JP2002015429A - 光ディスク装置およびレーザ光出力設定方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】ＺＣＡＶフォーマットでデータ記録再生を行う
場合に、レーザ光の出力レベルを最適に設定する。 【解決手段】１つのゾーンＺ１を複数の領域Ｚ１-1，Ｚ
１-2に区分して、各領域に対して例えばデータ記録時の
レーザ光の出力レベルをアシンメトリ値が最適となるよ
うに設定する。ゾーンＺ１内でレーザ光の出力レベルの
切り換えが行われるので、アシンメトリ値のばらつき
は、レーザ光の出力レベルの切り換えが行われない場合
の値（ＡＳＡ）よりも小さい値（ＡＳＢ）となり、良好
にデータを記録することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、光ディスク装置
およびレーザ光出力設定方法に関する。詳しくは、ＺＣ
ＡＶフォーマットの光ディスクに対して、ゾーンを径方
向で複数の領域に区分し、レーザ光の出力レベルを区分
された領域毎に設定することにより、１つのゾーン内で
も出力レベルを切り換えることでレーザ光の出力レベル
の最適化を図るものである。

【０００２】

【従来の技術】従来の光ディスク装置では、書換可能な
光ディスクを用いて、この光ディスクに螺旋状あるいは
同心円上にデータを記録することが行われている。この
ような書き換え可能な光ディスクでは、大容量化のため
にディスク半径方向に線密度（周方向の記録密度）をほ
ぼ一定とした、ＺＣＡＶ(Zone Constant Angular Veloc
ity)と呼ばれる記録方式が用いられている。

【０００３】このＺＣＡＶ記録方式では、図１１Ａに示
すように光ディスクのデータ記録領域を半径方向に複数
のゾーンに区分して、このディスクを角速度一定で回転
させると共に、記録クロック周波数をゾーン毎内で一定
とすると共に内周側のゾーンよりも外周側のゾーンで高
いものとすることで、線密度が内周側のゾーンと外周側
のゾーンでほぼ等しくとなるように記録動作が行われ
る。また、ＺＣＡＶ記録方式では、基準クロック周波数
がゾーン毎に異なることから、図１１Ｂに示すようにデ
ータ記録時のレーザ光の出力レベルがゾーン内では一定
とされると共に、内周側のゾーンではオーバーパワーと
ならないように低いレベルとされ、外周側のゾーンでは
アンダーパワーとならないように高いレベルとされてデ
ータの記録が行われている。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】ところで、大容量化が
更に進むと記録マークを小さいものとして高密度記録が
行われる。このような場合、ＺＣＡＶ記録方式を用いた
としても、ゾーン内の内周側と外周側では記録密度が異
なるため、レーザ光の出力レベルを例えばゾーンの中心
位置で最適となるように設定すると、ゾーン内の内周側
ではレーザ光の出力レベルが最適レベルよりも大きくオ
ーバーパワーとなり、外周側では最適レベルよりも小さ
くアンダーパワーとなってしまう。

【０００５】また、大容量化に伴いセクタサイズが大き
くなっていることから、ゾーンを小さくしてゾーン内で
の記録密度が等しくなるようにゾーン数を増加させるも
のとすると、１つのゾーン内のセクタ数が少なくなって
しまう。

【０００６】そこで、この発明では、ＺＣＡＶフォーマ
ットでデータの記録再生を行う場合に、レーザ光の出力
レベルを最適に設定することができる光ディスク装置お
よびレーザ光出力レベル設定方法を提供するものであ
る。

【０００７】

【課題を解決するための手段】この発明に係る光ディス
ク装置は、データの記録領域が径方向で複数ゾーンに区
分された光ディスクに対して、レーザ光を照射すること
によりデータの記録再生を行う記録再生手段と、ゾーン
を径方向で複数の領域に区分すると共に、区分された領
域毎にレーザ光の出力レベルを設定し、レーザ光の出力
レベルをレーザ光が照射される区分された領域に応じた
出力レベルに設定する出力設定手段とを有するものであ
る。

【０００８】また、レーザ光出力設定方法は、データの
記録領域が径方向で複数ゾーンに区分された光ディスク
に対してレーザ光を照射することによりデータの記録再
生を行うものとし、ゾーンを径方向で複数の領域に区分
し、レーザ光の出力レベルは、区分された領域毎に設定
するものである。

