JP4375255B2 - 記録装置、記録方法、ディスク製造方法、再生装置、再生方法 - Google Patents

Description

本発明は、ピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対し、反射膜上にマークを形成することによって副データの記録を行う記録装置、及びその方法に関する。また、このような光ディスク記録媒体を製造するためのディスク製造方法に関する。さらには、このような光ディスク記録媒体について再生を行う再生装置とその方法に関する。

光ディスクとして、特に再生専用のＲＯＭディスクは、１つのスタンパからプラスチックの射出成形によって短時間で大量のレプリカ基板を安価に製造可能であることからパッケージメディアとして世界中で利用されている。例えばＣＤ（Compact Disc）やＤＶＤ（Digital Versatile Disc）等は、音楽や映像等の情報を記録するＲＯＭディスクとして広く一般に普及している。

従来より、このようにパッケージメディアとして販売されるＲＯＭディスクを基にその記録データを違法コピーしたいわゆる海賊版ディスクが作成されており、著作権の侵害が問題となっている。
一般的に海賊版ディスクは、正規版ディスクから再生した信号を基にマスタリング工程によりスタンパを作成して複製ディスクを製造するようにして作成される。或いは正規版ディスクから再生した信号を記録可能なディスクにコピーすることで作成される。

海賊版ディスク製造防止のためには種々の技術が提案されているが、その１つとして、例えばディスクごとに異なる識別情報を付加する技術が知られている。このようにディスク個々に異なる識別情報を付加することで、再生装置側が上記識別情報を読み取ってこれをネットワーク経由で外部のサーバ装置に送信するといったシステムを構築することができる。このようなシステムを用いれば、例えば海賊版ディスクが作成・販売された場合には上記サーバ装置にて同一の識別情報が大量に検出されるので、海賊版ディスクの存在を検知することができる。さらに、検出された識別情報を送信してきた再生装置を特定することで、海賊版業者を特定できる可能性もある。

但し、このようにディスク個々に固有となる識別情報であっても、市販のドライブ装置で簡易にコピーできないようにして記録されていることが、著作権保護として有用である。
そこで、例えば下記の特許文献１では、上記識別情報を、ディスクの反射膜にマークを形成して微少な反射率変化を与えることで記録するもとしている。すなわち、この特許文献１に記載のディスクでは、ピット及びランドの組み合わせにより主のデータ（コンテンツデータや管理情報等）が記録されると共に、所定のピット又はランド上の反射膜に対して微少な反射率変化を与えるマークを形成することで、上記主のデータ以外の副のデータ（識別情報）を記録するようにされている。

反射膜に対するマークの記録は、再生時のレーザパワーよりも高い記録パワーによるレーザ照射により行われる。このとき、マークによる反射率変化は微少なものとなるようにされて、ピット・ランドの組み合わせにより記録される主データの再生に影響を与えることがないようにされている。すなわち、これによって主データについての通常の再生動作では副データが再生されないようになっている。
副データ自体の再生は、別途の再生系を設けて、主データの再生信号中のこのような微少な反射率変化が与えられた部分を多数サンプリングしてこれらの例えば積分値を求める等して行うことができる。
この場合、副データの記録装置側と再生装置側とでは、予め定められた所定のアルゴリズムによって副データとしてのマークを形成すべき位置が決定されている。これにより、正規の再生装置では記録時に用いたものと同様のアルゴリズムによりマークが記録されるべき位置を特定できるため、適正に副データとしての識別情報を再生することができる。

特許第３４５４４１０号公報

ところで、このように光ディスク記録媒体に対し反射膜上のマークにより記録される副データとしても、高記録密度化が図られればその分より多くの情報を記録することができる。また、副データは、実際において所定の区間を対象として記録されることになるが、このように高記録密度化が図られることで、その記録対象区間はより短くすることも可能となる。
例えばこれらの理由より、副データとしてもその記録密度の向上が図られることが好ましいと言える。

本発明としては、このような反射膜上のマークにより記録される副データの記録密度向上をその主たる目的として為されたものである。
このために、本発明では記録装置として以下のように構成することとした。
つまり、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対し、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークを形成することによって副データの記録を行う記録装置として、
記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録手段であって、上記マークの形成による上記副データの記録動作を、上記ピットのみを対象とした記録動作と、上記ランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行するようにされた副データ記録手段を備えるようにした。

また、本発明では、記録方法として以下のようにすることとした。
すなわち、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対し、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークを形成することによって副データの記録を行う記録方法として、
記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録動作を、上記ピットのみを対象とした記録動作と、上記ランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行するようにしたものである。

さらに本発明ではディスク製造方法として以下のようにすることにした。
すなわち、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、上記反射膜上に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体を製造するためのディスク製造方法として、先ず、上記主データを上記ピット及びランドの組み合わせによって記録したディスク原盤を生成する原盤生成工程を備える。
また、上記ディスク原盤をもとに作成したスタンパによって上記基板を生成すると共に、上記基板に対して少なくとも上記反射膜と上記カバー層を積層することで、上記主データのみが記録された主データ記録ディスクを製造するディスク形成工程を備える。
さらに、上記主データ記録ディスクに対して記録パワーによるレーザ光を照射して上記副データの記録を行う副データ記録工程であって、記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録動作を、上記特定のピットのみを対象とした記録動作と、上記特定のランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行する副データ記録工程を備えるものである。

さらに、本発明では再生装置として以下のように構成することとした。
つまり、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークが形成されることによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記反射膜におけるマークが、記録すべき副データの各値と所定規則とに従って特定の上記ピット上と上記ランド上とに形成された光ディスク記録媒体について再生を行う再生装置として、
先ず、上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して再生信号を生成する再生信号生成手段を備える。
その上で、上記再生信号生成手段により生成された上記再生信号の値を上記所定規則に従ったサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出手段であって、上記特定のピットのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作と、上記特定のランドのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作とをそれぞれ分けて実行するようにされた副データ検出手段を備えるものである。

また、本発明では再生方法として以下のように構成することとした。
すなわち、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークが形成されることによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記反射膜におけるマークが、記録すべき副データの各値と所定規則とに従って特定の上記ピット上と上記ランド上とに形成された光ディスク記録媒体について再生を行う再生方法として、
先ず、上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して再生信号を生成する再生信号生成手順を備える。
その上で、上記再生信号生成手順により生成した上記再生信号の値を上記所定規則に従ったサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出動作として、上記特定のピットのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作と、上記特定のランドのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作とをそれぞれ分けて実行するようにされた副データ検出手順を備えるものである。

上記本発明によれば、記録装置側では、ピット側のみを対象とした記録動作とランド側をのみを対象とした記録動作とがそれぞれ実行されることで、ピット側、ランド側の双方を対象として副データを記録することができる。これによれば、ピット側のみ、或いはランド側のみを対象として記録動作が行われる場合よりも副データの記録密度を向上することができる。
また、上記のようにピット側のみを対象とした記録／再生動作とランド側のみを対象とした記録／再生動作とが分けて実行されることで、次のようなメリットもある。
つまり、このようにピット側とランド側の双方を対象として記録／再生が行われる場合、ピット側とランド側とでそれぞれ最適とされるフォーカス点が異なるものとなる。これに応じては、ピット側とランド側とでそれぞれ異なるフォーカス点に調整することが考えられるが、ピット側とランド側とを分けずに１度に記録／再生を行うときにピット側とランド側とでフォーカス点を調整することは現実的ではない。
ピット側のみを対象とした記録／再生動作とランド側のみを対象とした記録／再生動作とが分けて実行される本発明によれば、それぞれの動作につき１度フォーカス点の調整を行えばよいものとすることができ、このようなフォーカス点の調整を行う場合に好適な手法ともなる。

このようにして本発明によれば、ピット側とランド側の双方を記録対象として副データとしてのマークが記録されるので、副データの記録密度を向上できる。

また、上記本発明のようにピット側を対象とした記録／再生動作と、ランド側を対象とした記録／再生動作とがそれぞれ分けて実行することによっては、ピット側を対象とした記録／再生動作とランド側を対象とした記録／再生動作とでそれぞれ異なるフォーカス点に調整する必要がある場合に好適な手法とすることができる。

さらに、本発明のディスク製造方法によれば、上記のようにしてピット側とランド側との双方を対象としてマークが形成されることで副データの記録密度が向上された光ディスク記録媒体を製造することができる。

以下、発明を実施するための最良の形態（以下実施の形態とする）について説明していく。
なお、説明は以下の順で行う。

＜１．光ディスク記録媒体＞
＜２．副データ記録装置＞
＜３．再生装置＞
＜４．フォーカス点の調整動作＞

＜１．光ディスク記録媒体＞

先ず、図１に、実施の形態の記録装置と再生装置とが対応する光ディスク記録媒体（ディスク１００）の断面構造図を示す。
実施の形態のディスク１００は、再生専用のＲＯＭディスクであり、具体的にはブルーレイディスク(Blu-Ray Disc)と称されるディスクに準拠したディスク構造及びフォーマットが採用されたものとなる。
このディスク１００は、図示するようにして基板１０１と、この基板１０１に対して積層された反射膜１０２、及びカバー層１０３を備えている。基板１０１は、例えばポリカーボネート等によるプラスチック基板であり、この基板１０１における上記反射膜１０２と接する面に対しては凹凸の断面形状が与えられている。凹状の断面部はピットであり、凸状の断面部はランドである。ディスク１００では、これらピットとランドの組み合わせ、具体的にはピットとランドのそれぞれの長さにより情報を記録できる。

上記ピットとランドが形成された基板１０１上に反射膜１０２が積層される。そして、この反射膜１０２に対し、さらにポリカーボネート等によるカバー層１０３が積層されている。
反射膜１０２は、基板１０１上に積層されることで上記のようなピットとランドの形状に応じた凹凸の断面形状が与えられる。また、反射膜１０２は、例えば金属膜とされ、図示するようにして対物レンズによって集光されるレーザ光が上記カバー層１０３を介して照射された際に、上記凹凸に応じた反射光が得られるようなっている。後述する副データ記録装置５０及び再生装置１側では、照射したレーザ光のこの反射膜１０２からの反射光に基づき、ピットとランドの組み合わせにより記録される情報を検出することができる。

図２は、上記ディスク１００の製造工程について説明するための図である。
ディスク１００を製造するにあたっては、先ず図中のフォーマット化工程Ｓ１１を実行するようにされる。このフォーマット化工程Ｓ１１は、例えばコンピュータ等を用いて行うことになる。
このフォーマット化工程Ｓ１１では、ディスク１００に対して記録されるべきコンテンツデータ（ユーザデータ）について、所定の規格に応じたフォーマットデータ列が得られるように変換動作を行う。すなわち、実施の形態の場合は、後の図３にて説明するようなブルーレイディスクの規格に応じたデータ列が得られるように変換動作を行う。また、実際には、ユーザデータに対する誤り検出符号及び誤り訂正符号の付加、インターリーブ処理等も行うようにされる。

可変長変調工程Ｓ１２では、フォーマット化工程Ｓ１１により生成されたデータ列に対して可変長変調処理を施す。実施の形態の場合では、ＲＬＬ（１，７）ＰＰ（Parity preserve/prohibit、ＲＬＬ：Run Length Limited）変調処理及びＮＲＺＩ（Non Return to Zero Inverse）変調処理を施すことになる。この可変長変調工程Ｓ１２により得られたデータ列の”０””１”パターンが、実際にディスク１００に対して形成されるピットとランドのパターンとなる。
このようにユーザデータについてフォーマット化、可変長変調処理が施されて得られたデータを、ここでは主データと呼ぶ。

続いて、原盤生成工程Ｓ１３を行う。原盤生成工程Ｓ１３は、マスタリング装置を用いて行う。
原盤生成工程Ｓ１３では、先ずガラス原盤に対してフォトレジストを塗布する。そして、このようにフォトレジストが塗布されたガラス原盤を回転駆動した状態で上記可変長変調工程Ｓ１２にて生成した主データに応じたレーザ光を照射することで、記録トラックに沿った凹凸のパターンを形成する。つまり、ピットとランドを形成していく。
次いで、ピットとランドが形成されたレジストを現像処理することでガラス原盤上に定着させ、さらに原盤表面に対して電解メッキを施すことで、図示する金属原盤Ｄ１４を生成する。

