JP4357315B2 - 部品固定治具 - Google Patents

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Description

本発明は、ハンドリングが困難な電子部品、例えばフレキシブルプリント配線基板等を搭載固定したり、あるいは作業効率の効率化のために電子部品を固定する部品固定治具に関するものである。
携帯電話に代表される携帯機器には、配線基板が内蔵されるが、この配線基板としては、折り曲げ実装可能なフレキシブルプリント配線基板(以下、FPCという)が多用され、このFPCには、単独ではハンドリングが困難なほどに小型化された電子部品が実装されている。電子部品としては、例えば抵抗素子、コンデンサ、LSI、インダクタ、フィルタ等があげられる。このようにFPCには、電子部品が実装されるが、この実装は、クリームハンダ印刷作業、電子部品マウント作業、ハンダリフロー作業を通じて行われ、その後、検査、洗浄、カット作業が行われる。
上記作業においては、FPCを平坦に固定したり、各作業や工程間で搬送しなければならないので、電子部品を固定する部品固定治具が必要になる(特許文献1参照)。この種の部品固定治具は、図示しないが、基材と、この基材の表面に設けられるシリコーン樹脂製の微粘着層とを備え、この微粘着層上に、FPCが着脱自在に粘着固定される。
特許第3435157号公報
従来の部品固定治具は、以上のように構成され、微粘着層に、揮発性を有する環状低分子シロキサンや、揮発性はないものの、主鎖と結合していないオイル成分が含有されているので、微粘着層とFPCとの接触により、FPC側にオイル成分が移行したり、加熱により環状低分子シロキサンが揮発してFPCに再付着するという大きな問題がある。
このようなオイル成分の移行や環状低分子シロキサンのFPCへの再付着がFPCの端子部に発生すると、その後の実装作業、特に接着剤を使用する実装工程(例えばACF、ACP、NCPを使用したフラットパネルディスプレイとの接続工程)で不良を招くこととなり、結果として携帯機器の信頼性を低下させるおそれがある。
本発明は上記に鑑みなされたもので、電子部品に樹脂等が移行したり、電子部品に再付着するのを抑制防止し、電子部品の使用される電子機器の信頼性を向上させることのできる部品固定治具を提供することを目的としている。
本発明者等は、上記課題について鋭意検討した結果、エラストマー保持層に含有される溶剤抽出成分の量を低レベルにすることにより、環状低分子シロキサンのみならず、オイル成分に起因する移行をも抑制できることを見出し、さらにその材料、組成について検討を重ね、本発明を完成させた。
すなわち、本発明においては上記課題を解決するため、剛性を有する平坦な基材の一面の少なくとも一部に、電子部品を着脱自在に密着保持するエラストマー保持層を積層した治具であって、
エラストマー保持層を、炭化水素系、芳香族系、環状炭化水素系、アルコール系、ケトン系、エステル系、あるいはハロゲン系の溶剤で抽出される成分が300ppm以下のフッ素系のエラストマー製としてその厚さを5〜1000μmの範囲とし、
フッ素系のエラストマーは、(A)分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有し、かつ主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、(B)分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物、(C)付加反応触媒、(D)付加反応制御剤、(E)片末端のみにアルケニル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、補強性フィラーとして(F)ケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカを含有する硬化物であることを特徴としている。
ここで、特許請求の範囲における電子部品としては、少なくとも折り曲げ実装可能なフレキシブルプリント配線基板に代表される各種の配線基板、抵抗素子、コンデンサ、LSI、インダクタ、フィルタ等があげられる。基材は、薄板の長方形、正方形、矩形、円形等、各種形状に形成され、剛性を有することが好ましい。リフロー等の熱処理が必要な場合には、剛性の他、耐熱性を有することが好ましい。
エラストマー保持層は、単数複数を問うものではなく、基材の一面、他面、両面の全部又は一部に設けることができる。このエラストマー保持層は、電子部品との間の空気を排除し、空気の再侵入を規制することにより、電子部品を密着保持する。
本発明によれば、エラストマー保持層を、溶剤抽出成分が300ppm以下のエラストマーとするので、加熱時の低分子成分の揮発や再付着を抑制あるいは防止し、しかも、密着部分の移行を防ぐことができる。