【０００９】この発明においては、ＺＣＡＶフォーマッ
トの光ディスクのゾーンが径方向で複数の領域に区分さ
れて、光ディスクを再生して得られた信号のエラーレー
トあるいはアシンメトリ値が良好となるように、レーザ
光の出力レベルが区分された領域毎に設定される。

【００１０】

【発明の実施の形態】以下、図を参照しながら、この発
明の実施の一形態について説明する。図１は光変調記録
方式を用いた光ディスク装置の全体構成を示すブロック
図であり、ディスクとして光磁気ディスクを用いる場合
を示している。

【００１１】光磁気ディスク１０はスピンドルモータ部
２１によって、所定の速度で回転される。なお、スピン
ドルモータ部２１は、後述するサーボ制御部２４からの
スピンドル駆動信号ＳSDによって、光磁気ディスク１０
の回転速度が所定の速度となるように駆動される。

【００１２】光磁気ディスク１０には、光ディスク装置
２０の光ピックアップ部２２から光量をコントロールさ
れたレーザ光が照射される。光磁気ディスク１０で反射
されたレーザ光は、光ピックアップ部２２の光検出処理
回路（図示せず）に照射される。光検出処理回路では、
光電変換および電流電圧変換等を行い、反射光に基づい
て再生ＲＦ信号ＳRFを生成してリードチャネルブロック
２３に供給する。また、トラッキング誤差信号ＳTEやフ
ォーカス誤差信号ＳFEを生成して、サーボ制御部２４に
供給する。

【００１３】リードチャネルブロック２３では、再生Ｒ
Ｆ信号ＳRFからリードクロックＣＬＫや復号信号ＲＤを
生成して信号処理部２５に供給する。

【００１４】サーボ制御部２４では、供給されたフォー
カス誤差信号ＳFEに基づき、レーザ光の焦点位置が光磁
気ディスク１０上の位置となるように、光ピックアップ
部２２の対物レンズ（図示せず）を駆動するためのフォ
ーカス駆動信号ＳFDを生成して、光ピックアップ部２２
のアクチュエータ（図示せず）に供給する。また、供給
されたトラッキング誤差信号ＳTEに基づき、レーザ光の
照射位置が所望のトラック中央位置となるように、光ピ
ックアップ部２２の対物レンズを駆動するためのトラッ
キング駆動信号ＳTDを生成して、光ピックアップ部２２
のアクチュエータに供給する。

【００１５】また、サーボ制御部２４では、光磁気ディ
スク１０に対してデータを記録する際に、磁気ヘッド駆
動信号ＳMHを磁気ヘッド２７に供給して、磁気ヘッド２
７から、光磁気ディスク１０のレーザ光の照射位置に直
流外部磁界を与える。

【００１６】さらに、サーボ制御部２４では、後述する
レーザ光出力制御部２６に対して設定信号ＳPCを供給し
て、レーザ光の出力レベルを設定する。また、上述した
ようにスピンドル駆動信号ＳSDを生成してスピンドルモ
ータ部２１に供給すると共に、光ピックアップ部２２か
ら照射されるレーザ光の照射位置が光ピックアップ部２
２でのトラッキング制御範囲を超えないように、光ピッ
クアップ部２２を光磁気ディスク１０の径方向に移動さ
せるスレッド動作制御も行う。

【００１７】信号処理部２５では、リードクロックＣＬ
Ｋを用いて復号信号ＲＤのデコード処理を行い、得られ
た信号を出力データＤoutとして、ＳＣＳＩ(Small Comp
uterSystem Interface)やＡＴＡＰＩ(AT Attachment Pa
cket Interface)等の規格に対応するインタフェース部
２８を介してコンピュータ装置等に供給する。また、コ
ンピュータ装置等からインタフェース部２８を介して入
力データＤinが供給されたときには、この入力データＤ
inのエンコード処理を行い、得られた記録信号ＷＤをレ
ーザ光出力制御部２６に供給する。さらに信号処理部２
５では、復号信号ＲＤに基づきアドレス情報を読み出し
て制御部３０に供給する。

【００１８】レーザ光出力制御部２６では、レーザ駆動
信号ＳLDを生成して光ピックアップ部２２のレーザダイ
オード（図示せず）に供給し、レーザダイオードからの
レーザ光の照射やレーザ光の出力レベルを制御する。こ
こで、レーザ光出力制御部２６では、制御部３０から供
給された制御信号ＣＴに基づき、レーザ光の出力を再生
モードあるいは記録モードに切り換えると共に、サーボ
制御部２４からの設定信号ＳPCに基づいて各モードでの
レーザ光の出力レベルを制御する。さらに、記録モード
時に信号処理部２５から供給された記録信号ＷＤに基づ
きレーザ光を変調して、記録信号ＷＤに応じた記録マー
クを光磁気ディスク１０に形成する。

