JP4432908B2 - 再生装置、再生方法、記録装置、記録方法、光ディスク製造方法、光ディスク記録媒体 - Google Patents
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Description
また、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体に対して上記副データの記録を行う記録装置とその方法、及び上記光ディスク記録媒体を製造するための光ディスク製造方法、さらには光ディスク記録媒体に関する。
一般的に海賊版ディスクは、正規版ディスクから再生した信号を基にマスタリング工程によりスタンパを作成して複製ディスクを製造するようにして作成される。或いは正規版ディスクから再生した信号を記録可能なディスクにコピーすることで作成される。
そこで、例えば下記の特許文献1では、上記識別情報を、ディスクの反射膜にマークを形成して微少な反射率変化を与えることで記録するもとしている。すなわち、この特許文献1に記載のディスクでは、ピット及びランドの組み合わせにより主のデータ(コンテンツデータや管理情報等)が記録されると共に、所定のピット又はランド上の反射膜に対して微少な反射率変化を与えるマークを形成することで、上記主のデータ以外の副のデータ(識別情報)を記録するようにされている。
副データ自体の再生は、別途の再生系を設けて、主データの再生信号中のこのような微少な反射率変化が与えられた部分を多数サンプリングしてこれらの例えば積分値を求める等して行うことができる。
この場合、副データの記録装置側と再生装置側とでは、予め定められた所定のアルゴリズムによって副データとしてのマークを形成すべき位置が決定されている。これにより、正規の再生装置では記録時に用いたものと同様のアルゴリズムによりマークが記録されるべき位置を特定できるため、適正に副データとしての識別情報を再生することができる。
具体的には、ディスクのカバー層、反射膜を基板から剥離することで、基板に形成されたピット及びランドの形状を表出させる。そして、このように表出させた凹凸形状を物理的に転写することで、ディスクに記録された内容を複製するといったものである。
つまりは、反射膜にのみ形成されるべきマークが、基板に対して物理的に転写されてしまう可能性があり、さらにこの基板が物理的に転写されることで主データと共に副データまでが複製されてしまう可能性がある。
先ず、図23(a)では、上述のようにして反射膜に対してマークが形成されたディスク100の断面構造を示している。
図示するようにして、ディスク100は、基板101、反射膜102、及びカバー層103を少なくとも備えるようにされている。基板101と反射膜102との間に形成される凹凸の断面形状が、ピットとランドの組み合わせにより主データが記録される部分である。
そして、上述もしているように、所定のピット又はランド上の反射膜に対して、副データとしてのマークが記録される(図中X)。図の例では、所定のランド上の反射膜に対してマークが記録される例を示している。
この変形に伴い、基板101の反射膜102と接する面には凹形状の窪みが転写されてしまう。つまり、この場合においてカバー層103、反射膜102を剥離して基板101を表出させると、図23(b)に示されるようにして、基板101の表面には反射膜102にのみ形成されるべきマークに応じた凹形状が転写されたものとなる。
そして、このようなレプリカ基板について通常の製造工程と同様に反射膜及びカバー層の積層を行えば、正規版のディスクに記録された主データと副データとをそっくりコピーした海賊版ディスクを製造することができてしまうものである。
すなわち、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し、且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するように構成されている光ディスク記録媒体について再生を行う再生装置として、先ず、上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して上記再生信号を生成する再生信号生成手段を備える。
また、上記再生信号生成手段により生成された上記再生信号の値を所定のサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出手段を備える。
さらに、上記副データ検出手段によって検出された上記副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別した結果に基づき、上記光ディスク記録媒体が正規版ディスクであるか否かについて判定する判定手段を備えるようにした。
つまり、本発明の記録装置は、基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体について、所定長の上記ランドを対象として記録パワーによるレーザ光照射を行って上記反射膜にマークを形成することによって副データを記録する記録装置であって、
上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されるようにして、上記記録パワーによるレーザ光照射を行って上記副データを記録する記録手段を備えたものである。
そこで本発明の再生装置としては、上記のようにして副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別するように構成している。すなわち、適正とされる極性であれば正規版のディスクであることが判定できる。また適正とされる極性でなければ海賊版ディスクであると判定できる。
ここで、上記のようにして正規版ディスクでは再生信号レベルが上昇し海賊版ディスクでは再生信号レベルが低下する特性が得られるのは、ランド側を対象としてマークを記録したときであって、またこの特性が得られるか否かは形成するマークのサイズと深さとが関係していることが導き出された。このことから上記本発明の記録装置のように、所定長のランドを対象として、正規版でのマーク形成部分では再生信号レベルが上昇し且つ海賊版でのマーク形成部分では再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されるようにして、レーザ光照射を行って副データを記録するようにしたことで、正規版ディスクと海賊版ディスクとで得られる再生信号の極性が逆となる光ディスク記録媒体を製造することができる。
なお、本発明で言う「基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体」とは、基板の形状を物理的に転写して作成したスタンパを基に作成したレプリカ基板に反射膜を成膜して生成したものを指す。また、反射膜を剥離した基板に再度反射膜を成膜して生成したものも同様とみなす。
また、特に本発明の再生装置(再生方法)によれば、このような光ディスク記録媒体から検出される副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別するように構成したことで、光ディスク記録媒体が正規版ディスクであるか否かについて判定を行うことができる。
なお、説明は以下の順で行う。
<1.光ディスク記録媒体>
<2.副データ記録装置>
<3.再生装置>
<4.実施の形態としての光ディスク記録媒体、記録装置、再生装置>
先ず、図1に、実施の形態の光ディスク記録媒体としてのディスク100について、その断面構造図を示す。
実施の形態のディスク100は、再生専用のROMディスクであり、具体的にはブルーレイディスク(Blu-Ray Disc)と称されるディスクに準拠したディスク構造及びフォーマットが採用されたものとなる。
このディスク100は、図示するようにして基板101と、この基板101に対して積層された反射膜102、及びカバー層103を備えている。基板101は、例えばポリカーボネート等によるプラスチック基板であり、この基板101における上記反射膜102と接する面に対しては凹凸の断面形状が与えられている。凹状の断面部はピットであり、凸状の断面部はランドである。ディスク100では、これらピットとランドの組み合わせ、具体的にはピットとランドのそれぞれの長さにより情報を記録できる。