このように生成した金属原盤Ｄ１４を用いて、ディスク形成工程Ｓ１５を行う。
ディスク形成工程Ｓ１５では、先ず上記金属原盤Ｄ１４をもとにスタンパを作成する。そして、このスタンパを成形金型内に配置して、射出成形機を用いてポリカーボネートやアクリル等の透明樹脂により基板１０１を形成する。この基板１０１には、先の変調工程Ｓ１２にて生成された主データに応じたピットとランドのパターンが記録トラックに沿って形成されることになる。
そして、この基板１０１に対して、先ずは反射膜１０２を蒸着等により積層し、さらにこの反射膜１０２上にカバー層１０３を積層する。これによって先ずは主データのみが記録されたディスク（主データ記録ディスク）Ｄ１６を形成する。

続いて、副データ記録工程Ｓ１７を実行する。
ここで、実施の形態では、上記のようにしてピットとランドのパターンによって記録される主データ以外に、副データを記録するものとしている。
この場合、副データは、ディスク１００（ディスクＤ１６）個々にユニークとなるシリアル番号情報を記録するものとしている。すなわち、これによって当該副データ記録工程Ｓ１７により生成される各ディスク１００としては、そのディスク１００に固有の識別情報（識別番号）が付加されることになる。
なお、ここでは副データとして識別情報を記録する場合を例示しているが、副データとして記録されるデータについて特に限定するものではなく、識別情報以外の他の情報が記録されてもよい。

そして、上記副データとしては、後述するようにしてピットとランドとによる上記主データの特定区間（後述する副データ記録対象区間）における、特定の位置に対して、反射膜１０２に記録パワーによるレーザ照射によるマークが形成されて記録されることになる。
このような副データ記録工程Ｓ１７は、後に図４にて説明する副データ記録装置５０によって行われることになる。

図３は、上記製造工程により製造されるディスク１００に記録される主データのデータ構造について示している。
先ず、図示するようにしてＲＵＢと称される１つの記録単位が定義される。１つのＲＵＢは、１６個のセクターと２つのリンキングフレームから成るようにされる。リンキングフレームは、各ＲＵＢ間の緩衝領域として設けられている。
１セクターは、この場合１つのアドレス単位を形成する。
そして、それぞれのセクターは、図示するようにして３１個のフレームから成る。さらに１つのフレームは１９３２チャンネルビットのデータから成る。
実施の形態で例示しているブルーレイディスクにおいて、主データはＲＬＬ（１，７）ＰＰ変調ルールに従ったものとなるで、符号”０”と”１”との連続数（つまりピット長とランド長）は何れも２Ｔ（チャンネルビット）から８Ｔの長さに制約されている。
各フレームの先頭に位置するｓｙｎｃでは、この変調ルールに従わない９Ｔによる連続符号が挿入されて再生時のフレーム同期信号の検出に用いられる。

＜２．副データ記録装置＞

続いて、図４に、ディスクＤ１６に対して上述の副データを記録するための副データ記録装置５０の構成を示す。
先にも説明したようにこの場合の副データとしては、そのデータ内容として各ディスク１００に固有となる識別情報を記録するものとしている。従ってこの場合の副データ記録装置５０の動作としては、装填されるディスク１００ごとに異なるパターンによる副データを記録するようにされる。
また、副データは、ディスクＤ１６上において予めこれを記録する区間が定められ、さらにこの区間内においてそれぞれのマークを挿入する位置が所定規則に従って決定される。副データ記録装置５０としては、このような特定の位置にマークが記録できるように構成されている。

先ず、ディスクＤ１６は、図示されないターンテーブルに載置された状態でスピンドルモータ５１によって所定の回転駆動方式に従って回転駆動される。このように回転駆動されるディスクＤ１６に対し、図示する光ピックアップＯＰが記録信号（主データ）の読み出しを行う。
この光ピックアップＯＰには、図示するようにしてレーザ光源となるレーザダイオードＬＤ、レーザ光をディスクＤ１６の記録面に集光・照射するための対物レンズ５２ａ、ディスクＤ１６からの上記レーザ光照射に基づく反射光を検出するフォトディテクタＰＤ等が備えられている。
さらに、上記対物レンズ５２ａをフォーカス方向及びトラッキング方向に移動可能に保持する、２軸機構５２が設けられている。この２軸機構５２は後述する２軸駆動回路５６からのフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤに基づいて対物レンズ５２ａを上記フォーカス方向及びトラッキング方向に駆動する。
確認のために述べておくと、上記フォーカス方向とはディスクＤ１６に接離する方向である。

上記光ピックアップＯＰ内のフォトディテクタＰＤによって検出された反射光情報は、ＩＶ変換回路５３にて電気信号に変換された後、マトリクス回路５４に供給される。マトリクス回路５４は、ＩＶ変換回路５３からの反射光情報に基づいて再生信号ＲＦ、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。

サーボ回路５５は、マトリクス回路５４からのトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥに対し、それぞれ位相補償等のためのフィルタリングやループゲイン処理等の所定演算を行ってトラッキングサーボ信号ＴＳ、フォーカスサーボ信号ＦＳを生成する。そして、これらトラッキングサーボ信号ＴＳ及びフォーカスサーボ信号ＦＳを２軸駆動回路５６に供給する。
２軸駆動回路５６は、トラッキングサーボ信号ＴＳ、フォーカスサーボ信号ＦＳに基づいてトラッキングドライブ信号ＴＤ及びフォーカスドライブ信号ＦＤを生成し、これを２軸機構５２のトラッキングコイル・フォーカスコイルに供給する。

この図に示すフォトディテクタＰＤ、ＩＶ変換回路５３、マトリクス回路５４、及び上記したサーボ回路５５、２軸駆動回路５６、２軸機構５２によっては、トラッキングサーボループ、及びフォーカスサーボループが形成される。これらトラッキングサーボループ、及びフォーカスサーボループが形成されることで、ディスクＤ１６に照射されるレーザ光のビームスポットがディスクＤ１６に形成されるピット列（記録トラック）をトレースし且つ適正なフォーカス状態（フォーカス点）で維持されるように制御が行われるようになっている。

また、上記マトリクス回路５４にて生成された再生信号ＲＦは２値化回路５７に供給され、ここで”０””１”の２値化データに変換される。この２値化データは同期検出回路５８、及びＰＬＬ（Phase Locked Loop）回路５９に対して供給される。

ＰＬＬ回路５９は、供給される２値化データに同期したクロックＣＬＫを生成し、これを必要な各部の動作クロックとして供給する。特に、このクロックＣＬＫは上記２値化回路５７、及び次に説明する同期検出回路５８、アドレス検出回路６０、及び副データ発生回路６１の動作クロックとしても供給される。

同期検出回路５８は、供給される２値化データから先の図３に示したフレームごとに挿入されるｓｙｎｃパターンを検出する。具体的には、この場合のｓｙｎｃパターンとされる９Ｔ区間を検出してフレーム同期検出を行う。
フレーム同期信号はアドレス検出回路６０を始めとした必要な各部に対して供給される。

アドレス検出回路６０は、上記フレーム同期信号と供給される２値化データとに基づき、アドレス情報ＡＤＲの検出を行う。検出されたアドレス情報ＡＤＲはコントローラ６５に供給される。また、このアドレス情報ＡＤＲは、副データ発生回路６１における記録パルス生成回路６３に対しても供給される。

副データ発生回路６１は、図示するようにして記録パルス生成回路６３、ＲＡＭ（Randam Access Memory）６２を備えている。この副データ発生回路６１は、入力される副データ、及び上記アドレス検出回路６０から供給されるアドレス情報ＡＤＲとＰＬＬ回路５９から供給されるクロックＣＬＫとに基づき、ディスクＤ１６に対して記録されるべき副データを後の図５にて説明する形態により記録するための記録パルス信号Ｗｒｐを生成する。
なお、この副データ発生回路６１による動作については後述する。

レーザパワー制御部６４は、上記副データ発生回路６１から出力される記録パルス信号Ｗｒｐに基づき、光ピックアップＯＰ内のレーザダイオードＬＤのレーザパワーを制御する。具体的にこの場合のレーザパワー制御部６４は、記録パルス信号ＷｒｐがＬレベルのときは再生パワーによるレーザ出力が得られるように制御する。また、記録パルス信号ＷｒｐがＨレベルのときは記録パワーとなるように制御を行う。
このレーザパワー制御部６４の制御によって記録パワーによるレーザ照射が行われることで、このレーザ照射部分における反射膜１０２にマークが形成されることになる。このように反射膜１０２に形成されるマークによってディスクＤ１６上に副データが記録されることになる。

コントローラ６５は、例えばマイクロコンピュータにより構成され、当該副データ記録装置５０の全体制御を行う。
例えば、サーボ回路５５に対して目標アドレスを指示することで、シーク動作制御を行う。つまり、このように目標アドレスを指示することで、サーボ回路５５によってこの目標アドレスをターゲットとした光ピックアップＯＰのアクセス動作を実行させる。
また、サーボ回路５５に対してトラックジャンプ指令を行うことで、サーボ回路５５によりトラッキングサーボループをオフとさせ、トラックジャンプ動作を実行させることもできる。
また、コントローラ６５は、サーボ回路５５に対してフォーカス目標値を指示する。サーボ回路５５は、このフォーカス目標値に基づき、上記フォーカスサーボループに対してフォーカスバイアスを与える。
これによって対物レンズ５２ａはフォーカス目標値に応じたフォーカス点で一定となるように制御される。

また、コントローラ６５に対しては、予めディスクＤ１６上の副データ記録対象区間を示したアドレス情報が、例えば内部のＲＯＭ等の所要の記憶手段に対して格納されている。このアドレス情報に基づき、ディスクＤ１６上の副データ記録対象区間へのシーク動作制御を行うことが可能とされる。

ここで、主データ記録ディスクとしてのディスクＤ１６に対して追記される副データとしても、その記録密度が高められれば、その分より多くの情報を記録することができる。また、他の言い方をすれば、副データが所定のデータ長によるものとされる場合、その記録に必要な区間をその分短くすることが可能となる。

そこで、本実施の形態では、副データとしてのマークを、ディスクＤ１６上に形成されるピットとランドとの双方を対象として記録するものとしている。すなわち、これによって、ピット側のみ、またはランド側のみを対象としてマーク記録を行う従来よりも記録密度の向上を図るものである。
このような本実施の形態としての副データの記録形態について、次の図５を参照して説明する。

図５は、上記した副データ発生回路６１によって実現しようとする副データの記録形態について説明するための図である。
図５では、ディスク１００上における或るセクター［ｎ］において記録される主データのパターンと、これに応じてディスク上に形成されたピット及びランドのパターンを示している。
さらに、この図５では、副データを構成する１ビットの符号として、”０”を記録する場合に形成されるべきマークのパターンと、”１”を記録する場合に形成されるべきマークのパターンとが示されている。

先ず、符号の表現方法としては、主データ中に存在する所定長のピット、及び所定長のランドについて、それぞれ隣接する奇数番目（ｏｄｄ）と偶数番目（ｅｖｅｎ）とを１組として考える。すなわち、ピット側については、図中それぞれ隣接するようにされる「Ｐ-ｏｄｄ」と「Ｐ-ｅｖｅｎ」とを１組として考える。同様にランド側についても「Ｌ-ｏｄｄ」と「Ｌ-ｅｖｅｎ」とを１組として考える。
そして、これら奇数番目と偶数番目の１組ごとについて、奇数番目に対してマークを記録した場合は符号”０”、偶数番目にマークを記録した場合は”１”と定義付ける。つまり、例えばピット側について言えば、隣接する「Ｐ-ｏｄｄ」「Ｐ-ｅｖｅｎ」のうち「Ｐ-ｏｄｄ」にのみマークを記録した場合は、符号”０”を表現したことになる。同様にランド側についても、隣接する「Ｌ-ｏｄｄ」「Ｌ-ｅｖｅｎ」のうち「Ｌ-ｏｄｄ」にのみマークを記録した場合は符号”０”を表現したことになる。
また、ピット側について、逆に「Ｐ-ｅｖｅｎ」にのみマークを記録した場合は符号”１”を表現したことになり、ランド側についても「Ｌ-ｅｖｅｎ」のみにマークを記録した場合は同様に符号”１”が表現されたことになる。
なお、この図５の例では、所定長のピットとランドとして、５Ｔの区間を対象としてマークを記録する例を示しているが、例えば６Ｔや７Ｔなど他の長さのピット及びランドを記録対象としてもよい。