【００１９】制御部３０は光ディスク装置２０の各部の
動作を制御するためのものであり、例えばコンピュータ
装置からインタフェース部２８や信号処理部２５を介し
てコマンドが供給されたときには、このコマンドに応じ
た制御信号ＣＴを生成して各部に供給することにより、
光ディスク装置２０でコマンドに応じた動作が行われる
ように制御する。また、光磁気ディスク１０に正しく信
号を記録することができるようにレーザ光の出力の設定
等も行う。

【００２０】また、上述した光ディスク装置２０では、
光磁気ディスク１０に記録されている信号を読み出し
て、より正しい出力データＤoutを得るために、例えば
リードチャネルブロック２３では、再生ＲＦ信号ＳRFの
信号レベルの調整や波形等化処理を行い、得られた信号
に対してビタビ復号処理を行うことで、正しい復号信号
ＲＤを信号処理部２５に供給することができるように成
されている。

【００２１】ここで、波形等化処理およびビタビ復号方
法について説明する。光ディスク装置２０では、信号処
理部２５で入力データＤinのエンコード処理を行う際
に、ＲＬＬ（Run Length Limited）符号化方法、例えば
ＲＬＬ（１，７）符号が用いられる。また、光磁気ディ
スク１０に信号を記録する際に、記録密度を大きくする
ことができるようにマークエッジ記録方法が用いられ
る。

【００２２】波形等化処理では、符号間干渉を積極的に
利用するパーシャルレスポンス方法が用いられる。この
際に用いられる波形等化特性は、一般に（１＋Ｄ）ⁿ で
表されるパーシャルレスポンス特性のうちから、記録／
再生系の線記録密度およびＭＴＦ（Modulation Transfe
r Function）を考慮して決められる。

【００２３】ここで、上述したＲＬＬ（１，７）符号化
方法とマークエッジ記録方法の組合せによって記録され
た信号に対して、ＰＲ（１，２，１）を用いる波形等化
処理を行い、この波形等化処理が行われた信号を用いて
４値４状態ビタビ復号方法を行う。

【００２４】マークエッジ記録方法においては、光磁気
ディスク１０に対する実際の記録に先立って、上述のＲ
ＬＬ符号化等によって符号化された記録信号ＷＤに基づ
くプリコードがレーザ光出力制御部２６で行われる。な
お、プリコードは信号処理部２５で行うものとしても良
い。

【００２５】各時点ｋにおける記録データ列をａ
〔ｋ〕、これに基づくプリコード出力をｂ〔ｋ〕とする
と、プリコードは、式（１）のように行われる。 ｂ〔ｋ〕＝（ａ〔ｋ〕＋ｂ〔ｋ−１〕）ｍｏｄ２ ・・・（１） このようなプリコード出力ｂ〔ｋ〕が実際に光磁気ディ
スク１０に記録される。

【００２６】図２はリードチャネルブロック２３の構成
を示しており、再生ＲＦ信号ＳRFは、ＰＬＬ回路２３１
とＡ／Ｄ変換回路２３２に供給される。ＰＬＬ回路２３
１では、再生ＲＦ信号ＳRFに基づきリードクロックＣＬ
Ｋを生成してＡ／Ｄ変換回路２３２、ディジタルフィル
タ２３３、ビタビ復号器２３４に供給する。

【００２７】Ａ／Ｄ変換回路２３２では、リードクロッ
クＣＬＫを用いてサンプリングを行い再生ＲＦ信号ＳRF
をディジタルの再生信号ＤＲとしてディジタルフィルタ
２３３に供給する。

【００２８】ディジタルフィルタ２３３では、波形等化
特性ＰＲ（１，２，１）での波形等化処理を行う。な
お、以下の説明においては、信号の振幅を規格化せず
に、波形等化特性をＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）とする。ま
た、ノイズを考慮しない場合の再生信号ＤＲを再生信号
ｃ〔ｋ〕と表記する。さらに、ノイズを含む実際の再生
信号ＤＲ（すなわち、光磁気ディスク１０から読み出さ
れた再生信号）をｚ〔ｋ〕と表記する。

