JP2019522809A - 表示デバイス基板処理のための、シルセスキオキサンポリマー及びシランのうち少なくとも1つを含む接着剥離層 - Google Patents

表示デバイス基板処理のための、シルセスキオキサンポリマー及びシランのうち少なくとも1つを含む接着剥離層 Download PDF

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Abstract

開示する様々な実施形態は、シルセスキオキサンポリマー及びシランのうち少なくとも1つを含む接着剥離層、及び、表示デバイス基板の処理方法などの関連する態様に関する。各種実施形態は、表示デバイス基板の処理方法についてである。本方法は、接着剥離層を用いてキャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含むことができる。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含むことができる。前駆体接着剤組成物は、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含むことができる。【選択図】図1

Description

本発明は概して、シルセスキオキサンポリマー及びシランのうち少なくとも1つを含む接着剥離層、及び、表示デバイス基板の処理方法を含む関連する態様、並びに表示デバイスを処理する中間体に関する。
液晶ディスプレイ(LCD)、発光ダイオード(LED)ディスプレイ、及び有機発光ダイオード(OLED)ディスプレイなどの表示デバイスの製造において、様々な表示デバイスの構成部品が、可撓性及び非可撓性のガラス及び非ガラス基材を含む、薄い表示デバイス基板から製造される。脆弱な性質、特定の製造工程の間に必要とされる高度な精度のために、及び、特定の製造工程における過酷な条件(例えば高温)のために、いくつかの薄い表示デバイス基板上で製造工程を実施するのは困難である場合がある。
表示デバイス基板の処理方法。本方法の実施形態は、接着剥離層を用いてキャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含む。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物を少なくとも部分的に硬化した、少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は硬化性であり、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む。
表示デバイスを処理する中間体。表示デバイスを処理する中間体の実施形態としては、キャリア基板、及び該キャリア基板上の接着剥離層が挙げられる。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物を少なくとも部分的に硬化した、少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は硬化性であり、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む。表示デバイスを処理する中間体は、接着剥離層を介してキャリア基板に固定された表示デバイス基板もまた含む。
図面は通常、限定ではなく、例として、本文書において説明されている様々な実施形態の概略を描くものである。
様々な実施形態に従った表示デバイスを処理する中間体の図である。 様々な実施形態に従った表示デバイスを処理する中間体の図である。 様々な実施形態に従った表示デバイスを処理する中間体の図である。 様々な実施形態に従った表示デバイスを処理する中間体の図である。
「発明の概要」及び「要約書」は、参照により本明細書に組み込まれる。
以下に例示的な実施形態を提供するが、その付番は、重要度を表記するものとして解釈されるものではない。
実施形態1は、表示デバイス基板の処理方法であって、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む接着剥離層を用いて、キャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含む、方法である。
実施形態2は、表示デバイス基板がガラス、ケイ素、セラミック、プラスチック、金属、又はこれらの組み合わせを含む実施形態1に記載の方法である。
実施形態3は、表示デバイス基板が、発光ダイオードディスプレイ(LED)、エレクトロルミネセンスディスプレイ(ELD)、電子ペーパーディスプレイ、プラズマ表示パネル(PDP)、液晶ディスプレイ(LCD)、高性能アドレス指定ディスプレイ(HPA)、薄膜トランジスタディスプレイ(TFT)、有機発光ダイオードディスプレイ(OLED)、表面伝導電子エミッタディスプレイ(SED)、レーザーTVディスプレイ、カーボンナノチューブディスプレイ、量子ドットディスプレイ、及び干渉変調ディスプレイ(IMOD)のうち少なくとも1つの処理前駆体構成部品を含む、実施形態1又は2に記載の方法である。
実施形態4は、表示デバイス基板が1nm〜5mmの厚さを有する、実施形態1〜3のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態5は、表示デバイス基板が1nm〜0.5mmの厚さを有する、実施形態1〜4のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態6は、キャリア基板がガラス、ケイ素、セラミック、プラスチック、金属、又はこれらの組み合わせを含む、実施形態1〜5のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態7は、前駆体接着剤組成物の0.1重量%〜99重量%がシラン又はシルセスキオキサンポリマーである、実施形態1〜6のいずれか1つに記載の方法である。いくつかの実施形態において、0.1〜99重量%はシランである。他の実施形態では、0.1〜99重量%はシルセスキオキサンポリマーである。他の実施形態では、0.1〜99重量%は、シランとシルセスキオキサンポリマーとの合計である。
実施形態8は、前駆体接着剤組成物の10重量%〜80重量%が、シラン又はシルセスキオキサンポリマーである、実施形態1〜7のいずれか1つに記載の方法である。いくつかの実施形態において、10〜80重量%はシランである。他の実施形態では、10〜80重量%はシルセスキオキサンポリマーである。他の実施形態では、10〜80重量%は、シランとシルセスキオキサンポリマーとの合計である。
実施形態9は、シランが式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ[式中、各Zは独立して、H、ハロゲン原子、又はオルガノヘテリル基である加水分解基であり、オルガノヘテリル基は、O、N、又はS;あるいは、O又はN;あるいはO;あるいはNであるヘテロ原子を介して、式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ内のSi原子に結合している。]である、実施形態1〜8のいずれか1つに記載の方法である。いくつかの実施形態では、各オルガノヘテリル基は独立して、−OR、−NHR、−NR 、−OCR、−O−N=CR 、−O−C(=CR )R又は−N(R)CORである。それぞれの出現において、Rは独立して、置換又は非置換(C−C22)ヒドロカルビル、置換又は非置換(C−C22)アルキル、あるいは置換又は非置換(C−C)アルキルから選択される、あるいは、同一のN又はCに結合した任意の2つのRが互いに結合して、置換又は非置換(C−C22)アルカン−ジイルである、二価の基−RMa−RMb−を形成してよい。いくつかの実施形態では、オルガノヘテリル基は、(C−C20)オルガノヘテリル基である。いくつかの実施形態では、シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−Si(O(C−C30)ヒドロカルビル))[式中、各(C−C30)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換である。]である。任意の2個のO(C−C30)ヒドロカルビル)が互いに結合して、二価の基−ORMa−RMbO−[式中、RMa−RMbは置換又は非置換(C−C22)アルカン−ジイルである。]を形成してよい。いくつかの実施形態では、各(C−C30)ヒドロカルビル及び各Rは独立して、(C−C22)ヒドロカルビル、あるいは(C−C22)アルキル、あるいは(C−C20)アルキル、あるいは(C−C10)アルキル、あるいは(C−C)アルキルである。
実施形態10は、シランが、式(C−C20)アルキル−SiZ[式中、各Zは独立してH、ハロゲン原子、又は(C−C20)オルガノヘテリル基である。]である、又は、シランが、式(C−C20)アルキル−Si(O(C−C20)アルキル))[式中、各(C−C20)アルキルは独立して選択される。]である、実施形態1〜9のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態11は、シランが、式フェニル−SiZ[式中、各Zは独立してH、ハロゲン原子、又は(C−C20)オルガノヘテリル基である。]である、又は、シランが、式フェニル−Si(O(C−C20)アルキル))[式中、各(C−C20)アルキルは独立して選択される。]である、実施形態1〜10のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態12は、シルセスキオキサンポリマーが、(C−C20)アリールシルセスキオキサン、ハイドロジェンシルセスキオキサン、及び(C−C30)アルキルシルセスキオキサン[式中、(C−C20)アリール及び(C−C30)アルキルは置換又は非置換である。]のうち少なくとも1つを含む、実施形態1〜11のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態13は、シルセスキオキサンポリマーが、フェニルシルセスキオキサン、ハイドロジェンシルセスキオキサン、及びメチルシルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含む、実施形態1〜12のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態14は、シルセスキオキサンポリマーが、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー[式中、(C−C20)ヒドロカルビルは置換又は非置換であり、中断されていない、あるいは、−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−(O−(C−C)アルキレン)[式中、nは1〜1,000である。]、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から独立して選択される1、2、又は3個の基により中断されている。]である、実施形態1〜13のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態15は、シルセスキオキサンポリマーが、式:(HSiO3/2y1(RSiO3/2y2であるハイドロジェンシルセスキオキサン−(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、Rは独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基により中断されている、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであり、モル比y1は0.001〜5であり、モル比y2は0.001〜5である。]である、実施形態1〜14のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態16は、モル比y1が0.001〜1.5である、実施形態15に記載の方法である。
実施形態17は、モル比y1が0.01〜0.5である、実施形態15又は16に記載の方法である。
実施形態18は、モル比y2が0.1〜1.5である、実施形態15〜17のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態19は、モル比y2が0.5〜1である、実施形態15〜18のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態20は、Rが置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルである、実施形態15〜19のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態21は、Rが置換又は非置換(C−C10)アルキルである、実施形態15〜20のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態22は、Rが置換又は非置換(C−C)アルキルである、実施形態15〜21のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態23は、Rがメチルである、実施形態15〜22のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態24は、Rが置換又は非置換(C−C20)アリールである、実施形態15〜23のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態25は、Rが(C−C10)アリールである、実施形態15〜24のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態26は、Rが置換又は非置換フェニルである、実施形態15〜25のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態27は、Rがフェニルである、実施形態15〜26のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態28は、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーが、式:(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/20.5−1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]である、実施形態15〜27のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態29は、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーが、式:(HSiO3/20.01−0.5(PhSiO3/20.5−1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]である、実施形態15〜28のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態30は、シラン又はシルセスキオキサンポリマーが、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する、実施形態15〜29のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態31は、シラン又はシルセスキオキサンポリマーが、200g/mol〜100,000g/molの分子量を有する、実施形態15〜30のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態32は、前駆体接着剤組成物が、熱可塑性材料、熱硬化性材料、モノマー、オリゴマー、ポリマー、架橋性ポリマー、架橋型ポリマー、ゴム、ポリウレタン、ポリイソブチレン、シラン、オルガノシラン、シロキサン、オルガノシロキサン、フルオロシリコーン、フルオロシラン、セラック、ポリアミド、シリル修飾ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリカルバメート、ウレタン、天然接着剤、エポキシ系接着剤、フラン系接着剤、フェノール系接着剤、アルデヒド系接着剤、尿素−アルデヒド接着剤、アクリル酸系接着剤、フェノール/フェノールホルムアルデヒド/フルフリルアルコール接着剤、硬化剤、触媒、硬化して上述のいずれか1つを形成可能な前駆体、及び、上述のいずれか1つの反応生成物のうち少なくとも1つを更に含む、実施形態1〜31のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態33は、前駆体接着剤組成物が、オルガノハイドロジェンシラン、オルガノハイドロジェンシロキサン、オルガノアルケニルシラン、及びオルガノアルケニルシロキサンのうち少なくとも1つを更に含む、実施形態1〜32のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態34は、前駆体接着剤組成物が、非直鎖状(C−C20)アルケニル官能化オルガノポリシロキサン、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化オルガノポリシロキサン、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化フルオロ(C−C20)アルキル置換オルガノポリシロキサン、非直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン、直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン、及び((C−C20)ヒドロカルビル)ハイドロジェンシルセスキオキサン[式中、(C−C20)アルケニル基及び(C−C20)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換であり、中断されていないか、あるいは、−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−(O−(C−C)アルキレン)[式中、nは1〜1,000である。]