反射膜102は、基板101上に積層されることで上記のようなピットとランドの形状に応じた凹凸の断面形状が与えられる。また、反射膜102は、例えば金属膜とされ、図示するようにして対物レンズによって集光されるレーザ光が上記カバー層103を介して照射された際に、上記凹凸に応じた反射光が得られるようなっている。後述する副データ記録装置50及び再生装置1側では、照射したレーザ光のこの反射膜102からの反射光に基づき、ピットとランドの組み合わせにより記録される情報を検出することができる。
ディスク100を製造するにあたっては、先ず図中のフォーマット化工程S11を実行するようにされる。このフォーマット化工程S11は、例えばコンピュータ等を用いて行うことになる。
このフォーマット化工程S11では、ディスク100に対して記録されるべきコンテンツデータ(ユーザデータ)について、所定の規格に応じたフォーマットデータ列が得られるように変換動作を行う。すなわち、実施の形態の場合は、後の図3にて説明するようなブルーレイディスクの規格に応じたデータ列が得られるように変換動作を行う。また、実際には、ユーザデータに対する誤り検出符号及び誤り訂正符号の付加、インターリーブ処理等も行うようにされる。
このようにユーザデータについてフォーマット化、可変長変調処理が施されて得られたデータを、ここでは主データと呼ぶ。
原盤生成工程S13では、先ずガラス原盤に対してフォトレジストを塗布する。そして、このようにフォトレジストが塗布されたガラス原盤を回転駆動した状態で上記可変長変調工程S12にて生成した主データに応じたレーザ光を照射することで、記録トラックに沿った凹凸のパターンを形成する。つまり、ピットとランドを形成していく。
次いで、ピットとランドが形成されたレジストを現像処理することでガラス原盤上に定着させ、さらに原盤表面に対して電解メッキを施すことで、図示する金属原盤D14を生成する。
ディスク形成工程S15では、先ず上記金属原盤D14をもとにスタンパを作成する。そして、このスタンパを成形金型内に配置して、射出成型機を用いてポリカーボネートやアクリル等の透明樹脂により基板101を形成する。この基板101には、先の変調工程S12にて生成された主データに応じたピットとランドのパターンが記録トラックに沿って形成されることになる。
そして、この基板101に対して、先ずは反射膜102を蒸着等により積層し、さらにこの反射膜102上にカバー層103を積層する。これによって先ずは主データのみが記録されたディスク(主データ記録ディスク)D16を形成する。
ここで、実施の形態では、上記のようにしてピットとランドのパターンによって記録される主データ以外に、副データを記録するものとしている。
この場合、副データは、そのデータ内容部分となる実データとして、ディスク100(ディスクD16)個々にユニークとなるシリアル番号情報を記録するものとしている。すなわち、これによって当該副データ記録工程S17により生成される各ディスク100としては、そのディスク100に固有の識別情報(識別番号)が付加されることになる。
また、副データとしては、上記実データとしての識別情報に加え、この場合はエラー訂正符号も付加するようにされる。このエラー訂正符号が付されることで、再生時に上記識別情報についてのエラー訂正処理を行うことが可能となる。
このような副データ記録工程S17は、後に図4にて説明する副データ記録装置50によって行われることになる。
先ず、図示するようにしてRUBと称される1つの記録単位が定義される。1つのRUBは、16個のアドレスユニット(図中「sector」)と2つのリンキングフレームから成るようにされる。リンキングフレームは、各RUB間の緩衝領域として設けられている。
1アドレスユニットは、この場合1つのアドレス単位を形成する。
そして、それぞれのアドレスユニットは、図示するようにして31個のフレームから成る。さらに1つのフレームは1932チャンネルビットのデータから成る。
実施の形態で例示しているブルーレイディスクにおいて、主データはRLL(1,7)PP変調ルールに従ったものとなるで、符号”0”と”1”との連続数(つまりピット長とランド長)は何れも2T(チャンネルビット)から8Tの長さに制約されている。
各フレームの先頭に位置するsyncでは、この変調ルールに従わない9Tによる連続符号が挿入されて再生時のフレーム同期信号の検出に用いられる。
続いて、図4に、ディスクD16に対して上述の副データを記録するための副データ記録装置50の構成を示す。
先にも説明したように副データとしては、そのデータ内容として各ディスク100に固有となる識別情報を記録するものとしている。従ってこの副データ記録装置50の動作としては、装填されるディスク100ごとに異なるパターンによる副データを記録するようにされる。
また、副データは、ディスクD16上において予めこれを記録する区間が定められ、さらにこの区間内においてそれぞれのマークを挿入する位置としても予め定められている。副データ記録装置50としては、このような予め定められた特定の位置にマークが記録できるように構成されている。
この光ピックアップOPには、図示するようにしてレーザ光源となるレーザダイオードLD、レーザ光をディスク100の記録面に集光・照射するための対物レンズ52、ディスクD16からの上記レーザ光照射に基づく反射光を検出するフォトディテクタPD等が備えられている。
これらサーボ回路55、2軸駆動回路56、2軸機構によるトラッキングサーボ・フォーカスサーボ系において、上記サーボ回路55が上記トラッキングエラー信号TE、フォーカスエラー信号FEに基づく制御を行うことで、ディスクD16に照射されるレーザ光のビームスポットがディスクD16に形成されるピット列(記録トラック)をトレースし且つ適正なフォーカス状態で維持されるように制御が行われるようになっている。
フレーム同期信号はアドレス検出回路60を始めとした必要な各部に対して供給される。
なお、この副データ発生回路61による動作については後述する。
このレーザパワー制御部64の制御によって記録パワーによるレーザ照射が行われることで、このレーザ照射部分における反射膜102にマークが形成されることになる。このように反射膜102に形成されるマークによってディスクD16上に副データが記録されることになる。
この図5では、副データを構成する1ビットの符号として”0”を記録する場合と”1”を記録する場合のそれぞれの例を示している。
先ず、符号の表現方法としては、主データ中に存在する所定長のランドについて、隣接する奇数番目(odd)と偶数番目(even)とを1組として考える。そして、これら所定長のランドの隣接する奇数番目と偶数番目の1組ごとについて、奇数番目に対してマークを記録した場合は符号”0”、偶数番目にマークを記録した場合は”1”と定義付ける。
この図5の例では、所定長ランドとして、5Tのランドに対してマークを記録する例を示している。
つまり、この図に示されるようにして、1アドレスユニット内の隣接する奇数番目と偶数番目の所定長ランドの組ごとに、同一の符号を表現する形態でマークを記録していく。
具体的に、符号”0”を記録するとした場合は、図示するようにして1アドレスユニット内の所定長ランドの奇数番目のみにマークを記録するようにされる。
また、符号”1”を記録するとしたときは1アドレスユニット内の所定長ランドの偶数番目に対してのみマークを記録するようにする。
ここで、従来と同様にして、記録したマークの再生信号レベルがマーク未記録部分での再生信号レベルに比べ低くなる例で考えると、奇数番目にのみマークが記録された符号”0”の場合、このような「odd−even」の演算を行うと、理想的には隣接する所定長ランドごとに負の値が得られる。すなわち、このように各隣接する所定長ランドごとに演算された「odd−even」の値を積分すると、確実に負の値が得られこれを検出することができる。
逆に、偶数番目にのみマークが記録される符号”1”の場合、隣接する所定長ランドごとに演算される「odd−even」の値は理想的には正の値となる。従ってこれを積分することで確実に正の値が得られてこれを検出することが可能となる。