【００２９】ＰＲ（Ｂ，２Ａ，Ｂ）は、ある時点ｋにお
ける再生信号の値に対して、時点ｋにおける振幅の寄与
が振幅値の２Ａ倍とされ、さらに前後の時点ｋ−１およ
びｋ＋１における振幅の寄与が、各々の時点における信
号の振幅のＢ倍とされるものである。したがって、再生
信号の値の最大値は、時点ｋ−１、ｋ、ｋ＋１において
何れもパルスが検出される場合である。このような場合
には、再生信号の値の最大値はＢ＋２Ａ＋Ｂ＝２Ａ＋２
Ｂ、再生信号の値の最小値は０となる。ただし、実際の
取扱いにおいては、ｃ〔ｋ〕として、ＤＣ成分のＡ＋Ｂ
を差し引いた式（２）に示すものが用いられる。 ｃ〔ｋ〕＝Ｂ×ｂ〔ｋ−２〕＋２Ａ×ｂ〔ｋ−１〕＋Ｂ×ｂ〔ｋ〕 −Ａ−Ｂ・・・（２）

【００３０】したがって、ノイズを考慮しない場合の再
生信号ｃ〔ｋ〕は、Ａ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂのうち
の何れかの値をとることになり、波形等化特性ＰＲ
（１，２，１）の場合には、Ａ＋Ｂ＝４，Ａ＝３，−Ａ
＝１，−Ａ−Ｂ＝０と表現される。また、実際の再生信
号ｚ〔ｋ〕の値もノイズによるばらつきを有するが、ほ
ぼＡ＋Ｂ，Ａ，−Ａ，−Ａ−Ｂのうちの何れかの値をと
ることとなる。

【００３１】ここで、N＝ｂ〔ｋ〕，M＝ｂ〔ｋ−１〕，
L＝ｂ〔ｋ−２〕の状態をＳＮＭＬと定義すると、ＳＮ
ＭＬの組合せは２³＝８通り考えられる。しかし、ＲＬ
Ｌ（１，７）符号化によって生成される記録データ列ａ
〔ｋ〕では、２個以上「１」が連続する下記の場合は存
在しない。 ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１ ａ〔ｋ〕＝１，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝０ ａ〔ｋ〕＝０，ａ〔ｋ−１〕＝１，ａ〔ｋ−２〕＝１

【００３２】このため、式（１）に従ってｂ〔ｋ〕に課
せられる条件を検討するとＳ０１０，Ｓ１０１の状態は
生じないことから、生じうる状態は８−２＝６通りとな
り、この生じうる各状態について、それらを起点として
生じ得る状態遷移と、各状態遷移が生じる時の記録デー
タの値および再生信号の値との対応を求めると、図３に
示す状態遷移となる。

【００３３】この図３において、状態遷移は、矢印によ
って表される。また、各矢印に付した符号が〔記録デー
タ値ａ〔ｋ〕／再生信号値ｃ〔ｋ〕〕を示している。状
態Ｓ０００，Ｓ００１，Ｓ１１１およびＳ１１０を起点
とする状態遷移は、２通りあるのに対して、状態Ｓ０１
１およびＳ１００を起点として生じ得る遷移は１通りの
みである。さらに、図３においてＳ０００とＳ００１
は、何れもａ〔ｋ〕＝１に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａと
いう値を取り、Ｓ１００に遷移している。一方、ａ
〔ｋ〕＝０に対しては、ｃ〔ｋ〕＝−Ａ−Ｂという値を
取り、Ｓ０００に遷移している。また、Ｓ１１１とＳ１
１０も同様に、同じａ〔ｋ＋１〕の値について同じｃ
〔ｋ＋１〕の値を取り、かつ、同じ状態に遷移してい
る。したがって、Ｓ０００とＳ００１をまとめてＳ００
と表現し、Ｓ１１１とＳ１１０をまとめてＳ１１と表現
することができる。さらに、Ｓ０１１をＳ１０とし、Ｓ
１００をＳ０１と表現すると共に、波形等化特性ＰＲ
（１，２，１）の場合には、Ａ＋Ｂ＝４，Ａ＝３，−Ａ
＝１，−Ａ−Ｂ＝０と表現されることから図３は図４と
して示すことができる。

