JP4387292B2 - Electrical inspection apparatus and electrical inspection method for flexible printed circuit board - Google Patents

Electrical inspection apparatus and electrical inspection method for flexible printed circuit board Download PDF

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Description

本発明は、可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法に関するものであり、特に、基板接続用可動ピンがスプリング型プローブにより形成されてなる可撓性プリント基板の電気検査装置及び電気検査方法に関するものである。   The present invention relates to an electric inspection apparatus and an electric inspection method for a flexible printed circuit board, and more particularly, to an electric inspection apparatus and an electric inspection apparatus for a flexible printed circuit board in which a movable pin for connecting a board is formed by a spring type probe. It is about the method.

従来、可撓性プリント基板の製造工程においては、可撓性プリント基板に形成された配線パターンの断線、短絡などの電気的性能を検査するために、スプリングが内蔵されて長さが伸縮するスプリング型プローブが用いられる。このスプリング型プローブは、電気検査時に、プローブの先端部が可撓性プリント基板(被検査物)に当接し、被検査物が押し下げられて、スプリングのバネ圧により、プローブ先端部が被検査物に押し当てられる。このように、従来は、スプリング型プローブを用いた電気検査装置により、上記配線パターンの短絡や断線等の電気検査を行っている。   Conventionally, in the manufacturing process of a flexible printed circuit board, a spring with a built-in spring that expands and contracts its length in order to inspect electrical performance such as disconnection and short circuit of a wiring pattern formed on the flexible printed circuit board A type probe is used. In this spring type probe, the tip of the probe comes into contact with the flexible printed circuit board (inspection object) during electrical inspection, and the inspection object is pushed down, and the probe tip is inspected by the spring pressure of the spring. Pressed against. As described above, conventionally, an electrical inspection such as a short circuit or disconnection of the wiring pattern is performed by an electrical inspection apparatus using a spring type probe.

特に、可撓性プリント基板は、ポリイミドフィルムなどの可撓性絶縁樹脂フィルムからなる絶縁ベース材の少なくとも一方の面に、接着剤を介して銅箔を貼り合わせた有接着剤型銅張積層板、又は、接着剤を介さず直接に銅箔を貼り合わせた無接着剤型銅張積層板を用い、この銅箔面に対するレジスト層の形成、或いは、該レジスト層に対する露光・現像・剥離・露出した銅箔に対するエッチング処理の一連のフォトファブリケーション手法による配線パターンの形成、部品搭載ランド、並びに、外部基板との接続の為のランド等に対応する表面保護層の形成、外形切断等の工程を経て製作される。   In particular, the flexible printed circuit board is an adhesive-type copper-clad laminate in which a copper foil is bonded to at least one surface of an insulating base material made of a flexible insulating resin film such as a polyimide film via an adhesive. Or, using a non-adhesive copper clad laminate in which copper foil is directly bonded without using an adhesive, forming a resist layer on the copper foil surface, or exposing / developing / peeling / exposing the resist layer A process of forming a wiring pattern by a series of photofabrication methods of etching processing on the copper foil, forming a component mounting land, a surface protection layer corresponding to a land for connection to an external substrate, and cutting an outer shape It is manufactured after that.

このような可撓性プリント基板では、構成材料が薄いうえに、他のガラスエポキシやセラミック等を絶縁ベース材として用いた基板と比較して、構成材料そのものが柔らかいという特徴を有する。その為、上記スプリング型プローブを用いた電気的性能の検査に於いては、該プローブの先端部により可撓性プリント基板が破壊されないような配慮が必要となる。   Such a flexible printed circuit board is characterized in that the constituent material is thin and the constituent material itself is softer than a substrate using another glass epoxy or ceramic as an insulating base material. Therefore, in the inspection of the electrical performance using the spring type probe, it is necessary to consider that the flexible printed circuit board is not broken by the tip of the probe.

特に、近年においては、機器の小型化・軽量化に伴い、可撓性プリント基板も配線パターンの微細化、搭載部品の小型化により、基板端子の微細化が進んできたために、それに応じてスプリング型プローブの先端部もより一層微細化し、先鋭な先端形状を有するものが採用されるようになってきている(特許文献1)。   In particular, in recent years, with the miniaturization and weight reduction of devices, flexible printed circuit boards have become increasingly finer due to the miniaturization of wiring patterns and the miniaturization of mounted components. The tip portion of the mold probe is further miniaturized, and a probe having a sharp tip shape has been adopted (Patent Document 1).

ここで、従来の電気検査装置の構成について詳述する。図8は従来の電気検査装置の基板接続用可動ピン部分を示す要部断面図である。同図において、1は昇降動作可能に設けられた電気チェック上ベースであり、該電気チェック上ベース1の下面側には、可撓性プリント基板2が配置されている。この可撓性プリント基板2の下方側には、位置決め用ガイド板3及びピンボード4が順次配設され、該ピンボード4には複数の基板接続用可動ピン5,5…5が固定されている。該可動ピン5,5…5としては、圧力を加えると収縮し該圧力を解除すると復元するスプリング型プローブが用いられている。   Here, the configuration of the conventional electrical inspection apparatus will be described in detail. FIG. 8 is a cross-sectional view of an essential part showing a movable pin portion for connecting a substrate of a conventional electrical inspection apparatus. In the figure, reference numeral 1 denotes an electric check upper base provided so as to be capable of moving up and down, and a flexible printed circuit board 2 is disposed on the lower surface side of the electric check upper base 1. On the lower side of the flexible printed circuit board 2, a positioning guide plate 3 and a pin board 4 are sequentially arranged. A plurality of board connecting movable pins 5, 5... 5 are fixed to the pin board 4. Yes. As the movable pins 5, 5, 5, a spring type probe is used that contracts when pressure is applied and restores when the pressure is released.

位置決め用ガイド板3の基板接続用可動ピン5,5…5と対応する複数箇所には、該可動ピン5,5…5よりもやや大径の貫通穴6,6…6が開穿され、該貫通穴6,6…6を基板接続用可動ピン5,5…5が遊嵌貫通することができるように構成されている。更に、ピンボード4の所定位置には、複数のガイドピンが設けられ、前記ガイド板3に設けられたガイドピンよりも大径の貫通穴を貫通して前記ガイド板3上に突出している。該ガイドピンにより可撓性プリント基板2の位置決めが行われる。   Through holes 6, 6... 6 having slightly larger diameters than the movable pins 5, 5... 5 are opened at a plurality of locations corresponding to the substrate connecting movable pins 5, 5. The substrate connecting movable pins 5, 5,... 5 can be freely fitted through the through holes 6, 6,. Further, a plurality of guide pins are provided at predetermined positions of the pin board 4, and project through the guide plate 3 through a through hole having a diameter larger than that of the guide pin provided in the guide plate 3. The flexible printed circuit board 2 is positioned by the guide pins.

