JPH11101841A - Conductive paste through hole type double-sided printed wiring board and its electric characteristics inspection equipment - Google Patents

Conductive paste through hole type double-sided printed wiring board and its electric characteristics inspection equipment

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JPH11101841A
JPH11101841A JP9262281A JP26228197A JPH11101841A JP H11101841 A JPH11101841 A JP H11101841A JP 9262281 A JP9262281 A JP 9262281A JP 26228197 A JP26228197 A JP 26228197A JP H11101841 A JPH11101841 A JP H11101841A
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Japan
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printed wiring
conductive paste
wiring board
substrate
sided printed
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JP9262281A
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Yoshinari Matsuda
良成 松田
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Sony Corp
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    • HELECTRICITY
    • H05ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05KPRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/40Forming printed elements for providing electric connections to or between printed circuits
    • H05K3/4038Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections
    • H05K3/4053Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques
    • H05K3/4069Through-connections; Vertical interconnect access [VIA] connections by thick-film techniques for via connections in organic insulating substrates

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide electric characteristics inspection equipment which enables simultaneously the open-short inspection of a conductive paste through hole type double-sided printed wiring board and the electric continuity resistance inspection of a through hole. SOLUTION: This equipment 30 inspects electric characteristics of a conductive paste through hole type double-sided printed wiring board which has printed wirings 72A, 72B on both surfaces of an insulating board 70, and makes electric continuity between the printed wirings 72A and 72B on both surfaces of the board, via a conductive paste layer 76 buried in a through hole 74 of the board 70. This equipment 30 is provided with an open-short inspection part 32 inspecting the open-short state of the printed wirings 72A, 72B, and an electric continuity resistance inspection part 34 measuring the electric continuity resistance value of the conductive paste through hole 74.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、導電性ペーストス
ルーホール型両面プリント配線基板(以下、簡単に両面
プリント配線基板と言う)の電気特性試験装置に関し、
更に詳細には、両面プリント配線基板のオープン・ショ
ート検査と導通抵抗検査とを同時に行うことの出来る電
気特性試験装置に関するものであり、更には、本電気特
性試験装置の被試験体として好適な構成の両面プリント
配線基板に関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for testing electrical characteristics of a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board (hereinafter, simply referred to as a double-sided printed wiring board).
More specifically, the present invention relates to an electrical characteristic test apparatus capable of simultaneously performing an open / short inspection and a conduction resistance inspection of a double-sided printed wiring board, and further has a configuration suitable as a test object of the electrical characteristic test apparatus. And a double-sided printed wiring board.

【0002】[0002]

【従来の技術】導電性ペーストスルーホール型両面プリ
ント配線基板(以下、簡単に両面プリント配線基板と言
う)69は、図5に示すように、絶縁性基板70と、基
板70の両面に設けられた、金属箔、例えば銅箔からな
るプリント配線72A、Bと、基板70に設けられたス
ルーホール74を介して両面のプリント配線72A、B
間を導通させる導電性ペースト層、例えば銀ペースト層
76とを有する実装基板であって、電気・電子素子をコ
ンパクトに実装できるので、近年、各種電気・電子製品
で多用されている。図5中、78は両面プリント配線基
板69のプリント配線回路を意味し、79はプリント配
線回路78の電極である。銀ペーストを使ったものは、
銀ペーストスルーホール型両面プリント配線基板と呼ば
れ、銅ペーストを使ったものは、銅ペーストスルーホー
ル型両面プリント配線基板と呼ばれる。銀又は銅ペース
トは、低温硬化性樹脂に導電体として銀金属粒子又は銅
金属粒子がそれぞれ分散されたもので、流動状態で送入
されてスルーホールを埋め込み、硬化して導電線として
使用される。
2. Description of the Related Art As shown in FIG. 5, a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board (hereinafter simply referred to as a double-sided printed wiring board) 69 is provided on both sides of an insulating substrate 70 and a substrate 70. In addition, printed wirings 72A, B made of metal foil, for example, copper foil, and printed wirings 72A, B on both sides via through holes 74 provided in substrate 70.
Since it is a mounting substrate having a conductive paste layer that allows electrical conduction between each other, for example, a silver paste layer 76, and can mount electric and electronic elements in a compact manner, it is widely used in various electric and electronic products in recent years. In FIG. 5, reference numeral 78 denotes a printed wiring circuit of the double-sided printed wiring board 69, and 79 denotes an electrode of the printed wiring circuit 78. Those using silver paste,
It is called a silver paste through-hole type double-sided printed wiring board, and one using a copper paste is called a copper paste through-hole type double-sided printed wiring board. Silver or copper paste, in which silver metal particles or copper metal particles are dispersed as a conductor in a low-temperature curable resin, respectively, is fed in a fluid state, fills through holes, is cured, and is used as a conductive wire. .

【0003】両面プリント配線基板は、従来、一般の片
面プリント配線基板に適用する2端子法のオープン・シ
ョート検査装置を使って、プリント配線についてのオー
プン・ショート検査のみが行われていた。従来の2端子
法のオープン・ショート検査装置80は、図5に示すよ
うに、ピンボード90に支持された、多数の対(図5で
は、簡単に1対のみ図示)のオープン・ショート検査用
プローブピン82A、B(以下、簡単にプローブピンと
言う)と、プローブピン82A、Bの間に設けられた電
池84と、電池84の起電力を測定する電圧計86と、
プローブピン82A、Bの間を流れる電流を測定する電
流計88と備えている。通常、ピンボード90は、図6
に示すように、上下2枚あって、その間に両面プリント
配線基板69をプローブピン82で挟むようにして支持
する。オープン・ショート検査を行う際には、図6に示
すように、オープン・ショート検査装置80の上下2枚
のピンボード90により両面プリント配線基板69を、
プローブピン82を介して挟み、かつ、図5に示すよう
に、プローブピン82A、Bを両面プリント配線基板6
9のプリント配線回路78の電極79に接触させて、電
流計88で電流を計測し、両面プリント配線基板69の
オープン状態又はショート状態を測定している。
Conventionally, for a double-sided printed wiring board, only an open / short inspection for a printed wiring has been performed using a two-terminal open / short inspection apparatus applied to a general single-sided printed wiring board. As shown in FIG. 5, a conventional two-terminal open / short inspection apparatus 80 is used for inspecting a large number of pairs (only one pair is simply shown in FIG. 5) supported by a pin board 90. A probe pin 82A, B (hereinafter simply referred to as a probe pin), a battery 84 provided between the probe pins 82A, B, a voltmeter 86 for measuring the electromotive force of the battery 84,
An ammeter 88 is provided for measuring a current flowing between the probe pins 82A and 82B. Normally, the pin board 90 is
As shown in the figure, there are two upper and lower boards, and the double-sided printed circuit board 69 is supported between the upper and lower boards with the probe pins 82 interposed therebetween. When performing the open / short inspection, as shown in FIG. 6, the double-sided printed wiring board 69 is moved by the two upper and lower pin boards 90 of the open / short inspection apparatus 80.
As shown in FIG. 5, the probe pins 82A and B are sandwiched between the probe pins 82 and the probe pins 82A and
9, the current is measured by an ammeter 88 so as to measure the open state or the short-circuit state of the double-sided printed circuit board 69.

