JP4431922B2

JP4431922B2 - 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法

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Publication number: JP4431922B2
Application number: JP2000199318A
Authority: JP
Inventors: 貢今井
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 2000-06-30
Filing date: 2000-06-30
Publication date: 2010-03-17
Anticipated expiration: 2020-06-30
Also published as: JP2002015429A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
この発明は、光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法に関する。詳しくは、ＺＣＡＶフォーマットの光ディスクに対して、ゾーンを径方向で複数の領域に区分し、レーザ光の出力レベルを区分された領域毎に設定することにより、１つのゾーン内でも出力レベルを切り換えることでレーザ光の出力レベルの最適化を図るものである。
【０００２】
【従来の技術】
従来の光ディスク装置では、書換可能な光ディスクを用いて、この光ディスクに螺旋状あるいは同心円上にデータを記録することが行われている。このような書き換え可能な光ディスクでは、大容量化のためにディスク半径方向に線密度（周方向の記録密度）をほぼ一定とした、ＺＣＡＶ(Zone Constant Angular Velocity)と呼ばれる記録方式が用いられている。
【０００３】
このＺＣＡＶ記録方式では、図１１Ａに示すように光ディスクのデータ記録領域を半径方向に複数のゾーンに区分して、このディスクを角速度一定で回転させると共に、記録クロック周波数をゾーン毎内で一定とすると共に内周側のゾーンよりも外周側のゾーンで高いものとすることで、線密度が内周側のゾーンと外周側のゾーンでほぼ等しくとなるように記録動作が行われる。また、ＺＣＡＶ記録方式では、基準クロック周波数がゾーン毎に異なることから、図１１Ｂに示すようにデータ記録時のレーザ光の出力レベルがゾーン内では一定とされると共に、内周側のゾーンではオーバーパワーとならないように低いレベルとされ、外周側のゾーンではアンダーパワーとならないように高いレベルとされてデータの記録が行われている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、大容量化が更に進むと記録マークを小さいものとして高密度記録が行われる。このような場合、ＺＣＡＶ記録方式を用いたとしても、ゾーン内の内周側と外周側では記録密度が異なるため、レーザ光の出力レベルを例えばゾーンの中心位置で最適となるように設定すると、ゾーン内の内周側ではレーザ光の出力レベルが最適レベルよりも大きくオーバーパワーとなり、外周側では最適レベルよりも小さくアンダーパワーとなってしまう。
【０００５】
また、大容量化に伴いセクタサイズが大きくなっていることから、ゾーンを小さくしてゾーン内での記録密度が等しくなるようにゾーン数を増加させるものとすると、１つのゾーン内のセクタ数が少なくなってしまう。
【０００６】
そこで、この発明では、ＺＣＡＶフォーマットでデータの記録再生を行う場合に、レーザ光の出力レベルを最適に設定することができる光ディスク装置およびレーザ光出力レベル設定方法を提供するものである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】