又、図9は、従来の電気検査装置を示す概念図であって、該電気検査装置は、電気検査時に可撓性プリント基板2のランド部に当接する複数の基板接続用可動ピン5,5…5を有するピン部と、各基板接続用可動ピン5,5…5に応ずる複数のポイントA〜Fを有する切替えスイッチ部(スキャン部)7と、該切替えスイッチ部7のポイントA〜Fに電気的に接続されたテスター部(測定部)8とから概略構成されている。従って、切替えスイッチ部7のポイント切り替えによって、可撓性プリント基板2上に形成された各導電パターンの導通と各導電パターン間の電気絶縁性の検査を個別に行うことができる。   FIG. 9 is a conceptual diagram showing a conventional electrical inspection apparatus, which includes a plurality of board connecting movable pins 5 and 5 that abut against the land portion of the flexible printed circuit board 2 during electrical inspection. ... a pin part having 5, a changeover switch part (scan part) 7 having a plurality of points AF corresponding to each of the substrate connecting movable pins 5, 5... 5, and points A to F of the changeover switch part 7 A tester unit (measurement unit) 8 that is electrically connected is schematically configured. Therefore, by switching the point of the changeover switch unit 7, the conduction of each conductive pattern formed on the flexible printed board 2 and the electrical insulation test between the conductive patterns can be individually performed.

而して、前記電気検査時に、基板接続用可動ピン5,5…5は、図10に示すように、ガイド板より所定寸法突出しないようにセットされる。可撓性プリント基板2をセット後、電気チェック上ベース1が平行を保ったまま下降して、図11に示すように可撓性プリント基板2をガイド板3に押しつける。電気チェック上ベース1は、図12に示すように電気チェック上ベース1とピンボード4との間が所定位置に達するまで、該可撓性プリント基板2が押圧移動されることにより、該可動ピン5,5…5の先端部は、可撓性プリント基板2から反力を受けて短縮する。
特表2002−511938号公報
Thus, at the time of the electrical inspection, the substrate connecting movable pins 5, 5,... After setting the flexible printed circuit board 2, the base 1 is lowered while maintaining parallel on the electrical check, and the flexible printed circuit board 2 is pressed against the guide plate 3 as shown in FIG. 11. As shown in FIG. 12, the flexible printed circuit board 2 is pressed and moved until the electric check upper base 1 reaches a predetermined position between the electric check upper base 1 and the pin board 4. 5, 5... 5 are shortened by receiving a reaction force from the flexible printed circuit board 2.
JP-T 2002-511938

ところで、従来の電気検査装置にあっては、基板接続用可動ピン5,5…5と可撓性プリント基板2との電気的な信頼性を維持するために、基板接続用可動ピン5,5…5のランド接触部は鋭角な先端形状を有し、所定値以上の高い接触圧を必要としている。特に、部品実装品の検査に使用する基板接続用可動ピン5,5…5は、部品実装時に用いられるフラックス等の影響を避けるため、より接触圧の高い基板接続用可動ピン5,5…5を使用することが要請されている。   By the way, in the conventional electrical inspection apparatus, in order to maintain the electrical reliability between the board connecting movable pins 5, 5... 5 and the flexible printed board 2, the board connecting movable pins 5, 5. The land contact portion of 5 has an acute tip shape and requires a high contact pressure of a predetermined value or more. In particular, the board connecting movable pins 5, 5... 5 used for the inspection of the component mounting product have a higher contact pressure and the board connecting movable pins 5, 5. Is required to use.

ここに、基板接続用可動ピン5,5…5の接触圧が高いということは、該可動ピン5,5…5に内装されているスプリングのバネ定数が大きいということであり、該スプリングが破断しやすくなっている。また、基板接続用可動ピン5,5…5の接触圧力が高いことから、基板接続用可動ピン5,5…5そのものの変形も起こりやすく、該可動ピン5,5…5の動作不良が発生しやすい。もし、ピン動作不良が発生した状態で可撓性プリント基板2の電気検査を行った場合、上述のピン先端形状の先鋭化と相まって、図13に示すように、可撓性プリント基板2を基板接続用可動ピン5,5…5の先端部が貫通する、という重大な不具合を発生させることがある。   Here, the high contact pressure of the substrate connecting movable pins 5, 5... 5 means that the spring constant of the spring built in the movable pins 5, 5. It is easy to do. In addition, since the contact pressure of the substrate connecting movable pins 5, 5,... 5 is high, the substrate connecting movable pins 5, 5,. It's easy to do. If the electrical inspection of the flexible printed circuit board 2 is performed in a state in which a pin operation failure has occurred, the flexible printed circuit board 2 is attached to the substrate as shown in FIG. There may be a serious problem that the distal ends of the connecting movable pins 5, 5.

しかし、従来構成では、基板接続用可動ピン5,5…5が可撓性プリント基板2を貫通しても、これを検出することができないので、基板接続用可動ピン5,5…5が動作不良の状態にあること、即ち、「ピン動作異常状態」を検知判断することはなかった。   However, in the conventional configuration, even if the board connecting movable pins 5, 5... 5 pass through the flexible printed circuit board 2, this cannot be detected, so the board connecting movable pins 5, 5. It was not detected and judged to be in a defective state, that is, a “pin operation abnormal state”.

そのため、基板接続用可動ピン5,5…5の故障による可撓性プリント基板2のピン貫通、即ち、「基板の穴あき」という重大な不具合を発生させた場合でも、可撓性プリント基板2と電気検査装置とが電気的な接続を保っている限りは、可撓性プリント基板2の製造作業がそのまま継続されてしまう。その結果、ピン動作が「異常」な状態のまま可撓性プリント基板2が製造され、次々と可撓性プリント基板2へダメージを与えることとなり、基板製造作業において甚だ不都合となる。   Therefore, even when a serious failure such as pin penetration of the flexible printed circuit board 2 due to a failure of the movable pins 5, 5... As long as the electrical inspection apparatus and the electrical inspection apparatus are kept in electrical connection, the manufacturing operation of the flexible printed circuit board 2 is continued as it is. As a result, the flexible printed circuit board 2 is manufactured while the pin operation is in an “abnormal” state, which damages the flexible printed circuit board 2 one after another, which is extremely inconvenient in the substrate manufacturing operation.

そこで、基板接続用可動ピン(スプリング型プローブ)の故障を即座に検知特定し、該可動ピンの故障による可撓性プリント基板の穴あきという重大なダメージの継続的な発生を抑止して、該可撓性プリント基板を安定的に量産できるようにするために解決すべき技
術的課題が生じてくるのであり、本発明は該課題を解決することを目的とする。
Therefore, the failure of the movable pin for connecting the board (spring type probe) is immediately detected and specified, and the continuous occurrence of serious damage such as perforation of the flexible printed circuit board due to the failure of the movable pin is suppressed. A technical problem to be solved in order to enable mass production of a flexible printed board stably arises, and the present invention aims to solve the problem.

本発明は、上記目的を達成するために提案されたものであり、請求項1記載の発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、
前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレート端部と前記可撓性プリント基板部との空間部または前記可撓性プリント基板に開穿された貫通穴の箇所に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構成されている可撓性プリント基板の電気検査装置を提供する。
The present invention has been proposed in order to achieve the above object, and the invention according to claim 1 is characterized in that the board connecting movable pin capable of contacting the land portion of the flexible printed board has a pressure load. In an electrical inspection device formed by a spring type probe that shortens and expands according to
A conductive plate is disposed on the surface of the flexible printed board opposite to the surface on which the movable pins for connecting the substrate abut, and the space between the conductive plate end and the flexible printed circuit board or A conductive plate connection terminal portion that is electrically connected to the conductive plate is provided at a location of the through hole opened in the flexible printed circuit board, and the conductive plate connection terminal portion and the movable pin for substrate connection are provided. Provided is a flexible printed circuit board electrical inspection device configured to detect that the movable pin for connecting the board has penetrated the flexible printed circuit board by measuring a short circuit occurring therebetween.