また、エラストマー保持層を、(A)分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有し、かつ主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、(B)分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物、(C)付加反応触媒、(D)付加反応制御剤を含有する硬化物とすれば、オイル成分や環状低分子シロキサンを含まないエラストマー保持層を得ることができる。
また、エラストマー保持層に、(E)片末端のみにアルケニル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物を含有させれば、片末端のアルケニル基が硬化物に化学結合するとともに、結合していない長鎖により、粘着性を得ることができる。また、移行のおそれがあるフリーの成分を含むことがなく、高い密着性を得ることが可能になる。
さらに、エラストマー保持層に、補強性フィラーとして、(F)ケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカを含有させれば、エラストマー保持層の母材強度を向上させて破損を抑制し、破断した小さなエラストマー切片が電子部品に付着するのを防ぐことができるとともに、湿式法により製造したシリカのようにNa等の不純物を含むのを防止することが可能になる。さらにまた、未処理のヒュームドシリカを分散させるためのウェッターと呼ばれるオイル成分の添加が不要となり、移行のおそれのある成分の含有防止が期待できる。
本発明によれば、電子部品に樹脂等が移行したり、電子部品に再付着するのを抑制あるいは防止することができ、これを通じて、電子部品の使用される電子機器の信頼性を向上させることができるという効果がある。また、エラストマー保持層が5〜1,000μmの厚さなので、密着力の低下に伴う電子部品の脱落を防ぎ、厚さ精度を保つことができる。
具体的な効果として、エラストマー保持層を、(A)分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有し、かつ主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、(B)分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物、(C)付加反応触媒、(D)付加反応制御剤を含有する硬化物とするので、オイル成分や環状低分子シロキサンを含まないエラストマー保持層を得ることができる。
また、エラストマー保持層に、(E)片末端のみにアルケニル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物を含有するので、片末端のアルケニル基が硬化物に化学結合するとともに、結合していない長鎖により、粘着性を得ることができる。また、移行のおそれがあるフリーの成分を含むことがなく、高い密着性を得ることが可能になる。
また、エラストマー保持層に、補強性フィラーとして、(F)ケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカを含有するので、エラストマー保持層の母材強度を向上させて破損を抑制し、破断した小さなエラストマー切片が電子部品に付着するのを防ぐことができるとともに、湿式法により製造したシリカのようにNa等の不純物を含むのを防止することが可能になる。さらに、未処理のヒュームドシリカを分散させるためのウェッターと呼ばれるオイル成分の添加が不要となり、移行のおそれのある成分の含有防止が期待できる。
以下、図面を参照して本発明の好ましい実施の形態を説明すると、本実施形態における部品固定治具は、図1ないし図4に示すように、表裏両面が平坦な略板形の基材1と、この基材1の表面に間隔をおいて並べて積層される一対のエラストマー保持層2とを備え、各エラストマー保持層2上に、複数のFPC3を着脱自在に配列搭載して固定するようにしている。
基材1は、0.5〜10mmの範囲の厚さを有する金属、プラスチック、繊維強化プラスチック、セラミック、ガラス、及びこれらの複合材料を用いて剛性を有する平板に形成される。この基材1は、図1に示すように主に長方形に形成されるが、必要に応じ、多角形、円形、楕円形、円の一部を切り欠いた形等に形成される。基材1には、既に実装された電子部品や補強板の位置、形状に応じたザグリ、穴、FPC3用の位置決め穴、部品固定治具自体を作業テーブルに位置合わせするための穴等が必要に応じて加工される。
