JP4433865B2 - シリコン単結晶の製造方法 - Google Patents
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- 239000013078 crystal Substances 0.000 title claims description 145
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 title claims description 80
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 title claims description 80
- 239000010703 silicon Substances 0.000 title claims description 80
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 43
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 67
- 239000007789 gas Substances 0.000 claims description 41
- 239000002994 raw material Substances 0.000 claims description 17
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 49
- 230000008569 process Effects 0.000 description 46
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 26
- 239000002019 doping agent Substances 0.000 description 24
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 22
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 20
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 18
- 229910052787 antimony Inorganic materials 0.000 description 17
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 17
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 15
- 229910052785 arsenic Inorganic materials 0.000 description 13
- RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N arsenic atom Chemical compound [As] RQNWIZPPADIBDY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 13
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 11
- OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N Phosphorus Chemical compound [P] OAICVXFJPJFONN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 10
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 10
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 8
- 230000012010 growth Effects 0.000 description 7
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 7
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 6
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 5
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 5
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 5
- ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N Boron Chemical compound [B] ZOXJGFHDIHLPTG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 229910052796 boron Inorganic materials 0.000 description 4
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 4
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 description 3
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 3
- 229910002804 graphite Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010439 graphite Substances 0.000 description 3
- LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N silicon monoxide Chemical compound [Si-]#[O+] LIVNPJMFVYWSIS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000000052 comparative effect Effects 0.000 description 2
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 238000009826 distribution Methods 0.000 description 2
- 239000011261 inert gas Substances 0.000 description 2
- 238000010926 purge Methods 0.000 description 2
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 2
- 230000008646 thermal stress Effects 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 230000009471 action Effects 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000009833 condensation Methods 0.000 description 1
- 230000005494 condensation Effects 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 238000004090 dissolution Methods 0.000 description 1
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 description 1
- 230000021332 multicellular organism growth Effects 0.000 description 1
- 229910052698 phosphorus Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011574 phosphorus Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- 230000006641 stabilisation Effects 0.000 description 1
- 238000011105 stabilization Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
Description
そこで、特許文献4では、アンチモンをドープし、比抵抗が0.01〜0.03Ωcmのシリコン単結晶を製造する方法であり、炉内圧力を5.33〜13.3kPa(40〜100Torr)とし、Arガスを供給して酸化ケイ素(SiO)を排出しながらアンチモンの蒸発を抑えることが提案されている。
(実施例1)
前記図1に示す引上げ装置を用いて、ヒ素をドープし直径6インチのシリコン単結晶の引上げを実施した。引上げに際しシリコン原料の溶融液にヒ素をドープしたのち、種結晶をなじませてシード絞りを行い、肩部を育成し、引き続いて直胴部の引上げを行った。直胴部の結晶長さが800mmになったときの炉内圧力が結晶良品指数、初期トラブル発生頻度、および比抵抗に及ぼす影響について調査した。その調査結果を表1に示す。
一方、初期トラブルの発生頻度は、1操業中に単結晶乱れ(有転位化)を発生した回数であり、同様に、「従来例(ベース条件)」における値を1として相対的に比較し、1.02以下を良品とした。さらに、比抵抗は、直胴部の引上げを開始した部位(直胴部0mm位置)での測定値である。
(実施例2)
実施例1の場合と同様に、前記図1に示す引上げ装置を用いて、ボロンをドープして直径8インチのシリコン単結晶の引上げを実施した。そのため、シリコン原料の溶融液にボロンをドープしたのち、種結晶をなじませてシード絞りを行い、肩部を形成し、引き続いて直胴部の引上げを行った。直胴部の結晶長さが1400mmになったときの炉内圧力が結晶良品指数、初期トラブル発生頻度、および比抵抗に及ぼす影響について調査した。その調査結果を表2に示す。
2a:石英坩堝、 2b:黒鉛坩堝
3:ヒーター、 4:溶融液
5:引上げワイヤー、 6:種結晶(シード)
7:単結晶、 7a:シード絞り部
7b:肩部、 7c:直胴部(本体部)
8:熱遮蔽材、 9:流入口
10:排出口
Claims (2)
- チョクラルスキー法によりアルゴン(Ar)ガスを20〜400リットル/分の範囲で流量を一定とする雰囲気でシリコン単結晶を製造する方法において、
13.3〜40.0kPa(100〜300Torr)の炉内圧力でシリコン原料を溶融し種結晶をなじませてシード絞りを行い、
次いで0.67〜6.7kPa(5〜50Torr)の炉内圧力で肩部を形成したのち、引き続いて13.3〜40.0kPa(100〜300Torr)の炉内圧力で直胴部の引上げを行うことを特徴とするシリコン単結晶の製造方法。 - 上記シリコン原料の溶融がメルトバックにともなう溶融であることを特徴とする請求項1に記載のシリコン単結晶の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004131879A JP4433865B2 (ja) | 2004-04-27 | 2004-04-27 | シリコン単結晶の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2004131879A JP4433865B2 (ja) | 2004-04-27 | 2004-04-27 | シリコン単結晶の製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005314143A JP2005314143A (ja) | 2005-11-10 |
JP4433865B2 true JP4433865B2 (ja) | 2010-03-17 |
Family
ID=35441949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2004131879A Expired - Lifetime JP4433865B2 (ja) | 2004-04-27 | 2004-04-27 | シリコン単結晶の製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4433865B2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5186684B2 (ja) * | 2007-08-02 | 2013-04-17 | Sumco Techxiv株式会社 | 半導体単結晶の製造装置 |
JP5262346B2 (ja) * | 2008-06-27 | 2013-08-14 | 株式会社Sumco | シリコン単結晶の製造方法 |
JP5724226B2 (ja) * | 2010-06-18 | 2015-05-27 | 株式会社Sumco | シリコン単結晶の育成方法 |
KR101303422B1 (ko) * | 2011-03-28 | 2013-09-05 | 주식회사 엘지실트론 | 단결정 잉곳의 제조방법 및 이에 의해 제조된 단결정 잉곳과 웨이퍼 |
JP6015634B2 (ja) * | 2013-11-22 | 2016-10-26 | 信越半導体株式会社 | シリコン単結晶の製造方法 |
-
2004
- 2004-04-27 JP JP2004131879A patent/JP4433865B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005314143A (ja) | 2005-11-10 |
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