この構成によれば、前記導電プレート接続用端子部(コモン端子部)は、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板のランド部に当接する電気検査時までに導電プレートに電気的に接続されるように構成すればよい。例えば、前記端子部の具体的態様としては、ピンボードに固定されて電気検査時までに導電プレートに接触するスプリング型プローブ製の可動式端子ピン、或いは、導電プレートに直接結線された配線が含まれる。   According to this configuration, the conductive plate connecting terminal portion (common terminal portion) is electrically connected to the conductive plate by the time of electrical inspection when the substrate connecting movable pin comes into contact with the land portion of the flexible printed circuit board. What is necessary is just to comprise. For example, specific embodiments of the terminal part include a movable terminal pin made of a spring-type probe that is fixed to a pin board and contacts the conductive plate by the time of electrical inspection, or wiring directly connected to the conductive plate. It is.

電気検査時、基板接続用可動ピンは可撓性プリント基板のランド部に当接するが、該当接前又は当接時に、導電プレート接続用端子部が導電プレートに電気的に接続される。しかして、基板接続用可動ピンが故障により可撓性プリント基板を貫通した場合は、基板接続用可動ピンの先端部が導電プレートに当接し、導電プレートを介して基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間でショートを生ずる。このショートを測定手段により検出することにより、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板を貫通したことを自動検知する。   At the time of electrical inspection, the board connecting movable pin abuts on the land portion of the flexible printed circuit board, but the conductive plate connecting terminal portion is electrically connected to the conductive plate before or at the time of contact. If the movable pin for board connection penetrates the flexible printed circuit board due to a failure, the tip of the movable pin for board connection contacts the conductive plate, and the movable pin for board connection and the conductive plate are connected via the conductive plate. Cause a short circuit with the terminal. By detecting this short by the measuring means, it is automatically detected that the movable pin for connecting the board has penetrated the flexible printed board.

請求項2記載の発明は、上記導電プレート接続用端子部が複数本設けられている請求項1記載の可撓性プリント基板の電気検査装置を提供する。   According to a second aspect of the present invention, there is provided an electrical inspection apparatus for a flexible printed circuit board according to the first aspect, wherein a plurality of the conductive plate connecting terminal portions are provided.

この構成によれば、導電プレート接続用端子部が複数本設けられているので、複数本、例えば、2本の導電プレート接続用端子部のうちの1本が電気的に動作不良を起こしても、もう1本の導電プレート接続用端子部により電気検査を行われる。また、2本の導電プレート接続用端子部間の導通の有無を試験することにより、2本の導電プレート接続用端子部の一方又は双方の電気的な接続が正常か否かが判別される。   According to this configuration, since a plurality of conductive plate connection terminal portions are provided, even if one of the plurality of conductive plate connection terminal portions, for example, two of the conductive plate connection terminal portions causes an electrical malfunction. The electrical inspection is performed by the other conductive plate connecting terminal portion. Further, by testing the presence or absence of conduction between the two conductive plate connection terminal portions, it is determined whether or not the electrical connection of one or both of the two conductive plate connection terminal portions is normal.

請求項3記載の発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査方法において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に配置された導電プレートに、該導電プレート端部と前記可撓性プリント基板部との空間部または前記可撓性プリント基板に開穿された貫通穴の箇所に設けた導電プレート接続用端子部を電気的に接続した後に、前記可撓性プリント基板のランド部に基板接続用可動ピンを当接させ、該基板接続用可動ピンと前記導電プレート接続用端子部との間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知することを特徴とする可撓性プリント基板の電気検査方法を提供する。 According to a third aspect of the present invention, there is provided an electrical inspection method in which a movable pin for connecting a substrate capable of contacting a land portion of a flexible printed circuit board is formed by a spring-type probe that is shortened and extended depending on the presence or absence of a pressure load. A conductive plate disposed on a surface of the flexible printed board opposite to a surface on which the movable pin for connecting the substrate contacts , a space between the conductive plate end and the flexible printed circuit board, or the After electrically connecting the conductive plate connecting terminal portion provided at the through hole formed in the flexible printed circuit board, the movable pin for connecting the substrate is brought into contact with the land portion of the flexible printed circuit board. Then, by measuring a short circuit generated between the board connecting movable pin and the conductive plate connecting terminal portion, it is detected that the board connecting movable pin has penetrated the flexible printed board. Providing an electrical inspection method of a flexible printed circuit board, characterized by.

この構成によれば、電気検査を行うに当たり、導電プレート接続用端子部を導電プレートに電気的に接続させた後に、基板接続用可動ピンを可撓性プリント基板のランド部に当接させる。しかして、基板接続用可動ピンが故障して可撓性プリント基板を貫通した時は、基板接続用可動ピンの先端部が導電プレートに当接し、導電プレートを介して基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間でショートを生ずる。このショートを測定することにより、可撓性プリント基板のピン貫通という異常動作状態が即時に検知される
According to this configuration, when the electrical inspection is performed, the conductive plate connecting terminal portion is electrically connected to the conductive plate, and then the substrate connecting movable pin is brought into contact with the land portion of the flexible printed board. Thus, when the board connecting movable pin breaks down and penetrates the flexible printed circuit board, the tip of the board connecting movable pin comes into contact with the conductive plate, and the board connecting movable pin and the conductive plate pass through the conductive plate. A short circuit occurs between the connection terminals. By measuring this short circuit, an abnormal operation state of pin penetration of the flexible printed circuit board is immediately detected.

請求項4記載の発明は、上記導電プレートに接続された導電プレート接続用端子部と上記複数の基板接続用可動ピンとの電気的接続を個別に切り替えて、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を夫々測定することにより、前記可撓性プリント基板を貫通した基板接続用可動ピンを検知して特定する請求項3記載の可撓性プリント基板の電気検査方法を提供する。   According to a fourth aspect of the present invention, the electrical connection between the conductive plate connection terminal portion connected to the conductive plate and the plurality of substrate connection movable pins is individually switched, and the conductive plate connection terminal portion and each substrate connection are switched. 4. The electrical inspection of a flexible printed circuit board according to claim 3, wherein a movable pin for board connection that penetrates the flexible printed circuit board is detected and specified by measuring the presence or absence of a short circuit occurring between the movable printed circuit board and the movable printed circuit board. Provide a method.

