JP4353923B2 - リソグラフィ装置及びデバイス製造方法 - Google Patents
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- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Description
本明細書においては、リソグラフィ装置の、とりわけ集積回路(IC)の製造における使用が参照されているが、本明細書において説明するリソグラフィ装置は、集積光学系、磁気領域メモリのための誘導及び検出パターン、フラット・パネル・ディスプレイ、薄膜磁気ヘッド等の製造などの他のアプリケーションを有していることを理解されたい。このような代替アプリケーションのコンテキストにおいては、本明細書における「ウェハ」或いは「ダイ」という用語の使用はすべて、それぞれより一般的な「基板」或いは「目標部分」という用語の同義語と見なすことができることは、当業者には理解されよう。本明細書において参照されている基板は、たとえばトラック(たとえば、通常、基板にレジスト層を塗布し、且つ、露光済みレジストを現像するツール)或いは測定ツール若しくは検査ツール中で、露光前若しくは露光後に処理することができる。適用可能である場合、本明細書における開示は、このような基板処理ツール及び他の基板処理ツールに適用することができる。また、基板は、たとえば多層ICを生成するために複数回に渡って処理することができるため、本明細書に使用されている基板という用語は、処理済みの複数の層が既に含まれている基板を指している場合もある。
図1は、本発明の一実施例によるリソグラフィ投影装置100を略図で示したものである。装置100は、少なくとも放射システム102、個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104、対物テーブル106(たとえば基板テーブル)及び投影システム(「レンズ」)108を備える。
1.ステップ・モード:個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104上のパターン全体が目標部分120に1回の露光で投影される(即ち単一「フラッシュ」)。次に、基板テーブル106がx及び/又はy方向を異なる位置に移動し、異なる目標部分120がパターニングされた投影ビーム110によって照射される。
2.走査モード:所与の目標部分120が単一フラッシュで露光されない点を除き、基本的にステップ・モードと同じである。代わりに、個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104を速度vで所与の方向(いわゆる「走査方向」、たとえばy方向)に移動させることができるため、パターニングされた投影ビーム110を使用して個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104が走査される。同時に、基板テーブル106が速度V=Mvで同じ方向若しくは反対方向へ移動する。Mは投影システム108の倍率である。この方法によれば、解像度を犠牲にすることなく、比較的大きい目標部分120を露光することができる。
3.パルス・モード:個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104が基本的に静止状態に維持され、パルス放射システム102を使用してパターン全体が基板114の目標部分120に投影される。投影ビーム110を使用して基板114の両端間のラインを走査することができるよう、基本的に一定の速度で基板テーブル106が移動する。放射システム102のパルスとパルスの間に、必要に応じて個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104上のパターンが更新され、また、パルスは、連続する目標部分120が基板114上の必要な位置で露光されるようにタイミングが合わせられる。したがってパターニングされた投影ビーム110は、基板114の両端間を走査することができ、それにより基板114の細長い区画に完全なパターンを露光することができる。このプロセスは、基板114全体がライン毎に露光されるまで繰り返される。
4.連続走査モード:パルス・モードと基本的に同じであるが、実質的に一定の放射システム102が使用され、パターニングされた投影ビーム110が基板114の両端間を走査し、基板114を露光すると、個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ104上のパターンが更新される点が異なっている。
図2は、本発明の一実施例によるリソグラフィ装置を示したものである。この実施例では、照明システム1は、投影放射ビーム2を直接パターニング手段3に供給するようになされている。パターニング手段3は、個々に制御可能な複数のエレメント31、32のアレイを備える。分かりやすくするために、4つのエレメント31、32しか示されていないが、実際には百万個以上の個々に制御可能な複数のエレメント31、32が存在している場合もある。この実施例では、エレメント31、32はミラーであり、その傾斜角は、制御システム9から適切な制御信号94を印加することによって設定することができる。
図3は、本発明の一実施例による微小レンズ・アレイ(MLA)を略平面図で示したものである。図4は、図3に示すMLAの線A−Aに沿った略横断面図である。この実施例では、MLAは、平らな上部表面及び複数のレンズ61を画定するように成形された下部表面を有する透明な材料のボディを備える。また、MLAは、透明なボディの平らな上部表面に取り付けられた不透明材料の層62の形態のマスク構造を備える。不透明層62中には複数の円形窓63のアレイが形成されており、窓63の各々は、複数のレンズ部分61の対応する1つと中心が合っている。図には9個の窓63のアレイが示されているが、実際にはMLAは、最大百万個、若しくはそれ以上の微小レンズを備えることができることを理解されたい。