【0004】製造された両面プリント配線基板製品69
は、全数、図6に示すように、順次、基板供給装置から
供給されて、オープン・ショート検査装置80に移送さ
れ、そこで、プリント配線のオープン・ショート状態が
検査されて、良品と、オープン不良品と、ショート不良
品に区別され、基板収納装置によりそれぞれの収納箇所
に収納される。両面プリント配線基板のオープン・ショ
ート検査では、両面プリント配線基板製品の抵抗測定値
が、所定範囲のときには、良品と判定し、所定の抵抗値
以上のときには、オープンモードになっているとしてオ
ープン不良品と判定し、逆にほぼ零のときには、ショー
トモードになっているとしてショート不良品と判定して
いる。
The manufactured double-sided printed wiring board product 69
As shown in FIG. 6, all of the printed wiring boards are sequentially supplied from the substrate supply apparatus and transferred to the open / short inspection apparatus 80, where the open / short state of the printed wiring is inspected. Non-defective products and short defective products are distinguished and stored in respective storage locations by the substrate storage device. In the open / short inspection of the double-sided printed wiring board, if the measured resistance value of the double-sided printed wiring board product is within the predetermined range, it is judged as good, and if it is higher than the predetermined resistance value, it is judged that it is in open mode and the open defective product On the other hand, when it is almost zero, it is determined that the short mode is set, and it is determined that the short-circuit is defective.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】ところで、両面プリン
ト配線基板のプリント配線の電気特性では、オープン・
ショート検査に加えて、導電性ペーストで埋め込んだス
ルーホール(以下、簡単にスルーホールと言う)の導通
抵抗が、両面プリント配線基板の信頼性を評価する上
で、重要な因子の一つである。また、スルーホールの導
通抵抗は、熱履歴により変化する傾向がある等の理由か
らも、両面プリント配線基板毎に厳密に管理する必要の
ある因子である。しかし、スルーホールの導通抵抗は、
従来、両面プリント配線基板の製造メーカーが出荷前に
ロット毎に行う導通検査によってロット毎の管理が行わ
れているのみであって、両面プリント配線基板を使って
実装し、組み立てて、最終部品とするユーザー側では十
分に管理されていない。更に言えば、ユーザー側では、
部品実装工程中及び部品実装工程後の熱処理により導通
抵抗に熱履歴を及ぼしているにもかかわらず、製品出荷
時、及び製品出荷後のスルーホールの導通抵抗を管理
し、履歴を記録することが、効率的にできなかった。こ
れでは、両面プリント配線基板の品質管理上で問題であ
る。
The electrical characteristics of the printed wiring on a double-sided printed wiring board are, for example, open-circuited.
In addition to short-circuit inspection, the conduction resistance of through-holes (hereinafter simply referred to as through-holes) embedded with conductive paste is one of the important factors in evaluating the reliability of double-sided printed wiring boards. . Also, the conduction resistance of the through-hole is a factor that needs to be strictly controlled for each double-sided printed wiring board, for example, because it tends to change due to thermal history. However, the conduction resistance of the through hole is
Conventionally, only a lot-by-lot management is performed by a continuity inspection performed by a double-sided printed circuit board manufacturer before shipment, and mounting and assembly are performed using a double-sided printed circuit board, and final components and Users are not fully managed. Furthermore, on the user side,
Despite having a thermal history on conduction resistance due to heat treatment during the component mounting process and after the component mounting process, it is possible to manage the conduction resistance of through holes at the time of product shipment and after product shipment and record the history. Couldn't be efficient. This is a problem in quality control of the double-sided printed wiring board.

【0006】全ての両面プリント配線基板製品について
オープン・ショート検査を行っているにもかかわらず、
信頼性因子として重要な導通抵抗検査を行わない大きな
理由の一つは、従来の検査装置を使って、オープン・シ
ョート検査とスルーホールの導通抵抗検査とを一つの検
査工程で同時に行うことができないからである。従来の
オープン・ショート検査装置の測定限界は、オープン不
良モードで10〜1000Ω程度の抵抗である。一方、
導通抵抗値は、導電性ペースト材料の異常のために、ペ
ースト導通抵抗値が傾向的に高めに上昇していたとして
も、スルーホール1個当たりの導通抵抗値は高々200
mΩ以下であって、これでは、導通抵抗値が従来のオー
プン・ショート検査装置の測定下限以下であるために、
スルーホールの導通抵抗を検査することが難しかったか
らである。第2の理由は、従来の両面プリント配線基板
は、その構造上の制約から、スルーホールの導通抵抗の
事後管理を厳密に行うことが容易であるとは必ずしも言
えなかったからである。
[0006] Despite performing open / short inspection on all double-sided printed wiring board products,
One of the major reasons for not conducting the continuity resistance test, which is important as a reliability factor, is that open / short tests and through-hole continuity resistance tests cannot be performed simultaneously in one test process using conventional testing equipment. Because. The measurement limit of the conventional open / short inspection apparatus is a resistance of about 10 to 1000Ω in the open failure mode. on the other hand,
Even if the conductive resistance of the paste has tended to increase due to the abnormality of the conductive paste material, the conductive resistance per through hole is at most 200.
mΩ or less, in this case, since the conduction resistance value is below the lower limit of measurement of the conventional open / short inspection device,
This is because it was difficult to inspect the conduction resistance of the through hole. The second reason is that it is not always easy to strictly perform the post-management of the through-hole conduction resistance due to the structural limitation of the conventional double-sided printed wiring board.

