JP2002015427A - 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法 - Google Patents
光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法Info
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- JP2002015427A JP2002015427A JP2000199315A JP2000199315A JP2002015427A JP 2002015427 A JP2002015427 A JP 2002015427A JP 2000199315 A JP2000199315 A JP 2000199315A JP 2000199315 A JP2000199315 A JP 2000199315A JP 2002015427 A JP2002015427 A JP 2002015427A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】効率よく高精度にデータ記録時のレーザ光の出
力レベルを最適な状態に設定する。 【解決手段】ST1でレーザ光の出力可変範囲と可変量
を設定する。ST2で出力レベルを最大レベルとして、
ST3〜ST7の処理でレーザ光の出力レベルを可変さ
せながらデータを光ディスクに記録する。ST8〜ST
9の処理で記録されたデータを読み出すと共にアシンメ
トリ値を算出する。ST11でアシンメトリ値が最良と
なるレーザ光の出力レベルを判別して、この出力レベル
をデータ記録のレーザ光の最適出力レベルに設定する。
力レベルを最適な状態に設定する。 【解決手段】ST1でレーザ光の出力可変範囲と可変量
を設定する。ST2で出力レベルを最大レベルとして、
ST3〜ST7の処理でレーザ光の出力レベルを可変さ
せながらデータを光ディスクに記録する。ST8〜ST
9の処理で記録されたデータを読み出すと共にアシンメ
トリ値を算出する。ST11でアシンメトリ値が最良と
なるレーザ光の出力レベルを判別して、この出力レベル
をデータ記録のレーザ光の最適出力レベルに設定する。
Description
【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスク装置
およびレーザ光出力設定方法に関する。詳しくは、レー
ザ光の出力を順次可変させて光ディスクに所定のデータ
を記録し、光ディスクに記録されたデータを再生して得
られた信号に基づきレーザ光の最適値を判別し、データ
記録時のレーザ光の出力レベルを判別された最適値に設
定するものである。
およびレーザ光出力設定方法に関する。詳しくは、レー
ザ光の出力を順次可変させて光ディスクに所定のデータ
を記録し、光ディスクに記録されたデータを再生して得
られた信号に基づきレーザ光の最適値を判別し、データ
記録時のレーザ光の出力レベルを判別された最適値に設
定するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、データの書き換えが可能な可搬メ
ディアとして光磁気型や相変化型の光ディスクが普及し
ている。このような書き換え可能な光ディスクでは、デ
ータの書き込みを行う際に照射されるレーザ光の出力
が、記録したデータのアシンメトリ値や記録したデータ
を再生したときのエラーレートに関係することが知られ
ている。例えば、レーザ光の出力が低すぎれば、レーザ
光によって形成されるマークの形状が小さいものとな
り、アシンメトリ値が良好な値とならない。また、マー
クの形状が小さいことから、正しくデータを読み出すこ
とができない場合生じてエラーレートも良好なレベルと
ならない。一方、レーザ光のパワーが高すぎれば、マー
クの形状が大きいものとなり、アシンメトリ値が良好な
値とならない。また、隣接トラックとのクロストークや
クロスイレースが生じてしまいエラーレートも良好なレ
ベルとならない。
ディアとして光磁気型や相変化型の光ディスクが普及し
ている。このような書き換え可能な光ディスクでは、デ
ータの書き込みを行う際に照射されるレーザ光の出力
が、記録したデータのアシンメトリ値や記録したデータ
を再生したときのエラーレートに関係することが知られ
ている。例えば、レーザ光の出力が低すぎれば、レーザ
光によって形成されるマークの形状が小さいものとな
り、アシンメトリ値が良好な値とならない。また、マー
クの形状が小さいことから、正しくデータを読み出すこ
とができない場合生じてエラーレートも良好なレベルと
ならない。一方、レーザ光のパワーが高すぎれば、マー
クの形状が大きいものとなり、アシンメトリ値が良好な
値とならない。また、隣接トラックとのクロストークや
クロスイレースが生じてしまいエラーレートも良好なレ
ベルとならない。
【0003】このため、書き換えが可能な光ディスクで
は、外周部や内周部等の領域に、このディスクに照射す
るレーザ光の出力を正しく設定できるように推奨値を予
め記録して、データ記録時に推奨値を利用することで、
レーザ光の出力を設定することが行われている。
は、外周部や内周部等の領域に、このディスクに照射す
るレーザ光の出力を正しく設定できるように推奨値を予
め記録して、データ記録時に推奨値を利用することで、
レーザ光の出力を設定することが行われている。
【0004】しかし、このような書き換えが可能な光デ
ィスクでは、より多くのデータを記録することができる
ように、レーザ光を短波化したり、トラックピッチを狭
めて高記録密度化がはかられている。ここで、推奨値を
利用してレーザ光の出力レベルを設定した場合、光ディ
スクや光ディスク装置の特性にばらつきを生じてしまう
と、データを最良な状態で記録することができないおそ
れがある。このため、試し書きを行ってレーザ光の出力
レベルを更に最適なレベルに設定することが行われてい
る。
ィスクでは、より多くのデータを記録することができる
ように、レーザ光を短波化したり、トラックピッチを狭
めて高記録密度化がはかられている。ここで、推奨値を
利用してレーザ光の出力レベルを設定した場合、光ディ
スクや光ディスク装置の特性にばらつきを生じてしまう
と、データを最良な状態で記録することができないおそ
れがある。このため、試し書きを行ってレーザ光の出力
レベルを更に最適なレベルに設定することが行われてい
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、従来の試し
書きでは、試し書きを行う領域のデータを消去してから
新たなデータを記録すると共に記録したデータを読み出
す処理を、データ書き込み時のレーザ光の出力レベルを
切り換えて繰り返し行うものとし、データが最良に記録
されたときのレーザ光の出力レベルを、データ記録時の
レーザ光の出力レベルとして設定することが行われてい
る。
書きでは、試し書きを行う領域のデータを消去してから
新たなデータを記録すると共に記録したデータを読み出
す処理を、データ書き込み時のレーザ光の出力レベルを
切り換えて繰り返し行うものとし、データが最良に記録
されたときのレーザ光の出力レベルを、データ記録時の
レーザ光の出力レベルとして設定することが行われてい
る。
【0006】しかし、試し書きを行う領域のデータを消
去してから新たなデータを記録すると共に記録したデー
タを読み出す処理を繰り返し行うことから、レーザ光の
出力レベルを最適な状態に設定するのに要する時間が長
くなってしまう。また、レーザ光の出力レベルを切り換
える際に、切り換え前後での出力レベル差を小さくして
レーザ光の出力の調整精度を高めるものとすると、デー
タ記録再生の繰り返し回数が増大して、レーザ光の出力
レベルの設定に要する時間が更に長くなってしまう。
去してから新たなデータを記録すると共に記録したデー
タを読み出す処理を繰り返し行うことから、レーザ光の
出力レベルを最適な状態に設定するのに要する時間が長
くなってしまう。また、レーザ光の出力レベルを切り換
える際に、切り換え前後での出力レベル差を小さくして
レーザ光の出力の調整精度を高めるものとすると、デー
タ記録再生の繰り返し回数が増大して、レーザ光の出力
レベルの設定に要する時間が更に長くなってしまう。
【0007】そこで、この発明では、効率よく高精度に
データ記録時のレーザ光の出力レベルを最適な状態に設
定することができる光ディスク装置およびレーザ光出力
設定方法を提供するものである。
データ記録時のレーザ光の出力レベルを最適な状態に設
定することができる光ディスク装置およびレーザ光出力
設定方法を提供するものである。
【0008】
【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
ク装置は、光ディスクにレーザ光を照射してデータの記
録再生を行う記録再生手段と、レーザ光の出力レベルを
設定する出力設定手段と、記録再生手段と出力設定手段
の動作を制御する制御手段とを有し、制御手段では、出
力設定手段によってレーザ光の出力レベルを順次可変さ
せて記録再生手段によって光ディスクに所定のデータを
記録し、その後、該レーザ光の出力レベルを可変させて
記録された所定のデータを記録再生手段によって再生し
て得られた信号に基づき、レーザ光の出力レベルの最適
値を判別して出力設定手段に通知し、出力設定手段で
は、データ記録時にレーザ光の出力レベルが最適値とな
るようレーザ光の出力レベルを設定するものである。
ク装置は、光ディスクにレーザ光を照射してデータの記
録再生を行う記録再生手段と、レーザ光の出力レベルを
設定する出力設定手段と、記録再生手段と出力設定手段
の動作を制御する制御手段とを有し、制御手段では、出
力設定手段によってレーザ光の出力レベルを順次可変さ
せて記録再生手段によって光ディスクに所定のデータを
記録し、その後、該レーザ光の出力レベルを可変させて
