JP4379560B2 - 薄膜太陽電池とその製造方法 - Google Patents

薄膜太陽電池とその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4379560B2
JP4379560B2 JP2001000637A JP2001000637A JP4379560B2 JP 4379560 B2 JP4379560 B2 JP 4379560B2 JP 2001000637 A JP2001000637 A JP 2001000637A JP 2001000637 A JP2001000637 A JP 2001000637A JP 4379560 B2 JP4379560 B2 JP 4379560B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
layer
electrode layer
thin film
conductive member
transparent conductive
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP2001000637A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2002203976A (ja
Inventor
清雄 ▲斎▼藤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Systems Co Ltd filed Critical Fuji Electric Systems Co Ltd
Priority to JP2001000637A priority Critical patent/JP4379560B2/ja
Publication of JP2002203976A publication Critical patent/JP2002203976A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4379560B2 publication Critical patent/JP4379560B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Photovoltaic Devices (AREA)

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、透光性を有する基板の片側主面に、薄膜太陽電池ユニット(ユニットセル)を複数個形成し、これらを電気的に直列に接続してなる薄膜太陽電池とその製造方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
現在、環境保護の立場から、クリーンなエネルギーの研究開発が進められている。中でも、太陽電池はその資源(太陽光)が無限であること、無公害であることから注目を集めている。
【0003】
薄膜太陽電池は、薄型で軽量、製造コストの安さ、大面積化が容易であることなどから、今後の太陽電池の主流となると考えられ、電力供給用以外に、建物の屋根や窓などにとりつけて利用される業務用,一般住宅用にも需要が広がってきている。
【0004】
近年、軽量化、施工性、量産性においてプラスチックフィルムを用いたフレキシブルタイプの太陽電池の研究開発が進められ実用化されているが、薄膜太陽電池を高温処理で製作する場合には、ガラス基板などの耐熱性を備えた基板の上に形成されることが多い。この場合には、ガラス基板の片側主面に太陽電池薄膜を形成して直列接続し、太陽電池薄膜のガラス基板と反対側(受光面側)を透光性の保護層(ガラス板また透光性樹脂)で覆って、太陽電池モジュールを構成する。
【0005】
上記のように基板の片側主面に太陽電池薄膜を形成して直列接続する形式の薄膜太陽電池(以下、基板片面形成型太陽電池ともいう。)は、透光性を有する基板の片側主面に、金属電極層,薄膜半導体層および透明電極層を順次積層して薄膜太陽電池ユニット(ユニットセル)を複数個形成し、これらのユニットセルにおける前記各層のパターニングと層形成によって隣接するユニットセルの金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続し、必要な電圧を出力させる構成を備える。例えばインバータにより交流化し商用電力源として交流100Vを得るためには、太陽電池の出力は100V以上が望ましく、この場合には、数10個以上の素子が直列接続される。
【0006】
図4は、従来の前記基板片面形成型太陽電池の構成を模式的に示す図であって、図4(a)は薄膜太陽電池の平面図、図4(b)は図4(a)のP−Pに沿った側断面図である。図4の薄膜太陽電池においては、透光性絶縁材料からなる基板Sの片面に、金属電極層e、薄膜半導体層aおよび透明電極層uが順次積層され、太陽光線は透明電極層側から入射する。
【0007】