、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から独立して選択される1、2、又は3個の基により中断されている。]のうち少なくとも1つを更に含む、実施形態1〜33のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態35は、前駆体接着剤組成物が、(R SiO1/21−20(R SiO2/210−300(SiO4/21−5、(R SiO1/21−100(R SiO2/25−200(SiO4/25−500、(R SiO1/2(R SiO2/210−2000、(R SiO1/2(RSiO2/210−5000(R SiO2/210−5000(RSiO2/21−100、(R SiO1/2(R SiO2/2100−5000、(R SiO1/2(R SiO2/21−100(HRSiO2/21−200、(HR SiO1/20.1−10(SiO4/20.1−5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、(R SiO1/2(RSiO2/21−100(HRSiO2/21−200、(HR SiO1/2(R SiO2/210−2000、及び(HSiO3/20.001−1(RSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを更に含み、式中、それぞれの出現において、Rは独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基で中断されている、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであり、それぞれの出現において、Rは独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基で中断されている、置換又は非置換(C−C20)アルケニルであり、それぞれの出現において、Rは独立して、他と異なり非置換であるか、又は更に置換されており、1〜2m+1個のフッ素基を有するフルオロ(C)アルキル[式中、mは独立して1〜20である。]であり、(C)アルキル基は中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−(O−(C−C)アルキレン)−[式中、nは1〜1,000である。]、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から独立して選択される1、2、又は3個の基で中断されている、実施形態1〜34のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態36は、前駆体接着剤組成物が、(R SiO1/21−8(R SiO2/260−180(SiO4/21−2、(R SiO1/25−20(R SiO2/216−56(SiO4/225−85、(R SiO1/2(R SiO2/275−225、(R SiO1/2(RSiO2/2100−800(R SiO2/2400−2000(RSiO2/22−30、(R SiO1/2(R SiO2/2400−1200、(R SiO1/2(R SiO2/21−6(HRSiO2/23−9、(HR SiO1/21−2(SiO4/20.5−1.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、(R SiO1/2(RSiO2/22−40(HRSiO2/25−80、(HR SiO1/2(R SiO2/250−200、(R SiO1/2(R SiO2/22−40(HRSiO2/25−80、及び(HSiO3/20.001−1(RSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを更に含み、式中、それぞれの出現において、R、R、及びRは本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態1〜35のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態37は、前駆体接着剤組成物が、(R SiO1/2(R SiO2/2120(SiO4/2)、(R SiO1/211(R SiO2/234(SiO4/255、(R SiO1/2(R SiO2/2150、(R SiO1/2)(RSiO2/2300−600(R SiO2/2800−1000(RSiO2/25−15、(R SiO1/2(R SiO2/2600、(R SiO1/2(R SiO2/23−4(HRSiO2/25−6、(HR SiO1/21.58(SiO4/2)[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、(R SiO1/2(RSiO2/25−20(HRSiO2/210−40、(HR SiO1/2(R SiO2/2100、及び(R SiO1/2(R SiO2/25−20(HRSiO2/210−40、及び(HSiO3/20.01−0.5(RSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを更に含み、式中、それぞれの出現において、R、R、及びRは本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態1〜36のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態38は、前駆体接着剤組成物が、非直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリ(co−(C)アルキル)メチルシロキサン−ジメチルシロキサン−ビニルメチルシロキサン)、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状トリメチルシロキシ末端ポリ(co−ジメチルシロキサン−ハイドロジェンメチルシロキサン)、ハイドロジェンジメチルシロキシ末端シロキサン、トリメチルシロキシ末端ポリ(co−(フルオロ(C)アルキル)メチルシロキサン−ジメチルシロキサン)、直鎖状ハイドロジェンジメチルシロキシ末端ジメチルシロキサン、直鎖状トリメチルシロキシ末端ポリ(co−ジメチルシロキサン−ハイドロジェンメチルシロキサン)、ポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アルキル)シルセスキオキサン、及びポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アリール)シルセスキオキサン[式中、各フルオロ(C)アルキルは独立して、1〜2m+1個のフッ素基[式中、mは独立して1〜20である。]を有する。]のうち少なくとも1つを更に含む、実施形態1〜37のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態39は、前駆体接着剤組成物が、(ViMeSiO1/21−8(MeSiO2/260−180(SiO4/21−2、(ViMeSiO1/25−20(MeSiO1/215−55(SiO4/225−85、(ViMeSiO1/2(MeSiO2/275−225、(ViMeSiO1/2(RMeSiO2/2100−800(MeSiO2/2400−2000(ViMeSiO2/22−30、(ViMeSiO1/2(MeSiO2/2400−1200、(MeSiO1/2(MeSiO2/21−6(HMeSiO2/23−9、(HMeSiO1/21−2(SiO4/20.5−1.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、(MeSiO1/2(RMeSiO2/22−40(HMeSiO2/25−80、(HMeSiO1/2(MeSiO2/250−200、(HSiO3/20.001−1(MeSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、及び(HSiO3/20.001−1(CSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを更に含み、式中、それぞれの出現において、Rは本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態1〜38のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態40は、前駆体接着剤組成物が、(ViMeSiO1/2(MeSiO2/2120(SiO4/2)、(ViMeSiO1/211(MeSiO1/234(SiO4/255、(ViMeSiO1/2(MeSiO2/2150、(ViMeSiO1/2(RMeSiO2/2300−600(MeSiO2/2800−1000(ViMeSiO2/25−15、(ViMeSiO1/2(MeSiO2/2600、(MeSiO1/2(MeSiO2/23−4(HMeSiO2/25−6、(HMeSiO1/21.58(SiO4/2)[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、(MeSiO1/2(RMeSiO2/25−20(HMeSiO2/210−40、(HMeSiO1/2(MeSiO2/2100、(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、及び(HSiO3/20.01−0.5(CSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを更に含み、式中、それぞれの出現において、Rは本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態1〜39のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態41は、前駆体接着剤組成物が、0.1:1〜10:1のSi−H対アルケニル比を有する、実施形態1〜40のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態42は、前駆体接着剤組成物が、0.7:1〜2:1のSi−H対アルケニル比を有する、実施形態1〜41のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態43は、前駆体接着剤組成物が更に、界面活性剤、乳化剤、分散剤、ポリマー安定剤、架橋剤、ポリマー、重合又は架橋触媒、レオロジー変性剤、濃度調整剤、アジリジン安定剤、硬化変性剤、フリーラジカル反応開始剤、希釈剤、酸受容体、抗酸化剤、熱安定剤、難燃剤、スカベンジング剤、シリル化剤、泡安定剤、溶媒、ヒドロシリル化反応性希釈剤、可塑剤、充填剤、無機粒子、色素、染料、乾燥剤、液体、1分子当たり少なくとも1個のアルケニル又はアルキニル基を有するポリエーテル、増粘剤、安定化剤、ワックス、ワックス様材料、シリコーン、有機官能性シロキサン、アルキルメチルシロキサン、シロキサン樹脂、シリコーンガム、シリコーンカルビノール流体、水溶性又は水分散性シリコーンポリエーテル組成物、シリコーンゴム、ヒドロシリル化触媒阻害剤、接着促進剤、熱安定剤、UV安定剤、及び流れ制御添加剤のうち少なくとも1つを含む、実施形態1〜42のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態44は、接着剥離層が0.1μm〜500μmの厚みを有する、実施形態1〜43のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態45は、固定することにより、接着剥離層が介在層無しにキャリア基板上に直接存在する表示デバイスを処理する中間体が提供される、実施形態1〜44のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態46は、固定することにより、接着促進剤層がキャリア基板と接着剥離層との間に存在する、表示デバイスを処理する中間体が提供される、実施形態1〜45のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態47は、接着促進剤層が、シラン、オルガノシラン、オルガノシロキサン、オルガノチタネート、オルガノジルコネート、ジルコノアルミネート、リン酸エステル、アクリル酸又はその塩若しくはエステル、メチルアクリル酸又はその塩若しくはエステル、ポリウレタンモノマー又はオリゴマー、ビニルホスホン酸又はその塩若しくはエステル、ビニルスルホン酸又はその塩若しくはエステル、及び2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸又はその塩若しくはエステルのうち少なくとも1つを含む接着促進剤前駆体組成物の硬化生成物を含む、実施形態46に記載の方法である。
実施形態48は、接着促進剤層が、トリアルコキシシロキシ基、トリアルコキシシリルアルキル基、ヒドロシリル基、アルケニル基、エポキシ官能基、アミノ基、ハロシリル基、メルカプトシリル基、及びフルオロアルキルシリル基のうち少なくとも1つを含むシラン又はシロキサンのうち少なくとも1つを含む接着促進剤前駆体組成物の硬化生成物を含む、実施形態46又は47に記載の方法である。
実施形態49は、接着促進剤層が0.0001μm〜500μmの厚みを有する、実施形態46〜48のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態50は、介在層が、接着促進剤層とキャリア基板との間に、又は接着促進剤層と接着剥離層との間に生じない、実施形態46〜49のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態51は、固定することが、表示デバイス基板をキャリア基板上に、前駆体接着剤組成物及び接着剥離層のうち少なくとも1つを表示デバイス基板とキャリア基板上との間に用いて配置することを含む、実施形態1〜50のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態52は、表示デバイス基板を固定する前に、接着剥離層をキャリア基板及び表示デバイス基板のうち少なくとも1つの上に形成することを更に含む、実施形態1〜51のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態53は、形成することが、前駆体接着剤組成物をキャリア基板及び表示デバイス基板のうち少なくとも1つの上に配置することと、前駆体接着剤組成物を硬化して、前駆体接着剤組成物の硬化生成物を形成することとを含む、実施形態52に記載の方法である。