ここでは説明の便宜上、副データ記録装置50により従来と同様の手法により記録が行われ、マーク記録部分では再生信号レベルが低下するものとして以下の説明を続ける。
つまりこの場合、副データは、これを構成する符号と同数のアドレスユニットにわたって記録されることになる。
このように副データを記録する区間(以下、副データ記録対象区間とも呼ぶ)は、予め副データ記録装置50と再生装置との間で定められている。従って副データ記録装置50では、このように予め定められた副データ記録対象区間としての複数のアドレスユニットにわたって上述したマークの記録を実行するように構成されている。
そこでマークとしては、記録対象となるランドの中央部に記録するものとしている。これによればエッジ部分は通常どおり得ることができるので、この点でも2値化処理に影響を与えないように図られている。
先ず、上記もしているように、副データの記録は、予め定められたディスクD16上の副データ記録対象区間において行われるものである。そして、このように定められた副データ記録対象区間において、先に説明したように各アドレスユニット内の所定長ランドの奇数番目或いは偶数番目にのみマークを記録するにあたっては、このような副データ記録対象区間内における各アドレスユニット内の主データの内容を把握する必要がある。
そこで、図4に示した副データ発生回路61では、このような記録対象区間内の各アドレスユニットごとの主データの内容を、予めRAM62内に格納しておくものとされる。
先ず、図示するアドレスは、副データ記録対象区間内の各アドレスユニットのアドレス情報を示している。そして、このアドレスごとに、それぞれのアドレスユニットで記録される主データの内容が格納されている。
なお、確認のために述べておくと、副データ記録装置50としては、ディスクD16(ディスク100)の製造業者側で管理する装置である。従ってROMディスクであるディスクD16についてはそこに記録される主データの内容は予め把握しておくことができる。このため、上記のようにしてRAM62に対しては、予めアドレス対応に実際にディスクD16に記録される主データの内容を格納しておくことができる。
また、これと共に、上記のようにしてアドレス対応に格納された副データの値を参照することで、特定された所定長ランドの奇数番目と偶数番目のうちマークを挿入すべき方を特定できる。
具体的に、そのアドレスに対応付けられて格納された値が”0”であった場合は、先の図5にて示したようにして、そのアドレスのアドレスユニット内では奇数番目の所定長ランドに対してマークを挿入すべきものとなり、また”1”であった場合は偶数番目に挿入すべきものとして認識することができる。
さらに、この場合マークは、上述もしたように記録対象ランドの中央部分に挿入すべきものとされている。従って、上記のように記録対象ランドを特定した上で、マークがそのランドの中央部に記録されるタイミングでHレベルとなる記録パルス信号Wrpを生成するようにされる。
このようなデータ列に基づくことで、記録パルス生成回路63は、先の図5において示したような然るべきマーク記録位置のタイミングでのみHレベルとなる記録パルス信号Wrpをレーザパワー制御部64に供給することができる。
先ず、ステップS101では、ディスクD16が装填される。また、ステップS102では副データが入力される。副データ記録装置50に対して入力された副データは、図4においても示したように副データ発生回路61に供給される。
先にも述べたように、ここで入力される副データとしては、ディスクD16(ディスク100)ごとに固有となる識別情報とエラー訂正符号とを含むデータとなる。
なお、ここでは副データの入力がディスク100の装填後に行われるものとしているがこれらが前後しても構わない。
つまり、このステップS103の動作は、副データ発生回路61内の記録パルス生成回路63が入力された副データの各値を、先の図6に示した構造によるRAM62に対してアドレスごとに格納する動作に相当する。
このステップS104は、記録パルス生成回路63が、以下で説明するようにして各アドレスごとにデータ列を生成する動作を行うにあたり、内部のカウンタの値を初期値N0に設定する動作である。
つまり、これによって1アドレスユニット分のチャンネルビット数によるデータ列として、上記のように偶数番目となる所定長ランドの中央部となるタイミングでのみ”1”となり、それ以外の符号がすべて”0”となるデータ列が生成される。
一方、副データの値が”0”であったと判別した場合、記録パルス生成回路63は、Nアドレス内の主データ中の所定長ランドについて、その奇数番目の中央部となる位置に”1”を挿入したデータ列を生成する(ステップS107)。つまり、これによって1アドレスユニット分のチャンネルビット数によるデータ列として、上記のように奇数番目の所定長ランドの中央部となるタイミングでのみ”1”となり、それ以外の符号がすべて”0”となるデータ列が生成される。
先の説明からも理解されるように、このようなデータ列の生成は、記録パルス生成回路63が、RAM62に各アドレス対応に格納される主データの内容に基づき、偶数番目或いは奇数番目の所定長ランドの特定、及びそのランドの中央部となるビット位置を特定することで行うことができる。
カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Nを1インクリメント(ステップS109)した後、先のステップS105に戻るようにされる。これによって副データ記録対象区間の全てのアドレスユニットについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。
この副データの記録開始に応じては、先ず、ディスク100上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークする動作を行う(ステップS111)。このステップS111のシーク動作は、例えば副データ記録装置50の全体制御を行うコントローラが、予め定めれた副データ記録対象区間のアドレス情報に基づいて必要な各部を制御することで行うことができる。
また、この記録パルス信号Wrpの出力は、アドレス検出回路14から供給されるアドレス情報として、上記記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始する。
続いては、これまでの説明のようにして反射膜102に対して形成されたマークによって副データが記録されるディスク100について再生を行う再生装置1の構成について、次の図8のブロック図を参照して説明する。
なお、図8では、主に副データの再生に係る部分のみを抽出して示しており、主データの再生系の構成として特に2値化処理後段の復調系の構成については省略している。
また、ここでは、図中破線により囲った反転回路15、及び判定回路16はないものとして説明する。
なお、図示は省略したが、この場合の光ピックアップOPにおいても、レーザ光源となるレーザダイオード、レーザ光をディスク100の記録面に集光・照射するための対物レンズ、対物レンズをトラッキング方向及びフォーカス方向に変位可能に保持する2軸機構、ディスク100からの上記レーザ光照射に基づく反射光を検出するフォトディテクタ等が備えられている。
また、確認のために述べておくと、再生装置1においてディスク100に照射するレーザ光は再生パワーによるものである。
また、図示はしていないが、このマトリクス回路4にて生成される信号としてはトラッキングエラー信号TE、フォーカスエラー信号FEもある。これらは図示されないサーボ回路に供給されてそれぞれトラッキングサーボ、フォーカスサーボ制御動作に用いられる。
2値化回路5は、供給される再生信号RFを”0””1”の2値化データに変換する。そして、この2値化データをPLL回路8、同期検出回路9、アドレス検出回路10に対して供給する。
また、2値化データは後述する検出パルス生成部12内の検出パルス生成回路12aに対しても供給される。
同期検出回路9は、供給される2値化データから先の図3に示したフレームごとに挿入されるsync部分を検出する。具体的には、この場合のsyncパターンとされる9T区間を検出してフレーム同期検出を行う。
フレーム同期信号はアドレス検出回路10を始めとした必要な各部に供給される。