上記薄膜太陽電池の製造方法について、以下に説明する。先ず、基板Sに金属電極層eをスパッタ法を用いて成膜し、所定の形状にレーザ加工してパターニングし、金属電極層e1〜e6を形成する。次いで、a−Siからなる薄膜半導体層aをプラズマCVD法を用いて形成し、金属電極層eのパターニングラインと平行にレーザ加工を用いてa−Si膜をパターニングし、薄膜半導体層a1〜a6を形成する。次に、透明電極層uを薄膜半導体層上にマスク形成する。透明電極層uは、マスク形成により直列接続方向に複数個に分割され、それぞれ透明電極層u1〜u6となる。
【0008】
このときのパターニングライン(透明電極層分離部g)は、金属電極層および薄膜半導体層のパターニングラインと平行であり、基板S上に金属電極層e、薄膜半導体層a、透明電極層uがパターニングされて順に積層された状態となる。金属電極層e上の薄膜半導体層aの除去部分には、透明電極層uが形成され、一方のユニットセルの金属電極層eと隣接するユニットセルの透明電極層uが電気的に接続される。これを繰り返すことにより、複数個の薄膜太陽電池ユニットの直列接続が行なわれる。
【0009】
以上の工程の結果、透明電極層u1、薄膜半導体層a1、金属電極層e1−透明電極層u2、薄膜半導体層a2、金属電極層e2−・・・・−透明電極層u6、薄膜半導体層a6、金属電極層e6の順に電気的に接続され、薄膜太陽電池の直列接続が完成する。
【0010】
なお、前記薄膜半導体層は、a−Si膜以外に、a−Siおよびa−SiGe膜を用いる場合もある。さらに、近年では、微結晶シリコンなどの適用も研究されている。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】
ところで、従来の薄膜太陽電池の製造方法においては、下記のような問題があった。前記図4に示す薄膜太陽電池の製造工程においては、透明電極層のパターニングプロセスをマスク形成(通常はリフトオフマスクを使用する方法)により行なっていた。
【0012】
その理由は、薄膜半導体層上の透明電極層のレーザパターニングが困難であるからである。なぜならば、薄膜半導体層上の透明電極層をレーザパターニングする場合には、透明電極層側からレーザ光を入射させる必要があるが、この場合、透明電極層パターニング時に下地の薄膜半導体層がレーザ光を受けて低抵抗化し、これを介して、透明電極層と金属電極層間に漏れ電流が発生するからである。
【0013】
漏れ電流発生を防止するためには、レーザ加工後に、プラズマエッチ工程を加えて、低抵抗化した薄膜半導体層を除去する必要があった。また、レーザパターニング工程の代りに、マスク形成の必要なケミカルエツチング法やサンドブラスト法を用いる方法も試行された。しかしながら、ケミカルエッチング法やサンドブラスト法は、その方法自体マスク形成を必要とするために、レーザパターニング法に比べ、工程が複雑になってしまう問題や、製造コストが高くなってしまう問題があつた。
【0014】
また、前記リフトオフマスクを使用するマスク形成方法においては、パターニングラインの分離線幅が広くなり太陽電池の有効面積が低下する問題があり、また、位置合わせ精度を高くすることが困難などの問題もあった。
【0015】
この発明は、上記のような問題点を解消するためになされたもので、この発明の課題は、基板片面形成型太陽電池の透明電極層のレーザパターニングを薄膜半導体層の損傷なしに可能とし、太陽電池の面積効率の向上および製造プロセスの低コスト化を図った薄膜太陽電池とその製造方法を提供することにある。
【0016】
【課題を解決するための手段】
前述の課題を解決するため、請求項1の発明は、透光性を有する基板の片側主面に、金属電極層,薄膜半導体層および透明電極層を順次積層して薄膜太陽電池ユニット(ユニットセル)を複数個形成し、これらのユニットセルにおける前記各層のパターニングと層形成によって隣接するユニットセルの金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続し、前記薄膜半導体層および透明電極層は、前記パターニングによって形成される分離溝を有してなる薄膜太陽電池において、前記金属電極層の一部をパターニングして、前記各層のパターニングラインと平行な分離部を、前記分離溝の真下の位置となるように別途設け、前記金属電極層と薄膜半導体層との間ならびに前記分離部に透明導電部材層(A層)を形成してなり、隣接するユニットセルの前記A層と透明電極層とを電気的に接続することにより、金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続してなるものとする。
【0017】
また、上記構成の薄膜太陽電池を製造する方法としては、請求項6または7の発明が好適である。即ち、請求項1記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし8)の工程を含むこととする(請求項6の発明)。
1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて金属電極層を形成する工程。