実施形態54は、配置することが、吹き付け、スピニング、ドローダウンバー(draw−down bar)、ドクターブレード、及びディッピングのうち少なくとも1つを使用して、前駆体接着剤組成物を、キャリア基板及び表示デバイスのうち少なくとも1つの上に配置することを含む、実施形態53に記載の方法である。
実施形態55は、接着剥離層をキャリア基板上に形成する前に、接着促進剤層をキャリア基板に結合させることを更に含む、実施形態52〜54のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態56は、キャリア基板を接着剥離層に固定する前に、接着促進剤層を接着剥離層に結合させることを更に含む、実施形態52〜55のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態57は、固定することにより、接着剥離層が介在層無しに表示デバイス基板上に直接存在する、表示デバイスを処理する中間体が提供される、実施形態1〜56のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態58は、固定することにより、剥離層が接着剥離層と表示デバイス基板との間に存在する表示デバイスを処理する中間体が提供される、実施形態1〜57のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態59は、剥離層が、フルオロシラン、フルオロシロキサン、フルオロオルガノシラン、フルオロオルガノシロキサン、フッ素化シリコン樹脂、フッ素化シルセスキオキサン樹脂、(C−C20)アリールシロキサン、及び(置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビル)−シルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含む剥離層前駆体組成物の硬化生成物を含む、実施形態58に記載の方法である。
実施形態60は、剥離層が、フルオロ(C−C200)ヒドロカルビル−置換(C−C)アルコキシシラン、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化フルオロ(C−C20)アルキル置換オルガノポリシロキサン、ポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アルキル)シルセスキオキサン)、及びポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン((C−C20)アリール)シルセスキオキサン)のうち少なくとも1つを含む剥離層前駆体組成物の硬化生成物を含む、実施形態58又は59に記載の方法である。
実施形態61は、剥離層が、F((CFO)cc(CF0−10(CH0−10(O)0−1(CH0−10Si(OMe)、(ViMeSiO1/2(RMeSiO2/2150−1200(MeSiO2/2400−2000(ViMeSiO2/22−30、(HSiO3/20.001−1(MeSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、及び(HSiO3/20.001−1(CSiO3/21.5−0.1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]のうち少なくとも1つを含む剥離層前駆体組成物の硬化生成物を含み、式中、ccは0〜200であり、Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態58〜60のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態62は、剥離層が、F((CFO)ccCFCFCHO(CHSi(OMe)、(ViMeSiO1/2(RMeSiO2/2300−600(MeSiO2/2800−1000(ViMeSiO2/25−15、(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]、及び(HSiO3/20.01−0.5(CSiO3/21−0.5(式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す)のうち少なくとも1つを含む剥離層前駆体組成物の硬化生成物を含み、式中、ccは17〜25であり、Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである、実施形態58〜61のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態63は、剥離層が0.0001μm〜500μmの厚みを有する、実施形態58〜62のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態64は、介在層が、接着剥離層と剥離層との間に、又は剥離層と表示デバイス基板との間に生じない、実施形態58〜63のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態65は、接着剥離層を用いて表示デバイス基板をキャリア基板上に固定することが、剥離層を介して表示デバイス基板を接着剥離層上に固定することを含む、実施形態1〜64のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態66は、表示デバイス基板を処理することを更に含む、実施形態1〜65のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態67は、表示デバイス基板を処理することが、洗浄、乾燥、成膜、液体フォトレジストの塗布、露光、現像、エッチング、レジスト除去、封止、蒸着、接着処理、加熱、アニーリング、照射、冷却のうち少なくとも1つ、並びに、表示デバイス基板上に半導体材料、半導体デバイス、ダイオード、発光ダイオード、トランジスタ、トランジスタアレイ、コンデンサ、導電性経路、回路パターン、ゲートライン、データライン、電気コネクタ、電極、透明電極、電気絶縁体、電気絶縁層、保護層、色フィルタ、液晶、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、パッシベーション層、電気泳動膜、及び電子輸送層のうち少なくとも1つを配置、形成、及び修飾することのうち少なくとも1つを含む、実施形態66に記載の方法である。
実施形態68は、キャリア基板から表示デバイス基板を取り外すことを更に含む、実施形態1〜67のいずれか1つに記載の方法である。
実施形態69は、取り外すことが、1g/cm〜200g/cmの90°剥離力を使用して表示デバイス基板をキャリア基板から剥離することを含む、実施形態68に記載の方法である。
実施形態70は、取り外すことが、2g/cm〜60g/cmの90°剥離力を使用して表示デバイス基板をキャリア基板から剥離することを含む、実施形態68又は69に記載の方法である。
実施形態71は、実施形態1〜70のいずれか1つに記載の方法を含む、表示デバイス又は表示デバイス構成部品の形成方法である。
実施形態72は、実施形態1〜71のいずれか1つに記載の方法により形成した表示デバイス又は表示デバイス構成部品である。
実施形態73は、表示デバイス基板の処理方法であって、該方法が、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む接着剥離層を用いて、キャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含み、該前駆体接着剤組成物が、式:(HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりであり、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。]を含む、方法である。
実施形態74は、キャリア基板と、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む、キャリア基板上の接着剥離層と、接着剥離層を介してキャリア基板に固定された表示デバイス基板と、を含む表示デバイスを処理する中間体である。
実施形態75は、キャリア基板と接着剥離層との間に接着促進剤層を更に含む実施形態74の処理中間体である。
実施形態76は、接着剥離層と表示デバイス基板との間に剥離層を更に含む実施形態74又は75に記載の処理中間体である。
実施形態77は、キャリア基板と、式:(HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりであり、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。]である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーを含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む、キャリア基板上の接着剥離層と、接着剥離層を介してキャリア基板に固定された表示デバイス基板と、を含む表示デバイスを処理する中間体である。
実施形態78は、場合により、引用される全ての要素又は選択肢が使用又は選択可能であるように構成された、実施形態1〜77の記載のいずれか1つ、又は任意の組み合わせの装置又は組成物である。
実施形態79は、実施形態1〜78のいずれか1つに記載の接着剥離層である。
各種実施形態は、表示デバイス基板の処理方法についてである。本方法は、接着剥離層を用いてキャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含む。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む。
各種実施形態は、表示デバイス基板の処理方法についてである。本方法は、接着剥離層を用いてキャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含む。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は、式:(HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーを含む。単位の下付き文字はそれらのモル比を示す。基Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである。ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。
様々な実施形態は、表示デバイスを処理する中間体についてである。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板を含む。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板上に接着剥離層を含む。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む。表示デバイスを処理する中間体は、接着剥離層を介してキャリア基板に固定された表示デバイス基板もまた含む。
様々な実施形態は、表示デバイスを処理する中間体についてである。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板を含む。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板上に接着剥離層を含む。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む。前駆体接着剤組成物は、式:(HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーを含む。モル比を表す。基Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりである。ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。表示デバイスを処理する中間体は、接着剥離層を介してキャリア基板上に固定された表示デバイス基板を含む。
各種実施形態において、既存の方法が、表示デバイス基板をキャリア上に固定することを含む場合、表示デバイス基板を処理する既存の方法に優る特定の利点が存在する。例えば、いくつかの実施形態では、既存の方法と比較して、本方法は、より優れて特定の製造工程中に使用する過酷な化学処理(例えば、≦3の対数酸解離定数、pKaを有する酸)、又は高温(例えば≧200℃)に耐えることができる。いくつかの実施形態において、本方法は、既存の方法よりも、特定の製造工程中に、表示デバイス基板をよりしっかりと固定することができる。いくつかの既存の固定方法では、キャリアと表示基板との間の相対運動量、又は表示基板の可撓性の量が大きくなり得、表示基板上での電子構成部品の位置合わせ不良がもたらされる。様々な実施形態において、本方法は、既存の方法よりも低い剥離力で、表示基板をキャリアからより簡単に取り外すことを可能にすることができる。製造中の、キャリアに対する表示基板の移動が原因での、又は、固定、製造、若しくは取り外し中における表示基板への損傷が原因での故障は、製品製造ライン全体の運転停止を意味する場合がある。様々な実施形態は、既存の方法よりも低い故障率を有する、表示デバイス基板の処理方法についてである。
様々な実施形態において、本方法は、加工中に、接着促進剤無しで表示デバイス基板をしっかりと保持し、剥離層無しで表示デバイス基板の容易な取り外しを促進する接着剥離層を提供することができる。いくつかの実施形態において、表示デバイス基板をキャリアから取り外した後、キャリアを、大規模なリサイクル操作無しで数回再利用することができる。いくつかの実施形態において、既存の方法で必要とされるエキゾチックな(exotic)装置又は化学物質とは対照的に、従来の装置及び化学物質を、ほとんど変形・修飾することなく、又は全く変形・修飾することなく、本法を実施することができる。
本明細書を通して、範囲形式で表される値は、その範囲の限界として明記された数値を含むだけではなく、各数値及び部分的範囲が明記されているかのように、その範囲内に包含される全ての個々の数値又は部分的範囲もまた含むように、柔軟な方式で解釈されるべきである。例えば、「0.1%〜5%」又は「0.1%〜5%」の範囲は、単に0.1%〜5%を含むだけではなく、示される範囲内の個々の値(例えば、1%、2%、3%、及び4%)並びに部分範囲(例えば、0.1%〜0.5%、1.1%〜2.2%、3.3%〜4.4%)もまた含むものとして解釈されなければならない。
本明細書に記載の製造方法において、時間又は操作順序が明示的に列挙される、又は、はっきりと示唆される場合を除いて、本発明の原理を逸脱することなく、行為又は工程を任意の順序で実施することができる。更には、特定の複数の行為は、それらが別々に実施されることが特許請求の範囲の言葉で明記されていない限り、同時に実施することができる。例えば、Xを行うという特許請求がなされた行為とYを行うという特許請求がなされた行為とは、単一の操作内で同時に遂行することができ、その結果的なプロセスは、特許請求されるプロセスの、文字通りの範囲内に包含される。いくつかの態様では、行為又は工程を、記載したとおりの順序で実施する。
本明細書では、用語「a」、「an」、又は「the」は、文脈から明らかにそうでないことが示されていない限り、1つ又は2つ以上を含むために使用される。用語「又は(or)」は、特に記載のない限り、包括的な「or」を指すために使用される。記述「A及びBのうち少なくとも1つ」は、「A、B、又はA及びB」と同じ意味を有し、これは「A又はB又はA及びB」と同じ意味を有する。あらゆるセクションの見出しの使用は、文書の読解を補助することを目的とするが、これに限定されない。項目の見出しに関連する情報は、その特定の項目内に記載されていても項目外に記載されていてもよい。