記録された所定のデータを記録再生手段によって再生し
て得られた信号に基づき、レーザ光の出力レベルの最適
値を判別して出力設定手段に通知し、出力設定手段で
は、データ記録時にレーザ光の出力レベルが最適値とな
るようレーザ光の出力レベルを設定するものである。
【0009】またレーザ光出力設定方法は、レーザ光の
出力を順次可変させて光ディスクに所定のデータを記録
し、その後、該レーザ光の出力レベルを順次可変させて
記録されたデータを再生して得られた信号に基づきレー
ザ光の最適値を判別し、光ディスクにデータを記録する
際のレーザ光の出力レベルを、判別された最適値に設定
するこの発明においては、レーザ光の出力レベルが例え
ば予め設定された可変範囲の最大レベルから最小レベル
方向に順次可変されて所定のデータが光ディスクの間欠
した位置に記録される。このレーザ光の出力レベルを順
次可変して記録されたデータを再生して得られた信号に
基づきレーザ光の最適値が判別されて、データ記録時の
レーザ光の出力レベルが最適値となるように制御され
る。また、所定のデータを記録する際には、光ディスク
に照射しているレーザ光の出力レベルが記憶される。
出力を順次可変させて光ディスクに所定のデータを記録
し、その後、該レーザ光の出力レベルを順次可変させて
記録されたデータを再生して得られた信号に基づきレー
ザ光の最適値を判別し、光ディスクにデータを記録する
際のレーザ光の出力レベルを、判別された最適値に設定
するこの発明においては、レーザ光の出力レベルが例え
ば予め設定された可変範囲の最大レベルから最小レベル
方向に順次可変されて所定のデータが光ディスクの間欠
した位置に記録される。このレーザ光の出力レベルを順
次可変して記録されたデータを再生して得られた信号に
基づきレーザ光の最適値が判別されて、データ記録時の
レーザ光の出力レベルが最適値となるように制御され
る。また、所定のデータを記録する際には、光ディスク
に照射しているレーザ光の出力レベルが記憶される。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、この発
明の実施の一形態について説明する。図1は光変調記録
方式を用いた光ディスク装置の全体構成を示すブロック
図であり、ディスクとして光磁気ディスクを用いる場合
を示している。
明の実施の一形態について説明する。図1は光変調記録
方式を用いた光ディスク装置の全体構成を示すブロック
図であり、ディスクとして光磁気ディスクを用いる場合
を示している。
【0011】光磁気ディスク10はスピンドルモータ部
21によって、所定の速度で回転される。なお、スピン
ドルモータ部21は、後述するサーボ制御部24からの
スピンドル駆動信号SSDによって、光磁気ディスク10
の回転速度が所定の速度となるように駆動される。
21によって、所定の速度で回転される。なお、スピン
ドルモータ部21は、後述するサーボ制御部24からの
スピンドル駆動信号SSDによって、光磁気ディスク10
の回転速度が所定の速度となるように駆動される。
【0012】光磁気ディスク10には、光ディスク装置
20の光ピックアップ部22から光量をコントロールさ
れたレーザ光が照射される。光磁気ディスク10で反射
されたレーザ光は、光ピックアップ部22の光検出処理
回路(図示せず)に照射される。光検出処理回路では、
光電変換および電流電圧変換等を行い、反射光に基づい
て再生RF信号SRFを生成してリードチャネルブロック
23に供給する。また、トラッキング誤差信号STEやフ
ォーカス誤差信号SFEを生成して、サーボ制御部24に
供給する。
20の光ピックアップ部22から光量をコントロールさ
れたレーザ光が照射される。光磁気ディスク10で反射
されたレーザ光は、光ピックアップ部22の光検出処理
回路(図示せず)に照射される。光検出処理回路では、
光電変換および電流電圧変換等を行い、反射光に基づい
て再生RF信号SRFを生成してリードチャネルブロック
23に供給する。また、トラッキング誤差信号STEやフ
ォーカス誤差信号SFEを生成して、サーボ制御部24に
供給する。
【0013】リードチャネルブロック23では、再生R
F信号SRFからリードクロックCLKや復号信号RDを
生成して信号処理部25に供給する。
F信号SRFからリードクロックCLKや復号信号RDを
生成して信号処理部25に供給する。
【0014】サーボ制御部24では、供給されたフォー
カス誤差信号SFEに基づき、レーザ光の焦点位置が光磁
気ディスク10上の位置となるように、光ピックアップ
部22の対物レンズ(図示せず)を駆動するためのフォ
ーカス駆動信号SFDを生成して、光ピックアップ部22
のアクチュエータ(図示せず)に供給する。また、供給
されたトラッキング誤差信号STEに基づき、レーザ光の
照射位置が所望のトラック中央位置となるように、光ピ
ックアップ部22の対物レンズを駆動するためのトラッ
キング駆動信号STDを生成して、光ピックアップ部22
のアクチュエータに供給する。
カス誤差信号SFEに基づき、レーザ光の焦点位置が光磁
気ディスク10上の位置となるように、光ピックアップ
部22の対物レンズ(図示せず)を駆動するためのフォ
ーカス駆動信号SFDを生成して、光ピックアップ部22
のアクチュエータ(図示せず)に供給する。また、供給
されたトラッキング誤差信号STEに基づき、レーザ光の
照射位置が所望のトラック中央位置となるように、光ピ
ックアップ部22の対物レンズを駆動するためのトラッ
キング駆動信号STDを生成して、光ピックアップ部22
のアクチュエータに供給する。
【0015】また、サーボ制御部24では、光磁気ディ
スク10に対してデータを記録する際に、磁気ヘッド駆
動信号SMHを磁気ヘッド27に供給して、磁気ヘッド2
7から、光磁気ディスク10のレーザ光の照射位置に直
流外部磁界を与える。
スク10に対してデータを記録する際に、磁気ヘッド駆
動信号SMHを磁気ヘッド27に供給して、磁気ヘッド2
7から、光磁気ディスク10のレーザ光の照射位置に直
流外部磁界を与える。
【0016】さらに、サーボ制御部24では、後述する
レーザ光出力制御部26に対して設定信号SPCを供給し
て、レーザ光の出力レベルを設定する。また、上述した
ようにスピンドル駆動信号SSDを生成してスピンドルモ
ータ部21に供給すると共に、光ピックアップ部22か
ら照射されるレーザ光の照射位置がトラッキング制御範
囲を超えないように、光ピックアップ部22を光磁気デ
ィスク10の径方向に移動させるスレッド動作制御も行
う。
レーザ光出力制御部26に対して設定信号SPCを供給し
て、レーザ光の出力レベルを設定する。また、上述した
ようにスピンドル駆動信号SSDを生成してスピンドルモ
ータ部21に供給すると共に、光ピックアップ部22か
ら照射されるレーザ光の照射位置がトラッキング制御範
囲を超えないように、光ピックアップ部22を光磁気デ
ィスク10の径方向に移動させるスレッド動作制御も行
う。
【0017】信号処理部25では、リードクロックCL
Kを用いて復号信号RDのデコード処理を行い、得られ
た信号を出力データDoutとして、SCSI(Small Comp
uterSystem Interface)やATAPI(AT Attachment Pa
cket Interface)等の規格に対応するインタフェース部
28を介してコンピュータ装置等に供給する。また、復
号信号RDに基づきアドレス情報を読み出して制御部3
0に供給する。さらに、コンピュータ装置等からインタ
フェース部28を介して入力データDinが供給されたと
きには、この入力データDinのエンコード処理を行い、
得られた記録信号WDをレーザ光出力制御部26に供給
する。
Kを用いて復号信号RDのデコード処理を行い、得られ
た信号を出力データDoutとして、SCSI(Small Comp
uterSystem Interface)やATAPI(AT Attachment Pa
cket Interface)等の規格に対応するインタフェース部
28を介してコンピュータ装置等に供給する。また、復
号信号RDに基づきアドレス情報を読み出して制御部3
0に供給する。さらに、コンピュータ装置等からインタ
フェース部28を介して入力データDinが供給されたと
きには、この入力データDinのエンコード処理を行い、
得られた記録信号WDをレーザ光出力制御部26に供給
する。
【0018】レーザ光出力制御部26では、レーザ駆動
信号SLDを生成して光ピックアップ部22のレーザダイ
オード(図示せず)に供給し、レーザダイオードからの
レーザ光の照射やレーザ光の出力レベルを制御する。こ
こで、レーザ光出力制御部26では、制御部30から供
給された制御信号CTに基づき、レーザ光の出力を再生
モードあるいは記録モードに切り換えると共に、サーボ
制御部24からの設定信号SPCに基づいて各モードでの
レーザ光の出力レベルを制御する。さらに、記録モード
時に信号処理部25から供給された記録信号WDに基づ
きレーザ光を変調して、記録信号WDに応じた記録マー
クを光磁気ディスク10に形成する。
信号SLDを生成して光ピックアップ部22のレーザダイ
オード(図示せず)に供給し、レーザダイオードからの
レーザ光の照射やレーザ光の出力レベルを制御する。こ
こで、レーザ光出力制御部26では、制御部30から供
給された制御信号CTに基づき、レーザ光の出力を再生
モードあるいは記録モードに切り換えると共に、サーボ
制御部24からの設定信号SPCに基づいて各モードでの
レーザ光の出力レベルを制御する。さらに、記録モード
時に信号処理部25から供給された記録信号WDに基づ
きレーザ光を変調して、記録信号WDに応じた記録マー
クを光磁気ディスク10に形成する。
【0019】制御部30は光ディスク装置20の各部の
動作を制御するためのものであり、例えばコンピュータ
装置からインタフェース部28や信号処理部25を介し