そして、この場合は、上記のように隣接する奇数番目と偶数番目の組によって為される１符号の表現形態を、所定区間にわたって繰り返し行うようにされる。本例の場合、このように１符号についての同一の表現形態を繰り返しを行う区間として、１アドレス単位を構成する１セクターを割り当てるものとしている。このことから、図示するようにして主データ内の或るセクター［ｎ］内においては、ピット側とランド側との双方で、上記のようなｏｄｄ・ｅｖｅｎの組により為される１符号の表現形態がそれぞれ繰り返し行われるものとなる。

ここで、上記のように１セクター内にてピット側とランド側との双方で１符号の表現形態がそれぞれ繰り返し行われるということは、１セクター内においては、ピット側とランド側とによって、合計で２つの符号を記録できることになる。
これに対し、例えばピット側又はランド側の何れか一方のみを対象とした場合には、１セクター内に記録できる符号は１つのみとなる。
このことから、本例のようにピット側とランド側の双方を対象として副データの記録を行う場合は、ピット側又はランド側の何れか一方のみを対象とした場合と比較して、２倍の記録密度とできることが理解できる。

ところで、上記のようにして同一の符号についての表現形態を所定区間にわたって繰り返し行うのは、以下のような理由による。
先ず、再生時においては、詳しくは後述するが１セクター内の所定長ピット及び所定長ランドの隣接する奇数番目と偶数番目の組ごとに、再生信号ＲＦについてサンプリングを行い、奇数番目でサンプリングした再生信号ＲＦの値から偶数番目でサンプリングした再生信号ＲＦの値を減算する（「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」）。
この場合、マーク記録部分では、その反射率が微少に低下するので、理想的にはマーク記録部分での再生信号ＲＦの値は低下することになる。つまり、奇数番目にのみマークが記録された符号”０”の場合、再生装置側にて上記のような「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の演算を行うと、理想的には隣接する「ｏｄｄ」と「ｅｖｅｎ」の組ごとに負の値が得られる。
但し、マーク記録により再生信号ＲＦの値が低下する部分は、実際にはノイズ成分に埋もれてしまう可能性がある。そこで、記録時において、上記のように所定区間内で同一表現を繰り返し行うようにし、再生側ではこれらの同一表現から各々求めた「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の値を積分することで、より確実に負の値が得られるようにし、これを検出することができる。
また、偶数番目にのみマークが記録される符号”１”の場合としても、隣接する奇数番目と偶数番目の組ごとに演算される「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の値を積分することで、より確実に正の値が得られるようにしてこれを検出することができる。

このようにして所定区間にわたって同一符号についての表現形態を繰り返し記録し、再生時にはこれら複数の同一表現形態に基づいて１つの値を判定するようにされていることで、マーク記録により与える反射率変化は微少なもので足ものとすることができる。そして、このようにマーク記録に伴う反射率変化を微小なものとできることで、記録されたマークが主データの２値化処理に影響を与えないようにすることができる。

なお、この図５により示した記録形態において、注意すべきは、所定長ピット及び所定長ランドに対して記録するマークがエッジ部分に対して記録されてしまった場合には、主データの２値化が適正に行われなくなってしまう可能正があるということである。すなわち、このようにして所定長ピット及び所定長ランドのエッジ部分にマークが記録された場合、マーク記録部分では反射率がその分低下する傾向となるので、２値化処理において誤ったピット長及びランド長が検出されてしまう可能性がある。
そこでマークとしては、記録対象となるピット及びランドの中央部に記録するものとしている。これによればエッジ部分は通常どおり得ることができるので、この点でも２値化処理に影響を与えないように図られている。

上記のようにして、図５に示した記録形態によれば、１セクターに対してそれぞれピット側とランド側とで計２つの符号を記録することができる。
このようにセクターごとに副データを構成する符号を２つずつ記録できることで、この場合の副データとしては、これを構成する符号の数の１／２の数のセクターにわたって記録されることになる。

副データを記録する区間（以下、副データ記録対象区間とも呼ぶ）は、予め副データ記録装置５０と再生装置との間で定められている。従って副データ記録装置５０では、このように予め定められた副データ記録対象区間としての複数セクターにわたって上述したマークの記録を実行するように構成されている。

本例の場合において、ディスクＤ１６に対して記録すべき副データの各符号の、各セクターに対する割り振りは、次の図６に示すようにして行うものとしている。
図６において、先ず確認のために述べておくと、上記もしているように副データの記録は、ディスクＤ１６上にピットとランドとの組み合わせにより記録された主データ中における、所定の副データ記録対象区間内において行われる。
そして、この場合の副データ記録対象区間としては、先にも説明したように、副データを構成する符号の数の１／２のセクター数を有することになる。例えば、この図６に示される例のように、副データとして記録すべき符号数が１２とされる場合には、副データ記録対象区間は図のように６セクターにわたる区間となる。

図６において、この場合の副データの符号の各セクターへの割り振りにあたっては、各セクター内における所定長ピットと所定長ランドとを分けて考えるものとする。すなわち、この場合は各セクター内において、ピット側とランド側とで、それぞれ独立して２つの符号を記録することができるので、同一セクター内であってもピット側とランド側とでは別々の記録領域を形成していると考える。
その上で、先ずは副データを構成する符号を、各セクターのピット側に対して順に割り振っていく。次いで、残る副データの符号を、再度各セクターのランド側に対して割り振る。
例えば、図示するようにして副データとして記録すべき符号が「１，０，０，０，１，１，０，０，０，１，１，０」であったとすると、先ずは各セクターのピット側を対象として記録すべき符号として、先頭のセクターから順に「１，０，０，０，１，１」を割り振る。その上で、各セクターのランド側を対象として記録すべき符号として、先頭のセクターから残りの符号である「０，０，０，１，１，０」を割り振っていくといったものである。

このようにして、副データを構成する符号を、副データ記録対象区間の先頭セクターから順にピット側→ランド側と割り振っていくことで、ピット側に対するマークの記録動作と、ランド側に対するマークの記録動作とを、それぞれ独立した２つの記録動作として実行することができる。つまり、ピット側を対象とした記録動作と、ランド側を対象とした記録動作とで、副データの記録動作を２度に分けて実行することができる。
ここで、後述もするように、本例においては、ピット側とランド側とでフォーカス点を変えて記録動作を行うようにされるが、仮にピット側とランド側との双方を対象として１度の記録動作によりマークを記録する場合、ピット側とランド側ごとにフォーカス点を変化させることは現実的でない。上記のようにピット側に対するマークの記録動作とランド側に対するマークの記録動作とを分けて実行することで、ピット側とランド側とで異なるフォーカス点で記録動作を実行する場合に好適な記録動作とすることができる。

また、上記のように副データを構成する符号を副データ記録対象区間の先頭セクターから順にピット側→ランド側と割り振ることで、後述もするように副データの再生時においては、副データ記録対象区間において同様にピット側→ランド側の順に再生を行うことで、副データを適正に再生することができる。具体的に、図６の場合を例に挙げれば、ピット側のみを対象とした再生動作によって「１，０，０，０，１，１」を再生し、次いでランド側のみを対象とした再生動作を行うことで、残りの符号である「０，０，０，１，１，０」を再生することができ、この場合の副データとしての「１，０，０，０，１，１，０，０，０，１，１，０」を適正に再生することができるものである。

これまでで説明した記録形態に則り、図４に示した副データ発生回路６１内の記録パルス生成回路６３は、図５中に示されるようなタイミングによる記録パルス信号Ｗｒｐを生成するようにされる。
例えば、先の図５に示したようにして、或るセクター［ｎ］について、例えばピット側とランド側との双方に符号”０”が割り振られていたとする（図中上部の例）。
ここで、この場合の記録動作としては、上記もしているようにピット側を対象とした記録動作と、ランド側を対象とした記録動作とを分けて実行するようにされる。このため、記録パルス生成回路６３は、ピット側を対象とした記録動作が行われる場合において、当該セクター［ｎ］のピット側に割り振られた符号”０”に対応しては、このセクター［ｎ］内の所定長ピットのうち、奇数番目（Ｐ-ｏｄｄ）のみでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐを生成する。
この際、先にも述べたように、エッジ部分にマークが記録されると主データについての２値化処理が適正に行われなくなる可能性がある。このことから、図示するようにしてこの場合の記録パルス信号Ｗｒｐとしては、奇数番目の所定長ピットにおける中央部のみでＨレベルとなる信号を生成する。

また、ランド側を対象とした記録動作が行われる場合において、当該セクター［ｎ］のランド側に割り振られた符号”０”に対応しては、このセクター［ｎ］内の所定長ランドのうち、図示するようにして奇数番目（Ｌ-ｏｄｄ）の中央部のみでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐを生成するようにされる。

一方、セクター［ｎ］について、例えばピット側とランド側とに対して共に符号”１”が割り振られていたとする（図中下部の例）と、記録パルス生成回路６３は、ピット側を対象とした記録動作が行われる場合において、当該セクター［ｎ］のピット側に割り振られた符号”１”に対応しては、このセクター［ｎ］内の所定長ピットのうち、偶数番目（Ｐ-ｅｖｅｎ）の中央部でみでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐを生成する。
また、ランド側を対象とした記録動作が行われる場合において、当該セクター［ｎ］のランド側に割り振られた符号”１”に対応しては、このセクター［ｎ］内の所定長ランドのうち、図示するようにして偶数番目（Ｌ-ｅｖｅｎ）の中央部のみでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐを生成するようにされる。

このようにして、ピット側を対象とした記録動作時においては、各セクターのピット側に割り振られた副データの値に応じたタイミングでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐが生成される。同様に、ランド側を対象とした記録動作時においては、各セクターのランド側に割り振られた副データの値に応じたタイミングでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐが生成される。
そして、ピット側とランド側のそれぞれの記録動作時で、このような記録パルス信号Ｗｒｐに基づく記録動作が行われることで、先の図６に示したようにして各セクターのピット側とランド側ごとに割り振られた符号について、それらの値に応じた記録形態により、各セクターのピット側とランド側とに対してマークを記録することができる。つまり、これによって副データの各値を適正に記録することができる。

上記説明による記録手法を実現するための構成及び動作について、次の図７及び図８を用いて説明する。
先ず、上記もしているように、副データの記録は、予め定められたディスクＤ１６上の副データ記録対象区間において行われるものである。そして、このように定められた副データ記録対象区間において、先に説明したように各セクター内の所定長ピット、又は所定長ランドの奇数番目或いは偶数番目にのみマークを記録するにあたっては、このような副データ記録対象区間内における各セクター内の主データの内容を把握する必要がある。
そこで、図４に示した副データ発生回路６１では、副データ記録対象区間内の各セクターごとの主データの内容を、予めＲＡＭ６２内に格納しておくものとされる。

図６は、ＲＡＭ６２内のデータ構造を示している。
先ず、図示するアドレスは、副データ記録対象区間内の各セクターのアドレス情報を示している。そして、このアドレスごとに、それぞれのセクターで記録される主データの内容が格納されている。
なお、確認のために述べておくと、副データ記録装置５０としては、ディスクＤ１６（ディスク１００）の製造業者側で管理する装置である。従ってＲＯＭディスクであるディスクＤ１６についてはそこに記録される主データの内容は予め把握しておくことができる。このため、上記のようにしてＲＡＭ６２に対しては、予めアドレス対応に実際にディスクＤ１６に記録される主データの内容を格納しておくことができる。

また、このＲＡＭ６２に対しては、さらにアドレス対応に、そのアドレス内のピット側及びランド側のそれぞれに記録すべき副データの値が格納される。ＲＡＭ６２への副データの各値の格納は、記録パルス生成回路６３によって行われる。記録パルス生成回路６３は、外部から供給される副データの値について、先に説明したように先ずは各アドレス内のピット側から順に割り振るようにして格納する。次いで、各アドレス内のランド側に残りの値を順に割り振るようにして格納する。