【0007】以上の理由から、本発明の第1の目的は、
導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板の
オープン・ショート検査と、スルーホールの導通抵抗検
査とを同時に行うことのできる電気特性試験装置を提供
することであり、第2の目的はその試験装置の被試験体
として好適な構成を備えた両面プリント配線基板を提供
することである。
For the above reasons, a first object of the present invention is to
A second object of the present invention is to provide an electrical property testing apparatus capable of simultaneously performing an open / short test of a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board and a conductive resistance test of a through-hole. An object of the present invention is to provide a double-sided printed circuit board having a configuration suitable for a device under test.

【0008】[0008]

【課題を解決するための手段】上記第1の目的を達成す
るために、本発明に係る導電性ペーストスルーホール型
両面プリント配線基板の電気特性試験装置(以下、第1
の発明と言う)は、絶縁性基板の両面にプリント配線を
有し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を
介して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペー
ストスルーホール型両面プリント配線基板の電気特性を
試験する装置であって、プリント配線のオープン・ショ
ート状態を検査するオープン・ショート検査部と、導電
性ペーストスルーホールの導通抵抗値を測定する導通抵
抗検査部とを備えていることを特徴としている。本発明
では、両面プリント配線基板のオープン・ショート検査
に用いられている既知のオープン・ショート検査装置
と、導電性ペーストスルーホールの導通抵抗検査装置と
を同一のフィクスチャに組み込むことにより、オープン
・ショート検査と導通抵抗検査とを同時に行い、電気特
性の検査作業の生産性を向上させることができる。
In order to achieve the first object, an apparatus for testing electrical characteristics of a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board according to the present invention (hereinafter referred to as a first apparatus).
Is a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring that has printed wiring on both surfaces of an insulating substrate and conducts the printed wiring on both surfaces of the substrate through a conductive paste layer that fills through holes in the substrate. An apparatus for testing electrical characteristics of a substrate, comprising: an open / short inspection section for inspecting an open / short state of a printed wiring; and a conduction resistance inspection section for measuring a conduction resistance value of a conductive paste through hole. It is characterized by: In the present invention, a known open / short inspection apparatus used for an open / short inspection of a double-sided printed wiring board and a continuity resistance inspection apparatus for a conductive paste through hole are incorporated in the same fixture, so that an open / short circuit is provided. The short-circuit inspection and the conduction resistance inspection are performed at the same time, and the productivity of the inspection work of the electric characteristics can be improved.

【0009】好適には、オープン・ショート検査部及び
導通抵抗検査部が、それぞれ、2端子法による検査装置
及び4端子法による検査装置として構成され、共通のピ
ンボードにそれぞれのプローブピンを備えている。導通
抵抗検査部を4端子法の検査装置として構成することに
より、導通抵抗を求める際、電流計の抵抗による電圧降
下の影響を排除して、電位差と微弱電流とを正確に計測
し、結果として正確な導通抵抗を求めることができるの
で、検査精度を向上させることができる。
Preferably, the open / short inspection section and the continuity resistance inspection section are configured as a two-terminal method inspection apparatus and a four-terminal method inspection apparatus, respectively, and each probe pin is provided on a common pin board. I have. By configuring the continuity resistance inspection unit as a four-terminal method inspection device, when determining the continuity resistance, the effect of the voltage drop due to the resistance of the ammeter is eliminated, and the potential difference and the weak current are accurately measured. As a result, Since accurate conduction resistance can be obtained, inspection accuracy can be improved.

【0010】本発明に係る導電性ペーストスルーホール
型両面プリント配線基板(以下、第2の発明と言う)
は、絶縁性基板の両面にプリント配線を有し、基板のス
ルーホールを埋めた導電性ペースト層を介して基板両面
のプリント配線を導通させる導電性ペーストスルーホー
ル型両面プリント配線基板であって、製品として使用さ
れる基板領域からなる製品基板部と、製品として使用さ
れない基板領域からなる捨て基板部とを有し、捨て基板
部には、ダミー導電性ペーストスルーホールと、ダミー
導電性ペーストスルーホールと接続するダミー電極を備
えたテストクーポンが設けられていることを特徴として
いる。また、好適的には、捨て基板部の基板面、又は捨
て基板部及び製品基板部の双方の基板面に所定事項を表
示した表示面を備えている。
A conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board according to the present invention (hereinafter referred to as a second invention)
Is a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board having printed wiring on both surfaces of an insulating substrate and conducting printed wiring on both surfaces of the substrate through a conductive paste layer filling the through holes of the substrate, It has a product substrate portion composed of a substrate region used as a product and a discarded substrate portion composed of a substrate region not used as a product. The discarded substrate portion has a dummy conductive paste through hole and a dummy conductive paste through hole. And a test coupon including a dummy electrode connected to the test coupon. Preferably, a display surface for displaying predetermined items is provided on the substrate surface of the discarded substrate portion, or on both the discarded substrate portion and the product substrate portion.

【0011】以上の構成により、本発明の導電性ペース
トスルーホール型両面プリント配線基板は、テストクー
ポンを備えているので、本発明に係る電気特性試験装置
による導通抵抗検査が容易になり、また、表示面に、所
定事項として、基板製造年月日、製造ロット、部品番号
等の記録必要事項をシンボルシルク印刷表示しておくこ
とにより、両面プリント配線基板のユーザーが、スルー
ホール導通抵抗の品質管理・不良追跡を容易に行うこと
ができる。
With the above configuration, since the conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board of the present invention is provided with the test coupon, the conduction resistance test by the electric characteristic testing apparatus according to the present invention is facilitated. By displaying the required information such as board manufacturing date, manufacturing lot, part number, etc. on the display surface as symbol silk-screen printing, users of double-sided printed wiring boards can control the quality of through-hole conduction resistance. -Defect tracking can be performed easily.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下に、実施形態例を挙げ、添付
図面を参照して、本発明の実施の形態を具体的かつ詳細
に説明する。実施形態例1 本実施形態例は、第1の発明の実施の形態例であって、
本発明に係る電気特性試験装置を使った両面プリント配
線基板の電気特性試験システムの例である。図1は本発
明に係る電気特性試験装置を用いた本実施形態例の電気
特性試験システムの基本的構成を示す概念図である。本
電気特性試験システム10は、基板供給装置12と、本
発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験装置1
4(以下、簡単に電気特性試験装置14と言う)と、基
板収納装置16とから構成されている。電気特性試験装
置14は、図1に示すように、既知の構成のオープン・
ショート検査部18と、スルーホール導通抵抗検査部2
0と、両検査部共通のピンボード部22とを備え、両面
プリント配線基板のオープン・ショート検査及びスルー
ホール導通抵抗を同時に検査することができる。
Embodiments of the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings. Embodiment 1 This embodiment is an embodiment of the first invention,
1 is an example of a system for testing the electrical characteristics of a double-sided printed wiring board using the electrical characteristic testing apparatus according to the present invention. FIG. 1 is a conceptual diagram showing a basic configuration of an electric characteristic test system of the present embodiment using an electric characteristic test apparatus according to the present invention. The electrical characteristic test system 10 includes a substrate supply device 12 and an electrical characteristic test device 1 for a double-sided printed wiring board according to the present invention.
4 (hereinafter, simply referred to as an electrical characteristic test device 14) and a substrate storage device 16. As shown in FIG. 1, the electrical characteristic test apparatus 14 has an open-circuit of a known configuration.
Short inspection unit 18 and through-hole conduction resistance inspection unit 2
0, and a pin board section 22 common to both inspection sections, so that the open / short inspection and the through-hole conduction resistance of the double-sided printed wiring board can be inspected simultaneously.

