有する薬液吐出/吸引機構とを具備する基板処理装置において、前記補助板に前記薬液吐出開口及び薬液吸引開口で囲まれた領域よりも広い凹部を具備してなることを特徴とする基板処理装置。
被処理面が略水平に保持された被処理基板に対して薬液吐出/吸引部内の少なくとも1つ以上の薬液吐出開口から薬液を前記基板に対して連続的に吐出するとともに、前記薬液吐出/吸引部内の少なくとも1つ以上の薬液吸引開口にて前記被処理面上の薬液を連続的に吸引しつつ、前記薬液吐出/吸引部と前記被処理基板とを相対的に水平移動させながら前記被処理面を薬液処理する基板処理方法であって、
前記被処理基板上及び補助板上に液盛りを行う第一の工程と、前記第一の工程で形成された液膜に前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口及び薬液吸引開口が接触した状態で薬液吐出/吸引動作を行う第二の工程と、薬液吐出開口を透過可能な光で照射し、前記薬液吐出開口を透過あるいは前記薬液吐出開口内で散乱した光を受光する第三の工程と、前記第三の工程における受光量と予め設定された閾値との大小を比較することにより、前記薬液吐出開口内に気泡が存在するか否かを判定する第四の工程と、前記気泡が存在しないと判定された時点以降で薬液吐出/吸引動作を行う第五の工程とを含むことを特徴とする基板処理方法。
前記請求項1記載の第二の工程において、薬液吐出/吸引部の薬液吐出開口、及び前記薬液吐出開口を挟む左右の領域における液体の圧力のバランスを変えることを特徴とする基板処理方法。
付記5記載の第二の工程において、薬液吐出/吸引部の薬液吐出開口、及び前記薬液吐出開口に隣接するどちらか一方の薬液吸引開口において、吐出/吸引動作を行うことを特徴とする基板処理方法。
付記5記載の第二の工程において、薬液吐出/吸引開口は前記被処理基板と前記薬液吐出/吸引部の相対的な水平移動方向側から、第一の薬液吐出開口、薬液吸引開口、第二の薬液吐出開口、薬液吸引開口、第三の薬液吐出開口の順に配置され、前記2つの薬液吸引開口のうち一方の薬液吸引開口と第一、第二、第三の薬液吐出開口において吸引/吐出動作を行う工程と、前記薬液吸引開口とは別のもう一方の薬液吸引開口と第一、第二、第三の薬液吐出開口において吸引/吐出動作を行う工程と、すべての薬液吐出開口、薬液吸引開口において吐出/吸引動作を行う工程と、前記記載の工程の組み合わせによる吐出/吸引動作を行うことを特徴とする基板処理方法。
付記5記載の第二の工程において、薬液吐出/吸引部或いは薬液を振動させながら薬液吐出/吸引動作を行うことを特徴とする基板処理方法。
前記付記5乃至9のいずれかに記載の第二の工程における薬液吐出/吸引動作は、前記薬液吐出/吸引部内の薬液吐出開口/薬液吸引開口が前記被処理面の直上方に配置されていない状態で行うことを特徴とする基板処理方法。
被処理基板を略水平に保持する基板保持機構と、前記被処理基板の被処理面に対向配置され、前記被処理基板に対して薬液を吐出するための薬液吐出開口と、被処理基板上の薬液を吸引するための薬液吸引開口とを具備した薬液吐出/吸引部を有する薬液吐出/吸引機構とを具備する基板処理装置において、前記薬液吐出開口内を長手方向に平行に照射可能な光照射機構と前記光照射機構より照射された光を受光する受光機構と、前記受光機構で受光した光量及び光量閾値から前記薬液吐出開口内に気泡が存在するか否かを判定する機構とを具備してなることを特徴とする基板処理装置。
被処理基板を略水平に保持する基板保持機構と、前記被処理基板の被処理面に対向配置され、前記被処理基板に対して薬液を吐出するための薬液吐出開口と、被処理基板上の薬液を吸引するための薬液吸引開口とを具備した薬液吐出/吸引部を有する薬液吐出/吸引機構とを具備する基板処理装置において、
薬液吐出/吸引部或いは薬液を振動させる機構を具備してなることを特徴とする基板処理装置。
Claims (7)
- 第1の主面を有する被処理基板を保持するための基板保持機構と、
第1の処理液を吐出するための処理液吐出開口と、前記第1の処理液を含む処理液を吸引するための処理液吸引開口とを備えた処理液吐出/吸引機構と、
第2の主面を有し、該第2の主面と前記第1の主面とが略面一になるように、前記被処理基板の周辺に配置される補助板とを具備してなる基板処理装置を用いた基板処理方法であって、
前記第1の主面と前記第2の主面とが略面一になるように、前記被処理基板の周囲に前記補助板を配置する工程と、
前記第1および第2の主面上に第2の処理液を供給する工程と、
前記第2の主面上で、前記第2の処理液に前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を接触させた状態で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1および第2の処理液を吸引する第1の処理工程と、