2)金属電極層上にマスクを形成し、薬液によるエッチングまたはサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて金属電極層をパターニングして分離部(g1)を形成する工程。
3)金属電極層上および透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明導電部材層(A層)を形成する工程。
4)透明導電部材層(A層)上にマスクを形成し、サンドブラスト法またはマスクレスのレーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層をパターニングする工程。
5)透明導電部材層(A層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
6)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
7)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
8)前記分離部(g1)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
【0018】
前述の請求項1および6の発明のように、透明導電部材層(A層)を設けることにより、低いレーザ出力で薄膜半導体層および透明電極層を、透光性基板側からパターニングすることが可能となるため、薄膜半導体の低抵抗化が原因で発生するリーク電流の発生が少なくなり、高品質な透明電極層のレーザパターニングが行える。
【0019】
また、前記請求項6記載の製造方法における前記6)の工程において、レーザ加工法により薄膜半導体層をパターニングする場合には、レーザ加工による発塵により、後段の工程で形成する透明電極層の電気的信頼性が損なわれることがあるが、これを防止する観点から、下記請求項7)の発明が好ましい。
【0020】
即ち、前記請求項6記載の製造方法において、前記6)および7)に記載の工程に代えて、下記6)および7)の工程とする(請求項7の発明)。
6)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
7)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
【0021】
さらに、透光性基板と金属電極層との間に第2の透明導電部材層(B層)を形成し、透光性基板側から金属電極層をレーザ加工することにより、反射率が金属電極層よりは低い前記B層がレーザ光を取り込んで効率のよい金属電極層の加工を可能とする作用をなし、低いレーザ出力で金属電極層がパターニングできることを見出した。この点に着眼し、低いレーザ出力でパターニングを可能とするためには、下記請求項2の発明が好ましく、その製造方法としては、下記請求項8ないし9の発明が好ましい。
【0022】
即ち、前記請求項1記載の薄膜太陽電池において、前記透光性を有する基板と前記金属電極層との間に、第2の透明導電部材層(B層)を設けるものとする(請求項2の発明)。
【0023】
また、請求項2記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし8)の工程を含むこととする(請求項8の発明)。
1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて第2の透明導電部材層(B層)および金属電極層を形成する工程。
2)レーザ加工法を用いて、透光性基板側からレーザ光を入射し、第2の透明導電部材層(B層)および金属電極層をパターニングして分離部(g2)を形成する工程。
3)金属電極層上および透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明導電部材層(A層)を形成する工程。
4)透明導電部材層(A層)上にマスクを形成し、サンドブラスト法またはマスクレスのレーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層ならびに第2の透明導電部材層(B層)をパターニングする工程。
5)透明導電部材層(A層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
6)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
7)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
8)前記分離部(g2)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
【0024】
さらに、請求項8記載の製造方法において、前記6)および7)に記載の工程に代えて、下記6)および7)の工程とする(請求項9の発明)。
6)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
7)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