てコマンドが供給されたときには、このコマンドに応じ
た制御信号CTを生成して各部に供給することにより、
光ディスク装置20でコマンドに応じた動作が行われる
ように制御する。また、光磁気ディスク10に正しく信
号を記録することができるようにレーザ光の出力の設定
等も行う。
動作を制御するためのものであり、例えばコンピュータ
装置からインタフェース部28や信号処理部25を介し
てコマンドが供給されたときには、このコマンドに応じ
た制御信号CTを生成して各部に供給することにより、
光ディスク装置20でコマンドに応じた動作が行われる
ように制御する。また、光磁気ディスク10に正しく信
号を記録することができるようにレーザ光の出力の設定
等も行う。
【0020】また、上述した光ディスク装置20では、
光磁気ディスク10に記録されている信号を読み出し
て、より正しい出力データDoutを得るために、例えば
リードチャネルブロック23では、再生RF信号SRFの
信号レベルの調整や波形等化処理を行い、得られた信号
に対してビタビ復号処理を行うことで、正しい復号信号
RDを信号処理部25に供給できるようになされてい
る。
光磁気ディスク10に記録されている信号を読み出し
て、より正しい出力データDoutを得るために、例えば
リードチャネルブロック23では、再生RF信号SRFの
信号レベルの調整や波形等化処理を行い、得られた信号
に対してビタビ復号処理を行うことで、正しい復号信号
RDを信号処理部25に供給できるようになされてい
る。
【0021】ここで、波形等化処理およびビタビ復号方
法について説明する。光ディスク装置20では、信号処
理部25で入力データDinのエンコード処理を行う際
に、RLL(Run Length Limited)符号化方法、例えば
RLL(1,7)符号が用いられる。また、光磁気ディ
スク10に信号を記録する際に、記録密度を大きくする
ことができるようにマークエッジ記録方法が用いられ
る。
法について説明する。光ディスク装置20では、信号処
理部25で入力データDinのエンコード処理を行う際
に、RLL(Run Length Limited)符号化方法、例えば
RLL(1,7)符号が用いられる。また、光磁気ディ
スク10に信号を記録する際に、記録密度を大きくする
ことができるようにマークエッジ記録方法が用いられ
る。
【0022】波形等化処理では、符号間干渉を積極的に
利用するパーシャルレスポンス方法が用いられる。この
際に用いられる波形等化特性は、一般に(1+D)n で
表されるパーシャルレスポンス特性のうちから、記録/
再生系の線記録密度およびMTF(Modulation Transfe
r Function)を考慮して決められる。
利用するパーシャルレスポンス方法が用いられる。この
際に用いられる波形等化特性は、一般に(1+D)n で
表されるパーシャルレスポンス特性のうちから、記録/
再生系の線記録密度およびMTF(Modulation Transfe
r Function)を考慮して決められる。
【0023】ここで、上述したRLL(1,7)符号化
方法とマークエッジ記録方法の組合せによって記録され
た信号に対して、PR(1,2,1)を用いる波形等化
処理を行い、この波形等化処理が行われた信号を用いて
4値4状態ビタビ復号方法を行う。
方法とマークエッジ記録方法の組合せによって記録され
た信号に対して、PR(1,2,1)を用いる波形等化
処理を行い、この波形等化処理が行われた信号を用いて
4値4状態ビタビ復号方法を行う。
【0024】マークエッジ記録方法においては、光磁気
ディスク10に対する実際の記録に先立って、上述のR
LL符号化等によって符号化された記録信号WDに基づ
くプリコードがレーザ光出力制御部26で行われる。な
お、プリコードは信号処理部25で行うものとしても良
い。
ディスク10に対する実際の記録に先立って、上述のR
LL符号化等によって符号化された記録信号WDに基づ
くプリコードがレーザ光出力制御部26で行われる。な
お、プリコードは信号処理部25で行うものとしても良
い。
【0025】各時点kにおける記録データ列をa
〔k〕、これに基づくプリコード出力をb〔k〕とする
と、プリコードは、式(1)のように行われる。 b〔k〕=(a〔k〕+b〔k−1〕)mod2 ・・・(1) このようなプリコード出力b〔k〕が実際に光磁気ディ
スク10に記録される。
〔k〕、これに基づくプリコード出力をb〔k〕とする
と、プリコードは、式(1)のように行われる。 b〔k〕=(a〔k〕+b〔k−1〕)mod2 ・・・(1) このようなプリコード出力b〔k〕が実際に光磁気ディ
スク10に記録される。
【0026】図2はリードチャネルブロック23の構成
を示しており、再生RF信号SRFは、PLL回路231
とA/D変換回路232に供給される。PLL回路23
1では、再生RF信号SRFに基づきリードクロックCL
Kを生成してA/D変換回路232、ディジタルフィル
タ233、ビタビ復号器234に供給する。
を示しており、再生RF信号SRFは、PLL回路231
とA/D変換回路232に供給される。PLL回路23
1では、再生RF信号SRFに基づきリードクロックCL
Kを生成してA/D変換回路232、ディジタルフィル
タ233、ビタビ復号器234に供給する。
【0027】A/D変換回路232では、リードクロッ
クCLKを用いてサンプリングを行い再生RF信号SRF
をディジタルの再生信号DRとしてディジタルフィルタ
233に供給する。
クCLKを用いてサンプリングを行い再生RF信号SRF
をディジタルの再生信号DRとしてディジタルフィルタ
233に供給する。
【0028】ディジタルフィルタ233では、波形等化
特性PR(1,2,1)での波形等化処理を行う。な
お、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せず
に、波形等化特性をPR(B,2A,B)とする。ま
た、ノイズを考慮しない場合の再生信号DRを再生信号
c〔k〕と表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生
信号DR(すなわち、光磁気ディスク10から読み出さ
れた再生信号)をz〔k〕と表記する。
特性PR(1,2,1)での波形等化処理を行う。な
お、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せず
に、波形等化特性をPR(B,2A,B)とする。ま
た、ノイズを考慮しない場合の再生信号DRを再生信号
c〔k〕と表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生
信号DR(すなわち、光磁気ディスク10から読み出さ
れた再生信号)をz〔k〕と表記する。
【0029】PR(B,2A,B)は、ある時点kにお
ける再生信号の値に対して、時点kにおける振幅の寄与
が振幅値の2A倍とされ、さらに前後の時点k−1およ
びk+1における振幅の寄与が、各々の時点tにおける
振幅値のB倍とされるものである。したがって、再生信
号の値の最大値は、時点k−1、k、k+1において何
れもパルスが検出される場合である。このような場合に
は、再生信号の値の最大値はB+2A+B=2A+2
B、再生信号の値の最小値は0となる。ただし、実際の
取扱いにおいては、c〔k〕として、DC成分のA+B
を差し引いた式(2)に示すものが用いられる。 c〔k〕=B×b〔k−2〕+2A×b〔k−1〕+B×b〔k〕 −A−B・・・(2)
ける再生信号の値に対して、時点kにおける振幅の寄与
が振幅値の2A倍とされ、さらに前後の時点k−1およ
びk+1における振幅の寄与が、各々の時点tにおける
振幅値のB倍とされるものである。したがって、再生信
号の値の最大値は、時点k−1、k、k+1において何
れもパルスが検出される場合である。このような場合に
は、再生信号の値の最大値はB+2A+B=2A+2
B、再生信号の値の最小値は0となる。ただし、実際の
取扱いにおいては、c〔k〕として、DC成分のA+B
を差し引いた式(2)に示すものが用いられる。 c〔k〕=B×b〔k−2〕+2A×b〔k−1〕+B×b〔k〕 −A−B・・・(2)
【0030】したがって、ノイズを考慮しない場合の再
生信号c〔k〕は、A+B,A,−A,−A−Bのうち
の何れかの値をとることになり、波形等化特性PR
(1,2,1)の場合には、A+B=4,A=3,−A
=1,−A−B=0と表現される。また、実際の再生信
号z〔k〕の値もノイズによるばらつきを有するが、ほ
ぼA+B,A,−A,−A−Bのうちの何れかの値をと
ることとなる。
生信号c〔k〕は、A+B,A,−A,−A−Bのうち
の何れかの値をとることになり、波形等化特性PR
(1,2,1)の場合には、A+B=4,A=3,−A
=1,−A−B=0と表現される。また、実際の再生信
号z〔k〕の値もノイズによるばらつきを有するが、ほ
ぼA+B,A,−A,−A−Bのうちの何れかの値をと
ることとなる。
【0031】ここで、N=b〔k〕,M=b〔k−1〕,
L=b〔k−2〕の状態をSNMLと定義すると、SN
MLの組合せは23=8通り考えられる。しかし、RL
L(1,7)符号化によって生成される記録データ列a
〔k〕では、2個以上「1」が連続する下記の場合は存
在しない。 a〔k〕=1,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=1 a〔k〕=1,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=0 a〔k〕=0,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=1
L=b〔k−2〕の状態をSNMLと定義すると、SN
MLの組合せは23=8通り考えられる。しかし、RL