基板の材料として、好ましくはアルミニウム合金、ステンレス、マグネシウム合金、ガラス繊維強化エポキシ樹脂、ガラスが良い。これは、これらが耐熱性、耐熱変形性、加工性に優れること、アルミニウム合金、マグネシウム合金、ガラス繊維強化エポキシ樹脂の場合には、軽量であること、ステンレスの場合には、SUS430等磁石による搬送、固定が可能となること、ガラスの場合には、面精度に優れるからである。
各エラストマー保持層2は、所定のエラストマーを使用して所定の厚さを有する帯形に形成され、複数のFPC3を着脱自在に密着固定するよう機能する。このエラストマー保持層2は、FPC3の実装に使用される場合、ハンダリフロー温度に耐えることが要求され、又溶剤で抽出される成分が300ppm以下、好ましくは100ppm以下、より好ましくは10ppm以下に設定される。
このため、例えばシリコーンゴムによりエラストマー保持層2が形成される場合、硬化後に溶剤で洗浄し、予め抽出分を除去する方法が採用される。抽出に使用される溶剤としては、硬化前の各成分を溶解可能なタイプが選択される必要があり、炭化水素系、芳香族系、環状炭化水素系、アルコール系、ケトン系、エステル系、ハロゲン系、その他適宜選択使用される。
エラストマー保持層2は、5〜1,000μm、好ましくは10〜500μmの厚さに形成される。エラストマー保持層2の厚さが5〜1,000μmの範囲なのは、5μm未満の場合には、密着力が極端に低下してFPC3等の電子部品を固定できなくなるからである。逆に、1,000μmを越える場合には、厚さ精度を保つことが困難になるからである。
エラストマー保持層2のFPC3に対する密着力は、同じ組成であれば、エラストマー保持層2の表面が鏡面であるほど強くなり、粗面であるほど弱くなる。また、エラストマー保持層2は、厚くなるほど強くなり、薄くなると弱くなる。このため、密着力を意図的・部分的に調整する場合には、面粗度や厚さを調整すれば良く、それ以外では均一に形成することが好ましい。具体的な密着強度としては、固定しようとするFPC3等の電子部品により適宜設定すれば良く、固定時には確実に密着し、取り外す際には電子部品が破損変形しないような強度に設定される。
エラストマー保持層2は、溶剤抽出成分300ppm以下のフッ素系のエラストマーを用いて形成することができる。このフッ素系のエラストマーとしては、フッ化ビニリデン系フッ素ゴム、テトラフルオロエチレン−プロピレン系フッ素ゴム、フルオロホスファゼン系フッ素ゴム、含フッ素サーモプラスチック系フッ素ゴム等が例示され、重合時に溶剤に抽出される成分となり得るフリーの成分を生じないよう、不可逆反応により合成するか、材料を溶剤で洗浄するか、エラストマー保持層2を形成した後に溶剤で洗浄して最終的な溶剤成分を300ppm以下とすることができる。
また、エラストマー保持層2は、フッ素系のエラストマーの中でも、(A)分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有し、かつ主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、(B)分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物、(C)付加反応触媒、(D)付加反応制御剤を含有する硬化物とすることもできる。
この硬化物がエラストマー保持層2として使用される場合、主ポリマーである(A)成分は、シリコーンゴムのように平衡反応により合成されるのではなく、一方向の不可逆反応により合成されるため、合成完了段階で低分子成分を含まず、架橋後に溶剤により抽出される成分を10ppm以下とすることが可能である。
また、エラストマー保持層2には、高い密着性を得る観点から、(E)片末端のみにアルケニル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物が選択的に含有される。また、補強性フィラーとして、(F)ケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカが選択的に含有される。
このようなエラストマー保持層2は、上記成分からなる硬化性の組成物をスクリーン印刷、メタルマスク印刷、ディッピング、ドクターブレードコーティング、ナイフコーティング、バーコーティング、スピンコーティング、ロールコーティング等の方法により、基材1の全面又は一部に塗布した後に硬化することにより形成するか、金型内で基材1上にコンプレッション、インジェクション等の方法で成形するか、あるいはカレンダー、押出、プレス等によりシート成形したものを基材1に貼着する方法により形成される。
(A)成分のパーフルオロ化合物は、分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有するとともに、主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有し、好ましくは25℃における粘度が25〜1,000,000cStである直鎖状化合物である。このパーフルオロ化合物としては、以下の式(1)で示されるものがあげられる。