この発明に係る光ディスク装置は、データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区分され、各ゾーンでは記録クロック周波数が一定となるＺＣＡＶフォーマットの光ディスクに対して、レーザ光を照射することによりデータの記録再生を行う記録再生手段と、記録クロック周波数が一定となるゾーン内を径方向で複数の領域に区分すると共に、区分された領域毎に記録再生手段で光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が最適となるようにレーザ光の出力レベルを設定し、レーザ光の出力レベルをレーザ光が照射される区分された領域に応じた出力レベルに設定する出力設定手段とを有するものである。
【０００８】
また、レーザ光出力設定方法は、データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区分され、各ゾーンでは記録クロック周波数が一定となるＺＣＡＶフォーマットの光ディスクに対してレーザ光を照射することによりデータの記録再生を行う記録再生ステップと、記録クロック周波数が一定となるゾーン内を径方向で複数の領域に区分すると共に、区分された領域毎に記録再生ステップで光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が最適となるようにレーザ光の出力レベルを設定する出力設定ステップとを有するものである。
【０００９】
この発明においては、ＺＣＡＶフォーマットの光ディスクの記録クロック周波数が一定となるゾーン内が径方向で複数の領域に区分されて、光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が良好となるように、レーザ光の出力レベルが区分された領域毎に設定される。
【００１０】
【発明の実施の形態】
以下、図を参照しながら、この発明の実施の一形態について説明する。図１は光変調記録方式を用いた光ディスク装置の全体構成を示すブロック図であり、ディスクとして光磁気ディスクを用いる場合を示している。
【００１１】
光磁気ディスク１０はスピンドルモータ部２１によって、所定の速度で回転される。なお、スピンドルモータ部２１は、後述するサーボ制御部２４からのスピンドル駆動信号ＳSDによって、光磁気ディスク１０の回転速度が所定の速度となるように駆動される。
【００１２】
光磁気ディスク１０には、光ディスク装置２０の光ピックアップ部２２から光量をコントロールされたレーザ光が照射される。光磁気ディスク１０で反射されたレーザ光は、光ピックアップ部２２の光検出処理回路（図示せず）に照射される。光検出処理回路では、光電変換および電流電圧変換等を行い、反射光に基づいて再生ＲＦ信号ＳRFを生成してリードチャネルブロック２３に供給する。また、トラッキング誤差信号ＳTEやフォーカス誤差信号ＳFEを生成して、サーボ制御部２４に供給する。
【００１３】
リードチャネルブロック２３では、再生ＲＦ信号ＳRFからリードクロックＣＬＫや復号信号ＲＤを生成して信号処理部２５に供給する。
【００１４】
サーボ制御部２４では、供給されたフォーカス誤差信号ＳFEに基づき、レーザ光の焦点位置が光磁気ディスク１０上の位置となるように、光ピックアップ部２２の対物レンズ（図示せず）を駆動するためのフォーカス駆動信号ＳFDを生成して、光ピックアップ部２２のアクチュエータ（図示せず）に供給する。また、供給されたトラッキング誤差信号ＳTEに基づき、レーザ光の照射位置が所望のトラック中央位置となるように、光ピックアップ部２２の対物レンズを駆動するためのトラッキング駆動信号ＳTDを生成して、光ピックアップ部２２のアクチュエータに供給する。
【００１５】
また、サーボ制御部２４では、光磁気ディスク１０に対してデータを記録する際に、磁気ヘッド駆動信号ＳMHを磁気ヘッド２７に供給して、磁気ヘッド２７から、光磁気ディスク１０のレーザ光の照射位置に直流外部磁界を与える。
【００１６】
さらに、サーボ制御部２４では、後述するレーザ光出力制御部２６に対して設定信号ＳPCを供給して、レーザ光の出力レベルを設定する。また、上述したようにスピンドル駆動信号ＳSDを生成してスピンドルモータ部２１に供給すると共に、光ピックアップ部２２から照射されるレーザ光の照射位置が光ピックアップ部２２でのトラッキング制御範囲を超えないように、光ピックアップ部２２を光磁気ディスク１０の径方向に移動させるスレッド動作制御も行う。
【００１７】