【００３４】この図４から、再生信号値に基づきより記
録データｂ〔ｋ−２〕，ｂ〔ｋ−１〕，ｂ〔ｋ〕を決定
することができる。

【００３５】また、このようにスライスレベルを多値に
持つため各のマージンが少なくなると誤検出が生じてし
まうことから、上述したような波形等化処理がなされた
再生信号ＤＲをビタビ復号器２３４に供給して最尤復号
を行うことにより正しいデータを確定していく。

【００３６】ビタビ復号器２３４のＢＭＣ（Branch Met
ric Circuit）では、再生信号ｚ〔ｋ〕に基づいて、規
格化パスメトリックに対応するブランチメトリックを計
算する。ここで、例えば状態遷移Ｓ１１→Ｓ１０に伴う
ブランチメトリックはｂｍ１１０と表記する。また他の
状態遷移も図４に示すように表記する。この図４に示す
６つのブランクメトリックを、各時点においてサンプリ
ングされる再生信号値と振幅基準値との間のユークリッ
ド距離として計算する場合には、以下の式（３）〜
（８）が用いられる。

【００３７】 ｂｍ０００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０００）² ・・・（３） ｂｍ００１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ００１）² ・・・（４） ｂｍ０１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ０１１）² ・・・（５） ｂｍ１１１＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１１）² ・・・（６） ｂｍ１１０＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１１０）² ・・・（７） ｂｍ１００＝（ｚ〔ｋ〕−ｃ１００）² ・・・（８） なお、波形等化特性ＰＲ（１，２，１）の場合の振幅基
準値は、ｃ０００＝０、ｃ００１＝１、ｃ０１１＝３、
ｃ１１１＝４，ｃ１１０＝３，ｃ１００＝１である。

【００３８】このようにして算出されたｂｍ０００〜ｂ
ｍ１００の値は、ＡＣＳ（Add Compare Select）に供給
される。ＡＣＳでは、供給されたブランチメトリック
と、過去のブランチメトリックの総和であるパラメトリ
ックから最尤パスを選択して、新たなパスメトリックを
計算する。

【００３９】時点ｋにおいて状態Ｓｉｊに至るパスメト
リックはｍｉｊ〔ｋ〕は、ブランチメトリックの値を用
いて、以下の式（９）〜（１２）のように計算される。
なお、図に示すように状態Ｓ００に至る遷移はＳ００と
Ｓ１０の２つの状態が存在し、状態Ｓ１１に至る遷移は
Ｓ０１とＳ１１の２つの状態が存在することから、それ
ぞれの状態からの遷移に基づくパスメトリックを算出し
て、少ない値のパラメトリックを選択する。

【００４０】 ｍ１０〔ｋ〕＝ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１０ ・・・（９） ｍ１１〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ１１〔ｋ−１〕＋ｂｍ１１１， ｍ０１〔ｋ−１〕＋ｂｍ０１１｝ ・・・（１０） ｍ０１〔ｋ〕＝ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ００１ ・・・（１１） ｍ００〔ｋ〕＝ｍｉｎ｛ｍ００〔ｋ−１〕＋ｂｍ０００， ｍ１０〔ｋ−１〕＋ｂｍ１００｝ ・・・（１２）

【００４１】この算出されたパスメトリックで最小の値
のパスメトリックを選択することにより状態が決定され
て、この決定された状態を示す選択信号がＳＭＵ（Stat
us Memory Unit）に供給される。

【００４２】ＳＭＵでは、供給された選択信号に基づ
き、最尤なものと判断された状態の系列を保持すると共
に、保持されている状態の系列から最尤の状態が検出さ
れて、この状態を示す状態データ値ｓｍがＤＭＢ（Data
Merge Block）に供給される。

【００４３】ＤＭＢには、予め復号マトリクステーブル
が記憶されており、供給された状態データ値ｓｍに基づ
いて復号マトリクステーブルを参照することで復号信号
が生成される。このビタビ復号器２３４で得られた正し
い復号信号ＲＤは、信号処理部２５に供給されてデコー
ド処理される。

【００４４】リードチャネルブロック制御回路２３５で
は、制御部３０からの制御信号ＣＴに基づきディジタル
フィルタ２３３やビタビ復号器２３４の動作制御等を行
う。

【００４５】図５は、光磁気ディスク１０の領域構成の
一例を示している。光磁気ディスク１０の最外周側には
図５Ａに示すようにリードインゾーンが設けられてい
る。このリードインゾーンから内周側にＳＦＰ（Standa
rd Formatted Part）ゾーン、製造者使用ゾーン、ユー
ザーゾーン、製造者使用ゾーン、ＳＦＰゾーン、ＳＦＰ
用遷移ゾーン、ＰＥＰ（Phase Encode Part）ゾーンが
それぞれ設けられている。