Figure 0004357315
ここで、Rfは、2価パーフルオロアルキレン基又は2価パーフルオロポリエーテル基であり、特に2価パーフルオロアルキレン基としては、―Cm2m―(但し、m=1〜10、好ましくは2〜6)で示されるものが好ましい。2価パーフルオロポリエーテル基としては、以下の式で示されるものが好ましい。
Figure 0004357315
式(1)中、Qは式(2)、(3)、又は(4)で示される基である。ここでR1は、水素原子又は置換又は非置換の1価炭化水素基であり、置換又は非置換の1価炭化水素基としては、炭素数1〜12のものが好ましい。これらの基として具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、イソブチル基、tert−ブチル基、ペンチル基、ネオペンチル基、ヘキシル基、ヘプチル基、オクチル基、ノニル基、デシル基等のアルキル基、シクロペンチル基、シクロヘキシル基、シクロヘプチル基等のシクロアルキル基、フェニル基、トリル基、キシリル基、ナフチル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基、フェニルプロピル基等のアラルキル基、あるいはこれらの基の水素原子の一部又は全部をフッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子等で置換したクロロメチル基、プロモエチル基、クロロプロピル基、トリフルオロプロピル基、3,3,4,4,5,5,6,6,6−ノナフルオロヘキシル基等をあげることができる。
3は、置換又は非置換の2価炭化水素基であり、炭素数1〜10、特に2〜6のものが最適である。具体的には、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、メチルエチレン基、ブチレン基、ヘキサメチレン基等のアルキレン基、シクロヘキシレン基等のシクロアルキレン基、フェニレン基、トリレン基、キシリレン基、ナフチレン基、ビフェニレン基等のアリーレン基、あるいはこれらの水素原子の一部をハロゲン原子で置換した基等をあげることができる。
なお、式(4)において、2個のR3は、互いに同一でも、異なっていても良い。
4は、結合途中に酸素原子、窒素原子、ケイ素原子、及び硫黄原子の1種又は2種以上を介在させても良い置換又は非置換の2価炭化水素基、あるいは上記式(5)又は(6)で示される基である。
4の式(5)又は(6)で示される基において、R5の1価炭化水素基としては、R1で説明した置換又は非置換の1価炭化水素基と同様のものがあげられる。R6の例として、置換又は非置換の2価炭化水素基があげられるが、これは炭素数1〜20、特に1〜10の2価炭化水素基が好適である。具体的には、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、メチルエチレン基、ブチレン基、ヘキサメチレン基等のアルキレン基、シクロヘキシレン基等のシクロアルキレン基、フェニレン基、トリレン基、キシリレン基、ナフチレン基、ビフェニレン基等のアリーレン基、これらの基の水素原子の一部をハロゲン原子等で置換した基、あるいはこれらの置換又は非置換のアルキレン基、アリーレン基の組み合わせ等が例示される。
また、R6の他の例として、酸素原子、窒素原子、ケイ素原子、硫黄原子の1種又は2種以上を主鎖構造中に含む2価の基があげられる。この場合、酸素原子は―O―、硫黄原子は―S―、窒素原子は―NR―(Rは水素原子又は炭素数1〜8、特に1〜6のアルキル基又はアリール基である)等として介在させることができる。また、ケイ素原子は、オルガノシロキサンを含有する基、あるいはオルガノシリレン基として介在させることもでき、具体的には、以下の基を例示することができる。
Figure 0004357315
4の結合途中に酸素原子、窒素原子、ケイ素原子、及び硫黄原子の1種又は2種以上を介在させても良い置換又は非置換の2価炭化水素基としては、R6で説明した置換又は非置換の2価炭化水素基、及びこれに酸素原子、窒素原子、ケイ素原子、硫黄原子介在基を介在させたものが示される。
上記式(2)、(3)、(4)により示される式(1)中のQとしては、以下の基が具体的に示される。
なお、以下の式において、Meはメチル基、Phはフェニル基である。
Figure 0004357315
Figure 0004357315
式(1)において、aは0以上の整数、好ましくは0〜10、より好ましくは0〜6の整数である。したがって、式(1)の含フッ素化合物は、1分子中に2価パーフルオロアルキレン基又は2価パーフルオロポリエーテル基を1個以上含むものである。
次に、Xは以下にあげるものである。