信号処理部２５では、リードクロックＣＬＫを用いて復号信号ＲＤのデコード処理を行い、得られた信号を出力データＤoutとして、ＳＣＳＩ(Small Computer System Interface)やＡＴＡＰＩ(AT Attachment Packet Interface)等の規格に対応するインタフェース部２８を介してコンピュータ装置等に供給する。また、コンピュータ装置等からインタフェース部２８を介して入力データＤinが供給されたときには、この入力データＤinのエンコード処理を行い、得られた記録信号ＷＤをレーザ光出力制御部２６に供給する。さらに信号処理部２５では、復号信号ＲＤに基づきアドレス情報を読み出して制御部３０に供給する。
【００１８】
レーザ光出力制御部２６では、レーザ駆動信号ＳLDを生成して光ピックアップ部２２のレーザダイオード（図示せず）に供給し、レーザダイオードからのレーザ光の照射やレーザ光の出力レベルを制御する。ここで、レーザ光出力制御部２６では、制御部３０から供給された制御信号ＣＴに基づき、レーザ光の出力を再生モードあるいは記録モードに切り換えると共に、サーボ制御部２４からの設定信号ＳPCに基づいて各モードでのレーザ光の出力レベルを制御する。さらに、記録モード時に信号処理部２５から供給された記録信号ＷＤに基づきレーザ光を変調して、記録信号ＷＤに応じた記録マークを光磁気ディスク１０に形成する。
【００１９】
制御部３０は光ディスク装置２０の各部の動作を制御するためのものであり、例えばコンピュータ装置からインタフェース部２８や信号処理部２５を介してコマンドが供給されたときには、このコマンドに応じた制御信号ＣＴを生成して各部に供給することにより、光ディスク装置２０でコマンドに応じた動作が行われるように制御する。また、光磁気ディスク１０に正しく信号を記録することができるようにレーザ光の出力の設定等も行う。
【００２０】
また、上述した光ディスク装置２０では、光磁気ディスク１０に記録されている信号を読み出して、より正しい出力データＤoutを得るために、例えばリードチャネルブロック２３では、再生ＲＦ信号ＳRFの信号レベルの調整や波形等化処理を行い、得られた信号に対してビタビ復号処理を行うことで、正しい復号信号ＲＤを信号処理部２５に供給することができるように成されている。
【００２１】
ここで、波形等化処理およびビタビ復号方法について説明する。光ディスク装置２０では、信号処理部２５で入力データＤinのエンコード処理を行う際に、ＲＬＬ（Run Length Limited）符号化方法、例えばＲＬＬ（１，７）符号が用いられる。また、光磁気ディスク１０に信号を記録する際に、記録密度を大きくすることができるようにマークエッジ記録方法が用いられる。
【００２２】
波形等化処理では、符号間干渉を積極的に利用するパーシャルレスポンス方法が用いられる。この際に用いられる波形等化特性は、一般に（１＋Ｄ）ⁿ で表されるパーシャルレスポンス特性のうちから、記録／再生系の線記録密度およびＭＴＦ（Modulation Transfer Function）を考慮して決められる。
【００２３】
ここで、上述したＲＬＬ（１，７）符号化方法とマークエッジ記録方法の組合せによって記録された信号に対して、ＰＲ（１，２，１）を用いる波形等化処理を行い、この波形等化処理が行われた信号を用いて４値４状態ビタビ復号方法を行う。
【００２４】
マークエッジ記録方法においては、光磁気ディスク１０に対する実際の記録に先立って、上述のＲＬＬ符号化等によって符号化された記録信号ＷＤに基づくプリコードがレーザ光出力制御部２６で行われる。なお、プリコードは信号処理部２５で行うものとしても良い。
【００２５】
各時点ｋにおける記録データ列をａ〔ｋ〕、これに基づくプリコード出力をｂ〔ｋ〕とすると、プリコードは、式（１）のように行われる。
ｂ〔ｋ〕＝（ａ〔ｋ〕＋ｂ〔ｋ−１〕）ｍｏｄ２・・・（１）
このようなプリコード出力ｂ〔ｋ〕が実際に光磁気ディスク１０に記録される。
【００２６】
図２はリードチャネルブロック２３の構成を示しており、再生ＲＦ信号ＳRFは、ＰＬＬ回路２３１とＡ／Ｄ変換回路２３２に供給される。ＰＬＬ回路２３１では、再生ＲＦ信号ＳRFに基づきリードクロックＣＬＫを生成してＡ／Ｄ変換回路２３２、ディジタルフィルタ２３３、ビタビ復号器２３４に供給する。
【００２７】
Ａ／Ｄ変換回路２３２では、リードクロックＣＬＫを用いてサンプリングを行い再生ＲＦ信号ＳRFをディジタルの再生信号ＤＲとしてディジタルフィルタ２３３に供給する。