【００４６】リードインゾーンは、エンボスピットによ
り形成された領域である。

【００４７】ＳＦＰゾーンは、感度や反射率等のメディ
アに関する情報、トラック数等のシステムに関する情報
が記録された領域である。

【００４８】製造者使用ゾーンは、製造者がディスクに
対する試験を行ったり、光ディスク装置が記録再生条件
をテストする際に使用する領域である。

【００４９】ユーザゾーンは、データの記録再生に用い
る領域であり、図５Ｂに示すように、ＤＭＡエリアと複
数のゾーンＺ１〜Ｚｎからなり、各ゾーンにはデータの
記録再生が行われるデータエリアと、データエリア内に
欠陥セクタが生じたときに、この欠陥セクタに置き換え
て使用される交替エリアが設けられている。また、デー
タエリアでの欠陥セクタに代えて交替セクタを使用する
ための交替情報等がＤＭＡエリアに記録されている。

【００５０】ＳＦＰ用遷移ゾーンは、溝のないＰＥＰ形
式のフォーマットの領域と溝が設けられてサーボ情報の
記録されたＳＦＰゾーンとの境界領域である。

【００５１】ＰＥＰゾーンは、ディスクの回転モードや
信号の変調方式、ユーザゾーンでのトラック当たりのセ
クタ数やランド記録／グルーブ記録の区分、ディスク種
別等を示す制御情報が記録されている領域である。

【００５２】図６は、光磁気ディスク１０において用い
られるセクタフォーマットの一例を示している。図６Ａ
に示すように、１セクタは、ヘッダ、ＡＬＰＣ−ギャッ
プ、ＶＦＯ、ＳＹＮＣ、データフィールド、バッファの
各エリアに区分されている。

【００５３】ヘッダは、図６Ｂに示すように、セクタの
先頭を示すセクタマークＳＭ、ディスクの回転が変動し
ても正しくデータの記録再生を行うためのＰＬＬロック
用のデータであるＶＦＯ1，ＶＦＯ2、データの読み出し
開始位置を示すアドレスマークＡＭ、トラックナンバー
とセクタナンバを示すＩＤ等で構成されている。このヘ
ッダは、予めディスク上にエンボスピットを形成するこ
とでプリフォーマットされている。

【００５４】図６ＡのＡＬＰＣ−ギャップは、レーザ光
の出力を制御するためのテスト部や書き込みが行われた
ことを示すフラグ等で構成されている。

【００５５】ＶＦＯ3は、上述したようにＰＬＬロック
用のデータである。なお、ヘッダのＶＦＯ1，ＶＦＯ2は
予めプリフォーマットされており、このＶＦＯ3は、デ
ータの記録動作時に、光磁気的に記録されるものであ
る。ＳＹＮＣはデータフィールドの同期信号である。

【００５６】データフィールドは、ユーザデータを記録
するためのものであり、このデータフィールドには、ユ
ーザデータとエラー検出・訂正用のパリティ等が記録さ
れる。また、データフィールドの後には、ディスク回転
変動時のマージン用としてのバッファエリアが設けられ
ている。

【００５７】データ記録時のレーザ光の出力レベルとエ
ラーレートの関係は、図７Ａに示すようにバスタブ形状
の特性を有するものとなる。一方、データ記録時のレー
ザ光の出力レベルとアシンメトリ値の関係は、図７Ｂに
示すようにレーザ光の出力レベルの増大と共にアシンメ
トリ値は単調増加する。さらに、光ディスクのいずれの
半径位置においても、レーザ光の出力レベルがその半径
位置で最適とされてデータが記録されたときには、ほぼ
アシンメトリ値が等しくなることが知られている。

【００５８】アシンメトリ値の算出では、アシンメトリ
値を正しく算出することができるように、光磁気ディス
ク１０に記録するテストデータは、図８に示すように再
生ＲＦ信号ＳRFの振幅が最小となるパターンと最大とな
るパターンとを組み合わせたパターンとなるように設定
する。例えばＲＬＬ（１，７）符号化を行ったときに再
生ＲＦ信号ＳRFの振幅が最小となる２Ｔパターンと、振
幅が最大となっている６Ｔパターンとを組み合わせたパ
ターンとなるように設定する。なお、Ｔはディスクに記
録する変調後の信号に対するチャネルクロックを示して
いる。