用語「アシル」とは、本明細書で使用する場合、カルボン酸からHO−基を取り除くことにより正式に誘導される一価の基を意味する。この基は非置換又は置換であってよい。
用語「アルケニル」とは、本明細書で使用する場合、少なくとも1個の炭素−炭素二重結合(C=C)を含有する一価の不飽和脂肪族基を意味する。アルケニルは、直鎖、分枝鎖、又は環状であることができる。アルケニルは1個又は2個のC=Cを有することができる。アルケニル基は、2〜40個の炭素原子、又は2〜20個の炭素原子、又は2〜12個の炭素原子、又はいくつかの実施形態では、2〜8個の炭素原子を有してよい。例としては、とりわけビニル、−CH=CH(CH)、−CH=C(CH、−C(CH)=CH、−C(CH)=CH(CH)、−C(CHCH)=CH、シクロヘキセニル、シクロペンテニル、シクロヘキサジエニル、ブタジエニル、ペンタジエニル、及びヘキサジエニルが挙げられるが、これらに限定されない。この基は非置換又は置換であってよい。
用語「アルコキシ」とは、本明細書で使用する場合、脂肪族基が非環式又は環式である、一価の飽和又は不飽和脂肪族−O−基を意味する。直鎖状アルコキシ基の例としては、メトキシ、エトキシ、プロポキシ、ブトキシ、ペンチルオキシ、及びヘキシルオキシが挙げられるが、これらに限定されない。分枝鎖アルコキシの例としては、イソプロポキシ、sec−ブトキシ、tert−ブトキシ、イソペンチルオキシ、及びイソヘキシルオキシが挙げられるが、これらに限定されない。環式アルコキシの例としては、シクロプロピルオキシ、シクロブチルオキシ、シクロペンチルオキシ、及びシクロヘキシルオキシが挙げられるが、これらに限定されない。アルコキシ基は、酸素原子に結合した1〜12、1〜20、又は1〜40個の炭素原子を含むことができ、更に二重又は三重結合を含むことができ、また更にヘテロ原子を含むことができる。例えば、アリルオキシ基又はメトキシエトキシ基はまた、本明細書の意味でのアルコキシ基であり、構造中の2個の隣接する原子が置換されている文脈においては、メチレンジオキシ基もアルコキシ基である。この基は非置換又は置換であってよい。
用語「アルキル」とは、本明細書で使用する場合、直鎖、分枝鎖、又は環式であり、1〜40個の炭素原子、1〜20個の炭素原子、1〜12個の炭素、又はいくつかの実施形態では1〜8個の炭素原子を有する一価の飽和炭化水素基である。直鎖アルキル基の例としては、メチル、エチル、n−プロピル、n−ブチル、n−ペンチル、n−ヘキシル、n−ヘプチル、及びn−オクチル基等の1〜8個の炭素原子を有するものが挙げられる。分枝状アルキル基の例としては、イソプロピル、イソブチル、sec−ブチル、t−ブチル、ネオペンチル、イソペンチル、及び2,2−ジメチルプロピル基が挙げられるが、これらに限定されない。本明細書で使用する場合、用語「アルキル」は、n−アルキル基、イソアルキル基、及びアンテイソアルキル基、並びにアルキルの他の分枝鎖形態を包含する。この基は非置換又は置換であってよい。代表的な置換アルキル基は、本明細書に列挙される基のいずれか、例えばアミノ、ヒドロキシ、シアノ、カルボキシ、ニトロ、チオ、アルコキシ、及びハロゲン基で1回又は複数回置換されていてもよい。用語「アルキレン」とは、本明細書で使用する場合、二価が任意の2個の炭素原子上に存在することができるアルカンジイルを示す。
用語「アルキニル」とは、本明細書で使用する場合、少なくとも1個の炭素−炭素三重結合(C≡C)を含有する一価の不飽和脂肪族基を意味し、直鎖又は分枝鎖であってよい。アルキニル基は、2〜40個の炭素原子、2〜20個の炭素原子、又は2〜12個の炭素、又はいくつかの実施形態では、2〜8個の炭素原子を有してよい。例としては、とりわけ−C≡CH、−C≡C(CH)、−C≡C(CHCH)、−CHC≡CH、−CHC≡C(CH)、及び−CHC≡C(CHCH)が挙げられるが、これらに限定されない。この基は非置換又は置換であってよい。
「あるいは」とは、独立した実施形態を示すものとする。
用語「アミン」とは、本明細書で使用する場合、アンモニアの1、2、又は3個の水素原子をヒドロカルビル基で独立して置き換えることによりアンモニア(NH)から正式に誘導される化合物を意味する。アミンは、例えば、式N(基)[式中、各基は独立してH又は非−H、例えばアルキル、及びアリールであることができる。]を有する一級、二級、及び三級アミンであってよい。アミンとしては、R−NH、例えばアルキルアミン、アリールアミン、アルキルアリールアミン、RNH[式中、各Rは独立して選択される。]、例えば、ジアルキルアミン、ジアリールアミン、アラルキルアミン、及びヘテロシクリルアミン、並びにRN[式中、各Rは独立して選択される。]、例えばトリアルキルアミン、ジアルキルアリールアミン、アルキルジアリールアミン、及びトリアリールアミンが挙げられるが、これらに限定されない。Rは非置換又は置換であってよい。
用語「アリール」は本明細書で使用する場合、一価の炭素環式芳香族炭化水素基を意味する。したがって、アリール基としては、限定するものではないが、フェニル基、アズレニル基、ヘプタレニル基、ビフェニル基、インダセニル基、フルオレニル基、フェナントレニル基、トリフェニレニル基、ピレニル基、ナフタセニル基、クリセニル基、ビフェニレニル基、アントラセニル基、及びナフチル基などが挙げられる。いくつかの実施形態において、アリール基は、基の環部分内に6〜14個の炭素を含有する。アリール基は非置換であることができる、あるいは、本明細書に定義する有機基又は非炭素含有基で置換することができる。この基は非置換又は置換であってよい。代表的な置換アリール基はモノ置換であることができる、又は2個以上が置換されることができ、限定されないが、フェニル環の2、3、4、5、又は6位の1つ以上が置換されているフェニル基、あるいはナフチル環の2位〜8位の1つ以上が置換されているナフチル基などである。
「〜することができる(can)」又は「〜であってよい(may)」は、選択の余地を与えるものであって、命令するものではない。
用語「コーティング」又は「フィルム」とは、本明細書で使用する場合、材料の連続層又は不連続層を意味する。層は自立構造であることができる、又は物品の表面に配置されることができる。材料の層は、物品の表面を貫通することができ、また孔などの領域を充填することができ、材料の層は、平坦面又は湾曲面を含む任意の三次元形状を有することができる。1つの例では、コーティングは、コーティング材料の浴に浸漬することによって、1つ以上の表面(いずれも多孔質であっても非多孔質であってもよい)上に形成され得る。
用語「炭化水素」とは、本明細書で使用する場合、非置換であることができ、炭素及び水素原子からなる、又は置換されていることができ、炭素及び水素原子、並びにハロゲン、N、O、S、P、及びSiから選択される少なくとも1個のヘテロ原子を含む分子を意味する。
本明細書で使用する場合、用語「ヒドロカルビル」とは、水素原子を取り除くことにより、直鎖、分枝状又は環状炭化水素から正式に誘導される一価の官能基を意味し、アルキル、アルケニル、アルキニル、アリール、シクロアルキル、アシル、又はこれらの組み合わせであることができる。ヒドロカルビル基は(C−C)ヒドロカルビルとして示すことができ、式中、a及びbは整数であり、a個〜b個の数の炭素原子のいずれかを有することを意味する。例えば、(C−C)ヒドロカルビルはヒドロカルビル基を意味し、メチル(C)、エチル(C)、プロピル(C)、又はブチル(C)であることができる。(C−C)ヒドロカルビルは、特定の実施形態において、ヒドロカルビル基が存在しないことを意味する。
主鎖原子にラジカルを有する一価の基に適用される用語「中断されている」とは、(i)又は(ii)を意味する:(i)1個の主鎖原子を有する、即ちラジカルを有する一価の基において、「中断されている」とは、1個の主鎖原子とラジカルとの間に正式に挿入されている(例えば、HC−に正式に挿入された二価の中断基Qによって、HC−Q−をもたらす)ことを意味する、又は、(ii)ラジカルが任意の2個以上の主鎖原子の1つに位置している、2個以上の主鎖原子を有する一価の基において、「中断されている」とは、1個の主鎖原子とラジカル(例えば上述したもの)との間、又は任意の2個の主鎖原子の間のいずれかに正式に挿入されている(例えば、HC−CH−に正式に挿入された二価の中断基Qにより、HC−Q−CH−をもたらす)ことを意味する。典型的な、中断されているそれぞれの一価の基は独立して、1、2、又は3個の中断基Qにより、あるいは1又は2個の中断基Qにより、あるいは2又は3個の中断基Qにより、あるいは1個の中断基Qにより、あるいは2個の中断基Qにより、あるいは3個の中断基Qにより中断されてよい。2又は3個のQ基が存在する場合、これらは通常は、互いに直接結合していない(即ち、2又は3個の中断基Qを有する中断されている一価の基は、Q−Q基を非含有であり得る)。中断されているそれぞれの一価の基は独立して、本明細書の他の場所に記載されているとおりに定義することができる(例えば、中断されているヒドロカルビル又は中断されている(C−C20)アルケニル)。それぞれの中断基Qは独立して、本明細書の他の場所に記載する中断基に関するとおりに定義することができる(例えば、−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−(O−(C−C)アルキレン)−[式中、nは1〜1,000である。]、−Si((C−C)アルコキシ)−、又は−Si((C−C)アルキル)−)。用語「中断されている」は、上述のものに類似した方法で、分子又は多価の基に適用することができる。用語「中断されていない」とは、二価の中断基Qを有しない(欠いている、即ち0個のQ)を意味する。
用語「直鎖状」とは、分枝点を欠いている、又は非含有であることを意味する。例えば、直鎖状ポリシロキサン(例えば、直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン及び直鎖状アルケニル官能性オルガノポリシロキサン)は、主鎖に分枝点を有しない(即ち0個である)。したがって、主鎖はM単位(例えば、R SiO1/2、HR SiO1/2、又はMeSiO1/2)、及びD単位(例えば、R SiO2/2、HRSiO2/2、又はMeSiO2/2)のみからなる。
用語「非直鎖状」とは、少なくとも1個の分枝点を有することを意味する。例えば、非直鎖状ポリシロキサン(例えば、非直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン及び非直鎖状アルケニル官能性オルガノポリシロキサン)は、主鎖に少なくとも1個の分枝点を有する。各分枝点は独立して、場合により、T単位(例えば、RSiO3/2、RSiO3/2、若しくはHSiO3/2)、又はQ単位(SiO4/2)であることができる。非直鎖状ポリシロキサンは場合により、更にM及び/又はD単位を有してよい、あるいは有しなくてもよい。
用語「数平均分子量」(M)とは、本明細書で使用する場合、試料中の個々の分子の分子量の、通常の相加平均を意味する。数平均分子量は、試料中の全分子の総重量を、試料中の分子の総数で除したものとして定義される。実験により、式M=ΣM/Σnにより、分子量Mのn個の分子を有する種iの分子量に除した試料を分析することによってMを測定する。Mは、ゲル透過クロマトグラフィー、分光末端基分析、及び浸透圧測定を含む様々な周知の方法により測定することができる。測定では、既知のMのポリスチレン規格を使用することができる。明記しない限り、本明細書で与えられるポリマーの分子量は、数平均分子量である。
用語「オリゴマー」とは、本明細書で使用する場合、中間体の相対分子量を有する分子を意味し、オリゴマーの構造は本質的に、より低い相対分子量を有する分子(例えば、より少ない繰り返し単位を有するモノマー又はオリゴマー)から実際的に又は概念的に由来する2〜4個の繰り返し単位を含む。中程度の相対質量を有する分子は、単位が1個又はほんの一部除去されても変動する特性を有する分子であり得る。多くの単位から1個を除去することで生じる特性の変動は、有意な変動であり得る。
用語「有機基」とは、本明細書で使用する場合、任意の一価又は多価の炭素含有官能基を意味する。各有機基は独立して非置換であってよい、あるいは非置換であってよい。例えば、アルコキシ基、アリールオキシ基、アラルキルオキシ基、オキソ(カルボニル)基、カルボン酸、カルボキシレート、及びカルボン酸エステルを含むカルボキシル基のような酸素含有基;アルキル及びアリールスルフィド基のような硫黄含有基、並びに他のヘテロ原子含有基。有機基の非限定的な例としては、OR、OOR、OC(O)N(R)、CN、CF、OCF、R、C(O)、メチレンジオキシ、エチレンジオキシ、N(R)、SR、SOR、SOR、SON(R)、SOR、C(O)R、C(O)C(O)R、C(O)CHC(O)R、C(S)R、C(O)OR、OC(O)R、C(O)N(R)、OC(O)N(R)、C(S)N(R)、(CH0−2N(R)C(O)R、(CH0−2N(R)N(R)、N(R)N(R)C(O)R、N(R)N(R)C(O)OR、N(R)N(R)CON(R)、N(R)SOR、N(R)SON(R)、N(R)C(O)OR、N(R)C(O)R、N(R)C(S)R、N(R)C(O)N(R)、N(R)C(S)N(R)、N(COR)COR、N(OR)R、C(=NH)N(R)、C(O)N(OR)R、C(=NOR)R、及び置換又は非置換(C−C100)ヒドロカルビル[式中、Rは水素(他の炭素原子を含む例において)、又は炭素系基であり、炭素系基は置換又は非置換であることができる。]が挙げられる。
オルガノシロキサンは異なる種類の単位を含有することができ、これらのうち少なくとも1つは、ケイ素結合有機基(Si−C)を含有する。メチル含有シロキサン単位は、[(CHSiO1/2]、[(CHSiO2/2]、及び[(CH)SiO3/2]であり、これらはそれぞれ、M、D、及びTと略される、即ち上付き文字がない場合がある。別の種類のオルガノシロキサン単位は[SiO4/2]であり、これはQと略される。他の種類のオルガノシロキサン単位は、メチルの代わりにある原子又は基の少なくとも1回の出現を含有するM、D、及びT単位である。例えば、[(CHSiO1/2]単位中の1、2、又は3個のメチル、[(CHSiO2/2]単位中の1又は2個のメチル、及び[(CH)SiO3/2]単位中の1個のメチルは独立して、H若しくはハロゲンなどの原子、ヒドロキシルなどの無機基、又はメチル以外の有機基により置き換えられてよい。メチルの代わりに置換原子又は基を含有するこのようなM、D、及びT単位は、置換原子又は基を、対応するM、D、又はTの文字の上に上付き文字で記載することにより略される場合がある。置換されたメチルの数は、上付き文字の基の数により表される。例えば、MViは、1個のビニル(Vi)及び2個のメチルを有するM単位(即ち、[Vi(CHSiO1/2])を示すが、M2Viは、2個のビニルと1個のメチルを有するM単位(即ち、[Vi(CH)SiO1/2])を示す。同様に、Dは、1個の水素原子と1個のメチルを有するD単位(即ち、[H(CH)SiO2/2])を示すが、DH、Phは、0個のメチル、1個のH原子、及び1個のフェニルを有するD単位(即ち、[H(Ph)SiO2/2])を示す。TOAlkは、0個のメチルと1個のアルコキシ基を有するT単位(即ち、[AlkOSiO3/2]、式中AlkO及びOAlkは同じアルコキシ基を示す)を示す。
本明細書で使用する場合、用語「ポリマー」とは、少なくとも5個の繰り返し単位を有する分子を意味し、ホモポリマー、及びコポリマーなどのインターポリマーを含むことができる。
化学命名法又は価数の必要条件により別様に示されない限り、各「R」基は本明細書において、一価の基である。「R」基の例は、R、R、R、及びRである。
用語「樹脂」とは、本明細書で使用する場合、少なくとも4個のシロキサン単位を含む分子を含み、少なくとも1個のシロキサン単位がSi−O−Si結合を介して、3個又は4個のシロキサン単位に結合している任意の粘度のポリシロキサン材料を意味する。一例では、ポリシロキサン材料は、本明細書に定義するT及び/又はQ単位の大部分を含む。