【0013】ピンボード部22は、自在に相互に接近離
間する上下2枚のピンボード26A、Bと、オープン・
ショート検査部18及びスルーホール導通抵抗検査部2
0に接続され、ピンボード26A、Bの対向する面に設
けられたプローブピン24とを有する。これにより、ピ
ンボード部22は、対向するピンボード26A、Bのプ
ローブピン24で両面プリント配線基板28を適当な圧
力で挟み込む両面ピンボード機構をフィクスチャとして
備える。製造された両面プリント配線基板製品は、図1
に示すように、順次、基板供給装置12から供給されて
電気特性試験装置14に移送される。電気特性試験装置
14は、両面プリント配線基板28の両面からプローブ
ピン24により適当な圧力で挟み込むようにして両面プ
リント配線基板28を保持し、両面プリント配線基板2
8の電極(図示せず)にプローブピン24を接触させ、
オープン・ショート検査とスルーホール導通検査を同時
に行う。両面プリント配線基板28は、電気特性試験装
置14により良否判定され、良品、オープン不良品、シ
ョート不良品、及びスルーホール導通不良品に分別さ
れ、基板収納部16によりそれぞれの収容箇所に収容さ
れる。
The pin board section 22 includes upper and lower two pin boards 26A and 26B which are freely approached and separated from each other, and an open board.
Short inspection section 18 and through-hole continuity resistance inspection section 2
0 and the probe pins 24 provided on opposing surfaces of the pin boards 26A and 26B. As a result, the pin board unit 22 includes, as a fixture, a double-sided pin board mechanism that sandwiches the double-sided printed wiring board 28 with an appropriate pressure between the probe pins 24 of the opposing pin boards 26A and 26B. The manufactured double-sided printed wiring board product is shown in FIG.
As shown in (1), they are sequentially supplied from the substrate supply device 12 and transferred to the electrical characteristic test device 14. The electrical characteristic test apparatus 14 holds the double-sided printed wiring board 28 by holding the double-sided printed wiring board 28 from both sides of the double-sided printed wiring board 28 with appropriate pressure using the probe pins 24.
The probe pin 24 is brought into contact with the electrode 8 (not shown)
Perform open / short inspection and through-hole continuity inspection at the same time. The quality of the double-sided printed circuit board 28 is determined by the electrical property tester 14, separated into a good product, an open defective product, a short defective product, and a defective through-hole conduction product, and accommodated in the respective accommodation locations by the substrate accommodation unit 16. .

【0014】オープン・ショート検査部18で行うオー
プン・ショート検査では、銅箔エッチング不良や、導電
性ペーストの印刷ミス等によるペーストニジミ・かすれ
によるオープン・ショート不良等を検出できるが、オー
プン・ショート検査部18の断線検出下限値は10Ωで
あるから、オープン・ショート検査部18は、スルーホ
ールの信頼性に大きく影響する導通抵抗値を検出するこ
とができない。そこで、本実施形態例では、オープン・
ショート検査部18と並設した導通抵抗検査部20によ
り、導通抵抗値を測定する。
In the open / short inspection performed by the open / short inspection section 18, it is possible to detect an open / short defect due to copper foil etching failure, paste bleeding or blurring due to printing mistake of the conductive paste, etc. Since the disconnection detection lower limit of the unit 18 is 10Ω, the open / short inspection unit 18 cannot detect a conduction resistance value that greatly affects the reliability of the through hole. Therefore, in this embodiment,
The conduction resistance value is measured by the conduction resistance inspection unit 20 provided in parallel with the short inspection unit 18.