Figure 0004357315
また、pは0又は1であり、式(1)のパーフルオロ化合物は、両末端にビニル基、アリル基等を有するものである。
上記(A)成分の直鎖状のパーフルオロ化合物は、25℃の粘度が25〜1,000,000cStの範囲内にあるのが好ましく、特に100〜60,000cStの範囲内であるのが好ましい。これは、粘度が係る範囲内であるときは、満足する特性のゴム硬化物を形成することが困難になったり、作業性が低下するからである。
(B)成分の分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物としては、有機化合物中にヒドロシリル基を含有するもの、有機ケイ素化合物中にヒドロシリル基を含むものでも良いが、分散性や耐熱性を考慮すると、以下の式(7)又は(8)の化合物が好ましい。
Figure 0004357315
Rf、X、pの具体例については、上記の通りであるが、式(7)、(8)におけるRf、X、pと式(1)におけるRf、X、pとは、同一でも異なるものでも良い。
また、Zは式(9)で示される基であり、ここで、R2は置換又は非置換の1価炭化水素基である。R2の置換又は非置換の1価炭化水素基としては、炭素数1〜8のものが好ましい。
これらの基として具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、イソプロピル基、ブチル基、tert―ブチル基、ベンチル基、ネオペンチル基等のアリール基、ベンジル基、フェニルエチル基等のアラルキル基、あるいはこれらの基の水素原子の一部又は全部をフッ素、塩素、臭素等のハロゲン原子等で置換したクロロメチル基、プロモエチル基、クロロプロピル基、トリフルオロプロピル基、3,3,4,4,5,5,6,6,6−ノナフルオロヘキシル基等をあげることができる。
bは、式(7)の化合物の場合には、1、2、又は3であり、(8)の化合物の場合には、2又は3である。
(C)の付加反応触媒としては、白金族金属化合物が好ましい。この白金族金属化合物としては、一般的に貴金属の化合物であり、高価格であるが、比較的入手しやすい白金化合物が用いられる。
白金族金属化合物としては、例えば塩化白金酸、又は塩化白金酸とエチレン等のオレフィン系との錯体、アルコールやビニルシロキサンとの錯体、白金/シリカ又はアルミナ又はカーボン等を例示することができるが、これらに限定されるものではない。白金族金属化合物以外の白金族金属化合物としては、ロジウム、ルテニウム、イリジウム、パラジウム系化合物も知られており、例えばRhC1(PPh33、RhC1(CO)(PPh32、RhC1(C242 、Ru3(CO)12、IrC1(CO)(PPh32 、Pd(PPh34等があげられる。
これらの触媒の使用量は、特に制限されるものではなく、触媒量で所望の硬化速度を得ることができるが、経済的観点又は良好な硬化物を得るためには、(A)、(B)成分、及び(E)成分の金量に対して0.1〜1,000ppm(白金族金属換算)、より好ましくは0.1〜500ppm程度の範囲が良い。
上記付加反応の条件は適宜設定することができ、反応は室温で行っても良いが、反応を速めるには、50〜200℃に加熱して行うことが好ましい。
(D)の付加反応制御剤としては、組成物の硬化速度を制御する目的で加えるCH2=CH(R)SiO単位(式中、Rは水素原子又は置換若しくは非置換の1価炭化水素基である)を含むポリシロキサン(特公昭48‐10947号公報参照)、及びアセチレン化合物(米国特許第3445420号公報、特公昭54‐3774号公報参照)、さらに重金属のイオン性化合物(米国特許第3532649号公報参照)等があげられる。
(E)の片末端にアルケニル基、もう一方の末端に1価パーフルオロアルキル基又は1価パーフルオロポリエーテル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物としては、溶剤抽出成分を添加せずに表面粘着性を付与する目的で添加されるものである。これは、以下の式(10)で示すものがあげられる。
Figure 0004357315
ここで式(10)中、X、Rf、Qは、上記式とは独立に上記説明と同様の基を示す。また、Rf0は、アルケニル基以外の任意の基を示し、1価のパーフルオロアルキル基、又は1価のパーフルオロポリエーテル基が好ましい。
上記成分(A)、(B)、(E)の割合は、(B)成分中のヒドロシリル基量/(A)、(E)成分中のアルケニル基が、モル比1.0〜1.4、特に1.05〜1.2であることが好ましい。これは、モル比が1.0を下回る場合には、(A)又は(E)成分中、反応に寄与しない分子が存在することになり、これが溶剤抽出成分となり、固定する部品に移行する不具合が生じやすくなるからである。