用語「溶媒」は、本明細書で使用するとき、固体、液体、又は気体を溶解し得る液体を指す。溶媒の非限定的な例は、シリコーン流体、30〜300℃の沸点を有する有機化合物(例えばアルコール)、水、イオン性液体、及び超臨界流体である。本明細書における特定の混合物の実施形態において、溶媒は特定の構成成分を完全に溶解することができる、あるいは完全に溶解しなくてもよい。特定の構成成分を完全に溶解しない溶媒は、担体、希釈剤、分散剤、ホスト媒体(hosting medium)、又は上清として機能することができる。
用語「実質的に」とは、本明細書で使用する場合、大部分又はほとんど、例えば少なくとも60%、70%、80%、90%、95%、96%、97%、98%、99%、99.5%、99.9%、99.99%、又は99.999%、あるいは100%を意味する。
本明細書に定義した分子又は有機基に関連する、用語「置換された」とは、本明細書で使用する場合、中に含有される1個以上の水素原子が、1個以上の非水素原子で置換されている状態を意味する。用語「官能基」又は「置換基」は、本明細書で使用するとき、分子又は有機基上で置換可能であるか又は置換されている基を指す。置換基又は官能基の例としては、限定するものではないが、ハロゲン(例えば、F、Cl、Br、及びI、あるいは、F、Cl、又はBr、あるいは、F又はCl、あるいは、Cl、又はBr、あるいは、F、あるいは、Cl)、ヒドロキシ基、アルコキシ基、アリールオキシ基、アラルキルオキシ基、オキソ(カルボニル)基、カルボン酸、カルボキシレート、及びカルボン酸エステルを含むカルボキシル基等の基の酸素原子、チオール基、アルキル及びアリールスルフィド基、スルホキシド基、スルホン基、スルホニル基、並びにスルホンアミド基等の基の硫黄原子;アミン、ヒドロキシアミン、ニトリル、ニトロ基、N−オキシド、ヒドラジド、アジド、及びエナミン等の基の窒素原子、並びに様々な他の基の他のヘテロ原子が挙げられる。置換された炭素(又は他の)原子に結合可能な置換基の非限定例としては、F、Cl、Br、I、OR、OC(O)N(R)、CN、NO、NO、ONO、アジド、CF、OCF、R、O、=O(オキソ)、S(チオ)、C(O)、S(O)、メチレンジオキシ、エチレンジオキシ、N(R)、SR、SOR、SOR、SON(R)、SOR、C(O)R、C(O)C(O)R、C(O)CHC(O)R、C(S)、C(O)OR、OC(O)R、C(O)N(R)、OC(O)N(R)、C(S)N(R)、(CH0−2N(R)C(O)R、(CH0−2N(R)N(R)、N(R)N(R)C(O)R、N(R)N(R)C(O)OR、N(R)N(R)CON(R)、N(R)SOR、N(R)SON(R)、N(R)C(O)OR、N(R)C(O)R、N(R)C(S)R、N(R)C(O)N(R)、N(R)C(S)N(R)、N(COR)COR、N(OR)R、C(=NH)N(R)、C(O)N(OR)R、及びC(=NOR)Rが挙げられ、式中、Rは水素又は炭素系基であることができる、例えば、Rは水素、(C−C100)ヒドロカルビル、アルキル、アシル、シクロアルキル、アリール、アラルキル、ヘテロシクリル、ヘテロアリール、又はヘテロアリールアルキルであることができる、又は、式中、1個の窒素原子、又は隣接する複数の窒素原子に結合した2個のR基は、1個又は複数の窒素原子と共にヘテロシクリルを形成することができる。置換基中において、各Rは独立して非置換である、又はFで置換されている。
本明細書で使用する場合、「Vi」とはビニル基、即ち−CH=CHを表す。本明細書で使用する場合、「Me」とはメチル基、即ち−CHを表す。「Ph」とはフェニル、即ちC−を意味する。
任意の化合物は、天然存在比の同位体、同位体濃縮した同位体、及びそれらの混合物を含む、これらの全ての「同位体形態」を含む。いくつかの態様では、同位体形態は、天然存在比の同位体、あるいは同位体濃縮した同位体である。同位体濃縮した形態のケイ素含有化合物は、天然の存在比を超える量の重水素、三重水素、29Si、30Si、32Si、又はこれらの任意の2種以上の組み合わせを有する。同位体濃縮した形態の化合物は、同位体濃縮した化合物又はそれから作製若しくは合成された同位体濃縮された材料の検出が有用である追加の用途を有し得る。このような使用の例は、医学研究及び偽造防止用途である。
いくつかの態様では、任意の組成物が、以下の化学元素の1個以上を非含有であってよい:(i)ランタノイド及びアクチノイドを含む、2〜13、及び18属のいずれか1つのうち少なくとも1種の化学元素;(ii)ランタノイド及びアクチノイドを含む、元素周期表の第3周期〜第6周期のいずれか1つからの、少なくとも1つの化学元素;又は(iii)Si、O、H、C、N、ハロゲン、本明細書の他の箇所に記載された任意の触媒の金属を除外しないことを除いて、(i)及び(ii)の両方であってもよい。いくつかの態様では、任意の組成は、本明細書の他の箇所に記載された任意の触媒の金属を除いて、以下の原子番号:2、3、4、5、7、10、11、12、13、15、16、18、19、20、21、22、23、24、25、26、27、28、29、30、31、32、33、34、35、36、37、38、39、40、41、42、43、44、45、46、47、48、49、50、51、52、53、54、55、56、57、58、59、60、61、62、63、64、65、66、67、68、69、70、71、72、73、74、75、76、77、78、79、80、81、82、83、84、85、86、87、88、89、90、91、92、93、94、95、96、97、98、99、100、101、102、103、104、105、106、107、108、109、110、111、112、113、114、及び116のいずれか1つを有する化学元素を含有しない。「化学元素」若しくは「原子」、化学元素の族(単数若しくは複数)、又は元素周期表は、2013年5月1日付けの版のIUPACにより発行された化学元素、族(単数若しくは複数)、及び元素周期表を意味するものとする。(iupac.org/reports/periodic_table/を参照のこと)。
正に荷電した対イオンを有する塩である化合物において、対イオンは任意の好適な、正に荷電した対イオンであることができる。例えば、対イオンは、アンモニウム(NH )、又はナトリウム(Na)、カリウム(K)、若しくはリチウム(Li)などのアルカリ金属であることができる。いくつかの実施形態において、対イオンは+1より大きい正電荷を有することができ、対イオンはいくつかの実施形態では、複数のイオン化された基(例えばZn2+、Al3+)、又はアルカリ土類金属(例えばCa2+若しくはMg2+)に錯体化することができる。
各種実施形態は、表示デバイス基板の処理方法についてである。本方法は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む接着剥離層を用いて、キャリア基板に表示デバイス基板を固定することを含む。本方法により、1つ以上の様々な処理工程中に、表示デバイス基板をキャリア基板及び接着剥離層から容易に取り外すことを可能にしながら、表示デバイス基板を固定したままにすることができる。
表示デバイス基板は、表示デバイス用の構成部品内に形成可能な任意の好適な材料を含むことができる。いくつかの実施形態において、表示デバイス基板は、シリケートガラス、ケイ素(例えばシリコンウエハ)、セラミック、プラスチック(例えば、熱可塑性有機若しくはシリコーンポリマー)、金属(例えば鋼、銅)、又はこれらの組み合わせを含む。表示デバイス基板は、1種以上のコーティング若しくは処理中間体を基板上に含む、又は、滑らかな表面、研磨された表面、若しくはテクスチャー表面などの任意の好適なトポグラフィーを有する表面を含むように、任意の好適な1種以上の化学処理又は物理処理を基板上に施した、処理済み表示デバイス基板であることができる。いくつかの実施形態において、表示デバイス基板は、コーティングされていない、かつ未処理の、未加工の表面を有することができる。表示デバイス基板は可撓性、又は剛性であることができる。表示デバイス基板は、例えば1nm〜5mm、又は1nm〜0.5mmなどの任意の好適な厚さを有することができる。
表示デバイス基板は、処理して発光ダイオードディスプレイ(LED)、エレクトロルミネセンスディスプレイ(ELD)、電子ペーパーディスプレイ、プラズマ表示パネル(PDP)、液晶ディスプレイ(LCD)、高性能アドレス指定ディスプレイ(HPA)、薄膜トランジスタディスプレイ(TFT)、有機発光ダイオードディスプレイ(OLED)、表面伝導電子エミッタディスプレイ(SED)、レーザーTVディスプレイ、カーボンナノチューブディスプレイ、量子ドットディスプレイ、及び干渉変調ディスプレイ(IMOD)のうち少なくとも1つの表示デバイス構成部品を形成することができる、任意の好適な表示デバイス処理前駆体を含むことができる。
キャリア基板は、本方法を本明細書に記載したとおりに実施することができるような任意の好適な材料であることができる。いくつかの実施形態において、キャリア基板は、シリケートガラス、ケイ素(例えばシリコンウエハ)、セラミック、プラスチック(例えば、熱可塑性有機若しくはシリコーンポリマー)、金属(例えば鋼、銅)、又はこれらの組み合わせを含む。キャリア基板は、1種以上のコーティングを基板上に含む、又は、滑らかな表面、研磨された表面、若しくはテクスチャー表面などの任意の好適なトポグラフィーを有する表面を含むように、任意の好適な1種以上の化学処理又は物理処理を基板上に施した、処理済みキャリア基板であることができる。いくつかの実施形態において、キャリア基板は、コーティングされていない、かつ未処理の、未加工の表面を有することができる。キャリア基板は、表示デバイス基板が処理中にしっかりと保持され、その後キャリア基板から取り外し可能であるように、任意の好適な程度の剛性を有することができる。キャリア基板は、本方法を本明細書に記載したとおりに実施することができるように、任意の好適な厚みを有することができる。例えば、キャリア基板は0.1mm〜1,000mm、又は0.1mm以下、又は0.2mm〜500mmの厚さを有することができる。
様々な実施形態において、キャリア基板は、表示デバイス基板と同じ材料を含む、又は表示デバイス基板と同じ材料である。様々な実施形態において、キャリア基板及び表示デバイス基板は、例えば、150×10−7/℃以下、50×10−7/℃以下、又は1×10−10/℃以下、又は1×10−9/℃以下、1×10−8/℃、1×10−7/℃、1×10−6/℃、1×10−5/℃、1×10−4/℃、1×10−3/℃、1×10−2/℃、又は1×10−1/℃異なる、同様の線形膨張係数を有する材料を含むことができる、又はこのような材料であることができる。
接着剥離層は、本方法を本明細書に記載したとおりに実施することができるような任意の好適な厚みを有することができる。いくつかの実施形態において、接着剥離層は、0.1μm〜500μm、5μm〜150μm、10μm〜10μm、又は0.1μm以下、又は0.2μm〜250μmの厚さを有することができる。
接着剥離層を介してキャリア基板に表示デバイス基板を固定することは、任意の好適な固定であってよい。固定することには、表示デバイス基板と、接着剥離層及び前駆体接着剤組成物のうち少なくとも1つを接触させることを含むことができる。接触させることは、表示デバイス基板を接着剥離層に緊密に接着させるのに好適な、例えば真空(例えば、空気を取り除き気泡を防ぐため)、及び場合により熱、光、又は照射(例えば、前駆体接着剤組成物を硬化させるために)などを用いる条件下にて、ロール又はプレスによる圧力結合などの様々な手段を用いて実施することができる。真空下にて圧力結合を実施することにより、若干の気泡が残っても、加熱中での気泡の成長が低減又は排除され、積層されたキャリア基板、及び表示デバイス基板の変形という欠点の発生(formation)を回避又は低減する。いくつかの実施形態において、表示デバイス基板を接着剥離層に接触させる前に、接着剥離層を硬化する。いくつかの実施形態において、固定することは、表示デバイス基板と前駆体接着剤組成物とを接触させることと、続いて前駆体接着剤組成物を硬化させることと、を含む。いくつかの実施形態において、接着剥離層を硬化することは、表示デバイス基板を接着剥離層に接触させる前、及び接触させた後に生じる。いくつかの実施形態において、キャリア基板、表示デバイス基板、又は両方を、固定を実施する前に、例えば、基板を接着剥離層又は前駆体接着剤組成物のいずれかと接触させる前に、洗浄することができる。
本方法には、キャリア基板に表示デバイス基板を固定する前に、接着剥離層をキャリア基板、及び表示デバイス基板のうち少なくとも1つの上に形成することを含むことができる。形成することには、前駆体接着剤組成物をキャリア基板及び表示デバイス基板のうち少なくとも1つの上に配置することと、前駆体接着剤組成物を硬化して硬化生成物を形成することと、を含むことができる。前駆体接着剤組成物をキャリア基板及び表示デバイス基板のうち少なくとも1つの上に配置することは、キャリア基板に表示デバイス基板を固定する前に生じることができる。前駆体接着剤組成物を、キャリア基板及び表示デバイスのうち少なくとも1つの上に配置することは、任意の好適な方法、例えば、吹き付け、スピニング、ドローダウンバー、ドクターブレード、及びディッピングのうち少なくとも1つを使用することを含むことができる。
前駆体接着剤組成物を硬化して接着剥離層を形成することは、キャリア基板に表示デバイス基板を固定する前、間、及び後に生じることができる。用語「硬化」とは、本明細書で使用する場合、任意形態の照射に曝すこと、加熱すること、又は、硬化、若しくは、25℃にて測定する動粘度及び/若しくは運動粘度の増加をもたらす物理処理又は化学処理に通すことを意味する。硬化することは、ベークすること、例えば、組成物が任意の所望の硬化状態に達するまでベークすることを含むことができる。いくつかの実施形態において、前駆体接着剤組成物は部分的にのみ硬化している。いくつかの実施形態において、前駆体接着剤組成物は実質的に完全に硬化している。いくつかの実施形態において、前駆体接着剤組成物を硬化することは、任意の好適な硬化、例えばフリーラジカル硬化、縮合硬化、付加硬化(例えばヒドロシリル化)、任意の好適な架橋反応、又はこれらの組み合わせであることができる。硬化することは、光(例えば可視光、赤外線、紫外線)、好適な時間、例えば1分以下、又は2分〜120分の間の加熱(例えば40℃以下、又は50℃〜500℃、80℃〜300℃、又は120℃〜250℃)、照射(例えば電子ビーム、γ線、X線)、又はこれらの組み合わせの適用を含むことができる。
いくつかの実施形態において、接着剥離層を介してキャリア基板及び表示デバイス基板を固定することは、表示デバイス基板をキャリア基板上に、前駆体接着剤組成物及び接着剥離層のうち少なくとも1つを表示デバイス基板とキャリア基板上との間に用いて配置することを含むことができる。様々な実施形態において、接着剥離層を介してキャリア基板に表示デバイス基板を固定することにより、介在層が間に存在せず、接着剥離層がキャリア基板上に直接存在する、表示デバイスを処理する中間体を提供することができる。別の実施形態において、1種以上の追加の層、例えば接着促進剤層が、接着剥離層とキャリア基板との間に生じることができる。いくつかの実施形態において、1種以上の追加の層、例えば剥離層が、接着剥離層と表示デバイス基板との間に生じることができる。
いくつかの実施形態において、キャリア基板と表示デバイス基板を固定することには、接着促進剤層を含むキャリア基板又は表示デバイス基板上に接着剥離層を形成することを含むことができる。いくつかの実施形態において、キャリア基板と表示デバイス基板を固定することには、接着剥離層をキャリア基板又は表示デバイス基板上に形成する前に、接着促進剤層をキャリア基板に結合することを含むことができる。固定することにより、接着促進剤層がキャリア基板と接着剥離層との間に存在する表示デバイスを処理する中間体を提供することができる。いくつかの実施形態において、1)接着促進剤層とキャリア基板との間、2)接着促進剤層と接着剥離層との間、3)又はこれらの組み合わせに、介在層は存在しない。
いくつかの実施形態において、キャリア基板と表示デバイス基板を固定することには、固定前に、接着剥離層上又は表示デバイス基板上に存在する剥離層を介して、表示デバイス基板を接着剥離層に固定することを含むことができる。いくつかの実施形態において、キャリア基板と表示デバイス基板を固定することには、剥離層を表示デバイス基板に結合すること、又は剥離層を接着剥離層に結合することを含むことができる。固定することにより、剥離層が表示デバイス基板と接着剥離層との間に存在する表示デバイスを処理する中間体を提供することができる。いくつかの実施形態において、1)剥離層と表示デバイス基板との間、2)剥離層と接着剥離層との間、3)又はこれらの組み合わせに、介在層は存在しない。