【0015】実施形態例2 本実施形態例は、第1の発明の実施の別の形態例であっ
て、本発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験
装置の構成を示す。図2は本実施形態例の電気特性試験
装置の構成を示す概念図である。本実施形態例の両面プ
リント配線基板の電気特性試験装置30(以下、簡単に
電気特性試験装置30と言う)は、図2に示すように、
既知の2端子法のオープン・ショート検査部32と、4
端子法のスルーホール導通抵抗検査部34とを備えてい
る。スルーホール導通抵抗検査部34(以下、簡単に導
通抵抗検査部34と言う)は、上下に昇降するピンボー
ド36を備えている。更に、導通抵抗検査部34は、ピ
ンボード36に設けられ、両面プリント配線基板の電極
に接触する対のプローブピン38A、Bと、対のプロー
ブピン38A、B間に設けられた電圧計40とを有する
電圧計系統と、ピンボード36に設けられ、両面プリン
ト配線基板の電極に接触する対のプローブピン42A、
Bと、ピンボード42A、B間に直列に設けられた電流
計44と電池46とを有する電流計系統とを備えてい
る。通常、ピンボード36は、図1に示すように、自在
に相互に接近離間する上下2枚のピンボードで構成さ
れ、その間に両面プリント配線基板28をプローブピン
38、42で挟むようにして支持する。また、別法とし
て、2枚のピンボード36は定位置に配置され、プロー
ブピン38、42が自在に伸縮して、両面プリント配線
基板28を保持するようにしても良い。導通抵抗検査部
34は、上述のような4端子法の検査機構として構成さ
れているので、プローブピン42A、B間を流れる微小
電流を電流計46で計測する際、従来の2端子法のオー
プン・ショート検査装置80のように、電圧計86で測
定したプローブピン82A、B間の電位差が電流計88
の抵抗値により影響されるようなことはないので、導通
抵抗値の算出に誤差が出るようなことはない。これによ
り、導通抵抗値を正確に計測することができる。
Embodiment 2 This embodiment is another embodiment of the first invention, and shows a configuration of an apparatus for testing the electrical characteristics of a double-sided printed wiring board according to the present invention. FIG. 2 is a conceptual diagram showing the configuration of the electrical characteristic test device of the present embodiment. As shown in FIG. 2, an electrical characteristic test apparatus 30 for a double-sided printed wiring board (hereinafter, simply referred to as an electrical characteristic test apparatus 30) of the present embodiment,
A known two-terminal open / short inspection unit 32;
And a through-hole continuity resistance testing unit 34 of the terminal method. The through-hole continuity resistance inspection unit 34 (hereinafter simply referred to as the continuity resistance inspection unit 34) includes a pin board 36 that moves up and down. Further, the continuity resistance inspection unit 34 is provided on the pin board 36 and includes a pair of probe pins 38A and 38B that contact the electrodes of the double-sided printed wiring board, and a voltmeter 40 provided between the pair of probe pins 38A and 38B. A pair of probe pins 42A provided on the pin board 36 and in contact with the electrodes of the double-sided printed wiring board;
B, and an ammeter system having an ammeter 44 and a battery 46 provided in series between the pin boards 42A and 42B. Normally, as shown in FIG. 1, the pin board 36 is composed of two upper and lower pin boards which are freely approached to and separated from each other, and supports the double-sided printed wiring board 28 between the probe pins 38 and 42 therebetween. Alternatively, the two pin boards 36 may be arranged at fixed positions, and the probe pins 38 and 42 may freely expand and contract to hold the double-sided printed circuit board 28. The continuity resistance inspection unit 34 is configured as the inspection mechanism of the four-terminal method as described above. Like the short-circuit inspection device 80, the potential difference between the probe pins 82A and 82B measured by the voltmeter 86
Is not affected by the resistance value, there is no error in the calculation of the conduction resistance value. Thereby, the conduction resistance value can be accurately measured.

【0016】オープン・ショート検査部32の構成は、
図5に示した従来のオープン・ショート検査装置80の
構成と同じであって、多数の対(図2では、簡単に1対
のみ図示)のプローブピン82A、Bと、プローブピン
82A、Bの間に設けられた電池84と、電池84の起
電力を測定する電圧計86と、プローブピン82A、B
の間を流れる電流を測定する電流計88と備え、プロー
ブピン82A、Bは、導通抵抗検査部34と共通のピン
ボード36により支持されている。
The configuration of the open / short inspection section 32 is as follows.
The configuration of the conventional open / short inspection apparatus 80 shown in FIG. 5 is the same as that of the conventional open / short inspection apparatus 80, except that a large number of pairs (only one pair is simply shown in FIG. 2) of the probe pins 82A and B and the probe pins 82A and B A battery 84 provided therebetween, a voltmeter 86 for measuring the electromotive force of the battery 84, and probe pins 82A and 82B
The probe pins 82A and 82B are supported by a pin board 36 common to the continuity resistance testing unit 34.

【0017】本電気特性試験装置30で測定する両面プ
リント配線基板28は、図5に示す両面プリント配線基
板69と同じ構成であって、図2に示すように、絶縁性
基板70と、基板70の両面に設けられた、金属箔、例
えば銅箔からなるプリント配線72A、Bと、基板70
に設けられたスルーホール74を介して両面の配線間を
導通させる銀ペースト層76とを有する。図2中、78
は両面プリント配線基板69のプリント配線回路を意味
し、79はプリント配線回路78の電極である。
The double-sided printed wiring board 28 measured by the electrical characteristics test apparatus 30 has the same configuration as the double-sided printed wiring board 69 shown in FIG. 5, and as shown in FIG. Printed wirings 72A, B made of metal foil, for example, copper foil, provided on both sides of
And a silver paste layer 76 that conducts between the wirings on both sides via a through hole 74 provided in the substrate. In FIG. 2, 78
Denotes a printed wiring circuit of the double-sided printed wiring board 69, and 79 denotes an electrode of the printed wiring circuit 78.

【0018】導通抵抗の検査に際しては、実施形態例1
と同様にして、導通抵抗検査部34の上下2枚のピンボ
ード36のプローブピン38、42で両面プリント配線
基板28を挟み、かつ、図2に示すように、プローブピ
ン38、42を両面プリント配線基板28のプリント配
線回路78の電極79に接触させて、電流計44で電流
値を計測し、電圧計40でプローブピン42間の電圧を
計測して、銀ペースト層76の導通抵抗値を求める。好
適には、ダミースルーホールを直列に接続したテストク
ーポンを両面プリント配線基板の適所に配置し、テスト
クーポンの両端より電極を引き出し、その電極にプロー
ブピン38A、B及び42A、Bを接触させ、これによ
り4端子法で導通抵抗を測定する。オープン・ショート
検査は、オープン・ショート検査部32により、従来と
同様にして検査する。
In the inspection of the conduction resistance, a first embodiment is described.
In the same manner as described above, the double-sided printed wiring board 28 is sandwiched between the probe pins 38 and 42 of the upper and lower two pin boards 36 of the continuity resistance inspection unit 34, and the probe pins 38 and 42 are printed on both sides as shown in FIG. The electrode 79 of the printed wiring circuit 78 of the wiring board 28 is brought into contact, the current value is measured by the ammeter 44, the voltage between the probe pins 42 is measured by the voltmeter 40, and the conduction resistance of the silver paste layer 76 is measured. Ask. Preferably, a test coupon in which dummy through holes are connected in series is arranged at an appropriate position on a double-sided printed wiring board, electrodes are pulled out from both ends of the test coupon, and probe pins 38A, B and 42A, B are brought into contact with the electrodes, Thereby, the conduction resistance is measured by the four-terminal method. The open / short inspection is performed by the open / short inspection unit 32 in the same manner as in the related art.

【0019】以上の構成により、本電気特性試験装置3
0では、ピンボード36を上下して両面プリント配線基
板28にプローブピン82A、B、38A、B、及び4
2A、Bを接触させつつプレスすると、両面プリント配
線基板28のオープン・ショート検査とスルーホール導
通検査を同時に行うことができる。
With the above configuration, the electrical characteristic test apparatus 3
At 0, the probe board 82A, B, 38A, B, and 4
By pressing while contacting 2A and 2B, the open / short inspection and the through-hole continuity inspection of the double-sided printed wiring board 28 can be performed simultaneously.