【００５９】振幅が最小であるパターンでの再生ＲＦ信
号ＳRF平均レベルを「ＡＧa」、振幅が最大であるパタ
ーンでの再生ＲＦ信号ＳRF平均レベルを「ＡＧb」、振
幅の最大値を「ＭＸ」とすると、式（１３）によってア
シンメトリ値ＡＳＭを算出することができる。

【００６０】 ＡＳＭ＝（ＡＧb−ＡＧa）／ＭＸ ・・・（１３） ここで、１つのゾーン内でアシンメトリ値のばらつきが
少なくなるように、１つのゾーン内を複数の領域に区分
して、それぞれの領域に対してアシンメトリ値が最良と
なるようにレーザ光の出力レベルを設定するための設定
値を予めサーボ制御部２４に記憶させる。

【００６１】図９はサーボ制御部２４に記録された設定
値を示しており、例えばアドレス情報を用いて１つのゾ
ーンを複数の領域に区分すると共に、領域毎に設定値を
記憶させる。例えばセクタアドレスＡＤ-1〜ＡＤ-aまで
がゾーンＺ１の第１の領域Ｚ１-1、セクタアドレスＡＤ
-(a+1)〜ＡＤ-bまでが第２の領域Ｚ１-2を示すものとさ
れる。また、セクタアドレスＡＤ-(b+1)〜ＡＤ-cまでが
ゾーンＺ２の第１の領域Ｚ２-1、セクタアドレスＡＤ-
(c+1)〜ＡＤ-dまでが第２の領域Ｚ２-2を示すものとさ
れる。以下同様に、セクタアドレスを利用して各ゾーン
内が２つの領域に区分される。また、領域Ｚ１-1に対し
てアシンメトリ値が最良となるように、レーザ光の出力
レベルを切り換えるための設定値ＰＷ1-1を領域Ｚ1-1に
対応させて記憶させる。同様に、領域Ｚ1-2，Ｚ2-1，Ｚ
2-2・・・に対応させて設定値ＰＷ1-2，ＰＷ2-1，ＰＷ2
-2・・・を記憶させる。

【００６２】ここで、光磁気ディスク１０にデータを記
録する際には、制御部３０からサーボ制御部２４に対し
てデータを記録するセクタアドレスを通知する。また、
制御部３０では、光磁気ディスク１０からヘッダの情報
を読み出す処理を行い、信号処理部２５から供給された
セクタアドレスに基づき、レーザ光の照射位置がデータ
を記録する位置と判別されたときには制御信号ＣＴによ
ってサーボ制御部２４の動作を制御して、データを記録
するセクタアドレスの領域に対応する設定値を設定信号
ＳPCとしてレーザ光出力制御部２６に供給させる。

【００６３】レーザ光出力制御部２６では、供給された
設定信号ＳPCに基づきレーザ駆動信号ＳLDを生成して、
光ピックアップ部２２のレーザダイオードに供給する。
このため、１つのゾーン内でも、記録位置に応じてレー
ザ光の出力レベルが最適となるように切り換えられるの
で、データを光磁気ディスク１０に正しく良好に記録す
ることができる。例えば図１０に示すように、ゾーンＺ
１内でレーザ光の出力レベルを切り換えない破線で示す
場合では、ゾーンＺ１の内周側でオーバーパワー、外周
側ではアンダーパワーとなって、アシンメトリ値が「Ａ
ＳＡ」のばらつきを生じてしまう。しかし、ゾーンＺ１
の領域Ｚ１-1と領域Ｚ１-2で、レーザ光の出力レベルを
ＷＰ-1，ＷＰ-2に切り換えることにより、領域Ｚ１-1で
のアシンメトリ値のばらつき、および領域Ｚ１-2でのア
シンメトリ値のばらつきは「ＡＳＡ」よりも小さい「Ａ
ＳＢ」となる。すなわち、ゾーンＺ１でのアシンメトリ
値のばらつきが「ＡＳＡ」よりも小さい「ＡＳＢ」とな
ることから、１つのゾーン内で、記録位置に応じてレー
ザ光の出力レベルを最適なレベルに切り換えることで、
光磁気ディスク１０に記録された信号は良好なものとな
る。このため、記録密度が高められてもデータを正しく
読み出すことができる。