【0025】
また、前記請求項8または9における工程2)4)の工程を、レーザ加工法によりパターニングする場合には、2つのレーザ加工工程の間に透明導電部材層(A層)の形成工程があって、手順が煩雑であり、また発塵により、後段の工程で形成する透明導電部材層(A層)の電気的信頼性が損なわれる懸念もある。そこで、手順を簡素化し、発塵の悪影響を防止する観点から、下記請求項3)10)11)の発明が好ましい。
【0026】
即ち、請求項2記載の薄膜太陽電池において、前記金属電極層の分離部に対応して、前記A層の一部にも分離部を設け、前記両分離部に薄膜半導体層を形成してなるものとする(請求項3の発明)。
【0027】
また、請求項3記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし7)の工程を含むこととする(請求項10の発明)。
1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて第2の透明導電部材層(B層)、金属電極層および透明導電部材層(A層)を形成する工程。
2)レ−ザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層をパターニングして分離部(g3)を形成する工程。
3)レーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層),金属電極層および第2の透明導電部材層(B層)をパターニングする工程。
4)透明導電部材層(A層)上,第2の透明導電部材層(B層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
5)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
6)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
7)前記分離部(g3)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
【0028】
さらに、請求項10記載の製造方法において、前記5)および6)に記載の工程に代えて、下記5)および6)の工程とする(請求項11の発明)。
5)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
6)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
【0029】
また、後述するように、前記分離部(g3)の加工を容易にする観点から、下記請求項4の発明が好適である。即ち、請求項3記載の薄膜太陽電池において、前記B層の厚さを前記A層の厚さより大とする。
【0030】
さらに、前記薄膜太陽電池の発明の実施態様として、下記請求項5の発明が好ましい。即ち、請求項2ないし4のいずれかに記載の薄膜太陽電池において、前記透明電極層,A層およびB層の材質は、ITO、SnO2、ZnOなどの透明導電性の金属酸化物とする。
【0031】
【発明の実施の形態】
図面に基づき、本発明の実施の形態について以下に述べる。
【0032】
(実施例1)
図1(a)〜(f)は、請求項1,6および7の発明に関わる実施例の薄膜太陽電池の製造工程を示す。
【0033】
まず、厚さ2mmのガラス基板S上にスパッタ法を用いて、金属電極層eとして、製膜温度300℃で、厚さ100nmのアルミ電極層を形成した。そして、アルミ非形成面側からYAG第2高調波レーザ(波長532nm)を照射して、アルミ電極を複数個の帯状に分割した。このときのレーザ加工出力は6.0W、分離部(g1)の分離溝幅は0.4mmに設定した(図1(a))。
【0034】
上記したアルミ電極層上および分離部(g1)溝内に、スパッタ法を用いて、透明導電部材層(A層)である酸化亜鉛を形成した。このときの膜形成温度は300℃であり、酸化亜鉛形成膜厚は200nmとした(図1(b))。
【0035】
そして、透明導電部材層(A層)(酸化亜鉛)側からYAG第2高調波レーザ光を入射し、透明導電部材層(A層)および金属電極層をパターニングした。このときのレーザ加工出力は3.0W、パターニング溝幅は0.1mmとした(図1(c))。
【0036】
ここで、レーザ光を透明導電部材層(A層)側から照射する理由は、透明導電部材層(A層)側の方が表面反射率が低く、アルミ電極を低いレーザエネルギーで除去出来るからである。
【0037】
次に、このA層上に、a−Siおよびa−SiGe膜からなる薄膜半導体層aをプラズマCVD法を用いて形成した(図1(d))。
【0038】
本実施例では、薄膜半導体層aの層構成をnip/nip構造から成る2層タンデム構造とした。そして、ガラス基板側のi層にはa−SiGe膜を、光入射側のi層にはa−Si膜を用いた。この薄膜半導体層の総合膜厚は約0.6μmである。
【0039】