この検出パルス生成部12内には、検出パルス生成回路12aとRAM12bとが備えられる。検出パルス生成回路12aは、RAM12bに格納した情報に基づいて上記検出パルスDpを生成する。そして、生成した検出パルス信号DpをA/Dコンバータ11に対して供給する。
副データ検出回路13は、A/Dコンバータ11から供給される値について所定演算を行って副データの各値を検出する。つまり、例えばこの場合は先に述べた「odd−even」に対応する演算を行った結果に基づいて副データの各値を検出することになる。
なお、これら検出パルス生成部12、A/Dコンバータ11、副データ検出回路13により行われる副データの値の検出動作については後述する。
この場合の副データとしては、識別情報とエラー訂正符号を含むものである。このECC回路14では、副データ中の上記エラー訂正符号に基づきエラー訂正処理を行うことによって上記識別情報を再生する。
ホストコンピュータ6は、当該再生装置1の全体制御を行う図示されないコントローラに対してコマンドの送出を行って各種の動作を指示する。例えば、ディスク100に記録される主データの再生を指示するコマンドの送出を行う。これに応じてディスク100から再生された主データは、2値化回路5にて2値化された後に図示されない復調系にて復調(RLL1−7PP復調)やエラー訂正処理等が為されてこのホストコンピュータ6に供給されることになる。
また、このホストコンピュータ6に対しては、所要のネットワークを介したデータ通信を行うためのネットワークインタフェース7が備えられている。これによりホストコンピュータ6は例えばインターネット等の所定のネットワークを介した外部機器、特に図示する管理サーバ70との間でデータ通信が可能とされている。
なお、ホストコンピュータ6及び管理サーバ70による本実施の形態としての動作については後述する。
図9では、ディスク100上の1アドレスユニットに対し、副データの1ビットの値としてそれぞれ”0”が割り当てられた場合と”1”が割り当てられた場合とでのマークの記録状態を示している。なお、この図では説明のため、主データとしてのピットとランドが同じパターンで形成された場合を示している。
また、符号の表現方法としては、この場合、所定長のランドのうち奇数番目にマークを記録した場合は”0”、偶数番目にマークを記録した場合は”1”を定義している。つまり、図示するようにして符号”0”のときは、そのアドレスユニット内では所定長のランドのうちの奇数番目にのみマークが記録される。また、符号”1”のとき、そのアドレスユニット内では所定長のランドのうちの偶数番目にのみマークが記録されたものとなる。
副データの再生では、このようなマーク記録部分での微少な反射率の変化に基づき各値を判定する動作を行うことになる。
従ってこの場合、各アドレスユニットに割り与えられた副データの各値を判定するにあたっては、そのアドレスユニット内の所定長ランドについて奇数番目と偶数番目のどちらの方で再生信号RFの値が低下しているかを検出すればよいことになる。
この際、上述のようにして符号”0”のときは奇数番目のみ、符号”1”のときは偶数番目のみにマークが記録されるということは、換言すれば、符号”0”のときは必ず偶数番目が未記録部分、”1”のときは奇数番目が必ず未記録部分となることがわかる。
このことから、隣合う奇数番目(odd)と偶数番目(even)について、「odd−even」による演算を行うことで、oddとevenのどちらで再生信号RFの値が低下している(マークが記録されている)かを調べることができる。
具体的に、この「odd−even」が負の値であれば奇数番目での再生信号RFの値が低下しているものであり、よって奇数番目にマークが記録されていることがわかる。逆に「odd−even」が正の値であれば偶数番目の値の低下となり、偶数番目にマークが記録されていることがわかる。
このため、副データの再生動作としては、上記のように隣り合う奇数番目と偶数番目の組ごとに算出した「odd−even」の値を積分し、この積分値に基づいてそのアドレスユニットに割り当てられた1ビットの値を判定するものとしている。このようにすることで、副データの値をより確実に検出することができる。
そして、このような検出パルス信号Dpの生成にあたっては、先の副データ記録装置50の場合での記録パルス信号Wrpの生成と同様に、ディスク100上の副データ記録対象区間において記録される主データの内容から該当するタイミングを生成すればよい。
検出パルス生成部12内の検出パルス生成回路12aでは、このようにRAM12bに格納される記録対象区間内の主データの内容に基づいて、先の記録パルス信号Wrp生成の場合と同様に、該当するタイミングでのみ”1”となりそれ以外が全て”0”となるデータ列を生成する。そして、このように生成したデータ列に基づく検出パルス信号Dpを生成してこれをA/Dコンバータ11に供給する。この検出パルス信号Dpにより指示されるタイミングでA/Dコンバータ11が再生信号RFの値をサンプリングすることで、先の図9に示したような適切なタイミングで再生信号RFの値をサンプリングすることができる。
先ずステップS201においてディスク100が装填されると、ステップS202におて、ディスク100上の副データ記録対象区間について、アドレスごとに主データを格納する動作を行う。
ここで、ディスク100の装填に応じては、例えば図8に示したホストコンピュータ6の指示に応じて、予め副データ記録装置50との間で定められた副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークして当該記録対象区間に記録される主データを読み出す動作が実行される。このように読み出される主データについて、図8に示した検出パルス生成回路12aは、2値化回路5から供給される2値化データを、アドレス検出回路10から供給されるアドレス情報に基づき各アドレスごとにRAM12b内に格納する。
このステップS203は、検出パルス生成回路12aが再生信号RFのサンプリングタイミングを示すデータ列を、次に説明するようにして各アドレスユニットごとに生成する動作を行うにあたり、内部のカウンタの値を初期値N0に設定する動作である。
このステップS204の動作は、検出パルス生成回路12aがRAM12b内に格納した主データの内容を参照して行う。つまり、検出パルス生成回路12aは、RAM12b内においてNアドレスに対応づけられて格納された主データについて、その中の所定長ランドの中央部となる位置のみが”1”となりそれ以外が全て”0”によるデータ列を生成する。例えばこの場合では、5Tのランドに対してマークを記録するようにされているので、この5T区間の3番目となるビット位置のみが”1”となり、それ以外が全て”0”となるデータ列を生成すればよい。
このような動作により、Nアドレスのアドレスユニット内でのサンプリングポイントを示すデータ列が生成される。
カウンタの値が上記所定値に達していないとして否定結果が得られた場合は、アドレス値Nを1インクリメント(ステップS206)した後、ステップS204に戻るようにされる。これによって副データ記録対象区間の全てのアドレスユニットについて上記データ列を生成する動作を行うようにされる。
この副データの再生開始に応じてはディスク100上の副データ記録対象区間の先頭アドレスにシークする動作が行われる(ステップS209)。このステップS209のシーク動作は、例えば図8に示したホストコンピュータ6が予め定めれた副データ記録対象区間のアドレス情報に基づき、先に述べたコントローラ(図示せず)に対する指示を行うことで実現される。
また、この検出パルス信号Dpの出力は、アドレス検出回路14から供給されるアドレス情報として、上記記録対象区間の先頭アドレスの情報が供給されたことをトリガとして開始する。
このステップS210の動作は、A/Dコンバータ11と副データ検出回路13によって行われる。
つまり、A/Dコンバータ11は、上記検出パルス生成回路12aから供給される検出パルス信号Dpにより指示されるタイミングでマトリクス回路4から供給される再生信号RFの値をサンプリングする。そしてその値を副データ検出回路13に出力する。