【００６４】なお、上述の実施の形態では、予め各領域
に対する設定値をサーボ制御部２４に記憶しておくもの
としたが、いずれかの領域に試し書きを行ってレーザ光
の最適出力レベルを判別すると共に、この判別された出
力レベルから、他の領域に対するレーザ光の最適出力レ
ベルを算出して、判別された最適出力レベルおよび算出
された最適出力レベルをサーボ制御部２４に設定値とし
て記憶させるものとしても良い。この場合には、光磁気
ディスク１０や光ディスク装置２０の特性あるいは環境
条件が変動した場合であっても各領域に対してレーザ光
の出力レベルを最適な状態に設定することができる。

【００６５】また、上述の実施の形態では、データ記録
時におけるレーザ光の出力レベルの設定について説明し
たが、データ再生時にも１つのゾーン内の領域毎に出力
レベルを切り換えるものとしても良い。さらに、データ
の記録再生に用いる光ディスクは光磁気ディスクに限ら
れるものではなく、相変化型の光ディスク等であっても
良いことは勿論である。

【００６６】

【発明の効果】この発明によれば、データの記録領域が
径方向で複数ゾーンに区分された光ディスクのゾーンが
径方向で複数の領域に区分されて、レーザ光の出力レベ
ルが区分された領域毎に設定される。このため、１つの
ゾーン内で更にレーザ光の出力レベルを最適化すること
ができる。

【００６７】また、光ディスクを再生して得られた信号
のエラーレートあるいはアシンメトリ値が良好となるよ
うに、区分された領域毎にレーザ光の出力レベルが設定
されるので、データの記録再生を良好に行うことができ
る。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明に係る光ディスク装置の構成を示す図
である。

【図２】リードチャネルブロックの構成を示す図であ
る。

【図３】状態遷移を示す図である。

【図４】状態遷移の他の表記方法を示す図である。

【図５】光磁気ディスクの領域構成の一例を示す図であ
る。

【図６】セクタフォーマットの一例を示す図である。

【図７】データ記録時のレーザ光出力レベルとエラーレ
ートおよびアシンメトリ値の関係を示す図である。

【図８】アシンメトリ値の算出方法を示す図である。

【図９】ゾーン内の各領域におけるレーザ光出力の設定
値を示す図である。

【図１０】ゾーン内の半径位置とアシンメトリ値の関係
を示す図である。

【図１１】半径位置と線密度およびレーザ光の出力レベ
ルの関係を示す図である。

【符号の説明】

１０・・・光磁気ディスク、２０・・・光ディスク装
置、２１・・・スピンドルモータ部、２２・・・光ピッ
クアップ部、２３・・・リードチャネルブロック、２４
・・・サーボ制御部、２５・・・信号処理部、２６・・
・レーザ光出力制御部、２７・・・磁気ヘッド、２８・
・・インタフェース部、３０・・・制御部、２３１・・
・ＰＬＬ回路、２３２・・・Ａ／Ｄ変換回路、２３３・
・・ディジタルフィルタ、２３４・・・ビタビ復号器、
２３５・・・リードチャネルブロック制御回路

Claims (4)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 データの記録領域が径方向で複数ゾーン
   に区分された光ディスクに対して、レーザ光を照射する
   ことによりデータの記録再生を行う記録再生手段と、 前記ゾーンを径方向で複数の領域に区分すると共に、前
   記区分された領域毎に前記レーザ光の出力レベルを設定
   し、前記レーザ光の出力レベルを前記レーザ光が照射さ
   れる前記区分された領域に応じた出力レベルに設定する
   出力設定手段とを有することを特徴とする光ディスク装
   置。
2. 【請求項２】 前記出力設定手段では、前記記録再生手
   段で前記光ディスクを再生して得られた信号のエラーレ
   ートあるいはアシンメトリ値が良好となるように、前記
   レーザ光の出力レベルを前記区分された領域毎に設定す
   ることを特徴とする請求項１記載の光ディスク装置。
3. 【請求項３】 データの記録領域が径方向で複数ゾーン
   に区分された光ディスクに対してレーザ光を照射するこ
   とによりデータの記録再生を行うものとし、 前記ゾーンを径方向で複数の領域に区分し、 前記レーザ光の出力レベルは、前記区分された領域毎に
   設定することを特徴とするレーザ光出力設定方法。
4. 【請求項４】 前記レーザ光の出力レベルは、前記光デ
   ィスクを再生して得られた信号のエラーレートあるいは
   アシンメトリ値が良好となるように、前記区分された領
   域毎に設定することを特徴とする請求項３記載のレーザ
   光出力設定方法。