L(1,7)符号化によって生成される記録データ列a
〔k〕では、2個以上「1」が連続する下記の場合は存
在しない。 a〔k〕=1,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=1 a〔k〕=1,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=0 a〔k〕=0,a〔k−1〕=1,a〔k−2〕=1
【0032】このため、式(1)に従ってb〔k〕に課
せられる条件を検討するとS010,S101の状態は
生じないことから、生じうる状態は8−2=6通りとな
り、この生じうる各状態について、それらを起点として
生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録デー
タの値および再生信号の値との対応を求めると、図3に
示す状態遷移となる。
せられる条件を検討するとS010,S101の状態は
生じないことから、生じうる状態は8−2=6通りとな
り、この生じうる各状態について、それらを起点として
生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録デー
タの値および再生信号の値との対応を求めると、図3に
示す状態遷移となる。
【0033】この図3において、状態の遷移は矢印によ
って表される。また、各矢印に付した符号が〔記録デー
タ値a〔k〕/再生信号値c〔k〕〕を示している。状
態S000,S001,S111およびS110を起点
とする状態遷移は、2通り有するのに対して、状態S0
11およびS100を起点として生じ得る遷移は1通り
のみである。さらに、図3においてS000とS001
は、何れもa〔k〕=1に対しては、c〔k〕=−Aと
いう値を取り、S100に遷移している。一方、a
〔k〕=0に対しては、c〔k〕=−A−Bという値を
取り、S000に遷移している。また、S111とS1
10も同様に、同じa〔k+1〕の値について同じc
〔k+1〕の値を取り、かつ、同じ状態に遷移してい
る。したがって、S000とS001をまとめてS00
と表現し、S111とS110をまとめてS11と表現
することができる。さらに、S011をS10とし、S
100をS01と表現すると共に、波形等化特性PR
(1,2,1)の場合には、A+B=4,A=3,−A
=1,−A−B=0と表現されることから図3は図4と
して示すことができる。
って表される。また、各矢印に付した符号が〔記録デー
タ値a〔k〕/再生信号値c〔k〕〕を示している。状
態S000,S001,S111およびS110を起点
とする状態遷移は、2通り有するのに対して、状態S0
11およびS100を起点として生じ得る遷移は1通り
のみである。さらに、図3においてS000とS001
は、何れもa〔k〕=1に対しては、c〔k〕=−Aと
いう値を取り、S100に遷移している。一方、a
〔k〕=0に対しては、c〔k〕=−A−Bという値を
取り、S000に遷移している。また、S111とS1
10も同様に、同じa〔k+1〕の値について同じc
〔k+1〕の値を取り、かつ、同じ状態に遷移してい
る。したがって、S000とS001をまとめてS00
と表現し、S111とS110をまとめてS11と表現
することができる。さらに、S011をS10とし、S
100をS01と表現すると共に、波形等化特性PR
(1,2,1)の場合には、A+B=4,A=3,−A
=1,−A−B=0と表現されることから図3は図4と
して示すことができる。
【0034】この図4から、再生信号値に基づきより記
録データb〔k−2〕,b〔k−1〕,b〔k〕を決定
することができる。
録データb〔k−2〕,b〔k−1〕,b〔k〕を決定
することができる。
【0035】また、このようにスライスレベルを多値に
持つため各のマージンが少なくなると誤検出が生じてし
まうことから、上述したような波形等化処理がなされた
再生信号DRをビタビ復号器234に供給して最尤復号
を行うことにより正しいデータを確定していく。
持つため各のマージンが少なくなると誤検出が生じてし
まうことから、上述したような波形等化処理がなされた
再生信号DRをビタビ復号器234に供給して最尤復号
を行うことにより正しいデータを確定していく。
【0036】ビタビ復号器234のBMC(Branch Met
ric Circuit)では、再生信号z〔k〕に基づいて、規
格化パスメトリックに対応するブランチメトリックを計
算する。ここで、例えば状態遷移S11→S10に伴う
ブランチメトリックはbm110と表記する。また他の
状態遷移も図4に示すように表記する。この図4に示す
6つのブランクメトリックを、各時点においてサンプリ
ングされる再生信号値と振幅基準値との間のユークリッ
ド距離として計算する場合には、以下の式(3)〜
(8)が用いられる。
ric Circuit)では、再生信号z〔k〕に基づいて、規
格化パスメトリックに対応するブランチメトリックを計
算する。ここで、例えば状態遷移S11→S10に伴う
ブランチメトリックはbm110と表記する。また他の
状態遷移も図4に示すように表記する。この図4に示す
6つのブランクメトリックを、各時点においてサンプリ
ングされる再生信号値と振幅基準値との間のユークリッ
ド距離として計算する場合には、以下の式(3)〜
(8)が用いられる。
【0037】 bm000=(z〔k〕−c000)2 ・・・(3) bm001=(z〔k〕−c001)2 ・・・(4) bm011=(z〔k〕−c011)2 ・・・(5) bm111=(z〔k〕−c111)2 ・・・(6) bm110=(z〔k〕−c110)2 ・・・(7) bm100=(z〔k〕−c100)2 ・・・(8) なお、波形等化特性PR(1,2,1)の場合の振幅基
準値は、c000=0、c001=1、c011=3、
c111=4,c110=3,c100=1である。
準値は、c000=0、c001=1、c011=3、
c111=4,c110=3,c100=1である。
【0038】このようにして算出されたbm000〜b
m100の値は、ACS(Add Compare Select)に供給
される。
m100の値は、ACS(Add Compare Select)に供給
される。
【0039】ACSでは、供給されたブランチメトリッ
クと、過去のブランチメトリックの総和であるパラメト
リックから最尤パスを選択して、新たなパスメトリック
を計算する。
クと、過去のブランチメトリックの総和であるパラメト
リックから最尤パスを選択して、新たなパスメトリック
を計算する。
【0040】時点kにおいて状態Sijに至るパスメト
リックはmij〔k〕は、ブランチメトリックの値を用
いて、以下の式(9)〜(12)のように計算される。
なお、図に示すように状態S00に至る遷移はS00と
S10の2つの状態が存在し、状態S11に至る遷移は
S01とS11の2つの状態が存在することから、それ
ぞれの状態からの遷移に基づくパスメトリックを算出し
て、少ない値のパラメトリックを選択する。
リックはmij〔k〕は、ブランチメトリックの値を用
いて、以下の式(9)〜(12)のように計算される。
なお、図に示すように状態S00に至る遷移はS00と
S10の2つの状態が存在し、状態S11に至る遷移は
S01とS11の2つの状態が存在することから、それ
ぞれの状態からの遷移に基づくパスメトリックを算出し
て、少ない値のパラメトリックを選択する。
【0041】 m10〔k〕=m11〔k−1〕+bm110 ・・・(9) m11〔k〕=min{m11〔k−1〕+bm111, m01〔k−1〕+bm011} ・・・(10) m01〔k〕=m00〔k−1〕+bm001 ・・・(11) m00〔k〕=min{m00〔k−1〕+bm000, m10〔k−1〕+bm100} ・・・(12)
【0042】この算出されたパスメトリックで最小の値
のパスメトリックを選択することにより状態が決定され
て、この決定された状態を示す選択信号がSMU(Stat
us Memory Unit)に供給される。
のパスメトリックを選択することにより状態が決定され
て、この決定された状態を示す選択信号がSMU(Stat
us Memory Unit)に供給される。
【0043】SMUでは、供給された選択信号に基づ
き、最尤なものと判断された状態の系列を保持すると共
に、保持されている状態の系列から最尤の状態が検出さ
れて、この状態を示す状態データ値smがDMB(Data
Merge Block)に供給される。
き、最尤なものと判断された状態の系列を保持すると共
に、保持されている状態の系列から最尤の状態が検出さ
れて、この状態を示す状態データ値smがDMB(Data
Merge Block)に供給される。
【0044】DMBには、予め復号マトリクステーブル
が記憶されており、供給された状態データ値smに基づ
いて復号マトリクステーブルを参照することで復号信号
が生成される。このビタビ復号器234で得られた正し
い復号信号RDは、信号処理部25に供給されてデコー
ド処理される。
が記憶されており、供給された状態データ値smに基づ
いて復号マトリクステーブルを参照することで復号信号
が生成される。このビタビ復号器234で得られた正し
い復号信号RDは、信号処理部25に供給されてデコー
ド処理される。
【0045】リードチャネルブロック制御回路235で
は、制御部30からの制御信号CTに基づきディジタル
フィルタ233やビタビ復号器234の動作制御等を行
う。
は、制御部30からの制御信号CTに基づきディジタル
フィルタ233やビタビ復号器234の動作制御等を行
う。
【0046】図5は、光磁気ディスク10の領域構成の
一例を示している。光磁気ディスク10の最外周側には
図5Aに示すようにリードインゾーンが設けられてい
る。このリードインゾーンから内周側にSFP(Standa