図5は、本発明の一実施例による、投影ビームの断面に適用される所定のパターンを示したものである。黒い正方形は、光強度が比較的大きい領域を表し、黒い正方形と黒い正方形の間の白い線は、光強度が比較的小さい領域を表している。図2のコンテキストにおいては、図5は、ビーム2をパターニングするアレイ3の状態を表すマップと見なすことができる。この場合、黒い正方形は、「白い」状態にあるエレメントを表しており、白い線は、単純にエレメント31、32間の空間を表している。図5に示すパターンは、長方形のアレイに配置された強度が大きい領域を含んだ幾何学パターンである。
図7は、本発明の一実施例による、MLAとMLA上のパターニングされたビームの投射との間の回転不整列(即ち誤差)を略図で示したものである。図7には、回転誤差即ち微小レンズ・アレイ6と微小レンズ・アレイ6上のパターニングされたビーム4の投射46との間の回転不整列が誇張して描写されている。MLA6及びビーム投射46は、公称z方向に沿って見たものである。
以上、本発明の様々な実施例について説明したが、以上の説明が単なる実施例に過ぎず、本発明を何ら制限するものではないことを理解されたい。上で説明した実施例に、本発明の精神及び範囲を逸脱することなく様々な形態変更及び細部変更を加えることができることは、当業者には明らかであろう。したがって本発明の見解及び範囲は、上で説明した例示的実施例に何ら制限されず、唯一、特許請求の範囲の各請求項及びそれらの等価物によってのみ定義されるものとする。
2、110 投影放射ビーム(投影ビーム)
3 パターニング手段(アレイ)
4 パターニングされたビーム
5 投影システムの第1の部分(ビーム・エキスパンダ)
6 投影システムの第2の部分(微小レンズ・アレイ)
7 センサ・システム
9 制御システム
31、32 制御可能なエレメント
46 パターニングされたビームの投射
51 第1のレンズ
52 第2のレンズ
53 開口絞り
54 開口絞りの開口
61 レンズ(レンズ・アレイ)
62 不透明マスキング構造(不透明材料の層)
63 窓
71 センサ
72 走査システム
73 強度信号
81、83、85、86 アクチュエータ
91、93、94、95、96、97 制御信号
100 リソグラフィ投影装置
102 放射システム(パルス放射システム)
104 個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ(個々に制御可能な複数のエレメント、プログラム可能ミラー・アレイ)
106 対物テーブル(基板テーブル)
108 投影システム
112 放射源
114 基板
116 位置決めデバイス
118、140 ビーム・スプリッタ
120 基板の目標部分
122 放射ビーム
124 照明システム(イルミネータ)
126 ビーム・エキスパンダ(調節デバイス)
128 ビームの強度分布の外部及び/又は内部ラジアル・エクステントをセットするための調整デバイス
130 インテグレータ
132 コンデンサ
134 干渉測定デバイス
136 ベース・プレート
138 干渉ビーム
P 目標平面
Claims (40)
- 放射ビームを供給する照明システムと、
前記ビームをパターニングする、個々に制御可能な複数のエレメントのアレイと、
パターニングされたビームを目標平面に投射する投影システムと、
基板の目標表面と前記目標平面が実質的に一致するように前記基板を支持する基板テーブルと、
前記パターニングされたビームの放射パターンの強度分布を検出し、且つ、検出した強度分布を表す強度信号を提供するセンサ・システムと、
前記個々に制御可能な複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整することによって前記放射パターンを調整する位置決めシステムと、
前記個々に制御可能な複数のエレメントのアレイが前記ビームをパターニングするように前記個々に制御可能な複数のエレメントのアレイを制御し、前記強度信号を受け取るよう、前記放射パターンを前記センサ・システムに導き、且つ、前記検出した強度分布に応じて前記位置決めシステムを制御するための制御信号を提供し、それにより前記放射パターンを調整するための制御システムと、を備えたリソグラフィ装置であって、
前記投影システムが、前記パターニングされたビームを受け取るようになされた複数のレンズのアレイを備えた少なくとも1つの構成要素を備え、
前記複数のレンズのアレイの個々のレンズが、前記パターニングされたビームの個々の部分を受け取り、且つ、集束させ、
前記複数のレンズのアレイが、対応する放射パターンを前記目標平面に投影し、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイおよび前記レンズのアレイによって形成され、検出された強度分布がモアレ・パターンを含むよう、前記制御システムは、前記制御可能な複数のエレメントのアレイを制御して前記ビームをパターニングし、且つ、
前記制御システムが、前記モアレ・パターンに応じて前記位置決めシステムを制御する、リソグラフィ装置。 - 前記複数のレンズのアレイの位置及び配向のうちの少なくとも1つが調整されるように前記位置決めシステムを制御することができる、請求項1に記載の装置。
- 前記投影システムが、
少なくとも1つのレンズを備えた第1の部分と、
前記複数のレンズのアレイを備えた第2の部分とを備え、
前記第1の部分が、前記パターニングされたビームを前記複数のレンズのアレイに投射する、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、前記第1の部分の前記少なくとも1つのレンズの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整する、請求項3に記載の装置。
- 前記第2の部分が、
前記パターニングされたビームの一部を遮断するようになされた不透明部分を有するマスクを備え、前記不透明部分が複数の窓のアレイを画定し、複数の窓の各々が前記複数のレンズのアレイの個々のレンズと整列し、且つ、前記パターニングされたビームに対して透明である、請求項3に記載の装置。 - 前記マスクが前記複数のレンズのアレイに取り付けられた、請求項5に記載の装置。