副データ検出回路13では、A/Dコンバータ11から供給される値について奇数番目に供給された値から偶数番目に供給された値を減算することで図9にて説明した「odd−even」の演算を行う。そしてこのように演算された「odd−even」の値を1アドレスユニットごとに積分し、この積分値に基づいて副データの値を検出する。
なお、本実施の形態としての、このようなホストコンピュータ6に供給された識別情報を利用しての動作については後述する。
これまでで説明してきたようにして、ディスク100の反射膜102に対して形成されるマークによって、副データについての記録再生を行うことができる。
ここで、先にも述べたように、反射膜102に形成されるマークは、ピットとランドの組み合わせにより記録される主データの再生に影響を与えないように記録されるので、主データについて再生するのみでは副データが再生されることはない。従ってこのような反射膜102上のマークにより記録される副データは、ディスク100の再生信号をコピーする海賊版ディスクにコピーされてしまうことがないというメリットがある。
この様子を図23(a)に示しているが、図中Xと示すマーク記録部分では、温度上昇に伴う例えば熱膨張等が生じた場合、基板101に凹形の窪みが生じてしまうことになる。
マーク記録部分に応じて残された凹形状の部分では、回折により微少に反射率が低下することになる。すなわち、このような基板101の形状が物理的に転写されてしまった場合は、副データがそのまま再現された海賊版ディスクを製造することが可能となってしまう。なお、物理的転写による海賊版ディスクとしては、凹形状の窪みが生じた基板101を基にスタンパを作成し、このスタンパを基にレプリカ基板を作成することで大量生産が可能となってしまう。
つまり、このような極性の違いを利用して、想定される極性で副データの値が得られるか否かを判断することで、正規版ディスクと海賊版ディスクとの判定を行うことができるようにするものである。
その特性を次の図12に示す。
この図において、実線により示す特性は、副データ記録装置50によってマーク記録を行った正規版のディスク100についての特性を示し、破線の特性は、正規版のディスク100について物理転写を行った海賊版ディスクについての特性を示している。
先ず、マーク記録は、ディスク100の所定長のランドとして、5Tのランドを対象として行った。また、ディスク100の反射膜102の材料としては、AgSn合金を採用し、膜厚40nmを成膜した。
また、このディスク100を製造するにあたり副データ記録装置50にて設定した各条件は以下のとおりである。
開口数NA=0.85、レーザ波長λ=405nm、記録線速度=4.9m/s、マーク記録パルス=30ns
また、ディスク100(主データ記録ディスクD16)の構造としては、実施の形態で例示しているブルーレイディスクに準拠したもので、トラックピッチTpは320nm、1Tの長さが78nm、ピット幅はTp/3、ピット深さはλ/5である。
なお、実験で用いた海賊版ディスクは、上記条件によりマーク記録を行ったディスク100から反射膜102を剥離して基板101を抽出し、この基板101から物理転写して得たスタンパを基に成型した基板101に対し、反射膜102を成膜して生成したものである。
一方、破線により示す海賊版ディスクでは、同じレーザパワーの変化に対し、Amplitudeの値が0レベルよりも小さな値で低下していき、再生信号レベルが低下していることがわかる。
このことから本実施の形態としてのディスク100としては、これを物理転写した海賊版ディスクとはマーク記録部分での再生信号RFの極性が異なるようにされていることがわかる。つまり、これによって正規版のディスク100とこれを基に作成した海賊版ディスクとで、マーク記録部分で再生信号RFの極性がそれぞれ異なるようにすることができる。
図13(a)では基板101の平面の観察結果を示し、図13(b)では図13(a)中の実線Xにより示す切断面での基板101の断面形状を観察した結果を示している。また、図13(b)に示される破線a〜eは、図13(a)に示される破線a〜eの位置を示すものである。
これらの図を参照してわかるように、マーク記録部分Mでは、通常のランド部分の深さ(例えばc〜d)と比較して深さがより深くなっていることが確認できる。このことからも、マーク記録に伴って基板101に凹形状による変形を与えていることが理解できる。また、マーク記録部分Mのマーク幅は、図13(b)において深さが通常ランド部分よりも深くなっている部分の幅としてみることができるが、この場合、マーク幅は図示するように破線a〜bにより示される1トラック分の幅よりも若干広い幅となっていることが確認できる。
この図14では、マーク深さを縦軸に、マーク反射率を横軸にとった場合での、マーク記録部分での再生信号RFの値からマークの未記録部分での再生信号RFの値を減算した差分信号(先の図12に示したAmplitudeと同じ)の変化特性を示している。
なお、この図14の計算結果を得るにあたって設定した光学条件を、次の図15により説明すると、先ず、トラックピッチTpは320nm、ピット幅はTp/3(320/3nm)、ピット深さはλ/5とした。また、マークMは、図示するようにマーク幅Mw=マーク長さMlによる正方形を想定し、6Tのランド部分に形成するものとした。この場合、1Tの長さは78nmとし、6Tの長さは468nmである。また、図示はしていないが、この場合のレーザ波長λは405nmであり、開口数NAは0.85である。
また、マーク振幅反射率Rmは、Rm=Am exp(4×pi×i×N×d)とし、Rim-intensityは100%とした。さらに、計算上の単位セルは、22T×3トラックとした。
なお、先の図12にて説明した光学条件と比較してわかるように、この場合のレーザ波長λ、開口数NA、トラックピッチTp、ピット幅、ピット深さの条件は、本例のディスク100(D16)と同等となるように設定した。
これら図14(a)〜(c)において、先ず、マークMが未形成であるとすると、マーク深さは「0」、マーク反射率は「1」となる。このようにマークMが未形成であるマーク深さ「0」マーク反射率「1」の交点では、各図において示されるように「記録部分−未記録部分」に基づく差分信号の値は「0」となる。
先に本出願人は、国際公開番号WO01/008145において様々な組成の反射膜102についてマーク記録実験を行った結果より、マーク記録部分で反射率が上昇する場合とマーク記録部分で反射率が上昇しない場合とがあることを確認している。
一例として、マーク記録部分で反射率が上昇する反射膜102の組成としては、Ag95.5Cr4.5等が挙げられ(下付数字は各元素の割合を示す)、またマーク反射率が上昇しない組成としてはAg95.0Si5.0等が挙げられている。
但しこの場合、図示するようにマーク幅Mw=0.5Tpとした場合は、マーク反射率が上昇せずに再生信号レベルが上昇する部分は殆ど得られないことがわかる。一方、マーク幅Mwが1.0Tp、1.5Tpと拡大されるのに応じて、マーク反射率が上昇せずに再生信号レベルが上昇する部分が拡大される傾向となっていることがわかる。
このような特性によると、この場合はマーク幅Mw(つまりマークサイズである)が小さすぎると、マーク反射率が上昇せずに再生信号レベルが上昇する部分が得られなくなり、よってマーク記録部分で再生信号レベルを上昇させることができない可能性があることがわかる。
従って、マーク記録部分での再生信号レベルを上昇させるためには、マークサイズの大きさが1要素となることがわかる。
このシミュレーション結果によると、図16(a)に示すMw=0.5Tpのときは、マーク深さを2nmとしたときにわずかながら差分信号が0レベルから上昇し、再生信号レベルが上昇することがわかる。そしてマーク深さをより深くしていくと、差分信号は負の値に転じ、再生信号レベルが低下することがわかる。
また、マーク幅Mw=Tpのときは、マーク深さを2nm、4nmと拡大したときに差分信号が0レベルよりも大きくなり、さらに深くした場合には再生信号レベルが低下する。
また、マーク幅Mw=1.5Tpとしたときは、マーク深さを深くするに従って差分信号のレベルが上昇し、マーク深さを深くするほど再生信号レベルがより上昇する傾向となることがわかる。