続いて、YAG第2高調波レーザを用いて薄膜半導体層aをパターニングした。薄膜半導体層aのレーザ加工出力は4.6W、パターニング溝幅は0.2mmとした。この状態で、薄膜半導体層a上および薄膜半導体層のパターニング溝部に酸化インジウムからなる透明電極層u(厚さ70nm)を、製膜温度200℃でスパッタ法を用いて形成した(図1(e))。
【0040】
前記薄膜半導体層のパターニング溝部に透明電極層uを形成することにより、図1(e)のm1で示す部分を介して、隣接する太陽電池ユニット間の直列接続が可能となるが、請求項7の発明のように、薄膜半導体層のパターニング溝を形成せずに、このm1で示す部分を後から溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続することもできる。なお、前記溶融低抵抗化のイメージ図は、後述する図3(f)のm3に示す。
【0041】
最後に、分離部(g1)において、ガラス基板S側からYAG第2高調波レーザを入射し、薄膜半導体層aとその上の透明電極層uをパターニングし、分離溝k1を形成した。このときの薄膜半導体層aおよび透明電極層uのレーザ加工出力は4.6W、パターニング溝幅は0.1mmとした(図1(f))。
【0042】
この透明電極層uのパターニングにおいて、ガラス基板側からレーザ光を入射することにより、透明電極層を直接レーザ光により加工することなく透明電極層の分離が可能となるので、レーザ加工時の熱影響による、透明電極層−透明電極層間の短絡や、透明電極層−アルミ電極層間の短絡が低減できた。
【0043】
上記工程により基板片面形成型直列構造の太陽電池を作製することにより、従来困難であった透明電極層のレーザパターニングが容易に行うことができ、完全なドライプロセスでのパターニングが可能となった。
【0044】
(実施例2)
図2(a)〜(f)は、請求項2,8および9の発明に関わる実施例の薄膜太陽電池の製造工程を示す。
【0045】
まず、板厚3mmのガラス基板にスパッタ法を用いて製膜温度250℃で、透明導電部材層(B層)としての酸化亜鉛を60nm,金属電極層eとしての銀を100nm連続形成した。そして、ガラス基板S側からYAG第2高調波レーザ(波長532nm)を用いて、酸化亜鉛層および銀層を複数個の帯状に分割し、分離部(g2)を形成した(図2(a))。
【0046】
このときのレーザ加工出力は6.0W、パターニング溝幅は0.4mmとした。
【0047】
通常、銀は高い光反射率を有しているため加工が困難である。しかし、本実施例では、透光性基板S上に酸化亜鉛の層Bを形成することにより、表面での反射率を低減することができ、銀を低いレーザ出力で透光性基板側から加工できる。ガラス基板上に、前記Bに代えて、a−Siからなる光吸収層を形成しても、同様の効果が得られる。
【0048】
次に、スパッタ法を用いて、透明導電部材層(A層)である酸化亜鉛の層Aを形成した。このときの膜形成温度は250℃、酸化亜鉛形成膜厚は200nmとした(図2(b))。
【0049】
そして、透光性基板側からYAG第2高調波レーザを入射し酸化亜鉛の層(反射率低減膜)Bおよび金属電極層a、透明導電部材層(A層)Aをパターニングした。このときも、酸化亜鉛の層が存在することにより反射率が低減し、低いレ−ザ出力で加工が行えるようになった。このときのレーザ加工出力は3.0W、パターニング溝幅は0.1mmとした(図2(c))。
【0050】
次に、a−Siおよびa−SiGe膜からなる薄膜半導体層aをプラズマCVD法を用いて形成した(図2(d))。
【0051】
本実施例では、薄膜半導体層aの層構成をnip/nip/nip構造から成るトリプル構造とした。そして、ガラス基板側と中間のi層にはa−SiGe膜を、光入射側のi層にはa−Si膜を用いた。この薄膜半導体層の総合膜厚は約0.6μmである。
【0052】
続いて、レーザ加工法により薄膜半導体層aをパターニングした。薄膜半導体層のレーザ加工出力は5.0W、パターニング溝幅は0.2mmとした。この状態で、薄膜半導体層a上および薄膜半導体層のパターニング部に酸化インジウムからなる透明電極層uを製膜温度200℃でスパッタ形成した(図2(e))。
【0053】
最後に、分離部(g2)において、ガラス基板側からYAG第2高調波レーザを入射し、薄膜半導体層aとその上の透明電極層uをパターニングし分離溝k2を形成した。このときの薄膜半導体層および透明電極層のレーザ加工出力は5.0W、パターニング溝幅は0.1mmとした(図2(f))。
【0054】
上記実施例により、実施例1と同様にレーザパターニングを容易とし、かつ、透明導電部材層(B層)を設けたことにより、レーザ加工出力を低減することができる。なお、図2(e)におけるm2部は、前述のように、後から溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続することもできる。
【0055】
(実施例3)
図3(a)〜(f)は、請求項3,4,10および11の発明に関わる実施例の薄膜太陽電池の製造工程を示す。なお、図3は、図3(f)に示すように、後から図3(f)m3部を溶融低抵抗化させる請求項11の発明に係わる製造方法の実施例を示す。