いくつかの実施形態において、本方法は、表示デバイス基板を処理することを含むことができる。いくつかの実施形態において、本方法は、表示デバイス基板を処理することを含まない。表示デバイス基板を処理することには、任意の好適な処理を含むことができる。様々な実施形態において、表示デバイス基板を処理することは、洗浄、乾燥、成膜、液体フォトレジストの塗布、露光、現像、エッチング、レジスト除去、封止、蒸着、接着処理、加熱、アニーリング、照射、冷却のうち少なくとも1つ、並びに、表示デバイス基板上に半導体材料、半導体デバイス、ダイオード、発光ダイオード、トランジスタ、トランジスタアレイ、コンデンサ、導電性経路、回路パターン、ゲートライン、データライン、電気コネクタ、電極、透明電極、電気絶縁体、電気絶縁層、保護層、色フィルタ、液晶、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、パッシベーション層、電気泳動膜、及び電子輸送層のうち少なくとも1つを配置、形成、及び修飾することのうち少なくとも1つを含むことができる。
様々な実施形態において、本方法は、キャリア基板から表示デバイス基板を取り外すことを含むことができる。取り外すことは、表示デバイス基板の処理後に生じることができる。取り外すことは、表示デバイス基板がキャリア基板から取り外される任意の好適な方法で実施することができる。取り外すことは、取り外した後に、接着剥離層が実質的に表示デバイス基板に接着していないように、そして、取り外した後に、任意の他の層(例えば剥離層)が表示デバイス基板に接着していないように、キャリア基板から表示デバイス基板を取り外すことを含むことができる。取り外すことは、取り外した後に、接着剥離層が実質的に表示デバイス基板に接着しておらず、取り外した後に、別の層(例えば剥離層)の全て又はいくつかが表示デバイス基板に接着しているように、キャリア基板から表示デバイス基板を取り外すことを含むことができる。
取り外すことは、物理的に取り外すこと(例えば剥離)、化学的に取り外すこと(例えば酸若しくは塩基処理を用いる)、又はこれらの組み合わせを含むことができる。接着剥離層及び任意の他の層は、表示デバイス基板をキャリア基板から取り外すのに十分な90°剥離力が、1g/cm(ここで、長さは、表示デバイス基板とキャリア基板との、取り外し位置における重なり合った接着部分の幅を示す)〜200g/cm、2g/cm〜60g/cm、又は1g/cm以下、又は2g/cm〜60g/cm、又は100g/m〜200g/cmであることができるように十分であることができる。
いくつかの実施形態において、本方法は、表示デバイス又は表示デバイス構成部品を形成することを含むことができる。別の実施形態において、表示デバイス又は表示デバイス構成部品を形成することなく、本方法を実施することができる。
前駆体接着剤組成物は、シラン及びシルセスキオキサンポリマーのうち少なくとも1つを含む。シランは、任意の好適なシランであることができる。シルセスキオキサンポリマーは、任意の好適なシルセスキオキサン、例えばポリマー又はコポリマーであることができる。前駆体接着剤組成物は、任意の好適なメカニズムにより、例えば、酸化硬化(例えば酸化熱硬化、例えば、シルセスキオキサンのケージ構造が崩壊してSiHを放出し、SiO4/2に似たネットワークを形成するもの)、縮合硬化(例えば、加熱、及び塩基溶液(水酸化アンモニウムなど)への曝露のうち少なくとも1つによる)、又は、好適なアルケニル官能化材料(例えば好適なポリマー若しくはコポリマー)を用いるヒドロシリル化によるものなどにより、硬化することができる。
様々な実施形態において、本明細書におけるポリシルセスキオキサンポリマー又はコポリマーは、硬化中、例えば溶液状態硬化の間に高温に耐えることができる。硬化したポリシルセスキオキサンコポリマーは、様々な処理の間に表示デバイス基板を保持することができる。硬化したポリシルセスキオキサンコポリマーはまた、柔軟なディスプレイ用途において、ほとんど剥離力を用いずに機械的剥離を行うことができる。これにより、保有コスト、及び、表示デバイス基板への機械的損傷の危険性が最小化される。いくつかの実施形態において、表示デバイス基板は薄いガラスを含むことができる。表示デバイス基板は、機械的剥離、及び化学処理(酸又は塩基を用いるものなど)のうち少なくとも1つにより容易に剥離することができる。
任意の好適な割合、例えば1重量%〜99重量%、10重量%〜80重量%、0.2重量%〜40重量%、又は1重量%以下の接着剤前駆体組成物がシラン、シルセスキオキサンポリマー、又はこれらの組み合わせであることができる。
シランは、任意の好適なシランであることができる。いくつかの実施形態においては、シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−Si(O(C−C30)ヒドロカルビル))[式中、各(C−C30)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換である。]である。シランは、式(C−C20)アルキル−Si(O(C−C20)アルキル))[式中、各(C−C20)アルキルは独立して選択される。]であることができる。シランは、式フェニルアルキル−Si(O(C−C20)アルキル))[式中、各(C−C20)アルキルは独立して選択される。]であることができる。
シルセスキオキサンポリマーは、任意の好適なシルセスキオキサンポリマーであることができる。シルセスキオキサンポリマーは、ポリマー又はコポリマーであることができる。シルセスキオキサンポリマーは、(C−C20)アリールシルセスキオキサン、ハイドロジェンシルセスキオキサン、及び(C−C30)アルキルシルセスキオキサン[式中、(C−C20)アリール及び(C−C30)アルキルは置換又は非置換である。]のうち少なくとも1つを含むことができる。シルセスキオキサンポリマーは、フェニルシルセスキオキサン、ハイドロジェンシルセスキオキサン、及びメチルシルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含むことができる。
いくつかの実施形態において、シルセスキオキサンポリマーは、(HSiO3/2y1、(HSiO3/2y1(RSiO3/2y2、(HSiO3/2y1(R SiO2/2y2(SiO4/2y2、及び(HSiO3/2y1(RSiO2/2y2から選択される式であることができる。単位の下付き文字はそれらのモル比を示す。(HSiO3/2)及び(RSiO3/2)単位は、ポリマー内で任意の好適な配置、例えばブロック配置又はランダム配置となることができる。基Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりであることができる。それぞれの出現において、基Rは独立して選択することができ、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C10)アルキルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C)アルキルであることができる。基Rはメチルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C20)アリールであることができる。基Rは、(C−C10)アリールであることができる。基Rは、置換又は非置換フェニルであることができる。基Rは、フェニルであることができる。モル比y1は、0.001〜5、0.001〜1.5、0.01〜0.5、又は0.001以下であることができる。モル比y2は、それぞれの出現において独立して選択することができ、0.001〜5、0.1〜1.5、0.5〜1、又は0.001以下であることができる。シルセスキオキサンポリマーは、米国特許第8,356,407号(参照として本明細書に組み込まれている)に記載されている、任意の好適なシルセスキオキサンであることができる。
いくつかの実施形態において、シルセスキオキサンポリマーは、ハイドロジェンシルセスキオキサン−(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーであることができる。任意の好適な割合、例えば1重量%〜99重量%、10重量%〜80重量%、0.2重量%〜40重量%、又は1重量%以下の前駆体接着剤組成物が、ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーであることができる。ハイドロジェンシルセスキオキサン単位、及び(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサン単位は、ポリマー内で任意の好適な配置、例えばブロックコポリマー配置又はランダムコポリマー配置となることができる。ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、式:(HSiO3/2y1(RSiO3/2y2であることができる。単位の下付き文字はそれらのモル比を示す。(HSiO3/2)及び(RSiO3/2)単位は、ポリマー内で任意の好適な配置、例えばブロック配置又はランダム配置となることができる。基Rは独立して、本明細書の任意の適切な実施形態(例えば実施形態35)で定義されているとおりであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C10)アルキルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C)アルキルであることができる。基Rはメチルであることができる。基Rは、置換又は非置換(C−C20)アリールであることができる。基Rは、(C−C20)アリールであることができる。基Rは、置換又は非置換フェニルであることができる。基Rは、フェニルであることができる。モル比y1は、0.001〜5、0.001〜1.5、0.01〜0.5、又は0.001以下であることができる。モル比y2は、0.001〜5、0.1〜1.5、0.5〜1、又は0.001以下であることができる。
ハイドロジェンシルセスキオキサン−(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、式:(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/20.5−1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]であることができる。
ハイドロジェンシルセスキオキサン−(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、式:(HSiO3/20.01−0.5(PhSiO3/20.5−1[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]であることができる。
ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、任意の好適な分子量、例えば100g/mol〜10,000,000g/mol、100g/mol〜1,000,000g/mol、200g/mol〜100,000g/mol、又は100g/mol以下、又は200〜1,000,000g/molを有することができる。
前駆体接着剤組成物がアルケニル官能性化合物もまた含む実施形態において、前駆体接着剤組成物は、任意の好適なSi−H対アルケニル比(例えば、アルケニル基はヒドロシリル化硬化性の非芳香族非共役炭素−炭素二重結合である)、例えば0.1:1〜10:1、0.7:1〜2:1、又は0.1:1以下、又は0.2:1〜5を有することができる。
前駆体接着剤組成物がアルケニル官能性化合物もまた含む実施形態において、前駆体接着剤組成物は、任意の好適な、アルケニル官能性オルガノポリシロキサンのハイドロジェンオルガノポリシロキサンに対する重量比、例えば0.001:1〜1000:1、又は10:1〜100:1、又は0.001:1以下、又は0.01:1〜500を有することができる。
前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層前駆体組成物は、任意の1種以上の任意成分を含むことができる。このセクションに記載する任意の1種以上の任意成分は、任意の好適な割合、例えば0.001重量%〜90重量%、0.001重量%〜50重量%、0.01重量%〜20重量%、又は0.01重量%〜10重量%の前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、又は剥離層前駆体組成物を形成することができる。
いくつかの実施形態において、前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層組成物のうち少なくとも1つは、熱可塑性材料、熱硬化性材料、重合性モノマー、重合性又は架橋性オリゴマー、ポリマー、架橋性ポリマー、架橋型ポリマー、天然ゴム又は合成ゴム、ポリウレタン、ポリイソブチレン、シラン、オルガノシラン、シロキサン、オルガノシロキサン、フルオロシリコーン、フルオロシラン、セラック、ポリアミド、シリル修飾ポリアミド、ポリエステル、ポリカーボネート、ポリカルバメート、ウレタン、天然接着剤、エポキシ系接着剤、フラン系接着剤、フェノール系接着剤、アルデヒド系接着剤、尿素−アルデヒド接着剤、アクリル酸系接着剤、フェノール/フェノールホルムアルデヒド/フルフリルアルコール接着剤、硬化剤、触媒、硬化して上述のいずれか1つを形成可能な前駆体、及び、上述のいずれか1つの反応生成物のうち少なくとも1つを含む。
触媒の例としては、ヒドロシリル化触媒、縮合触媒、フリーラジカル反応開始剤、光開始剤、又は酸若しくは塩基を挙げることができる。ヒドロシリル化触媒の例としては、任意の好適なヒドロシリル化触媒、例えば白金族金属、又は白金族金属を含有する任意の化合物を含むヒドロシリル化触媒を挙げることができる。白金族金属としては、白金、ロジウム、ルテニウム、パラジウム、オスミウム、及びイリジウムを挙げることができる。好適なヒドロシリル化触媒の例としては、1,3−ジエテニル−1,1,3,3−テトラメチルジシロキサンの白金(IV)錯体を挙げることができる。別の実施形態では、ヒドロシリル化触媒は、光活性化されたヒドロシリル化触媒、又は熱可塑性材料内にマイクロカプセル化されたヒドロシリル化触媒であることができる。
硬化剤の例としては、アミン、芳香族アミン、脂肪族アミン、シクロ脂肪族アミン、ポリアミン、アミド、ポリアミド、又はイミンのうち少なくとも1つを挙げることができる。例としては、ポリエチレンイミン、ピペリジン、トリエチルアミン、ベンジルジメチルアミン、N,N−ジメチルアミノピリジン、2−(N,N−ジメチルアミノメチル)フェノール、トリス(ジメチルアミノメチル)フェノール、N−2−(アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−β−(アミノエチル)−γ−アミノプロピルトリメトキシシラン、ピペラジン、ピペラジンの誘導体(例えばアミノエチルピペラジン)、ピロール、イミダゾール、ピラゾール、ピリジン、ピラジン、ピリミジン、ピリダジン、インドリジン、イソインドール、インドール、インダゾール、プリン、キノリジン、キノリン、イソキノリン、フタラジン、ナフチリジン、キノキサリン、キナゾリン、カルバゾール、カルバゾール、フェナントリジン、アクリジン、フェナントロリン、フェナジン、イミダゾリジン、フェノキサジン、シンノリン、ピロリジン、ピロリン、イミダゾリン、ピペリジン、インドリン、イソインドリン、キヌクリジン、モルホリン、アゾシン、アゼピン、1,3,5−トリアジン、チアゾール、プテリジン、ジヒドロキノリン、ヘキサメチレンイミン、インダゾール、2−エチル−4−メチルイミダゾール、1,1,3−トリクロロトリフルオロアセトン、及びこれらの組み合わせが挙げられる。