【００２８】
ディジタルフィルタ２３３では、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）での波形等化処理を行う。なお、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せずに、波形等化特性をＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）とする。また、ノイズを考慮しない場合の再生信号ＤＲを再生信号ｃ〔ｋ〕と表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生信号ＤＲ（すなわち、光磁気ディスク１０から読み出された再生信号）をｚ〔ｋ〕と表記する。
【００２９】
ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）は、ある時点ｋにおける再生信号の値に対して、時点ｋにおける振幅の寄与が振幅値の２Ａ倍とされ、さらに前後の時点ｋ−１およびｋ＋１における振幅の寄与が、各々の時点における信号の振幅のＢ倍とされるものである。したがって、再生信号の値の最大値は、時点ｋ−１、ｋ、ｋ＋１において何れもパルスが検出される場合である。このような場合には、再生信号の値の最大値はＢ＋２Ａ＋Ｂ＝２Ａ＋２Ｂ、再生信号の値の最小値は０となる。ただし、実際の取扱いにおいては、ｃ〔ｋ〕として、ＤＣ成分のＡ＋Ｂを差し引いた式（２）に示すものが用いられる。
ｃ〔ｋ〕＝Ｂ×ｂ〔ｋ−２〕＋２Ａ×ｂ〔ｋ−１〕＋Ｂ×ｂ〔ｋ〕
−Ａ−Ｂ・・・（２）
【００３０】
したがって、ノイズを考慮しない場合の再生信号ｃ〔ｋ〕は、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂのうちの何れかの値をとることになり、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）の場合には、Ａ＋Ｂ＝４，Ａ＝３，−Ａ＝１，−Ａ−Ｂ＝０と表現される。また、実際の再生信号ｚ〔ｋ〕の値もノイズによるばらつきを有するが、ほぼＡ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂのうちの何れかの値をとることとなる。
【００３１】
ここで、N＝ｂ〔ｋ〕，M＝ｂ〔ｋ−１〕，L＝ｂ〔ｋ−２〕の状態をＳＮＭＬと定義すると、ＳＮＭＬの組合せは２³＝８通り考えられる。しかし、ＲＬＬ（１，７）符号化によって生成される記録データ列ａ〔ｋ〕では、２個以上「１」が連続する下記の場合は存在しない。
ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１
ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝０
ａ〔ｋ〕＝０，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１
【００３２】
このため、式（１）に従ってｂ〔ｋ〕に課せられる条件を検討するとＳ０１０，Ｓ１０１の状態は生じないことから、生じうる状態は８−２＝６通りとなり、この生じうる各状態について、それらを起点として生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録データの値および再生信号の値との対応を求めると、図３に示す状態遷移となる。
【００３３】
この図３において、状態遷移は、矢印によって表される。また、各矢印に付した符号が〔記録データ値ａ〔ｋ〕／再生信号値ｃ〔ｋ〕〕を示している。状態Ｓ０００，Ｓ００１，Ｓ１１１およびＳ１１０を起点とする状態遷移は、２通りあるのに対して、状態Ｓ０１１およびＳ１００を起点として生じ得る遷移は１通りのみである。さらに、図３においてＳ０００とＳ００１は、何れもａ〔ｋ〕＝１に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａという値を取り、Ｓ１００に遷移している。一方、ａ〔ｋ〕＝０に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａ−Ｂという値を取り、Ｓ０００に遷移している。また、Ｓ１１１とＳ１１０も同様に、同じａ〔ｋ＋１〕の値について同じｃ〔ｋ＋１〕の値を取り、かつ、同じ状態に遷移している。したがって、Ｓ０００とＳ００１をまとめてＳ００と表現し、Ｓ１１１とＳ１１０をまとめてＳ１１と表現することができる。さらに、Ｓ０１１をＳ１０とし、Ｓ１００をＳ０１と表現すると共に、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）の場合には、Ａ＋Ｂ＝４，Ａ＝３，−Ａ＝１，−Ａ−Ｂ＝０と表現されることから図３は図４として示すことができる。