【0056】
まず、板厚0.25mmのアラミド基板Sにスパッタ法を用いて製膜温度350℃で、透明導電部材層(B層)としての酸化亜鉛の層Bを200nm、金属電極層eとしての銀を100nm、透明導電部材層(A層)としての酸化亜鉛の層Aを60nm形成した(図3(a))。
【0057】
次に、YAG第2高調波レーザを用いて、透明導電部材層(A層)と金属電極層を除去し、分離部(g3)を形成した。このときのレーザ加工出力は7.0W、分割溝幅は0.4mmとした(図3(b))。
【0058】
続いて、透明導電部材層(A層)側からYAG第2高調波レーザを用いて、透明導電部材層(A層)、金属電極層(銀)および第2の透明導電部材層(B層)をパターニングし、複数個の帯状に分割した。このときのレーザ加工出力は4.0W、分割溝幅は0.1mmとした(図3(c))。
【0059】
前記2つのパターニングの違いは、一方は3層(透明導電部材層(A層)、金属電極層、第2の透明導電部材層(B層))を一括して除去するのに対し、もう一方の分離部(g3)の加工は、B層だけを残して加工する点である。こうした選択除去加工は、レーザ加工条件(特にレーザ加工出力)を最適化することにより制御できるが、本実施例では、それをより確実かつ容易にするために、2つの透明導電部材層に膜厚の差をつけた。即ち、請求項4の発明のように、一方(除去側)の膜(A層)は加工が容易な膜厚に設定し、他方(残側)の膜(B層)は加工が困難な膜厚に設定した。
【0060】
次に、a−Siおよびa−SiGe膜からなる薄膜半導体層aをプラズマCVD法を用いて形成した。本実施例においても、薄膜半導体層の層構成をnip/nip/nip構造から成るトリプル構造とした。そして、アラミド基板側と中間のi層にはa−SiGe膜を、光入射側のi層にはa−Si膜を用いた。この薄膜半導体層の総合膜厚は約0.6μmである(図3(d))。
【0061】
続いて、薄膜半導体層a上に酸化インジウムからなる透明電極層uを製膜温度200℃で形成した(図3(e))。
【0062】
最後に、透明電極層u側からYAG第2高調波レーザを照射し、薄膜半導体層aを低抵抗化してm3部を形成し、透明電極層uと透明導電部材層(A層)Aとを電気的に接続した。このときのレーザ出力は8.0W、レーザスポット径は0.2mmとした。
【0063】
また、分離部(g3)において、アラミド基板側からYAG第2高調波レーザを入射し、薄膜半導体層とその上の透明電極層をパターニングし、分離溝k3を形成した(図3(f))。
【0064】
このときのレーザ加工出力は4.0W、パターニング溝幅は0.1mmとした。
【0065】
上記実施例によれば、実施例2と同様に、レーザパターニングを容易とし、かつ、透明導電部材層(B層)を設けたことにより、レーザ加工出力を低減することができる。さらに、前記図3(b)と図3(c)のレーザパターニングを継続して、略同時期に実施できるので、実施例2に比べて製造手順が簡素化し、また前述のように発塵の悪影響を防止することができる。
【0066】
なお、前述の実施例1ないし3において、透明電極層,透明導電部材層(A層およびB層)の材質としては、一部は各実施例に記載したが、ITO、SnO2、ZnOなどの透明導電性の金属酸化物の中から選択することができる。
【0067】
【発明の効果】
この発明によれば前述のように、透光性基板の片側主面に、金属電極層,薄膜半導体層および透明電極層を順次積層して薄膜太陽電池ユニット(ユニットセル)を複数個形成し、これらのユニットセルにおける前記各層のパターニングと層形成によって隣接するユニットセルの金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続し、前記薄膜半導体層および透明電極層は、前記パターニングによって形成される分離溝を有してなる薄膜太陽電池において、前記金属電極層の一部をパターニングして、前記各層のパターニングラインと平行な分離部を、前記分離溝の真下の位置となるように別途設け、図1ないし図3のように、その構成および工程の相違はあるものの、少なくとも、透光性基板と、レーザ加工によりパターニングする透明電極層および薄膜半導体層との間に、透明導電部材層(A層またはB層)を介在させて、透光性基板側から、レーザ光を照射して、透明電極層をレーザパターニングすることを可能としたので、これにより、太陽電池の面積効率の向上および製造プロセスの低コスト化が図れる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の実施例に関わる薄膜太陽電池の製造工程を示す図
【図2】この発明の図1とは異なる薄膜太陽電池の製造工程を示す図
【図3】この発明の図1とはさらに異なる薄膜太陽電池の製造工程を示す図
【図4】従来の薄膜太陽電池の製造工程を示す図
【符号の説明】
a:薄膜半導体層、e:金属電極層、g1,g2,g3:分離部、k1,k2,k3:分離溝、u:透明電極層、A:透明導電部材層(A層)、B:第2の透明導電部材層(B層)、S:透光性基板。