このようにしてＲＡＭ６２に格納されるデータ内容により、記録パルス生成回路６３では、主データ中の所定長ピット及び所定長ランドを特定することができる。また、それらの奇数番目、偶数番目も特定することができる。
また、これと共に、上記のようにして各アドレス内のピット側とランド側との対応で格納された副データの値を参照することで、特定された所定長ピット、所定長ランドのうち、奇数番目と偶数番目の何れにマークを挿入すべきかを特定できる。
具体的に、例えばそのアドレス内の所定長ピットに対応付けられて格納された値が”０”であった場合は、先の図５にて示したようにして、そのアドレスのセクター内では奇数番目の所定長ピットに対してマークを挿入すべきものとなり、また”１”であった場合は偶数番目に挿入すべきものとして認識することができる。
さらに、この場合マークは、上述もしたように記録対象ランドの中央部分に挿入すべきものとされている。従って、上記のように記録対象となる所定長ピット・所定長ランドを特定した上で、マークがその中央部に記録されるタイミングでＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐを生成するようにされる。

このような記録パルス信号Ｗｒｐの生成の具体例としては、先ず１セクター分のチャンネルビット数によるＡＬＬ０データを用意する。そして、このＡＬＬ０データについて、上記のように特定されるタイミングで符号”１”を挿入したデータ列を生成すればよい。つまりは、１セクター分のデータ列として、マークを挿入すべきビット位置のみが”１”とされ、それ以外がすべて”０”となるデータ列を生成する。
このようなデータ列に基づくことで、記録パルス生成回路６３は、先の図５において示したような然るべきマーク記録位置のタイミングでのみＨレベルとなる記録パルス信号Ｗｒｐをレーザパワー制御部６４に供給することができる。

続いて、図８、図９のフローチャートを用いて、副データ記録装置５０にて行われる副データの記録動作についてより詳細に説明する。
先ず、実施の形態の副データ記録装置５０としては、副データの記録動作として、ピット側を対象とした記録動作とランド側を対象とした記録動作とを分けて実行するものである。図８では、主にピット側を対象とした記録動作について示し、図９では、これに次いで行われるランド側を対象とした記録動作について示している。

図８において、ステップＳ１０１では、先ずはディスクＤ１６が装填される。
また、ステップＳ１０２では副データが入力される。副データ記録装置５０に対して入力された副データは、図４においても示したように副データ発生回路６１に供給される。
なお、ここでは副データの入力がディスクＤ１６の装填後に行われるものとしているがこれらが前後しても構わない。

ステップＳ１０３においては、副データの各値を各アドレス内のピット側・ランド側ごとに格納する。
つまり、このステップＳ１０３の動作は、副データ発生回路６１内の記録パルス生成回路６３が、入力された副データの各値を、先の図７に示した構造によるＲＡＭ６２に対して、先ずは各アドレス内のピット側に順に格納し、次いで各アドレス内のランド側に順に格納する動作に相当する。

ステップＳ１０４では、アドレス値Ｎを初期値Ｎ0に設定する。
このステップＳ１０４は、記録パルス生成回路６３が、以下で説明するようにして各アドレスごとにデータ列を生成する動作を行うにあたり、内部のカウンタの値を初期値Ｎ0に設定する動作である。

ステップＳ１０５では、Ｎアドレスのピット側に記録すべき副データの値を判別する動作を行う。つまりこのステップＳ１０５の動作として、記録パルス生成回路６３は、ＲＡＭ６２内に各アドレス内のピット側／ランド側対応に格納される副データの値のうち、上記したカウンタの値に基づく該当アドレス内のピット側に対応付けられた値の”０””１”を判別する。

副データの値が”１”であったと判別した場合、記録パルス生成回路６３は、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ピットについて、その偶数番目の中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する（ステップＳ１０６）。
つまり、これによって１セクター分のチャンネルビット数によるデータ列として、上記のように偶数番目となる所定長ピットの中央部となるタイミングでのみ”１”となり、それ以外の符号がすべて”０”となるデータ列が生成される。
一方、副データの値が”０”であったと判別した場合、記録パルス生成回路６３は、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ピットについて、その奇数番目の中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する（ステップＳ１０７）。つまり、これによって１セクター分のチャンネルビット数によるデータ列として、奇数番目の所定長ピットの中央部となるタイミングでのみ”１”となり、それ以外の符号がすべて”０”となるデータ列が生成される。
先の説明からも理解されるように、このようなデータ列の生成は、記録パルス生成回路６３が、ＲＡＭ６２に各アドレス対応に格納される主データの内容に基づき、偶数番目或いは奇数番目の所定長ピットの特定、及びそのピットの中央部となるビット位置を特定することで行うことができる。

そして、このように１セクター分のデータ列を生成すると、記録パルス生成回路６３は、アドレスが終了したか否かについて判別する（Ｓ１０８）。つまり、副データ記録対象区間内の全てのアドレス（セクター）について上記データ列の生成が完了したか否かを判別するものである。このステップＳ１０８動作は、記録パルス生成回路６３が先のステップＳ１０４にて初期値Ｎ0としたカウンタの値が予め設定された所定値に達したか否かについて判別することで行う。
カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Ｎを１インクリメント（ステップＳ１０９）した後、先のステップＳ１０５に戻るようにされる。これによって副データ記録対象区間の全てのセクターについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。

ステップＳ１０８において、カウンタの値が上記所定値に達してアドレスが終了したとされた場合は、ステップＳ１１０において、図４に示したコントローラ６５に対してデータ生成終了通知を行う。つまり記録パルス生成回路６３は、上記のようにして副データ記録対象区間内の全てのアドレスについてデータ列の生成が終了したことに応じ、その旨を示すデータ生成終了通知をコントローラ６５に対して行うものである。

これに応じコントローラ６５は、ディスクＤ１６上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を行う（ステップＳ１１１）。このステップＳ１１１のシーク動作は、コントローラ６５が、予め定めれたディスクＤ１６上の副データ記録対象区間を示すアドレス情報に基づき、サーボ回路５５に対してターゲットアドレスを指示することで行うことができる。

そして、このように副データ記録対象区間の先頭アドレスへのシーク動作が行われたことに応じて、副データ発生回路６３は、先のステップＳ１０６、Ｓ１０７の動作によってセクターごとに生成したデータ列に基づく記録パルス信号Ｗｒｐを生成し、これをレーザパワー制御部６４に対して出力する（ステップＳ１１２）。このデータ列に基づく記録パルス信号Ｗｒｐの生成は、再生される主データとの同期がとられるようにクロックＣＬＫのタイミングに基づいて行う。
また、この記録パルス信号Ｗｒｐの出力は、アドレス検出回路１４から供給されるアドレス情報ＡＤＲとして、上記記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始する。

上記のように記録パルス生成回路６３にて上記データ列に基づいて生成される記録パルス信号Ｗｒｐとしては、図５に示したような然るべきタイミングでＨレベルとなる信号が得られる。従ってこの記録パルス信号Ｗｒｐに基づいてレーザパワー制御部６４がレーザダイオードＬＤのレーザ出力を再生パワーから記録パワーに制御することで、ディスクＤ１６に対しては、入力された副データの値に応じた適正な位置にマークを記録することができる。

そして、ステップＳ１１３においては、ピット側に対する記録動作の終了を待機する。つまり、このステップＳ１１３の動作として、記録パルス生成回路６３は、副データ記録対象区間の最後のアドレスについての記録パルス信号Ｗｒｐの出力を完了したことに応じて、次の図９に示すランド側記録のための動作に移行するようにされる。

図９に示すランド側記録のための動作としては、記録対象がランド側となる以外は図８に示したピット側記録のための動作（ステップＳ１０４〜Ｓ１１２）とほぼ同様の動作を行うようにされる。
先ずステップＳ１１４においては、先のステップＳ１０４と同様にアドレス値Ｎを初期値Ｎ0に設定する。

そして、ステップＳ１１５では、Ｎアドレスのランド側に記録すべき副データの値を判別する動作を行う。つまりこのステップＳ１１５の動作として、記録パルス生成回路６３は、ＲＡＭ６２内に格納される副データの値のうち、上記したカウンタの値に基づく該当アドレス内のランド側に対応付けられた値の”０””１”を判別する。

副データの値が”１”であったと判別した場合、記録パルス生成回路６３は、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ランドについて、その偶数番目の中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する（ステップＳ１１６）。
つまり、これによって１セクター分のチャンネルビット数によるデータ列として、偶数番目の所定長ランドの中央部となるタイミングでのみ”１”となり、それ以外の符号がすべて”０”となるデータ列が生成される。
また、副データの値が”０”であったと判別した場合、記録パルス生成回路６３は、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ランドについて、その奇数番目の中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する（ステップＳ１１７）。これによって１セクター分のチャンネルビット数によるデータ列として、奇数番目の所定長ランドの中央部となるタイミングでのみ”１”となり、それ以外の符号がすべて”０”となるデータ列が生成される。

そして、このように１セクター分のデータ列を生成すると、記録パルス生成回路６３は、アドレスが終了したか否かについて判別する（Ｓ１１８）。つまり、この場合もカウンタの値が所定値に達したか否かを判別することで、副データ記録対象区間内の全てのアドレス（セクター）について上記データ列の生成が完了したか否かを判別するものである。 カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Ｎを１インクリメント（ステップＳ１１９）した後、先のステップＳ１１５に戻るようにされる。これによって副データ記録対象区間の全てのセクターについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。

ステップＳ１１８において、全てのアドレスについて上記データ列の生成が完了すると、ステップＳ１２０において、この場合もコントローラ６５に対してデータ生成終了通知を行う。
これに応じコントローラ６５は、再度、ディスクＤ１６上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を行う（ステップＳ１２１）。

そして、このように副データ記録対象区間の先頭アドレスへのシーク動作が行われたことに応じて、この場合も副データ発生回路６３は、先のステップＳ１１６、Ｓ１１７の動作によってセクターごとに生成したデータ列に基づく記録パルス信号Ｗｒｐを生成し、これをレーザパワー制御部６４に対して出力する（ステップＳ１２２）。
なお、この場合もデータ列に基づく記録パルス信号Ｗｒｐの生成は、再生される主データとの同期がとられるようにクロックＣＬＫのタイミングに基づいて行う。また、この場合の記録パルス信号Ｗｒｐの出力についても、アドレス検出回路１４から供給されるアドレス情報ＡＤＲとして上記記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始するようにされればよい。

この場合も上記データ列に基づいて生成される記録パルス信号Ｗｒｐとしては、図５に示したような然るべきタイミングでＨレベルとなる信号が得られる。従って、この場合としても、この記録パルス信号Ｗｒｐに基づいてレーザパワー制御部６４がレーザダイオードＬＤのレーザ出力を再生パワーから記録パワーに制御することで、ディスクＤ１６に対しては、入力された副データの値に応じた適正な位置にマークを記録することができる。

なお、図８において、この場合は副データが外部から入力されるものとしたが、ディスクＤ１６の装填ごとに新たなシリアル番号を生成する回路を設け、この回路から入力される識別情報に基づく副データをＲＡＭ６２に順に格納する構成とすることもできる。

また、説明は省略したが、記録される主データの内容が同一となる、同一タイトルによるディスクＤ１６については、ＲＡＭ６２内に格納する主データは同一内容のままで副データの記録を行うことができるが、異なるタイトルのディスクＤ１６について副データを記録するときは、ＲＡＭ６２内に格納される主データの内容をそのディスクＤ１６に記録される主データの内容に応じて更新するものとすればよい。

＜３．再生装置＞

続いては、これまでの説明のようにして反射膜１０２に対して形成されたマークによって副データが記録されるディスク１００について、その再生を行う再生装置１の構成を次の図１０のブロック図に示す。
なお、図１０では、主に副データの再生に係る部分のみを抽出して示しており、主データの再生系の構成として、特に２値化処理後段の復調系の構成については省略している。

この再生装置１において、ディスク１００は、図示されないターンテーブルに載置された状態でスピンドルモータ２によって所定の回転駆動方式に従って回転駆動される。この回転駆動されるディスク１００に対し、この場合も図示する光ピックアップＯＰが記録信号（主データ）の読み出しを行う。
この光ピックアップＯＰとしても、図示するようにしてレーザ光源となるレーザダイオードＬＤを備える。また、レーザ光をディスク１００の記録面に集光・照射するための対物レンズ１４ａ、ディスク１００からの上記レーザ光照射に基づく反射光を検出するフォトディテクタＰＤ等が備えられている。
さらには、上記対物レンズ１４ａをフォーカス方向及びトラッキング方向に移動可能に保持する２軸機構１４が設けられている。この２軸機構１４としても、後述する２軸駆動回路７からのフォーカスドライブ信号ＦＤ、トラッキングドライブ信号ＴＤに基づいて対物レンズ１４ａを上記フォーカス方向及びトラッキング方向に駆動する。
なお、確認のために述べておくと、再生装置１においてディスク１００に照射するレーザ光は再生パワーによるものである。図示は省略したが、この場合のレーザダイオードＬＤによるレーザパワーは、例えば光ピックアップＯＰ内に備えられたモニタ用ディテクタによりレーザ出力レベルが監視され、再生パワーとしてのレーザパワーで一定となるように制御される（いわゆるＡＰＣ制御）。