【００３４】
この図４から、再生信号値に基づきより記録データｂ〔ｋ−２〕，ｂ〔ｋ−１〕，ｂ〔ｋ〕を決定することができる。
【００３５】
また、このようにスライスレベルを多値に持つため各のマージンが少なくなると誤検出が生じてしまうことから、上述したような波形等化処理がなされた再生信号ＤＲをビタビ復号器２３４に供給して最尤復号を行うことにより正しいデータを確定していく。
【００３６】
ビタビ復号器２３４のＢＭＣ（Branch Metric Circuit）では、再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて、規格化パスメトリックに対応するブランチメトリックを計算する。ここで、例えば状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に伴うブランチメトリックはｂｍ１１０と表記する。また他の状態遷移も図４に示すように表記する。この図４に示す６つのブランクメトリックを、各時点においてサンプリングされる再生信号値と振幅基準値との間のユークリッド距離として計算する場合には、以下の式（３）〜（８）が用いられる。
【００３７】
ｂｍ０００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０００）² ・・・（３）
ｂｍ００１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ００１）² ・・・（４）
ｂｍ０１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０１１）² ・・・（５）
ｂｍ１１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１１）² ・・・（６）
ｂｍ１１０＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１０）² ・・・（７）
ｂｍ１００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１００）² ・・・（８）
なお、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）の場合の振幅基準値は、ｃ０００＝０、ｃ００１＝１、ｃ０１１＝３、ｃ１１１＝４，ｃ１１０＝３，ｃ１００＝１である。
【００３８】
このようにして算出されたｂｍ０００〜ｂｍ１００の値は、ＡＣＳ（Add Compare Select）に供給される。
ＡＣＳでは、供給されたブランチメトリックと、過去のブランチメトリックの総和であるパラメトリックから最尤パスを選択して、新たなパスメトリックを計算する。
【００３９】
時点ｋにおいて状態Ｓｉｊに至るパスメトリックはｍｉｊ〔ｋ〕は、ブランチメトリックの値を用いて、以下の式（９）〜（１２）のように計算される。なお、図に示すように状態Ｓ００に至る遷移はＳ００とＳ１０の２つの状態が存在し、状態Ｓ１１に至る遷移はＳ０１とＳ１１の２つの状態が存在することから、それぞれの状態からの遷移に基づくパスメトリックを算出して、少ない値のパラメトリックを選択する。
【００４０】

【００４１】
この算出されたパスメトリックで最小の値のパスメトリックを選択することにより状態が決定されて、この決定された状態を示す選択信号がＳＭＵ（Status Memory Unit）に供給される。
【００４２】
ＳＭＵでは、供給された選択信号に基づき、最尤なものと判断された状態の系列を保持すると共に、保持されている状態の系列から最尤の状態が検出されて、この状態を示す状態データ値ｓｍがＤＭＢ（Data Merge Block）に供給される。