第1の処理工程の後に、前記第1の主面上で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1の処理液を吸引しながら、前記処理液吐出/吸引機構を走査する工程であって、前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を前記被処理基板の上面に対向させた状態で前記処理液吐出/吸引機構を走査する第2の処理工程と
を有することを特徴とする基板処理方法。 - 前記第1の処理工程において、前記第1の処理液は、前記第1の主面上に接触しないことを特徴とする請求項1に記載の基板処理方法。
- 前記処理液吐出/吸引機構と前記被処理基板との間の前記第1の主面に垂直な方向の距離は、前記第1の処理工程よりも、前記第2の処理工程の方が小さいことを特徴とする請求項1または2に記載の基板処理方法。
- 前記処理液吐出開口内に気泡が存在する否かを判断する工程をさらに含み、前記処理液吐出開口内に前記気泡が存在しないと判断した後に、前記処理液吐出/吸引機構を走査する工程を行うことを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の基板処理方法。
- 主面を有する被処理基板を保持するための基板保持機構と、
第1の処理液を吐出するための処理液吐出開口と、前記第1の処理液を吸引するための処理液吸引開口とを備えた処理液吐出/吸引機構とを具備してなる基板処理装置を用いた基板処理方法であって、
前記主面上に第2の処理液を供給する工程と、
前記第2の処理液に前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を接触させた状態で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1および第2の処理液を吸引する工程と、
前記処理液吐出開口内に気泡が存在する否かを判断する工程と、
前記処理液吐出開口内に気泡が存在すると判断した場合、前記処理液吐出開口内に気泡が存在しないと判断されるまで、前記第2の処理液に前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を接触させた状態で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1および第2の処理液を吸引する工程と、前記処理液吐出開口内に気泡が存在する否かを判断する工程とを繰り返す工程と、
前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1の処理液を吸引しながら、前記処理液吐出/吸引機構を走査する工程であって、前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を前記被処理基板の上面に対向させた状態で前記処理液吐出/吸引機構を走査する工程と
を有することを特徴とする基板処理方法。 - 前記処理液吸引開口は、前記処理液吐出開口を挟むように設けられた第1および第2の処理液吸引開口を備え、
前記第2の処理液に前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を接触させた状態で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1および第2の処理液を吸引する工程において、前記処理液吐出開口と前記第1の処理液吸引開口との間の液の圧力と、前記処理液吐出開口と前記第2の処理液吸引開口との間の液の圧力との間に圧力差をつけるか、前記第1および第2の処理液吸引開口の一方のみで前記被処理基板上の液を吸引するか、または、前記第1および第2の処理液吸引開口の少なくとも一方の処理液吸引開口で前記被処理基板上の液を吸引することを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の基板処理方法。 - 前記第2の処理液に前記処理液吐出開口および前記処理液吸引開口を接触させた状態で、前記処理液吐出開口から前記第1の処理液を吐出し、かつ、前記処理液吸引開口から前記第1および第2の処理液を吸引する工程は、前記処理液吐出/吸引機構、前記第1および第2の処理液、または、前記処理液吐出/吸引機構ならびに前記第1および第2の処理液を振動させながら行うことを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の基板処理方法。
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