上記光ピックアップＯＰ内のフォトディテクタＰＤによって検出された反射光情報は、ＩＶ変換回路３にて電気信号に変換された後、マトリクス回路４に供給される。マトリクス回路４は、ＩＶ変換回路３からの反射光情報に基づいて再生信号ＲＦ、トラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥを生成する。

サーボ回路６は、図４に示したサーボ回路５５と同様の構成とされて、マトリクス回路４からのトラッキングエラー信号ＴＥ、フォーカスエラー信号ＦＥに基づいてトラッキングサーボ信号ＴＳ、フォーカスサーボ信号ＦＳを生成する。そして、これらトラッキングサーボ信号ＴＳ及びフォーカスサーボ信号ＦＳを２軸駆動回路７に供給する。
２軸駆動回路７は、トラッキングサーボ信号ＴＳ、フォーカスサーボ信号ＦＳに基づいてトラッキングドライブ信号ＴＤ及びフォーカスドライブ信号ＦＤを生成し、これを２軸機構１４のトラッキングコイル・フォーカスコイルに供給する。

この場合も、フォトディテクタＰＤ、ＩＶ変換回路３、マトリクス回路４、サーボ回路６、２軸駆動回路７、２軸機構１４によっては、トラッキングサーボループ、及びフォーカスサーボループが形成され、これによってディスク１００に照射されるレーザ光のビームスポットがディスク１００に形成されるピット列（記録トラック）をトレースし且つ適正なフォーカス状態で維持されるように制御が行われるようになっている。

マトリクス回路４にて生成された再生信号ＲＦは、２値化回路５に供給されると共に、後述するＡ／Ｄコンバータ１１に対しても分岐して供給される。
２値化回路５は、供給される再生信号ＲＦを”０””１”の２値化データに変換する。そして、この２値化データをＰＬＬ回路８、同期検出回路９、アドレス検出回路１０に対して供給する。
また、２値化データは後述する検出パルス生成部１２内の検出パルス生成回路１２ａに対しても供給される。

ＰＬＬ回路８は、供給される２値化データに同期したクロックＣＬＫを生成し、これを必要な各部の動作クロックとして供給する。特に、この場合のクロックＣＬＫは上記検出パルス生成回路１２ａに対しても供給される。
同期検出回路９は、供給される２値化データから先の図３に示したフレームごとに挿入されるｓｙｎｃ部分を検出する。具体的には、この場合のｓｙｎｃパターンとされる９Ｔ区間を検出してフレーム同期検出を行う。
フレーム同期信号はアドレス検出回路１０を始めとした必要な各部に供給される。

アドレス検出回路１０は、上記フレーム同期信号に基づき、供給される２値化データからアドレス情報ＡＤＲの検出を行う。検出されたアドレス情報ＡＤＲは当該再生装置１の全体制御を行うコントローラ１５に供給される。また、このアドレス情報ＡＤＲは、検出パルス生成部１２内の検出パルス生成回路１２ａに対しても供給される。

なお、確認のために述べておくと、これまでに説明した光ピックアップＯＰ、ＩＶ変換回路３、マトリクス回路４、２値化回路５、サーボ回路６、２軸駆動回路７、ＰＬＬ回路８、同期検出回路９、アドレス検出回路１０は、ディスク１００に対して記録された主データについての再生時にも用いられる部分である。つまりはこれらの各部は、副データの再生にあたり主データの再生系の構成を共用している部分である。

検出パルス生成部１２は、副データとしての識別情報の再生にあたり、先の副データ記録装置５０との間で共通となるようにして定められたマークの記録形態に応じた検出ポイントを示す検出パルス信号Ｄｐを生成する。
この検出パルス生成部１２内には、検出パルス生成回路１２ａとＲＡＭ１２ｂとが備えられる。検出パルス生成回路１２ａは、ＲＡＭ１２ｂに格納した情報に基づいて上記検出パルスＤｐを生成する。そして、生成した検出パルス信号ＤｐをＡ／Ｄコンバータ１１に対して供給する。

Ａ／Ｄコンバータ１１にはマトリクス回路４からの再生信号ＲＦが供給されている。このＡ／Ｄコンバータ１１は、供給される再生信号ＲＦを上記検出パルス信号Ｄｐによって指示されるタイミングでサンプリングし、その値を副データ検出回路１３に供給する。
副データ検出回路１３は、Ａ／Ｄコンバータ１１から供給される値について所定演算を行って副データの各値を検出する。つまり、例えばこの場合は先に述べた「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」に対応する演算を行った結果に基づいて副データの各値を検出することになる。
なお、これら検出パルス生成部１２、Ａ／Ｄコンバータ１１、副データ検出回路１３により行われる副データの値の検出動作については後述する。

副データ検出回路１３にて検出された副データの値は、コントローラ１５に供給されて、例えば著作権管理のための情報として用いられる。

コントローラ１５は、例えばマイクロコンピュータにより構成され、当該再生装置１の全体制御を行う。
例えば、コントローラ１５は、図示されないホストコンピュータからのリードコマンドに応じ、このリードコマンドにより指定されたアドレスをターゲットとした読み出し動作が行われるように必要な各部を制御する。これに応じてディスク１００から読み出された主データは、２値化回路５にて２値化された後に、図示されない復調系にて復調（ＲＬＬ１−７ＰＰ復調）やエラー訂正処理等が為されて、主データについての再生データが得られるようになっており、コントローラ１５は、このようなディスク１００からの再生データを上記ホストコンピュータに転送するようにされる。
また、この場合のコントローラ１５としても、サーボ回路６に対して目標アドレスを指示することでシーク動作制御を行う。すなわち、このように目標アドレスを指示することで、サーボ回路６によってこの目標アドレスをターゲットとした光ピックアップＯＰのアクセス動作を実行させる。また、サーボ回路６に対してトラックジャンプ指令を行うことで、トラッキングサーボループをオフとさせトラックジャンプ動作を実行させることもできる。
また、コントローラ１５は、サーボ回路６に対してフォーカス目標値を指示することで、フォーカスサーボループに対して当該目標値に応じたフォーカスバイアスが与えられるように制御を行う。

また、コントローラ１５に対しては、予めディスク１００上の副データ記録対象区間を示したアドレス情報が、例えば内部のＲＯＭ等の所要の記憶手段に対して格納されている。このアドレス情報に基づき、ディスク１００上の副データ記録対象区間へのシーク動作制御を行うことが可能とされる。

上記構成による再生装置１において行われる副データの値の検出動作について、次の図１１及び図１２を参照して説明する。
先ず、再生時としても、ピット側に記録されたマークを対象とした再生動作と、ランド側に記録されたマークを対象とした再生動作とを分けて実行するようにされる。
そこで、これら図１１及び図１２では、説明の便宜上、ディスク１００に記録された副データとしてのマークについて、ピット側に記録されたものとランド側に記録されたものとを分けて示している。

図１１は、ディスク１００上の副データ記録対象区間における或るセクター（アドレス）において、ピット側に対して記録されたマークのみを抽出して示している。
さらにこの図では、当該セクターにおいて、副データの１ビットの値としてそれぞれ”０”が割り当てられた場合と”１”が割り当てられた場合でのマークの記録状態を示している。
先ず、先にも説明したようにマークが記録された部分は、反射率が微少に低下する部分となる。この場合はピットに対してマークが記録されるので、図示するように再生信号ＲＦの極性としては負極性で、マーク記録部分に応じてはさらにそのレベルが負極性方向に微少に上昇するような波形が得られる。
副データの再生では、このようなマーク記録部分での微少な反射率の低下に基づき各値を判定する動作を行うことになる。

そして、この場合においては、符号”０”のときは奇数番目の所定長ピットでのみマークが形成されることになるので、図示するように符号”０”のときに対応しては、奇数番目の所定長ピット（Ｐ-ｏｄｄ）でのみ再生信号ＲＦの値が微少に低下することになる。逆に、符号”１”のときは、偶数番目の所定長ピット（Ｐ-ｅｖｅｎ）でのみ再生信号ＲＦの値が微少に低下することになる。
従ってこの場合、各セクターのピット側において、それぞれ割り与えられた副データの各値を判定するにあたっては、そのセクター内の所定長ピットについて、奇数番目（Ｐ-ｏｄｄ）と偶数番目（Ｐ-ｅｖｅｎ）のどちらの方で再生信号ＲＦの値が低下しているかを検出すればよいことになる。

マーク記録部分での再生信号ＲＦの値の低下は、例えばマーク未記録部分での再生信号ＲＦの値からの差を求めることで検出できる。
この際、上述のようにして符号”０”のときは奇数番目のみ、符号”１”のときは偶数番目のみにマークが記録されるということは、換言すれば、符号”０”のときは必ず「Ｐ-ｏｄｄ」が未記録部分となり、符号”１”のときは必ず「Ｐ-ｅｖｅｎ」が未記録部分となることがわかる。
このことから、隣合う奇数番目と偶数番目について、「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」による演算を行うことで、ｏｄｄとｅｖｅｎのどちらで再生信号ＲＦの値が低下している（マークが記録されている）かを調べることができる。
具体的に、この「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」が負の値であれば、奇数番目での再生信号ＲＦの値が低下しているものであり、よって奇数番目にマークが記録されていることがわかる。逆に「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」が正の値であれば偶数番目の値の低下となり、偶数番目にマークが記録されていることがわかる。

また、図１２では、ランド側に対して記録されたマークのみを抽出して示している。
この図としても、ランド側に割り振られた値としてそれぞれ”０”が記録れた場合と”１”が記録された場合でのマークの記録状態を示している。
この場合はランドに対してマークが記録されるので、マーク記録部分での再生信号ＲＦとしては、図示するように極性は正極性で、マーク記録に応じてそのレベルが微少に低下するような波形が得られる。

そして、この場合においては、符号”０”のときは奇数番目の所定長ランド（Ｌ-ｏｄｄ）でのみマークが形成されることになるので、図示するように符号”０”のときに対応しては、「Ｌ-ｏｄｄ」でのみ再生信号ＲＦの値が微少に低下することになる。逆に、符号”１”のときは、偶数番目の所定長ランド（Ｌ-ｅｖｅｎ）でのみ再生信号ＲＦの値が微少に低下することになる。
従ってこの場合も、隣合う奇数番目（ｏｄｄ）と偶数番目（ｅｖｅｎ）について、「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」による演算を行うことで、ｏｄｄとｅｖｅｎのどちらで再生信号ＲＦの値が低下している（マークが記録されている）かを調べることができる。
すなわち、この場合も「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」が負の値であれば、奇数番目での再生信号ＲＦの値が低下しているものであり、よって奇数番目にマークが記録されていることがわかる。また、「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」が正の値であれば偶数番目の方が低下となり、偶数番目にマークが記録されていることがわかる。

このようにして、ピット側を対象として記録されたマークと、ランド側を対象として記録されたマークとについて、それぞれ上記した「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の演算を行うことで、マークが奇数番目と偶数番目のどちらに記録されるか、すなわち符号の表現形態が”０””１”の何れに対応するものであるかを知ることができる。

但し、実際において、再生信号ＲＦにはノイズ成分が重畳される。上記もしているようにマーク記録部分での再生信号ＲＦの値の低下は微少なものであり、このようなノイズ成分に埋もれる可能性もある。従って所定長ランドの隣り合う偶数番目の１組についてのみ上記「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」による検出を行ったのでは確実に値を判定することが困難となる。
このため、副データの再生動作としては、上記のように隣り合う奇数番目と偶数番目の組ごとに算出した「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の値を積分し、この積分値に基づいてそのセクターに割り当てられた１ビットの値を判定するものとしている。このようにすることで、副データの値をより確実に検出することができる。