【００４３】
ＤＭＢには、予め復号マトリクステーブルが記憶されており、供給された状態データ値ｓｍに基づいて復号マトリクステーブルを参照することで復号信号が生成される。このビタビ復号器２３４で得られた正しい復号信号ＲＤは、信号処理部２５に供給されてデコード処理される。
【００４４】
リードチャネルブロック制御回路２３５では、制御部３０からの制御信号ＣＴに基づきディジタルフィルタ２３３やビタビ復号器２３４の動作制御等を行う。
【００４５】
図５は、光磁気ディスク１０の領域構成の一例を示している。光磁気ディスク１０の最外周側には図５Ａに示すようにリードインゾーンが設けられている。このリードインゾーンから内周側にＳＦＰ（Standard Formatted Part）ゾーン、製造者使用ゾーン、ユーザーゾーン、製造者使用ゾーン、ＳＦＰゾーン、ＳＦＰ用遷移ゾーン、ＰＥＰ（Phase Encode Part）ゾーンがそれぞれ設けられている。
【００４６】
リードインゾーンは、エンボスピットにより形成された領域である。
【００４７】
ＳＦＰゾーンは、感度や反射率等のメディアに関する情報、トラック数等のシステムに関する情報が記録された領域である。
【００４８】
製造者使用ゾーンは、製造者がディスクに対する試験を行ったり、光ディスク装置が記録再生条件をテストする際に使用する領域である。
【００４９】
ユーザゾーンは、データの記録再生に用いる領域であり、図５Ｂに示すように、ＤＭＡエリアと複数のゾーンＺ１〜Ｚｎからなり、各ゾーンにはデータの記録再生が行われるデータエリアと、データエリア内に欠陥セクタが生じたときに、この欠陥セクタに置き換えて使用される交替エリアが設けられている。また、データエリアでの欠陥セクタに代えて交替セクタを使用するための交替情報等がＤＭＡエリアに記録されている。
【００５０】
ＳＦＰ用遷移ゾーンは、溝のないＰＥＰ形式のフォーマットの領域と溝が設けられてサーボ情報の記録されたＳＦＰゾーンとの境界領域である。
【００５１】
ＰＥＰゾーンは、ディスクの回転モードや信号の変調方式、ユーザゾーンでのトラック当たりのセクタ数やランド記録／グルーブ記録の区分、ディスク種別等を示す制御情報が記録されている領域である。
【００５２】
図６は、光磁気ディスク１０において用いられるセクタフォーマットの一例を示している。図６Ａに示すように、１セクタは、ヘッダ、ＡＬＰＣ−ギャップ、ＶＦＯ、ＳＹＮＣ、データフィールド、バッファの各エリアに区分されている。
【００５３】
ヘッダは、図６Ｂに示すように、セクタの先頭を示すセクタマークＳＭ、ディスクの回転が変動しても正しくデータの記録再生を行うためのＰＬＬロック用のデータであるＶＦＯ1，ＶＦＯ2、データの読み出し開始位置を示すアドレスマークＡＭ、トラックナンバーとセクタナンバを示すＩＤ等で構成されている。このヘッダは、予めディスク上にエンボスピットを形成することでプリフォーマットされている。
【００５４】
図６ＡのＡＬＰＣ−ギャップは、レーザ光の出力を制御するためのテスト部や書き込みが行われたことを示すフラグ等で構成されている。
【００５５】
ＶＦＯ3は、上述したようにＰＬＬロック用のデータである。なお、ヘッダのＶＦＯ1，ＶＦＯ2は予めプリフォーマットされており、このＶＦＯ3は、データの記録動作時に、光磁気的に記録されるものである。ＳＹＮＣはデータフィールドの同期信号である。
【００５６】
データフィールドは、ユーザデータを記録するためのものであり、このデータフィールドには、ユーザデータとエラー検出・訂正用のパリティ等が記録される。また、データフィールドの後には、ディスク回転変動時のマージン用としてのバッファエリアが設けられている。
【００５７】
データ記録時のレーザ光の出力レベルとエラーレートの関係は、図７Ａに示すようにバスタブ形状の特性を有するものとなる。一方、データ記録時のレーザ光の出力レベルとアシンメトリ値の関係は、図７Ｂに示すようにレーザ光の出力レベルの増大と共にアシンメトリ値は単調増加する。さらに、光ディスクのいずれの半径位置においても、レーザ光の出力レベルがその半径位置で最適とされてデータが記録されたときには、ほぼアシンメトリ値が等しくなることが知られている。
【００５８】