rd Formatted Part)ゾーン、製造者使用ゾーン、ユー
ザーゾーン、製造者使用ゾーン、SFPゾーン、SFP
用遷移ゾーン、PEP(Phase Encode Part)ゾーンが
それぞれ設けられている。
一例を示している。光磁気ディスク10の最外周側には
図5Aに示すようにリードインゾーンが設けられてい
る。このリードインゾーンから内周側にSFP(Standa
rd Formatted Part)ゾーン、製造者使用ゾーン、ユー
ザーゾーン、製造者使用ゾーン、SFPゾーン、SFP
用遷移ゾーン、PEP(Phase Encode Part)ゾーンが
それぞれ設けられている。
【0047】リードインゾーンは、エンボスピットによ
り形成された領域である。
り形成された領域である。
【0048】SFPゾーンは、感度や反射率等のメディ
アに関する情報、トラック数等のシステムに関する情報
が記録された領域である。
アに関する情報、トラック数等のシステムに関する情報
が記録された領域である。
【0049】製造者使用ゾーンは、製造者がディスクに
対する試験を行ったり、光ディスク装置が記録再生条件
をテストする際に使用する領域である。
対する試験を行ったり、光ディスク装置が記録再生条件
をテストする際に使用する領域である。
【0050】ユーザゾーンは、データの記録再生に用い
る領域であり、図5Bに示すように、データの記録再生
が行われるデータエリアと、データエリアでの欠陥セク
タに代えて後述する交替セクタを使用するための交替情
報等を記録したDMAエリア、およびデータエリアの欠
陥セクタに代えて使用される交替エリアが設けられてい
る。
る領域であり、図5Bに示すように、データの記録再生
が行われるデータエリアと、データエリアでの欠陥セク
タに代えて後述する交替セクタを使用するための交替情
報等を記録したDMAエリア、およびデータエリアの欠
陥セクタに代えて使用される交替エリアが設けられてい
る。
【0051】SFP用遷移ゾーンは、溝のないPEP形
式のフォーマットの領域と溝が設けられてサーボ情報の
記録されたSFPゾーンとの境界領域である。
式のフォーマットの領域と溝が設けられてサーボ情報の
記録されたSFPゾーンとの境界領域である。
【0052】PEPゾーンは、ディスクの回転モードや
信号の変調方式、ユーザゾーンでのトラック当たりのセ
クタ数やランド記録/グルーブ記録の区分、ディスク種
別等を示す制御情報が記録されている領域である。
信号の変調方式、ユーザゾーンでのトラック当たりのセ
クタ数やランド記録/グルーブ記録の区分、ディスク種
別等を示す制御情報が記録されている領域である。
【0053】図6は、光磁気ディスク10において用い
られるセクタフォーマットの一例を示している。図6A
に示すように、1セクタは、ヘッダ、ALPC−ギャッ
プ、VFO、SYNC、データフィールド、バッファの
各エリアに区分されている。
られるセクタフォーマットの一例を示している。図6A
に示すように、1セクタは、ヘッダ、ALPC−ギャッ
プ、VFO、SYNC、データフィールド、バッファの
各エリアに区分されている。
【0054】ヘッダは、図6Bに示すように、セクタの
先頭を示すセクタマークSM、ディスクの回転が変動し
ても正しくデータの記録再生を行うためのPLLロック
用のデータであるVFO1,VFO2、データの読み出し
開始位置を示すアドレスマークAM、トラックナンバー
とセクタナンバを示すID等で構成されている。このヘ
ッダは、予めディスク上にエンボスピットを形成するこ
とでプリフォーマットされている。
先頭を示すセクタマークSM、ディスクの回転が変動し
ても正しくデータの記録再生を行うためのPLLロック
用のデータであるVFO1,VFO2、データの読み出し
開始位置を示すアドレスマークAM、トラックナンバー
とセクタナンバを示すID等で構成されている。このヘ
ッダは、予めディスク上にエンボスピットを形成するこ
とでプリフォーマットされている。
【0055】図6AのALPC−ギャップは、レーザ光
の出力を制御するためのテスト部や書き込みが行われた
ことを示すフラグ等で構成されている。
の出力を制御するためのテスト部や書き込みが行われた
ことを示すフラグ等で構成されている。
【0056】VFO3は、上述したようにPLLロック
用のデータである。なお、ヘッダのVFO1,VFO2は
予めプリフォーマットされており、このVFO3は、デ
ータの記録動作時に、光磁気的に記録されるものであ
る。SYNCはデータフィールドの同期信号である。
用のデータである。なお、ヘッダのVFO1,VFO2は
予めプリフォーマットされており、このVFO3は、デ
ータの記録動作時に、光磁気的に記録されるものであ
る。SYNCはデータフィールドの同期信号である。
【0057】データフィールドは、ユーザデータを記録
するためのものであり、このデータフィールドには、ユ
ーザデータとエラー検出・訂正用のパリティ等が記録さ
れる。また、データフィールドの後には、ディスク回転
変動時のマージン用としてのバッファエリアが設けられ
ている。
するためのものであり、このデータフィールドには、ユ
ーザデータとエラー検出・訂正用のパリティ等が記録さ
れる。また、データフィールドの後には、ディスク回転
変動時のマージン用としてのバッファエリアが設けられ
ている。
【0058】このように構成された光磁気ディスク10
に対して、上述の光ディスク装置20を用いてデータを
記録する場合、データを良好に記録できるように、予め
光磁気ディスク10の違いや環境温度等に応じてレーザ
光の出力レベルを最適に設定するための試し書き処理が
行われて、この試し書きされた信号を再生することで、
レーザ光の最適な出力レベルの判別が行われる。
に対して、上述の光ディスク装置20を用いてデータを
記録する場合、データを良好に記録できるように、予め
光磁気ディスク10の違いや環境温度等に応じてレーザ
光の出力レベルを最適に設定するための試し書き処理が
行われて、この試し書きされた信号を再生することで、
レーザ光の最適な出力レベルの判別が行われる。
【0059】図7は、レーザ光の出力レベルを最適なレ
ベルに設定するためのキャリブレーション処理を示すフ
ローチャートである。ステップST1では、制御部30
でデータ記録時のレーザ光の出力可変範囲およびレーザ
光の出力レベルを切り換える際の可変量(レベル差)を
決定して、この出力可変範囲および可変量をサーボ制御
部24に設定する。ここで、出力可変範囲は、例えば光
磁気ディスク10に記憶されている推奨値を基準として
設定する。あるいはサーボ制御部24に予め出力可変範
囲を記憶させておくものとしても良い。このように、可
変範囲を設定しておくことで、光磁気ディスク10に照
射されるレーザ光が過大あるいは過小となってしまうこ
とを防止できる。
ベルに設定するためのキャリブレーション処理を示すフ
ローチャートである。ステップST1では、制御部30
でデータ記録時のレーザ光の出力可変範囲およびレーザ
光の出力レベルを切り換える際の可変量(レベル差)を
決定して、この出力可変範囲および可変量をサーボ制御
部24に設定する。ここで、出力可変範囲は、例えば光
磁気ディスク10に記憶されている推奨値を基準として
設定する。あるいはサーボ制御部24に予め出力可変範
囲を記憶させておくものとしても良い。このように、可
変範囲を設定しておくことで、光磁気ディスク10に照
射されるレーザ光が過大あるいは過小となってしまうこ
とを防止できる。
【0060】ステップST2では、サーボ制御部24に
よって、データ記録時のレーザ光の出力レベルが可変範
囲の最大レベルとなるようにレーザ光出力制御部26を
設定する。このように、レーザ光の出力レベルを大きく
設定してから試し書き用のデータを記録すれば、試し書
きされたデータを最初から確実に読み出すことが可能と
なる。このため、レーザ光の出力が小さくて最初に試し
書きされたデータを読み出すことができず、繰り返しデ
ータの読み出しが行われて、レーザ光の出力設定に要す
る時間が長くなってしまうことを防止できる。
よって、データ記録時のレーザ光の出力レベルが可変範
囲の最大レベルとなるようにレーザ光出力制御部26を
設定する。このように、レーザ光の出力レベルを大きく
設定してから試し書き用のデータを記録すれば、試し書
きされたデータを最初から確実に読み出すことが可能と
なる。このため、レーザ光の出力が小さくて最初に試し
書きされたデータを読み出すことができず、繰り返しデ
ータの読み出しが行われて、レーザ光の出力設定に要す
る時間が長くなってしまうことを防止できる。
【0061】ステップST3では、制御部30によって
各部の動作を制御して、レーザ光の出力設定で使用する
セクタのデータを消去する。すなわち、試し書きされた
データを正しく読み出すことができるように、試し書き
が行われるセクタのデータを消去する。ここで、試し書
きに用いるセクタを、例えば上述の製造者使用ゾーンに
設けられた基準セクタの先頭から、あるいはユーザゾー
ンのデータエリアの先頭から割り当てるものとする。こ
のように、基準セクタやデータエリアの先頭から割り当
てるものとすれば、試し書きが繰り返し行われて欠陥セ
クタとなったときに、次のセクタを試し書きの先頭位置
として扱うことで、欠陥セクタを回避する処理が生じて
しまうことを防止できる。
各部の動作を制御して、レーザ光の出力設定で使用する
セクタのデータを消去する。すなわち、試し書きされた
データを正しく読み出すことができるように、試し書き
が行われるセクタのデータを消去する。ここで、試し書
きに用いるセクタを、例えば上述の製造者使用ゾーンに
設けられた基準セクタの先頭から、あるいはユーザゾー
ンのデータエリアの先頭から割り当てるものとする。こ
のように、基準セクタやデータエリアの先頭から割り当
てるものとすれば、試し書きが繰り返し行われて欠陥セ
クタとなったときに、次のセクタを試し書きの先頭位置