よって、実際の記録としては、レーザパワーの上昇に応じてマーク深さとマーク幅Mwの双方が拡大されることになる。
このことを踏まえると、先の図14の特性としては、実際にはマーク深さが拡大されることで、図14(a)→(b)→(c)の遷移に示すような差分信号の特性の変化が同時的に生じるものとして捉えることができる。
このように海賊版のディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するのは、以下のような原理による。
反射膜102に対して記録パワーによるレーザ光を照射した場合、再生光学系が対象とすることになる反射面は、実際には反射膜102の表面ではなく、例えば次の図17(a)中の破線により示されるように基板101と反射率102との間にあることが知られている。ここでは、このように再生光学系が対象とすることになる反射面を光学的な反射面と呼び、その深さを光学的な深さと呼ぶ。
これに対し海賊版ディスクとしては、このように光学定数の変化した反射膜102を一旦剥離した後、物理的転写により得た基板101(レプリカ基板)に反射膜102を再成膜することになるから、図17(c)に示されるようにして基板101の窪み形状に忠実に光学的な深さがつくため、正規版の場合の光学的な深さよりもさらに深い位置となる。
このことを、次の図18を用いて説明する。なお、この図18では、先の図14(b)と同様の差分信号特性を示している(マーク幅Mw=Tpのとき)。
この図において、正規版ディスクに対し記録されたマークの深さが図中pSKであったとすると、上記のようにして海賊版ディスクの方が光学的な深さがより深くなっているとすれば、海賊版ディスクでのマーク深さは、例えば図中pKZと示すような位置となり得る。
つまり、このようにして海賊版ディスクの方が光学的な深さがより深くなるようにされることで、正規版ディスクでは差分信号の値が正極性側であったものが、図中の矢印により示すように差分信号=「0」を超えて負極性側に転じることになり、これによって海賊版ディスクと正規版ディスクとで再生信号の極性が逆となるようにされるものである。
例えば、図18において、仮にディスク100に記録されたマークのマーク深さが図中のpSKの位置よりもかなり浅かったとすると、図中pKZの位置は、差分信号=0のラインの外側には位置せず、再生信号レベルが正規版ディスクと同様のプラスの値となってしまうことも考えられなくはない。
従ってこのことによると、この場合のマーク深さとしては、海賊版ディスクで再生信号レベルが低下するか否かを決定づける要素にもなっているということができる。
このことから、ディスク100(主データ記録ディスクD16)に対しては、このように正規版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが上昇し、且つ海賊版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さによりマークが記録(形成)されることで、正規版としてのディスク100と海賊版ディスクとで、マーク記録部分で得られる再生信号RFの極性を逆にすることができる。
先に述べたディスク100、副データ記録装置50について設定した光学条件は、このように正規版ではマーク記録部分の再生信号レベルが上昇し、且つ海賊版ではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するようなマークサイズ及びマーク深さが得られる条件を満たしているものである。
これによって、図12に示した実験結果のように、正規版のディスク100と海賊版ディスクとで、マーク記録部分で得られる再生信号レベルの極性を逆にすることができる。そして、このような正規版と海賊版とでの再生信号RFの極性の違いから、正規版ディスクと海賊版ディスクとを判定することができる。
このようにマーク反射率が上昇することで再生信号レベルが上昇する場合にも、上記と同様に正規版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが上昇し、且つ海賊版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さによりマークが記録(形成)されることで、正規版としてのディスク100と海賊版ディスクとで、マーク記録部分で得られる再生信号RFの極性を逆にすることができる。
そして、このような点pSKで特定されるようなマーク深さ及びマーク反射率によるマークが記録された正規版ディスクに基づき、海賊版ディスクが生成された場合について考察してみると、先ずマーク深さについては、先の図17の説明によれば海賊版ディスクでは基板101の窪み形状に忠実に光学的な深さがつくことになるため、この場合としても海賊版の方が正規版よりも光学的な深さがより深いものとなる。
また、反射率については、海賊版では新たに反射膜102を成膜することになるので、マーク部分での反射率は「1」に戻ることになる。
これらのことより、この場合における正規版ディスクから製造される海賊版ディスクのマーク深さ及びマーク反射率は、例えば図19中のpKZにより示されるような値となり得る。つまり、このようなpSKからpKZへの変化のように、差分信号の値が「0」を超えて負極性側に転じるようになることで、この場合としても海賊版ディスクと正規版ディスクとで再生信号RFの極性が逆転するものである。
つまりは、この場合としても、正規版ディスクに形成されるマークの深さ及びサイズが、海賊版ディスクと正規版ディスクとで再生信号RFの極性が逆となるか否かを決定づける要素となることが理解できる。
このように海賊版と正規版とで光学的深さが同等となる場合であっても海賊版と正規版とでマーク部分の再生信号RFの極性が逆転するケースとしては、次の図20に示すようなケースが考えられる。
なお、この図20においても先の図18、図19と同様にマーク幅Mw=Tpとしたときの差分信号特性のシミュレーション結果を示している。
そして、この場合は正規版ディスクと海賊版ディスクとで光学的深さが同等となることを前提としているので、正規版と海賊版とではマーク深さの差は生じず、従ってマーク反射率が「1」に変化するのみとなる。つまり、この図の例では正規版ディスクのマーク深さ及びマーク反射率を表す上記したpSKに対し、海賊版ディスクにおけるマーク深さ及びマーク反射率は、マーク反射率のみが「1」に変化することで図中pKZの位置となり、差分信号=「0」のラインを超えて負極性側に転じるものとなる。
このことから、マーク反射率が上昇して再生信号レベルが上昇する場合において、正規版ディスクと海賊版ディスクとで光学的深さが変わらないことを前提とした場合としても、正規版ディスクに対し形成されるマークの深さ及びサイズが、海賊版ディスクと正規版ディスクとで再生信号の極性が逆転するか否かを決定づける要素になることがわかる。
換言すれば、この場合としてもディスク100(主データ記録ディスクD16)に対しては、正規版ディスクでマーク記録部分の再生信号レベルが上昇し且つ海賊版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さによりマークが記録(形成)されることで、正規版としてのディスク100と海賊版ディスクとで、マーク記録部分で得られる再生信号RFの極性を逆にすることができることに変わりはないことになる。
さらには、5T(及び6T)のランドではなく他の長さのランドを対象としてマーク記録を行うこともできる。
但し、このようにディスク100(D16)での条件やマークが記録されるランドの長さが変われば、記録されるマークのサイズ及び深さとの相対的な関係も変わるので、図14に示した特性と同じ差分信号特性が得られないことになる。