様々な実施形態において、前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層組成物のうち少なくとも1つは、オルガノハイドロジェンシラン、オルガノハイドロジェンシロキサン、オルガノアルケニルシラン、及びオルガノアルケニルシロキサンのうち少なくとも1つを含む。いくつかの実施形態において、前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層組成物のうち少なくとも1つは、非直鎖状(C−C20)アルケニル官能化オルガノポリシロキサン、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化オルガノポリシロキサン、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化フルオロ(C−C20)アルキル置換オルガノポリシロキサン、非直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン、直鎖状ハイドロジェンオルガノポリシロキサン、及び((C−C20)ヒドロカルビル)ハイドロジェンシルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含み、(C−C20)アルケニル基及び(C−C20)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換であり、中断されていないか、あるいは、−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−(O−(C−C)アルキレン)[式中、nは1〜1,000である。]、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から独立して選択される1、2、又は3個の基により中断されている。様々な実施形態において、本明細書におけるシルセスキオキサンは、任意の好適な分子量、例えば100g/mol〜10,000,000g/mol、100g/mol〜1,000,000g/mol、200g/mol〜100,000g/molを有することができる。
前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層組成物のうち少なくとも1つは、非直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリ(co−(C)アルキル)メチルシロキサン−ジメチルシロキサン−ビニルメチルシロキサン)、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリジメチルシロキサン、直鎖状トリメチルシロキシ末端ポリ(co−ジメチルシロキサン−ハイドロジェンメチルシロキサン)、ハイドロジェンジメチルシロキシ末端シロキサン、トリメチルシロキシ末端ポリ(co−(フルオロ(C)アルキル)メチルシロキサン−ジメチルシロキサン)、直鎖状ハイドロジェンジメチルシロキシ末端ジメチルシロキサン、直鎖状トリメチルシロキシ末端ポリ(co−ジメチルシロキサン−ハイドロジェンメチルシロキサン)、ポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アルキル)シルセスキオキサン)、及びポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アリール)シルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含むことができ、式中、各フルオロ(C)アルキルは独立して、約1〜約2m+1個のフッ素基を有し、mは独立して約1〜約20である。
前駆体接着剤組成物、接着促進剤前駆体組成物、及び剥離層組成物のうち少なくとも1つは、界面活性剤、乳化剤、分散剤、ポリマー安定剤、架橋剤、ポリマー、重合又は架橋触媒、レオロジー変性剤、濃度調整剤、アジリジン安定剤、硬化変性剤、フリーラジカル反応開始剤、希釈剤、酸受容体、抗酸化剤、熱安定剤、難燃剤、スカベンジング剤、シリル化剤、泡安定剤、溶媒、ヒドロシリル化反応性希釈剤、可塑剤、充填剤、無機粒子、色素、染料、乾燥剤、液体、1分子当たり少なくとも1個のアルケニル又はアルキニル基を有するポリエーテル、増粘剤、安定化剤、ワックス、ワックス様材料、シリコーン、有機官能性シロキサン、アルキルメチルシロキサン、シロキサン樹脂、シリコーンガム、シリコーンカルビノール流体、水溶性又は水分散性シリコーンポリエーテル組成物、シリコーンゴム、ヒドロシリル化触媒阻害剤、接着促進剤、熱安定剤、UV安定剤、及び流れ制御添加剤のうち少なくとも1つを含むことができる。
表示デバイスを処理する中間体は、表示デバイス基板と接着剥離層との間に剥離層を含むことができる。剥離層は、表示デバイス基板をキャリア基板、接着剥離層、及び存在する任意の他の層から取り外すために必要な力を低減することができる。いくつかの実施形態において、表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板と接着剥離層との間に剥離層を含むことができる。
剥離層は、剥離層前駆体組成物の硬化反応生成物であることができる。剥離層前駆体組成物は、任意の好適な方法を使用して、例えば、吹き付け、スピニング、ドローダウンバー、ドクターブレード、及びディッピングのうち少なくとも1つを使用して、表示デバイス基板、又は接着剥離層上に配置(例えば適用)することができる。剥離層前駆体組成物は、任意の好適な方法、例えば、フリーラジカル硬化、縮合硬化、付加硬化(例えばヒドロシリル化)、任意の好適な架橋反応、又はこれらの組み合わせを使用して硬化することができる。いくつかの実施形態において、硬化することは、剥離層前駆体組成物を乾燥させて溶媒を取り除くことを含むことができる。硬化することは、光(例えば可視光、赤外線、紫外線)、好適な時間、例えば1分以下、又は2分〜120分間の熱(例えば40℃以下、又は50℃〜500℃、80℃〜300℃、又は120℃〜250℃)、照射(例えば、任意の好適な放射線源(電子ビーム、γ線、X線など)を使用)、又はこれらの組み合わせの適用を含むことができる。
剥離層前駆体組成物は、硬化して剥離層を形成することができる任意の好適な組成物であることができる。剥離層前駆体組成物は、フルオロシラン、フルオロシロキサン、フルオロオルガノシラン、フルオロオルガノシロキサン、フッ素化シリコン樹脂、フッ素化シルセスキオキサン樹脂、(C−C20)アリールシロキサン、及び(置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビル)−シルセスキオキサンのうち少なくとも1つを含むことができ、前述の物質のいずれか1種以上は、任意の好適な割合、例えば0.001重量%〜99重量%、0.001重量%〜90重量%、0.001重量%〜50重量%、0.01重量%〜20重量%、又は0.001重量%以下、又は99重量%以上の剥離層前駆体組成物を形成することができる。
剥離層前駆体組成物は、フルオロ(C−C200)ヒドロカルビル置換(C−C)アルコキシシラン(例えば、ポリ(ペルフルオロ(C−C)アルコキシ)ペルフルオロ(C−C)アルキル(C−C20)アルコキシ(C−C20)アルキルトリ(C−C)アルコキシシラン、又はポリ(ペルフルオロ(C−C)アルコキシ)ペルフルオロ(C−C)アルキル(C−C20)アルキルトリ(C−C)アルコキシシラン)、直鎖状(C−C20)アルケニル官能化フルオロ(C−C20)アルキル置換オルガノポリシロキサン(例えば、直鎖状ビニルジメチルシロキシ末端ポリ(co−(フルオロ(C−C20)アルキル)メチルシロキサン−ジメチルシロキサン−ビニルメチルシロキサン、ポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アルキル)シルセスキオキサン)、又はポリ(co−ハイドロジェンシルセスキオキサン−((C−C20)アリール)シルセスキオキサン))のうち少なくとも1つを含むことができる。
剥離層は任意の好適な厚さを有することができる。いくつかの実施形態において、剥離層は、0.0001μm〜500μm、0.001μm〜300μm、5μm〜150μm、又は10μm〜100μmの厚さを有する。
表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板と接着剥離層との間に接着促進剤層を含むことができる。接着促進剤層は、接着剥離層とキャリア基板との接着性を増加させることができる。
接着促進剤層は、接着促進剤層前駆体組成物の硬化反応生成物であることができる。接着促進剤層前駆体組成物は、任意の好適な方法を使用して、例えば、吹き付け、スピニング、ドローダウンバー、ドクターブレード、及びディッピングのうち少なくとも1つを使用して、表示デバイス基板、又は接着剥離層上に配置(例えば適用)することができる。接着促進剤層前駆体組成物は、任意の好適な方法、例えば、フリーラジカル硬化、縮合硬化、付加硬化(例えばヒドロシリル化)、任意の好適な架橋反応、又はこれらの組み合わせを使用して硬化することができる。いくつかの実施形態において、硬化することは、接着促進剤層前駆体組成物を乾燥させて溶媒を取り除くことを含むことができる。硬化することは、前述の通り、光、熱、照射、又はこれらの組み合わせの適用を含むことができる。
接着促進剤層前駆体組成物は、前駆体接着剤組成物中に含めるのに好適な、本明細書に記載する任意の1種以上の材料を含むことができる。接着促進剤層前駆体組成物は、シラン(例えばトリクロロシラン)、オルガノシラン、アルコキシシラン、シラザン、オルガノシロキサン、オルガノチタネート、オルガノジルコネート、ジルコノアルミネート、リン酸エステル、アクリル酸又はその塩若しくはエステル、メチルアクリル酸又はその塩若しくはエステル、ポリウレタンモノマー又はオリゴマー、ビニルホスホン酸又はその塩若しくはエステル、ビニルスルホン酸又はその塩若しくはエステル、及び2−アクリルアミド−2−メチルプロパンスルホン酸又はその塩若しくはエステルのうち少なくとも1つを含むことができる。
接着促進剤前駆体組成物は、トリアルコキシシロキシ基(例えばトリ(C−C)アルコキシSiO−)、トリアルコキシシリルアルキル基(例えば、トリ(C−C)アルコキシシリル(C−C20)アルキル)、ヒドロシリル基(例えば、式(HSiO3/20.01−5(置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルSiO3/20.01−5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表す。]であるものなどの、ヒドロシリル含有シルセスキオキサン)、アルケニル基(例えば、(C−C20)アルケニル基)、エポキシ官能基(例えば、(C−C20)エポキシ官能基)、アミノ基、ハロシリル基、メルカプトシリル基、及びフルオロアルキルシリル基のうち少なくとも1つを含むシラン又はシロキサンのうち少なくとも1つを含む。
様々な実施形態において、接着促進剤層前駆体組成物は、オルガノシラン又は直鎖、分枝状、若しくは環状オルガノシロキサンオリゴマー[オリゴマーは、約4〜20個のケイ素原子を有し、オルガノシラン又はオリゴマーは、トリアルコキシシロキシ基又はトリアルコキシシリルアルキル基、及びヒドロシリル基又はアルケニル基を有する。];約4〜20個のケイ素原子を有し、トリアルコキシシロキシ基又はトリアルコキシシリルアルキル基、及びメタクリルオキシアルキル基を有する、オルガノシラン又は直鎖、分枝状、若しくは環状オルガノシロキサンオリゴマー;約4〜20個のケイ素原子を有し、トリアルコキシシロキシ基又はトリアルコキシシリルアルキル基、及びエポキシ基が結合したアルキル基を有する、オルガノシラン又は直鎖、分枝状、若しくは環状オルガノシロキサンオリゴマー;並びに、アミノアルキルトリアルコキシシラン及びエポキシ基が結合したアルキルトリアルコキシシラン、並びにエポキシ基含有エチルポリシリケートの反応生成物、のうち少なくとも1つを含むことができる。接着促進剤層前駆体組成物は、ビニルトリメトキシシラン、アリルトリメトキシシラン、アリルトリエトキシシラン、水素トリエトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシドキシプロピルトリエトキシシラン、2−(3,4−エポキシシクロヘキシル)エチルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリメトキシシラン、3−メタクリルオキシプロピルトリエトキシシラン;3−グリシドキシプロピルトリエトキシシランと3−アミノプロピルトリエトキシシランとの反応生成物;シラノール基鎖末端メチルビニルシロキサンオリゴマーと3−グリシドキシプロピルトリメトキシシランとの縮合反応生成物;シラノール基鎖末端メチルビニルシロキサンオリゴマーと3−メタクリルオキシプロピルトリエトキシシランとの縮合反応生成物;及びトリス(3−トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート、のうち少なくとも1つを含むことができる。
接着促進剤層は任意の好適な厚さを有することができる。いくつかの実施形態において、接着促進剤層は、0.0001μm〜500μm、0.001μm〜300μm、5μm〜150μm、10μm〜100μmの厚さを有する。
様々な実施形態は、表示デバイスを処理する中間体についてである。表示デバイスを処理する中間体は、本明細書に記載する任意の方法を使用して製造可能な、任意の表示デバイスを処理する中間体であることができる。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板、例えば本明細書に記載する任意のキャリア基板を含むことができる。表示デバイスを処理する中間体は、キャリア基板上に接着剥離層、例えば本明細書に記載する任意の接着剥離層を含むことができる。接着剥離層は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物、例えば、本明細書に記載する任意の前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含むことができる。表示デバイスを処理する中間体は、接着剥離層を介してキャリア基板に固定された表示デバイス基板を含むことができる。様々な実施形態は、表示デバイスを処理する中間体から形成した表示デバイス構成部品又は表示デバイスについてである。
いくつかの実施形態は、図1に示す表示デバイスを処理する中間体についてである。表示デバイスを処理する中間体1は、キャリア基板10、例えば本明細書に記載する任意のキャリア基板を含む。表示デバイスを処理する中間体1は、キャリア基板10上に接着剥離層30、例えば本明細書に記載する任意の接着剥離層を含む。接着剥離層30は、前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物、例えば、本明細書に記載する任意の前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む。表示デバイスを処理する中間体1は、接着剥離層30を介してキャリア基板10に固定された表示デバイス基板50を含む。接着剥離層30は、介在層無しでキャリア基板10上に直接存在することができる。表示デバイス基板50は、介在層無しで接着剥離層30上に直接存在することができる。
いくつかの実施形態は、図2に示す表示デバイスを処理する中間体2についてである。表示デバイスを処理する中間体2は、キャリア基板10上に接着剥離層30を含む。表示デバイスを処理する中間体2は、接着剥離層30を介してキャリア基板10に固定された表示デバイス基板50を含む。表示デバイスを処理する中間体2は、表示デバイス基板50と接着剥離層30との間に剥離層40を含む。剥離層40は、介在層無しで表示デバイス基板50上に直接存在することができる。剥離層40は、介在層無しで接着剥離層30上に直接存在することができる。接着剥離層30は、介在層無しでキャリア基板10上に直接存在することができる。