として扱うことで、欠陥セクタを回避する処理が生じて
しまうことを防止できる。
【0062】ステップST4では、設定された出力レベ
ルで所定のテストデータを所定のセクタ分だけ記録す
る。次にステップST5では、このときのレーザ光の出
力レベルを設定情報としてサーボ制御部24に記憶す
る。例えば、記録したセクタ単位で設定情報を記憶する
ことにより、テストデータの記録中に処理が中断されて
も、記憶された設定情報を利用して、中断された出力レ
ベルから処理を再開することができる。
ルで所定のテストデータを所定のセクタ分だけ記録す
る。次にステップST5では、このときのレーザ光の出
力レベルを設定情報としてサーボ制御部24に記憶す
る。例えば、記録したセクタ単位で設定情報を記憶する
ことにより、テストデータの記録中に処理が中断されて
も、記憶された設定情報を利用して、中断された出力レ
ベルから処理を再開することができる。
【0063】ステップST6では、テストデータを記録
したレーザ光の出力レベルが出力可変範囲の最低レベル
であるか否かをサーボ制御部24で判別して、最低レベ
ルでないときにはステップST7に進む。また、レーザ
光の出力レベルが出力可変範囲の最低レベルであるとき
には、ステップST8に進む。
したレーザ光の出力レベルが出力可変範囲の最低レベル
であるか否かをサーボ制御部24で判別して、最低レベ
ルでないときにはステップST7に進む。また、レーザ
光の出力レベルが出力可変範囲の最低レベルであるとき
には、ステップST8に進む。
【0064】ステップST7では、サーボ制御部24に
よって、レーザ光の出力レベルをステップST1で設定
された可変量「Ld」だけ低下させてステップST4に
戻る。
よって、レーザ光の出力レベルをステップST1で設定
された可変量「Ld」だけ低下させてステップST4に
戻る。
【0065】ステップST8では、サーボ制御部24か
ら制御部30にテストデータの書き込みが完了したこと
を通知して、制御部30によって各部を制御することに
より、記録動作を完了させる。さらに、記録されたテス
トデータの読み出しを開始してステップST9に進む。
ら制御部30にテストデータの書き込みが完了したこと
を通知して、制御部30によって各部を制御することに
より、記録動作を完了させる。さらに、記録されたテス
トデータの読み出しを開始してステップST9に進む。
【0066】図8はテストデータの記録再生動作を説明
するための図であり、図8Aは光磁気ディスク10から
読み出されたID情報を示している。制御部30では、
ID情報に基づき書き込みゲート信号WGを生成してサ
ーボ制御部24等に供給する。図8Bは、テストデータ
を光磁気ディスク10に書き込むか否かを示す書き込み
ゲート信号WGを示しており、この書き込みゲート信号
WGがローレベル「L」であるときテストデータの書き
込みが行われる。また、書き込みゲート信号WGは、テ
ストデータが光磁気ディスク10に間欠して記録される
ように生成する。図8Cは、レーザ光の出力レベルの設
定値DPを示している。
するための図であり、図8Aは光磁気ディスク10から
読み出されたID情報を示している。制御部30では、
ID情報に基づき書き込みゲート信号WGを生成してサ
ーボ制御部24等に供給する。図8Bは、テストデータ
を光磁気ディスク10に書き込むか否かを示す書き込み
ゲート信号WGを示しており、この書き込みゲート信号
WGがローレベル「L」であるときテストデータの書き
込みが行われる。また、書き込みゲート信号WGは、テ
ストデータが光磁気ディスク10に間欠して記録される
ように生成する。図8Cは、レーザ光の出力レベルの設
定値DPを示している。
【0067】ここで、ID情報が試し書きを行う最初の
セクタ番号NS1であるときには、このセクタ番号NS1
のセクタのデータフィールドに合わせて書き込みゲート
信号WGがローレベル「L」とされる。また、レーザ光
の出力レベルが出力可変範囲の最大値Lmxとされてテス
トデータがデータフィールドに書き込まれる。なお、図
8は、出力レベルを可変することなくテストデータを1
セクタ分記録する場合を示しており、次のセクタ番号N
S2の期間中は、テストデータの記録を停止させて、レ
ーザ光の出力レベルを最大レベル「Lmx」よりも可変量
「Ld」だけ低下させた出力レベル「Lmk」に設定す
る。
セクタ番号NS1であるときには、このセクタ番号NS1
のセクタのデータフィールドに合わせて書き込みゲート
信号WGがローレベル「L」とされる。また、レーザ光
の出力レベルが出力可変範囲の最大値Lmxとされてテス
トデータがデータフィールドに書き込まれる。なお、図
8は、出力レベルを可変することなくテストデータを1
セクタ分記録する場合を示しており、次のセクタ番号N
S2の期間中は、テストデータの記録を停止させて、レ
ーザ光の出力レベルを最大レベル「Lmx」よりも可変量
「Ld」だけ低下させた出力レベル「Lmk」に設定す
る。
【0068】次に、セクタ番号NS3のデータフィール
ドに合わせて書き込みゲート信号WGがローレベル
「L」とされると、出力レベルが「Lmk」のレーザ光で
テストデータがデータフィールドに書き込まれる。
ドに合わせて書き込みゲート信号WGがローレベル
「L」とされると、出力レベルが「Lmk」のレーザ光で
テストデータがデータフィールドに書き込まれる。
【0069】その後、テストデータが光磁気ディスク1
0の間欠した位置すなわち1セクタおきに、レーザ光の
出力レベルを可変量「Ld」だけ順次低下させて書き込
まれると共に、セクタ番号NSnでレーザ光の出力レベ
ルが出力可変範囲の最低レベルとされてテストデータの
記録が行われたときには、テストデータの書き込みが完
了される。このように、テストデータを光磁気ディスク
10の間欠した位置に順次記録することで、テストデー
タが光磁気ディスク10の周方向に分散して記録される
こととなり、光磁気ディスク10の周内の特性ばらつき
を吸収することができる。
0の間欠した位置すなわち1セクタおきに、レーザ光の
出力レベルを可変量「Ld」だけ順次低下させて書き込
まれると共に、セクタ番号NSnでレーザ光の出力レベ
ルが出力可変範囲の最低レベルとされてテストデータの
記録が行われたときには、テストデータの書き込みが完
了される。このように、テストデータを光磁気ディスク
10の間欠した位置に順次記録することで、テストデー
タが光磁気ディスク10の周方向に分散して記録される
こととなり、光磁気ディスク10の周内の特性ばらつき
を吸収することができる。
【0070】テストデータの読み出しでは、例えば図8
Dに示すようにテストデータが記録されたセクタのデー
タフィールドを示す読み出しゲート信号RGを生成して
各部に供給して、光磁気ディスク10から連続して読み
出されたデータからゲート信号RGがローレベル「L」
であるときのデータを有効なデータとして扱う。
Dに示すようにテストデータが記録されたセクタのデー
タフィールドを示す読み出しゲート信号RGを生成して
各部に供給して、光磁気ディスク10から連続して読み
出されたデータからゲート信号RGがローレベル「L」
であるときのデータを有効なデータとして扱う。
【0071】ステップST9では、再生RF信号SRFに
基づき、アシンメトリ値をレーザ光の出力レベルが異な
るセクタ毎に制御部30で算出してステップST10に
進む。
基づき、アシンメトリ値をレーザ光の出力レベルが異な
るセクタ毎に制御部30で算出してステップST10に
進む。
【0072】ステップST10では、テストデータの読
み出しが完了したか否かを判別して完了していないとき
にはステップST9に戻り、次のテストデータの読み出
しを行う。また、テストデータの読み出しが完了したと
き、すなわち、セクタ番号NSnのデータフィールドに
記録されているテストデータの読み出しが全て完了した
とき、あるいはレーザ光の出力レベルが小さく、同期信
号やテストデータを読み出すことができなくなった場合
にはステップST11に進む。
み出しが完了したか否かを判別して完了していないとき
にはステップST9に戻り、次のテストデータの読み出
しを行う。また、テストデータの読み出しが完了したと
き、すなわち、セクタ番号NSnのデータフィールドに
記録されているテストデータの読み出しが全て完了した
とき、あるいはレーザ光の出力レベルが小さく、同期信
号やテストデータを読み出すことができなくなった場合
にはステップST11に進む。
【0073】なお、ステップST9でのアシンメトリ値
の算出に時間を要する場合には、後述するアシンメトリ
値の算出に必要な情報を制御部30に一時保持させたの
ち、データの読み出し完了後にアシンメトリ値の算出を
行う。あるいはサーボ制御部24でアシンメトリ値を算
出すると共に、算出したアシンメトリ値を制御部30に
供給するのに時間を要するときには、このアシンメトリ
値をサーボ制御部24に一時保持させたのち、データの
読み出し完了後に制御部30に供給する。
の算出に時間を要する場合には、後述するアシンメトリ
値の算出に必要な情報を制御部30に一時保持させたの
ち、データの読み出し完了後にアシンメトリ値の算出を
行う。あるいはサーボ制御部24でアシンメトリ値を算
出すると共に、算出したアシンメトリ値を制御部30に
供給するのに時間を要するときには、このアシンメトリ
値をサーボ制御部24に一時保持させたのち、データの
読み出し完了後に制御部30に供給する。
【0074】ここで、アシンメトリ値の算出は、テスト
データを再生したときの再生RF信号SRFを用いて、あ
るいはリードチャネルブロック23から読み出した振幅
基準値を利用して算出することができる。
データを再生したときの再生RF信号SRFを用いて、あ
るいはリードチャネルブロック23から読み出した振幅
基準値を利用して算出することができる。
【0075】図9は、アシンメトリ値の算出を説明する