しかしながら、同じピット・ランドの組み合わせにより主データが記録されるディスクに対してマーク記録を行う条件であれば、図14とは異なるがそれと類似した差分信号特性が得られる(特に反射率が上昇せずに再生信号レベルが上昇することを前提とした場合には、図14にて色つき部分で示したような、マーク反射率が上昇せずに再生信号レベルが上昇する部分が得られる差分信号特性が得られる可能性がある)ので、その場合には、副データ記録装置50として、このように図14の場合とは異なるものとされた差分信号特性に応じて、正規版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが上昇し、且つ海賊版ディスクではマーク記録部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さによってマーク記録を行うことのできる条件が設定されることで、同様に正規版ディスクと海賊版ディスクとで再生信号の極性が反転するディスク100を生成することができる。
つまり、この場合において「odd−even」による演算結果としては、符号”0”に対応しては正の値が得られ、符号”1”に対応しては負の値が得られることになる。
以下では、このような本実施の形態としてのディスク100の特性を利用して海賊版ディスクの判定を可能とする、本実施の形態としての再生装置1の構成について説明する。
この場合、反転回路15には、副データ検出回路13にて検出された副データの値が供給される。この反転回路15は、供給された副データの値についてその極性を反転し、これをECC回路14に対して供給するようにされる。
このことから、上記のように反転回路15により値の反転を行うことで、記録したものと同じ副データの値を得るようにしている。すなわち、このように反転回路15を設けた再生装置1によれば、正規に製造された本実施の形態のディスク100からは、記録時と同じ副データの値を検出することができる。
すなわち、これによって海賊版ディスクからは正しい副データの値を得ることができないようにすることができる。
逆に、海賊版ディスクからの誤った極性による副データの値については、エラー訂正符号としても逆極性となるので正常にエラー訂正処理を行うことができず、副データの内容(識別情報)を正しく再生することができなくなる。
このことから、このECC回路14でのエラー訂正処理の結果から、副データの値として適正とされる極性が得られているかを判別することができ、この極性の判別結果から正規版のディスク100であるか海賊版ディスクであるかを判定することができる。
そこで、判定回路16としては、海賊版ディスクが判定されたことに応じて、副データ検出回路13にて検出された副データの値を正しい極性に変換した上で、これを再度ECC回路14にてエラー訂正処理して識別情報を再生させる動作を行う。
先ず、判定回路16は、ECC回路14におけるエラー訂正処理にエラーがあったか否かについて判別を行う(ステップS301)。すなわち、これによって副データ検出回路13にて検出された副データの値として適正な極性が得られたか否かについて判別が行われるもので、この判別結果に基づいて正規版のディスク100であるか海賊版ディスクであるかの判定が行われるものである。
このリーガルビットは、正規版のディスク100であることを示す情報となる。
続くステップS303においては、このように生成したリーガルビットと、ECC回路14のエラー訂正処理によって得られた識別情報とをホストコンピュータ6に転送する動作を行う。
つまり、このような動作によって、正規版のディスク100が判定されることに伴っては、ホストコンピュータ6に対して正規版を示すリーガルビット”1”と識別情報とが転送されることになる。
すなわち判定回路16は、ECC回路14に対して供給された副データの値を反転回路15に対して供給してこれを反転するように指示を行う。ここで確認のために述べておくと、本実施の形態の再生装置1において海賊版ディスクについて副データ検出回路13で検出される副データの極性は、非反転であり、これが反転回路15にて反転されることで適正ではない極性とされるものである。従って、上記のようにしてエラーとなった副データの値については反転回路15で再度反転することで、適正な極性に変換できる。
ステップS306の判別動作において、再度エラー有りとして肯定結果が得られた場合は、図示するようにしてエラー処理となる。このように再度エラーとなった場合は、ディスクに記録された副データ自体が誤ったものであるか、或いは何らかの要因により副データ検出回路13での検出動作が適正に行われなかった可能性が高い。そこで、例えば上記エラー処理としては、例えば判定回路16はその旨を示す情報をホストコンピュータ6に転送し、これに応じホストコンピュータ6は副データの検出動作をリトライするように制御を行う等の動作が実行されればい。
そして、続くステップS308では、このように生成したイリーガルビットと、上記したECC回路14での再度のエラー訂正処理によって得られた識別情報とを、ホストコンピュータ6に対して転送する動作を行う。
これによって海賊版ディスクが判定された場合に対応しては、ホストコンピュータ6に対して海賊版であることを示すイリーガルビットと、そのディスクからの識別情報とが転送される。
ホストコンピュータ6は、このようにして判定回路6から転送されるリーガルビット又はイリーガルビットと識別情報とを、図示するネットワークインタフェース7を介して外部の管理サーバ70に対して送信する。
管理サーバ70は、ディスク100の販売元等、ディスク100に記録される主データ(コンテンツデータ)についての著作権管理を行う業者側によって管理されるべき装置である。この管理サーバ70では、再生装置1側からリーガルビットが送信されることで、再生装置1に装填されたディスクが正規版ディスクであることを認識できる。
一方、再生装置1側からイリーガルビットが送信されてきた場合は、海賊版ディスクの存在を認識することができ、またこのイリーガルビットと共に送信されてきた識別情報を参照することで、当該識別情報が記録されたディスク100についての海賊版ディスクが流通していることを認識することもできる。
このようにすれば、海賊版ディスクについてはそこに記録される主データの再生を行わないようにすることができる。
つまり、この場合は、正規版のディスク100から検出される従来とは反転となる副データの値に対応して、反転回路15を設けることによって、正規版ディスクからは正しく副データとしての識別情報を再生することができ、また逆に海賊版ディスクからは識別情報が再生できないようにすることができる。
この場合としても、副データ記録装置50と再生装置1側とで共通となるように、上記のような符号の表現方法、及び副データの1ビットに割り当てる区間についての規則が定められていれば、再生装置1において副データを適正に再生することができる。
しかしながら、このようにして検出された副データの値が適正な極性により得られたか否かについて判別するための構成としてはこれ以外にも多様に考えられる。
例えば、予め定められた副データの所定のビット位置に極性判定用のビットを挿入するようにしておく。正規版であればこの所定位置のビットは適正とされる値(極性)で得られる。また海賊版では逆の極性となるので、再生装置1では、このように挿入されたビットの値を判定することによっても海賊版ディスクを判定できる。
但し、この場合において、正規版から適正な極性が得られるようにするにあたっては、逆にディスク100に対して予め極性を反転させた副データの値を記録するということも可能である。このようにした場合、再生装置1では、副データ検出回路13における検出の時点で、正規版のディスク100からは適正な極性(つまり記録したものと同極性)が得られるので、副データ検出回路13にて検出される副データの値について常に極性反転を行うようにされる反転回路15は設ける必要がない。
但し、先の図22のフローチャートを参照してわかるように、外部に対して海賊版ディスクの識別情報を通知するとした場合には、海賊版ディスクからの適正でない極性による副データを再度反転してエラー訂正処理する必要がある。そこで、このための反転回路を設けることは必要となる。
また、第2としては、逆に「even−odd」を演算するように構成することで、それぞれの差分値の極性が逆となるようにし、これによって適正な副データの値が検出されるようにするものである。
このようにした場合としても、結果的に副データ検出回路13における検出の時点で正規版のディスク100からは適正な極性が得られるので、副データ検出回路13にて検出される副データの値について常に極性反転を行うようにされる反転回路15を設ける必要はなくなる。