なお、モル比1.05を下限とすれば、(A)又は(E)成分中、反応に寄与しない分子の存在割合を略皆無とすることができる。
また、モル比が1.4を上回る場合には、(B)成分として硬化物中に固定されない分子の存在確立が高くなり、これが溶剤抽出成分となる上、残留したヒドロシリル基が使用環境中でシラノール基に変化し、これがエラストマー層の物性変化となり、密着特性に悪影響を及ぼすおそれがあるからである。
なお、モル比1.2を上限とすれば、全く固定されない(B)成分の分子を略皆無にすることができ、しかも、エラストマー層の物性変化を影響のないレベルに抑えることができる。
エラストマー保持層2には、エラストマー保持層2の母材強度を向上させ、エラストマー保持層2の破損を抑制し、破断した小さなエラストマー切片がFPC3に付着するのを防止する目的で補強性フィラーを添加することができる。この際、(F)のケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカを選択することで、湿式法により製造したシリカのようにNa等の不純物を含むことを抑制することができる。また、未処理のヒュームドシリカを分散させるためのウェッターと呼ばれるオイル成分の添加が不要となり、移行のおそれのある成分含有を防ぐことが可能になる。
ケイ素系表面処理剤としては、具体的には以下の構造式を示すものが好ましい。
Figure 0004357315
表面処理剤とヒュームドシリカの割合は、使用するヒュームドシリカの比表面積、及び使用する表面処理剤の単位重さ当たりの処理面積から求めれば良い。
なお、既に表面処理剤されている市販の処理シリカを使用することも可能である。
(F)成分の配合量は、(A)〜(E)成分の全量100質量部に対し、1〜100質量部とするのが良い。これは、1質量部未満では、(F)成分添加の効果を殆ど期待することができないからである。逆に、100質量部を超えると、加工性が著しく低下し、部品固定治具の製造に支障を来たすからである。
以下、本発明に係る部品固定治具の実施例を比較例と共に説明する。
実施例1
基材として、厚さ1.0mm、縦150mm×横250mmの大きさを有するアルミニウム板を準備した。
エラストマー保持層の材料として、以下の材料を準備した。
(A)成分
Figure 0004357315
(B)成分
Figure 0004357315
(C)成分:白金化合物触媒〔信越化学工業株式会社製、商品名PL150T〕
(D)成分:エチニルシクロヘキサノールの50%トルエン溶液
(A)成分100質量部に対し、(D)成分0.4質量部、(B)成分3.34質量部、(C)成分0.2質量部を、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。この組成物における(B)成分中のヒドロシリル基量/(A)中のアルケニル基は、モル比で1.1である。
上記組成物をアルミニウム板からなる基材の片面にスクリーン印刷法により左右横方向に向けて2本部分的に印刷した。組成物は、厚さ50μm、幅20μmの大きさに印刷した。こうして組成物を基材に印刷したら、熱風式オーブン中で150℃、60分間の条件で一次硬化させ、200℃まで昇温して到達後4時間保持して二次硬化させ、その後、オーブンから取り出して冷却し、部品固定治具を製造した。
実施例2
実施例1の(A)〜(D)の各成分に加え、(E)成分として以下の化合物を添加した。この化合物のビニル基量は0.0061モル/100gである。
Figure 0004357315
配合割合は、(A)成分100質量部に対し、(E)成分100質量部、(D)成分0.8質量部、(B)成分4.91質量部、(C)成分0.3質量部とし、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。この組成物における(B)成分中のヒドロシリル基量/(A)及び(E)成分中のアルケニル基は、モル比で1.1である。
こうして硬化性の組成物を得たら、この組成物を実施例1と同様にして部品固定治具を製造した。
実施例3
実施例2の組成物100質量部に対し、(F)成分としてケイ素系表面処理剤処理されたヒュームドシリカ〔日本アエロジル株式会社製、商品名R972〕を30質量部添加し、硬化性の組成物を得た。硬化性の組成物を得たら、この組成物を実施例1と同様にして部品固定治具を製造した。
実施例4
(A)成分100質量部に対し、(D)成分0.8質量部、(B)成分3.19質量部、(C)成分0.3質量部を、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。
実施例5
(A)成分100質量部に対し、(E)成分100質量部、(D)成分0.8質量部、(B)成分4.55質量部、(C)成分0.3質量部を、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。
