JP4424117B2 - 水系処理剤濃度の測定又は決定方法及び測定装置 - Google Patents
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Description
4 本発明に係る水系処理剤濃度の測定装置。
C 処理剤
R キレート剤を含まない反応試薬
S 塩類
W(W1,W2) 試料水
Claims (3)
- 水系中の液体に添加されたアニオン性高分子電解質からなる処理剤と反応試薬とを化学反応させて不溶性物質を生成し、前記処理剤の濃度を比濁法によって測定する方法において、
前記水系から採取した試料水に対して、第四級アンモニウム塩を含みかつキレート剤を含まない反応試薬と塩類を添加して前記測定を行なう水系処理剤濃度の測定方法。 - 請求項1に記載の測定方法によって得られた測定データに基づいて、前記水系に添加される前記処理剤の量が決定されることを特徴とする水系処理剤濃度の決定方法。
- 水系からアニオン性高分子電解質が含有されている試料水を取り込んで測定部に供給する試料水導入手段と、
第四級アンモニウム塩を含みかつキレート剤を含まない反応試薬と塩類とを前記試料水に添加する試薬添加手段と、
前記アニオン性高分子電解質の濃度を前記測定部において比濁法により測定する光学測定手段と、
を少なくとも備える水系処理剤濃度の測定装置。
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