ところで、マークとしては、記録対象となる所定長ピット及び所定長ランドの中央部に記録されるものである。従って、上記のような「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の算出のためには、ｏｄｄとｅｖｅｎ、すなわち奇数番目と偶数番目の双方の所定長ピット及び所定長ランドの中央部分で得られる再生信号ＲＦの値をサンプリングする必要がある。この「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」算出のためのサンプリングタイミングを指示するための信号として、図１０に示した検出パルス生成部１２は、それぞれ図１１、図１２に示したような検出パルス信号Ｄｐを生成する。
すなわち、上記のような「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」算出のための検出パルス信号Ｄｐとして、ピット側を対象とした再生時には、図１１を参照してわかるように、主データ中に得られる所定長ピットの中央部でのみＨレベルとなる信号を生成すればよい。一方、ランド側を対象とした再生時には、図１２に示されるように主データ中に得られる所定長ランドの中央部でのみＨレベルとなる信号を生成すればよい。

ここで、このような検出パルス信号Ｄｐの生成にあたっては、先の副データ記録装置５０の場合での記録パルス信号Ｗｒｐの生成と同様に、ディスク１００上の副データ記録対象区間において記録される主データの内容から該当するタイミングを生成すればよい。
但し、再生装置１としては、副データ記録装置５０の場合のようにディスク製造側で使用されるものではないことから、ディスク１００に記録されている内容を予め装置内部に格納するということはできない。そこで再生装置１としては、装填されたディスク１００から副データ記録対象区間の主データを読み出し、これを装置内部に格納して上記検出パルス信号Ｄｐの生成に用いるようにしている。

このように読み出された副データ記録対象区間の主データを格納するためのメモリとして、再生装置１では、図１０に示した検出パルス生成部１２内のＲＡＭ１２ｂを設けている。そのデータ構造は、次の図１３に示されるように、各アドレス対応に読み出された主データが格納されるものとなる。
検出パルス生成部１２内の検出パルス生成回路１２ａでは、このようにＲＡＭ１２ｂに格納される記録対象区間内の主データの内容に基づいて、先の記録パルス信号Ｗｒｐ生成の場合と同様に、該当するタイミングでのみ”１”となりそれ以外が全て”０”となるデータ列を生成する。そして、このように生成したデータ列に基づく検出パルス信号Ｄｐを生成してこれをＡ／Ｄコンバータ１１に供給する。この検出パルス信号Ｄｐにより指示されるタイミングでＡ／Ｄコンバータ１１が再生信号ＲＦの値をサンプリングすることで、図１１及び図１２に示したような適切なタイミングで再生信号ＲＦの値をサンプリングすることができる。

続いて、次の図１４及び図１５のフローチャートにより、再生装置１において行われる副データ再生時のより詳細な動作について説明する。
先ず、ディスク１００に記録される副データの再生としても、記録時と同様にピット側を対象とした再生動作とランド側を対象とした再生動作とを分けて実行するようにされる。図１４では主にピット側を対象とした再生動作について示し、図１５ではランド側を対象とした再生動作について示している。

図１４において、先ずステップＳ２０１においてディスク１００が装填されると、ステップＳ２０２におて、ディスク１００上の副データ記録対象区間について、アドレスごとに主データを格納する動作を行う。
ここで、図示による説明は省略したが、ディスク１００の装填に応じては、図１０に示したコントローラ１５が、予め定められた副データ記録対象区間を示すアドレス情報に従ってサーボ回路６に対してターゲットアドレスを指示することでシーク動作を実行させ、当該記録対象区間に記録される主データを読み出し動作を実行させる。このように読み出される主データについて、図１０に示した検出パルス生成回路１２ａは、２値化回路５から供給される２値化データを、アドレス検出回路１０から供給されるアドレス情報に基づき各アドレスごとにＲＡＭ１２ｂ内に格納する。

ステップＳ２０３では、アドレス値Ｎを初期値Ｎ0に設定する。
このステップＳ２０３は、検出パルス生成回路１２ａが再生信号ＲＦのサンプリングタイミングを示すデータ列を、次に説明するようにして各アドレス（セクター）ごとに生成する動作を行うにあたり、内部のカウンタの値を初期値Ｎ0に設定する動作である。

ステップＳ２０４では、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ピットについて、その中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する。
このステップＳ２０４の動作は、検出パルス生成回路１２ａがＲＡＭ１２ｂ内に格納した主データの内容を参照して行う。つまり、検出パルス生成回路１２ａは、ＲＡＭ１２ｂ内においてＮアドレスに対応づけられて格納された主データについて、その中の所定長ピットの中央部となる位置のみが”１”となりそれ以外が全て”０”によるデータ列を生成する。例えばこの場合では、５Ｔのピットに対してマークを記録するようにされているので、この５Ｔ区間の３番目となるビット位置のみが”１”となり、それ以外が全て”０”となるデータ列を生成すればよい。
このような動作により、Ｎアドレスのセクター内でのサンプリングポイントを示すデータ列が生成される。

そして、このように１セクター分のサンプリングポイントを示すデータ列を生成すると、検出パルス生成回路１２ａは、アドレスが終了したか否かについて判別を行う（Ｓ２０５）。つまり、副データ記録対象区間内の全てのアドレス（セクター）について上記データ列の生成が完了したか否かを判別するものである。このステップＳ２０５動作は、検出パルス生成回路１２ａが先のステップＳ２０３にて初期値Ｎ0としたカウンタの値が予め設定された所定値に達したか否かについて判別することで行う。
カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Ｎを１インクリメント（ステップＳ２０６）した後、ステップＳ２０４に戻るようにされる。これによって副データ記録対象区間の全てのセクターについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。

ステップＳ２０５において、カウンタの値が上記所定値に達したとされ、副データ記録対象区間内の全てのアドレスについてデータ列の生成が終了したとされた場合には、その旨を示すデータ生成終了通知をコントローラ１５に対して行う（ステップＳ２０７）。

これに応じコントローラ１５は、ディスク１００上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を行う（ステップＳ２０８）。このステップＳ２０８のシーク動作は、コントローラ１５が、予め定めれたディスク１００上の副データ記録対象区間を示すアドレス情報に基づき、サーボ回路６に対してターゲットアドレスを指示することで行うことができる。

そして、このように副データ記録対象区間の先頭アドレスへのシーク動作が行われたことに応じて、検出パルス生成回路１２ａは、先のステップＳ２０４の動作によってセクターごとに生成したデータ列に基づく検出パルス信号Ｄｐを生成し、これをＡ／Ｄコンバータ１１に対して出力する（ステップＳ２０９）。この生成データ列に基づく検出パルス信号Ｄｐの生成は、再生される主データとの同期がとられるようにクロックＣＬＫのタイミングに基づいて行う。
また、この検出パルス信号Ｄｐの出力は、アドレス検出回路１４から供給されるアドレス情報ＡＤＲとして、副データ記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始する。

続くステップＳ２１０では、上記検出パルス信号Ｄｐに基づいてサンプリングされた値について「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」に基づく演算により副データの値を検出する動作を行う。
このステップＳ２１０の動作は、Ａ／Ｄコンバータ１１と副データ検出回路１３によって行われる。
つまり、Ａ／Ｄコンバータ１１は、上記検出パルス生成回路１２ａから供給される検出パルス信号Ｄｐにより指示されるタイミングでマトリクス回路４から供給される再生信号ＲＦの値をサンプリングする。そしてその値を副データ検出回路１３に出力する。
副データ検出回路１３では、Ａ／Ｄコンバータ１１から供給される値について奇数番目に供給された値から偶数番目に供給された値を減算することで図１１にて説明した「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の演算を行う。そしてこのように演算された「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の値を１アドレス（１セクタ）ごとに積分し、この積分値に基づいて副データの値を検出する。
これによって、先ずは副データ記録対象区間内の各アドレスのピット側に対して割り振られて記録された副データの値を得ることができる。

そして、ステップＳ２１１においては、ピット側を対象とした再生動作の終了を待機する。つまり、このステップＳ２１１の動作として、検出パルス生成回路１２ａは、副データ記録対象区間の最後のアドレスについての検出パルス信号Ｄｐの出力を完了したことに応じて、次の図１５に示すランド側再生のための動作に移行するようにされる。

図１５に示すランド側再生のための動作としても、対象がランド側とされる以外は図１４に示したピット側記録のための動作（ステップＳ２０３〜Ｓ２１１）とほぼ同様の動作を行うようにされる。
先ず、図示するステップＳ２１２においては、先のステップＳ２０３と同様にアドレス値Ｎを初期値Ｎ0に設定する。

そして、ステップＳ２１３では、Ｎアドレス内の主データ中の所定長ランドについて、その中央部となる位置に”１”を挿入したデータ列を生成する。
つまり、検出パルス生成回路１２ａは、ＲＡＭ１２ｂ内においてＮアドレスに対応づけられて格納された主データについて、その中の所定長ランドの中央部となる位置のみが”１”となりそれ以外が全て”０”によるデータ列を生成し、これによってＮアドレスのセクター内でのサンプリングポイントを示すデータ列が生成される。

そして、このように１セクター分のサンプリングポイントを示すデータ列を生成すると、検出パルス生成回路１２ａは、アドレスが終了したか否かについて判別を行う（Ｓ２１４）。つまり、この場合も検出パルス生成回路１２ａは、カウンタの値が予め設定された所定値に達したか否かについて判別することで、副データ記録対象区間内の全てのアドレス（セクター）について上記データ列の生成が完了したか否かを判別する。
カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Ｎを１インクリメント（ステップＳ２１５）した後、ステップＳ２１３に戻るようにされ、これによって副データ記録対象区間の全てのセクターについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。

ステップＳ２１４においてカウンタの値が上記所定値に達したとされ、副データ記録対象区間内の全てのアドレスについてデータ列の生成が終了したとされた場合には、その旨を示すデータ生成終了通知をコントローラ１５に対して行う（ステップＳ２１６）。
コントローラ１５は、このような再度のデータ生成終了通知に応じ、ディスク１００上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を再び行うようにされる（ステップＳ２１７）。

そして、このように副データ記録対象区間の先頭アドレスへのシーク動作が行われたことに応じて、検出パルス生成回路１２ａは、先のステップＳ２１３の動作によってセクターごとに生成したデータ列に基づく検出パルス信号Ｄｐを生成し、これをＡ／Ｄコンバータ１１に対して出力する（ステップＳ２１８）。この場合も生成データ列に基づく検出パルス信号Ｄｐの生成は、再生される主データとの同期がとられるようにクロックＣＬＫのタイミングに基づいて行う。また、この場合の検出パルス信号Ｄｐの出力としても、アドレス検出回路１４から供給されるアドレス情報ＡＤＲとして、副データ記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始する。

続くステップＳ２１９では、上記検出パルス信号Ｄｐに基づいてサンプリングされた値について「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」に基づく演算により副データの値を検出する動作を行う。
つまり、この場合もＡ／Ｄコンバータ１１は、上記検出パルス生成回路１２ａから供給される検出パルス信号Ｄｐにより指示されるタイミングでマトリクス回路４から供給される再生信号ＲＦの値をサンプリングする。そしてその値を副データ検出回路１３に出力する。
副データ検出回路１３では、Ａ／Ｄコンバータ１１から供給される値について奇数番目に供給された値から偶数番目に供給された値を減算することで図１２にて説明した「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の演算を行う。そしてこのように演算された「ｏｄｄ−ｅｖｅｎ」の値を１アドレス（１セクタ）ごとに積分し、この積分値に基づいて副データの値を検出する。
これによって、副データ記録対象区間内の各アドレスのランド側に対して割り振られて記録された残りの副データの値が得られ、先のピット側で得られた値と合わせて副データの値の全てが得られたことになる。

＜４．フォーカス点の調整動作＞

これまでで説明してきたようにして、ディスク１００の反射膜１０２に対して形成されるマークによって、副データについての記録再生を行うことができる。
そして、実施の形態では、主データ中に得られる所定長のピット、及び所定長のランドの双方を対象としてマークを記録再生するので、例えばピット側のみ或いはランド側のみを対象として記録再生を行う場合よりも副データの記録密度の向上を図ることができる。

但し、このように副データとしてのマークをピット側とランド側との双方を対象として記録再生しようとする場合、ピット側にマークを記録する場合とランド側にマークを記録する場合とで、最適なフォーカス点が異なるものとなる。同様に、再生時においても、ピット側に記録されるマークについての再生時とランド側に記録されるマークの再生時とで最適なフォーカス点が異なるものとなる。