アシンメトリ値の算出では、アシンメトリ値を正しく算出することができるように、光磁気ディスク１０に記録するテストデータは、図８に示すように再生ＲＦ信号ＳRFの振幅が最小となるパターンと最大となるパターンとを組み合わせたパターンとなるように設定する。例えばＲＬＬ（１，７）符号化を行ったときに再生ＲＦ信号ＳRFの振幅が最小となる２Ｔパターンと、振幅が最大となっている６Ｔパターンとを組み合わせたパターンとなるように設定する。なお、Ｔはディスクに記録する変調後の信号に対するチャネルクロックを示している。
【００５９】
振幅が最小であるパターンでの再生ＲＦ信号ＳRF平均レベルを「ＡＧa」、振幅が最大であるパターンでの再生ＲＦ信号ＳRF平均レベルを「ＡＧb」、振幅の最大値を「ＭＸ」とすると、式（１３）によってアシンメトリ値ＡＳＭを算出することができる。
【００６０】
ＡＳＭ＝（ＡＧb−ＡＧa）／ＭＸ・・・（１３）
ここで、１つのゾーン内でアシンメトリ値のばらつきが少なくなるように、１つのゾーン内を複数の領域に区分して、それぞれの領域に対してアシンメトリ値が最良となるようにレーザ光の出力レベルを設定するための設定値を予めサーボ制御部２４に記憶させる。
【００６１】
図９はサーボ制御部２４に記録された設定値を示しており、例えばアドレス情報を用いて１つのゾーンを複数の領域に区分すると共に、領域毎に設定値を記憶させる。例えばセクタアドレスＡＤ-1〜ＡＤ-aまでがゾーンＺ１の第１の領域Ｚ１-1、セクタアドレスＡＤ-(a+1)〜ＡＤ-bまでが第２の領域Ｚ１-2を示すものとされる。また、セクタアドレスＡＤ-(b+1)〜ＡＤ-cまでがゾーンＺ２の第１の領域Ｚ２-1、セクタアドレスＡＤ-(c+1)〜ＡＤ-dまでが第２の領域Ｚ２-2を示すものとされる。以下同様に、セクタアドレスを利用して各ゾーン内が２つの領域に区分される。また、領域Ｚ１-1に対してアシンメトリ値が最良となるように、レーザ光の出力レベルを切り換えるための設定値ＰＷ1-1を領域Ｚ1-1に対応させて記憶させる。同様に、領域Ｚ1-2，Ｚ2-1，Ｚ2-2・・・に対応させて設定値ＰＷ1-2，ＰＷ2-1，ＰＷ2-2・・・を記憶させる。
【００６２】
ここで、光磁気ディスク１０にデータを記録する際には、制御部３０からサーボ制御部２４に対してデータを記録するセクタアドレスを通知する。また、制御部３０では、光磁気ディスク１０からヘッダの情報を読み出す処理を行い、信号処理部２５から供給されたセクタアドレスに基づき、レーザ光の照射位置がデータを記録する位置と判別されたときには制御信号ＣＴによってサーボ制御部２４の動作を制御して、データを記録するセクタアドレスの領域に対応する設定値を設定信号ＳPCとしてレーザ光出力制御部２６に供給させる。
【００６３】
レーザ光出力制御部２６では、供給された設定信号ＳPCに基づきレーザ駆動信号ＳLDを生成して、光ピックアップ部２２のレーザダイオードに供給する。このため、１つのゾーン内でも、記録位置に応じてレーザ光の出力レベルが最適となるように切り換えられるので、データを光磁気ディスク１０に正しく良好に記録することができる。例えば図１０に示すように、ゾーンＺ１内でレーザ光の出力レベルを切り換えない破線で示す場合では、ゾーンＺ１の内周側でオーバーパワー、外周側ではアンダーパワーとなって、アシンメトリ値が「ＡＳＡ」のばらつきを生じてしまう。しかし、ゾーンＺ１の領域Ｚ１-1と領域Ｚ１-2で、レーザ光の出力レベルをＷＰ-1，ＷＰ-2に切り換えることにより、領域Ｚ１-1でのアシンメトリ値のばらつき、および領域Ｚ１-2でのアシンメトリ値のばらつきは「ＡＳＡ」よりも小さい「ＡＳＢ」となる。すなわち、ゾーンＺ１でのアシンメトリ値のばらつきが「ＡＳＡ」よりも小さい「ＡＳＢ」となることから、１つのゾーン内で、記録位置に応じてレーザ光の出力レベルを最適なレベルに切り換えることで、光磁気ディスク１０に記録された信号は良好なものとなる。このため、記録密度が高められてもデータを正しく読み出すことができる。
【００６４】
なお、上述の実施の形態では、予め各領域に対する設定値をサーボ制御部２４に記憶しておくものとしたが、いずれかの領域に試し書きを行ってレーザ光の最適出力レベルを判別すると共に、この判別された出力レベルから、他の領域に対するレーザ光の最適出力レベルを算出して、判別された最適出力レベルおよび算出された最適出力レベルをサーボ制御部２４に設定値として記憶させるものとしても良い。この場合には、光磁気ディスク１０や光ディスク装置２０の特性あるいは環境条件が変動した場合であっても各領域に対してレーザ光の出力レベルを最適な状態に設定することができる。
