JP4438418B2 - 3次元デ−タ処理方法及び装置 - Google Patents
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Description
12:処理対象抽出装置
14:メモリ
16:x方向タイル分割装置
18F:順方向フィルタ
18B:逆方向フィルタ
20F,20B:メモリ
22:y方向タイル分割装置
24F:順方向フィルタ
24B:逆方向フィルタ
26F,26B:メモリ
28:重複削除装置
30:クリップ装置
32:処理結果メモリ
34:制御装置
Claims (18)
- 3次元点デ−タをx−y面内の第1の方向で複数のタイルに分割する第1のタイル分割ステップと、
当該第1の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを順方向にフィルタ処理することにより地表面を示す第1の点デ−タを抽出する第1のフィルタ処理ステップと、
当該第1の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを逆方向にフィルタ処理することにより地表面を示す第2の点デ−タを抽出する第2のフィルタ処理ステップと、
当該第1の点デ−タと当該第2の点デ−タの少なくとも一方に含まれる点デ−タを抽出する第1の抽出ステップ
とを具備することを特徴とする3次元デ−タ処理方法。 - 更に、
当該3次元点デ−タをx−y面内の第1の方向に直交する第2の方向で複数のタイルに分割する第2のタイル分割ステップと、
当該第2の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを順方向にフィルタ処理することにより地表面を示す第3の点デ−タを抽出する第3のフィルタ処理ステップと、
当該第2の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを逆方向にフィルタ処理することにより地表面を示す第4の点デ−タを抽出する第4のフィルタ処理ステップと、
当該第1の抽出ステップに代わる、当該第1、第2、第3及び第4の点デ−タの少なくとも一つに含まれる点デ−タを抽出する第2の抽出ステップ
とを具備する
ことを特徴とする請求項1に記載の3次元処理方法。 - 当該第1及び当該第2のフィルタ処理ステップで使用されるフィルタ処理が同じアルゴリズムに基づくことを特徴とする請求項1に記載の3次元デ−タ処理方法。
- 当該第1、第2、第3及び第4のフィルタ処理ステップで使用されるフィルタ処理が同じアルゴリズムに基づくことを特徴とする請求項2に記載の3次元デ−タ処理方法。
- 当該フィルタ処理が、
互いに異なる点デ−タにその並び方向で基準点(i)、検査点(j)及び対象点(k)を設定するステップ(S31,S32)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)との距離を判定するステップ(S36)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)との距離が所定値より大きく(S36)、且つ、基準点(i)の高さが検査点(j)の高さ以下の場合に(S37)、基準点(i)の点デ−タを当該第1の点デ−タとして採用すると(S38)共に、検査点(j)及び対象点(k)をそれぞれ次の点デ−タに更新するステップ(S32)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)の距離が所定値以下の場合に(S36)、基準点(i)、検査点(j)及び対象点(k)から当該検査点(j)の要否を判定する判定ステップ(S45)と、
当該判定ステップ(S45)により当該検査点が不要と判定された場合に、当該検査点の次の点を新たな検査点(j)とし、当該検査点の次の次の点を新たな対象点(k)とし、当該判定ステップ(S45)により当該検査点が必要と判定された場合に、当該検査点の次の次の点を新たな対象点とするステップ(S46,S47,S48)
とを具備することを特徴とする請求項3又は4に記載の3次元デ−タ処理方法。 - 当該判定ステップ(S45)が、当該基準点(i)と当該検査点(j)を結ぶ線の傾きと、当該基準点(i)と当該対象点(k)を結ぶ線の傾きを算出し(S51)、両傾きの比較により(S52)、当該検査点(j)の要否を判定することを特徴とする請求項5に記載の3次元デ−タ処理方法。
- 当該判定ステップ(S45)が、当該基準点(i)と当該対象点(k)に接する所定半径の下側の円の中心から当該検査点(j)までの距離を算定し(S62)、当該距離が所定値より大きい場合に当該検査点(j)を不要と判定し、当該距離が当該所定値以下の場合に当該検査点(j)を必要と判定する(S63)ことを特徴とする請求項5に記載の3次元デ−タ処理方法。
- 当該3次元点デ−タが、処理対象地域に所定のマ−ジンを含めた地域の点デ−タからなり、
当該3次元デ−タ処理方法が更に、当該第1の抽出ステップで抽出された点デ−タから当該処理対象地域内の点デ−タをクリップするステップを具備する