図２０は、実際に副データ記録装置５０と再生装置１とについて、このような最適なフォーカス点について実験を行った結果を示している。
この図２０において、縦軸は副データ信号振幅を示し、横軸はフォーカスバイアスを示している。この図における各特性は、フォーカスバイアスを変化させたときの副データ信号振幅（再生信号ＲＦの信号振幅）の変化特性を示している。
図中黒塗りの四角と実線との組により示す特性は、ピット側に対する記録時の特性であり、白抜きの四角と破線との組により示す特性はピット側の再生時の特性である。
また、黒塗りの丸と実線の組はランド側に対する記録時の特性を示し、白抜きの丸と破線の組はランド側の再生時の特性を示している。

この図において、先ずピット側に対する記録時と再生時では、最適なフォーカス点が図中「Ａ」，「Ｃ」でほぼ同じとなっていることがわかる。つまり、この図に示す例において、ピット側のみを対象としてマークの記録再生が行われる限りでは、記録装置と再生装置とで適正に副データの記録再生を行うことができる。

しかし、同じ記録時の特性として、ピット側とランド側との記録時の特性を比較してみると、それぞれの最適点は、上記したピット側記録時の「Ａ」と、ランド側記録時の「Ｂ」とで異なるものとなっている。さらに、同じ再生時として、ピット側の再生時とランド側の再生時とを比較してみると、ピット側再生時の最適点である「Ｃ」と、ランド側再生時の最適点である「Ｄ」も異なっていることがわかる。
なお、この場合のピット側再生時とランド側再生時との最適点の誤差（Ｃ−Ｄ）としては、図示するように上記したピット側記録時とランド側記録時との最適点の誤差（Ａ−Ｂ）よりも拡大されたものとなっている。

ここで、一般的なディスク再生装置では、フォーカス点の調整は、ディスクに記録された値に基づいて、主データ（ピットとランド）の再生に最適とされるフォーカス点に調整されるようになっている。或いは、実際に主データを再生して最適なフォーカス状態となるように調整するようにされている。
また、副データの記録装置としても、フォーカス点は主データ（ピットとランド）の再生に最適とされる値に調整されるようになっている。これは、これまでの説明から理解されるように、各マークを所定規則に従った特定のピット／ランドに適正に記録するために、副データの記録動作はＲＯＭディスク上の主データを再生しながら行うようにされていることによる。

このように従来の記録／再生装置で設定される、主データの再生に最適とされるフォーカス点は、図２０では、ピット側の記録時及び再生時の最適点「Ａ」，「Ｃ」とほぼ一致したものとなる。これによると、上記した従来の記録装置及び再生装置によっても、ピット側のみを対象としたマークの記録再生が行われる限りでは、適正に副データの記録再生を行うことができることになる。
しかしながら、このように従来の記録装置及び再生装置で調整される最適点が上記ピット側の記録時及び再生時の最適点「Ａ」，「Ｃ」と同じとなっているということは、当該最適値としては、ランド側記録時の最適値「Ｂ」とランド側再生時での最適点「Ｄ」と異なるものとなっていることになる。
すなわち、これによると、従来の記録装置、再生装置では、設定されるフォーカス点が、それぞれランド側記録時、ランド側再生時での最適点からずれたものとなって、ランド側を対象とした副データの記録再生を適正に行うことができなくなってしまう。

このようにして、副データ記録装置５０及び再生装置１として、従来の記録装置及び再生装置の構成を踏襲してフォーカス点の設定を行った場合は、ピット側とランド側の双方を対象とした副データの記録再生を行う上で、ピット側及びランド側の双方で適正となるフォーカス点で記録再生を行うことができないことになる。
適正なフォーカス点により記録再生動作を行うことができなければ、副データを適正に記録再生することができなくなってしまう。

そこで実施の形態では、ピット側を対象とする記録・再生動作時と、ランド側を対象とする記録・再生動作時とで、フォーカス点がそれぞれの場合に対応させた異なる値に調整されるように動作を行う。
先ずは、このようなフォーカス点の調整動作として、副データ記録装置５０側で行われる動作を次の図１６及び図１７のフローチャートを参照して説明する。

副データ記録装置５０において、先ずこのようなフォーカス点の調整動作としては、副データの記録動作時に対応して行われるものとなる。このことから、この場合のフォーカス点の調整動作としては、図１６及び図１７に示されているように、先の図８及び図９に示した副データ記録のための一連の動作の中において実行されるべきものとなる。
具体的に、この場合のフォーカス点の調整動作としては、少なくともピット側、ランド側への実際の記録動作（記録レーザパワーによる実際のマーク記録動作）に先立って行われるべきものである。

このため、図１６において示されるように、先ずピット側に対する実際の記録動作に先立つタイミングとして、先の図８にて示したステップＳ１１１におけるシーク動作に対し、フォーカス目標値を第１フォーカス目標値に調整するための動作を追加する。
図１６に示されるこの場合のステップＳ１１１としては、図４に示したコントローラ６５が、先ずはサーボ回路５５に対して第１フォーカス目標値を指示する動作を行う。そして、これに加え、先に説明した副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を行うようにされる。
サーボ回路５５では、上記のようにしてコントローラ６５から指示された第１フォーカス目標値に応じて、図４にて説明したフォーカスサーボループに対してフォーカスバイアスを与える。これによって第１フォーカス目標値に応じたフォーカス点で一定となるように制御が行われることになる。

ここで、上記第１フォーカス目標値としては、先の図２０の特性から、ピット側記録に最適とされる値（図２０の例では最適点「Ａ」）が予めコントローラ６５に対して設定されている。これによってピット側に対する実際の記録動作に先立ち、ピット側記録時に対応した最適なフォーカス点に調整することができる。

また、ランド側に対する実際の記録動作に先立つタイミングとして、先の図９にて示したステップＳ１２１におけるシーク動作に対し、フォーカス目標値を第２フォーカス目標値に調整するための動作を追加する。
具体的に、図１７に示されるこの場合のステップＳ１２１として、コントローラ６５は、サーボ回路５５に対して第２フォーカス目標値を指示する動作を行うと共に、副データ記録対象区間へのシークのための制御動作を行うようにされる。
第２フォーカス目標値としては、先の図２０の特性から、ランド側記録に最適とされる値（図２０の例では最適点「Ｂ」）が予めコントローラ６５に対して設定されている。従って上記のように第２フォーカス目標値がサーボ回路５５に指示され、サーボ回路５５がこの第２フォーカス目標値に応じたフォーカスバイアスをフォーカスサーボループに対して与えることで、ランド側に対する実際の記録動作に先立ち、ランド側記録時に対応した最適なフォーカス点に調整することができる。

これら図１６及び図１７に示した動作が行われることで、副データ記録装置５０では、ピット側記録時とランド側記録時で共に最適とされるフォーカス点によって適正に副データとしてのマークを記録することができる。つまりは、これによってピット側とランド側との双方を対象として副データとしてのマークの記録を行う場合にも、安定的な記録動作を得ることができる。

また、図１８及び図１９では、上記したフォーカス点調整動作を含む再生装置１側で行われるべき動作を示している。
この場合もフォーカス点の調整動作は、副データの再生動作時に対応して行われるものとなるで、これら図１８及び図１９では、先の図１４及び図１５に示した副データの再生時における動作が示されている。
具体的に、図１８において、先ずピット側に対する再生動作に先立つタイミングとして、先の図１５にて示したステップＳ２０８におけるシーク動作に対し、フォーカス目標値を第３フォーカス目標値に調整するための動作を追加する。
すなわち、図１８に示されるこの場合のステップＳ２０８として、図１０に示したコントローラ１５は、先ずはサーボ回路６に対して第３フォーカス目標値を指示する動作を行う。その上で、副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークするための制御動作を行うようにされる。
サーボ回路６では、上記のようにしてコントローラ１５から指示された第３フォーカス目標値に応じて、図１０にて説明したフォーカスサーボループに対してフォーカスバイアスを与える。これによって第３フォーカス目標値に応じたフォーカス点で一定となるように制御が行われることになる。

上記第３フォーカス目標値としては、先の図２０の特性から、ピット側再生に最適とされる値（図２０の例では最適点「Ｃ」）が予めコントローラ１５に対して設定されている。これによってピット側に対する再生動作に先立ち、ピット側再生時に対応した最適なフォーカス点に調整することができる。

また、ランド側に対する再生動作に先立つタイミングとしては、先の図１５にて示したステップＳ２１７におけるシーク動作に対し、フォーカス目標値を第４フォーカス目標値に調整するための動作を追加する。
つまり、図１９に示されるこの場合のステップＳ２１７として、コントローラ１５は、サーボ回路６に対して第４フォーカス目標値を指示する動作を行うと共に、副データ記録対象区間の先頭アドレスへのシークのための制御動作を行うようにされる。
この第４フォーカス目標値としては、先の図２０の特性から、ランド側再生に最適とされる値（図２０の例では最適点「Ｄ」）が予めコントローラ１５に対して設定されている。従って上記のように第４フォーカス目標値がサーボ回路６に指示され、サーボ回路６がこの第４フォーカス目標値に応じたフォーカスバイアスをフォーカスサーボループに対して与えることで、ランド側に対する再生動作に先立ち、ランド側再生時に対応した最適なフォーカス点に調整することができる。

これら図１８及び図１９に示した動作が行われることで、再生装置１では、ピット側再生時とランド側再生時で共に最適とされるフォーカス点によって適正に副データを再生することができる。すなわち、これによってピット側とランド側との双方に副データとしてのマークが形成されたディスク１００に対しても、安定的に副データについての再生動作を行うことができる。

ところで、これまでに説明した実施の形態では、先の図１６・図１７、図１８・図１９にも示されているように、副データの記録／再生動作は、共にピット側を対象とした記録／再生動作を先に実行するものとしているが、これによっては以下のようなメリットがある。
先ず、これまでの説明では省略したが、実際において、主データ記録装置５０、及び再生装置１では、ディスク（Ｄ１６／１００）の装填後、例えば管理情報等の必要な情報の読み出しのために、ディスク上に記録された所定の主データを読み出すようにされる。このことから実際において、ディスク装填後、サーボ回路５５／サーボ回路６にて初期状態で設定されるフォーカス点（フォーカスバイアス）としては、このような主データの再生に最適とされる値となっている。
ここで、先の図２０においても説明したように、ピット側を対象とした場合の記録動作時及び再生動作時で最適とされるフォーカス点（図２０中「Ａ」「Ｃ」）は、このような主データの再生に最適とされるフォーカス点の値とほぼ一致したものとなっている。つまりは、このことによって副データの記録／再生動作が実行される前の段階では、サーボ回路５５／サーボ回路６にて、それぞれピット側の記録／再生に最適とされるフォーカスバイアスの設定が既に為された状態となっていることになる。
このことから、実施の形態の場合のように、ピット側を対象とした記録／再生動作を先に実行するものとすれば、サーボ回路５５／サーボ回路６に対する改めてのフォーカス目標値の指示（つまりはフォーカス点の調整動作）は不要とすることができる。
なお、先の図１６、図１８では、説明の便宜上、ピット側を対象とした記録／再生動作に先立って、サーボ回路５５／サーボ回路６に対してフォーカス目標値を指示する動作を行うものとして示したが、このようにピット側を対象とした記録／再生動作を先に実行するとした場合、実際にはこれら図１６におけるステップＳ１１１、及び図１８におけるステップＳ２０８でのフォーカス目標値の指示動作は省略できるものであり、従ってこの場合はランド側に移行するタイミングでランド側に最適とされる目標値（第２フォーカス目標値、第４フォーカス目標値）を設定する動作のみを行えば良いものである。
このようにしてピット側を対象とした記録／再生動作を先に行うとした本例によれば、実際には必要なフォーカス点の調整動作を１度のみとすることができ、これによってその分の動作負担を軽減することができる。