【0020】両面プリント配線基板のスルーホールの全
数のうちの70〜80%の数のスルーホールの導通抵抗
を測定する検査装置は、従来から存在したものの、検査
装置及びフィクスチャが高価で、かつ測定に時間がかか
るので、生産性が悪かった。また、手作業による導通抵
抗の検査も行われていたが、プローブピンの接触圧力が
作業者によりばらつくため、正確な導通抵抗を求めるこ
とが難しかった。一方、本実施形態例の電気特性試験装
置30は、上述のように、スルーホールの全数の導通抵
抗を正確に計測することができる。
Inspection devices for measuring the conduction resistance of 70 to 80% of the total number of through holes of a double-sided printed wiring board have conventionally existed, but the inspection devices and fixtures are expensive and expensive. Since the measurement took time, productivity was poor. Inspection of conduction resistance was also performed manually, but it was difficult to obtain accurate conduction resistance because the contact pressure of the probe pins varied depending on the operator. On the other hand, as described above, the electrical property test device 30 of the present embodiment can accurately measure the conduction resistance of all the through holes.

【0021】実験例 本発明に係る両面プリント配線基板の電気特性試験装置
の性能を評価するために、実施形態例2に示した電気特
性試験装置30を用いて、実施形態例1に示した電気特
性試験システム10により、銅ペーストスルーホール両
面プリント配線基板の電気特性試験を行った。4個のス
ルーホールを直列に配置した銅ペーストスルーホール両
面プリント配線基板を試料として用意し、オープン・シ
ョート検査及びスルーホール導通抵抗を検査した。スル
ーホール導通抵抗検査では、4個のスルーホールの合計
の導通抵抗を4端子法により測定した。本実験では、オ
ープン・ショート検査と同時にスルーホール導通抵抗の
検査を4秒タクトで行うことができ、4個のスルーホー
ルの合計導通抵抗が10〜400mΩであることを安定
的に検出することができた。
EXPERIMENTAL EXAMPLE In order to evaluate the performance of the electrical characteristic testing apparatus for a double-sided printed wiring board according to the present invention, the electrical characteristic testing apparatus 30 shown in the second embodiment was used to evaluate the electrical performance shown in the first embodiment. The electrical characteristics test of the copper paste through-hole double-sided printed wiring board was performed by the characteristic test system 10. A copper paste through-hole double-sided printed wiring board in which four through-holes were arranged in series was prepared as a sample, and an open / short inspection and a through-hole conduction resistance were inspected. In the through-hole conduction resistance test, the total conduction resistance of four through-holes was measured by a four-terminal method. In this experiment, the inspection of the through-hole conduction resistance can be performed simultaneously with the open / short inspection in 4 seconds, and it is possible to stably detect that the total conduction resistance of the four through-holes is 10 to 400 mΩ. did it.

【0022】実施形態例3 本実施形態例は、第2の発明の実施の形態例であって、
第1の発明の電気特性試験装置の被試験体として好適な
導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板の
構成を示す。図3は本実施形態例の導電性ペーストスル
ーホール型両面プリント配線基板の平面図である。導電
性ペーストスルーホール型両面プリント配線基板50
(以下、簡単に両面プリント配線基板50と言う)は、
製品基板として使用されている製品基板部52と、製品
基板として使用されていない捨て基板部54ととから構
成され、製品基板部52と捨て基板部54とを分離し易
いように境界に分割線として分割用ミシン目56とスリ
ット58が設けられている。分割線に設けたミシン目に
変えてVカット或いはUカットでも良い。捨て基板部5
4は、出荷の際、両面プリント配線基板50から分割線
で分離され、将来の追跡調査用資料として保管される。
Embodiment 3 This embodiment is an embodiment of the second invention,
1 shows a configuration of a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board suitable as a device under test of the electrical property test apparatus of the first invention. FIG. 3 is a plan view of the conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board of the present embodiment. Conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board 50
(Hereinafter simply referred to as double-sided printed wiring board 50)
It is composed of a product substrate portion 52 used as a product substrate and a discarded substrate portion 54 not used as a product substrate, and a dividing line is provided at a boundary so that the product substrate portion 52 and the discarded substrate portion 54 can be easily separated. A dividing perforation 56 and a slit 58 are provided. A V-cut or a U-cut may be used instead of the perforation provided on the dividing line. Discard substrate part 5
4 is separated from the double-sided printed wiring board 50 by a dividing line at the time of shipment, and is stored as future tracking data.

【0023】捨て基板部52の基板面には、ダミー導電
性ペーストスルーホール60を単独又は複数個(図3で
は、4個のダミー導電性ペーストスルーホールを図示)
を直列に表面の配線61と裏面の配線62により接続し
たテストクーポン64が配置されている。テストクーポ
ン64の両端には、銅箔電極66A、Bが、テストクー
ポン64の導通抵抗を計測するための4端子法導通抵抗
測定端子として設けられ、それぞれの銅箔ランドに導通
抵抗検査装置のプローブピンを接触させる。また、捨て
基板部52の基板面のテストクーポン64の近傍に、図
3に示すように、表示面68を備え、シンボルシルク印
刷により、基板製造年月日、基板製造ロット、部品番
号、面付け箇所を表示させる。また、また同じ表示を製
品基板部52に施して良い。
A single or a plurality of dummy conductive paste through-holes 60 are provided on the substrate surface of the discarded substrate portion 52 (four dummy conductive paste through-holes are shown in FIG. 3).
Are connected in series by a wiring 61 on the front surface and a wiring 62 on the rear surface. At both ends of the test coupon 64, copper foil electrodes 66A and 66B are provided as four-terminal method conduction resistance measuring terminals for measuring the conduction resistance of the test coupon 64, and a probe of a conduction resistance inspection device is provided on each copper foil land. Touch the pins. Further, as shown in FIG. 3, a display surface 68 is provided near the test coupon 64 on the board surface of the discarded board section 52, and the board manufacturing date, board manufacturing lot, part number, and imposition are printed by symbol silk printing. Display the location. Further, the same display may be provided on the product substrate section 52.