いくつかの実施形態は、図3に示す表示デバイスを処理する中間体3についてである。表示デバイスを処理する中間体3は、キャリア基板10上に接着剥離層30を含む。表示デバイスを処理する中間体3は、接着剥離層30を介してキャリア基板10に固定された表示デバイス基板50を含む。表示デバイスを処理する中間体3は、キャリア基板10と接着剥離層30との間に接着促進剤層20を含む。接着促進剤層20は、介在層無しでキャリア基板10上に直接存在することができる。接着促進剤層20は、介在層無しで接着剥離層30上に直接存在することができる。表示デバイス基板50は、介在層無しで接着剥離層30上に直接存在することができる。
いくつかの実施形態は、図4に示す表示デバイスを処理する中間体4についてである。表示デバイスを処理する中間体4は、キャリア基板10上に接着剥離層30を含む。表示デバイスを処理する中間体4は、接着剥離層30を介してキャリア基板10に固定された表示デバイス基板50を含む。表示デバイスを処理する中間体4は、キャリア基板10と接着剥離層30との間に接着促進剤層20を含む。表示デバイスを処理する中間体4は、表示デバイス基板50と接着剥離層30との間に剥離層40を含む。接着促進剤層20は、介在層無しでキャリア基板10上に直接存在することができる。接着剥離層30は、介在層無しで接着促進剤層20上に直接存在することができる。剥離層40は、介在層無しで接着剥離層30上に直接存在することができる。表示デバイス基板50は、介在層無しで剥離層40上に直接存在することができる。
本発明の種々の実施形態は、例示の目的で提供される以下の実施例を参照することにより、より良く理解され得る。本発明は、ここに記載する実施例に制限されない。
ガラス基板(寸法が75mm×50mm、厚さが1.0mmのFisherbrand(登録商標)Microscopeスライド(Fisher Scientific(Loughborough,UK)))を洗剤で洗浄し、これらの実施例用のキャリアとして準備する。
剥離強度試験。剥離強度を、室温で、1分あたり12インチの剥離速度にて、TMI接着試験器(Testing Machines,Inc.(Delaware,USA))により測定した。ガラスとの接着力が積層構造体の最大剥離力よりも著しく大きい両面テープを使用して、積層構造体を接着試験器の層に加えた。テールを作製して、TMI接着試験器のクランプに添加するために、幅が50mmの3M(商標)471テープを剥離層に適用した。作製したテールは、剥離層の端を超えて、50mm〜75mm延びた長さであった。機器を90°剥離試験のために組み立てた。テープのテールを次にクランプに固定し、機器を零点調整した。零点調整すると、制御ソフトウェアを使用して試験を開始した。フォーストランスデューサーを介して、そしてコンピュータ用モニタにもたらされる出力を用いて、剥離力の測定を実施した。完了すると、最大の剥離力を記録して、試料を取り外した。報告された剥離強度は、少なくとも3個の試料からの平均測定値である。
実施例1.メチルシルセスキオキサン(MSQ、(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、シルセスキオキサンは、溶液中に存在しない場合室温で固体であり、200g/mol〜100,000g/molの分子量を有する。])をオクタメチルトリシロキサンに溶解させ、20重量%の溶液を得た。MSQ溶液をガラスキャリア上でスピンコートした後、30分間150℃で硬化させ、続いて60分間200℃で硬化させた。
PYRALIN(登録商標)の商品名でHD MicroSystems(Parlin,N.J.)から購入したポリイミド(PI)前駆体を、ドローダウンバー法を使用して、硬化したMSQをコーティングしたキャリア上にコーティングした。次に、コーティングしたガラスを160℃にて20分間、ホットプレート上でベークし、300℃にて1時間、空気循環オーブン内で硬化させた。
PI前駆体を硬化させた後、薄いかみそりの刃を用いて、PIフィルムの端を、MSQをコーティングしたガラスから剥離させた。PIフィルムに剥離力を適用することで、PIフィルムの試験片全てが、MSQをコーティングしたキャリアから容易に剥離した。
実施例2.フェニルシルセスキオキサン(PhSQ、(HSiO3/20.01−0.5(CSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、シルセスキオキサンは溶液中に存在しない場合、室温で固体であり、200g/mol〜100,000g/molの分子量を有する。])をシクロヘキサノンに溶解させ、15重量%の溶液を得た。PhSQ溶液をガラスキャリア上でスピンコートした後、30分間150℃で硬化させ、続いて60分間200℃で硬化させた。
購入したポリイミド(PI)前駆体を、ドローダウンバー法を使用して、硬化したPhSQをコーティングしたキャリア上にコーティングした。次に、コーティングしたガラスを160℃にて20分間、ホットプレート上でベークし、300℃にて1時間、空気循環オーブン内で硬化させた。
PIを硬化させた後、薄いかみそりの刃を用いて、PIフィルムの端を、PhSQをコーティングしたガラスから剥離させた。PIフィルムに剥離力を適用することで、PIフィルムの試験片全てが、PhSQをコーティングしたキャリアから容易に剥離した。
実施例3.メチルシルセスキオキサン(MSQ、(HSiO3/20.01−0.5(MeSiO3/21−0.5[式中、単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、シルセスキオキサンは、溶液中に存在しない場合室温で固体であり、200g/mol〜100,000g/molの分子量を有する。])をオクタメチルトリシロキサンに溶解させ、20重量%の溶液を得た。MSQ溶液をガラスキャリア上でスピンコートした後、30分間150℃にて硬化させ、続いて60分間200℃で硬化させた。
購入したポリイミド(PI)前駆体を、ドローダウンバー法を使用して、硬化したMSQをコーティングしたキャリア上にコーティングした。次に、コーティングしたガラスを160℃にて20分間、ホットプレート上でベークし、300℃にて1時間、空気循環オーブン内で硬化させ、続いて更に1時間、400℃にて空気循環オーブン内で加熱した。
PIを硬化させて熱処理した後、薄いかみそりの刃を用いて、PIフィルムの端を、MSQをコーティングしたガラスから剥離させた。PIフィルムに剥離力を適用することで、PIフィルムの試験片全てが、MSQをコーティングしたキャリアから容易に剥離した。
実施例4.0.2重量%のメチルトリメトキシシランのトルエン溶液をガラスキャリア上でスプレーコートした後、60分間125℃にて硬化させた。
購入したポリイミド(PI)前駆体を、ドローダウンバー法を使用して、硬化したメチルトリメトキシシラン処理済みキャリア上にコーティングした。次に、コーティングしたガラスを160℃にて20分間、ホットプレート上でベークし、300℃にて1時間、空気循環オーブン内で硬化させた。
PIを硬化させて熱処理した後、薄いかみそりの刃を用いて、PIフィルムの端をメチルトリメトキシシラン処理済みキャリアから剥離させた。PIフィルムに剥離力を適用することで、PIフィルムの試験片全てが、メチルトリメトキシシラン処理済みキャリアから容易に剥離した。
利用されてきた用語及び表現は、説明の用語として使用され、制限するものではなく、そのような用語及び表現の使用において、示され、説明される特性及びその一部のいずれの等価物を除外する意図はなく、むしろ様々な修正が本発明の実施形態の範囲内で可能であることを認識されたい。よって、本発明は特定の実施形態及び任意の特性によって具体的に開示されてきたが、本明細書に開示される内容の変更及び変形は当業者によって行われ得、そのような変更及び変形は本発明の実施形態の範囲内であると考えられる。
以下の特許請求の範囲は参照により、本明細書で付番した態様として組み込まれる。単語「請求項(「claim」及び「claims」)」が、それぞれ単語「態様(「aspect」及び「aspects」)」で置き換えられていることを除いて、付番した態様は特許請求の範囲と同一である。

Claims (13)

  1. 表示デバイス基板の処理方法であって、前記方法は、
    シラン、及び
    シルセスキオキサンポリマー
    のうち少なくとも1つを含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む接着剥離層を用いて、キャリア基板に前記表示デバイス基板を固定することを含む、方法。
  2. 前記シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ[式中、各Zは独立して、H、ハロゲン原子、又はオルガノヘテリル基である加水分解基であり、前記オルガノヘテリル基は、O、N、又はSであるヘテロ原子を介して、前記式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ内のSi原子に結合している。]である、又は、前記シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−Si(O(C−C30)ヒドロカルビル))[式中、各(C−C30)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換である。]である、請求項1に記載の方法。
  3. 前記シルセスキオキサンポリマーが、(C−C20)アリールシルセスキオキサン、ハイドロジェンシルセスキオキサン、及び(C−C30)アルキルシルセスキオキサン[式中、前記(C−C20)アリール及び(C−C30)アルキルは置換又は非置換である。]のうち少なくとも1つを含む、請求項1に記載の方法。
  4. 前記シルセスキオキサンポリマーは、式:(HSiO3/2y1(RSiO3/2y2であるハイドロジェンシルセスキオキサン−(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー
    [式中、
    単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、
    は独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基により中断されている、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであり、
    モル比y1は0.001〜5であり、
    モル比y2は0.001〜5である。]
    である、請求項1に記載の方法。
  5. 前記固定することにより、剥離層が前記接着剥離層と前記表示デバイス基板との間に存在する表示デバイスを処理する中間体が提供される、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。
  6. 前記表示デバイス基板を処理することを更に含み、前記表示デバイス基板を処理することは、洗浄、乾燥、成膜、液体フォトレジストの塗布、露光、現像、エッチング、レジスト除去、封止、蒸着、接着処理、加熱、アニーリング、照射、冷却のうち少なくとも1つ、並びに、前記表示デバイス基板上に半導体材料、半導体デバイス、ダイオード、発光ダイオード、トランジスタ、トランジスタアレイ、コンデンサ、導電性経路、回路パターン、ゲートライン、データライン、電気コネクタ、電極、透明電極、電気絶縁体、電気絶縁層、保護層、色フィルタ、液晶、正孔注入層、正孔輸送層、発光層、パッシベーション層、電気泳動膜、及び電子輸送層のうち少なくとも1つを配置、形成、及び修飾することのうち少なくとも1つを含む、請求項1〜5のいずれか一項に記載の方法。
  7. 前記キャリア基板から前記表示デバイス基板を取り外すことを更に含む、請求項1〜6のいずれか一項に記載の方法。
  8. 請求項1〜7のいずれか一項に記載の方法を含む、表示デバイス又は表示デバイス構成部品の形成方法。
  9. 請求項1〜8のいずれか一項に記載の方法により形成した表示デバイス又は表示デバイス構成部品。
  10. 表示デバイス基板の処理方法であって、前記方法は、
    前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む接着剥離層を用いて、前記表示デバイス基板をキャリア基板に固定することを含み、前記前駆体接着剤組成物は、
    式:
    (HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5
    である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー
    [式中、
    単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、
    は独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基により中断されている、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであり、
    前記ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。]又は、
    式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZのシラン[式中、各Zは独立して、H、ハロゲン原子、又はオルガノヘテリル基である加水分解基であり、前記オルガノヘテリル基は、O、N、又はSであるヘテロ原子を介して、式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ内のSi原子に結合している。]又は、
    式(C−C30)ヒドロカルビル−Si(O(C−C30)ヒドロカルビル))のシラン[式中、各(C−C30)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換である。]を含む、方法。
  11. キャリア基板と、
    シラン、及び
    シルセスキオキサンポリマー
    のうち少なくとも1つを含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む、前記キャリア基板上の接着剥離層と、
    前記接着剥離層を介して前記キャリア基板に固定された表示デバイス基板と、
    を含む、表示デバイスを処理する中間体。
  12. 前記シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ[式中、各Zは独立して、H、ハロゲン原子、又はオルガノヘテリル基である加水分解基であり、前記オルガノヘテリル基は、O、N、又はSであるヘテロ原子を介して、式(C−C30)ヒドロカルビル−SiZ内のSi原子に結合している。]である、又は、前記シランは、式(C−C30)ヒドロカルビル−Si(O(C−C30)ヒドロカルビル))[式中、各(C−C30)ヒドロカルビルは独立して選択され、置換又は非置換である。]である、請求項11に記載の表示デバイスを処理する中間体。
  13. キャリア基板と、
    式:
    (HSiO3/20.001−5(RSiO3/20.001−5である、0.1重量%〜99重量%のハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマー
    [式中、
    単位の下付き文字はそれらのモル比を表し、
    は独立して、中断されていない、あるいは−O−、−S−、置換又は非置換−NH−、−Si((C−C)アルコキシ)−、及び−Si((C−C)アルキル)−から選択される1、2、又は3個の基により中断されている、置換又は非置換(C−C20)ヒドロカルビルであり、
    前記ハイドロジェンシルセスキオキサン(C−C20)ヒドロカルビルシルセスキオキサンコポリマーは、100g/mol〜10,000,000g/molの分子量を有する。]
    を含む前駆体接着剤組成物の少なくとも部分的な硬化生成物を含む、前記キャリア基板上の接着剥離層と、
    前記接着剥離層を介して前記キャリア基板に固定された表示デバイス基板と、
    を含む、表示デバイスを処理する中間体。
JP2018557374A 2016-05-16 2017-05-10 表示デバイス基板処理のための、シルセスキオキサンポリマー及びシランのうち少なくとも1つを含む接着剥離層 Pending JP2019522809A (ja)

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