Claims (11)

  1. 透光性を有する基板の片側主面に、金属電極層,薄膜半導体層および透明電極層を順次積層して薄膜太陽電池ユニット(ユニットセル)を複数個形成し、これらのユニットセルにおける前記各層のパターニングと層形成によって隣接するユニットセルの金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続し、前記薄膜半導体層および透明電極層は、前記パターニングによって形成される分離溝を有してなる薄膜太陽電池において、
    前記金属電極層の一部をパターニングして、前記各層のパターニングラインと平行な分離部を、前記分離溝の真下の位置となるように別途設け、前記金属電極層と薄膜半導体層との間ならびに前記分離部に透明導電部材層(A層)を形成してなり、隣接するユニットセルの前記A層と透明電極層とを電気的に接続することにより、金属電極層と透明電極層とを電気的に接続して、前記複数のユニットセルを電気的に直列に接続してなることを特徴とする薄膜太陽電池。
  2. 請求項1記載の薄膜太陽電池において、前記透光性を有する基板と前記金属電極層との間に、第2の透明導電部材層(B層)を設けることを特徴とする薄膜太陽電池。
  3. 請求項2記載の薄膜太陽電池において、前記金属電極層の分離部に対応して、前記A層の一部にも分離部を設け、前記両分離部に薄膜半導体層を形成してなることを特徴とする薄膜太陽電池。
  4. 請求項3記載の薄膜太陽電池において、前記B層の厚さを前記A層の厚さより大とすることを特徴とする薄膜太陽電池。
  5. 請求項2ないし4のいずれかに記載の薄膜太陽電池において、前記透明電極層,A層およびB層の材質は、ITO、SnO2、ZnOなどの透明導電性の金属酸化物とすることを特徴とする薄膜太陽電池。
  6. 請求項1記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし8)の工程を含むことを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて金属電極層を形成する工程。
    2)金属電極層上にマスクを形成し、薬液によるエッチングまたはサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて金属電極層をパターニングして分離部(g1)を形成する工程。
    3)金属電極層上および透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明導電部材層(A層)を形成する工程。
    4)透明導電部材層(A層)上にマスクを形成し、サンドブラスト法またはマスクレスのレーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層をパターニングする工程。
    5)透明導電部材層(A層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
    6)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
    7)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    8)前記分離部(g1)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
  7. 請求項6記載の製造方法において、前記6)および7)に記載の工程に代えて、下記6)および7)の工程とすることを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    6)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    7)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
  8. 請求項2記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし8)の工程を含むことを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて第2の透明導電部材層(B層)および金属電極層を形成する工程。
    2)レーザ加工法を用いて、透光性基板側からレーザ光を入射し、第2の透明導電部材層(B層)および金属電極層をパターニングして分離部(g2)を形成する工程。
    3)金属電極層上および透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明導電部材層(A層)を形成する工程。
    4)透明導電部材層(A層)上にマスクを形成し、サンドブラスト法またはマスクレスのレーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層ならびに第2の透明導電部材層(B層)をパターニングする工程。
    5)透明導電部材層(A層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
    6)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
    7)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    8)前記分離部(g2)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
  9. 請求項8記載の製造方法において、前記6)および7)に記載の工程に代えて、下記6)および7)の工程とすることを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    6)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    7)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
  10. 請求項3記載の薄膜太陽電池の製造方法であって、以下の1)ないし7)の工程を含むことを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    1)透光性基板上に蒸着またはスパッタ法を用いて第2の透明導電部材層(B層)、金属電極層および透明導電部材層(A層)を形成する工程。
    2)レ−ザ加工法を用いて透明導電部材層(A層)および金属電極層をパターニングして分離部(g3)を形成する工程。
    3)レーザ加工法を用いて透明導電部材層(A層),金属電極層および第2の透明導電部材層(B層)をパターニングする工程。
    4)透明導電部材層(A層)上,第2の透明導電部材層(B層)上および透光性基板上にCVD法を用いて薄膜半導体層を形成する工程。
    5)薄膜半導体層上にマスクを形成しサンドブラスト法を用いて、またはマスクレスのレーザ加工法を用いて薄膜半導体層をパターニングする工程。
    6)薄膜半導体層および透明導電部材層(A層)上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    7)前記分離部(g3)に、透光性基板側からレーザ光を入射し、薄膜半導体層および透明電極層をパターニングする工程。
  11. 請求項10記載の製造方法において、前記5)および6)に記載の工程に代えて、下記5)および6)の工程とすることを特徴とする薄膜太陽電池の製造方法。
    5)薄膜半導体層上に蒸着またはスパッタ法を用いて透明電極層を形成する工程。
    6)透明電極層側からレーザ光を照射し、透明電極層と薄膜半導体層を溶融低抵抗化させ、透明電極層と透明導電部材層(A層)を電気的に接続する工程。
JP2001000637A 2001-01-05 2001-01-05 薄膜太陽電池とその製造方法 Expired - Lifetime JP4379560B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001000637A JP4379560B2 (ja) 2001-01-05 2001-01-05 薄膜太陽電池とその製造方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001000637A JP4379560B2 (ja) 2001-01-05 2001-01-05 薄膜太陽電池とその製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2002203976A JP2002203976A (ja) 2002-07-19
JP4379560B2 true JP4379560B2 (ja) 2009-12-09