実施例6
(A)成分100質量部に対し、(E)成分100質量部、(D)成分0.8質量部、(B)成分4.46質量部、(C)成分0.3質量部を、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。
比較例
(A)成分100質量部に対し、(D)成分0.4質量部、(B)成分2.73質量部、(C)成分0.2質量部を、30℃以下に保った温度で順に攪拌しながら混合し、硬化性の組成物を得た。この組成物における(B)成分中のヒドロシリル基量/(A)中のアルケニル基は、モル比で0.9である。
次に、実施例1、2、3、比較例の部品固定治具について、以下の項目を評価し、評価結果を表1にまとめた。
溶剤抽出成分量の分析
エラストマー保持層のみを0.1g剥離し、これを10mlのm−キシレンヘキサフロライドに24時間室温で浸漬し、GPCにより抽出液を分析した。
なお、検出の限界は1ppmである。
FPCの密着強度
JIS Z 0237に規定される90°引き剥がし法により、FPCを貼り付けて剥離したときの強度を測定した。FPCは、ポリイミド製の基材を備え、この基材が厚さ25μmに形成されており、片面銅箔パターンに形成されるとともに、端子部が金メッキ処理されている。
異方導電接着剤の剥離強度
実施例1、2、3、比較例の部品固定治具について、エラストマー保持層にFPCの端子部が密着するよう固定し、ハンダリフロー炉を通した。このとき、ピーク温度は235℃、通過時間は3分とした。
次いで、FPCの端子パターンと同様のITOパターンを有するガラス基板に異方導電接着剤〔信越ポリマー株式会社製 商品名JM−LA接着剤〕からなる厚さ12μmの接着膜を形成し、FPCの端子部を重ね合わせ、ピ−ク温度170℃、圧力3MPa、加圧時間60秒の条件で熱圧着した後、これを剥離スピード10mm/分で90°剥離した際の剥離強度を測定した。
なお、上記の貼り付け、リフロー処理を施さないものは、7N/10mm程度の剥離強度を示す。
Figure 0004357315
溶剤抽出成分量は、実施例1、2、3ではいずれも検出限界以下、実施例4では8.4ppm、実施例5では91ppm、そして実施例6では276ppmであり、本発明の範囲内であった。
これに対し、比較例では420ppm検出され、本発明の範囲外であった。
FPCの密着強度は、実施例1に対し、実施例2、3では(E)成分の添加により粘着性が増し、高い保持性を得た。実施例1のレベルは片面FPC用として好適であり、実施例2、3のレベルは両面FPC用として有効である。実施例4、5、6では(B)成分中のヒドロシリル基/(A)及び(E)成分中のアルケニル基量の比を変更し、強めのFPC密着強度を得た。
固定される部品に応じ、密着強度を調整可能であり、実施例5、6のレベルは、セラミックコンデンサ等の小型チップ用として有効である。また、異方導電接着剤の剥離強度については、若干の低下を認めたものの、実用上問題ないレベルであった。
これに対し、比較例の場合、高めの密着強度を得ることができたものの、溶剤抽出成分を多く含んでおり、異方導電接着剤の剥離強度で実施例と未処理のものに対し、著しい低下を示した。
本発明に係る部品固定治具の実施形態におけるFPCを搭載した状態を示す平面図である。 本発明に係る部品固定治具の実施形態におけるFPCを搭載した状態を示す断面説明図である。 本発明に係る部品固定治具の実施形態を示す平面図である。 本発明に係る部品固定治具の実施形態を示す断面説明図である。
符号の説明
1 基材
2 エラストマー保持層
3 FPC(電子部品)

Claims (1)

  1. 剛性を有する平坦な基材の一面の少なくとも一部に、電子部品を着脱自在に密着保持するエラストマー保持層を積層した部品固定治具であって、
    エラストマー保持層を、炭化水素系、芳香族系、環状炭化水素系、アルコール系、ケトン系、エステル系、あるいはハロゲン系の溶剤で抽出される成分が300ppm以下のフッ素系のエラストマー製としてその厚さを5〜1000μmの範囲とし、
    フッ素系のエラストマーは、(A)分子中に少なくとも2個のアルケニル基を有し、かつ主鎖中に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、(B)分子中に少なくとも2個のヒドロシリル基を有し、アルケニル基と付加反応可能な化合物、(C)付加反応触媒、(D)付加反応制御剤、(E)片末端のみにアルケニル基を有し、かつ主鎖に2価パーフルオロアルキレン又は2価パーフルオロポリエーテル構造を有するパーフルオロ化合物、補強性フィラーとして(F)ケイ素系表面処理剤により処理されたヒュームドシリカを含有する硬化物であることを特徴とする部品固定治具。
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