Claims (12)
- 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し、且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するように構成されている光ディスク記録媒体について再生を行う再生装置として、
上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して上記再生信号を生成する再生信号生成手段と、
上記再生信号生成手段により生成された上記再生信号の値を所定のサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出手段と、
上記副データ検出手段によって検出された上記副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別した結果に基づき、上記光ディスク記録媒体が正規版ディスクであるか否かについて判定する判定手段と、
を備えることを特徴とする再生装置。 - 上記副データは、所要のデータ内容を有する実データと、少なくともこの実データについてエラー訂正処理を行うためのエラー訂正符号を含んで構成されており、
さらに、上記副データ検出手段により検出された上記副データの値の極性を反転させる反転手段と、
上記反転手段から供給される上記副データの値から上記エラー訂正符号に基づく上記実データのエラー訂正処理を行うエラー訂正手段を備えると共に、
上記判定手段は、
上記エラー訂正手段にて上記エラー訂正処理が正しく行われたか否かについて判別を行うことで、上記副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別するように構成されている、
ことを特徴とする請求項1に記載の再生装置。 - 上記副データは、上記光ディスク記録媒体ごとに固有となる識別情報と、少なくともこの識別情報についてエラー訂正処理を行うためのエラー訂正符号を含んで構成されており、
さらに、上記副データ検出手段により検出された上記副データの値の極性を反転させる反転手段と、
上記反転手段から供給される上記副データの値から上記エラー訂正符号に基づく上記識別情報のエラー訂正処理を行うエラー訂正手段と、
所要のネットワークを介して外部機器に対して所定情報を送信する送信手段と、備えると共に、
上記判定手段は、
上記エラー訂正手段にて上記エラー訂正処理が正しく行われたか否かについて判別を行うことで、上記副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別して上記光ディスク記録媒体が正規版ディスクであるか否かについて判定すると共に、
正規版ディスクではないと判定した場合は、
上記反転手段により反転された上記副データの値を上記反転回路に供給して極性反転させた後に再度上記エラー訂正手段における上記エラー訂正処理を行わせ、これによって得られる上記識別情報を上記送信手段に対して供給するように構成され、
上記送信手段は、上記所定情報として、上記判定手段から供給された上記識別情報を上記外部機器に対して送信する、
ことを特徴とする請求項1に記載の再生装置。 - 上記副データ検出手段は、
上記所定のサンプリングポイントにて検出される上記マークの記録部分と未記録部分とでの上記再生信号の値の差分値に基づいて上記副データの値を検出する、
ことを特徴とする請求項1に記載の再生装置。 - 上記副データ検出手段は、
上記所定のサンプリングポイントにて検出される上記マークの記録部分と未記録部分とでの上記再生信号の値の差分値を求めると共に、この差分値についての積分値に基づき上記副データの値を検出する、
ことを特徴とする請求項1に記載の再生装置。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し、且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するように構成されている光ディスク記録媒体について再生を行う再生方法として、
上記光ディスク記録媒体に対して照射した再生パワーによるレーザ光の反射光を検出して上記再生信号を生成する再生信号生成手順と、
上記再生信号生成手順により生成した上記再生信号の値を所定のサンプリングポイントにて検出した結果に基づき、上記副データの値を検出する副データ検出手順と、
上記副データ検出手順によって検出された上記副データの値が適正とされる極性により得られたか否かについて判別した結果に基づき、上記光ディスク記録媒体が正規版ディスクであるか否かについて判定する判定手順と、
を備えることを特徴とする再生方法。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体について、所定長の上記ランドを対象として記録パワーによるレーザ光照射を行って上記反射膜にマークを形成することによって副データを記録する記録装置であって、
上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されるようにして、上記記録パワーによるレーザ光照射を行って上記副データを記録する記録手段を備える、
ことを特徴とする記録装置。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録される光ディスク記録媒体について、所定長の上記ランドを対象として記録パワーによるレーザ光照射を行って上記反射膜にマークを形成することによって副データを記録する記録方法であって、
上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されるようにして、上記記録パワーによるレーザ光照射を行って上記副データを記録するようにした、
ことを特徴とする記録方法。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体を製造するためのディスク製造方法として、
上記主データを上記ピット及びランドの組み合わせによって記録したディスク原盤を生成する原盤生成工程と、
上記ディスク原盤をもとに作成したスタンパによって上記基板を生成すると共に、上記基板に対して少なくとも上記反射膜と上記カバー層を積層することで、上記主データのみが記録された主データ記録ディスクを製造するディスク形成工程と、
上記主データ記録ディスクについて上記副データの記録を行う副データ記録工程とから成り、
上記副データ記録工程では、
上記マークを所定長の上記ランドを対象として形成するにあたり、上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されるようにして、上記記録パワーによるレーザ光照射を行って上記副データを記録する、
ことを特徴とする光ディスク製造方法。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、記録パワーによるレーザ光の照射により上記反射膜に形成されたマークによって副データが記録される光ディスク記録媒体であって、
所定長の上記ランドを対象として、上記マークの形成部分での再生信号レベルは上昇し且つ上記光ディスク記録媒体の上記基板の形状を物理的に転写して生成した光ディスク記録媒体では上記マークの形成部分での再生信号レベルが低下するマークサイズ及びマーク深さにより上記マークが形成されている、
ことを特徴とする光ディスク記録媒体。 - 基板と、上記基板に対して少なくとも反射膜とカバー層を積層して形成され、上記基板上に形成されたピット及びランドの組み合わせによって主データが記録されると共に、所定長の上記ランド部分を対象としたレーザ光の照射が行われて、再生信号レベルが上昇するマークサイズ及びマーク深さにより上記反射膜に形成されたマークによって、極性判別される副データが記録されている
光ディスク記録媒体。 - 上記副データの値の極性は、上記ランド部分を対象として形成されたマーク部分の再生信号レベルが上昇する性質を利用して判別される請求項11に記載の光ディスク記録媒体。
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