Family

ID=18869388

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2001000637A Expired - Lifetime JP4379560B2 (ja) 2001-01-05 2001-01-05 薄膜太陽電池とその製造方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4379560B2 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5160565B2 (ja) * 2007-12-05 2013-03-13 株式会社カネカ 集積型薄膜光電変換装置とその製造方法
KR101460619B1 (ko) 2008-07-09 2014-11-11 주성엔지니어링(주) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
JP5280942B2 (ja) * 2009-06-04 2013-09-04 株式会社カネカ 集積型薄膜光電変換装置とその製造方法
JP5469380B2 (ja) * 2009-06-04 2014-04-16 株式会社カネカ 集積型薄膜光電変換装置とその製造方法
KR101079614B1 (ko) * 2010-04-09 2011-11-03 주성엔지니어링(주) 박막형 태양전지의 제조방법
JP5054157B2 (ja) * 2010-06-17 2012-10-24 昭和シェル石油株式会社 Cis系薄膜太陽電池
US20130014800A1 (en) * 2011-07-13 2013-01-17 Thinsilicon Corporation Photovoltaic device and method for scribing a photovoltaic device
KR101786099B1 (ko) 2011-07-29 2017-10-16 엘지이노텍 주식회사 탠덤형 태양전지 및 그의 제조방법
KR101474287B1 (ko) * 2013-05-15 2014-12-19 주식회사 엘티에스 후면전극형 태양전지 모듈의 백시트 제조방법
JP5559913B2 (ja) * 2013-07-08 2014-07-23 株式会社カネカ 集積型薄膜光電変換装置とその製造方法
JP2014167808A (ja) * 2014-04-17 2014-09-11 Shin Etsu Polymer Co Ltd 入力装置
CN110165019B (zh) * 2019-05-28 2024-03-26 信利半导体有限公司 一种薄膜太阳能电池的制作方法及薄膜太阳能电池

Also Published As

Publication number Publication date
JP2002203976A (ja) 2002-07-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20060112987A1 (en) Transparent thin-film solar cell module and its manufacturing method
JP4379560B2 (ja) 薄膜太陽電池とその製造方法
US8168881B2 (en) Monolithic photovoltaic module
JPH1070295A (ja) 集積型薄膜太陽電池の製造方法
JP2006332453A (ja) 薄膜太陽電池の製造方法および薄膜太陽電池
JP3449155B2 (ja) 光電変換装置およびその製造方法
JP2002057357A (ja) 薄膜太陽電池とその製造方法
US20100126559A1 (en) Semi-Transparent Thin-Film Photovoltaic Modules and Methods of Manufacture
JP4171959B2 (ja) 薄膜太陽電池の製造方法
TWI495136B (zh) 太陽能電池及其製造方法
WO2012043539A1 (ja) 薄膜太陽電池および薄膜太陽電池の製造方法
JP3746410B2 (ja) 薄膜太陽電池の製造方法
JP2002280580A (ja) 集積型光起電力装置及びその製造方法
JPH1126795A (ja) 集積化薄膜太陽電池の製造方法
JP2002151720A (ja) 薄膜太陽電池
JP4061525B2 (ja) 太陽電池モジュールの製造方法
JP4534331B2 (ja) 薄膜太陽電池の製造方法
JP2000208794A (ja) 薄膜太陽電池等のパタ―ン状薄膜層のレ―ザパタ―ニング方法および装置
JPH0758351A (ja) 薄膜太陽電池の製造方法
JP4075254B2 (ja) 薄膜太陽電池の製造方法
JPH0883922A (ja) 太陽電池およびその製造方法
JP4379557B2 (ja) 薄膜太陽電池の製造方法および製造装置
JPH11177108A (ja) 薄膜太陽電池およびその製造方法
KR20110128616A (ko) 텐덤형 태양전지 및 그 제조방법
JP2630657B2 (ja) 集積型多層アモルファス太陽電池の製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060215

A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20081016

RD03 Notification of appointment of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423

Effective date: 20081016

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20081016

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20090513

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090519

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090716

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090826

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090908

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002

Year of fee payment: 3

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121002

Year of fee payment: 3

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350