ことを特徴とする請求項1に記載の3次元デ−タ処理方法。 - 当該3次元点デ−タが、処理対象地域に所定のマ−ジンを含めた地域の点デ−タからなり、
当該3次元デ−タ処理方法が更に、当該第2の抽出ステップで抽出された点デ−タから当該処理対象地域内の点デ−タをクリップするステップを具備する
ことを特徴とする請求項2に記載の3次元デ−タ処理方法。 - 3次元点デ−タをx−y面内の第1の方向で複数のタイルに分割する第1のタイル分割手段(16)と、
当該第1の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを順方向にフィルタ処理し、地表面を示す第1の点デ−タを出力する第1のフィルタ処理手段(18F)と、
当該第1の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを逆方向にフィルタ処理し、地表面を示す第2の点デ−タを出力する第2のフィルタ処理手段(18B)と、
当該第1の点デ−タと当該第2の点デ−タの少なくとも一方に含まれる点デ−タを抽出する抽出器(28)
とを具備することを特徴とする3次元デ−タ処理装置。 - 更に、
当該3次元点デ−タをx−y面内の第1の方向に直交する第2の方向で複数のタイルに分割する第2のタイル分割手段(22)と、
当該第2の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを順方向にフィルタ処理し、地表面を示す第3の点デ−タを出力する第3のフィルタ処理手段(24F)と、
当該第2の方向で分割された各タイルについて、点デ−タを逆方向にフィルタ処理し、地表面を示す第4の点デ−タを出力する第4のフィルタ処理手段(24B)
とを具備し、
当該抽出器(28)が、当該第1、第2、第3及び第4の点デ−タの少なくとも一つに含まれる点デ−タを抽出することを特徴とする請求項10に記載の3次元処理装置。 - 当該第1及び当該第2のフィルタ処理手段(18F,18B)のフィルタ処理が同じアルゴリズムに基づくことを特徴とする請求項10に記載の3次元デ−タ処理装置。
- 当該第1、第2、第3及び第4のフィルタ処理手段(18F,18B,24F,24B)のフィルタ処理が同じアルゴリズムに基づくことを特徴とする請求項11に記載の3次元デ−タ処理装置。
- 当該フィルタ処理が、
互いに異なる点デ−タにその並び方向で基準点(i)、検査点(j)及び対象点(k)を設定する処理(S31,S32)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)との距離を判定する処理(S36)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)との距離が所定値より大きく(S36)、且つ、基準点(i)の高さが検査点(j)の高さ以下の場合に(S37)、基準点(i)の点デ−タを当該第1の点デ−タとして採用すると(S38)共に、検査点(j)及び対象点(k)をそれぞれ次の点デ−タに更新する処理(S32)と、
当該基準点(i)と当該対象点(k)の距離が所定値以下の場合に(S36)、基準点(i)、検査点(j)及び対象点(k)から当該検査点(j)の要否を判定する判定処理(S45)と、
当該判定処理(S45)により当該検査点が不要と判定された場合に、当該検査点の次の点を新たな検査点(j)とし、当該検査点の次の次の点を新たな対象点(k)とし、当該判定処理(S45)により当該検査点が必要と判定された場合に、当該検査点の次の次の点を新たな対象点とする処理(S46,S47,S48)
とを具備することを特徴とする請求項12又は13に記載の3次元デ−タ処理装置。 - 当該判定処理(S45)が、当該基準点(i)と当該検査点(j)を結ぶ線の傾きと、当該基準点(i)と当該対象点(k)を結ぶ線の傾きを算出し(S51)、両傾きの比較により(S52)、当該検査点(j)の要否を判定することを特徴とする請求項12に記載の3次元デ−タ処理装置。
- 当該判定処理(S45)が、当該基準点(i)と当該対象点(j)に接する所定半径の下側の円の中心から当該検査点(j)までの距離を算定し(S62)、当該距離が所定値以上の場合に当該検査点(j)を不要と判定し、当該距離が当該所定値未満の場合に当該検査点(j)を必要と判定する(S63)ことを特徴とする請求項14に記載の3次元デ−タ処理装置。
- 当該3次元点デ−タが、処理対象地域に所定のマ−ジンを含めた地域の点デ−タからなり、
当該3次元デ−タ処理装置が更に、当該第1の抽出ステップで抽出された点デ−タから当該処理対象地域内の点デ−タをクリップする装置(30)を具備する
ことを特徴とする請求項11に記載の3次元デ−タ処理装置。 - 当該3次元点デ−タが、処理対象地域に所定のマ−ジンを含めた地域の点デ−タからなり、
当該3次元デ−タ処理装置が更に、当該第抽出器(28)で抽出された点デ−タから当該処理対象地域内の点デ−タをクリップする装置(30)を具備する
ことを特徴とする請求項12に記載の3次元デ−タ処理装置。
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