【0024】図4を参照して、本両面プリント配線基板
50の導通抵抗を検査する方法を説明する。図4は、実
施形態例2の電気特性試験装置30の導通抵抗検査部3
4と、被試験体としての本両面プリント配線基板50を
示している。導通抵抗を検査する際には、実施形態例2
と同様にして、導通抵抗検査部34の上下2枚のピンボ
ード36のプローブピン38、42で両面プリント配線
基板28を挟み、かつ、図4に示すように、プローブピ
ン38、42を両面プリント配線基板50のプリント配
線回路78の電極79に接触させて、電流計44で電流
値を計測し、電圧計40でプローブピン42間の電圧を
計測して、銀ペースト層76の導通抵抗値を求める。
Referring to FIG. 4, a method for inspecting the conduction resistance of the double-sided printed wiring board 50 will be described. FIG. 4 shows the continuity resistance inspection unit 3 of the electrical characteristic test apparatus 30 according to the second embodiment.
4 and a double-sided printed wiring board 50 as a device under test. In testing the conduction resistance, the second embodiment
In the same manner as described above, the double-sided printed wiring board 28 is sandwiched between the probe pins 38 and 42 of the two upper and lower pin boards 36 of the conduction resistance inspection unit 34, and the probe pins 38 and 42 are printed on both sides as shown in FIG. The electrode 79 of the printed wiring circuit 78 of the wiring board 50 is brought into contact with the electrode 79, the current value is measured by the ammeter 44, the voltage between the probe pins 42 is measured by the voltmeter 40, and the conduction resistance value of the silver paste layer 76 is measured. Ask.

【0025】本実施形態例では、製品基板部52とテス
トクーポン64を設けた捨て基板部54の両方に、基板
製造年月日、基板製造ロット、部品番号、面付け箇所の
情報を表示している。これにより、仮に、電子部品実装
による熱履歴負荷後に出荷した製品基板に、導通抵抗値
異常が発生していた場合にも、保管している捨て基板部
54を追跡調査することにより、傾向不良解析とロット
追跡とを容易に行うことができる。また、本実施形態例
では、或る製品に導通抵抗異常が発生した場合、その製
品と同じロットの保管されいる捨て基板部54のテスト
クーポンを解析することにより、同一ロットの製品の不
良箇所を追跡調査することができる。一方、従来の両面
プリント配線基板では、このような追跡調査を行うこと
が難しい。
In this embodiment, information on the date of manufacture of the board, the lot number of the board, the part number, and the imposition location are displayed on both the product board 52 and the discarded board 54 provided with the test coupon 64. I have. Accordingly, even if the product substrate shipped after the thermal history load due to the mounting of the electronic component has an abnormal conduction resistance value, the stored discarded substrate portion 54 can be traced to analyze the trend failure. And lot tracking can be easily performed. Further, in the present embodiment, when a conduction resistance abnormality occurs in a certain product, the defective portion of the product of the same lot is analyzed by analyzing the test coupon of the discarded substrate unit 54 stored in the same lot as the product. Can be tracked. On the other hand, with a conventional double-sided printed wiring board, it is difficult to perform such a follow-up survey.

【0026】[0026]

【発明の効果】第1の発明の構成によれば、両面プリン
ト配線基板のオープン・ショート検査と導通抵抗検査と
を同時に実施することができるので、両面プリント配線
基板の電気特性検査作業の効率が高い。また、本電気特
性試験装置は、従来のオープン・ショート検査装置に導
通検査装置を組み込む程度で済むので、設備コストが嵩
まない。また、双方を一つの試験装置に組み込むことに
より、電気特性試験装置を小型化でき、設備スペース効
率を向上させることができる。
According to the structure of the first aspect of the present invention, the open / short inspection and the conduction resistance inspection of the double-sided printed wiring board can be performed simultaneously, so that the efficiency of the work for inspecting the electrical characteristics of the double-sided printed wiring board can be improved. high. In addition, the electrical characteristic test apparatus does not need to include a continuity inspection apparatus in a conventional open / short inspection apparatus, so that the equipment cost does not increase. Also, by incorporating both into one test apparatus, the electrical property test apparatus can be reduced in size and the equipment space efficiency can be improved.

【0027】第2の発明の構成によれば、導通抵抗検査
用のテストクーポンが予め設けてあるので、本両面プリ
ント配線基板では、全スルーホール導通抵抗検査はでき
ないものの、導電ペースト材料自身の不良、ペースト焼
成条件のバラツキの傾向不良を容易に検出ができる。ま
た、捨て基板部を格納しておくことにより、両面プリン
ト配線基板のユーザー側でも、導通抵抗のロット管理を
容易に行うことができ、また、導通抵抗不良が発生した
場合には、同一ロット品の捨て基板にあるテストクーポ
ンの破壊検査・解析を行うことができるため、不良解析
が容易である。また、両面プリント配線基板の表示面に
施す表示は、部品表示用のシンボルシルク表示でおこな
うので、追加費用が発生しない。
According to the configuration of the second aspect of the present invention, since the test coupon for the conduction resistance test is provided in advance, in the double-sided printed wiring board, the through-hole conduction resistance test cannot be performed, but the defect of the conductive paste material itself is not possible. In addition, it is possible to easily detect a tendency of variation in paste firing conditions. Also, by storing the discarded substrate part, the user of the double-sided printed wiring board can easily perform the lot management of the conduction resistance. Since the destructive inspection and analysis of the test coupon on the discarded substrate can be performed, failure analysis is easy. In addition, since the display performed on the display surface of the double-sided printed wiring board is performed by the symbol silk display for displaying the components, no additional cost is generated.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明に係る電気特性試験装置を用いた本実施
形態例の電気特性試験システムの基本的構成を示す概念
図である。
FIG. 1 is a conceptual diagram showing a basic configuration of an electric property test system of an embodiment using an electric property test apparatus according to the present invention.

【図2】実施形態例2の電気特性試験装置の構成を示す
概念図である。
FIG. 2 is a conceptual diagram illustrating a configuration of an electrical characteristic test apparatus according to a second embodiment.

【図3】実施形態例3の導電性ペーストスルーホール型
両面プリント配線基板の平面図である。
FIG. 3 is a plan view of a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board according to Embodiment 3;

【図4】実施形態例2の電気特性試験装置の導通抵抗検
査部の要部と、被試験体として実施形態例3の両面プリ
ント配線基板を示し、導通抵抗検査方法を説明する図で
ある。
FIG. 4 is a diagram illustrating a main part of a continuity resistance inspection unit of an electrical characteristic testing apparatus according to a second embodiment and a double-sided printed wiring board according to a third embodiment as a device under test, and illustrating a continuity resistance inspection method.