ための図である。このアシンメトリ値の算出では、アシ
ンメトリ値を正しく算出することができるように、光磁
気ディスク10に記録するテストデータは、図9に示す
ように再生RF信号SRFの振幅が最小となるパターンと
最大となるパターンとを組み合わせたパターンとなるよ
うに設定する。例えばRLL(1,7)符号化を行った
ときに再生RF信号SRFの振幅が最小となる2Tパター
ンと、振幅が最大となっている6Tパターンとを組み合
わせたパターンとなるように設定する。なお、Tはディ
スクに記録する変調後の信号に対するチャネルクロック
を示している。
ための図である。このアシンメトリ値の算出では、アシ
ンメトリ値を正しく算出することができるように、光磁
気ディスク10に記録するテストデータは、図9に示す
ように再生RF信号SRFの振幅が最小となるパターンと
最大となるパターンとを組み合わせたパターンとなるよ
うに設定する。例えばRLL(1,7)符号化を行った
ときに再生RF信号SRFの振幅が最小となる2Tパター
ンと、振幅が最大となっている6Tパターンとを組み合
わせたパターンとなるように設定する。なお、Tはディ
スクに記録する変調後の信号に対するチャネルクロック
を示している。
【0076】ここで、振幅が最小であるパターンでの再
生RF信号SRF平均レベルを「AGa」、振幅が最大で
あるパターンでの再生RF信号SRF平均レベルを「AG
b」、振幅の最大値を「MX」とすると、式(13)に
よってアシンメトリ値AMを算出することができる。 AM=(AGb−AGa)/MX ・・・(13)
生RF信号SRF平均レベルを「AGa」、振幅が最大で
あるパターンでの再生RF信号SRF平均レベルを「AG
b」、振幅の最大値を「MX」とすると、式(13)に
よってアシンメトリ値AMを算出することができる。 AM=(AGb−AGa)/MX ・・・(13)
【0077】このため、図2のリードチャネルブロック
23では、上側エンベロープ検出回路と下側エンベロー
プ検出回路(図示せず)を設けて、再生RF信号SRFの
2Tパターンでの最大レベルと最小レベルおよび6Tパ
ターンでの最大レベルと最小レベルを検出して制御部3
0に通知することにより、制御部30では最大レベルと
最小レベルを加算して0.5倍することにより平均レベ
ル「AGa,AGb」を求めることができる。また、6T
パターンでの最大レベルと最小レベルとのレベル差を算
出することで振幅の最大値「MX」を求めることがで
き、式(13)に基づいてアシンメトリ値AMを算出す
ることができる。
23では、上側エンベロープ検出回路と下側エンベロー
プ検出回路(図示せず)を設けて、再生RF信号SRFの
2Tパターンでの最大レベルと最小レベルおよび6Tパ
ターンでの最大レベルと最小レベルを検出して制御部3
0に通知することにより、制御部30では最大レベルと
最小レベルを加算して0.5倍することにより平均レベ
ル「AGa,AGb」を求めることができる。また、6T
パターンでの最大レベルと最小レベルとのレベル差を算
出することで振幅の最大値「MX」を求めることがで
き、式(13)に基づいてアシンメトリ値AMを算出す
ることができる。
【0078】また、波形等化およびビタビ復号処理を行
う図2のリードチャネルブロック23で、ビタビ復号処
理で用いる振幅基準値を式(14)に示すように再生R
F信号SRFに応じて可変させる適応型振幅基準値acN
ML〔k〕が用いられているときには、この適応型振幅
基準値を用いてからアシンメトリ値を算出するものとし
ても良い。 acNML〔k〕=(1−A)×acNML〔k−1〕+A×z〔k〕 ・・・(14) なお式(14)において、Aは適応化を行うための利
得、z〔k〕は再生信号の振幅を示している。
う図2のリードチャネルブロック23で、ビタビ復号処
理で用いる振幅基準値を式(14)に示すように再生R
F信号SRFに応じて可変させる適応型振幅基準値acN
ML〔k〕が用いられているときには、この適応型振幅
基準値を用いてからアシンメトリ値を算出するものとし
ても良い。 acNML〔k〕=(1−A)×acNML〔k−1〕+A×z〔k〕 ・・・(14) なお式(14)において、Aは適応化を行うための利
得、z〔k〕は再生信号の振幅を示している。
【0079】このようにして算出された適応型基準値a
cNMLを用いると、振幅「MX」は式(15)で算出
することができる。また、アシンメトリ値AMは式(1
6)で算出することができる。 MX=ac111−ac000 ・・・(15) AM=((ac111+ac000)−0.5(ac001+ ac100+ac110+ac011))/MX ・・・(16)
cNMLを用いると、振幅「MX」は式(15)で算出
することができる。また、アシンメトリ値AMは式(1
6)で算出することができる。 MX=ac111−ac000 ・・・(15) AM=((ac111+ac000)−0.5(ac001+ ac100+ac110+ac011))/MX ・・・(16)
【0080】図7のステップST10からステップST
11に進むと、セクタ毎に算出されたアシンメトリ値A
Mに基づき、アシンメトリ値AMが最良なセクタを制御
部30で判別する。図10は、データ記録時のレーザ光
の出力レベルとアシンメトリ値AMの関係を示す図であ
り、最良なアシンメトリ値AM0はレーザ光の出力レベ
ルが「L0」のときである。ここで、制御部30でアシ
ンメトリ値AMが最良なセクタが判別されると、このセ
クタ位置からレーザ光の最適な出力レベルを判別するこ
とができる。例えば、上述したようにレーザ光の出力レ
ベルを最大レベル「Lmx」から可変量「Ld」毎に順次
低下させて1セクタ単位でデータを記録したときには、
アシンメトリ値AMが最良なセクタは、データの記録さ
れた何番目のセクタあるかを判別することで、容易にレ
ーザ光の最適な出力レベルを算出することができる。こ
のようにして判別されたレーザ光の最適な出力レベル
を、サーボ制御部24に通知すると共に、サーボ制御部
24では通知された出力レベルをデータ記録時の最適出
力レベルとして設定する。
11に進むと、セクタ毎に算出されたアシンメトリ値A
Mに基づき、アシンメトリ値AMが最良なセクタを制御
部30で判別する。図10は、データ記録時のレーザ光
の出力レベルとアシンメトリ値AMの関係を示す図であ
り、最良なアシンメトリ値AM0はレーザ光の出力レベ
ルが「L0」のときである。ここで、制御部30でアシ
ンメトリ値AMが最良なセクタが判別されると、このセ
クタ位置からレーザ光の最適な出力レベルを判別するこ
とができる。例えば、上述したようにレーザ光の出力レ
ベルを最大レベル「Lmx」から可変量「Ld」毎に順次
低下させて1セクタ単位でデータを記録したときには、
アシンメトリ値AMが最良なセクタは、データの記録さ
れた何番目のセクタあるかを判別することで、容易にレ
ーザ光の最適な出力レベルを算出することができる。こ
のようにして判別されたレーザ光の最適な出力レベル
を、サーボ制御部24に通知すると共に、サーボ制御部
24では通知された出力レベルをデータ記録時の最適出
力レベルとして設定する。
【0081】このため、レーザ光出力制御部26では、
データ記録時に設定信号SPCに基づきレーザ駆動信号S
LDが生成されて、レーザ光の出力レベルが最適な出力レ
ベル、例えば図10に示す出力レベル「L0」となるよ
うに制御されて、データを良好に記録することができ
る。
データ記録時に設定信号SPCに基づきレーザ駆動信号S
LDが生成されて、レーザ光の出力レベルが最適な出力レ
ベル、例えば図10に示す出力レベル「L0」となるよ
うに制御されて、データを良好に記録することができ
る。
【0082】このように、データ記録時のレーザ光の出
力を設定する際に、レーザ光の出力レベルを例えばセク
タ単位で切り換えながらテストデータを記録すると共
に、この記録されたテストデータを再生してアシンメト
リ値の最良となるレーザ光の出力レベルを判別すること
で、データの消去とデータの記録および再生を繰り返し
行わなくとも、1回のデータの消去とデータの記録およ
び再生を行うだけで、効率よく簡単にレーザ光の出力レ
ベルを設定することができる。
力を設定する際に、レーザ光の出力レベルを例えばセク
タ単位で切り換えながらテストデータを記録すると共
に、この記録されたテストデータを再生してアシンメト
リ値の最良となるレーザ光の出力レベルを判別すること
で、データの消去とデータの記録および再生を繰り返し
行わなくとも、1回のデータの消去とデータの記録およ
び再生を行うだけで、効率よく簡単にレーザ光の出力レ
ベルを設定することができる。
【0083】また、上述の実施の形態ではサーボ制御部
24で、レーザ光の出力レベルを可変量「Ld」毎にレ
ーザ光の出力を低下させるものとしたが、レーザ光の出
力レベルを変化させるための設定信号SPCを予めメモリ
に記憶しておくものとし、順次メモリから設定情報を読
み出してレーザ光出力制御部26に供給するものとすれ
ば、メモリに記憶させる設定情報を調整することでレー
ザ光の出力レベルの変化を自由に設定することもでき
る。
24で、レーザ光の出力レベルを可変量「Ld」毎にレ
ーザ光の出力を低下させるものとしたが、レーザ光の出
力レベルを変化させるための設定信号SPCを予めメモリ
に記憶しておくものとし、順次メモリから設定情報を読
み出してレーザ光出力制御部26に供給するものとすれ
ば、メモリに記憶させる設定情報を調整することでレー
ザ光の出力レベルの変化を自由に設定することもでき
る。
【0084】さらに、レーザ光の出力レベルの設定が中
断されたときにはステップST5で記憶された情報ある
いは、メモリに設定情報が記憶されているときにはメモ
リのアドレス情報を記憶すると共に中断されたときに
は、このアドレス情報を利用することで、中断されたレ
ーザ光の出力レベルから記録動作を再開することができ
る。