この構成によれば、導電プレート接続用端子部の他端部と上記複数の各基板接続用可動ピンとの電気的接続を順次切り替えてスキャンすることにより、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無が個別に測定される。従って、複数の基板接続用可動ピンのいずれかが故障して可撓性プリント基板を貫通した時は、貫通した基板接続用可動ピンと導電プレート接続用端子部との間のショートが測定され、該貫通した基板接続用可動ピンが特定される。   According to this configuration, by sequentially switching and scanning the electrical connection between the other end portion of the conductive plate connecting terminal portion and the plurality of movable pins for connecting the substrate, the conductive plate connecting terminal portion and the substrate connecting terminals The presence or absence of a short circuit occurring with the movable pin is individually measured. Therefore, when any of the plurality of board connecting movable pins breaks down and penetrates the flexible printed circuit board, a short circuit between the penetrating board connecting movable pin and the conductive plate connecting terminal portion is measured. The penetrated board connecting movable pin is specified.

請求項1記載の発明は、基板接続用可動ピンが可撓性プリント基板を貫通したときは、この異常動作状態が検知判別されることにより、可撓性プリント基板の製造作業を即時に中止できるので、基板接続用可動ピンの故障による可撓性プリント基板の継続的な穴あき(ピン貫通の異常動作状態)の発生を即座に抑止して、可撓性プリント基板を安定的に量産できる格別の効果がある。即ち、従来は、個々の可撓性プリント基板をそのつど外観検査により確認しなければ、可撓性プリント基板の穴あきというダメージを検出できなかったが、本発明は、可撓性プリント基板へのダメージを早い段階で自動検出して、可撓性プリント基板の製造作業を即刻停止できるので、高品質の可撓性プリント基板を安定的に製造でき生産効率が高くなる。   According to the first aspect of the present invention, when the movable pin for connecting the board passes through the flexible printed board, the abnormal operation state is detected and discriminated, so that the manufacturing operation of the flexible printed board can be stopped immediately. Therefore, it is possible to immediately suppress the occurrence of continuous perforation (abnormal operation state of pin penetration) due to the failure of the movable pin for board connection, and to stably mass-produce the flexible printed board. There is an effect. That is, until now, unless each individual flexible printed circuit board is confirmed by visual inspection, damage due to perforation of the flexible printed circuit board could not be detected. Since the damage can be automatically detected at an early stage and the production work of the flexible printed circuit board can be stopped immediately, a high-quality flexible printed circuit board can be stably produced and the production efficiency is increased.

請求項2記載の発明は、複数本の導電プレート接続用端子部のいずれかが動作不良を起こしても、残りの導電プレート接続用端子部により電気検査を行うことができるので、請求項1記載の発明の効果に加えて、電気検査を一層確実に実施できるという優れた利点を有する。又、複数本の導電プレート接続用端子部間の短絡の有無を測定することにより、導電プレート接続用端子部間の電気的接続の正常・異常状態を自己診断して判別できる。   According to the second aspect of the present invention, even if any of the plurality of conductive plate connecting terminal portions malfunctions, the remaining conductive plate connecting terminal portions can perform electrical inspection. In addition to the effect of the present invention, it has an excellent advantage that electrical inspection can be carried out more reliably. Further, by measuring the presence or absence of a short circuit between the plurality of conductive plate connecting terminal portions, the normal / abnormal state of the electrical connection between the conductive plate connecting terminal portions can be determined by self-diagnosis.

請求項3記載の発明は、前記可撓性プリント基板のピン貫通という異常動作状態を即時に自動検知できるので、ピン故障による可撓性プリント基板の継続的な穴あきの発生拡大を未然に抑止することができる。   According to the third aspect of the present invention, since the abnormal operation state of pin penetration of the flexible printed circuit board can be automatically detected immediately, the occurrence of continuous perforation of the flexible printed circuit board due to a pin failure is prevented in advance. be able to.

請求項4記載の発明は、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を個別に測定することにより、故障した基板接続用可動ピンを早い段階で容易・確実に特定できるので、請求項3記載の発明の効果に加えて、故障した基板接続用可動ピンを別の基板接続用可動ピンと交換して、高品質の可撓性プリント基板を効率よく製造できるメリットを有する。   According to the fourth aspect of the present invention, it is possible to easily and reliably identify a faulty board connecting movable pin at an early stage by individually measuring the presence or absence of a short circuit between the conductive plate connecting terminal portion and each board connecting movable pin. In addition to the effect of the invention described in claim 3, the merit of efficiently manufacturing a high-quality flexible printed circuit board by replacing the failed movable pin for connecting the substrate with another movable pin for connecting the substrate. Have

本発明は、可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部(スプリング内蔵型端子ピン又は検出用接続線)を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構
成されていることにより、基板接続用可動ピンの故障を即座に検知し、ピン故障による可撓性プリント基板の穴あきの拡大を未然防止して、可撓性プリント基板を安定的に量産化できるという目的を実現した。
The present invention is directed to an electrical inspection apparatus in which a movable pin for board connection that can abut on a land portion of a flexible printed board is formed by a spring-type probe that is shortened and extended in accordance with the presence or absence of a pressure load. A conductive plate is disposed on the surface of the conductive printed board opposite to the surface on which the movable pin for connecting the substrate abuts, and a conductive plate connecting terminal portion (a spring-embedded terminal pin that is electrically connected to the conductive plate) Or a detecting connection line), and measuring the short-circuit between the conductive plate connecting terminal portion and the board connecting movable pin, the board connecting movable pin penetrates the flexible printed board. By detecting this, it is possible to immediately detect a failure of the movable pin for connecting the board, and to expand the hole in the flexible printed circuit board due to the pin failure. The then prevent the flexible printed circuit board to achieve a goal can stably mass production.

以下、本発明の一実施の形態を図1乃至図7に従って説明する。尚、従来例と同一の構成要素には、これと同一の符号を付して説明する。図1において、電気チェック上ベース1の下面側には導電プレート10が設けられ、導電プレート10は、所要の導電性を有する金属等から成る。前記導電プレート10の面積は、後述の可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン(端子部)11が設けられている範囲の全領域を含む広さに設定されている。   Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. In addition, the same code | symbol is attached | subjected and demonstrated to the same component as a prior art example. In FIG. 1, a conductive plate 10 is provided on the lower surface side of the base 1 for electrical check, and the conductive plate 10 is made of a metal having a required conductivity. The area of the conductive plate 10 is set to a size including the entire area in which movable pins 5, 5... 5 and conductive plate connection terminal pins (terminal portions) 11 described later are provided.

また、電気チェック上ベース1の導電プレート10の左側の一部を除く部分と対応する下方位置には、被検査品たる可撓性プリント基板2が配置セットされ、図1における可撓性プリント基板2の左端部は、導電プレート10の左端部よりも所定寸法だけ内側(図1における右側)に位置している。   In addition, a flexible printed circuit board 2 as an inspected product is arranged and set at a lower position corresponding to a portion excluding the left part of the conductive plate 10 of the electric check upper base 1, and the flexible printed circuit board in FIG. The left end portion of 2 is located on the inner side (right side in FIG. 1) by a predetermined dimension than the left end portion of the conductive plate 10.