- 前記位置決めシステムが、
前記第1の部分の前記少なくとも1つのレンズを前記パターニングされたビームに対して縦方向に移動させるアクチュエータを備え、それにより前記複数のレンズのアレイに対する前記パターニングされたビームの倍率が調整される、請求項3に記載の装置。 - 前記第1の部分が、
第1のレンズ及び第2のレンズを備えた一連のレンズ・構成要素を備えたビーム・エキスパンダを備えた、請求項3に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記第1及び第2のレンズのうちの少なくとも1つを前記パターニングされたビームに対して縦方向に移動させるアクチュエータ・システムを備え、それにより前記複数のレンズのアレイに対する前記パターニングされたビームの倍率が調整される、請求項8に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを少なくとも1つの軸に沿って移動させるアクチュエータを備え、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射が前記複数のレンズのアレイに対して移動する、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを1つの軸の周りに回転させるアクチュエータを備え、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射が前記複数のレンズのアレイに対して回転する、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを少なくとも1つの軸の周りに傾斜させるアクチュエータを備え、それにより前記ビームに対する前記制御可能な複数のエレメントのアレイの傾斜が調整される、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に対して直角の方向に移動させるアクチュエータを備えた、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に平行な少なくとも1つの軸に沿って移動させるアクチュエータを備え、それにより前記複数のレンズのアレイが前記パターニングされたビームに対して移動する、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に対して直角をなす1つの軸の周りに回転させるアクチュエータを備え、それにより前記複数のレンズのアレイが前記パターニングされたビームに対して回転する、請求項1に記載の装置。 - 前記位置決めシステムが、
前記複数のレンズのアレイを少なくとも1つの軸の周りに傾斜させるアクチュエータを備え、それにより前記パターニングされたビームに対する前記複数のレンズのアレイの傾斜が調整される、請求項1に記載の装置。 - 前記センサ・システムが、
放射強度を検出するセンサと、
前記センサに前記放射パターンが投影される前記目標平面の領域全体を走査させるセンサ走査システムとを備えた、請求項1に記載の装置。 - 前記センサ・システムが、
前記強度分布を検出するようになされた複数のセンサのアレイを備えた、請求項1に記載の装置。 - 前記制御システムが複数のモアレ・パターンを認識し、且つ、認識したパターンに応じて前記位置決めシステムを制御し、それにより前記複数のレンズのアレイに対する前記パターニングされたビームの整列が調整される、請求項1に記載の装置。
- (a)個々に制御可能な複数のエレメントのアレイを使用して放射ビームをパターニングするステップと、
(b)パターニングされたビームを少なくとも1つの構成要素を備えた投影システムを使用して目標平面に投射するステップと、
(c)複数のレンズのアレイの個々のレンズが前記パターニングされたビームの個々の部分を受け取り、且つ、集束させるよう、前記パターニングされたビームを前記少なくとも1つの構成要素上で受け取るステップと、
(d)対応する放射パターンを前記複数のレンズのアレイを使用して前記目標平面に投影するステップと、
(e)前記目標平面における前記投影放射パターンの強度分布を検出するステップと、
(f)前記投影放射パターンを調整するために、検出した強度分布に応じて、前記制御可能な複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び照明システムのうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップと、
(g)基板の目標表面と前記目標平面が実質的に一致するように前記基板を提供し、且つ、支持するステップと、
(h)前記パターンを有するビームを前記基板の前記目標表面の目標部分に投射するステップと
を備え、
ステップ(e)が、前記投影放射パターン中のモアレ・パターンを検出するステップを含み、
ステップ(f)が、前記制御可能な複数のエレメントのアレイおよび前記レンズのアレイによって形成され、検出されたモアレ・パターンに応じて、前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、
デバイス製造方法。 - ステップ(f)が、
前記複数のレンズのアレイの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - 前記投影システムが、少なくとも1つのレンズを備えた第1の部分及び前記複数のレンズのアレイを備えた第2の部分を備え、
前記第1の部分が前記パターニングされたビームを前記複数のレンズのアレイに投射し、
ステップ(f)が、前記第1の部分の前記少なくとも1つのレンズの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記第1の部分の前記少なくとも1つのレンズを前記パターニングされたビームに対して縦方向に並進させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射の倍率が調整されるステップを含む、請求項22に記載の方法。 - 前記第1の部分が、第1のレンズ及び第2のレンズを有する一連のレンズ・構成要素を備えたビーム・エキスパンダを備え、ステップ(f)が、