断されたときにはステップST5で記憶された情報ある
いは、メモリに設定情報が記憶されているときにはメモ
リのアドレス情報を記憶すると共に中断されたときに
は、このアドレス情報を利用することで、中断されたレ
ーザ光の出力レベルから記録動作を再開することができ
る。
【0085】また、上述の実施の形態では、アシンメト
リ値を利用してレーザ光の出力レベルの最適値を検出す
るものとしたが、MTF(Modulation Transfer Functio
n)を利用してレーザ光の出力レベルの最適値を検出して
も良い。
リ値を利用してレーザ光の出力レベルの最適値を検出す
るものとしたが、MTF(Modulation Transfer Functio
n)を利用してレーザ光の出力レベルの最適値を検出して
も良い。
【0086】なお、上述の光ディスク装置で例えば磁気
超解像(MSR:Magnetically-Induced Super Resolut
ion)を技術を利用する場合、基準トラックを再生しな
がらデータ記録時と同様にレーザ光の出力を可変して、
再生信号のジッタやエラーレートが最良となるようにレ
ーザ光の出力レベルを設定すれば、再生動作時のレーザ
光の出力レベルも簡単かつ容易に最適に設定することが
できる。
超解像(MSR:Magnetically-Induced Super Resolut
ion)を技術を利用する場合、基準トラックを再生しな
がらデータ記録時と同様にレーザ光の出力を可変して、
再生信号のジッタやエラーレートが最良となるようにレ
ーザ光の出力レベルを設定すれば、再生動作時のレーザ
光の出力レベルも簡単かつ容易に最適に設定することが
できる。
【0087】また、上述の実施の形態では、光磁気ディ
スク10を用いた場合を説明したが、記録可能な光ディ
スクであれば光磁気ディスクに限られるものでないこと
は勿論である。
スク10を用いた場合を説明したが、記録可能な光ディ
スクであれば光磁気ディスクに限られるものでないこと
は勿論である。
【0088】
【発明の効果】この発明によれば、レーザ光の出力レベ
ルが順次可変されて光ディスクに所定のデータが記録さ
れて、このレーザ光の出力レベルを順次可変して記録さ
れたデータを再生して得られた信号に基づきレーザ光の
最適値が判別されて、光ディスクにデータを記録する際
のレーザ光の出力レベルが判別された最適値に設定され
る。このため、データの記録と再生を繰り返し行うと共
にデータの記録時にレーザ光の出力レベルを可変させな
くとも、1回のデータ記録再生でレーザ光の出力レベル
を最適値に設定できるので、効率よく高精度にデータ記
録時のレーザ光の出力レベルを設定できる。
ルが順次可変されて光ディスクに所定のデータが記録さ
れて、このレーザ光の出力レベルを順次可変して記録さ
れたデータを再生して得られた信号に基づきレーザ光の
最適値が判別されて、光ディスクにデータを記録する際
のレーザ光の出力レベルが判別された最適値に設定され
る。このため、データの記録と再生を繰り返し行うと共
にデータの記録時にレーザ光の出力レベルを可変させな
くとも、1回のデータ記録再生でレーザ光の出力レベル
を最適値に設定できるので、効率よく高精度にデータ記
録時のレーザ光の出力レベルを設定できる。
【0089】また、レーザ光の出力レベルの可変範囲を
予め設定しておくことで、レーザ光の出力レベルの最適
値を判別する際にレーザ光の出力レベルが過大あるいは
過小となってしまうことを防止できる。
予め設定しておくことで、レーザ光の出力レベルの最適
値を判別する際にレーザ光の出力レベルが過大あるいは
過小となってしまうことを防止できる。
【0090】また、レーザ光の出力レベルの可変方向
は、可変範囲の最大から最小方向とされるので、光ディ
スクに記録されたデータを確実に読み出すことができ
る。
は、可変範囲の最大から最小方向とされるので、光ディ
スクに記録されたデータを確実に読み出すことができ
る。
【0091】さらに、光ディスクに照射したレーザ光
の、出力レベルの設定が記憶されるので、処理がデータ
記録中に中断されても、記憶されている設定を利用する
ことで処理を継続できる。また、所定のデータは、光デ
ィスクの間欠した位置に記録されることから、光ディス
クの周内における特性のばらつきを吸収できる。
の、出力レベルの設定が記憶されるので、処理がデータ
記録中に中断されても、記憶されている設定を利用する
ことで処理を継続できる。また、所定のデータは、光デ
ィスクの間欠した位置に記録されることから、光ディス
クの周内における特性のばらつきを吸収できる。
【図1】この発明に係る光ディスク装置の構成を示す図
である。
である。
【図2】リードチャネルブロックの構成を示す図であ
る。
る。
【図3】状態遷移を示す図である。
【図4】状態遷移の他の表記方法を示す図である。
【図5】光磁気ディスクの領域構成の一例を示す図であ
る。
る。
【図6】セクタフォーマットの一例を示す図である。
【図7】キャリブレーション処理を示すフローチャート
である。
である。
【図8】テストデータの記録再生動作を示す図である。
【図9】アシンメトリ値の算出法を説明するための図で
ある。
ある。
【図10】レーザ光の出力レベルとアシンメトリ値の関
係を示す図である。
係を示す図である。
10・・・光磁気ディスク、20・・・光ディスク装
置、21・・・スピンドルモータ部、22・・・光ピッ
クアップ部、23・・・リードチャネルブロック、24
・・・サーボ制御部、25・・・信号処理部、26・・
・レーザ光出力制御部、27・・・磁気ヘッド、28・
・・インタフェース部、30・・・制御部
置、21・・・スピンドルモータ部、22・・・光ピッ
クアップ部、23・・・リードチャネルブロック、24
・・・サーボ制御部、25・・・信号処理部、26・・
・レーザ光出力制御部、27・・・磁気ヘッド、28・
・・インタフェース部、30・・・制御部
Claims (10)
- 【請求項1】 光ディスクにレーザ光を照射してデータ
の記録再生を行う記録再生手段と、 前記レーザ光の出力レベルを設定する出力設定手段と、 前記記録再生手段と前記出力設定手段の動作を制御する
制御手段とを有し、 前記制御手段では、前記出力設定手段によって前記レー
ザ光の出力レベルを順次可変させて前記記録再生手段に
よって前記光ディスクに所定のデータを記録し、その
後、該レーザ光の出力レベルを順次可変させて記録され
た所定のデータを前記記録再生手段によって再生して得
られた信号に基づき、前記レーザ光の出力レベルの最適
値を判別して前記出力設定手段に通知し、 前記出力設定手段では、データ記録時に前記レーザ光の
出力レベルが前記最適値となるよう前記レーザ光の出力
レベルを設定することを特徴とする光ディスク装置。 - 【請求項2】 前記出力設定手段では、予め設定された
範囲内で前記レーザ光の出力を可変させることを特徴と
する請求項1記載の光ディスク装置。 - 【請求項3】 前記出力設定手段では、前記レーザ光の
出力を前記予め設定された範囲内の最大から最小方向に
可変させることを特徴とする請求項2記載の光ディスク
装置。 - 【請求項4】 前記出力設定手段では、前記光ディスク
に照射した前記レーザ光の、出力レベルの設定を記憶す
ることを特徴とする請求項1記載の光ディスク装置。 - 【請求項5】 前記制御手段では、前記所定のデータを
前記光ディスクの間欠した位置に記録することを特徴と
する請求項1記載の光ディスク装置。 - 【請求項6】 レーザ光の出力レベルを順次可変させて
光ディスクに所定のデータを記録し、 その後、該レーザ光の出力レベルを順次可変させて記録
されたデータを再生して得られた信号に基づき前記レー
ザ光の最適値を判別し、 前記光ディスクにデータを記録する際の前記レーザ光の
出力レベルを、前記判別された最適値に設定することを
特徴とするレーザ光出力設定方法。 - 【請求項7】 前記レーザ光の出力レベルの可変範囲
は、予め設定することを特徴とする請求項6記載のレー
ザ光出力設定方法。 - 【請求項8】 前記レーザ光の出力レベルの可変方向
は、前記可変範囲の最大から最小方向とすることを特徴
とする請求項7記載のレーザ光出力設定方法。 - 【請求項9】 前記光ディスクに照射した前記レーザ光
の、出力レベルの設定を記憶することを特徴とする請求
項6記載のレーザ光出力設定方法。 - 【請求項10】 前記所定のデータは、前記光ディスク
の間欠した位置に記録することを特徴とする請求項6記
載のレーザ光出力設定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000199315A JP2002015427A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000199315A JP2002015427A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002015427A true JP2002015427A (ja) | 2002-01-18 |
Family
ID=18697354
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000199315A Pending JP2002015427A (ja) | 2000-06-30 | 2000-06-30 | 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2002015427A (ja) |
-
2000
- 2000-06-30 JP JP2000199315A patent/JP2002015427A/ja active Pending
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424 Effective date: 20060516 |