この可撓性プリント基板2の下側には、位置決め用ガイド板3及びピンボード4が順次配設され、これらガイド板3及びピンボード4の左端部は、導電プレート10の左端部と略一致している。該ピンボード4における可撓性プリント基板2下面と対応する部分には、複数の基板接続用可動ピン5,5…5が互いに適宜間隔をあけて固定植設されている。   A positioning guide plate 3 and a pin board 4 are sequentially disposed on the lower side of the flexible printed board 2, and the left end portions of the guide plate 3 and the pin board 4 are substantially the same as the left end portion of the conductive plate 10. I'm doing it. A plurality of substrate connecting movable pins 5, 5... 5 are fixedly planted at appropriate intervals on a portion of the pin board 4 corresponding to the lower surface of the flexible printed circuit board 2.

又、該ピンボード4における可撓性プリント基板2と対応しない左側部分には、1本の導電プレート接続用端子ピン11が固定植設されている。導電プレート接続用端子ピン11は、電気検査時に、可撓性プリント基板2の左側空間部を上昇することで、導電プレート10に直接当接して電気的に接続されるよう構成されている。該基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン11としては、加圧により短縮し該加圧の解除により復元するスプリング型プローブが用いられている。   In addition, one conductive plate connection terminal pin 11 is fixedly planted on the left side portion of the pin board 4 that does not correspond to the flexible printed circuit board 2. The conductive plate connection terminal pin 11 is configured to be brought into direct contact with and electrically connected to the conductive plate 10 by raising the left space portion of the flexible printed circuit board 2 at the time of electrical inspection. As the substrate connecting movable pins 5, 5... 5 and the conductive plate connecting terminal pins 11, spring type probes that are shortened by pressurization and restored by releasing the pressurization are used.

位置決め用ガイド板3の基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン11と対応する複数箇所には、該ピン5,5…5及び11よりもやや大径の貫通穴6,6…6が夫々開穿され、該貫通穴6,6…6を基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン11が遊嵌貫通して、ガイド板3の上面側へ突出できるように構成されている。更に、ガイド板3の適当箇所には、可撓性プリント基板2を位置決めするためのガイドピンが複数設けられている。   The plurality of positions corresponding to the substrate connecting movable pins 5, 5... 5 and the conductive plate connecting terminal pins 11 of the positioning guide plate 3 have through holes 6 having a slightly larger diameter than the pins 5, 5. , 6... 6 are opened, and through the through holes 6, 6... 6, the board connecting movable pins 5, 5. It is configured to project to Furthermore, a plurality of guide pins for positioning the flexible printed circuit board 2 are provided at appropriate locations on the guide plate 3.

なお、上記可撓性プリント基板2の左端部は、導電プレート10の左端部よりも内側に位置するように設ける必要はなく、双方の左端部が互いに上下一致するように設けてもよい。この場合、図2に示すように、可撓性プリント基板2における導電プレート接続用端子ピン11と対応する箇所には貫通穴12を開穿させ、電気検査時、導電プレート接続用端子ピン11が可撓性プリント基板2を貫通突出して、導電プレート10に当接できるように構成する。   Note that the left end portion of the flexible printed circuit board 2 does not have to be provided on the inner side of the left end portion of the conductive plate 10 and may be provided so that both left end portions thereof are aligned with each other. In this case, as shown in FIG. 2, through holes 12 are opened at locations corresponding to the conductive plate connecting terminal pins 11 in the flexible printed circuit board 2, and the conductive plate connecting terminal pins 11 are not exposed during electrical inspection. The flexible printed circuit board 2 is formed so as to protrude through and contact the conductive plate 10.

又、ピンボード4における導電プレート接続用端子ピン11の配置箇所は任意であり、ピンボード4の端部箇所に設ける必要はない。例えば、図3に示すように、ピンボード4の中央部領域において複数の基板接続用可動ピン5,5…5の間の箇所に導電プレート接続用端子ピン11を配設してもよい。この場合も、可撓性プリント基板2の導電プレート接続用端子ピン11と対応する箇所には、貫通穴12を開穿させることは言うまでもない。   The location of the conductive plate connecting terminal pin 11 on the pin board 4 is arbitrary, and it is not necessary to provide it at the end portion of the pin board 4. For example, as shown in FIG. 3, the conductive plate connection terminal pins 11 may be disposed at a location between the plurality of substrate connection movable pins 5, 5... 5 in the central region of the pin board 4. In this case as well, it goes without saying that through holes 12 are opened at locations corresponding to the conductive plate connecting terminal pins 11 of the flexible printed circuit board 2.

要するに、導電プレート接続用端子ピン11は、電気検査時に、可撓性プリント基板2に接触することなく、直接導電プレート10に当接するように構成すればよい。更に、導電プレート接続用端子ピン11の数は複数設けることができる。導電プレート接続用端子ピン11自体の断線等の不具合を電気的に検出できるようにするために、導電プレート接続用端子ピン11の本数は2本以上設けることが好ましい。図4は、導電プレート接続用端子ピン11をピンボード4に2本植設して、2本の導電プレート接続用端子ピン11を基板接続用5,5…5の左右両側の箇所に設けた配置例を示す。   In short, the conductive plate connecting terminal pin 11 may be configured to directly contact the conductive plate 10 without contacting the flexible printed circuit board 2 at the time of electrical inspection. Further, a plurality of conductive plate connecting terminal pins 11 can be provided. It is preferable to provide two or more conductive plate connecting terminal pins 11 in order to be able to electrically detect problems such as disconnection of the conductive plate connecting terminal pins 11 themselves. In FIG. 4, two conductive plate connection terminal pins 11 are implanted in the pin board 4, and two conductive plate connection terminal pins 11 are provided on the left and right sides of the substrate connection 5, 5. An arrangement example is shown.

図6は、本実施例の電気検査装置を示す概念図である。電気検査装置は、複数の基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン11からなるピン部と、複数の基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート10に応ずるポイントA〜F及びGを有する切替えスイッチ部(スキャン部)13と、該切替えスイッチ部13のポイントA〜F及びGに電気的に接続されたテスター部(測定部)14とから概略構成されている。電気検査時に、複数の基板接続用可動ピン5は可撓性プリント基板2のランド部に当接する一方、導電プレート接続用端子ピン11は導電プレート10下面に直に常時当接する。   FIG. 6 is a conceptual diagram showing the electrical inspection apparatus of the present embodiment. The electrical inspection apparatus has a pin portion composed of a plurality of substrate connecting movable pins 5, 5... 5 and conductive plate connecting terminal pins 11, and a point corresponding to the plurality of substrate connecting movable pins 5, 5. A switching switch unit (scanning unit) 13 having A to F and G and a tester unit (measuring unit) 14 electrically connected to points A to F and G of the switching switch unit 13 are schematically configured. . During the electrical inspection, the plurality of substrate connecting movable pins 5 abut on the land portion of the flexible printed circuit board 2, while the conductive plate connecting terminal pins 11 always abut on the lower surface of the conductive plate 10 at all times.