【００６５】
また、上述の実施の形態では、データ記録時におけるレーザ光の出力レベルの設定について説明したが、データ再生時にも１つのゾーン内の領域毎に出力レベルを切り換えるものとしても良い。さらに、データの記録再生に用いる光ディスクは光磁気ディスクに限られるものではなく、相変化型の光ディスク等であっても良いことは勿論である。
【００６６】
【発明の効果】
この発明によれば、データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区分され、各ゾーンでは記録クロック周波数が一定となるＺＣＡＶフォーマットの光ディスクのゾーン内が径方向で複数の領域に区分されて、レーザ光の出力レベルが区分された領域毎に設定される。このため、１つのゾーン内で更にレーザ光の出力レベルを最適化することができる。
【００６７】
また、光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が良好となるように、区分された領域毎にレーザ光の出力レベルが設定されるので、データの記録再生を良好に行うことができる。
【図面の簡単な説明】
【図１】この発明に係る光ディスク装置の構成を示す図である。
【図２】リードチャネルブロックの構成を示す図である。
【図３】状態遷移を示す図である。
【図４】状態遷移の他の表記方法を示す図である。
【図５】光磁気ディスクの領域構成の一例を示す図である。
【図６】セクタフォーマットの一例を示す図である。
【図７】データ記録時のレーザ光出力レベルとエラーレートおよびアシンメトリ値の関係を示す図である。
【図８】アシンメトリ値の算出方法を示す図である。
【図９】ゾーン内の各領域におけるレーザ光出力の設定値を示す図である。
【図１０】ゾーン内の半径位置とアシンメトリ値の関係を示す図である。
【図１１】半径位置と線密度およびレーザ光の出力レベルの関係を示す図である。
【符号の説明】
１０・・・光磁気ディスク、２０・・・光ディスク装置、２１・・・スピンドルモータ部、２２・・・光ピックアップ部、２３・・・リードチャネルブロック、２４・・・サーボ制御部、２５・・・信号処理部、２６・・・レーザ光出力制御部、２７・・・磁気ヘッド、２８・・・インタフェース部、３０・・・制御部、２３１・・・ＰＬＬ回路、２３２・・・Ａ／Ｄ変換回路、２３３・・・ディジタルフィルタ、２３４・・・ビタビ復号器、２３５・・・リードチャネルブロック制御回路

Claims

データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区分され、各ゾーンでは記録クロック周波数が一定となるＺＣＡＶフォーマットの光ディスクに対して、レーザ光を照射することによりデータの記録再生を行う記録再生手段と、
前記記録クロック周波数が一定となる前記ゾーン内を径方向で複数の領域に区分すると共に、前記区分された領域毎に前記記録再生手段で前記光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が最適となるように前記レーザ光の出力レベルを設定し、前記レーザ光の出力レベルを前記レーザ光が照射される前記区分された領域に応じた出力レベルに設定する出力設定手段とを有する光ディスク装置。
データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区分され、各ゾーンでは記録クロック周波数が一定となるＺＣＡＶフォーマットの光ディスクに対してレーザ光を照射することによりデータの記録再生を行う記録再生ステップと、
前記記録クロック周波数が一定となる前記ゾーン内を径方向で複数の領域に区分すると共に、前記区分された領域毎に前記記録再生ステップで前記光ディスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいはアシンメトリ値が最適となるように前記レーザ光の出力レベルを設定する出力設定ステップとを有するレーザ光出力設定方法。