また、実施の形態では、ピット側のみを対象とした記録／再生動作と、ランド側のみを対象とした記録／再生動作とをそれぞれ分けて実行するものとしているが、このことによってピット側とランド側とでそれぞれ最適とされるフォーカス点による記録／再生動作を行うことが可能となる。
つまり、実施の形態の場合のように、ピット側とランド側とでそれぞれ異なるフォーカス点で記録動作を行うとした場合において、仮にピット側及びランド側に対して１度の記録動作でマークを記録しようとすると、主データ中の所定長ピット・所定ランドに応じて相当に高速でフォーカス点を調整する必要があり、現実的な動作とは言えない。また、ピット側とランド側とでそれぞれ異なるフォーカス点で再生動作を行うとした場合も、ピット側及びランド側に記録されたマークを１度の再生動作によって再生することは同様の理由から現実的なものとは言えない。
そこで実施の形態のように、ピット側のみを対象とした記録／再生動作と、ランド側のみを対象とした記録／再生動作とをそれぞれ分けて行うものとすれば、それぞれの記録／再生動作につき１度だけフォーカス点の調整を行うのみで足るものとでき、これによってピット側とランド側とでそれぞれ最適とされるフォーカス点による記録／再生動作を現実的なものとして行うことができる。
つまり、このようにピット側を記録／再生する場合とランド側を記録／再生する場合とでフォーカス点を異なる値に調整する必要がある場合に、実施の形態としての記録／再生の手法は最適な手法となる。

以上、本発明の実施の形態について説明したが、本発明としてはこれまでに説明した実施の形態に限定されるべきものではない。
例えば、実施の形態では、説明の簡単のために副データとしてのマークはそれぞれ隣接する所定長のピット及び所定長のランドの奇数番目と偶数番目とを１組として、何れにマークを挿入するかによって符号”０””１”を表現するものとしたが、実際には、第３者によるこのような記録パターンの特定が困難となるように、例えばＭ系列乱数を用いる等他のアルゴリズムに基づいて各符号に対応したマークの挿入位置を決定することもできる。
また、１符号の記録に割り当てる区間としても、例えばさらに短縮して１／２セクターの区間とする等、その区間長について特に限定はされない。
この場合としても、副データ記録装置５０と再生装置１側とで共通となるように、上記のような符号の表現方法、及び副データの１ビットに割り当てる区間についての規則が定められていれば、再生装置１において副データを適正に再生することができる。

また、ピット側とランド側の双方を対象としてマーク記録を行うものとして、副データの値を各セクターのピット側に割り振り、次いで各セクターのランド側に残りの値を順に割り振る場合を例示したが、他の割り振り方が採用されてもよい。
この場合としても、割り振りの順序が副データ記録装置５０と再生装置１とで共通に設定されていることで、副データ記録装置５０にて記録された副データの値を再生装置１側で適正に再生することができる。

また、実施の形態では、ピット側→ランド側の順で記録／再生する場合を例示したが逆にランド側→ピット側の順とする等、ピット側を対象とした副データの記録動作とランド側を対象とした副データの記録動作の順、及びピット側を対象とした副データの再生動作とランド側を対象とした副データの再生動作の順は任意に設定することができる。

また、再生装置１としては、１度の再生動作で副データの再生が可能となるように構成することもできる。
具体的には、先の図２０の特性から、ピット側再生時の最適フォーカス点とランド側再生時の最適フォーカス点の中間点をフォーカス点に設定し、この設定の下で副データの再生動作を実行する。これによれば、例えばピット側再生時の最適フォーカス点とランド側再生時の最適フォーカス点との誤差が少ない場合等に、副データを適正に再生することができる可能性がある。
この場合は、上記１度の再生動作によって副データを適正に再生できなかったときのリトライ動作として、先の図１８・図１９に示した実施の形態としての動作を行うものとすればよい。
このような動作とすることで、上記１度の再生動作で適正に再生できたときは２度目の再生動作やフォーカス点調整動作等の動作負担を軽減できる。また、副データの再生に要する時間の短縮化も図られる。
さらには、リトライ動作として図１８・図１９に示した動作が行われることで、確実に副データの再生を行うこともできる。

また、本実施の形態としては、ディスク１００（ディスクＤ１６）として、例えばブルーレイディスクに準拠したＲＯＭディスクを例に挙げたが、本発明としては、「基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体」について記録、再生を行う場合であれば、これを広く適用することができるものである。

本発明の実施の形態の記録装置及び再生装置が対応する光ディスク記録媒体の断面構図である。 図１に示す光ディスク記録媒体の製造工程について説明するための図である。 図１に示す光ディスク記録媒体に対して記録される主データのデータ構造について説明するためのデータ構造図である。 図１に示す光ディスク記録媒体に対して副データを記録するための、実施の形態としての記録装置の構成を示すブロック図である。 実施の形態としての副データの記録形態として、主に符号の表現方法について説明するための図である。 実施の形態としての副データの記録形態として、主にピット側とランド側とへの各符号の割り振りについて説明するための図である。 実施の形態の記録装置内に格納されるべきデータ内容を示すデータ構造図である。 実施の形態の記録装置が行う副データの記録動作について説明するためのフローチャートとして、主にピット側を対象として行われる記録動作について示した図である。 実施の形態の記録装置が行う副データの記録動作について説明するためのフローチャートとして、主にランド側を対象として行われる記録動作について示した図である。 実施の形態としての再生装置の構成を示すブロック図である。 副データの再生動作について説明するための図である。 同じく、副データの再生動作について説明するための図である。 実施の形態の再生装置内に格納されるべきデータ内容を示すデータ構造図である。 実施の形態の再生装置が行う副データの再生動作について説明するためのフローチャートとして、主にピット側を対象として行われる再生動作について示した図である。 実施の形態の再生装置が行う副データの再生動作について説明するためのフローチャートとして、主にランド側を対象として行われる再生動作について示した図である。 実施の形態としての記録装置が行うフォーカス点の調整動作について説明するための図である。 同じく、実施の形態としての記録装置が行うフォーカス点の調整動作について説明するための図である。 実施の形態としての再生装置が行うフォーカス点の調整動作について説明するための図である。 同じく、実施の形態としての再生装置が行うフォーカス点の調整動作について説明するための図である。 副データとしてのマークについて、ピット側に記録する場合とランド側に記録する場合、及びピット側を再生する場合とランド側を再生する場合とで最適とされるフォーカス点が異なることについて説明するための図である。

符号の説明

１ 再生装置、２、５１ スピンドルモータ、３、５３ ＩＶ変換回路、４、５４ マトリクス回路、５、５７ ２値化回路、６、５５ サーボ回路、７、５６ ２軸駆動回路、８、５９ ＰＬＬ回路、９、５８ 同期検出回路、１０、６０ アドレス検出回路、１１ Ａ／Ｄコンバータ、１２ 検出パルス生成部、１２ａ 検出パルス生成回路、１２ｂ ＲＡＭ、１３ 副データ検出回路、１４、５２ ２軸機構、１４ａ、５２ａ 対物レンズ、１５ コントローラ、ＯＰ 光ピックアップ、ＰＤ フォトディテクタ、ＬＤ レーザダイオード、５０ 副データ記録装置、Ｄ１６ （主データ記録）ディスク、６１ 副データ発生回路、６３ 記録パルス生成回路、６２ ＲＡＭ、６４ レーザパワー制御部、１００ ディスク、１０１ 基板、１０２ 反射膜、１０３ カバー層

Claims (9)

1. 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対し、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークを形成することによって副データの記録を行う記録装置として、
   記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録手段であって、上記マークの形成による上記副データの記録動作を、上記ピットのみを対象とした記録動作と、上記ランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行するようにされた副データ記録手段を備える、
   ことを特徴とする記録装置。
2. 上記所定規則によっては、上記副データを構成する各値を、上記主データ中において予め定められた記録対象区間における所定長のピットと所定長のランドとにそれぞれ分けて記録すべきとされ、
   上記副データ記録手段は、
   上記副データの記録動作を、上記記録対象区間における上記所定長のピットのみを対象とした記録動作と、上記記録対象区間における上記所定長のランドのみを対象とした記録動作とに分けて実行するように構成されている、
   ことを特徴とする請求項１に記載の記録装置。
3. さらに、上記光ディスク記録媒体上の上記記録対象区間に記録される主データが記憶される記憶手段を備え、
   上記副データ記録手段は、
   上記記憶手段に記憶される上記主データに基づいて、記録すべき副データの値と所定規則とに従って決定される上記所定長のピットと上記所定長のランドのタイミングを示す記録信号を生成し、この記録信号に応じて上記記録パワーによるレーザ光を照射することで上記記録動作を実行するように構成されており、上記所定長のピットのみを対象とした記録動作としては、上記所定長のピットのタイミングのみを示す上記記録信号を生成することでこれを実行し、上記所定長のランドのみを対象とした記録動作としては、上記所定長のランドのタイミングのみを示す上記記録信号を生成して実行するようにされる、
   ことを特徴とする請求項２に記載の記録装置。
4. 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対し、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークを形成することによって副データの記録を行う記録方法として、
   記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録動作を、上記ピットのみを対象とした記録動作と、上記ランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行するようにした、
   ことを特徴とする記録方法。
5. 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、上記反射膜上に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体を製造するためのディスク製造方法として、
   上記主データを上記ピット及びランドの組み合わせによって記録したディスク原盤を生成する原盤生成工程と、
   上記ディスク原盤をもとに作成したスタンパによって上記基板を生成すると共に、上記基板に対して少なくとも上記反射膜と上記カバー層を積層することで、上記主データのみが記録された主データ記録ディスクを製造するディスク形成工程と、
   上記主データ記録ディスクに対して記録パワーによるレーザ光を照射して上記副データの記録を行う副データ記録工程であって、記録すべき上記副データの値と所定規則とに従って決定される特定の上記ピット及び特定の上記ランド上において、上記記録パワーによるレーザ光を照射して上記反射膜上に上記マークを形成することで上記副データの記録を行う副データ記録動作を、上記特定のピットのみを対象とした記録動作と、上記特定のランドのみを対象とした記録動作とにそれぞれ分けて実行する副データ記録工程と、
   を備えることを特徴とするディスク製造方法。
6. 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークが形成されることによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記反射膜におけるマークが、記録すべき副データの各値と所定規則とに従って特定の上記ピット上と上記ランド上とに形成された光ディスク記録媒体について再生を行う再生装置として、
   上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して再生信号を生成する再生信号生成手段と、
   上記再生信号生成手段により生成された上記再生信号の値を上記所定規則に従ったサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出手段であって、上記特定のピットのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作と、上記特定のランドのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作とを、それぞれ分けて実行するようにされた副データ検出手段と、
   を備えることを特徴とする再生装置。
7. 上記所定規則によって、上記副データを構成する各値が、上記主データ中の所定の記録対象区間内における、所定長のピットと所定長のランドとにそれぞれ分けて記録されており、
   上記再生信号生成手段は、上記記録対象区間について少なくとも２回連続して上記再生信号の生成動作を行うようにされており、
   上記副データ検出手段は、
   上記再生信号生成手段による一方の上記再生信号生成動作により得られる再生信号については、上記所定長のピットを対象として上記再生信号値の検出を行うようにされ、他方の上記再生信号生成動作により得られる再生信号については、上記所定長のランドを対象として上記再生信号値の検出を実行するようにされる、
   ことを特徴とする請求項６に記載の再生装置。
8. さらに、上記再生信号生成手段が上記光ディスク記録媒体上の上記記録対象区間について生成した再生信号に基づいて得られる主データを格納する記憶手段を備え、
   上記副データ検出手段は、
   上記記憶手段に記憶される上記主データに基づいて、上記所定規則に従って決定される上記所定長のピットと上記所定長のランドのタイミングを示す検出信号を生成し、この検出信号に応じて上記再生信号値を検出した結果に基づき上記副データの値を検出するように構成されていると共に、上記再生信号生成手段による一方の上記再生信号生成動作により得られる再生信号については、上記所定長のピットのタイミングのみを示す上記検出信号を生成して再生信号値の検出動作を行い、他方の上記再生信号生成動作により得られる再生信号については、上記所定長のランドのタイミングのみを示す上記検出信号を生成して再生信号値の検出動作を行うようにされる、
   ことを特徴とする請求項７に記載の再生装置。
9. 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜にマークが形成されることによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記反射膜におけるマークが、記録すべき副データの各値と所定規則とに従って特定の上記ピット上と上記ランド上とに形成された光ディスク記録媒体について再生を行う再生方法として、
   上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して再生信号を生成する再生信号生成手順と、
   上記再生信号生成手順により生成した上記再生信号の値を上記所定規則に従ったサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出動作として、上記特定のピットのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作と、上記特定のランドのみを上記サンプリングポイントとした上記再生信号値の検出動作とをそれぞれ分けて実行するようにされた副データ検出手順と、
   を備えることを特徴とする再生方法。
   

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