前記テスター部14は、電源部、ポイント切替え測定部及び測定データ表示部等を備えると共に、各種測定データを記憶する記憶装置が内蔵されている。従って、切替えスイッチ部13のポイントA〜Fを切り替えることにより、可撓性プリント基板2の各導電パターン間の電気絶縁性等の電気検査を実施できる。併せて、切替えスイッチ部13のポイントGを閉成した状態で、複数の基板接続用可動ピン5,5…5と導電プレート接続用端子部導電プレート10間のショート検査も個別に実施できる。   The tester unit 14 includes a power supply unit, a point switching measurement unit, a measurement data display unit, and the like, and a storage device that stores various measurement data. Therefore, by switching the points A to F of the changeover switch unit 13, an electrical inspection such as electrical insulation between the conductive patterns of the flexible printed board 2 can be performed. In addition, in a state where the point G of the changeover switch portion 13 is closed, a short inspection between the plurality of substrate connecting movable pins 5, 5... 5 and the conductive plate connecting terminal portion conductive plate 10 can be performed individually.

而して、電気検査を行う際は、基板接続用可動ピン5,5…5の先端部がガイド板3より所定寸法突出しないようセットした後、電気チェック上ベース1を下降動作させて、可撓性プリント基板2をガイド板3側に押し付ける。この押し付け動作により、基板接続用可動ピン5,5…5、導電プレート接続用端子ピン11がそれぞれ可撓性プリント基板2、導電プレート10の下面に当接する。   Therefore, when performing an electrical inspection, after setting the front ends of the board connecting movable pins 5, 5,... The flexible printed board 2 is pressed against the guide plate 3 side. By this pressing operation, the board connecting movable pins 5, 5... 5 and the conductive plate connecting terminal pins 11 come into contact with the lower surfaces of the flexible printed board 2 and the conductive plate 10, respectively.

ここで使用される電気検査装置によれば、複数の基板接続用可動ピン5,5…5及び導電プレート接続用端子ピン11間の導通状態の有無を検出すべくスキャンすることができる。すなわち、電気検査装置は、該ピン5,5…5及び11同士が電気的にショートしているか否(オープン)かを個別に確認できるショート/オープン判定手段、つまり、前記切替えスイッチ部13、テスター部14などを備えている。   According to the electrical inspection apparatus used here, scanning can be performed to detect the presence or absence of a conductive state between the plurality of substrate connecting movable pins 5, 5... 5 and the conductive plate connecting terminal pins 11. That is, the electrical inspection apparatus is a short / open determination means that can individually confirm whether or not the pins 5, 5... 5 and 11 are electrically short-circuited (open), that is, the changeover switch unit 13, the tester. Part 14 and the like.

一般的な電気検査の手法にあっては、複数の基板接続用可動ピン5,5…5間に電気的なショートが発生していないか否かを確認する。このショート発生の有無の確認方法として、各基板接続用可動ピン5,5…5毎に検出用電気検査信号を1つずつ入力する。そして、他の基板接続用可動ピン5,5…5により該電気検査信号が検出されるかどうかに関し、他の全ての基板接続用可動ピン5,5…5に対してスキャンして、電気的性能の個別検査を行う。   In a general electrical inspection method, it is confirmed whether or not an electrical short circuit has occurred between the plurality of substrate connecting movable pins 5, 5. As a method for confirming whether or not the short circuit has occurred, one electrical inspection signal for detection is input for each of the substrate connecting movable pins 5, 5. Then, regarding whether or not the electrical inspection signal is detected by the other substrate connecting movable pins 5, 5... 5, all the other substrate connecting movable pins 5, 5. Perform individual performance checks.

ここに、電気検査装置の初期設定時に、指定の基板接続用可動ピン5,5…5が予め設定されており、設定された基板接続用可動ピン5,5…5以外にも電気検査信号が検出されたときは、当該可動ピン5がショートしていると判定される。また、初期設定された指定の基板接続用可動ピン5,5…5について、電気検査信号が検出されなかったときは、当該可動ピン5がショートしていない状態、即ち、オープン状態であると判定される。   Here, at the time of initial setting of the electrical inspection apparatus, the designated board connection movable pins 5, 5,... 5 are preset, and an electrical inspection signal other than the set board connection movable pins 5, 5,. When detected, it is determined that the movable pin 5 is short-circuited. Further, when an electrical inspection signal is not detected for the designated designated board connection movable pins 5, 5,... 5 that are initially set, it is determined that the movable pins 5 are not short-circuited, that is, are open. Is done.

次に、上記電気検査装置による検査動作例について詳述する。なお、通常の電気的接続状態のチェック時、図4及び図7の構成例では、2本の導電プレート接続用端子ピン11
同士間の導通状態を確認することにより、導電プレート接続用端子ピン11が正常に動作していることを確認し、この後に、可撓性プリント基板2の電気的性能の検査を実施する。
Next, an example of the inspection operation by the electrical inspection apparatus will be described in detail. When checking the normal electrical connection state, in the configuration example of FIGS. 4 and 7, two conductive plate connection terminal pins 11 are used.
By confirming the conduction state between them, it is confirmed that the conductive plate connecting terminal pins 11 are operating normally, and thereafter, the electrical performance of the flexible printed circuit board 2 is inspected.

いま、図6において、切替えスイッチ部13のポイントAに電気検査信号を入力したとき、配線パターンが正常な電気的性能を有する場合は、切替えスイッチ部13のポイントFにしか電気検査信号は出力されない。   In FIG. 6, when an electrical test signal is input to point A of the changeover switch unit 13, if the wiring pattern has normal electrical performance, the electrical test signal is output only to point F of the changeover switch unit 13. .

これに対して、配線パターンが異常な電気的性能を有する場合、例えば、隣接する配線パターン間でショートが起きた場合、ポイントAに入力した電気検査信号は、ショートが起きた配線パターンと対応するポイントB,Eにも出力することになる。そして、切替えスイッチ部13のポイントA〜F及びGを全てオンにした状態で、テスター部14が前記電気検査信号を検出し、該検出値と初期設定値との違いを出力してショート検出を行える。   On the other hand, when the wiring pattern has an abnormal electrical performance, for example, when a short circuit occurs between adjacent wiring patterns, the electrical inspection signal input to the point A corresponds to the wiring pattern in which the short circuit has occurred. It is also output to points B and E. Then, with all the points A to F and G of the changeover switch unit 13 turned on, the tester unit 14 detects the electrical inspection signal and outputs a difference between the detected value and the initial set value to detect a short circuit. Yes.

ここで、指定の前記基板接続用可動ピン5がオープン状態である場合、ポイントAに入力した電気検査信号は、他のポイントFから出力されない。このことから、当該配線パターンの断線、或いは、指定の前記基板接続用可動ピン5の動作異常として検出できる。   Here, when the designated board connecting movable pin 5 is in the open state, the electrical inspection signal input to the point A is not output from the other point F. From this, it can be detected as a disconnection of the wiring pattern or an abnormal operation of the specified board connecting movable pin 5.

従って、上述の検出原理を利用した電気検査において、可撓性プリント基板2を基板接続用可動ピン5,5…5のいずれかが貫通したときは、貫通した基板接続用可動ピン5と導電プレート10との間に電気的な接続が成立する。このことにより、動作異常状態の可動ピン5を具体的に特定することができる。   Therefore, in the electrical inspection using the above-described detection principle, when any of the movable pins 5, 5, 5 for connecting the substrate passes through the flexible printed circuit board 2, the movable pins 5 for connecting the substrate and the conductive plate that have passed therethrough. An electrical connection is established between 10 and 10. Thereby, the movable pin 5 in an abnormal operation state can be specifically identified.