【図5】従来のオープン・ショート検査装置の構成を示
す概念図である。
FIG. 5 is a conceptual diagram showing a configuration of a conventional open / short inspection apparatus.

【図6】従来のオープン・ショート検査装置を使って、
両面プリント配線基板のオープン・ショート検査方法を
説明する図である。
FIG. 6: Using a conventional open / short inspection device,
It is a figure explaining the open-short inspection method of a double-sided printed wiring board.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10……電気特性試験システム、12……基板供給装
置、14……本発明に係る両面プリント配線基板の電気
特性試験装置、16……基板収納装置、18……オープ
ン・ショート検査部、20……スルーホール導通抵抗検
査部、22……ピンボード部、フィクスチャ、24……
プローブピン、26……ピンボード、28……両面プリ
ント配線基板、30……実施形態例2の両面プリント配
線基板の電気特性試験装置、32……2端子法のオープ
ン・ショート検査部32と、34……4端子法のスルー
ホール導通抵抗検査部、36……ピンボード、38A、
B……プローブピン、40……電圧計、42A、B……
対のプローブピン、44……電流計、46……電池、5
0……実施形態例3の両面プリント配線基板、52……
製品基板部、54……捨て基板部、56……分割用ミシ
ン目、58……スリット、60……ダミー導電性ペース
トスルーホール、61……裏面の配線、62……表面の
配線、64……テストクーポン、66A、B……銅箔電
極、68……表示面、70……絶縁性基板、72A、B
プリント配線、74……スルーホール、76……銀ペー
スト、78……プリント配線回路、79……電極、80
……従来の2端子法のオープン・ショート検査装置、8
2A、B……対のプローブピン、84……電池、86…
…電圧計、88……電流計、90……ピンボード。
Reference Signs List 10 ... Electrical characteristic test system, 12 ... Substrate supply device, 14 ... Electrical characteristic test device for double-sided printed wiring board according to the present invention, 16 ... Substrate storage device, 18 ... Open / short inspection unit, 20 ... ... Through-hole continuity resistance inspection part, 22 ... Pin board part, fixture, 24 ...
Probe pins, 26 pin board, 28 double-sided printed wiring board, 30 double-sided printed wiring board electrical characteristic testing apparatus of Embodiment 2, 32 open-short inspection section 32 of the two-terminal method, 34: a through-hole continuity resistance testing unit of the four-terminal method, 36: a pin board, 38A,
B: Probe pin, 40: Voltmeter, 42A, B ...
A pair of probe pins, 44 ... Ammeter, 46 ... Battery, 5
0: double-sided printed wiring board of Embodiment 3;
Product substrate part, 54 ... Discard substrate part, 56 ... Perforation for dividing, 58 ... Slit, 60 ... Dummy conductive paste through hole, 61 ... Back wiring, 62 ... Front wiring, 64 ... ... test coupon, 66A, B ... copper foil electrode, 68 ... display surface, 70 ... insulating substrate, 72A, B
Printed wiring, 74: through-hole, 76: silver paste, 78: printed wiring circuit, 79: electrode, 80
…… Conventional two-terminal open / short inspection device, 8
2A, B: pair of probe pins, 84: battery, 86:
... voltmeter, 88 ... ammeter, 90 ... pin board.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 絶縁性基板の両面にプリント配線を有
し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を介
して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペース
トスルーホール型両面プリント配線基板の電気特性を試
験する装置であって、 プリント配線のオープン・ショート状態を検査するオー
プン・ショート検査部と、導電性ペーストスルーホール
の導通抵抗値を測定する導通抵抗検査部とを備えている
ことを特徴とする、導電性ペーストスルーホール型両面
プリント配線基板の電気特性試験装置。
1. A conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board having printed wiring on both surfaces of an insulating substrate and conducting printed wiring on both surfaces of the substrate through a conductive paste layer filling through holes in the substrate. An apparatus for testing electrical characteristics, comprising: an open / short inspection section for inspecting an open / short state of a printed wiring; and a conduction resistance inspection section for measuring a conduction resistance value of a conductive paste through hole. Characteristic testing equipment for conductive paste through-hole type double-sided printed wiring boards.
【請求項2】 オープン・ショート検査部及び導通抵抗
検査部が、それぞれ、2端子法による検査装置及び4端
子法による検査装置として構成され、共通のピンボード
にそれぞれのプローブピンを備えていることを特徴とす
る請求項1に記載の、導電性ペーストスルーホール型両
面プリント配線基板の電気特性試験装置。
2. An open / short inspection unit and a continuity resistance inspection unit are respectively configured as a two-terminal inspection device and a four-terminal inspection device, and each probe pin is provided on a common pin board. The electrical characteristics test apparatus for a conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board according to claim 1, wherein:
【請求項3】 絶縁性基板の両面にプリント配線を有
し、基板のスルーホールを埋めた導電性ペースト層を介
して基板両面のプリント配線を導通させる導電性ペース
トスルーホール型両面プリント配線基板であって、 製品として使用される基板領域からなる製品基板部と、
製品として使用されない基板領域からなる捨て基板部と
を有し、 捨て基板部には、ダミー導電性ペーストスルーホール
と、ダミー導電性ペーストスルーホールと接続するダミ
ー電極を備えたテストクーポンが設けられていることを
特徴とする、導電性ペーストスルーホール型両面プリン
ト配線基板。
3. A conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board having printed wiring on both surfaces of an insulating substrate and conducting printed wiring on both surfaces of the substrate through a conductive paste layer filling through holes in the substrate. There is a product substrate part comprising a substrate area used as a product,
A discarded substrate portion comprising a substrate region not used as a product, the discarded substrate portion being provided with a dummy conductive paste through hole and a test coupon having a dummy electrode connected to the dummy conductive paste through hole. A conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board.
【請求項4】 捨て基板部の基板面に、又は捨て基板部
及び製品基板部の双方の基板面に、所定事項を表示した
表示面を備えていることを特徴とする請求項3に記載
の、導電性ペーストスルーホール型両面プリント配線基
板。
4. The display device according to claim 3, wherein a display surface for displaying predetermined items is provided on a substrate surface of the discarded substrate portion or on both substrate surfaces of the discarded substrate portion and the product substrate portion. , Conductive paste through-hole type double-sided printed wiring board.
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Cited By (8)

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