前記第1及び第2のレンズのうちの少なくとも1つを前記パターニングされたビームに対して縦方向に並進させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射の倍率が調整されるステップを含む、請求項23に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを少なくとも1つの軸に沿って並進させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射が前記複数のレンズのアレイに対して並進するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを1つの軸の周りに回転させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイ上の前記パターニングされたビームの投射が前記複数のレンズのアレイに対して回転するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイを少なくとも1つの軸の周りに傾斜させるステップであって、それにより前記ビームに対する前記複数のエレメントのアレイの傾斜が調整されるステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に対して直角をなす方向に並進させるステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に平行の少なくとも1つの軸に沿って並進させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイが前記パターニングされたビームに対して並進するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記複数のレンズのアレイを前記目標平面に対して直角をなす軸の周りに回転させるステップであって、それにより前記複数のレンズのアレイが前記パターニングされたビームに対して回転するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記複数のレンズのアレイを少なくとも1つの軸の周りに傾斜させるステップであって、それにより前記パターニングされたビームに対する前記複数のレンズのアレイの傾斜が調整されるステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(e)が、
センサを使用して放射強度を検出するステップと、
前記センサに前記放射パターンが投影される前記目標平面の領域全体を走査させるステップとを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(e)が、
複数のセンサのアレイを使用して前記強度分布を検出するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - (i)前記検出した強度分布中のパターンを確定するステップであって、認識したパターンが、前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムの各々の1つを含む個々の対の間の不整列の特徴を表すステップをさらに含み、
ステップ(f)が、前記不整列を修正するために、前記対の少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - (i)前記検出したモアレ・パターンを複数のモアレ・パターンの中から確定するステップをさらに含み、
ステップ(f)が、前記検出したモアレ・パターンに応じて、前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項36に記載の方法。 - モアレ・パターンの各々が、前記制御可能な複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムから選択される個々に対の間の不整列の特徴を表し、
ステップ(f)が、前記検出したモアレ・パターンに対応する個々の対のうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項35に記載の方法。 - 前記ステップ(f)が、
前記制御可能な複数のエレメントのアレイと前記複数のレンズのアレイを整列させるステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記ビーム全体の強度の非一様性を補償するために、前記制御可能な複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つの位置及び配向のうちの少なくとも1つを調整するステップを含む、請求項20に記載の方法。 - ステップ(f)が、
前記非一様性を補償するために、前記制御可能な複数のエレメントのアレイと前記複数のレンズのアレイの間の不整列を設定するステップを含む、請求項38に記載の方法。 - (i)前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムの位置及び配向を設定するステップと、
(j)前記目標平面上の前記投影放射パターンの対応する強度分布を検出するステップと、
(k)前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つを移動させるステップと、
(l)前記目標平面上の前記投影放射パターンの前記強度分布の対応する変化を検出するステップと、
(m)前記複数のエレメントのアレイ、前記投影システムの構成要素及び前記照明システムのうちの少なくとも1つの最適位置を決定するために、前記強度分布の変化を使用するステップと
をさらに含む、請求項20に記載の方法。
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