ピン貫通の異常動作状態を検知するために、いまポイントA及びポイントGを閉じて検査を行った場合、ポイントAと対応する基板接続用可動ピン5が故障して可撓性プリント基板2を貫通したときは(図13参照)、該基板接続用可動ピン5の先端部が、可撓性プリント基板2上側の導電プレート10に接触して電気的に導通する。   In order to detect an abnormal operation state of pin penetration, when inspection is performed with point A and point G closed, the board connecting movable pin 5 corresponding to point A breaks down and penetrates the flexible printed board 2. When this occurs (see FIG. 13), the tip of the board connecting movable pin 5 comes into contact with the conductive plate 10 on the upper side of the flexible printed board 2 and is electrically connected.

その結果、当該基板接続用可動ピン5と導電プレート接続用端子ピン11とが互いに電気的に接続導通して、両者間でショートを生じる。このショートはテスター部14により測定され、指定外の基板接続用可動ピン5と導電プレート接続用端子ピン11間でショートを発生している状態、即ち、ポイントAと対応する基板接続用可動ピン5が「動作不良」の状態であると判断される。   As a result, the board connecting movable pin 5 and the conductive plate connecting terminal pin 11 are electrically connected to each other to cause a short circuit therebetween. This short is measured by the tester unit 14, and a short-circuit occurs between the non-designated board connecting movable pin 5 and the conductive plate connecting terminal pin 11, that is, the board connecting movable pin 5 corresponding to the point A. Is determined to be in a “malfunction” state.

このように、電気検査時に、基板接続用可動ピン5,5…5のいずれかが可撓性プリント基板2を貫通して、導電プレート10に接触した場合は、該可動ピン5と導電プレート接続用端子ピン11との間でショートが生じ、これをテスター部14で測定することにより、接触した当該基板接続用可動ピン5の動作不良が自動検出される。従って、前記基板接続用可動ピン5の動作不良による可撓性プリント基板2へのダメージを早い段階で検出できる。   As described above, when any of the movable pins 5, 5... 5 for board connection penetrates the flexible printed circuit board 2 and comes into contact with the conductive plate 10 during the electrical inspection, the movable pin 5 is connected to the conductive plate. A short circuit occurs with the terminal pin 11 for measurement, and this is measured by the tester unit 14 to automatically detect an operation failure of the movable pin 5 for connecting the substrate. Therefore, damage to the flexible printed circuit board 2 due to the malfunction of the board connecting movable pin 5 can be detected at an early stage.

本発明は、導電プレート接続用端子ピン11と複数の各基板接続用5,5…5との間に切替えスイッチ部13を設け、導電プレート接続用端子ピン11と電気的に接続する基板接続用可動ピン5,5…5と対応するポイントA〜Fを順次切り替えることにより、両者間のショートの有無を測定できる。特に、各基板接続用可動ピン5のショート又はオープンを個別にスキャンして格別に測定できるので、可撓性プリント基板2を貫通した特定の基板接続用可動ピン5が存在する場合、これを早い段階で迅速・確実に自動検出できる。   In the present invention, the changeover switch portion 13 is provided between the conductive plate connecting terminal pin 11 and the plurality of substrate connecting terminals 5, 5... 5, and is electrically connected to the conductive plate connecting terminal pin 11. By sequentially switching the points A to F corresponding to the movable pins 5, 5... 5, it is possible to measure the presence or absence of a short circuit between them. In particular, since shorts or opens of each board connecting movable pin 5 can be individually scanned and measured exceptionally, if there is a specific board connecting movable pin 5 penetrating through the flexible printed circuit board 2, this is quick. Automatic detection can be performed quickly and reliably at each stage.

従って、基板製造作業を即時にストップして、可撓性プリント基板2へのダメージを最
小に抑止しうる。この場合、貫通した基板接続用可動ピン5を新品と交換することにより、ピン貫通という異常動作状態を解消して、基板製造を正常状態で続行でき、高品質の可撓性プリント基板2を安定的に量産できる。
Therefore, the board manufacturing operation can be stopped immediately and damage to the flexible printed circuit board 2 can be minimized. In this case, by exchanging the penetrating board connecting movable pin 5 with a new one, the abnormal operation state of the pin penetrating can be solved, and the board manufacturing can be continued in a normal state, and the high-quality flexible printed board 2 can be stabilized. Can be mass-produced.

上記実施例では、導電プレート接続用端子部として、スプリング型プローブから成る端子ピン11を使用したが、図5に示すように、導電プレート接続用端子ピン11に代えて、導電プレート10に常時接続連結された導電プレート接続用配線15を用いてもよい。更に、上記切替えスイッチ部の種類は特に限定されず、例えば、マトリックス型切替えスイッチ部なども勿論使用できる。   In the above embodiment, the terminal pin 11 made of the spring type probe is used as the conductive plate connecting terminal portion. However, as shown in FIG. 5, instead of the conductive plate connecting terminal pin 11, it is always connected to the conductive plate 10. The connected conductive plate connection wiring 15 may be used. Further, the type of the changeover switch part is not particularly limited, and for example, a matrix type changeover switch part can be used.

又、導電プレート接続用端子部、即ち、導電プレート接続用端子ピン11又は導電プレート接続用配線15を複数本設けることにより、導電プレート接続用端子ピン11又は導電プレート接続用配線15同士の短絡の有無を検査することにより、導電プレート接続用端子部の動作不良を自己診断できる。   Also, by providing a plurality of conductive plate connection terminal portions, that is, conductive plate connection terminal pins 11 or conductive plate connection wirings 15, short-circuiting between the conductive plate connection terminal pins 11 or the conductive plate connection wirings 15 can be achieved. By inspecting the presence / absence, it is possible to self-diagnose the malfunction of the conductive plate connecting terminal portion.

例えば、図4に示すように、導電プレート接続用端子ピン11を2本設けた場合、2本の導電プレート接続用端子ピン11の一方が動作不良を起こしても、他方の導電プレート接続用端子ピン11により電気検査を行える。   For example, as shown in FIG. 4, when two conductive plate connection terminal pins 11 are provided, even if one of the two conductive plate connection terminal pins 11 malfunctions, the other conductive plate connection terminal 11 Electrical inspection can be performed by the pin 11.

尚、本発明は、本発明の精神を逸脱しない限り種々の改変を為すことができ、そして、本発明が該改変されたものに及ぶことは当然である。   It should be noted that the present invention can be variously modified without departing from the spirit of the present invention, and the present invention naturally extends to the modified ones.

本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の構成例を説明する要部断面図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The principal part sectional drawing which shows one embodiment of this invention and demonstrates the structural example of the pin part of an electrical inspection apparatus. 本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の他の構成例を説明する要部断面図。The principal part sectional drawing which shows one embodiment of this invention and demonstrates the other structural example of the pin part of an electrical inspection apparatus. 本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置のピン部分の更に他の構成例を説明する要部断面図。Sectional drawing which shows one Embodiment of this invention and demonstrates the further another structural example of the pin part of an electrical inspection apparatus. 本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置の導電プレート接続用端子ピンを2本設けた構成例を説明する要部断面図。The principal part sectional view explaining the example of composition which shows one embodiment of the present invention and provided two terminal pins for conductive plate connection of an electric inspection device. 本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置の導電プレート接続用端子ピンに代えて導電プレート接続用配線を設けた構成例を説明する要部断面図。The principal part sectional drawing explaining the example of a structure which showed one Embodiment of this invention and replaced with the conductive plate connection terminal pin of an electrical inspection apparatus, and provided the wiring for conductive plate connection. 本発明の一実施の形態を示し、電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The whole block diagram which shows one embodiment of this invention and demonstrates an electrical inspection apparatus notionally. 本発明の一実施の形態を示し、導電プレート接続用端子ピンを2本設けて成る電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS The whole block diagram which shows one Embodiment of this invention, and illustrates notionally the electrical inspection apparatus which provides two conductive plate connection terminal pins. 従来例を示し、電気検査装置の可動ピン部分の構成例を説明する要部断面図。The principal part sectional drawing which shows a prior art example and demonstrates the structural example of the movable pin part of an electrical inspection apparatus. 従来例を示し、電気検査装置を概念的に説明する全体構成図。The whole block diagram which shows a prior art example and illustrates an electrical inspection apparatus notionally. 基板接続用可動ピンのセット状態を示す要部断面図。The principal part sectional drawing which shows the set state of the movable pin for board | substrate connection. 図10の電気チェック上ベースが下降し、可撓性プリント基板を位置決め用ガイド板に押しつけた状態を示す要部断面図。FIG. 11 is a cross-sectional view of a main part showing a state in which the base on the electrical check in FIG. 10 is lowered and the flexible printed board is pressed against the positioning guide plate. 図10の基板接続用可動ピンの正常動作時の状態を示す要部断面図。FIG. 11 is an essential part cross-sectional view showing a state during normal operation of the substrate connecting movable pin of FIG. 10; 図10の基板接続用可動ピンの異常動作時の状態を示す要部断面図。FIG. 11 is an essential part cross-sectional view showing a state during abnormal operation of the substrate connecting movable pin of FIG. 10;

符号の説明Explanation of symbols

1 電気チェック上ベース(押し付け手段)
2 可撓性プリント基板
3 位置決め用ガイド板
4 ピンボード
5 基板接続用可動ピン(スプリング型プローブ)
6 貫通穴
7 切替えスイッチ部
8 テスター部(測定部)
10 導電プレート
11 導電プレート接続用端子ピン
(導電プレート接続用端子部、スプリング型プローブ)
12 貫通穴
13 切替えスイッチ部
14 テスター部(測定部)
15 導電プレート接続用配線(導電プレート接続用端子部)

1 Base on electrical check (pressing means)
2 Flexible Printed Circuit Board 3 Positioning Guide Plate 4 Pin Board 5 Movable Pin for Connecting Board (Spring Type Probe)
6 Through hole
7 Changeover switch section 8 Tester section (measurement section)
10 conductive plate 11 conductive plate connection terminal pin (conductive plate connection terminal, spring type probe)
12 Through hole 13 Changeover switch part 14 Tester part (measurement part)
15 Conductive plate connection wiring (conductive plate connection terminal)

Claims (4)

可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査装置において、
前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に、導電プレートを配置すると共に、該導電プレート端部と前記可撓性プリント基板部との空間部または前記可撓性プリント基板に開穿された貫通穴の箇所に、該導電プレートに電気的に接続される導電プレート接続用端子部を設け、該導電プレート接続用端子部と前記基板接続用可動ピンとの間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知するように構成されていることを特徴とする可撓性プリント基板の電気検査装置。
In the electric inspection apparatus in which the movable pin for connecting the substrate that can come into contact with the land portion of the flexible printed circuit board is formed by a spring-type probe that is shortened and extended according to the presence or absence of a pressure load,
A conductive plate is disposed on the surface of the flexible printed board opposite to the surface on which the movable pins for connecting the substrate abut, and the space between the conductive plate end and the flexible printed circuit board or A conductive plate connection terminal portion that is electrically connected to the conductive plate is provided at a location of the through hole opened in the flexible printed circuit board, and the conductive plate connection terminal portion and the movable pin for substrate connection are provided. An electrical inspection apparatus for a flexible printed circuit board, which is configured to detect that the movable pin for connecting the board has penetrated the flexible printed circuit board by measuring a short circuit occurring therebetween. .
上記導電プレート接続用端子部が複数本設けられていることを特徴とする請求項1記載の可撓性プリント基板の電気検査装置。   2. The flexible printed circuit board electrical inspection apparatus according to claim 1, wherein a plurality of the conductive plate connection terminal portions are provided. 可撓性プリント基板のランド部に当接可能な基板接続用可動ピンが、圧力負荷の有無に応じて短縮伸長するスプリング型プローブにより形成されてなる電気検査方法において、
前記可撓性プリント基板における前記基板接続用可動ピンが当接する面と反対側の面に配置された導電プレートに、該導電プレート端部と前記可撓性プリント基板部との空間部または前記可撓性プリント基板に開穿された貫通穴の箇所に設けた導電プレート接続用端子部を電気的に接続した後に、前記可撓性プリント基板のランド部に基板接続用可動ピンを当接させ、該基板接続用可動ピンと前記導電プレート接続用端子部との間に生じるショートを測定することにより、該基板接続用可動ピンが前記可撓性プリント基板を貫通したことを検知することを特徴とする可撓性プリント基板の電気検査方法。
In the electrical inspection method in which the movable pin for connecting the substrate that can come into contact with the land portion of the flexible printed circuit board is formed by a spring-type probe that is shortened and extended depending on the presence or absence of a pressure load,
A space between the end of the conductive plate and the flexible printed circuit board or a space between the flexible printed circuit board and a conductive plate disposed on a surface opposite to a surface on which the movable pin for connecting the substrate contacts the flexible printed circuit. After electrically connecting the conductive plate connecting terminal portion provided at the location of the through hole opened in the flexible printed board, the board connecting movable pin is brought into contact with the land portion of the flexible printed board, It is detected that the movable pin for connecting the substrate has penetrated the flexible printed circuit board by measuring a short circuit generated between the movable pin for connecting the substrate and the terminal portion for connecting the conductive plate. Electrical inspection method for flexible printed circuit board.
上記導電プレートに接続された導電プレート接続用端子部と上記複数の基板接続用可動ピンとの電気的接続を個別に切り替えて、導電プレート接続用端子部と各基板接続用可動ピンとの間に生じるショートの有無を夫々測定することにより、前記可撓性プリント基板を貫通した基板接続用可動ピンを検知して特定することを特徴とする請求項3記載の可撓性プリント基板の電気検査方法。   A short circuit that occurs between the conductive plate connection terminal portion and each substrate connection movable pin by individually switching the electrical connection between the conductive plate connection terminal portion connected to the conductive plate and the plurality of substrate connection movable pins. 4. The electrical inspection method for a flexible printed circuit board according to claim 3, wherein the board connecting movable pin penetrating the flexible printed circuit board is detected and specified by measuring the presence or absence of each of the printed circuit boards.
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